JP3512691B2 - 熱電素子およびその製造方法 - Google Patents

熱電素子およびその製造方法

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JP3512691B2 JP34026399A JP34026399A JP3512691B2 JP 3512691 B2 JP3512691 B2 JP 3512691B2 JP 34026399 A JP34026399 A JP 34026399A JP 34026399 A JP34026399 A JP 34026399A JP 3512691 B2 JP3512691 B2 JP 3512691B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ペルチェ素子等の
熱電半導体素子を利用した熱電素子およびその製造方法
に関し、特に、スケルトン構造を有する熱電素子および
その製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】ビスマス・テルル系、鉄・シリサイド系
若しくはコバルト・アンチモン系等の化合物からなる熱
電半導体素子を利用した熱電素子は、冷却・加熱装置等
に使用されている。これらの熱電素子は、液体、気体を
使用せず、スペースもとらずまた回転磨耗もなく保守の
不要な冷却・加熱源として重宝なものである。
【0003】従来から知られている一般的な熱電素子の
構成を図14に示す。ここで図14(a)は正面図であ
り、図14(b)は斜視図である。これらの図に示され
ているように、従来の熱電素子では、n型熱電半導体素
子とp型熱電半導体素子からなる熱電半導体素子が交互
に配列されており、熱電半導体素子の上面と下面はそれ
ぞれ金属電極に接合されている。熱電半導体素子は、上
面と下面で金属電極に交互に接合され、最終的には全部
の熱電半導体素子が電気的に直列に接続される。上下の
金属電極と熱電半導体素子との接合は、ハンダ付けで行
われる。そして、上面、下面のそれぞれの金属電極は、
メタライズしたセラミック基板に接合されて全体が剛体
で固定されている。
【0004】この熱電素子の電極に直流電源を接続し
て、n型熱電半導体素子からp型熱電半導体素子の方向
へ電流を流すと、ペルチェ効果によりπ型の上部で吸熱
が起こり、下部で放熱が起こる。つまり、図14(a)
に示されているように、熱電半導体素子の上部が吸熱側
(コールド・ジャンクション)となり、下部が放熱側
(ホット・ジャンクション)となる。この際、電源の接
続方向を逆転すると、吸熱、放熱の方向が変わる。この
現象を利用して、熱電素子が冷却・加熱装置に使用され
るのである。熱電素子は、LSI(大規模集積回路)、
コンピュータのCPU(中央演算処理装置)やレーザ等
の冷却をはじめ、保温冷蔵庫に至る広範な用途を有して
いる。
【0005】このような熱電素子を冷却装置として用い
る場合には、放熱側の熱を効率良く外部へ放出すること
が必要となる。そして、従来、熱電素子の放熱側の熱を
放出する方法としては、熱電素子の放熱側に放熱フィン
を取り付け、この放熱フィンに向けてファンから風を送
るようにした空冷方式や、熱電素子の放熱側に水冷ジャ
ケットを取り付け、この水冷ジャケット内に冷却水を通
すようにした水冷方式等があった。
【0006】しかしながら、これらの冷却方式は、いず
れも放熱側のセラミック基板を介して間接的に熱電半
導体素子を冷却するものであったため、放熱側の熱を効
率良く外部へ放出することはできなかった。また、図1
4に示した熱電素子は上下がセラミック基板で固定され
た剛構造を有するものであるため、動作時に熱電半導体
素子に大きな熱応力が加わってしまい、熱電半導体素子
の寿命が短くなるという問題点があった。
【0007】そこで、本願出願人は先に、特願平8−3
54136号等により、上下の金属電極をセラミック基
板に固定せずに剥き出しにした構造(両側スケルトン構
造)を有する熱電素子およびそれを用いた熱電冷却装置
を提案した。この熱電素子によれば、上下の金属電極が
固いセラミック基板に固定されていないため、熱電半導
体素子に加わる熱応力が緩和される。したがって、熱電
半導体素子の長寿命化が実現される。また、この熱電冷
却装置によれば、放熱側の熱電半導体素子および金属電
極が直接的に冷却されるため、放熱側の熱を効率良く外
部へ放出することができる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】前述した両側スケルト
ン構造の熱電素子では、上下の金属電極が剥き出しにな
っているため、この熱電素子に取り付けて使用する放熱
または吸熱用金属部材(ヒートシンク等)の表面に熱良
導性電気絶縁薄膜を形成することが必要であった。そし
て、前記金属部材にはその用途に応じて様々な形状のも
のが存在するため、その表面に熱良導性電気絶縁薄膜を
形成することは容易ではなかった。
【0009】また、両側スケルトン構造の熱電素子を製
造する際には、多数の金属電極を所定のパターンに配列
しておき、仕切板を貫通した状態でその仕切板に固定さ
れた熱電半導体素子の位置を前記金属電極の位置に合わ
せた後、ハンダ付けを行うプロセスが必要であった。
【0010】本発明はこのような問題点に鑑みてなされ
たものであって、両側スケルトン構造または片側スケル
トン構造を有する熱電素子において、この熱電素子に取
り付けて使用する放熱または吸熱部材に熱良導性電器絶
縁薄膜を個別に形成する作業を不要にすることを目的と
する。
【0011】また、本発明は、両側スケルトン構造また
は片側スケルトン構造を有する熱電素子を製造する際
に、多数の金属電極を所定のパターンに配列する工程を
不要にすることで、製造工程の単純化と製造コストの低
減を図ることを目的とする。
【0012】さらに、本発明は、両側スケルトン構造ま
たは片側スケルトン構造を有する熱電素子を製造する際
に、製造後に廃棄される部材を削減することを目的とす
る。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明に係る熱電素子
は、p型熱電半導体素子およびn型熱電半導体素子と、
前記p型熱電半導体素子およびn型熱電半導体素子の第
1の面に接合された第1の金属電極と、前記p型熱電半
導体素子およびn型熱電半導体素子の第2の面に接合さ
れた第2の金属電極と、前記第1の金属電極または前記
第2の金属電極の少なくとも一方に接合された熱良導性
電気絶縁薄膜と、前記熱良導性電気絶縁薄膜に接合され
た金属薄膜とを備えたことを特徴とするものである。
【0014】
【0015】
【0016】
【0017】前記した本発明に係る熱電素子において、
p型熱電半導体素子およびn型熱電半導体素子は、電気
絶縁性を有する仕切板を貫通した状態でその仕切板に固
定された構造を有するものでも良いし、その他の構造を
有するものでも良い。
【0018】本発明に係る第1の熱電素子の製造方法
は、熱良導性電気絶縁薄膜の第1の面に金属電極材を接
合する金属電極材接合工程と、前記熱良導性電気絶縁薄
膜の第2の面にマスキングテープを貼り着けるマスキン
グテープ貼着工程と、前記金属電極材をエッチングして
電極パターンを形成する電極形成工程と、p型熱電半導
体素子およびn型熱電半導体素子と前記電極パターンと
を接合する熱電半導体素子接合工程と、前記マスキング
テープを剥がすマスキングテープ剥離工程とを備えたこ
とを特徴とするものである。
【0019】本発明に係る第2の熱電素子の製造方法
は、熱良導性電気絶縁薄膜の第1の面に金属電極材を接
合する金属電極材接合工程と、前記熱良導性電気絶縁薄
膜の第2の面に金属薄膜を接合する金属薄膜接合工程
と、前記金属電極材をエッチングして電極パターンを形
成する電極形成工程と、p型熱電半導体素子およびn型
熱電半導体素子と前記電極パターンとを接合する熱電半
導体素子接合工程とを備えたことを特徴とするものであ
る。
【0020】
【0021】
【0022】前記した本発明に係る各熱電素子の製造方
法において、前記金属電極材をエッチングするときに前
記金属電極材の縁部をランドとして残しても良い。この
縁部は熱電半導体素子接合工程終了後に切除することが
好適である。
【0023】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照しながら詳細に説明する。
【0024】(第1の実施の形態)図1は本発明を適用
した熱電素子の第1の構成例の正面図である。この熱電
素子は、仕切板1に対してp型熱電半導体素子2Pとn
型熱電半導体素子2Nとが貫通した状態で固定された構
造を有する。仕切板1は、例えば厚みが0.3〜0.6
mm程度の電気絶縁性および熱不良導性および耐熱性を
有する材料、例えばガラスエポキシなどから構成されて
いる。p型熱電半導体素子2Pとn型熱電半導体素子2
Nは、例えばそれぞれ断面積が1.7〜5.0mm2
度、長さが1.5〜2mm程度の円柱状のビスマス・テ
ルル系熱電半導体単結晶であり、仕切板1の両側に0.
5〜O.9mm程度突出している。p型熱電半導体素子
2Pとn型熱電半導体素子2Nとはマトリックス状に交
互に配列されている。p型熱電半導体素子2Pとn型熱
電半導体素子2Nの上面および下面には、それぞれ厚み
が300μm程度の銅板で構成された上側電極4および
下側電極3がハンダにより接合されている。p型熱電半
導体素子2Pとn型熱電半導体素子2Nは、上面と下面
で電極に交互に接合され、最終的には全部の熱電半導体
素子が電気的に直列に接続される。また、下側電極3の
下面および上側電極4の上面には、それぞれ厚みが数十
〜100μm、好ましくは70〜80μm程度の下側熱
良導性電気絶縁薄膜5および上側熱良導性電気絶縁薄膜
6が接合されている。これらの熱良導性電気絶縁薄膜の
材料としては、例えばエポキシ系樹脂に熱良導性フィラ
ーを添加したもの、フッ素樹脂、シリコン系熱伝導性樹
脂等を使用することができる。さらに、下側熱良導性電
気絶縁薄膜5の下面および上側熱良導性電気絶縁薄膜6
の上面には、それぞれ厚みが18μm程度の下側銅薄膜
7および上側銅薄膜8が接合されている。ここで、仕切
板1のサイズを上下の熱良導性電気絶縁薄膜5,6と上
下の銅薄膜7,8のサイズよりも大きくすることによ
り、取扱いを容易に構成することが好適である。
【0025】なお、ここには図示されていないが、上側
電極4および下側電極3の表面にはNi(ニッケル)メ
ッキが施されている。このNiメッキ層は、電極を構成
する銅の分子が熱電半導体素子に拡散することを防止す
るとともに、湿気などにより電極が酸化腐食されること
を防止する。さらに、Niメッキ層の表面に酸化防止用
のAu(金)の薄膜を形成することが好適である。
【0026】以上のように構成された熱電素子に金属製
のヒートシンクを取り付ける際には、本出願人が先に提
案したスケルトン構造の熱電素子とは異なり、電極とヒ
ートシンクとの間に熱良導性電気絶縁薄膜を形成する必
要はない。また、下側銅薄膜7および上側銅薄膜8に対
してヒートシンク等を直接的にハンダ付けすることがで
きる。さらに、熱電半導体素子の動作時に放熱側と吸熱
側との間に温度差が発生しても、熱電素子が前記温度差
に応じて撓むため、熱電半導体素子に加わる熱応力が小
さくなり、熱電半導体素子の寿命の短縮を防止すること
ができる。
【0027】次に、図1に示した熱電素子の製造方法を
説明する。
【0028】図2は図1における下側電極3、下側熱良
導性電気絶縁薄膜5、および下側銅薄膜7となる部材を
製造する工程を示す図である。この図において、図1と
同一の部分または対応する部分には図1で使用した符号
と同一の符号を付した。
【0029】まず、この図の(a)の正面図に示すよう
に、下側熱良導性電気絶縁薄膜5の上面および下面にそ
れぞれ下側電極材3および下側銅薄膜7を真空熱圧着な
どの方法で同時または別々に接合する。熱良導性電気絶
縁薄膜5は、例えばエポキシ系樹脂に熱良導性フィラー
を添加したもの、フッ素樹脂、あるいはシリコン系熱伝
導性樹脂を厚みが70〜80μm程度のシート状に形成
したものを使用する。下側電極材3は例えば厚みが30
0μm程度の銅シートを使用する。下側銅薄膜7は例え
ば厚みが18μm程度の銅シートを使用する。
【0030】次に、この図の(b)の断面図に示すよう
に、下側電極材3をエッチングして下側電極3を形成す
る。このとき、下側電極材3の縁部を残して外形枠9を
形成する。ここで、外形枠9には、後述する熱電素子の
製造工程において取扱性(ハンドリング)および自動化
を容易にするとともに位置決めに使用するための一対の
位置決め孔(詳細は後述)を同時に空けておく。
【0031】次に、この図の(c)の断面図に示すよう
に、下側電極3および外形枠9の表面(上面と側面)、
ならびに下側銅薄膜7の表面(下面)にNiメッキ層1
0,11を形成する。ここで、さらにNiメッキ層1
0,11の表面に酸化防止用のAu層を形成してもよ
い。また、この工程の前または後において、下側熱良導
性電気絶縁薄膜5および下側銅薄膜7に位置決め孔を空
けておく(詳細は後述)。
【0032】以上の工程により、下側電極3、下側熱良
導性電気絶縁薄膜5、および下側銅薄膜7となる部材が
完成する。図1の上側電極4、上側熱良導性電気絶縁薄
膜6、および上側銅薄膜8となる部材も同様にして製造
することができる。
【0033】図3は図1に示した熱電素子の製造に使用
する部材および治具を示す正面図である。この図におい
て、図1または図2と同一の部分もしくは対応する部分
には、図1または図2で使用した符号と同一の符号を付
した。ただし、図3以降の図では、便宜上、Niメッキ
層は省略した。
【0034】図3(a)は上側ハンダ付け治具21を示
す。この上側ハンダ付け治具21は板状に構成されてお
り、その下面には、後述する一対の位置決めピン22
A,22Bを挿入するための一対の位置決め孔21A,
21Bが空けられている。なお、この位置決め孔21
A,21Bは治具の上下を貫通していても良い。
【0035】図3(b)は上側電極4、上側熱良導性電
気絶縁薄膜6、および上側銅薄膜8となる部材を示す。
前述したとおり、この部材は図2に示した工程と同様な
工程により製造されたものである。この部材における上
側熱良導性電気絶縁薄膜6および上側銅薄膜8には、一
対の位置決めピン22A,22Bを挿入するための一対
の位置決め孔15,16が空けられている。また、外形
枠12の内側の縁には位置決め孔15,16に対応して
半円形の位置決め孔12A,12Bが形成されている。
【0036】図3(c)は仕切板1に対してp型熱電半
導体素子2Pとn型熱電半導体素子2Nが貫通した状態
で固定された部材である。この部材の仕切板1には、一
対の位置決めピン22A,22Bを当接させるための一
対の半円形状の切欠1A,1Bが形成されている。な
お、このような、仕切板に対してp型熱電半導体素子と
n型熱電半導体素子が貫通した状態で固定された部材の
製造方法については特開平8−228027号公報に詳
細に記載されているので、ここでは説明しない。
【0037】図3(d)は下側電極3、下側熱良導性電
気絶縁薄膜5、および下側銅薄膜7となる部材を示す。
この部材における下側熱良導性電気絶縁薄膜5および下
側銅薄膜7には、一対の位置決めピン22A,22Bを
挿入するための一対の位置決め孔13,14が空けられ
ている。また、外形枠9の内側の縁には位置決め孔1
3,14に対応して半円形の位置決め孔9A,9Bが形
成されている。
【0038】図3(e)は下側ハンダ付け治具22を示
す。この下側ハンダ付け治具22は板状に構成されてお
り、上面の対向する縁の近傍には一対の位置決めピン2
2A,22Bが立設されている。
【0039】次に、図3(a)〜(e)に示した部材お
よび治具を用いて図1に示した熱電素子を製造する工程
を説明する。この製造工程の前に、図3(b)に示した
部材における上側電極4の下面および図3(d)に示し
た部材における下側電極3の上面にクリームハンダを印
刷しておく。
【0040】まず、図3(e)に示した下側ハンダ付け
治具22の位置決めピン22A,22Bを図3(d)に
示した部材の位置決め孔13,14および9A,9Bに
挿入する。次に、図3(c)に示した部材を図3(d)
に示した部材の上に載置する。このとき、位置決めピン
22A,22Bの外周面の半周が切欠1A,1Bに当接
するように載置することで位置決めを行う。図4はこの
状態の平面図である。次いで、図3(c)に示した部材
の上に図3(b)に示した部材を載置する。このとき、
位置決めピン22A,22Bが位置決め孔15,16お
よび12A,12Bを貫通するように載置することで位
置決めを行う。
【0041】次に、図3(b)に示した部材の上に図3
(a)に示した上側ハンダ付け治具21を載置する。こ
のとき、位置決めピン22A,22Bが位置決め孔21
A,21Bに挿入されるように位置決めを行う。
【0042】以上の操作により、図5に示す状態とな
る。この状態でリフロー炉に入れてハンダ付けするか、
または上側ハンダ付け治具21および下側ハンダ付け治
具22にヒータを内蔵させ、このヒータで加熱するか、
またはヒータ内蔵のプレートにより上下から治具21,
22を一定圧で挟み込むことにより、p型熱電半導体素
子2Pおよびn型熱電半導体素子2Nの上下の面に対し
て上側電極3および下側電極4を接合する。このハンダ
付け工程で一定の圧力をハンダ治具上から加えることに
より、ハンダ層の厚みを一定にすることができ、熱電素
子全体の厚みを一定にすることができる。
【0043】上側電極3および下側電極4の接合が完了
したら、図6に示すように、一体的に接合された部材を
上側ハンダ付け治具21および下側ハンダ付け治具22
から分離し、さらに外形枠9,12の内側の縁の近傍か
ら外側の部分を切断して除去する。これによって、図1
に示した熱電素子が完成する。
【0044】このように、本発明の第1の実施の形態は
下記(1)〜(5)の特徴を有する。
【0045】(1)上側電極4の上面および下側電極3
の下面に、それぞれ上側熱良導性電気絶縁薄膜6および
下側熱良導性電気絶縁薄膜5が形成されているで、この
熱電素子を使用する際、ヒートシンクに熱良導性電気絶
縁薄膜を個別に形成する必要はなくなる。このため、様
々な形状のヒートシンクと組み合わせて使用することが
容易である。
【0046】(2)上側熱良導性電気絶縁薄膜6の上面
および下側熱良導性電気絶縁薄膜5の下面に、それぞれ
上側銅薄膜8および下側銅薄膜7が形成されているの
で、ヒートシンク等を直接ハンダ付けにより固定するこ
とができる。このため、熱伝導性シリコングリスまたは
熱伝導性接着剤を介して密着させていた従来技術と比較
すると、接触熱抵抗が小さくなる。
【0047】(3)銅シートをエッチングすることによ
り電極パターンを形成するので、多数の電極を所定のパ
ターンに配列する工程が不要となる。この結果、製造工
程が単純化され、コストが低減される。
【0048】(4)電極形成と同時に外形枠9,12を
形成し、その外形枠9,12に設けた位置決め孔9A,
9B,12A,12Bを用いてハンダ付けの際の2点位
置決めを行うので、セット/リセットが容易となり、ハ
ンダ付け工程の自動化が可能となる。
【0049】(5)外形枠9,12を設けたので、電極
材のエッチング工程、および熱電半導体素子のハンダ付
け工程での位置精度と取扱性が向上する。
【0050】(第2の実施の形態)図7は本発明を適用
した熱電素子の第2の構成例の正面図である。この図に
おいて、図1と同一の部分または図1と対応する部分に
は図1で使用した符号と同一の符号を付した。
【0051】この熱電素子においては、下側電極3の下
面および上側電極4の上面には、それぞれ厚みが10〜
50μm、好ましくは25μm以下の下側ポリイミドシ
ート31および上側ポリイミドシート32が溶着されて
いる。これらのポリイミドシート31,32は電気絶縁
層として機能する。そして、これらのポリイミドシート
31,32を極力薄膜化することにより、熱抵抗を小さ
くすることが可能となり、熱良導性電気絶縁層として機
能させることができる。また、これらのポリイミドシー
ト31,32は製造工程においては耐熱シートとして機
能する。さらに、エポキシ樹脂+フィラー、あるいはシ
リコン樹脂+フィラーからなる熱良導性電気絶縁薄膜と
比較すると、機械的強度が高い。その他の部分の構成は
図1に示した第1の実施の形態と同じである。なお、こ
こではポリイミドシートを例示したが、耐熱性と電気絶
縁性を有する材料であれば、その他の樹脂からなるシー
トを用いても良い。
【0052】次に、図7に示した熱電素子の製造方法を
説明する。
【0053】図8は図7における下側電極3および下側
ポリイミドシート31となる部材を製造する工程を示す
図である。この図において、図7と同一の部分または対
応する部分には図7で使用した符号と同一の符号を付し
た。
【0054】まず、この図の(a)の正面図に示すよう
に、下側ポリイミドシート31の上面に下側電極材3を
熱溶着し、接合する。ポリイミドシートは機械的強度が
高いので、裏打ちは不要である。
【0055】次に、この図の(b)の断面図に示すよう
に、下側電極材3をエッチングして下側電極3を形成す
る。このとき、下側電極材3の縁部を残して外形枠9を
形成すること、および外形枠9に位置決め用の孔を同時
に形成することは第1の実施の形態と同じである。
【0056】次に、この図の(c)の断面図に示すよう
に、下側電極3および外形枠9の表面(上面と側面)に
Niメッキ層10を形成する。ここで、さらにNiメッ
キ層10の表面にAu層を形成してもよい。また、この
工程の前または後において、外形枠9に位置決め孔を空
けておく。
【0057】以上の工程により、下側電極3および下側
ポリイミドシート31となる部材が完成する。図7の上
側電極4および上側ポリイミドシート32となる部材も
同様にして製造することができる。
【0058】このようにして製造した部材を用いて図7
に示した熱電素子を製造する工程、およびその工程で使
用する治具等は図3〜図6と同様であるため、説明を省
略する。
【0059】このように、本発明の第2の実施の形態は
下記(1)〜(6)の特徴を有する。
【0060】(1)上側電極4の上面および下側電極3
の下面に、それぞれ上側ポリイミドシート32および下
側ポリイミドシート31が溶着されているで、この熱電
素子を使用する際、ヒートシンクに熱良導性電気絶縁薄
膜を個別に形成する必要はなくなる。このため、様々な
形状のヒートシンクと組み合わせて使用することが容易
である。
【0061】(2)銅シートをエッチングすることによ
り電極パターンを形成するので、多数の電極を所定のパ
ターンに配列する工程が不要となる。この結果、製造工
程が単純化され、コストが低減される。
【0062】(3)電極材および電極パターンは、機械
的強度および電気絶縁性が高く、かつ薄層化により熱抵
抗を低下させたポリイミドシートで保持されているた
め、補強材による裏打ちを行わなくとも電極形成時およ
び電極接合時のハンドリングが容易である。
【0063】(4)電極形成と同時に外形枠9,12を
形成し、その外形枠9,12に設けた位置決め孔9A,
9B,12A,12Bを用いてハンダ付けの際の2点位
置決めを行うので、セット/リセットが容易となり、ハ
ンダ付け工程の自動化が可能となる。
【0064】(5)ポリイミドシートは電極に溶着され
ているので、ポリイミドシートが電極に接着された熱電
素子よりも良好な特性が得られる。
【0065】(6)外形枠を設けたので、電極材のエッ
チング工程、および熱電半導体素子のハンダ付け工程で
の位置精度と取扱性が向上する。
【0066】(第3の実施の形態)図9は本発明を適用
した熱電素子の第3の構成例の正面図である。この図に
おいて、図7と同一の部分または図7と対応する部分に
は図7で使用した符号と同一の符号を付した。
【0067】この熱電素子においては、下側電極3の下
面および上側電極4の上面には、それぞれ厚みが10〜
50μm、好ましくは25μm以下の下側ポリイミドシ
ート31および上側ポリイミドシート32が、それぞれ
下側粘着層33および上側粘着層34を介して貼り着け
られている。下側粘着層33および上側粘着層34は、
いずれもポリイミドシートと同程度の厚みを有するアク
リル樹脂系またはシリコン系の接着剤で構成されてい
る。そして、下側ポリイミドシート31および上側ポリ
イミドシート32は必要に応じて容易に剥がすことが可
能に構成されている。その他の部分の構成は図7に示し
た第2の実施の形態と同じである。
【0068】次に、図9に示した熱電素子の製造方法を
説明する。
【0069】図10は図9における下側電極3、下側ポ
リイミドシート31、および下側粘着層33となる部材
を製造する工程を示す図である。この図において、図9
と同一の部分または対応する部分には図9で使用した符
号と同一の符号を付した。
【0070】まず、この図の(a)の正面図に示すよう
に、上面に下側粘着層33が形成された下側ポリイミド
シート31の上面に下側電極材3を貼り着ける。この下
側ポリイミドシート31の機能は第2の実施の形態にお
ける下側ポリイミドシート31と同じである。
【0071】次に、この図の(b)の断面図に示すよう
に、下側電極材3をエッチングして下側電極3を形成す
る。このとき、下側電極材3の縁部を残して外形枠9を
形成すること、および外形枠9に位置決め用の孔を同時
に形成することは第2の実施の形態と同じである。
【0072】次に、この図の(c)の断面図に示すよう
に、下側電極3および外形枠9の表面にNiメッキ層1
0を形成する。ここで、さらにNiメッキ層10の表面
にAu層を形成してもよい。また、この工程の前または
後において、下側ポリイミドシート31および下側粘着
層33に位置決め孔を空けておく。
【0073】以上の工程により、下側電極3、下側ポリ
イミドシート31、および下側粘着層33となる部材が
完成する。図9の上側電極4、上側ポリイミドシート3
2、および上側粘着層34となる部材も同様にして製造
することができる。
【0074】このようにして製造した部材を用いて図9
に示した熱電素子を製造する工程、およびその工程で使
用する治具等は図3〜図6と同様であるため、説明を省
略する。
【0075】このように、本発明の第3の実施の形態は
下記(1)〜(6)の特徴を有する。
【0076】(1)上側電極4の上面および下側電極3
の下面に、それぞれ上側ポリイミドシート32および下
側ポリイミドシート31が接着されているで、この熱電
素子を使用する際、ヒートシンクに熱良導性電気絶縁薄
膜を個別に形成する必要はなくなる。このため、様々な
形状のヒートシンクと組み合わせて使用することが容易
である。
【0077】(2)銅シートをエッチングすることによ
り電極パターンを形成するので、多数の電極を所定のパ
ターンに配列する工程が不要となる。この結果、製造工
程が単純化され、コストが低減される。機械的強度およ
び電気絶縁性が高く、かつ薄層化により熱抵抗を低下さ
せたポリイミドシートで保持されているため、補強材に
よる裏打は不要である。
【0078】(3)必要に応じて上側ポリイミドシート
32および下側ポリイミドシート31を容易に剥がすこ
とにより、熱良導性電気絶縁薄膜のない熱電素子にする
ことが可能である。ただし、この場合、下側粘着層33
および上側粘着層34の粘着力を、エッチングおよびN
iメッキ工程では剥離せず、電極接合後には容易に剥離
するように調整する。
【0079】(4)電極材および電極パターンは、機械
的強度、電気絶縁性、および薄膜化による低熱抵抗性に
優れたポリイミドシートで保持されているため、補強材
による裏打ちを行わなくとも電極形成時および電極接合
時のハンドリングが容易である。
【0080】(5)電極形成と同時に外形枠9,12を
形成し、その外形枠9,12に設けた位置決め孔9A,
9B,12A,12Bを用いてハンダ付けの際の2点位
置決めを行うので、セット/リセットが容易となり、ハ
ンダ付け工程の自動化が可能となる。
【0081】(6)外形枠を設けたので、電極材のエッ
チング工程、および熱電半導体素子のハンダ付け工程で
の位置精度と取扱性が向上する。
【0082】(第4の実施の形態)図11は本発明を適
用した熱電素子の第4の構成例の正面図である。この図
において、図1と同一の部分または図1と対応する部分
には図1で使用した符号と同一の符号を付した。
【0083】この熱電素子の基本構成は、図1に示した
熱電素子に設けられていた下側銅薄膜7および上側銅薄
膜8を設けないようにしたものである。このように構成
することにより、高価な銅の使用量を削減した。
【0084】また、図1に示した熱電素子において、上
側電極4および下側電極3の表面に施されていたNiメ
ッキ層+Auメッキ層に代えて、Niメッキ層+ハンダ
メッキ層、またはハンダメッキ層を形成した。これによ
って、高価なAuを使用することなく、Niメッキ層の
酸化防止、または銅電極の保護層としての機能を持たせ
ることができる。
【0085】次に、図11に示した熱電素子の製造方法
説明する。
【0086】図12は図11における下側電極3、およ
び下側熱良導性電気絶縁薄膜5となる部材を製造する工
程を示す図である。この図において、図2および図11
と同一の部分または対応する部分には図2および図11
で使用した符号と同一の符号を付した。
【0087】まず、この図の(a)の正面図に示すよう
に、下側熱良導性電気絶縁薄膜5の上面に下側電極材3
を真空熱圧着した後、下面にマスキングテープ41を貼
り着ける。
【0088】次に、この図の(b)の断面図に示すよう
に、下側電極材3をエッチングして下側電極3を形成す
る。このとき、下側電極材3の縁部を残して外形枠9を
形成する。ここで、第1の実施の形態と同様、外形枠9
には、熱電素子の製造工程において取扱性(ハンドリン
グ)および自動化を容易にするとともに位置決めに使用
するための一対の位置決め孔を同時に空けておく。
【0089】次に、この図の(c)の断面図に示すよう
に、下側電極3および外形枠9の表面(上面と側面)に
Niメッキ層+ハンダメッキ層の積層42を形成する。
ここで、Niメッキ層+ハンダメッキ層の積層とする代
わりに、ハンダメッキ層のみでもよい。また、第1の実
施の形態と同様、この工程の前または後において、下側
熱良導性電気絶縁薄膜5に位置決め孔を空けておく。
【0090】以上の工程により、下側電極3、および下
側熱良導性電気絶縁薄膜5となる部材が完成する。図1
1の上側電極4、および上側熱良導性電気絶縁薄膜6と
なる部材も同様にして製造することができる。
【0091】このようにして製造した部材を用いて図1
1に示した熱電素子を製造する工程、およびその工程で
使用する治具等は図3〜図6と同様である。ただし、本
実施の形態では、製造工程の最後にマスキングテープ4
1を剥がす。
【0092】このように、本発明の第4の実施の形態は
下記(1)〜(6)の特徴を有する。
【0093】(1)上側電極4の上面および下側電極3
の下面に、それぞれ上側熱良導性電気絶縁薄膜6および
下側熱良導性電気絶縁薄膜5が形成されているで、この
熱電素子を使用する際、ヒートシンクに熱良導性電気絶
縁薄膜を個別に形成する必要はなくなる。このため、様
々な形状のヒートシンクと組み合わせて使用することが
容易である。
【0094】(2)銅シートをエッチングすることによ
り電極パターンを形成するので、多数の電極を所定のパ
ターンに配列する工程が不要となる。この結果、製造工
程が単純化され、コストが低減される。
【0095】(3)電極形成と同時に外形枠9,12を
形成し、その外形枠9,12に設けた位置決め孔9A,
9B,12A,12Bを用いてハンダ付けの際の2点位
置決めを行うので、セット/リセットが容易となり、ハ
ンダ付け工程の自動化が可能となる。
【0096】(4)外形枠9,12を設けたので、電極
材のエッチング工程、および熱電半導体素子のハンダ付
け工程での位置精度と取扱性が向上する。
【0097】(5)銅薄膜を使用せず、マスキングテー
プを用いて裏打を行うため、製造工程の簡素化と材料コ
ストの節減が可能となる。
【0098】(6)上下の電極3,4の表面にNiメッ
キ層+ハンダメッキ層を形成することにより、高価なA
uを用いずにNiメッキ層の酸化防止が可能となる。あ
るいは、上下の電極3,4の表面にハンダメッキを施す
ことにより、Niメッキを施すことなく、電極3,4の
保護層を形成することができ、かつハンダ性を向上させ
ることができる。
【0099】なお、本発明は前記各実施の形態に限定さ
れるものではなく、例えば下記(1)〜(5)のような
変形が可能である。
【0100】(1)図13に示すような、仕切板のない
熱電素子を構成してもよい。
【0101】(2)片側スケルトン構造の熱電素子の製
造に適用することもできる。
【0102】(3)図1におけるp型熱電半導体素子2
P、n型熱電半導体素子2N、下側電極3、上側電極
4、下側熱良導性電気絶縁薄膜5、上側熱良導性電気絶
縁薄膜6、下側銅薄膜7、および上側銅薄膜8の側面
(特に、電極と熱電半導体素子との接合部近傍)にシリ
コーン樹脂をコートして撥水性を与えることにより、耐
湿性を向上させることができる。図7、図9、図11、
および図13についても同様である。
【0103】(4)第2の実施の形態、および第3実施
の形態において、上下の電極3,4の表面にNiメッキ
層、またはNiメッキ層+Au層を形成する代わりに、
第4の実施の形態と同様、Niメッキ層+ハンダメッキ
層、またはハンダメッキ層を形成してもよい。
【0104】(5)第4の実施の形態において、マスキ
ングテープを用いずに製造するように構成してもよい。
【0105】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明に係
る熱電素子によれば、第1の金属電極または第2の金属
電極の少なくとも一方に熱良導性電気絶縁薄膜が接合さ
れているため、この熱電素子を使用する際には、この熱
良導性電気絶縁薄膜に放熱または吸熱用金属部材を取り
付ければよい。したがって、放熱または吸熱用金属部材
に対して個別に熱良導性電気絶縁薄膜を形成する作業が
不要となる。また、前記熱良導性電気絶縁薄膜に金属薄
膜が接合されているため、この金属薄膜にヒートシンク
等を直接的にハンダ付けにより固定することができる。
このため、熱伝導性シリコングリスまたは熱伝導性接着
剤を介して密着させていた従来技術と比較すると、接触
熱抵抗が小さくなる。
【0106】また、本発明に係る第1の熱電素子の製造
方法によれば、金属電極材をエッチングすることにより
所定のパターンに配列された多数の金属電極が同時に完
成するので、多数の金属電極を所定のパターンに配列す
る工程が不要となる。さらに、銅薄膜を用いず、マスキ
ングテープを用いて裏打を行うため、製造工程の簡素化
と材料コストの節減が可能となる。そして、本発明に係
る第2の熱電素子の製造方法によれば、金属電極材をエ
ッチングすることにより所定のパターンに配列された多
数の金属電極が同時に完成するので、多数の金属電極を
所定のパターンに配列する工程が不要となる。また、熱
良導性電気絶縁薄膜に金属薄膜を接合する工程を有する
ため、金属薄膜にヒートシンク等を直接的にハンダ付け
により固定することが可能な熱電素子を製造することが
できる。
【0107】さらに、本発明に係る熱電素子の製造方法
によれば、電極パターン形成工程および熱電半導体素子
接合においては、金属薄膜、外形枠、および電気絶縁薄
膜が裏打ち部材として作用し、製造後はそのまま熱電素
子の構成部材となるため、材料を無駄なく利用すること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を適用した熱電素子の第1の構成例の正
面図である。
【図2】図1における下側電極、下側熱良導性電気絶縁
薄膜、および下側銅薄膜となる部材を製造する工程を示
す図である。
【図3】図1に示した熱電素子の製造に使用する部材お
よび治具を示す正面図である。
【図4】図1示した熱電素子を製造する際の位置決めを
説明する図である。
【図5】図1示した熱電素子を製造する際のハンダ付け
時の状態を示す図である。
【図6】図1示した熱電素子を製造する際に外枠を切除
する様子を示す図である。
【図7】本発明を適用した熱電素子の第2の構成例の正
面図である。
【図8】図7における下側電極、および下側ポリイミド
シートとなる部材を製造する工程を示す図である。
【図9】本発明を適用した熱電素子の第3の構成例の正
面図である。
【図10】図9における下側電極、下側ポリイミドシー
ト、および下側粘着層となる部材を製造する工程を示す
図である。
【図11】本発明を適用した熱電素子の第4の構成例の
正面図である。
【図12】図11における下側電極、および下側熱良導
性電気絶縁薄膜となる部材を製造する工程を示す図であ
る。
【図13】図1の仕切板を有しない熱電素子の正面図で
ある。
【図14】従来の熱電素子の構成を示す図である。
【符号の説明】
1 仕切板 2P p型熱電半導体素子 2N n型熱電半導体素子 3 下側電極 4 上側電極 5 下側熱良導性電気絶縁薄膜 6 上側熱良導性電気絶縁薄膜 7 下側銅薄膜 8 上側銅薄膜 9,12 外形枠 31 下側ポリイミドシート 32 上側ポリイミドシート 33 下側粘着層 34 上側粘着層 41 マスキングテープ 42 Niメッキ層+ハンダメッキ層の積層
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 35/32

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】p型熱電半導体素子およびn型熱電半導体
    素子と、 前記p型熱電半導体素子およびn型熱電半導体素子の第
    1の面に接合された第1の金属電極と、 前記p型熱電半導体素子およびn型熱電半導体素子の第
    2の面に接合された第2の金属電極と、 前記第1の金属電極または前記第2の金属電極の少なく
    とも一方に接合された熱良導性電気絶縁薄膜と、前記熱
    良導性電気絶縁薄膜に接合された金属薄膜とを備えたこ
    とを特徴とする熱電素子。
  2. 【請求項2】熱良導性電気絶縁薄膜の第1の面に金属電
    極材を接合する金属電極材接合工程と、前記熱良導性電
    気絶縁薄膜の第2の面にマスキングテープを貼り着ける
    マスキングテープ貼着工程と、前記金属電極材をエッチ
    ングして電極パターンを形成する電極形成工程と、p型
    熱電半導体素子およびn型熱電半導体素子と前記電極パ
    ターンとを接合する熱電半導体素子接合工程と、前記マ
    スキングテープを剥がすマスキングテープ剥離工程とを
    備えたことを特徴とする熱電素子の製造方法。
  3. 【請求項3】熱良導性電気絶縁薄膜の第1の面に金属電
    極材を接合する金属電極材接合工程と、前記熱良導性電
    気絶縁薄膜の第2の面に金属薄膜を接合する金属薄膜接
    合工程と、前記金属電極材をエッチングして電極パター
    ンを形成する電極形成工程と、p型熱電半導体素子およ
    びn型熱電半導体素子と前記電極パターンとを接合する
    熱電半導体素子接合工程とを備えたことを特徴とする熱
    電素子の製造方法。
  4. 【請求項4】前記電極形成工程において、前記金属電極
    材の縁部をエッチングせずに残したことを特徴とする請
    求項3記載の熱電素子の製造方法。
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