JP3816750B2 - 熱電変換器を製作するための方法 - Google Patents

熱電変換器を製作するための方法 Download PDF

Info

Publication number
JP3816750B2
JP3816750B2 JP2000572953A JP2000572953A JP3816750B2 JP 3816750 B2 JP3816750 B2 JP 3816750B2 JP 2000572953 A JP2000572953 A JP 2000572953A JP 2000572953 A JP2000572953 A JP 2000572953A JP 3816750 B2 JP3816750 B2 JP 3816750B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
conductive
thermoelectric
conductive layer
conductivity type
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2000572953A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2002526933A (ja
Inventor
シュレレト,カール−ハインツ
シューベルト,アクセル
アックリン,ブルーノ
ベットナー,ハラルト
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Infineon Technologies AG
Original Assignee
Infineon Technologies AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Infineon Technologies AG filed Critical Infineon Technologies AG
Publication of JP2002526933A publication Critical patent/JP2002526933A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3816750B2 publication Critical patent/JP3816750B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N10/00Thermoelectric devices comprising a junction of dissimilar materials, i.e. devices exhibiting Seebeck or Peltier effects
    • H10N10/01Manufacture or treatment
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N10/00Thermoelectric devices comprising a junction of dissimilar materials, i.e. devices exhibiting Seebeck or Peltier effects
    • H10N10/10Thermoelectric devices comprising a junction of dissimilar materials, i.e. devices exhibiting Seebeck or Peltier effects operating with only the Peltier or Seebeck effects
    • H10N10/17Thermoelectric devices comprising a junction of dissimilar materials, i.e. devices exhibiting Seebeck or Peltier effects operating with only the Peltier or Seebeck effects characterised by the structure or configuration of the cell or thermocouple forming the device

Description

【0001】
本発明は熱電変換器を製作するための方法に関する。
【0002】
DE3935610A1には、金属ブリッジを補助として共に接続されるn−およびp−ドープ半導体セグメントの系統連係を有するペルチエ冷却器が記載されている。この場合に、金属ブリッジはAl23基板上に適用され、これら基板の一つに関して言えば半導体セグメントはそこに存在する金属ブリッジ上に蒸着される。このタイプのペルチエ冷却器はセンチメーター範囲の物理的なサイズを有し、電力密度が非常に小さくなってしまうので、容易に小型化することはできない。さらに、Al23基板は、こうしたペルチエ冷却器の効率を損なう非常に低い熱伝導性を有する。
【0003】
本発明の目的は、熱電素子セルのより高いインテグレーションレベルを可能とし、それによって、より高い電力密度を備える熱電流成分の製作すを可能とすると共に、費用有効性プロセスが用いられる、序文において述べたタイプの熱電変換器を製作するための方法を開発することにある。
【0004】
この目的は、請求項1の特徴を有する方法によって達成される。副請求項2〜10は方法の有利な展開に関する。
【0005】
本発明による方法は、複数の第1導電路によって互いに直列に接続され、それぞれが第1伝導形の熱電材料からなる第1体および第2伝導形の熱電材料からなる第2体を有し、それらは第2導電路によって互いに接続され、且つ電気絶縁性かまたは電気絶縁層を有する第1および第2基板ウエーハ間のサンドウイッチ状で配置された、複数の直列接続熱電素子セルを有する熱電変換器を製作するために用いられる。
【0006】
本方法において、第1導電路は、第1基板ウエーハの主領域上に形成される。第2導電路は、第2基板ウエーハの主領域上に作成される。二つの基板ウエーハの内、少なくとも一つに関して言えば、熱電材料からなる少なくとも一つの層は、導電路がその上で作成される同じ側に適用される。前記層は、熱電素子の第1および第2体が作成されるようにフォトマスク技術およびエッチングによってパターン化される。
【0007】
二つの基板ウエーハの加工後、後者は例えば、熱圧縮、はんだ付け、接着剤結合または陽極結合によって、一緒に接合されて、第1および第2体が、中で二つの基板ウエーハの間に配置され、第1および第2導電路によって接続されて、直列に接続された熱電素子セルを形成するサンドウイッチ複合材を形成する。
【0008】
それぞれの場合において、第1および第2体は、第1導電路によって第1側面上に接続されて、第1側面の反対側の第2側面上にある第2導電路によって第1体および第2体の互いを直列に接続された熱電素子セルを形成する。
【0009】
第1導電路および第2導電路ならびに第1体および第2体を作成するための好ましい実施形態において、最初に、第1導電層が、第1基板ウエーハの主領域に適用される。続いて、熱電材料からなる層は前記導電層上に堆積し、その後、複数の第1伝導形のドープ領域、および複数の第2伝導形のドープ領域が、熱電材料からなる前記層において形成される。
【0010】
熱電材料からなる前記層は、続いてフォトマスク技術およびエッチングによってパターン化されて、第1体および第2体を形成する。すなわち、パターン化の後、互いに分離された第1体および第2体が第1導電層上に残っている。
【0011】
このプロセス段階後、第1導電層は、例えば、フォトマスク技術およびエッチングによって再度パターン化されて、それぞれが第1体および第2体を互いに体の一方の側の上に接続する第1導電路を形成し、それにより複数の互いに分離した熱電素子セルを作成する。
【0012】
しかし、第1導電層は、熱電材料からなる層の適用の前にさえ、パターン化されて第1導電路を形成することも可能である。
【0013】
これら段階の前か、間かまたは後に、第2導電層は、第2基板ウエーハの主領域に適用され、続いて、例えばフォトマスク技術およびエッチングによって再度パターン化されて、熱電素子セルをサンドウイッチ複合材の中で互いに直列に接続する第2導電路を形成する。
【0014】
二つのウエーハは一緒に接合されて、すでに詳しく上述した方法においてサンドウイッチ複合材を形成する。
【0015】
第1導電路および第2導電路ならびに第1体および第2体を作成するための他の好ましい実施形態において、第1導電層は、第1基板ウエーハの主領域に適用される。それに続いて、第1伝導形の熱電材料からなる第1層が第1導電層に適用される。
【0016】
続いて、熱電材料からなるこの第1層は、複数の互いに分離された第1体が第1導電層上で作成されるように、フォトマスク技術およびエッチングによってパターン化される。
【0017】
このプロセス段階後、第1導電層は、例えば、フォトマスク技術およびエッチングによって再度パターン化されて、第1導電路を形成する。
【0018】
しかし、この場合においても、熱電材料からなる第1層の適用の前にさえ、第1導電層はパターン化されて、第1導電路を形成することが可能である。
【0019】
これらプロセス段階の前か、間かまたは後に、第2導電層は第2基板ウエーハの主領域に適用され、第2伝導形である熱電材料からなる第2層が前記第2導電層上に堆積する。
【0020】
熱電流材料からなるこの第2層は、その後、複数の互いに分離された第2体が第2導電層上で作成されるように、フォトマスク技術およびエッチングによってパターン化される。
【0021】
続いて、第2導電層は、例えば、フォトマスク技術およびエッチングによって再度パターン化されて、第2導電路を形成する。
【0022】
熱電材料からなる第2層の適用の前にさえ、第2導電層はパターン化されて、第2導電路を形成することも可能である。
【0023】
二つのウエーハは一緒に接合されて、すでに詳しく上述した方法で直列に接続された熱電素子セルを備えるサンドウイッチ複合材を形成する。
【0024】
第1および第2導電路ならびに第1および第2体を作成するためのさらに好ましい実施形態において、第1導電層は、再度第1基板ウエーハの主領域に適用される。それに続いて第1伝導形の熱電材料からなる第1層の第1導電層への適用がなされる。
【0025】
第1伝導形である熱電材料からなる第1層は、その後、前記第1導電層上に堆積する。この第1層は、続いて、複数の第1体が第1導電層上で作成されるように、フォトマスク技術およびエッチングによってパターン化される。
【0026】
第2伝導形である熱電材料からなる第2層は、その後、これら第1導電層の第1体および自由表面−第1体の間にある−に適用される。この第2層は、続いて、複数の第2体が第1導電層上で作成されるように、フォトマスク技術およびエッチングによって再度パターン化される。
【0027】
第1導電層はパターン化されて、熱電材料からなる第1層および第2層の適用の前または後に、第1導電路を形成することが可能である。
【0028】
これらプロセス段階の前か、間か、または後に、第2導電層は、第2基板ウエーハの主領域に適用され、続いてパターン化されて第2導電路を形成する。
【0029】
二つのウエーハは一緒に接合されて、すでに詳しく上述した方法で再度、この場合において直列に接続された熱電素子セルを備えるサンドウイッチ複合材を形成する。
【0030】
上述の方法の特別な利点は、半導体技術のプロセスが、第1導電路および第2導電路ならびに第1体および第2体を製作するために用いることができるということである。結果として、熱電素子セルの統合レベルおよび熱電変換器に対する製作す費用の両方を相当に減少できる。この最後は、半導体チップの大量生産のために用いられる半導体技術の、従来の、および確立されたプロセスが用いられるという事実による。
【0031】
本発明での方法により製作された熱電変換器は、まったく同じチップ上の、マイクロエレクトロニクスの素子および/またはマイクロシステム技術と一緒に、簡単な方法において、有利に統合することが可能である。
【0032】
本発明での方法により、第1および第2体は、異なる材料組成物を有する薄い層の多重度を含む多層システムから簡単な方法で製作することが可能である。結果として、熱電変換器の性能は、正確に、互いに調和的に働く層配列の使用により、有利に増大することが可能である。
【0033】
図1a〜1gに示される代表的な実施形態において、最初に、第1導電層10が第1基板ウエーハ1の主領域8上に製作される。前記層は、例えば、金属層、金属層配列または高度にドープされ、従って高度に導電性の半導体層(例えば、拡散シリコン)を含む。
【0034】
第1基板ウエーハ1は、全体的に低い電気伝導度を有し、例えば、半絶縁シリコンからなり、または主領域8側の上に電気絶縁層14(例えば、Si酸化物またはSi窒化物層)を有する。
【0035】
第1導電層10上に熱電材料(例えば、Bi2Te3、Bi2Se3、PbTe、Si、Geなど)からなる層11が堆積し、続いてその中で、複数の第1伝導形(例えば、p−導電性)のドープ領域40、および複数の第2伝導形(n−導電性)のドープ領域50が、フォトマスク技術および拡散によって形成される(図1b)。
【0036】
ドープ領域40、50を持つ層11は、その後、パターン化されて、半導体技術から知られる一つ以上の従来のフォトマスクおよびエッチングプロセスによって、第1体4および第2体5を形成する(図1c)。
【0037】
後に、第1導電層10は、同様にそれぞれが第1体4および第2体5、および前記体を接続する第1導電路3を有し、互いに分離した複数の熱電素子セルが第1基板ウエーハ1上に作成されるように、フォトマスク技術およびエッチングによってパターン化される(図1d)。
【0038】
上述の手順に対する代案として、第1導電層10は、熱電材料からなる層11の適用の前に、パターン化することも可能である。
【0039】
さらに、例えば、はんだ合金(例えば、AuSn)または金からなる金属被覆層13は、それぞれの場合に、第1導電路3の反対側にある第1および第2体4、5の側に適用される(図1d)。
【0040】
この第1ウエーハプロセスの前か、間か、または後に、第2導電層12は第2基板ウエーハ2の主領域9上に形成され(図1e)、パターン化されて(1f)、第2導電路6を形成する。
【0041】
基板ウエーハ1に類似して、第2基板ウエーハ2は、全体的に低い電気伝導度を有し、例えば、半絶縁シリコンからなり、または基板ウエーハ2は主領域9側の上に電気絶縁層15(例えば、Si酸化物またはSi窒化物層)を有する。
【0042】
第2導電路6のパターン化後、第2基板ウエーハ2は、第2導電路6と一緒に第1体および第2体4、5の金属被覆層13上に置かれると共に、第2導電路6が、互いと直列のそれぞれ第1および第2体4、5を含む、前に形成された一対を、第1体および第2体4、5の金属被覆層13上に運び、互いを直列に接続する(図1g)ように、調整される。
【0043】
続いて、第2導電路6および金属被覆層13は、例えば、はんだ付け、接着結合または熱圧着によって互いに接続される。
【0044】
二つのウエーハ1、2および間にある熱電素子セルを含むサンドウイッチ複合材は、その後分離されて、例えば、引き切りにより、複数の熱電変換器を形成する。複数の異なるまたは同一の熱電変換器は、サンドウイッチ複合材から作成することが可能である。熱電変換器の熱電素子セルの直列回路における、最初と最後の個々の熱電素子セルは、それぞれ、熱電変換器がそれを介して、例えば結合線32、33によって電気的に接続することが可能である電気パッド30、31を有する。
【0045】
しかし、熱電変換器は、また容易にSMD(表面取付け装置)成分として、導電手法において主領域8の反対側にある第1基板ウエーハ1の側への道筋を決める電気パッド30、31により、実施例示することができる。
【0046】
サンドウイッチ複合材の分離における有利なプロセスは、二つの基板ウエーハ1、2の内一つが、他よりもより小さくされる2部分引き切りプロセスである。これは、熱電変換器の電気接続を容易にする(参考、図1g)
【0047】
上述の方法(基板ウエーハの全領域(area)被覆および続いてのパターン化)に対する代案として、導電路3、6は、マスキングおよび金属被覆またはそれぞれの基板ウエーハの中へのドーパントの拡散によって、直接にパターン化される方法において製作することが可能である。
【0048】
図2a〜2gにおいて説明される代表的な実施形態は、以下の方法、
第1導電層10の形成後、第1伝導形を有する熱電材料からなる第1層20は、前記第1導電層上に堆積する(図2aおよび2b)、
第1層20は、複数の互いに分離した物体4が第1導電層10上に作成されるように、フォトマスク技術およびエッチングによってパターン化される(図2c)、
第2伝導形を有する熱電材料21からなる第2層は、第1層20のパターン化後、第1体4の間の無垢である第1導電層10の表面、および第1体4に適用される(図2d)、および
熱電材料21からなる第2層は、複数の第2体5が第1体4の間の第1導電層10上に作成されるように、フォトマスク技術およびエッチングによってパターン化される(図2e)、
が、第1体4、および第2体5を製作するために行われるという事実により、上述のそれとは本質的に異なる。
【0049】
熱電材料からなる第1層20および第2層21の適用の前か後に、第1導電層10はパターン化されて第1導電路を形成することが可能である。
【0050】
第2導電路6を備える第2基板ウエーハ2の製作す、および二つのウエーハの接合は、第1の代表的実施形態に類似に達成される(図2fおよび2g)。
【0051】
図3a〜3fで説明される代表的実施形態において、第1および第2体4、5を製作するための方法は、第2伝導形を有する熱電材料からなる第2層21が、第1基板ウエーハ1上に堆積しないという事実により、図2a〜2eのそれとは本質的に異なる。この場合に、第2基板ウエーハ2の主領域9上の、第2導電層12の形成後、熱電材料21からなる第2層はその上に堆積し、続いて、第2体5が第2導電層12上に作成されるように、フォトマスク技術およびエッチングによってパターン化される。
【0052】
堆積による方法への代案として、図1a〜1gおよび図3a〜3eの代表的実施形態において、熱電材料からなる層11または第1層20および熱電材料からなる第2層21は、ウエーハのボンディングによって第1基板ウエーハ1、または個別に第1基板ウエーハ1および個別に第2基板ウエーハ2に接続されるウエーハとして製作することが可能である。
【0053】
図4aおよび4bは、上述の方法の一つにより製作された熱電変換器の3次元説明図を示す。図4aは分解組立図であり、図4bにおいて第2基板ウエーハ2が分かりやすく示されている。
【0054】
上述の代表的実施形態において、基板ウエーハ1、2の厚さは、有利には100〜300μmである。熱電材料からなる層11、20、21の厚さは、好ましくは約50μmである。導電層10、12の厚さは約1μである。
【図面の簡単な説明】
本発明の三つの代表的な実施形態が図1a〜4cに連係して、以下に説明される。
【図1a】 第1の代表実施形態による方法配列の図式説明を示す。
【図1b】 第1の代表実施形態による方法配列の図式説明を示す。
【図1c】 第1の代表実施形態による方法配列の図式説明を示す。
【図1d】 第1の代表実施形態による方法配列の図式説明を示す。
【図1e】 第1の代表実施形態による方法配列の図式説明を示す。
【図1f】 第1の代表実施形態による方法配列の図式説明を示す。
【図1g】 第1の代表実施形態による方法配列の図式説明を示す。
【図2a】 第2の代表実施形態による方法配列の図式説明を示す。
【図2b】 第2の代表実施形態による方法配列の図式説明を示す。
【図2c】 第2の代表実施形態による方法配列の図式説明を示す。
【図2d】 第2の代表実施形態による方法配列の図式説明を示す。
【図2e】 第2の代表実施形態による方法配列の図式説明を示す。
【図2f】 第2の代表実施形態による方法配列の図式説明を示す。
【図2g】 第2の代表実施形態による方法配列の図式説明を示す。
【図2h】 第2の代表実施形態による方法配列の図式説明を示す。
【図2i】 第2の代表実施形態による方法配列の図式説明を示す。
【図3a】 第3の代表実施形態による方法配列の図式説明を示す。
【図3b】 第3の代表実施形態による方法配列の図式説明を示す。
【図3c】 第3の代表実施形態による方法配列の図式説明を示す。
【図3d】 第3の代表実施形態による方法配列の図式説明を示す。
【図3e】 第3の代表実施形態による方法配列の図式説明を示す。
【図3f】 第3の代表実施形態による方法配列の図式説明を示す。
【図3g】 第3の代表実施形態による方法配列の図式説明を示す。
【図3h】 第3の代表実施形態による方法配列の図式説明を示す。
【図4a】 代表実施形態の一つにより製作された熱電変換器の3次元説明図を示す。
【図4b】 代表実施形態の一つにより製作された熱電変換器の3次元説明図を示す。
【図4c】 代表実施形態の一つにより製作された熱電変換器の3次元説明図を示す。
【符号の説明】
図の中で、同一のまたは同一に機能する要素はそれぞれ同じ参照記号を与えている。

Claims (8)

  1. 熱電変換器を製作するための方法であって;該熱電変換器が複数の直列接続の熱電素子セルを有し、個々の熱電素子セルが、第1伝導形の熱電材料の第1体(4)、および第2伝導形の熱電材料の第2体(5)を有し、個々の熱電素子セルの第1体(4)および第2体(5)は第1導電路(3)によって互いに接続され、
    熱電素子セルが複数の第2導電路(6)によって互いに直列に接続され、且つ、第1基板ウエーハ(1)および第2基板ウエーハ(2)の間にサンドウイッチ状で配置され、
    前記方法が、下記ステップを含む:
    第1基板ウエーハ(1)主領域(8)上の第1導電層(10)の形成、
    第1導電層(10)上の、第1伝導形を有する熱電材料の第1層(20)の形成、
    第1伝導形を有する熱電材料の第1層(20)をパターン化して、個々の熱電素子セルの第1体(4)を形成すること、
    第1導電層(10)をパターン化して、個々の熱電素子セルの第1導電路(3)を形成すること、
    第2基板ウエーハ(2)主領域(9)上の第2導電層(12)の形成、
    第2導電層(12)上の、第2伝導形を有する熱電材料の第2層(21)の形成、
    第2伝導形を有する熱電材料の層(21)をパターン化して、個々の熱電素子セルの第2体(5)を形成すること、
    第2導電層(12)をパターン化して、第2導電路(6)を形成すること、および
    個々の熱電素子セルの第1体および第2体(4、5)ならびに第1導電路および第2導電路(3、6)が二つの基板ウエーハ(1、2)の間に配置されて、個々の熱電素子セルの第1体(4)および第2体(5)が第1導電路(3)の一つにより互いに接続され、個々の熱電素子セルが、第2導電路(6)により直列に接続されること。
  2. 第2伝導形を有する熱電材料の第2層(21)の形成の前に、第2導電層(12)がパターン化されて、第2導電路(6)を形成する、請求項1に記載の方法。
  3. 第1伝導形を有する熱電材料の第1層(20)の形成の前に、第1導電層(10)がパターン化されて、第1導電路(3)を形成する、請求項1に記載の方法。
  4. 第1伝導形を有する熱電材料の第1層(20)の形成の前に、第1導電層(10)がパターン化されて、第1導電路(3)を形成し、および、第2伝導形を有する熱電材料の第2層(21)の形成の前に、第2導電層(12)がパターン化されて、第2導電路(6)を形成する、請求項1に記載の方法。
  5. Siウエーハが基板ウエーハ(1、2)として用いられる請求項1に記載の方法。
  6. 第1体および第2体が、異なる材料組成を有する複数の層を含む多層システムから製作される請求項1に記載の方法。
  7. 電気的に絶縁性のウエーハが基板ウエーハ(1、2)として用いられる請求項1に記載の方法。
  8. 電気絶縁層(14、15)を有するウエーハが基板ウエーハ(1、2)として用いられる請求項1に記載の方法。
JP2000572953A 1998-09-30 1999-09-29 熱電変換器を製作するための方法 Expired - Fee Related JP3816750B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19845104A DE19845104A1 (de) 1998-09-30 1998-09-30 Verfahren zum Herstellen eines thermoelektrischen Wandlers
DE19845104.0 1998-09-30
PCT/DE1999/003136 WO2000019548A1 (de) 1998-09-30 1999-09-29 Verfahren zum herstellen eines thermoelektrischen wandlers

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002526933A JP2002526933A (ja) 2002-08-20
JP3816750B2 true JP3816750B2 (ja) 2006-08-30

Family

ID=7882975

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000572953A Expired - Fee Related JP3816750B2 (ja) 1998-09-30 1999-09-29 熱電変換器を製作するための方法

Country Status (5)

Country Link
US (1) US6818470B1 (ja)
EP (1) EP1118127B8 (ja)
JP (1) JP3816750B2 (ja)
DE (2) DE19845104A1 (ja)
WO (1) WO2000019548A1 (ja)

Families Citing this family (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3600486B2 (ja) * 1999-08-24 2004-12-15 セイコーインスツル株式会社 熱電変換素子の製造方法
DE10230080B4 (de) * 2002-06-27 2008-12-24 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Verfahren zur Herstellung einer thermoelektrischen Schichtenstruktur und Bauelemente mit einer thermoelektrischen Schichtenstruktur
DE10238843B8 (de) 2002-08-20 2008-01-03 Infineon Technologies Ag Halbleiterbauelement
DE10305411B4 (de) 2003-02-06 2011-09-15 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Mikroelektromechanische Vorrichtung und Verfahren zu deren Herstellung
DE10309677B4 (de) 2003-02-27 2008-07-03 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Mikroelektromechanisches Bauteil und Verfahren zur Herstellung eines mikroelektromechanischen Bauteils
DE10332315A1 (de) * 2003-07-16 2005-02-24 Infineon Technologies Ag Vorrichtung und Verfahren zum Transport von Fluiden
DE10339952A1 (de) * 2003-08-29 2005-04-07 Infineon Technologies Ag Detektionsvorrichtung zur kontaktlosen Temperaturmessung
US7544883B2 (en) * 2004-11-12 2009-06-09 International Business Machines Corporation Integrated thermoelectric cooling devices and methods for fabricating same
US7679203B2 (en) * 2006-03-03 2010-03-16 Nextreme Thermal Solutions, Inc. Methods of forming thermoelectric devices using islands of thermoelectric material and related structures
KR20080062045A (ko) * 2006-12-29 2008-07-03 동부일렉트로닉스 주식회사 시모스 소자 및 그 제조 방법
DE102007063616B4 (de) 2007-02-26 2014-05-22 Micropelt Gmbh Verfahren zum Herstellen von thermoelektrischen Bauelementen und thermoelektrische Bauelemente
DE102007017461B4 (de) 2007-04-10 2014-04-17 Micropelt Gmbh Vorrichtung mit einer elektrischen Einrichtung und einem Modul zur Energieversorgung der elektrischen Einrichtung
TWI360901B (en) * 2007-12-28 2012-03-21 Ind Tech Res Inst Thermoelectric device with thin film elements, app
KR100933904B1 (ko) 2008-03-31 2009-12-28 한국기계연구원 본딩 특성이 개선된 마이크로 열전 에너지 변환 모듈 제조방법
TWI473310B (zh) * 2008-05-09 2015-02-11 Ind Tech Res Inst 薄膜式熱電轉換元件及其製作方法
JP5560538B2 (ja) * 2008-05-22 2014-07-30 富士電機株式会社 半導体装置の製造方法
DE102008030191A1 (de) 2008-06-25 2010-01-07 Micropelt Gmbh Verfahren zum Herstellen einer thermoelektrischen Vorrichtung
TWI380487B (en) * 2008-12-12 2012-12-21 Ind Tech Res Inst Thermoelectric device
JP5092168B2 (ja) * 2009-04-13 2012-12-05 株式会社Kelk ペルチェ素子熱電変換モジュール、ペルチェ素子熱電変換モジュールの製造方法および光通信モジュール
US9059363B2 (en) 2009-04-14 2015-06-16 The Board Of Regents Of The University Of Oklahoma Thermoelectric materials
US20110018357A1 (en) * 2009-07-24 2011-01-27 Eric Jay Self powered mili, micro, and nano electronic chips
US8283194B2 (en) * 2009-07-27 2012-10-09 Basf Se Method for applying layers onto thermoelectric materials
US8216871B2 (en) * 2009-10-05 2012-07-10 The Board Of Regents Of The University Of Oklahoma Method for thin film thermoelectric module fabrication
DE102010003365A1 (de) 2010-03-26 2011-09-29 Micropelt Gmbh Vorrichtung zur Durchführung der PCR und PCR-Verfahren
DE102010031135B4 (de) 2010-07-08 2015-01-22 Micropatent B.V. Überwachungsanordnung zum Überwachen einer Vorrichtung und Verfahren zum Überwachen einer Vorrichtung
DE102011075661A1 (de) 2011-03-29 2012-10-04 Micropelt Gmbh Thermoelektrische Anordnung und Verfahren zum Herstelleneiner thermoelektrischen Anordnung
DE102011088052A1 (de) 2011-12-08 2013-06-13 Micropelt Gmbh Verwendung einer Mischung umfassend ein Peroxodisulfat und eine Säure, Mischung umfassend ein Peroxodisulfat und eine Säure sowie Verfahren zum Herstellen eines Dünnschichtbauelementes
CN103296190B (zh) * 2012-02-28 2016-01-13 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 三维热电能量收集器及其制作方法
CN103296191B (zh) * 2012-02-28 2015-12-02 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 微型热电能量收集器及其制作方法
CH707391A2 (de) 2012-12-28 2014-06-30 Greenteg Ag Thermoelektrischer Konverter.
CN105206737B (zh) * 2015-10-20 2017-07-14 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 一种基于体硅加工工艺的微型热电能量采集器的制备方法
DE102016209315A1 (de) 2016-05-30 2017-11-30 Robert Bosch Gmbh Thermoelektrische Anordnung, insbesondere thermoelektrische Sensoranordnung, sowie entsprechendes Herstellungsverfahren
US10672969B2 (en) 2017-06-29 2020-06-02 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Thermocouple device
DE102017125647B4 (de) 2017-11-02 2020-12-24 Infineon Technologies Ag Thermoelektrische Vorrichtungen und Verfahren zum Bilden von thermoelektrischen Vorrichtungen

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1303833A (ja) * 1970-01-30 1973-01-24
US4459428A (en) 1982-04-28 1984-07-10 Energy Conversion Devices, Inc. Thermoelectric device and method of making same
DE8915890U1 (ja) 1989-10-26 1992-01-16 Messerschmitt-Boelkow-Blohm Gmbh, 8012 Ottobrunn, De
JP2881332B2 (ja) 1990-05-14 1999-04-12 株式会社小松製作所 熱電装置の製造方法
JP3223257B2 (ja) 1991-03-27 2001-10-29 株式会社フェローテック 熱電変換モジュールの製造方法
US5824561A (en) * 1994-05-23 1998-10-20 Seiko Instruments Inc. Thermoelectric device and a method of manufacturing thereof
JP3350299B2 (ja) 1995-08-10 2002-11-25 シャープ株式会社 熱電変換装置の製造方法
RU2171521C2 (ru) * 1997-08-01 2001-07-27 Ситизен Вотч Ко., Лтд. Термоэлектрическое устройство и способ его изготовления

Also Published As

Publication number Publication date
JP2002526933A (ja) 2002-08-20
US6818470B1 (en) 2004-11-16
EP1118127B8 (de) 2006-01-11
EP1118127A1 (de) 2001-07-25
EP1118127B1 (de) 2005-11-09
DE19845104A1 (de) 2000-04-06
DE59912777D1 (de) 2005-12-15
WO2000019548A1 (de) 2000-04-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3816750B2 (ja) 熱電変換器を製作するための方法
US6410840B1 (en) Thermoelectric conversion device and method of manufacturing the same
US5401672A (en) Process of bonding semiconductor wafers having conductive semiconductor material extending through each wafer at the bond areas
CN100530581C (zh) 一种利用互连结构制造半导体模块的方法
EP0687020B1 (en) Thermoelectric device and a method of manufacturing thereof
KR900008973B1 (ko) 다층 반도체장치
JPH10270762A (ja) 熱電変換素子
CA1201537A (en) Semiconductor structures and manufacturing methods
JP3927784B2 (ja) 熱電変換部材の製造方法
CN100372105C (zh) 半导体器件
TW583722B (en) Circuit board and method for manufacturing same
JPH08213548A (ja) 3次元集積回路の製造方法
JP2002319658A (ja) 半導体装置
US4687879A (en) Tiered thermoelectric unit and method of fabricating same
JP4383056B2 (ja) 熱電素子モジュールの製造方法
TW544773B (en) Circuit board, method for manufacturing same, and high-output module
JP3592395B2 (ja) 熱電変換素子とその製造方法
JPH10247752A (ja) 熱電変換素子およびその製造方法
JP2010225608A (ja) 熱電変換素子
JP2903331B2 (ja) 熱電装置の製造方法
JPH0846248A (ja) 熱電素子及びその製造方法
JP2001015820A (ja) 熱電素子
JPH10303470A (ja) 熱電冷却装置
JP4346332B2 (ja) 熱電素子およびその製造方法
JP2000244026A (ja) 熱電変換素子とその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050823

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20051124

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060110

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060410

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20060509

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20060608

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090616

Year of fee payment: 3

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100616

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100616

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110616

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110616

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120616

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120616

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130616

Year of fee payment: 7

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees