JP3820535B2 - イオンビーム用荷電ストリッパー膜の強化方法 - Google Patents

イオンビーム用荷電ストリッパー膜の強化方法 Download PDF

Info

Publication number
JP3820535B2
JP3820535B2 JP18943697A JP18943697A JP3820535B2 JP 3820535 B2 JP3820535 B2 JP 3820535B2 JP 18943697 A JP18943697 A JP 18943697A JP 18943697 A JP18943697 A JP 18943697A JP 3820535 B2 JP3820535 B2 JP 3820535B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ion beam
film
stripper
charged
carbon foil
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP18943697A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH1138195A (ja
Inventor
裕雄 長谷部
佳敏 宮澤
政武 逸見
英二 池沢
利光 藍原
智則 大木
啓資 山内
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
RIKEN Institute of Physical and Chemical Research
Original Assignee
RIKEN Institute of Physical and Chemical Research
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by RIKEN Institute of Physical and Chemical Research filed Critical RIKEN Institute of Physical and Chemical Research
Priority to JP18943697A priority Critical patent/JP3820535B2/ja
Publication of JPH1138195A publication Critical patent/JPH1138195A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3820535B2 publication Critical patent/JP3820535B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Particle Accelerators (AREA)
  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、イオンビーム用荷電ストリッパー膜の強化方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
イオンビームの加速には、その効率を上げるために加速イオンから電子を剥ぎ取るストリッパー膜が用いられる。このストリッパー膜は、通常極めて薄い炭素の薄膜であり、この膜を加速器で加速されたイオンビームはほとんどエネルギーを失うことなく通過するが、イオンのまわりに残っていた電子がストリッパー膜で剥ぎ取られ、より高い価数のイオンとなる。このようにして得られた価数の高いイオンビームは磁場で容易に軌道を変えることができ、かつ効率的に加速することができる。
【0003】
例えば図4は、ストリッパー膜を通過したキセノンイオンビームのエネルギーに対する生成価数とそのイオンビームの強度との関係を示している。この図において、例えば0.25MeV/u(核子)のエネルギーのキセノンイオンビームを用いると、通過したキセノンイオンビームは、価数18が最も多く生成されて、入射したキセノンイオンの約20%が18価にかわり、その前後の価数の比率も高くなっている。この特性を利用してイオンビームの価数を高めることができる。
【0004】
上述した用途に使用するストリッパー膜は、膜厚約10μg/cm2 前後の純炭素箔として市販されている。このストリッパー膜1を、通常は図5(A)に模式的に示すように、開口2を有する金属板3(ホルダー板)に皺ができないように張り付け、イオンビームの通過位置に取り付けて使用する。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、かかるストリッパー膜1は、一般に寿命が短く、イオンビームの照射によってすぐに破損してしまうため、加速器の利用効率を著しく低下させていた。この原因は、イオンビームの照射によってストリッパー膜の厚さが部分的に増加し、これにより膜内に過大な引張応力(張力)が発生するためである。
【0006】
そこで、図5(B)に模式的に示すように、金属リング4にストリッパー膜1を皺なく張り付けた後、機械的に金属リング4を内方に縮めて塑性変形させ、これによりストリッパー膜1を大きく撓ませて(すなわち、たるみを付けて)試験に供することが一部で実施され、寿命を延ばす効果が確認されている。
【0007】
しかし、図4(B)に示す方法を実施するためには、金属リング4を内方に縮めるための特別の治具が必要であり製作に手間がかかるばかりでなく、ストリッパー膜の各部を均等に撓ませることが困難であり、品質のバラツキが大きく、安定した特性を得ることが困難である問題点があった。
【0008】
本発明は、かかる問題点を解決するために創案されたものである。すなわち、本発明の目的は、ホルダーの開口に皺なく張り付けたストリッパー膜を、特別な治具を用いず、手間をかけずに、イオンビーム照射に対する寿命を延ばすことができるイオンビーム用荷電ストリッパー膜の強化方法を提供することにある。また、本発明の別の目的は、ストリッパー膜の各部を均等に撓ませることができ、品質のバラツキが少なく、安定した特性を得ることができるイオンビーム用荷電ストリッパー膜の強化方法を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】
本発明の発明者等は、炭素箔に強い可視光をストロボ等で照射することにより、炭素箔の全面に細かい皺を形成することができることを新たに見出した。更に、この特性を利用し、ホルダーに皺なく張った炭素箔の全面に細かい皺を形成し、イオンビームを照射して試験した結果、皺のない従来品よりも寿命が大幅に延びることを確認した。本発明はかかる新規の知見に基づくものである。
【0010】
すなわち、本発明によれば、開口を有するホルダー板に開口を覆って炭素箔を皺なく張り付け、次いで該炭素箔に強い可視光を短時間照射し、これにより開口部の炭素箔全面に細かい皺を形成する、ことを特徴とするイオンビーム用荷電ストリッパー膜の強化方法が提供される。
この方法によれば、ホルダーに皺なく張った炭素箔は作りやすいので、それに、ストロボ等で強い可視光を照射するだけで、特別な治具を用いず、手間をかけずに、イオンビーム照射に対する寿命を延ばすことができる。また、この方法により、強い可視光を均一に照射するだけで、ストリッパー膜の各部を均等に撓ませることができ、品質のバラツキが少なく、安定した特性を得ることができる。
【0011】
本発明の好ましい実施形態によれば、前記可視光の光束は、200万〜300万ルーメンであり、その照射時間は、100〜300μsである。また、前記可視光は、キセノンフラッシュランプによる照射光であるのがよい。更に、前記炭素箔は、膜厚10μg/cm2 の純炭素箔であることが好ましい。
【0012】
上記照射光は、市販のカメラ用ストロボで発生させることができる。すなわち、市販のストロボのランプの多くは、キセノンフラッシュランプであり、その幾つかを予め試験して、光束が200万〜300万ルーメンであり、その照射時間が100〜300μsであるものを選択すれば、そのストロボを距離にして3〜5cmに近づけて発光させることにより、細かい皺をよせて撓ませることができる。なお、光束が強すぎたり、照射時間が長いと、皺が大きくなってストリッパー膜が破損しやすくなり、逆に光束が弱すぎたり、照射時間が短いと、十分な皺が形成できない。
【0013】
このようにして製作したイオンビーム用荷電ストリッパー膜は、図5(B)のように機械的に撓ませたものと同等の性能を示し、皺なく張りそのままの状態で使用する従来のものよりも、約3〜5倍の寿命に強化することができる。また、市販のストロボは、光束及び発光時間が安定しているので、予め所定の性能のストロボを選択しておくだけで、所定の強い可視光を均一に照射することができ、これによりストリッパー膜の各部を均等に撓ませることができ、品質のバラツキが少なく、安定した特性を得ることができる。
【0014】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の好ましい実施形態を図面を参照して説明する。なお、各図において、共通する部分には同一の符号を付し、重複した説明を省略する。
図1は、本発明の方法を模式的に示す図である。この図に示すように、本発明のイオンビーム用荷電ストリッパー膜の強化方法は、(A)まず、開口2を有するホルダー板3に開口2を覆って炭素箔1(ストリッパー膜)を皺なく張り付ける。この工程は、従来の普通の使用方法と同様であり、ホルダー板3、開口2も同一のものをそのまま使用する。
【0015】
炭素箔1は、膜厚約10μg/cm2 の純炭素箔を使用する。純炭素箔の表面に硝酸セルロースのコーティングをしたものも市販されているが、かかる炭素箔は、表面のコーティングの影響を受けるため、本発明を適用しても十分な効果は得られない。
【0016】
(B)次いで炭素箔1に強い可視光5を短時間照射し、これにより図1に模式的に示すように、開口部の炭素箔全面に細かい皺7を形成する。この可視光5の照射条件は、後述するように、可視光の光束が約200万〜300万lm(ルーメン)であり、その照射時間が約100〜300μsであるのがよい。300万lmを越える光束、或いは300μsを越える照射時間では、皺7が大きくなってストリッパー膜が破損しやすくなる。また、200万lm未満の光束、或いは100μs未満の照射時間では、十分な皺が形成できない。
【0017】
なお、形成された皺7は、図では表現できないが、方向性のない細かい起伏であり、光を照射した表面及び裏面にも同様に形成される。起伏の高さは、数10μm程度である。またこの皺は開口部の炭素箔全面に限られず、開口部周辺のホルダー板3への張付け部にも形成されるが、この部分の剥がれ等は生じなかった。なお、張付け部の皺がわずかでも悪影響を及ぼす場合には、張り付けた反対側から可視光を照射することにより、これを避けることができる。
【0018】
上述した可視光は、キセノンフラッシュランプによる照射光であることが好ましい。かかるキセノンフラッシュランプを用いることにより、必要な光束、照射時間を容易に得ることができる。なお、市販のストロボ6のランプの多くは、キセノンフラッシュランプであり、その幾つかを予め試験して、光束が約200万〜300万ルーメンであり、その照射時間が約100〜300μsであるものを選択すれば、そのストロボを距離にして3〜5cmに近づけて発光させ、細かい皺をよせて撓ませることができる。
【0019】
開口部の炭素箔全面に細かい皺が形成されるメカニズムは、現在のところ正確には把握されていないが、強い可視光の短時間照射により、適量の光圧(放射圧)の衝撃波が生じ、この衝撃波によって薄い炭素箔が部分的に伸び縮みし、微細な皺7が形成されて少したるみを帯びた形状になるものと思われる。
【0020】
図2は、試験に使用したストロボの性能比較表である。このストロボは、すべて写真用であり、a,bは、コンパクトカメラに内蔵のもの、c,dは単独ストロボである。これらのストロボを用いてストリッパー膜1に同一条件で照射した結果、a,b,cでは、良好な皺が形成されたが、dでは、皺が大きくなってストリッパー膜が破損した。従って、可視光の光束が約200万〜300万lm(ルーメン)であり、その照射時間が約100〜300μsであるのがよいことがわかった。
【0021】
【実施例】
図3は、本発明の方法を適用したストリッパー膜の寿命比較図である。なお、この試験は、136 Xe9+のイオンビームをE=0.25MeV/u(核子)のエネルギーで照射して実施した。ビームカレントは、1.0eμA、ビームサイズは5mm×5mmであった。また、試験した炭素箔(カーボンフォイル)は、米国のアリゾナカーボン社製(図中のA)とカナダのチョークリバー社製(図中のB,C)である。なお、図中の各棒線のうち、斜線は本発明の方法を適用したもの、その他は、皺なく張りつけたままの従来のものである。
【0022】
図3の実施例から、本発明の方法を適用したストリッパー膜は、従来のものと比較して少なくとも倍以上、ものによっては5倍以上の長寿命を示していることがわかる。
【0023】
なお、本発明は上述した実施例に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変更できることは勿論である。例えば、膜厚が100μg/cm2 以上の炭素箔にも、同様に適用することができる。また、本発明の荷電ストリッパー膜を同様の目的に使用するビームターゲットにも適用することができる。
【0024】
【発明の効果】
上述したように、本発明の方法によれば、ホルダーに皺なく張った炭素箔は作りやすいので、それに、ストロボ等で強い可視光を照射するだけで、特別な治具を用いず、手間をかけずに、イオンビーム照射に対する寿命を延ばすことができる。また、この方法により、強い可視光を均一に照射するだけで、ストリッパー膜の各部を均等に撓ませることができ、品質のバラツキが少なく、安定した特性を得ることができる。
【0025】
すなわち、皺形成は、カメラのストロボを用いて発光させるだけなので、短時間で、場所も取らず、コストもかからず、誰にでも簡単に、強化した炭素箔を製作することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の方法を模式的に示す図である。
【図2】試験に使用したストロボの性能比較表である。
【図3】本発明の方法を適用したストリッパー膜の寿命比較図である。
【図4】ストリッパー膜を通過したキセノンイオンビームのエネルギーに対する生成価数とそのイオンビームの強度との関係図である。
【図5】従来のストリッパー膜の使用方法を示す模式図である。
【符号の説明】
1 ストリッパー膜
2 開口
3 ホルダー板
4 金属リング
5 可視光
6 ストロボ
7 皺

Claims (4)

  1. 開口を有するホルダー板に開口を覆って炭素箔を皺なく張り付け、次いで該炭素箔に強い可視光を短時間照射し、これにより開口部の炭素箔全面に細かい皺を形成する、ことを特徴とするイオンビーム用荷電ストリッパー膜の強化方法。
  2. 前記可視光の光束は、200万〜300万ルーメンであり、その照射時間は、100〜300μsである、ことを特徴とする請求項1に記載のイオンビーム用荷電ストリッパー膜の強化方法。
  3. 前記可視光は、キセノンフラッシュランプによる照射光である、ことを特徴とする請求項1又は2に記載のイオンビーム用荷電ストリッパー膜の強化方法。
  4. 前記炭素箔は、膜厚10μg/cmの純炭素箔である、ことを特徴とする、請求項1乃至3のいずれかに記載のイオンビーム用荷電ストリッパー膜の強化方法。
JP18943697A 1997-07-15 1997-07-15 イオンビーム用荷電ストリッパー膜の強化方法 Expired - Fee Related JP3820535B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18943697A JP3820535B2 (ja) 1997-07-15 1997-07-15 イオンビーム用荷電ストリッパー膜の強化方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18943697A JP3820535B2 (ja) 1997-07-15 1997-07-15 イオンビーム用荷電ストリッパー膜の強化方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH1138195A JPH1138195A (ja) 1999-02-12
JP3820535B2 true JP3820535B2 (ja) 2006-09-13

Family

ID=16241226

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP18943697A Expired - Fee Related JP3820535B2 (ja) 1997-07-15 1997-07-15 イオンビーム用荷電ストリッパー膜の強化方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3820535B2 (ja)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3893451B2 (ja) * 2001-11-30 2007-03-14 大学共同利用機関法人 高エネルギー加速器研究機構 荷電変換膜、荷電変換膜の製造方法、及び荷電変換膜の製造装置
JP4941924B2 (ja) * 2006-07-18 2012-05-30 裕雄 長谷部 イオンビーム生成方法
JP6683687B2 (ja) * 2015-04-15 2020-04-22 株式会社カネカ イオンビームの荷電変換方法
JP6968364B2 (ja) * 2015-04-15 2021-11-17 株式会社カネカ イオンビーム荷電変換装置の荷電変換膜及びその製造方法
EP3605555A4 (en) * 2017-03-22 2020-12-16 Japan Atomic Energy Agency FUNCTIONAL MEMBRANE FOR ION BEAM TRANSFER, BEAM GUIDING DEVICE WITH USE OF THE FUNCTIONAL MEMBRANE FOR ION BEAM TRANSFER, FILTER DEVICE WITH USE OF THE FUNCTIONAL MEMBRANE FOR ION BEAM TRANSFER AND ADAPTATION PROCEDURES

Also Published As

Publication number Publication date
JPH1138195A (ja) 1999-02-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Roth et al. Energetic ions generated by laser pulses: A detailed study on target properties
JP3820535B2 (ja) イオンビーム用荷電ストリッパー膜の強化方法
US3607680A (en) Methof for producing a device for transmitting an electron beam
WO2004053919A3 (en) X-ray source for generating monochromatic x-rays
JP2002514530A (ja) 指向性エネルギーアシスト真空微細エンボス加工
JPS58108639A (ja) レ−ザ励起式高電流密度形光電子発生器とその製造方法
JPH1164598A (ja) レーザプラズマx線源
JP2009014671A (ja) レーザプラズマイオン源用ターゲットおよびレーザプラズマイオン発生装置
US11011340B2 (en) Ion generation composite target and laser-driven ion acceleration apparatus using the same
CN113075863B (zh) 丝印网版的制版方法
JPH03505650A (ja) チャネルプレートを備えたイメージ増強管の操作方法およびチャネルプレートを備えたイメージ増強管装置
JP3358094B2 (ja) レーザープラズマx線源
KR101104484B1 (ko) 펨토초 전자빔 발생장치
JPS6066816A (ja) 電子ビ−ム露光装置
US2140003A (en) Means and method of photographically recording sound
JPS60214528A (ja) X線発生装置
JP2759033B2 (ja) 平行x線源
JP2001256909A (ja) X線発生装置
JP3332454B2 (ja) 平面蛍光ランプ
KR20000011344A (ko) 전사투영장치와상기장치를이용한디바이스제조방법및상기방법에의하여제조된디바이스
Roth et al. A5-THE DEPENDENCE OF INTENSE LASER-ACCELERATED ION BEAMS ON TARGET PROPERTIES
TWM302049U (en) Array-type X-ray light source exposure apparatus
JP3168026B2 (ja) ペニングイオン化電子放射顕微鏡
CN112211035A (zh) 一种高套准精度包装纸的制作方法
JPH10170699A (ja) X線発生装置

Legal Events

Date Code Title Description
A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20031201

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20040322

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040713

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20040713

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20060403

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060413

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060515

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20060605

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20060608

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees