JP3842505B2 - 電子機器の不正開蓋防止装置および電子機器 - Google Patents

電子機器の不正開蓋防止装置および電子機器 Download PDF

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【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ケースに収納され且つ蓋をされた電子機器の改造を防止したり、又は電子機器が記憶しているデータやプログラムへの不正アクセスを防止する不正開蓋防止装置に関し、特に、不正開蓋防止処理プログラムが格納されたメモリと、不正開蓋信号を検出すると不正開蓋防止処理プログラムに従って電子機器の動作を不能にするCPUと、その他の機能部品と、これら機能部品を接続するプリント回路基板や配線等が下ケースに収納され、且つ上ケースによって蓋をされた電子機器の不正開蓋防止装置にする。
【0002】
【従来の技術】
ケースに収納され且つ蓋をされた電子機器の改造を防止したり、又は電子機器が記憶しているデータやプログラムへの不正アクセスを防止する不正開蓋防止装置としては、例えば特開平6−29869号公報に開示された電子機器の改造防止構造がある。これを図11の回路図、及び図12並びに図13の不正開蓋検出スイッチを参照して説明すれば次の通りである。
【0003】
電子機器の改造防止構造が適用された電子機器は、具体的には無線通信機であって、無線通信機に内蔵されたCPU11とメモリ12及び入出力インターフェイスI/O13、これらの機能部品等に電力を供給するメイン電源E1、メイン電源E1の一方の端子とCPU11のVcc端子との間に挿入されたメインスイッチSW1及び逆流防止用ダイオードD1を含んで構成されている。不正開蓋検出回路は、抵抗R1とR2とからなる分圧回路、この分圧回路に電力を供給する補助電源E2、前記分圧回路の一端と補助電源E2との一方の端子との間に挿入された不正開蓋検出スイッチSW2、及びCPU11のVcc端子との間に挿入された逆流防止用ダイオードD2を含んで構成されている。上ケースと下ケースからなるケース内には、CPU11、メモリ12、I/O13、その他の機能部品、これら機能部品を接続するプリント回路基板や配線等が収納されている。そして、上ケースで蓋をしたとき、不正開蓋検出スイッチSW2はその操作部が上ケースによって押圧され、オフ状態に保持されている。
【0004】
上ケースが不正に開蓋されると、不正開蓋検出スイッチSW2はその操作部が開放されてオン状態になる。すると、CPU11とメモリ12及びI/O13には、逆流防止ダイオードD2を介して補助電源E2から電力が供給され、これらは起動する。同時に、上記不正開蓋検出回路は不正開蓋信号Sを発生し、これをI/O13を介してCPU11に与える。起動したCPU11は、不正開蓋信号Sを検出すると、メモリ12に記憶されている改造防止プログラムに従って改造防止処理を行い、電子機器の動作を不能にする。この改造防止処理は、例えば、メモリ12に記憶されている改造防止プログラム以外の各種プログラムの一部又は全部を書き換える処理である。
【0005】
不正開蓋検出スイッチSW2は、図12及び図13に示す如く、下ケース31に収納されたプリント回路基板35に固定された固定接点76と、この固定接点76に対向する可動端部を有し且つ他方の固定端部がプリント回路基板35に固定された細長の板バネ状可動接点77とからなる機械的スイッチである。上ケース32で下ケース31に蓋をし固定用ネジ39で締め付けると、細長の板バネ状可動接点77は固定用ネジ39の端部で押圧されて固定接点76から離れ、図12に示す如く、不正開蓋検出スイッチSW2はオフ状態に保持される。蓋が開かれると、固定用ネジ39による細長の板バネ状可動接点77への押圧力が開放されるから、細長の板バネ状可動接点77はその弾性によって固定接点76に接触し、図13に示す如く、不正開蓋検出スイッチSW2はオン状態になる。
【0006】
このような構造であるから、不正開蓋が行われると、不正開蓋検出スイッチSW2は直ちにオン状態となって、上述の如く、CPU11は不正開蓋信号Sを検出し、メモリ12に記憶されている改造防止プログラムに従って改造防止処理を行い、電子機器の動作を不能にする。ところが、ケースの一部に穴を空け、そこから棒や特殊な治具を用いて検出スイッチSW2の操作部を操作して不正開蓋検出スイッチSW2がオンしないようにする事件が発生した。具体的には、細長の板バネ状可動接点77とプリント回路基板35との隙間Xに異物を差し込むことによって、上ケース32が外されても不正開蓋検出スイッチSW2がオンしないようにし、電子機器の不正改造を行った事件が発生した。これは、従来の不正開蓋防止装置においては、上ケースが外されても不正開蓋検出スイッチSW2が作動せず、従って不正開蓋が検出されないという問題を有するからである。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
本発明が解決しようとする課題は、不正開蓋防止処理プログラムが格納されたメモリと、不正開蓋信号を検出すると前記不正開蓋防止処理プログラムに従って電子機器の動作を不能にするCPUと、その他の機能部品と、これら機能部品を接続するプリント回路基板や配線等が下ケースに収納され、且つ上ケースによって蓋をされた電子機器の不正開蓋防止装置に、上ケースが外されたら確実に作動して不正開蓋を検出する不正開蓋検出スイッチを備えさせることによって、電子機器の不正改造や電子機器が記憶しているデータやプログラムへの不正アクセスの防止を図ることである。
【0008】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために、不正開蓋防止処理プログラムが格納されたメモリと、不正開蓋信号を検出すると前記不正開蓋防止処理プログラムに従って電子機器の動作を不能にするCPUと、その他の機能部品と、これら機能部品を接続するプリント回路基板や配線等が下ケースに収納され、且つ上ケースによって蓋をされた電子機器の不正開蓋防止装置を、前記上ケースが不正に開蓋された場合に作動してトリガー信号を発生する不正開蓋検出スイッチと、前記トリガー信号を入力して前記不正開蓋信号を発生する不正開蓋検出回路と、この不正開蓋検出回路に電力を供給する電池電源とで構成し、前記不正開蓋検出スイッチとして、その固定接点部が前記上ケースと下ケースの一方の側に配置され且つその可動接点部が他方の側に配置その固定接点部が一方のケース側に配置され且つその可動接点部が他方のケース側に配置されたスイッチを採用した。
【0009】
即ち、前記不正開蓋検出スイッチとして、固定接点が設けられたメインスイッチ基板からなる固定接点部が前記下ケース側に配置され、且つコイルバネとコイルバネ保護用円筒状ガード部材が固着されたサブスイッチ基板からなる可動接点部が前記上ケース側に配置され、前記上ケースで前記下ケースに蓋をし蓋固定用ネジで締め付けたときにオン状態となるスイッチを採用した。
【0010】
また、前記不正開蓋検出スイッチとして、一対の固定用ネジ貫通孔の周囲に固定接点用ランドがそれぞれ形成されたプリント回路基板からなる固定接点部が前記下ケース側に配置され、且つ両端部に固定用ネジ貫通孔が夫々形成された細長の板バネ状可動接点からなる可動接点部が前記上ケース側に配置され、前記上ケースで前記下ケースに蓋をし蓋固定用ネジで締め付けたときにオン状態となるスイッチを採用した。
【0011】
更に、前記不正開蓋検出スイッチとして、固定用ネジ貫通孔の周囲に一対の略三日月型固定接点パターンが形成されたプリント回路基板からなる固定接点部が前記下ケース側に配置され、且つ前記一対の略三日月型固定接点パターンを接続又は開放するワッシャ型可動接点からなる可動接点部が前記上ケース側に配置され、前記上ケースで前記下ケースに蓋をし蓋固定用ネジで締め付けたときにオン状態となるスイッチを採用した。
【0012】
また、上記課題を解決するために、不正開蓋防止処理プログラムが格納されたメモリと、不正開蓋信号を検出すると前記不正開蓋防止処理プログラムに従って電子機器の動作を不能にするCPUと、その他の機能部品と、これら機能部品を接続するプリント回路基板や配線等が下ケースに収納され、且つ上ケースによって蓋をされた電子機器の不正開蓋防止装置を、前記上ケースが不正に開蓋された場合に作動してトリガー信号を発生する不正開蓋検出スイッチと、前記トリガー信号を入力して前記不正開蓋信号を発生する不正開蓋検出回路と、この不正開蓋検出回路に電力を供給する電池電源とで構成し、前記不正開蓋検出スイッチとして前記上ケースを下ケースに固定する固定用ネジのネジキャップによってその操作端が押圧されるマイクロスイッチを採用した。
【0013】
【発明の実施の形態】
本発明の一実施例の回路図である図1において、電子機器の不正開蓋防止装置が適用された電子機器は、プログラムに従って各種の演算や制御を行うCPU11と、各種のプログラムやデータが格納されたメモリ12、図示しない入力機器や出力機器をCPU11に接続する入出力インターフェイスI/O13、これらの機能部品等に電力を供給するメイン電源E1、及びメイン電源E1の一方の端子とCPU11のVcc端子との間に挿入されたメインスイッチSW1を含んで構成されている。メモリ12に格納されたプログラムの中には不正開蓋防止処理プログラムが含まれており、CPU11は不正開蓋信号Sを検出すると、このプログラムに従って電子機器の動作を不能にする。
【0014】
CPU11、メモリ12、I/O13、その他の機能部品、及びこれら機能部品を接続するプリント回路基板や配線等は下ケースに収納され、且つ上ケースによって蓋をされている。上ケースは下ケースに固定用ネジによって固定されており、簡単には蓋が開けられないようになっている。
【0015】
上記の電子機器に適用される不正開蓋防止装置は、上ケースが不正に開蓋された場合に作動してトリガー信号を発生する不正開蓋検出スイッチSW2、前記トリガー信号を入力して不正開蓋信号Sを発生する不正開蓋検出回路14、及びこの不正開蓋検出回路14に電力を常時供給する電池電源E2とから構成されている。図1において、不正開蓋検出スイッチSW2は上ケースで蓋をされているときは、オン状態に保持されている。
【0016】
上ケースが不正に開蓋されると、不正開蓋検出スイッチSW2はその操作部が開放されてオフ状態になり、不正開蓋検出回路14にトリガー信号を与える。すると、不正開蓋検出回路14は不正開蓋信号Sを発生し、図示しない内蔵メモリに格納する。メインスイッチSW1が操作されると、CPU11、メモリ12、及びI/O13が起動する。CPU11は、不正開蓋信号Sを検出すると、メモリ12に記憶されている不正開蓋防止プログラムに従って不正開蓋防止処理を行い、電子機器の動作を不能にする。この不正開蓋防止処理は、例えば、メモリ12に記憶されている不正開蓋防止処理プログラム以外の各種プログラムの一部又は全部を書き換える処理である。
【0017】
不正開蓋検出回路14は、論理回路やメモリ回路で構成したデジタル型不正開蓋検出回路が用いられている。従って、不正開蓋検出スイッチSW2が発生するトリガー信号はオフ信号でも、オン信号でも対応できる。勿論、図11に示す如きアナログ回路でも構成することもできる。不正開蓋検出回路14には電池電源E2から常時電力が供給されているが、その消費電力は僅かであるから電池電源E2の寿命は10年程度と十分な長さが確保される。
【0018】
本発明に係る不正開蓋検出スイッチSW2を、第1実施例、第2実施例、第3実施例及び第4実施例について、以下に詳細に説明する。先ず、図2及び図3に示す第1実施例は、その固定接点部が上ケースと下ケースの一方の側に配置され且つその可動接点部が他方の側に配置その固定接点部が一方のケース側に配置され且つその可動接点部が他方のケース側に配置された不正開蓋検出スイッチである。即ち、一対の固定接点36が設けられたメインスイッチ基板33からなる固定接点部が下ケース31の側に配置され、且つ一対の導電性コイルバネ37と夫々のコイルバネ保護用円筒状ガード部材38が固着されたサブスイッチ基板34からなる可動接点部が上ケース32側に配置されて構成された不正開蓋検出スイッチである。図3に示す如く、上ケース32で下ケース31に蓋をし一対の固定用ネジ39で締め付けると、導電性コイルバネ37の可動端が対向する固定接点36に接触し、この不正開蓋検出スイッチはオン状態となる。図2に示す如く、蓋である上ケース32が下ケース31から取り外されると、導電性コイルバネ37の可動端は対向する固定接点36から離れ、この不正開蓋検出スイッチはオフ状態となる。
【0019】
31aは下ケースに設けられた固定用ネジ貫通孔、33aはメインスイッチ基板33に設けられた固定用ネジ貫通孔、34aはサブスイッチ基板34に設けられた固定用ネジ貫通孔である。32bは上ケース32に立設された突起部、32cは突起部32aに形成された固定用ネジ穴である。一対の導電性コイルバネ37の固定端はサブスイッチ基板34を貫通して半田付けされており、更に銅線またはプリント回路で接続されている。一対の固定接点36は、金メッキ等の導電性材料で形成されている。なお、図2及び図3において、可動接点部の可動接点部材として一対の導電性コイルバネ37を用いたが、1個の導電性コイルバネと図示しない導電性バーを用いても可動接点部を構成することができる。
【0020】
また、図4及び図5に示す第2実施例も、その固定接点部が上ケースと下ケースの一方の側に配置され且つその可動接点部が他方の側に配置その固定接点部が一方のケース側に配置され且つその可動接点部が他方のケース側に配置された不正開蓋検出スイッチある。即ち、一対の固定用ネジ貫通孔31aの周囲に固定接点用ランド46がそれぞれ形成されたプリント回路基板35からなる固定接点部が下ケース31の側に配置され、且つ両端部に固定用ネジ貫通孔47aが夫々形成された導電性の細長の板バネ状可動接点47からなる可動接点部が上ケース32の側に配置されて構成された不正開蓋検出スイッチである。図5に示す如く、上ケース32で下ケース31に蓋をし一対の固定用ネジ39で締め付けると、細長の板バネ状可動接点47の両端が一対の固定接点用ランド46にそれぞれ接触し、この不正開蓋検出スイッチはオン状態となる。図4に示す如く、蓋である上ケース32が下ケース31から取り外されると、細長の板バネ状可動接点47の両端は一対の固定接点用ランド46から離れ、この不正開蓋検出スイッチはオフ状態となる。
【0021】
更に、図6ないし図8に示す第3実施例も、その固定接点部が上ケースと下ケースの一方の側に配置され且つその可動接点部が他方の側に配置その固定接点部が一方のケース側に配置され且つその可動接点部が他方のケース側に配置された不正開蓋検出スイッチある。即ち、固定用ネジ貫通孔56aの周囲に一対の略三日月型固定接点パターン56bと56cが形成されたプリント回路基板35からなる固定接点部が下ケース31の側に配置され、且つ一対の略三日月型固定接点パターン56bと56cを接続又は切断する導電性のワッシャ型可動接点57からなる可動接点部が上ケース32の側に配置されて構成された不正開蓋検出スイッチである。図8に示す如く、上ケース32で下ケース31に蓋をし一対の固定用ネジ39で締め付けると、ワッシャ型可動接点57が一対の略三日月型固定接点パターン56bと56cを接触し、この不正開蓋検出スイッチはオン状態となる。図6に示す如く、蓋である上ケース32が下ケース31から取り外されると、ワッシャ型可動接点57は一対の略三日月型固定接点パターン56bと56cから離れ、この不正開蓋検出スイッチはオフ状態となる。
【0022】
上述の如く、第1実施例、第2実施例及び第3実施例は、その固定接点部が上ケースと下ケースの一方の側に配置され且つその可動接点部が他方の側に配置その固定接点部が一方のケース側に配置され且つその可動接点部が他方のケース側に配置された不正開蓋検出スイッチある。このため、図12及び図13に示した従来の不正開蓋検出スイッチで発生した細長の板バネ状可動接点77とプリント回路基板35との隙間Xに異物を差し込むことによって、不正開蓋検出スイッチを作動させないようにするような細工は不可能である。従って、第1実施例、第2実施例及び第3実施例の不正開蓋検出スイッチを本発明に係る電子機器の不正開蓋防止装置も用いた場合、不正開蓋を確実に検出することができる。
【0023】
更にまた、図9及び図10に示す第4実施例は、上ケース32を下ケース31に固定する固定用ネジ39のネジキャップ61によってその操作端60aが押圧されるマイクロスイッチ60で構成した不正開蓋検出スイッチである。ネジキャップ61が押し込まれるネジキャップ収納穴31eは、固定用ネジ貫通孔31aが端部に形成された円筒状突起部31bの円筒穴である。円筒状突起部31bは、下ケース31に設けられている。マイクロスイッチ60は、その操作端60aを円筒状突起部31bの開口31fに対向するようにして、プリント回路基板35に取り付けられている。
【0024】
ネジキャップ61はゴム系材料で作られた部材であって、円柱本体部61aと円形頂部61b及び円柱本体部61aの下部に部分的に形成された突起部61cとからなる略円柱体のネジキャップである。突起部61cはマイクロスイッチ60の操作端60aを押圧するためのものである。円柱本体部61aの下端から上方に向かって穿たれた中空部61dは、ネジキャップ61をネジキャップ収納穴31eに押し込むことを可能にするために設けられたものである。円柱本体部61aと円形頂部61bの間に形成された環状凹部61eは、ネジキャップ収納穴31eに押し込まれたネジキャップ61を取り外すためのものである。
【0025】
上述の如く、第4実施例は上ケース32を下ケース31に固定する固定用ネジ39のネジキャップ61によってその操作端60aが押圧されるマイクロスイッチ60で構成した不正開蓋検出スイッチであるから、図12及び図13に示した従来の不正開蓋検出スイッチで発生した細長の板バネ状可動接点77とプリント回路基板35との隙間Xに異物を差し込むことによって、不正開蓋検出スイッチを作動させないようにするような細工は不可能である。従って、第4実施例の不正開蓋検出スイッチを本発明に係る電子機器の不正開蓋防止装置も用いた場合も、不正開蓋を確実に検出することができる。
【0026】
【発明の効果】
本発明に係る電子機器の不正開蓋防止装置においては、ケースに孔を開けたり、又はケースの一部を壊しても、不正開蓋検出スイッチを意図的に作動させたり又は作動させないようにすることは不可能である。従って、本発明に係る不正開蓋防止装置が適用された電子機器においては不正開蓋が検出されないという問題が無くなり、電子機器の改造の防止や電子機器が記憶しているデータやプログラムへの不正アクセスの防止が、従来装置に比較して遙かに強化された。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る不正開蓋防止装置の一実施形態の回路図である。
【図2】蓋が開けられた状態の不正開蓋検出スイッチの第1実施例の断面図である。
【図3】蓋が閉められた状態の不正開蓋検出スイッチの第1実施例の断面図である。
【図4】蓋が開けられた状態の不正開蓋検出スイッチの第2実施例の断面図である。
【図5】蓋が閉められた状態の不正開蓋検出スイッチの第2実施例の断面図である。
【図6】蓋が開けられた状態の不正開蓋検出スイッチの第3実施例の断面図である。
【図7】第3実施例に用いられている固定接点パターンの一例である。
【図8】蓋が閉められた状態の不正開蓋検出スイッチの第3実施例の断面図である。
【図9】蓋が閉められた状態の不正開蓋検出スイッチの第4実施例の断面図である。
【図10】第4実施例に用いられているネジキャップの一例である。
【図11】従来の不正開蓋防止装置の一実施形態の回路図である。
【図12】蓋が開けられた状態の従来の不正開蓋検出スイッチの断面図である。
【図13】蓋が閉められた状態の従来の不正開蓋検出スイッチの断面図である。
【符号の説明】
11 CPU
12 メモリ
13 I/O
14 不正開蓋検出回路
31 下ケース
31a 固定用ネジ貫通孔
31b 円筒状突起部
31c 固定用ネジ孔
31d 板バネ用貫通孔
31e ネジキャップ収納穴
31f 開口
32 上ケース
32a 固定用ネジ貫通孔
32b 突起部
32c 固定用ネジ孔
32d 第2の突起部
33 メインスイッチ基板
33a 固定用ネジ貫通孔
34 サブスイッチ基板
35 プリント回路基板
35a 固定用ネジ貫通孔
36 固定接点
37 導電性コイルバネ
38 円筒状ガード
39 固定用ネジ
46 固定接点用ランド
47 細長の板バネ状可動接点
47a 固定用ネジ貫通孔
56 固定接点
56b、56c 固定接点パターン
57 ワッシャ型可動接点
60 マイクロスイッチ
60a マイクロスイッチの操作端
61 ネジキャップ
61a 円柱本体部
61b 円形頂部
61c 突起部
61d 中空部
61e 環状凹部
76 固定接点
77 細長の板バネ状可動接点

Claims (6)

  1. 不正開蓋防止処理プログラムが格納されたメモリと、不正開蓋信号を検出すると前記不正開蓋防止処理プログラムに従って電子機器の動作を不能にするCPUと、その他の機能部品と、これら機能部品を接続するプリント回路基板や配線等が下ケースに収納され、且つ上ケースによって蓋をされた電子機器の不正開蓋防止装置であって、
    前記上ケースが不正に開蓋された場合に作動してトリガー信号を発生する不正開蓋検出スイッチと、
    前記トリガー信号の入力を受けて前記不正開蓋信号を発生する不正開蓋検出回路と、
    前記不正開蓋検出回路に電力を供給する電池電源とから構成され、
    前記不正開蓋検出スイッチは、固定接点が設けられたメインスイッチ基板からなる固定接点部が前記下ケース側に配置され、且つコイルバネとコイルバネ保護用円筒状ガード部材が固着されたサブスイッチ基板からなる可動接点部が前記上ケース側に配置され、前記上ケースで前記下ケースに蓋をし蓋固定用ネジで締め付けたときにオン状態となるスイッチであることを特徴とする電子機器の不正開蓋防止装置。
  2. 不正開蓋防止処理プログラムが格納されたメモリと、不正開蓋信号を検出すると前記不正開蓋防止処理プログラムに従って電子機器の動作を不能にするCPUと、その他の機能部品と、これら機能部品を接続するプリント回路基板や配線等が下ケースに収納され、且つ上ケースによって蓋をされた電子機器の不正開蓋防止装置であって、
    前記上ケースが不正に開蓋された場合に作動してトリガー信号を発生する不正開蓋検出スイッチと、
    前記トリガー信号の入力を受けて前記不正開蓋信号を発生する不正開蓋検出回路と、
    前記不正開蓋検出回路に電力を供給する電池電源とから構成され、
    前記不正開蓋検出スイッチは、一対の固定用ネジ貫通孔の周囲に固定接点用ランドがそれぞれ形成されたプリント回路基板からなる固定接点部が前記下ケース側に配置され、且つ両端部に固定用ネジ貫通孔が夫々形成された細長の板バネ状可動接点からなる可動接点部が前記上ケース側に配置され、前記上ケースで前記下ケースに蓋をし蓋固定用ネジで締め付けたときにオン状態となるスイッチであることを特徴とする電子機器の不正開蓋防止装置。
  3. 不正開蓋防止処理プログラムが格納されたメモリと、不正開蓋信号を検出すると前記不正開蓋防止処理プログラムに従って電子機器の動作を不能にするCPUと、その他の機能部品と、これら機能部品を接続するプリント回路基板や配線等が下ケースに収納され、且つ上ケースによって蓋をされた電子機器の不正開蓋防止装置であって、
    前記上ケースが不正に開蓋された場合に作動してトリガー信号を発生する不正開蓋検出スイッチと、
    前記トリガー信号の入力を受けて前記不正開蓋信号を発生する不正開蓋検出回路と、
    前記不正開蓋検出回路に電力を供給する電池電源とから構成され、
    前記不正開蓋検出スイッチは、前記上ケースを前記下ケースに固定する固定用ネジのネジキャップによってその操作端が押圧されるマイクロスイッチであることを特徴とする電子機器の不正開蓋防止装置。
  4. 不正開蓋防止処理プログラムが格納されたメモリと、不正開蓋信号を検出すると前記不正開蓋防止処理プログラムに従って電子機器の動作を不能にするCPU等が下ケースに収納され、且つ上ケースによって蓋をされた電子機器であって、
    前記電子機器の改造の防止や前記電子機器が記憶しているデータやプログラムへの不正アクセスを防止するための不正開蓋防止装置を有し、
    前記不正開蓋防止装置が、
    固定接点が設けられたメインスイッチ基板からなる固定接点部が前記下ケース側に配置され、且つコイルバネとコイルバネ保護用円筒状ガード部材が固着されたサブスイッチ基板からなる可動接点部が前記上ケース側に配置され、前記上ケースで前記下ケースに蓋をし蓋固定用ネジで締め付けたときにオン状態となり、前記上ケースが不正に開蓋された場合に作動してトリガー信号を発生する不正開蓋検出スイッチと、
    前記トリガー信号の入力を受けて前記不正開蓋信号を発生する不正開蓋検出回路と、
    前記不正開蓋検出回路に電力を供給する電池電源とから構成される不正開蓋防止装置であることを特徴とする、電子機器。
  5. 不正開蓋防止処理プログラムが格納されたメモリと、不正開蓋信号を検出すると前記不正開蓋防止処理プログラムに従って電子機器の動作を不能にするCPU等が下ケースに収納され、且つ上ケースによって蓋をされた電子機器であって、
    前記電子機器の改造の防止や前記電子機器が記憶しているデータやプログラムへの不正アクセスを防止するための不正開蓋防止装置を有し、
    前記不正開蓋防止装置が、
    一対の固定用ネジ貫通孔の周囲に固定接点用ランドがそれぞれ形成されたプリント回路基板からなる固定接点部が前記下ケース側に配置され、且つ両端部に固定用ネジ貫通孔が夫々形成された細長の板バネ状可動接点からなる可動接点部が前記上ケース側に配置され、前記上ケースで前記下ケースに蓋をし蓋固定用ネジで締め付けたときにオン状態となり、前記上ケースが不正に開蓋された場合に作動してトリガー信号を発生する不正開蓋検出スイッチと、
    前記トリガー信号の入力を受けて前記不正開蓋信号を発生する不正開蓋検出回路と、
    前記不正開蓋検出回路に電力を供給する電池電源とから構成される不正開蓋防止装置であることを特徴とする、電子機器。
  6. 不正開蓋防止処理プログラムが格納されたメモリと、不正開蓋信号を検出すると前記不正開蓋防止処理プログラムに従って電子機器の動作を不能にするCPU等が下ケースに収納され、且つ上ケースによって蓋をされた電子機器であって、
    前記電子機器の改造の防止や前記電子機器が記憶しているデータやプログラムへの不正アクセスを防止するための不正開蓋防止装置を有し、
    前記不正開蓋防止装置が、
    前記上ケースを前記下ケースに固定する固定用ネジのネジキャップによってその操作端が押圧されるマイクロスイッチからなり、前記上ケースが不正に開蓋された場合に作動してトリガー信号を発生する不正開蓋検出スイッチと、
    前記トリガー信号の入力を受けて前記不正開蓋信号を発生する不正開蓋検出回路と、
    前記不正開蓋検出回路に電力を供給する電池電源とから構成される不正開蓋防止装置であることを特徴とする、電子機器。
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