JPS6066816A - 電子ビ−ム露光装置 - Google Patents
電子ビ−ム露光装置Info
- Publication number
- JPS6066816A JPS6066816A JP58175976A JP17597683A JPS6066816A JP S6066816 A JPS6066816 A JP S6066816A JP 58175976 A JP58175976 A JP 58175976A JP 17597683 A JP17597683 A JP 17597683A JP S6066816 A JPS6066816 A JP S6066816A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic field
- field lens
- pattern
- reticle mask
- mask
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/20—Exposure; Apparatus therefor
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Electron Beam Exposure (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(A) 発明の技1ド」分シII
木)ら1す」は重子ビーム蕗光装姪、1行にパターン全
励起光により照射し、発生した光電子音ウエノ)などに
結像する転写型の電子ビーム11・、%j’e ’h’
i i?−のhす束結像系に関するものである。
励起光により照射し、発生した光電子音ウエノ)などに
結像する転写型の電子ビーム11・、%j’e ’h’
i i?−のhす束結像系に関するものである。
■) 技術の背景と問題点
従来、転写型の′電子ビーム蕗う°C装置1′す、では
、例えば2棟の仕事関数の異なる物質により形成したレ
チクルマスクなど全励起ノtにより照射し、その発生し
た光電子を加速し、加速した光+lL子を磁界レンズに
よりウェハなどに結像させて、レチクルマスクのパター
ンの転写を行なっていた。この除励起光により照射され
たレチクルマスクのパターンの仕事関数の小さい!ll
性質ら放出された光電子耐加速する811分と、七〇)
加速された重子?!″精12ζ1−る部分と音別々にも
うけていた。その1こめ/Jll 、vl、された電子
音結像する磁界レンズの収差、行に球un収光りため、
レチクルマスクから放1月されノこうiL q□出」二
の光電子がウニへ面に集束されても、磁界レンズの光軸
中心から半径方向に離れるに1/6い、レチクルマスク
から放出された光電子に幻′1″るカッ(夕1率が大き
(なりウニへ面より手前に結1子され、ウエハ1川では
レチクルマスクのパターンがボケてしまうという問題が
あった。
、例えば2棟の仕事関数の異なる物質により形成したレ
チクルマスクなど全励起ノtにより照射し、その発生し
た光電子を加速し、加速した光+lL子を磁界レンズに
よりウェハなどに結像させて、レチクルマスクのパター
ンの転写を行なっていた。この除励起光により照射され
たレチクルマスクのパターンの仕事関数の小さい!ll
性質ら放出された光電子耐加速する811分と、七〇)
加速された重子?!″精12ζ1−る部分と音別々にも
うけていた。その1こめ/Jll 、vl、された電子
音結像する磁界レンズの収差、行に球un収光りため、
レチクルマスクから放1月されノこうiL q□出」二
の光電子がウニへ面に集束されても、磁界レンズの光軸
中心から半径方向に離れるに1/6い、レチクルマスク
から放出された光電子に幻′1″るカッ(夕1率が大き
(なりウニへ面より手前に結1子され、ウエハ1川では
レチクルマスクのパターンがボケてしまうという問題が
あった。
(C) 発明の目的と格成
本発明は、レチクルマスクなど奮励起ブCによりノ:1
、X県JjL、うろ生した元′td子を加速集束し、ウ
ェハ而に7話なさぜΦ電子ビーム路光装置において、光
電子の加速に除し磁界レンズの作用を重畳させるととも
に、光電子の磁界レンズによる結像に除しr′T!川加
ノ用i作用ヲUk畳させることにより、レチクルマスク
のパターンをウニへ面に1好明に転写すること金IEI
l’l’Jとしている。そのため、本兄明の′電子ビ
ーム、17元装置は、ハターン會もうけたレチクルマス
クと1.□某しチクルマスクに励起光を照射する照射部
と、nA I!i4割都により照射されたレチクルマス
クから光生した′電子奮加連(1す束する加速集束都と
、1、\U11 i:Ii束東)41へにより力IJ連
果束された1L子を結1致すω41’j I:X糸とを
イfす金電子ビームE’i4光装置において、1」11
記加連果束都に1’l’電加迷レンズおよび磁界レンズ
tもうけるとともに前記結像系に磁界レンズおよび):
J”i西加運レンズと全イイすることr行値とじている
。
、X県JjL、うろ生した元′td子を加速集束し、ウ
ェハ而に7話なさぜΦ電子ビーム路光装置において、光
電子の加速に除し磁界レンズの作用を重畳させるととも
に、光電子の磁界レンズによる結像に除しr′T!川加
ノ用i作用ヲUk畳させることにより、レチクルマスク
のパターンをウニへ面に1好明に転写すること金IEI
l’l’Jとしている。そのため、本兄明の′電子ビ
ーム、17元装置は、ハターン會もうけたレチクルマス
クと1.□某しチクルマスクに励起光を照射する照射部
と、nA I!i4割都により照射されたレチクルマス
クから光生した′電子奮加連(1す束する加速集束都と
、1、\U11 i:Ii束東)41へにより力IJ連
果束された1L子を結1致すω41’j I:X糸とを
イfす金電子ビームE’i4光装置において、1」11
記加連果束都に1’l’電加迷レンズおよび磁界レンズ
tもうけるとともに前記結像系に磁界レンズおよび):
J”i西加運レンズと全イイすることr行値とじている
。
■)発明の実施例
第1図はレチクルマスクの1(1′口戎f/ll 葡i
J\し、r4)2図は従来の電子ビーム露光装置Ij′
f3:示し、第3図は他のレチクルマスクの446賊例
荀示し、2134図は木兄ψJのl笑施構戟例ケ7バし
、第51ヌ」は他の失施例をボす。席j中、■はレチク
ルマスク、]−]は基板、2は被j漠、3はパターン、
4は加速J1す上電極、5は絞り、6,12はイ鍬昇レ
ンズ、7に1、ウェハ、8はステージ、9は電源、10
は゛)′(=伽、]■はシャッタ、13は偏向コイルケ
表わす。
J\し、r4)2図は従来の電子ビーム露光装置Ij′
f3:示し、第3図は他のレチクルマスクの446賊例
荀示し、2134図は木兄ψJのl笑施構戟例ケ7バし
、第51ヌ」は他の失施例をボす。席j中、■はレチク
ルマスク、]−]は基板、2は被j漠、3はパターン、
4は加速J1す上電極、5は絞り、6,12はイ鍬昇レ
ンズ、7に1、ウェハ、8はステージ、9は電源、10
は゛)′(=伽、]■はシャッタ、13は偏向コイルケ
表わす。
第1図はレチクルマスク7示し、ガシスなどの透明基板
1−1の面上に既知の方法により、J Cなどの素子製
造のためのパターン3を形成J′る。
1−1の面上に既知の方法により、J Cなどの素子製
造のためのパターン3を形成J′る。
そして、光電子放出板h−′+ 2 を全曲に形Jj1
5づ−る。
5づ−る。
第2図は従来の電子ビーム籍う゛0東11゛1−葡7J
Zし、第1図図示のレチクルマスク1ケ本久1)1に取
り(’]ける。そして、負の1−6′亀圧例えば−25
K Vr印加するとともに背向から励起元金jでα躬す
る。)’に ’i1.+、 ”f放出被膜2から放出さ
れた光′Iも、子(第2図点にj、)矢印9は′重圧の
印加された有孔円板状の加速集束電4ζ4により力り迷
され、刀目速された′「氏子のうち光軸中心の゛電子の
みが絞り5を進退し、通過した電子はイ1存昇レンズ6
によりウェハ7にm f&されて、レチクルマスク1の
パターン3の転写が行なわれる。
Zし、第1図図示のレチクルマスク1ケ本久1)1に取
り(’]ける。そして、負の1−6′亀圧例えば−25
K Vr印加するとともに背向から励起元金jでα躬す
る。)’に ’i1.+、 ”f放出被膜2から放出さ
れた光′Iも、子(第2図点にj、)矢印9は′重圧の
印加された有孔円板状の加速集束電4ζ4により力り迷
され、刀目速された′「氏子のうち光軸中心の゛電子の
みが絞り5を進退し、通過した電子はイ1存昇レンズ6
によりウェハ7にm f&されて、レチクルマスク1の
パターン3の転写が行なわれる。
Ijム写の1余のム・hうC量はレチクルマスクl全照
射する1時間ケシャツタなどによりMり整することによ
り行なう。ウェハ7の全面に蕗元するには、ステージ8
盆順次移動させ、上記′電子線によるレチクルマスク1
のパターン3の転写葡繰り返す。レチクルマスクlの九
′11L子放出囲および電子線の通路は真/?−二に保
j、テされ金4、 第3図は他のレチクルマスフケ示す。このレチクルマス
ク1は第1図図示のレチクルマスク1とは冗1.1:す
、扱)r、41 i示板1−1の而の全体に形成し、七
の1グパターン3栄形J現したものである。
射する1時間ケシャツタなどによりMり整することによ
り行なう。ウェハ7の全面に蕗元するには、ステージ8
盆順次移動させ、上記′電子線によるレチクルマスク1
のパターン3の転写葡繰り返す。レチクルマスクlの九
′11L子放出囲および電子線の通路は真/?−二に保
j、テされ金4、 第3図は他のレチクルマスフケ示す。このレチクルマス
ク1は第1図図示のレチクルマスク1とは冗1.1:す
、扱)r、41 i示板1−1の而の全体に形成し、七
の1グパターン3栄形J現したものである。
第4 +31は本光り」の1笑力再横戟例を示す。本発
明の10、−■−ビームム・′11元装置に第3図図示
のレチクルマスクを取り付り゛、貝の11.′l′亀川
、用えば−25KVケ11〕加するとともに、;yi’
z 4図図示の如(、有孔円板状の加速集束電極4に夫
々市圧全+:JJ加J−る。この加速集束電極4に゛醒
圧金印加ずΦことにより第4図図示の如(、下方向に凸
の加速市、界が生J″る。
明の10、−■−ビームム・′11元装置に第3図図示
のレチクルマスクを取り付り゛、貝の11.′l′亀川
、用えば−25KVケ11〕加するとともに、;yi’
z 4図図示の如(、有孔円板状の加速集束電極4に夫
々市圧全+:JJ加J−る。この加速集束電極4に゛醒
圧金印加ずΦことにより第4図図示の如(、下方向に凸
の加速市、界が生J″る。
今キセノン・マーキュリランプ107J)らのIIi、
lJ起光葡シャッタ11(5介し、百孔円fl’i14
状反躬私5で反射させてレチクルマスク1に++@躬1
−る。I!ti 4(Jされムニレテクルマスクlのパ
ターン3は光1jj子全放出する。放出されたブC電子
は仮数の加速411束屯搏4により加速集束されるとと
もに重畳された磁界レンズ12による集束作用?受ける
。この+61、;:1! 41N<1図示のように加速
集束゛屯・政4により下方に凸の市、昇カ生じ、レチク
ルマスク1のパターン3かも放出された光電子に河し、
光軸上の電界に比し光軸から1・11れた位置の電界強
度が強い1こめ)C軸から離れた位置の光電子n)速夏
が:)’I’、軸上の光ij3.子に比し速い−このた
め磁界レンズによるyl;+111か’) i’ill
れた位1位の電子に対jるレンズ作用、いわゆ4曲折率
が元軸上の曲折率よりも尚いこと1(どによ4)ウェハ
7而でのパターン3のホケfi:軽減することができる
。同様に7JI]運集束m極をメ1tねる絞り52)I
H,・Iiした′1...子奮ウェハ7に、詰機させる
場合にも、磁界レンズ6による昂1シζ作用に重畳させ
て加速集東軍・;ノ4ヶも5げることによりウェハ7へ
のパターン3のボケ”:f: ’jU:減させることが
できる。なお上記磁y゛1′−レノズ6−や12による
作用は、う゛C電子走行行程中の−1113にのみ1効
くようにされている。、また図中1;3は偏向コイルで
あり、レチクルマスク1のパターン:3がウェハnuに
転写される位酋金合わせるfこめのものである1、 −j投には、X方向とY方間とにパターン3の転写位1
1’、、、(7J任2[kに71寥動させることができ
る。又、大ざl、f、ウェハ7、例えは5インチの全開
に露光するにはステージτIK↓次移ji、iJrざぜ
前述の電子露光装置K ヨ;、) y;□元−f、3(
Aエリ返−」−。ルル元量の調狭はシャッタ11の1)
yJ放してい7ろ時11ミ]によって行なう。
lJ起光葡シャッタ11(5介し、百孔円fl’i14
状反躬私5で反射させてレチクルマスク1に++@躬1
−る。I!ti 4(Jされムニレテクルマスクlのパ
ターン3は光1jj子全放出する。放出されたブC電子
は仮数の加速411束屯搏4により加速集束されるとと
もに重畳された磁界レンズ12による集束作用?受ける
。この+61、;:1! 41N<1図示のように加速
集束゛屯・政4により下方に凸の市、昇カ生じ、レチク
ルマスク1のパターン3かも放出された光電子に河し、
光軸上の電界に比し光軸から1・11れた位置の電界強
度が強い1こめ)C軸から離れた位置の光電子n)速夏
が:)’I’、軸上の光ij3.子に比し速い−このた
め磁界レンズによるyl;+111か’) i’ill
れた位1位の電子に対jるレンズ作用、いわゆ4曲折率
が元軸上の曲折率よりも尚いこと1(どによ4)ウェハ
7而でのパターン3のホケfi:軽減することができる
。同様に7JI]運集束m極をメ1tねる絞り52)I
H,・Iiした′1...子奮ウェハ7に、詰機させる
場合にも、磁界レンズ6による昂1シζ作用に重畳させ
て加速集東軍・;ノ4ヶも5げることによりウェハ7へ
のパターン3のボケ”:f: ’jU:減させることが
できる。なお上記磁y゛1′−レノズ6−や12による
作用は、う゛C電子走行行程中の−1113にのみ1効
くようにされている。、また図中1;3は偏向コイルで
あり、レチクルマスク1のパターン:3がウェハnuに
転写される位酋金合わせるfこめのものである1、 −j投には、X方向とY方間とにパターン3の転写位1
1’、、、(7J任2[kに71寥動させることができ
る。又、大ざl、f、ウェハ7、例えは5インチの全開
に露光するにはステージτIK↓次移ji、iJrざぜ
前述の電子露光装置K ヨ;、) y;□元−f、3(
Aエリ返−」−。ルル元量の調狭はシャッタ11の1)
yJ放してい7ろ時11ミ]によって行なう。
化5区は他の1.、Iふ/JLIJ 1ンりを7JCし
、レチクルマスク1奮曲f11」にしたL易モF ’C
ンJマす。
、レチクルマスク1奮曲f11」にしたL易モF ’C
ンJマす。
!:4’J 51¥jfclo’、・て、曲tin K
曲げタレ−J−り/l/ 7 スフ1〒木兄1ル」の罠
lrシに11ゾり旬げ、レチクルマスク1の1岑而から
励rINブ0葡照射する。レチクルマスクlの表向に形
成した光電子放uj用の被片−!2から成用された光電
子は加速果束屯似4および磁界レンズ6により、既述し
たようにウェハ7に請1求さね、レチクルマスク1のパ
ターン3の転写が1」なわれる。この1祭、光電子放出
面である1/チクルマスク1が曲面にされているため、
ブt innがIう半イ1−刀回に1征れた位置から放
出された光重、子がウェハ聞より手前で結1隊される現
衣ケ木兄明に係る装置−4とイ]]俟って軒減し、レチ
クルマスク1のパターン紮1!li明にウェハに転与さ
ぜることかできる。
曲げタレ−J−り/l/ 7 スフ1〒木兄1ル」の罠
lrシに11ゾり旬げ、レチクルマスク1の1岑而から
励rINブ0葡照射する。レチクルマスクlの表向に形
成した光電子放uj用の被片−!2から成用された光電
子は加速果束屯似4および磁界レンズ6により、既述し
たようにウェハ7に請1求さね、レチクルマスク1のパ
ターン3の転写が1」なわれる。この1祭、光電子放出
面である1/チクルマスク1が曲面にされているため、
ブt innがIう半イ1−刀回に1征れた位置から放
出された光重、子がウェハ聞より手前で結1隊される現
衣ケ木兄明に係る装置−4とイ]]俟って軒減し、レチ
クルマスク1のパターン紮1!li明にウェハに転与さ
ぜることかできる。
(EJ 発明の効果
以上説明した如(、不発ψ」によれば、レチクルマスク
のパターンに/助起光により照射し、〕1−ノドした九
′電子紮加速し、ウエノ’ 1IIlに結白ず・心市子
ビーム蕗元装置において、レチクルマスクn・らシ(L
生した光電子音加速するに踪し磁界レンズの作用を重畳
させるとともに、光電子の磁界レンズによゐ結像に際し
静電加速作用ケ車な1−させているため、レチクルマス
クのパターン葡7ttI 1411Jにウェハ[nlに
転J−i′させることができる効果がある。
のパターンに/助起光により照射し、〕1−ノドした九
′電子紮加速し、ウエノ’ 1IIlに結白ず・心市子
ビーム蕗元装置において、レチクルマスクn・らシ(L
生した光電子音加速するに踪し磁界レンズの作用を重畳
させるとともに、光電子の磁界レンズによゐ結像に際し
静電加速作用ケ車な1−させているため、レチクルマス
クのパターン葡7ttI 1411Jにウェハ[nlに
転J−i′させることができる効果がある。
第1図はレチクルマスクの14f&成例’3) yJ<
シ、第2図は、K米の、6子ビーム蕗光装(αを示し
、第3図は他のレチクルマスクの41# f、例全示し
、第4図は本発つ」の]央hI口構成例金示し、第5図
は本発明のHa)■実施1.!!厄例賢示す。 12J 中、1はレチクルマスク、2はSIN、3はパ
ターン、4は加連集束′IL極、5は絞り、6,12は
イ1晟昇レンズ、7はウエノ)、8はステージ、10は
tt ti、IIはシャッタを表わす。 lIM−許出願人 富士通株式会社 代理人弁理士 森 1) 克 (外1名)
シ、第2図は、K米の、6子ビーム蕗光装(αを示し
、第3図は他のレチクルマスクの41# f、例全示し
、第4図は本発つ」の]央hI口構成例金示し、第5図
は本発明のHa)■実施1.!!厄例賢示す。 12J 中、1はレチクルマスク、2はSIN、3はパ
ターン、4は加連集束′IL極、5は絞り、6,12は
イ1晟昇レンズ、7はウエノ)、8はステージ、10は
tt ti、IIはシャッタを表わす。 lIM−許出願人 富士通株式会社 代理人弁理士 森 1) 克 (外1名)
Claims (1)
- パターン?も5す′たレチクルマスクと、該レチクルマ
スクに励起光全照射する照射部と、該照射fSISによ
り34<46Bされたレチクルマスクから発生した’1
..L+全加連果束する店j速集東部と、該〃口速集東
部により)Al迷集束された電子に結像する結像系とを
イ“T−J−るIル子ビームi;i)光装置Eiにおい
て、前記刀目速集束11bに1」」弓トL加運ンンズお
よび磁界レンズをもうけるとともに1イげ記結像系に磁
界レンズおよび’fff’亀加迂レンズとを有すること
をq:f似とする′電子ビーム+、’+; :yL良直
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58175976A JPS6066816A (ja) | 1983-09-22 | 1983-09-22 | 電子ビ−ム露光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58175976A JPS6066816A (ja) | 1983-09-22 | 1983-09-22 | 電子ビ−ム露光装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6066816A true JPS6066816A (ja) | 1985-04-17 |
Family
ID=16005529
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58175976A Pending JPS6066816A (ja) | 1983-09-22 | 1983-09-22 | 電子ビ−ム露光装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6066816A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS622537A (ja) * | 1985-06-28 | 1987-01-08 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 電子ビ−ム露光装置 |
US4789786A (en) * | 1984-11-20 | 1988-12-06 | Fujitsu Limited | Method of projecting photoelectron image |
EP1753010A1 (en) * | 2005-08-09 | 2007-02-14 | Carl Zeiss SMS GmbH | Particle-optical system |
WO2019064508A1 (ja) * | 2017-09-29 | 2019-04-04 | 株式会社ニコン | 電子ビーム装置及び露光方法、並びにデバイス製造方法 |
JP2020145401A (ja) * | 2019-02-28 | 2020-09-10 | 株式会社東芝 | マルチ電子ビーム装置 |
-
1983
- 1983-09-22 JP JP58175976A patent/JPS6066816A/ja active Pending
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4789786A (en) * | 1984-11-20 | 1988-12-06 | Fujitsu Limited | Method of projecting photoelectron image |
JPS622537A (ja) * | 1985-06-28 | 1987-01-08 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 電子ビ−ム露光装置 |
EP1753010A1 (en) * | 2005-08-09 | 2007-02-14 | Carl Zeiss SMS GmbH | Particle-optical system |
WO2007017255A1 (en) * | 2005-08-09 | 2007-02-15 | Carl Zeiss Sms Gmbh | Particle-optical system |
US8368015B2 (en) | 2005-08-09 | 2013-02-05 | Carl Zeiss Sms Gmbh | Particle-optical system |
WO2019064508A1 (ja) * | 2017-09-29 | 2019-04-04 | 株式会社ニコン | 電子ビーム装置及び露光方法、並びにデバイス製造方法 |
JP2020145401A (ja) * | 2019-02-28 | 2020-09-10 | 株式会社東芝 | マルチ電子ビーム装置 |
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