JP3851701B2 - 焦点検出装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、顕微鏡や光学測定器などに用いられる焦点検出装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来、顕微鏡や光学測定器には、プローブ光を対物レンズを通して被検体表面に照射し、この被検体表面からの反射光に基づいて被検体表面に対する焦点検出を行うような反射アクティブ方式の自動焦点検出装置が用いられている。
【0003】
図5は、従来の自動焦点検出装置の一例を示すもので、半導体レーザ発生源1から出射されたレーザビームは、偏光ビームスプリッタ2に入射し、この偏光ビームスプリッタ2で反射し、1/4波長板3を介して結像レンズ4で平行光束になって対物レンズ5を通して被検体6表面に集光される。また、被検体6表面で反射されたレーザビームは、今度は、対物レンズ5、結像レンズ4、1/4波長板3を介して偏光ビームスプリッタ2に入射される。この時、偏光ビームスプリッタ2へ入射したレーザビームは、1/4波長板3を透過した際に、その偏向方向が90度ずらされているので、偏光ビームスプリッタ2を透過され、ビームスプリッタ7により二方向に振り分けられ、一方の光束は、結像レンズ4の集光点Pより距離Lだけ前方に配置された第1の絞り8を介して第1の受光素子9で受光され、また、他方の光束は、結像レンズ4の集光点Pより距離Lだけ後方に配置された第2の絞り10を介して第2の受光素子11で受光される。
【0004】
そして、これら第1の受光素子9および第2の受光素子11で、それぞれの受光量に応じた電気信号B、Aを生成して信号処理回路12に送り、この信号処理回路12により電気信号B、Aに対して所定の演算を行い、被検体6表面の変位に応じた変位信号を出力するようにしている。この場合、第1の受光素子9より図6(a)に示すような特性を有する電気信号Bが出力され、第2の受光素子11より同図に示すような特性を有する電気信号Aが出力されたとすると、信号処理回路12では、第1の演算回路121で(A−B)、第2の演算回路122で(A+B)を演算し、第3の演算回路123で、被検体6表面の変位を検知する信号(A−B)/(A+B)を演算して、図6(b)に示すような合焦点Fが0になるような変位信号を求める。、この変位信号により、変位信号=0となる位置に被検体6表面がくるように被検体6または対物レンズ5を光軸方向に移動させることで合焦を得るようにしている。
【0005】
ところが、合焦点Fから遠く離れた位置に被検体6表面があるような場合、第1の受光素子9、第2の受光素子11でそれぞれ生成される電気信号B、Aの出力レベルは低くなるため、電気的ノイズや光学的ノイズの影響を受けやすく、これにより、図6(b)に示すように、被検体6表面が真の合焦点Fより大きく外れた位置に存在する場合でも、(A−B)/(A+B)=0の判定を行うことがある(以下、この状態を擬合焦と称する。)。
【0006】
そこで、このような擬合焦の検出を防止するため、図6(c)に示す第2の演算回路122からの信号(A+B)を合焦動作範囲判定信号として出力し、この信号(A+B)に対し、しきい値Tを設定して合焦動作範囲Cの受光量レベルを監視し、信号(A+B)がしきい値Tより低下したような場合に被検体6が合焦点Fより所定量以上離れていることを示す判定手段を設け、擬合焦での検出を防止するようにしている。
【0007】
この場合、このような焦点検出装置では、被検体6が図6(c)に示す合焦動作範囲Cにある場合は合焦点Fに対する方向判別が可能であるので、合焦開始位置から合焦点Fへの移動を直接行うことができるが、例えば、図7に示すように被検体6が合焦動作範囲Cに位置しておらず合焦開始位置ST1 またはST2 から合焦動作を行うような場合、対物レンズ5が被検体6表面に衝突するのを避けるため、退避動作実行手段により一旦対物レンズ5を被検体6表面から離れる方向に上方の退避位置S1 まで後退させ、その後、被検体6表面に近付く方向に移動させることにより合焦動作範囲Cに被検体6を導入するようにしている。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、このような退避動作を行う場合、合焦開始位置ST1 から上方の退避位置S1 方向に後退する場合は、その途中で合焦動作範囲Cに突き当たるため、合焦点Fを検出するまで、さほど時間はかからないが、合焦開始位置ST2 から退避位置S1 方向に後退する場合は、合焦動作範囲Cと反対方向に退避位置S1 まで移動し、その後、合焦動作範囲Cに突き当たる方向に反転するようになるので、合焦動作範囲Cに被検体6を導入するまでにかなりの時間を要することになり、合焦点F検出の作業能率が極めて悪いという問題点があった。
【0009】
そこで、従来、このような不都合を除去するため、図5と同一部分には、同符号を付して示す図8に示すように、半導体レーザ発生源1をその光軸に沿って移動できるように配置したものが考えられている。この場合、半導体レーザ発生源1の位置制御を、第2の演算回路122からの信号(A+B)が入力されるレーザ位置制御部13により行うようにしている。
【0010】
この場合、被検体6が図9に示す合焦動作範囲Cに位置していない場合、レーザ位置制御部13は、信号(A+B)を監視しながら半導体レーザ発生源1を光軸方向に移動し、被検体6が合焦動作範囲Cに入ったことをレーザ位置制御部13が検出すると、半導体レーザ発生源1の移動を止めるようにしている。この時、半導体レーザ発生源1の移動前の位置からの変位情報により、プローブ光の合焦点Fと被検体6とのずれ方向とおおまかなずれ量が判ることから、半導体レーザ発生源1を元の位置に戻し、得られたずれ方向とずれ量に基づいて被検体6を光軸方向に相対的に移動させることで、被検体6を合焦動作範囲Cに導入するようにしている。
【0011】
ところが、このようにしても、合焦点Fと被検体6とのずれ量を取得するための半導体レーザ発生源1の位置制御に要する時間がオーバヘッドになってしまい、さらに、半導体レーザ発生源1を移動する構成を必要とするため、光学系の構成がさらに複雑になるとともに、位置決め精度の上でも問題を生じるという欠点があった。
本発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、迅速な合焦動作を実現できる焦点検出装置を提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】
請求項1記載の発明は、光学系を通して被検体にプローブ光を照射し、被検体からの反射光を第1および第2の受光手段により受光し、これら第1および第2の受光手段の出力に基づいて被検体に対する焦点検出を行う焦点検出装置において、前記光学系または前記被検体の一方を光軸方向に移動させるZ軸変位制御手段と、前記第1および第2の受光手段の出力に基づいて合焦動作範囲を判定する判定手段と、前記判定手段での合焦動作範囲外の判定により前記被検体の撮像画像を取り込む撮像手段と、前記撮像手段により取り込まれた撮像画像のコントラストにより前記被検体と合焦点の位置ずれ方向を検出する位置ずれ方向検出手段と、を備え、前記Z軸変位制御手段は、前記判定手段において、前記被検体が合焦動作範囲内に位置すると判定された場合、前記第1および第2の受光手段の出力結果に基づいて、合焦点を検出するように、前記被検体と前記光学系との光軸上での間隔を制御し、前記被検体が合焦動作範囲外に位置すると判断された場合、前記撮像手段により取り込まれた撮像画像のコントラストに基づいて、前記被検体と合焦点の位置ずれ方向を前記位置ずれ方向検出手段により検出し、前記被検体が前記合焦動作範囲内に位置するように制御することを特徴としている。
【0013】
請求項2記載の発明は、請求項1記載において、さらに前記判定手段は、合焦動作範囲外に位置すると判断した場合、前記光学系または前記被検体の一方を所定の退避位置まで移動させる退避動作実行手段と、前記退避動作実行手段による退避動作の際、前記位置ずれ方向検出手段により前記被検体と合焦点の位置ずれが大きくなる方向の変位が検出されると前記退避動作方向を反転させる制御手段とを具備している。
【0014】
請求項3記載の発明は、請求項1または2記載において、前記撮像手段は、異なる倍率の被検体の撮像画像を取り込み可能にしている。
請求項4記載の発明は、請求項1記載において、前記位置ずれ検出手段は、前記撮像手段で取得された前回の画像のコントラストと今回の画像のコントラストを比較し前記被検体と合焦点の位置ずれ方向を検出することを特徴としている。
この結果、本発明によれば、撮像手段の撮像画像により被検体と合焦点の位置ずれ方向を検出することで、この位置ずれ方向に応じて合焦のための光学系または被検体の駆動方向を決定できる。
【0015】
本発明によれば、退避動作の際、被検体と合焦点の位置ずれが大きくなる方向に変位していると退避動作の方向を反転させることができるので、被検体を合焦動作範囲内に速やかに導入できる。
本発明によれば、コントラストの高い領域を含んだ画像処理を実行できる。
【0016】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面に従い説明する。
(第1の実施の形態)
図1は、本発明が適用される焦点検出装置の概略構成を示すもので、図5と同一部分には、同符号を付している。
【0017】
この場合、半導体レーザ発生源1から出射されたレーザビームは、結像レンズ20を介して偏光ビームスプリッタ2に入射され、この偏光ビームスプリッタ2で反射されて1/4波長板3、対物レンズ5を通して被検体6表面に集光される。この対物レンズ5を通り被検体6で反射されたレーザビームは、対物レンズ5、結像レンズ4、1/4波長板3を通り、さらに偏光ビームスプリッタ2を通過され、ビームスプリッタ7に送られ。この偏光ビームスプリッタ2とビームスプリッタ7の間には、ビームスプリッタ21が挿入されており、偏光ビームスプリッタ2を透過されるレーザビームを、さらにビームスプリッタ21を透過する光路と、反射される光路の2方向に分割するようにしている。
【0018】
そして、ビームスプリッタ21を透過するレーザビームを、合焦判定部22の結像レンズ23を介してビームスプリッタ7に入射させ、ビームスプリッタ21で反射されるレーザビームを、撮像部24の結像レンズ25を介して撮像装置としてのCCDカメラ26に入射させ、対物レンズ5の焦点面の画像を撮像するようにしている。
【0019】
また、CCDカメラ26で撮像した画像をずれ方向検出部27の画像処理部28に入力するようにしている。
ずれ方向検出部27は、画像処理部28および制御部29を有している。また、制御部29には、合焦動作範囲を判定する判定回路30およびZ軸変位制御部31が接続されている。
【0020】
ここで、判定回路30は、信号処理回路12の第2の演算回路122に接続され、信号(A+B)に基づいて被検体6が合焦動作範囲Cに位置しているか否かを判定するものである。Z軸変位制御部31は、信号処理回路12の第3の演算回路123および制御部29に接続され、制御部29からの制御指令により信号(A−B)/(A+B)の変位信号に基づいてZ軸駆動部32のモータ321を駆動して対物レンズ4をZ軸、つまり光軸方向に駆動するようにしている。
【0021】
ずれ方向検出部27は、判定回路30での信号(A+B)に基づいた判定結果が合焦動作範囲C外である場合に制御部29から画像処理部28に制御指令を与える。画像処理部28は、所定のタイミングでCCDカメラ26からの入力画像をサンプリングされるとともに、このサンプリングにより取得した各画像についてコントラストを求め、さらに求められたコントラストと前回求めたコントラストとを比較することで位置ずれ方向を検出し、この結果、前回のサンプリング画像の方がコントラストが高い場合、つまり被検体6と合焦点Fの光軸上での間隔が相対的に増大している場合は、制御部29からZ軸変位制御部31に対して対物レンズ4の移動方向を反転させるための信号が出力される。また、逆に、前のサンプリング画像の方がコントラストが低い場合、つまり被検体6と合焦点Fの光軸上での間隔が相対的に減少している場合は、制御部28からZ軸変位制御部31に対して対物レンズ4の移動方向を反転させるための信号を出力しないようにしている。
【0022】
次に、このように構成した実施の形態の動作を説明する。
半導体レーザ発生源1からレーザビームを出射すると、上述したと同様に、偏光ビームスプリッタ2に入射する。この偏光ビームスプリッタ2で反射したレーザビームは、1/4波長板3を介して結像レンズ4で平行光になって対物レンズ5を介して被検体6に集光される。また、対物レンズ5を介して被検体6で反射されたレーザビームは、今度は、対物レンズ5、結像レンズ4、1/4波長板3を介して偏光ビームスプリッタ2に入射される。そして、この偏光ビームスプリッタ2を透過したレーザビームは、ビームスプリッタ21により透過と反射の二方向に振り分けられる。透過したレーザビームは、ビームスプリッタ7に入射して、さらに二方向に振り分けられる。ここでも透過したレーザビームは、結像レンズ23の集光点Pより距離Lだけ前方に配置された第1の絞り8を介して第1の受光手段である受光素子9で受光され、また、反射されたレーザビームは、結像レンズ23の集光点Pより距離Lだけ後方に配置された第2の絞り10を介して第2のの受光手段である受光素子11で受光される。
【0023】
そして、第1の受光素子9より電気信号Bが出力され、第2の受光素子11より電気信号Aが出力されると、信号処理回路12では、第1の演算回路121で(A−B)、第2の演算回路122で(A+B)がそれぞれ演算され、第3の演算回路123で、被検体6の変位を検知する信号(A−B)/(A+B)が演算される。
【0024】
一方、ビームスプリッタ21により反射されたレーザビームは、撮像部24の結像レンズ25を介してCCDカメラ26に入射し、これにより対物レンズ5の焦点面の画像が撮像される。
【0025】
この状態から、ずれ方向検出部27により図2に示すフローチャートが実行される。まず、ステップ201で、信号処理回路12の第2の演算回路122の信号(A+B)により判定回路30は、被検体6が合焦動作範囲Cに位置するか否かを判定する。ここで、被検体6が合焦動作範囲Cに位置していると判定回路30が判定すると、制御部29からZ軸変位制御部31に対してのみ制御指令が与えられ、ステップ202で、信号処理回路12の第3の演算回路123からの信号(A−B)/(A+B)に基づいた変位信号がZ軸変位制御部31に送られる。この変位信号に基づいてモータ321は、Z軸駆動部32を介して対物レンズ4を光軸方向に駆動し、被検体6と合焦点Fとの光軸上での間隔を制御して、ステップ203で合焦検出を実行する。
【0026】
また、ステップ201で、被検体6が合焦動作範囲Cに位置しないと判定されると、制御部29からZ軸変位制御部31と画像処理部28に制御指令が与えられる。ステップ204で、Z軸変位制御部31へは退避動作実行手段として対物レンズ5を被検体6から離れる方向、すなわち上方に設けられた所定の退避位置まで後退させるための制御指令が送出される。
【0027】
すると、ステップ205で、CCDカメラ26からの入力画像が、所定のタイミングでサンプリングされ、このサンプリングにより取得した各画像についてコントラストが求められ、さらにステップ206で、求められたコントラストと前回求めたコントラストとが比較される。
【0028】
そして、この比較結果から前回のサンプリング画像の方がコントラストが高い場合は、被検体6と合焦点Fの光軸上での間隔が相対的に増大していると判断し、ステップ207で、制御部28からZ軸変位制御部31に対して対物レンズ4の移動方向を反転させる信号を出力し、モータ321の回転が反転され、被検体6と合焦点Fとの光軸上での間隔が制御され、ステップ203で合焦検出が実行される。
【0029】
一方、比較結果から前のサンプリング画像の方がコントラストが低い場合は、被検体6と合焦点Fの光軸上での間隔が相対的に減少していることから、制御部28からZ軸変位制御部31に対して対物レンズ4の移動方向を反転させるための信号は出力されず、この場合は、継続して被検体6と合焦点Fとの光軸上での間隔が制御され、ステップ203で合焦検出が実行される。
【0030】
従って、このようにすれば、CCDカメラ26からの撮像画像をずれ方向検出部27に取り込み、所定のタイミングでサンプリングし、このサンプリングにより取得した各画像についてコントラストを求め、この求められたコントラストと前回求めたコントラストとを比較し、前回のサンプリング画像の方がコントラストが高い場合は、被検体6と合焦点Fの光軸上での間隔が相対的に増大していると判断して、対物レンズ4の移動方向を反転させるようにできるので、被検体6を速やかに合焦動作範囲C内に導入することができ、短時間による合焦動作を実現できる。また、CCDカメラ26の撮像画像から被検体と合焦点の位置ずれ方向に応じて、被検体6が合焦動作範囲C内に導入される方向に対物レンズ4を駆動できるので、従来の半導体レーザ発生源を移動するものと比べ、半導体レーザ発生源を含む光学系の構成を簡単にでき、さらに位置決め精度の上での問題も解決できる。
【0031】
なお、この第1の実施の形態では、被検体6と合焦点Fの光軸上での間隔を制御するため、Z軸駆動部32により対物レンズ5を光軸方向に駆動するようにしているが、被検体6側を光軸方向に駆動するようにしてもよい。
(第2の実施の形態)
図3は、本発明の第2の実施の形態の概略構成を示すもので、図1と同一部分には、同符号を付している。
【0032】
この場合、偏光ビームスプリッタ2とビームスプリッタ7の間にビームスプリッタ34、35を挿入し、ビームスプリッタ34で反射されるレーザビームを、撮像部36の結像レンズ37を介して撮像装置としてのCCDカメラ38に入射させる。ビームスプリッタ35で反射されたレーザビームは、結像レンズ39を介して撮像装置としてのCCDカメラ40に入射され、それぞれ対物レンズ5の焦点面の画像を撮像するようにする。そして、これらCCDカメラ38、40で撮像した画像は、各別にずれ方向検出部27の画像処理部28に入力するようにしている。なお、ここでの結像レンズ37および39は、倍率の異なるものを用いている。
【0033】
しかして、このように構成した実施の形態の合焦動作では、CCDカメラ38または40のうち選択された倍率の撮像画像のみを画像処理部28に入力するようにする。この場合、どちらの倍率の撮像画像を用いるかは合焦検出を開始する前に予め指示するようにしてもよいし、最初の段階で双方の撮像画像によるコントラストを求め、次の段階でよりコントラストの変化率の大きな方に切り替えるようにしてもよい。
【0034】
従って、このようにすれば、複数の倍率を有する撮像部を有することにより、被検体6表面上で、よりコントラストの高い領域を含んだ画像処理を実行できるので、ずれ方向の検出をさらに高精度に行うことができる。
【0035】
なお、この第2の実施の形態では、異なる倍率の結像レンズ37、39を選択的に用いたが、これら結像レンズ37、39に代えて所定の範囲で倍率を変えることができるズームレンズを用いることもできる。
(第3の実施の形態)
第1および第2の実施の形態では、合焦判定部22は、共焦点光学系で構成しているが、この第3の実施の形態では、瞳分割法を用いている。
【0036】
図4は、第3の実施の形態に用いられる瞳分割法を採用した合焦判定部48を示すもので、第1の遮蔽板41、結像レンズ42、ビームスプリッタ43、第2の遮蔽板44、第1の受光素子45、第3の遮蔽板46、第2の受光素子47から構成している。
【0037】
しかして、このような構成において、いま、図1で述べたように被検体6で反射され対物レンズ5で平行光にされたレーザビームが図4に示す合焦判定部48に入射すると、第1の遮蔽板41により反射光の半分(図示斜線の領域)が遮られる。また、遮られなかったレーザビームは、結像レンズ42を介してビームスプリッタ43に入射され、ビームスプリッタ43を透過される光路と、ビームスプリッタ43で反射される光路の2本に分割される。
【0038】
そして、ビームスプリッタ43を透過したレーザビームは、結像レンズ42の集光点Pに配置された第2の遮蔽板44を通過した後、第1の受光素子45に入射する。ビームスプリッタ43で反射したレーザビームは、結像レンズ42の集光点Pに配置される第3の遮蔽板46を通過した後、第2の受光素子47に入射する。
【0039】
ここで、第1の受光素子45から出力された電気信号をA、第2の受光素子47から出力された電気信号をBとすると、結像レンズ42からレーザビームが集光点Pよりも手前で像を結んだ場合、受光素子45へのレーザビームは、遮蔽板44により遮られてしまうためレーザビームは入射されないが、受光素子47へのレーザビームは、遮蔽板46に遮られないため、そのまま入射され、これにより各受光素子44、47の出力は、A<Bとなる。一方、結像レンズ42からレーザビームが集光点Pよりも後方で像を結んだ場合、受光素子47へのレーザビームは、遮蔽板46により遮られてしまうため入射されないが、受光素子45へのレーザビームは、遮蔽板44により遮られないため、そのまま入射される。これにより各受光素子44、47の出力は、A>Bとなる。また、集光点Pの位置で像を結んだ場合は、受光素子44、47へのレーザビームは、それぞれ遮蔽板44および46により遮られないので、各受光素子44、47の出力は、A=Bとなる。
【0040】
従って、このような瞳分割法を採用した合焦判定部48を図1に示す信号処理部12の前段に設け、各受光素子44、47の出力A、Bを入力するようにしても、上述したと同様な効果を期待できる。
【0041】
なお、図4に示す第3の実施の形態において、ビームスプリッタ43、遮蔽板46、受光素子47を設けずに、遮蔽板44を駆動する機構を設けて、図3に信号AおよびBに対応する信号を取得するようにしてもよい。
【0042】
【発明の効果】
以上述べたように、本発明によれば、撮像手段の撮像画像により被検体と合焦点の位置ずれ方向を検出することで、この位置ずれ方向に応じて合焦のための光学系または被検体の駆動方向を決定できるので、迅速な合焦動作を実現できる。また、退避動作の際、被検体と合焦点の位置ずれが大きくなる方向に変位していると退避動作の方向を反転させることができるので、被検体を合焦動作範囲内に速やかに導入でき、短時間による合焦動作を実現できる。さらに、コントラストの高い領域を含んだ画像処理を実行できるので、ずれ方向の検出をさらに高精度に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態の概略構成を示す図。
【図2】第1の実施の形態の動作を説明するためのフローチャート。
【図3】本発明の第2の実施の形態の概略構成を示す図。
【図4】本発明の第3の実施の形態の概略構成を示す図。
【図5】従来の焦点検出装置の一例の概略構成を示す図。
【図6】従来の一例の焦点検出装置を説明するための図。
【図7】従来の一例の焦点検出装置を説明するための図。
【図8】従来の焦点検出装置の他例の概略構成を示す図。
【図9】従来の他例の焦点検出装置を説明するための図。
【符号の説明】
1…半導体レーザ発生源、
2…偏光ビームスプリッタ、
3…1/4波長板、
4…結像レンズ、
5…対物レンズ、
6…被検体、
7…ビームスプリッタ、
8…第1の絞り、
9…第1の受光素子、
10…第2の絞り、
11…第2の受光素子、
12…信号処理回路、
121…第1の演算回路、
122…第2の演算回路、
123…第3の演算回路、
21…ビームスプリッタ、
22…合焦判定部、
23…結像レンズ、
24…撮像部、
25…結像レンズ、
26…CCDカメラ、
27…ずれ方向検出部、
28…画像処理部、
29…制御部、
30…判定回路、
31…Z軸変位制御部、
32…Z軸駆動部、
321…モータ、
34、35…ビームスプリッタ、
36…撮像部、
37、37…結像レンズ、
38、40…CCDカメラ、
41…第1の遮蔽板、
42…結像レンズ、
43…ビームスプリッタ、
44…第2の遮蔽板、
45…第1の受光素子、
46…第3の遮蔽板、
47…第2の受光素子、
48…合焦判定部。
Claims (4)
- 光学系を通して被検体にプローブ光を照射し、被検体からの反射光を第1および第2の受光手段により受光し、これら第1および第2の受光手段の出力に基づいて被検体に対する焦点検出を行う焦点検出装置において、
前記光学系または前記被検体の一方を光軸方向に移動させるZ軸変位制御手段と、
前記第1および第2の受光手段の出力に基づいて合焦動作範囲を判定する判定手段と、
前記判定手段での合焦動作範囲外の判定により前記被検体の撮像画像を取り込む撮像手段と、
前記撮像手段により取り込まれた撮像画像のコントラストにより前記被検体と合焦点の位置ずれ方向を検出する位置ずれ方向検出手段と、を備え、
前記Z軸変位制御手段は、前記判定手段において、前記被検体が合焦動作範囲内に位置すると判定された場合、前記第1および第2の受光手段の出力結果に基づいて、合焦点を検出するように、前記被検体と前記光学系との光軸上での間隔を制御し、
前記被検体が合焦動作範囲外に位置すると判断された場合、前記撮像手段により取り込まれた撮像画像のコントラストに基づいて、前記被検体と合焦点の位置ずれ方向を前記位置ずれ方向検出手段により検出し、前記被検体が前記合焦動作範囲内に位置するように制御することを特徴とする焦点検出装置。 - さらに前記判定手段は、合焦動作範囲外に位置すると判断した場合、前記光学系または前記被検体の一方を所定の退避位置まで移動させる退避動作実行手段と、
前記退避動作実行手段による退避動作の際、前記位置ずれ方向検出手段により前記被検体と合焦点の位置ずれが大きくなる方向の変位が検出されると前記退避動作方向を反転させる制御手段と
を具備したことを特徴とする請求項1記載の焦点検出装置。 - 前記撮像手段は、異なる倍率の被検体の撮像画像を取り込み可能にしたことを特徴とする請求項1または2記載の焦点検出装置。
- 前記位置ずれ検出手段は、前記撮像手段で取得された前回の画像のコントラストと今回の画像のコントラストを比較し前記被検体と合焦点の位置ずれ方向を検出することを特徴とする請求項1記載の焦点検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6790197A JP3851701B2 (ja) | 1997-03-21 | 1997-03-21 | 焦点検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6790197A JP3851701B2 (ja) | 1997-03-21 | 1997-03-21 | 焦点検出装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10268198A JPH10268198A (ja) | 1998-10-09 |
JP3851701B2 true JP3851701B2 (ja) | 2006-11-29 |
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ID=13358270
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6790197A Expired - Fee Related JP3851701B2 (ja) | 1997-03-21 | 1997-03-21 | 焦点検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3851701B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4774745B2 (ja) * | 2005-01-20 | 2011-09-14 | 株式会社ニコン | 顕微鏡システム |
KR100963131B1 (ko) | 2007-10-16 | 2010-06-15 | 주식회사 실트론 | 웨이퍼 결함 자동 검사 방법 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6050633A (ja) * | 1983-08-29 | 1985-03-20 | Hitachi Ltd | 自動焦点サ−ボ系 |
JPH01309573A (ja) * | 1988-06-08 | 1989-12-13 | Sanyo Electric Co Ltd | オートフォーカスビデオカメラ |
JP2797521B2 (ja) * | 1989-09-26 | 1998-09-17 | 松下電器産業株式会社 | 自動焦点制御装置 |
JPH06139584A (ja) * | 1992-10-26 | 1994-05-20 | Olympus Optical Co Ltd | 光学的情報記録再生装置のフォーカス制御装置 |
JPH0784172A (ja) * | 1993-09-13 | 1995-03-31 | Mitsutoyo Corp | フォーカシングサーボ機構 |
JP3544026B2 (ja) * | 1995-04-06 | 2004-07-21 | キヤノン株式会社 | 撮像装置 |
-
1997
- 1997-03-21 JP JP6790197A patent/JP3851701B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH10268198A (ja) | 1998-10-09 |
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A621 | Written request for application examination |
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