JP2903331B2 - 熱電装置の製造方法 - Google Patents
熱電装置の製造方法Info
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Description
換基板上に形成される電極の構造に関するものである。
PN素子対を形成し、この接合部を流れる電流の方向によ
って一方の端部が発熱せしめられると共に他方の端部が
冷却せしめられるいわゆるペルチェ効果を利用した熱電
素子は、小型で構造が簡単なことから、携帯用クーラ等
いろいろなデバイスに幅広い利用が期待されている。
ジュールは、例えば、第6図に示す如く、セラミックス
基板等の熱伝導性の良好な絶縁性基板からなる第1およ
び第2の熱交換基板11,12間にこれに対して良好な熱接
触性をもつように多数個のPN素子対13が挟持せしめられ
ると共に、各素子対13間を夫々第1および第2の電極1
4,15によって直列接続せしめられて構成されている。
も耐え得るように通常銅板からなり、熱交換基板11,12
表面に形成された導電体層パターン上に半田等の溶着層
を介して固着されている。
てP型熱電素子13a又はN型熱電素子13bが交互に夫々1
対ずつ固着せしめられ、PN素子対13を構成すると共に各
素子対間は直列接続されている。
板を良好な熱伝導性を有する絶縁性の材料で構成する必
要があり、また熱歪による劣化を防止するため、熱膨張
率が小さいものでなければならない。
ら用いられているアルミナセラミックス基板やベリリア
セラミックス基板に加えて、窒化アルミニウムセラミッ
クスや炭化ケイ素系セラミックス基板も提案されてい
る。このうち炭化ケイ素系セラミックスは熱伝導率が2.
7W・cm-1K-1とアルミナの約9倍以上であり、熱膨張率
も3.7×10-7K-1とアルミナセラミックスのそれに比べて
約半分と小さく、熱交換基板として用いる場合の熱歪が
小さいため、これを熱交換基板材料として用いた熱電装
置によれば温度変化に対しても損傷を受けることがな
く、熱交換効率が高く、信頼性の高い熱電装置を得るこ
とが可能となる。
熱交換基板への位置決めおよび固着に際し、組み立て作
業性の向上をはかるため、電極を、熱交換基板表面に形
成した厚膜導体層パターンで構成したものが提案されて
いる。
パターンに電極板を位置決めする工程と固着工程とが不
要となり、工程の大幅な簡略化をはかることができると
共に、導体パターンと電極との位置ずれが生じることも
なく、信頼性を高めることができる。
上に電極を介して少なくとも1つの熱電素子対を配設し
た熱電装置において、熱電装置の各素子間の接続および
熱交換基板への熱的接触に用いられる電極を、薄膜パタ
ーンで形成する方法も提案されている。
と、ニッケル、金、プラチナのいずれかもしくはそれら
の組み合わせからなる金属膜とからなる下地層表面にレ
ジストパターンを形成した状態で、該下地層を電極とし
て銅めっきを行い銅めっき層パターンを形成し、この
後、この銅めっき層パターンから露呈する下地層をエッ
チング除去することにより、下地層と銅めっき層との多
層構造パターンを形成する方法が提案されている。
セラミックス表面との間でわずかな表面反応を起こし、
密着性は良好となり、また、酸化されやすく不安定であ
るチタンの表面を、ニッケル、金、プラチナのいずれか
もしくはそれらの組み合わせからなる金属蒸着膜によっ
て被覆し、さらに所望の膜厚を得るために、この上層に
所望の膜厚のめっき層を形成するようにしている。
発生もなく、通常の半導体製造プロセスをそのまま使用
して、密着性の高い微細な電極パターンを有する熱交換
基板を形成することができる。
は、半田を介して固着されるが、素子側にのみ半田層を
形成しただけでは接合が不安定であり、接続不良を生じ
やすいため、熱交換基板の電極パターン上にも半田を載
置し、固着するという方法がとられる。
を溶融して固着しようとした場合、表面張力が大きいた
め第7図に示すように、中央に盛り上がった状態で硬化
してしまい、必要量の半田を均一な厚さに塗布すること
ができない。また、半田量の制御が困難であり、半田の
高さにばらつきが生じ易い。
とすると、素子の平衡度が悪く、また高さにばらつきが
あるため、接合不良を生じたり、装置の信頼性の低下を
招きやすいという問題があった。
なる。
に適宜形成した電極パターンを用いた場合、さらに半田
の塗布が必要であるが、その際半田量にばらつきが生じ
たり、電極表面の平坦性が悪くなり、実装に際して信頼
性が低下するという問題があった。
し、絶縁性基板の表面に無電解銅めっきを行い無電解銅
めっき層を形成する無電解銅めっき工程と、レジストパ
ターンで該無電解銅めっき層表面を選択的に被覆した状
態で該無電解銅めっき層を電極として電解めっきを行
い、銅層を形成し、さらにこの上層に電解めっき法によ
り半田めっきを行い、最後にこの半田めっき層から露呈
する無電解銅めっきパターンを除去するようにしてい
る。
よび金層を電解めっき法または無電解めっき法により形
成するようにする。
ある上、平坦性もよく形成され、また熱交換基板と電極
パターンとの密着性が良好でかつパターン精度が良好で
あり、信頼性の高い熱電装置を形成することが可能であ
る。
に説明する。
第2図は同熱電装置の要部拡大断面を示す図である。
して従来のアルミナセラミックス基板を用いたものであ
る。
に、膜厚1〜1.5μmの無電解銅めっき層5aと膜厚数10
μm〜100μmの銅めっき層5bと、膜厚5μmのニッケ
ルめっき層5cと膜厚0.5μmの金めっき層5dと、膜厚10
〜30μmの半田めっき層5eとの5層構造の電極パターン
5の上にP型熱電素子3aおよびN型熱電素子3bが固着さ
れる。一方、他方の面側にも膜厚1〜1.5μmの無電解
銅めっき層5aと膜厚数10μm〜100μmの銅めっき層5b
と、膜厚5μmのニッケルめっき層5cと膜厚0.5μmの
金めっき層5dとの4層構造の電極が形成されている。
も、第2の熱交換基板2と同様の構造をなしている。
および第2の熱交換基板2上の電極パターン5によって
隣接するP型熱電素子3aおよびN型熱電素子3bが半田溶
融法によって接続されPN素子対3が構成されると共にこ
れらのPN素子対3が互いに直列に接続され、回路の両端
に位置する電極パターンに夫々第1の電極リード7およ
び第2の電極リード8が配設される。この第1および第
2の電極リードに通電が行なわれることにより、例えば
第1の熱交換基板の側が低温部となり、第2の熱交換基
板の側が高温部となる。
クスからなる熱交換基板1,2(ここでは第2の熱交換基
板についてのみ示す)の表面および裏面に粗面加工を施
す。
裏面に、無電解銅めっき法により、膜厚1〜1.5μmの
無電解銅めっき膜5aを形成する。
にドライフィルムを貼着し、フォトリソグラフィ法によ
りパターニングしてレジストパターンR1を形成する。
っき膜5aを電極とし、電解めっき法等により、基板の表
面および裏面の前記無電解銅めっき膜5a上に選択的に膜
厚数10μm〜100μmの銅めっき膜5bを形成する。
により、膜厚5μmのニッケルめっき層5cを形成する。
解めっき法により、膜厚0.5μmの金めっき層5dを形成
する。
ィルムを貼着し、フォトリソグラフィ法によりパターニ
ングしてレジストパターンR2を形成する。
により、膜厚10〜30μmの半田めっき層5e(例えば錫:
鉛=60:40)を形成する。
ンR1およびR2を剥離し、基板表面および裏面に電極パタ
ーンを形成する。
層から露呈して表面に薄く残っている無電解銅めっき層
5aを軽いエッチングにより除去する。
る。
板のうち一方、例えば第2の熱交換基板2の電極パター
ン5上に、第4図に示すように、治具Zを用いて位置決
めを行いつつ、電極表面に半田層の形成されたP型およ
びN型熱電素子3a,3bを自動的に装着し、裏面側から加
熱しつつ固着する。
P型およびN型熱電素子とを固着せしめる。
が高精度に規定可能である上、平坦性もよく形成され、
また熱交換基板と電極パターンとの密着性が良好でかつ
パターン精度が良好であり、信頼性の高い熱電装置を形
成することが可能である。
るため、熱電装置を清浄な各種パッケージ等に実装する
際にはフラックスなしに半田付けすることができる。
セラミックス基板を用いたが、ベリリヤセラミックスや
窒化アルミセラミックスを用いても良くさらに炭化ケイ
素系セラミックス基板を用いるようにすれば、炭化ケイ
素系セラミックスはアルミナセラミックス基板に比べ
て、熱交換基板の熱伝導率が9倍以上であり、かつ熱膨
張率も小さいため、熱交換効率が大幅に向上し、熱歪の
発生もなく信頼性も高い。なお、電極パターンは、実施
例に限定されることなく、膜厚等については、適宜変更
可能である。また、前記実施例では、表面の電極パター
ンでは銅めっき層の側面が露呈しているため、以下に示
すような工程を付加し、表面の電極パターンを錫めっき
層5fで被覆するようにしてもよい。
に示すように裏面にドライフィルムを貼着し、フォトリ
ソグラフィ法によりパターニングしてレジストパターン
R3を形成する。
行い、表面の電極パターン側面に露呈する銅めっき層表
面を錫層5fで被覆し、レジストパターンR3を除去するよ
うにする。
されるが、半田層上にはわずかな厚さでしか形成されな
い。
成した後、半田めっき層を形成したが、このうちニッケ
ル層、金層については適宜変更および省略することも可
能である。
換基板の両方をアルミナセラミックス基板で構成し、表
面に半田めっき層を有する5層構造の電極薄膜パターン
を用いたが、いずれか一方のみをこの方法で構成し、他
方は他の材料および他の電極形成方法で構成してもよ
く、又、省略し、1枚の熱交換基板のみで構成するよう
にしてもよい。
板のみならず、ベリリヤセラミックス、窒化アルミセラ
ミックス、炭化ケイ素系セラミックス基板等他の絶縁性
基板を用いるようにしても良い。
電装置の熱交換基板の形成に際し、絶縁性基板の表面に
無電解銅めっきを行い無電解銅めっき層を形成する無電
解銅めっき工程と、レジストパターンで該無電解めっき
層を電極として該無電解銅めっき層表面を選択的に被覆
した状態で電解めっきを行い、銅層を形成したのち、さ
らにこの上層に電解めっき法により半田めっきを行うよ
うにしているため、半田の膜厚が高精度に規定可能であ
る上、平坦性もよく形成され、信頼性の高い熱電装置を
形成することが可能である。
装置の要部拡大断面を示す図、第3図(a)乃至第3図
(j)は同熱電装置の製造工程を示す図、第4図はこの
熱交換基板を用いて実装する場合の例を示す図、第5図
(a)および第5図(b)は同熱電装置の製造工程の変
形例の一部を示す図、第6図は従来例の熱電装置を示す
図、第7図は従来例の方法で実装する場合の例を示す図
である。 1……第1の熱交換基板、2……第2の熱交換基板、3
……PN素子対、3a……P型熱電素子、3b……N型熱電素
子、4……電極パターン、4a……無電解銅めっき層、4b
……銅めっき層、4c……ニッケル層、4d……金層、4e…
…半田めっき層、5……電極パターン、5a……無電解銅
めっき層、5b……銅めっき層、5c……ニッケル層、5d…
…金層、5e……半田めっき層、5f……錫層、7……第1
の電極リード、8……第2の電極リード、11……第1の
熱交換基板、12……第2の熱交換基板、13……PN素子
対、14……第1の電極、15……第2の電極。
Claims (3)
- 【請求項1】熱交換基板上に電極を介して少なくとも1
つの熱電素子対を配設した熱電装置の製造方法におい
て、 絶縁性基板からなる熱交換基板表面に電極パターンを形
成する電極パターン形成工程と、 該電極パターン上に熱電素素子対を実装する実装工程と
からなり、 前記電極パターン形成工程が、 絶縁性基板の表面に無電解銅めっきを行い無電解銅めっ
き層を形成する無電解銅めっき工程と、 レジストパターンによって前記無電解銅めっき層表面を
選択的に被覆した状態で前記無電解銅めっき層を電極と
して用いて電解めっきを行い、銅層を形成する第1の電
解めっき工程と、 さらにこの上層に電解めっき法により半田めっき層を形
成する第2の電解めっき工程と、 前記半田めっき層から露呈する前記無電解銅めっき層を
エッチング除去するエッチング工程と を含むようにしたことを特徴とする熱電装置の製造方
法。 - 【請求項2】前記第1の電解めっき工程と前記第2の電
解めっき工程との間に、前記銅層の上層にニッケル層お
よび金属層を順次形成する工程をさらに含むようにした
ことを特徴とする請求項(1)記載の熱電装置。 - 【請求項3】前記エッチング工程の後に、少なくとも前
記電極パターンの側壁を錫めっき層で被覆する無電解め
っき工程をさらに含むようにしたことを特徴とする請求
項(1)または(2)記載の熱電装置の製造方法。
Priority Applications (1)
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JP2063533A JP2903331B2 (ja) | 1990-03-14 | 1990-03-14 | 熱電装置の製造方法 |
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JPH03263882A JPH03263882A (ja) | 1991-11-25 |
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TW201624779A (zh) * | 2014-12-23 | 2016-07-01 | 財團法人工業技術研究院 | 熱電轉換裝置及其應用系統 |
-
1990
- 1990-03-14 JP JP2063533A patent/JP2903331B2/ja not_active Expired - Fee Related
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