JP3777168B2 - 高電圧入力トレラントレシーバ - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、高電圧入力トレラントレシーバに関し、さらに詳しくは、内部素子の耐圧よりも高い電位と接地電位との間で変化する外部信号を受け、内部素子の耐圧よりも低い電位と接地電位との間で変化する内部信号を出力する高電圧入力トレラントレシーバに関する。
【0002】
【従来の技術】
5V駆動素子から3.3V駆動素子へのインターフェースとして図3に示す高電圧入力トレラントレシーバがある。図3を参照して、従来の高電圧入力トレラントレシーバ100は、パッド2と、クランプ回路31と、レベルキーパ60と、バッファ回路15と、ヒステリシス回路5とを含む。クランプ回路31はパッド2の出力ノードとバッファ回路15内のインバータIV1の入力ノードとの間に接続され、そのゲートに3.3V電源電位ノード10が接続されたNチャネルMOSトランジスタN1を含む。また、レベルキーパ60はPチャネルMOSトランジスタP9を含む。PチャネルMOSトランジスタP9は3.3V電源電位ノード10とインバータIV1の入力ノードとの間に接続され、そのゲートにインバータIV1の出力信号を受ける。バッファ回路15ではインバータIV1〜IV4が直列に接続され、インバータIV4から内部信号φBが出力される。
【0003】
パッド2から入力される外部信号φCが3.3V−VthN1未満の場合、クランプ回路31は外部信号φCと等しい中間信号φDを出力する。ここで、VthN1はNチャネルMOSトランジスタN1のしきい値電圧である。外部信号φCが3.3V−VthN1を越える場合、クランプ回路31は中間信号φDを3.3V−VthN1にクランプする。そのため、高電圧入力トレラントレシーバ100の内部素子は耐圧(3.6V)より高い信号を受けず、破壊されない。
【0004】
中間信号φDが3.3V−VthN1にクランプされると、レベルキーパ60内のPチャネルMOSトランジスタP9はオンされ、インバータIV1に入力される中間信号φDを3.3Vに引き上げる。その結果、インバータIV1に貫通電流が流れるのを防ぐ。
【0005】
図4は外部信号φCを0Vから5.5Vまで周期的に変化させた場合の、中間信号φD及び内部信号φBの変化並びにレベルキーパ60から流れる電流I1の変化を示した図である。
【0006】
図4を参照して、時刻t10からt20において、外部信号φCは0Vから3.3V−VthN1へと変化する。このとき、クランプ回路31から出力される中間信号φDは外部信号φCと等しい。時刻t20以降、外部信号φCは3.3V−VthN1を越える。その結果、クランプ回路31は中間信号φDを3.3V−VthN1にクランプする。クランプされた中間信号φDと接地電位GNDとの電位差がNチャネルMOSトランジスタN2のしきい値電圧VthN2を越えるため、インバータIV1内のNチャネルMOSトランジスタN2に電流が流れ、NチャネルMOSトランジスタN2はオンされる。その結果、インバータIV1は0Vの信号を出力する。このとき、インバータIV1の0Vの出力信号と3.3V電源電位との電位差がPチャネルMOSトランジスタP9のしきい値電圧Vthp9よりも大きくなるため、PチャネルMOSトランジスタP9がオンされる。よって、レベルキーパ60により中間信号φDは引き上げられ、時刻t30には3.3Vとなる。中間信号φDが3.3Vまで引き上げられれば、インバータIV1内のNチャネルMOSトランジスタN2のみが動作するため、貫通電流も抑制される。
【0007】
時刻t40以降、外部信号φCは低下し、時刻t50で中間信号φDよりも低くなるが、レベルキーパ60は動作しているため、時刻t50以降でも中間信号φDは3.3Vを維持する。外部信号φCの低下にレベルキーパ60が耐えきれなくなった時刻t60でPチャネルMOSトランジスタP9はオフとなり、その結果、時刻t60直後に中間信号φDは外部信号φCと同じになる。
【0008】
高電圧入力トレラントレシーバ100はクランプ回路31により3.3V駆動素子を保護することができ、レベルキーパ60によりインバータIV1の貫通電流を抑制できるが、以下のような問題が生じていた。
【0009】
(1)高電圧入力トレラントレシーバ内でアナログ信号が歪む
高電圧入力トレラントレシーバ100では外部信号φCが3.3V−VthN よりも高いとき、中間信号φDが3.3V−VthN1にクランプされる。よって、中間信号φDは外部信号φCと一致せず、歪みが生じる。外部信号φCがデジタル信号である場合は問題ないが、アナログ信号である場合は、高電圧入力トレラントレシーバ100に入力されたアナログ信号が歪むという問題が生じる。
【0010】
(2)高電圧入力トレラントレシーバを用いたリセット回路でリセットが機能しない
図5に示すリセット回路200でドライバ300の駆動能力が低い場合、ドライバ300からL(論理ロー)レベルの信号が出力されても、完全に0Vとはならない。高電圧入力トレラントレシーバ100はヒステリシス回路5を有しているため、高電圧入力トレラントレシーバ100の入力信号(つまり外部信号φC)がヒステリシス回路5により決定されたLレベルのしきい値電圧Vil以下にならなければ、高電圧入力トレラントレシーバ100は入力信号をHレベルと判断する。その結果、レベルキーパ60は動作し続け、高電圧入力トレラントレシーバ100はHレベルの信号を出力し続け、リセットされない。ドライバ300に流入するシンク電流が、プルアップ抵抗R100に流れる電流I2と高電圧入力トレラントレシーバ100内のレベルキーパ60から流れる電流I1との和よりも小さい場合にこの問題が生じる。
【0011】
(3)レベルキーパ60から不要な電流I1が流れる。
図4中における時刻t20から時刻t30までの間と、時刻t60以降において、レベルキーパ60から外部へ電流I1が流れる。その結果、不要な消費電力が発生する。
【0012】
【特許文献1】
特開2000−278113号公報
【0013】
【発明が解決しようとする課題】
本発明の目的は、アナログ信号歪みが少ない高電圧入力トレラントレシーバを提供することである。
【0014】
本発明の他の目的は、省電力が可能な高電圧入力トレラントレシーバを提供することである。
【0015】
【課題を解決するための手段】
本発明による高電圧入力トレラントレシーバは、内部素子の耐圧よりも高い電位と接地電位との間で変化する外部信号を受け、内部素子の耐圧よりも低い電位と接地電位との間で変化する内部信号を出力する高電圧入力トレラントレシーバであって、パッドと、制御手段と、第1のクランプ手段と、レベルキープ手段と、バッファ手段とを備える。パッドは外部信号を受ける。制御手段はパッドから入力された外部信号を受け、第1の電位よりも外部信号が高いときに第1及び第2の制御信号を出力する。第1のクランプ手段はパッドから入力された外部信号を受け、外部信号と等しい中間信号を出力し、第1の制御信号を受けたとき中間信号を第1の電位よりも低い第2の電位にクランプする。レベルキープ手段は第2の制御信号を受けたとき、中間信号を第1の電位以下である第3の電位に引き上げる。バッファ手段は中間信号を受け、内部信号を出力する。
【0016】
本発明による高電圧入力トレラントレシーバでは、外部信号が内部素子の耐圧以下である第1の電位よりも低いときは、制御手段から第1及び第2の制御信号が出力されない。このとき、レベルキープ手段は動作せず、第1のクランプ手段はパッドから入力された外部信号をそのまま中間信号として出力する。よって外部信号が第1の電位以下の場合は外部信号がアナログ信号であっても本高電圧入力トレラントレシーバ内で歪まない。
【0017】
また、外部信号が第1の電位よりも高い場合、中間信号は第1のクランプ手段により第2の電位にクランプされ、さらにレベルキープ手段により第3の電位まで引き上げられた後、バッファ手段に入力される。これにより内部素子の耐圧よりも高い外部信号が高電圧入力トレラントレシーバに入力された場合でもバッファ手段に入力される中間信号は内部素子の耐圧以下となるため、内部素子は破壊されない。さらに、第1のクランプ手段は外部信号が第1の電位よりも高くなったとき動作を行うため、レベルキープ手段の電流量を抑えることができ、高電圧入力トレラントレシーバの消費電力を低減できる。
【0018】
好ましくは、第1のクランプ手段は、第1のNチャネルトランジスタと、第1のPチャネルトランジスタとを含む。第1のNチャネルトランジスタは第3の電位を受けるゲートを有し、外部信号を受ける。第1のPチャネルトランジスタは第1のNチャネルトランジスタと並列に接続され、第1の制御信号を受けるゲートを有する。
【0019】
外部信号が第1の電位以下の場合であってさらに、第1のPチャネルトランジスタのしきい値電圧未満のとき、第1のPチャネルトランジスタはオフされる。しかしながら、第1のNチャネルトランジスタのゲート電圧からソース電圧(外部信号)を差し引いた値が第1のNチャネルトランジスタのしきい値電圧よりも大きいため、第1のNチャネルトランジスタは完全にオンされる。一方、外部信号が第1のPチャネルトランジスタのしきい値電圧を越えたとき、第1のPチャネルトランジスタのソース電圧(外部信号)からゲート電圧を差し引いた値がしきい値を越えるため、第1のPチャネルトランジスタは完全にオンされる。
【0020】
以上の結果、外部信号が第1の電位以下である場合、第1のクランプ手段内の第1のNチャネルトランジスタ及び第1のPチャネルトランジスタのいずれかがオンされた状態を保持する。よって中間信号は外部信号と等しくなる。
【0021】
さらに、外部信号が第1の電位よりも大きくなる場合、第1のPチャネルトランジスタは第1の制御信号をゲートに受ける。その結果、第1のPチャネルトランジスタはオフされる。その結果、中間信号は第1のNチャネルトランジスタにより第2の電位にクランプされ、バッファ手段は第1の電位より高い信号を受けない。よって、高電圧入力トレラントレシーバの内部素子の破壊を防止できる。
【0022】
好ましくは、バッファ手段は、中間信号を受けるインバータを含み、レベルキープ手段は、第2のPチャネルトランジスタと、第3のPチャネルトランジスタとを含む。第2のPチャネルトランジスタは第3の電位を受けるソースと、第2の制御信号を受けるゲートとを有する。第3のPチャネルトランジスタは第2のPチャネルトランジスタのドレインと第1のクランプ手段の出力ノードとの間に接続され、インバータの出力信号を受けるゲートを有する。
【0023】
この場合、外部信号が第1の電位よりも高くなった場合、第2のPチャネルトランジスタは第2の制御信号を受け、オンされる。さらに、第3のPチャネルトランジスタもオンされる。よって、レベルキープ手段は第2の電位にクランプされた中間信号を第3の電位に引き上げる。一方、外部信号が第1の電位未満の場合、第2のPチャネルトランジスタはオフとなり、レベルキープ手段は動作しない。その結果、従来と比較してレベルキープ手段の電流量は減少し、高電圧入力トレラントレシーバの省電力化が可能となる。
【0024】
好ましくは、制御手段は、スイッチ手段と、第2のクランプ手段と、差動増幅回路とを含む。スイッチ手段は外部信号が第1の電位よりも高いとき外部信号と等しい第1の制御信号を出力する。第2のクランプ手段は第1の制御信号を受けたとき、第1の制御信号を第1の電位よりも低い電位にクランプする。差動増幅回路はクランプされた第1の制御信号を受け、第2の制御信号を出力する。
【0025】
この場合、スイッチ手段は外部信号が第1の電位よりも高くなるまで第1の制御信号を出力しない。外部信号が第1の電位よりも高くなった場合、スイッチ手段は外部信号と等しい第1の制御信号を第1のクランプ手段に出力する。その結果、第1のクランプ手段は外部信号が第1の電位よりも高くなった場合に外部信号を第2の電位にクランプできる。
【0026】
また、第2のクランプ手段は、受けた第1の制御信号を第2の電位にクランプして差動増幅回路に出力する。その結果、差動増幅回路は第1電位よりも高い信号を受けず、内部素子の破壊を防止できる。
【0027】
差動増幅回路は第2のクランプ手段によりクランプされた第1の制御信号を受け、第2の制御信号を出力する。そのため、外部信号が第1の電位よりも高いときにだけレベルキープ手段を動作させることができる。よって、レベルキープ手段の電流量は減少する。
【0028】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面を参照して詳しく説明する。図中同一又は相当部分には同一符号を付してその説明を援用する。
【0029】
[高電圧入力トレラントレシーバの構成]
図1を参照して、高電圧入力トレラントレシーバ1は、パッド2と、クランプ回路3と、レベルキーパ6と、制御回路4と、動作回路7と、ヒステリシス回路5と、バッファ回路15と、出力ノード8とを備える。
【0030】
クランプ回路3はパッド2とバッファ回路15の入力ノードとの間に接続される。クランプ回路3はNチャネルMOSトランジスタN1とPチャネルMOSトランジスタP1とを含む。NチャネルMOSトランジスタN1とPチャネルMOSトランジスタP1とは並列に接続される。NチャネルMOSトランジスタN1のゲートは3.3V電源電位ノード10に接続される。PチャネルMOSトランジスタP1のゲートは制御回路4に接続される。クランプ回路3はパッド2から入力された外部信号φCを受け、中間信号φDを出力する。
【0031】
制御回路4は、スイッチ回路14と、クランプ回路12と、差動増幅回路9とを含む。スイッチ回路14はPチャネルMOSトランジスタP10を含む。PチャネルMOSトランジスタP10はパッド2と動作回路7との間に接続され、そのゲートは電圧Vgを受ける。スイッチ回路14は外部信号φCを受け、制御信号φEを出力する。外部信号φCが高電圧入力トレラントレシーバ1の内部素子の耐圧である3.6Vを越えるとPチャネルMOSトランジスタP10はオンされ、制御信号φEは外部信号φCと同じになる。電圧Vgは外部信号φCが3.6Vを越えたときPチャネルMOSトランジスタP10がオンされるように設定される。PチャネルMOSトランジスタP10のしきい値電圧が1.64Vの場合、電圧Vgは1.96Vに設定される。制御信号φEはクランプ回路12及びクランプ回路3内のPチャネルMOSトランジスタP1のゲートに出力される。
【0032】
クランプ回路12はNチャネルMOSトランジスタN8を含む。NチャネルMOSトランジスタN8はスイッチ回路14とPチャネルMOSトランジスタP13のゲートとの間に接続され、そのゲートは3.3V電源電位ノード10を受ける。クランプ回路12は制御信号φEを受け、信号φGを出力する。制御信号φEが3.3V−VthN8よりも大きい場合、クランプ回路12は信号φGを3.3V−VthN8にクランプする。ここで、VthN8はNチャネルMOSトランジスタN8のしきい値電圧である。
【0033】
差動増幅回路9はPチャネルMOSトランジスタP11〜P14とNチャネルMOSトランジスタN9,N10と抵抗素子R1とを含む。PチャネルMOSトランジスタP11,P12と抵抗素子R1とは定電流源を構成する。PチャネルMOSトランジスタP11とP12とはカレントミラーを構成する。PチャネルMOSトランジスタP11及びP12のソースはともに3.3V電源電位ノード10に接続される。抵抗素子R1はPチャネルMOSトランジスタP11のドレインと接地電位ノード30との間に接続される。PチャネルMOSトランジスタP13及びP14のソースはともにPチャネルMOSトランジスタP12のドレインに接続される。NチャネルMOSトランジスタN9はPチャネルMOSトランジスタP13と接地電位ノード30との間に接続され、NチャネルMOSトランジスタN10はPチャネルMOSトランジスタP14と接地電位ノード30との間に接続される。NチャネルMOSトランジスタN9とN10とはカレントミラーを構成する。PチャネルMOSトランジスタP14のゲートは基準電位Vref(=1.65V)を受ける。一方、PチャネルMOSトランジスタP13のゲートはクランプ回路12からの出力信号φGを受ける。差動増幅回路9は出力ノード11から制御信号φFを出力する。
【0034】
バッファ回路15はインバータIV1〜IV4を含む。インバータIV1〜IV4はクランプ回路3と出力ノード8との間に直列に接続される。インバータIV1は3.3V電源電位ノード10と接地電位ノード30との間に直列に接続されたPチャネルMOSトランジスタP2とNチャネルMOSトランジスタN2とを含む。インバータIV2は3.3V電源電位ノード10と接地電位ノード30との間に直列に接続されたPチャネルMOSトランジスタP3とNチャネルMOSトランジスタN3とを含む。インバータIV3は内部電源電位Vddノード20と接地電位ノード30との間に直列に接続されたPチャネルMOSトランジスタP4とNチャネルMOSトランジスタN4とを含む。インバータIV4は内部電源電位Vddノード20と接地電位ノード30との間に直列に接続されたPチャネルMOSトランジスタP5とNチャネルMOSトランジスタN5とを含む。インバータIV4は内部信号φBを出力ノード8に出力する。
【0035】
レベルキーパ6は、直列に接続されたPチャネルMOSトランジスタP8及びP9を含む。PチャネルMOSトランジスタP8のソースは3.3V電源電位ノード10に接続され、そのゲートは制御回路4から出力された制御信号φFを受ける。PチャネルMOSトランジスタP9のドレインはクランプ回路3の出力ノードとインバータIV1の入力ノードとに接続され、そのゲートはインバータIV1の出力信号を受ける。
【0036】
ヒステリシス回路5はノイズ対策で設けられた回路である。ヒステリシス回路5は直列に接続されたインバータIV5及びIV6を含む。また、動作回路7は高電圧入力トレラントレシーバ1を起動させるための回路である。動作回路7はNチャネルMOSトランジスタN11及びN12を含み、それらのゲートには高電圧入力トレラントレシーバ1を動作させるためのレシーバイネーブル信号REが入力される。
【0037】
[高電圧入力トレラントレシーバの動作]
外部信号φCを0Vから5.5Vまで周期的に変化させた場合の高電圧入力トレラントレシーバ1の動作について図2を参照して説明する。なお、図2の動作中、動作回路7内に入力されるレシーバイネーブル信号REはH(論理ハイ)レベルであり、高電圧入力トレラントレシーバ1は起動している。
【0038】
時刻t1では、パッド2から入力される外部信号φCは0Vである。
【0039】
クランプ回路3は外部信号φCと同じ0Vの中間信号φDを出力する。具体的には、クランプ回路3内のNチャネルMOSトランジスタN1のゲート電圧(3.3V)からソース電圧(=外部信号φC)を差し引いた値はNチャネルMOSトランジスタN1のしきい値電圧VthN1よりも大きい。よって、NチャネルMOSトランジスタN1は完全にオンされ、その出力信号(=中間信号φD)は外部信号φCと同じ0Vとなる。
【0040】
スイッチ回路14は0Vの制御信号φEを出力する。PチャネルMOSトランジスタP10のソース電圧(φC=0V)からゲート電圧Vg(=1.96V)を差し引きした値はPチャネルMOSトランジスタP10のしきい値電圧VthP10(=1.64V)よりも小さくなる。よって、PチャネルMOSトランジスタP10はオフとなる。NチャネルMOSトランジスタN11及びN12はオンになっているため、PチャネルMOSトランジスタP10から出力される制御信号φEは0Vである。
【0041】
制御回路4中のNチャネルMOSトランジスタN8はゲートに3.3Vを受け、ソースに0Vの制御信号φEを受ける。その結果、ゲートソース電圧がNチャネルMOSトランジスタN8のしきい値電圧VthN8を越え、NチャネルMOSトランジスタN8は完全にオンされる。よって、NチャネルMOSトランジスタN8から出力される信号φGは制御信号φEと同じ0Vとなる。
【0042】
差動増幅回路9はPチャネルMOSトランジスタP13のゲートに0Vの信号φGを受ける。信号φGは基準電圧Vref(=1.65V)よりも小さいため、出力ノード11から出力される制御信号φFはHレベル(=3.3V)となる。Hレベルの制御信号φFを受けたPチャネルMOSトランジスタP8はオフとなるため、レベルキーパ6は動作しない。
【0043】
時刻t1から外部信号φCが3.6Vとなる時刻t2までの間、外部信号φCは単位時間当たり一定の割合で増加する。この間、外部信号φCは3.6Vよりも小さいため、PチャネルMOSトランジスタP10のソース電圧(外部信号φC)からゲート電圧Vg(=1.96V)を差し引いた値はしきい値電圧VthP10(=1.64V)を越えない。そのため、PチャネルMOSトランジスタP10はオフのままであり、制御信号φEは0Vのままである。0Vの信号φEを受け、クランプ回路12は0Vの信号φGを出力する。差動増幅回路9は0Vの信号φGを受けるため、Hレベルの制御信号φFを出力する。レベルキーパ6はHレベルの制御信号φFを受けるため、動作しない。
【0044】
時刻t1から時刻t2までの間、クランプ回路3から出力される中間信号φDは外部信号φCと同じになる。具体的には、外部信号φCがPチャネルMOSトランジスタP1のしきい値電圧VthP1未満のとき、PチャネルMOSトランジスタP1はオフされるが、NチャネルMOSトランジスタN1のゲートソース電圧(=3.3V−外部信号φC)がしきい値電圧VthN1よりも大きいため、NチャネルMOSトランジスタN1は完全にオンされる。
【0045】
一方、外部信号φCがしきい値電圧VthP1を越えたとき、PチャネルMOSトランジスタP1のソース電圧(=外部信号φC)からゲート電圧(=制御信号φE=0V)を差し引いた値がしきい値VthP1を越えるため、PチャネルMOSトランジスタP1は完全にオンされる。
【0046】
以上の結果、時刻t1からt2までの間では、クランプ回路3内のNチャネルMOSトランジスタN1及びPチャネルMOSトランジスタP1のいずれかがオンされた状態を保持する。よって中間信号φDは外部信号φCと等しくなり、外部信号φCがアナログ信号であっても、高電圧入力トレラントレシーバ1内で歪まない。
【0047】
時刻t2以降で外部信号φCは3.6Vを超える。このとき、PチャネルMOSトランジスタP10において、ソース電圧(=外部信号φC)からゲート電圧Vg(=1.96V)を差し引いた値がしきい値電圧VthP10(=1.64V)を越えるため、PチャネルMOSトランジスタP10は完全にオンされる。そのため、制御信号φEは外部信号φCと等しくなる。
【0048】
クランプ回路3内のPチャネルMOSトランジスタP1はソースに外部信号φCを受け、ゲートに外部信号φCと等しい制御信号φEを受ける。そのため、PチャネルMOSトランジスタP1はオフされる。一方、NチャネルMOSトランジスタN1はドレインに外部信号φCを受け、ゲートに3.3Vを受けるため、3.3V−VthN1のクランプされた信号を出力する。その結果、クランプ回路3から出力される中間信号φDは3.3V−VthN1でクランプされる。ただし、後述するように、中間信号φDはレベルキーパ6により3.3Vに引き上げられるため、図2中には3.3V−VthN1でクランプされた中間信号φDは表れない。
【0049】
制御回路4内のNチャネルMOSトランジスタN8はゲートに3.3Vを受け、ドレインに制御信号φEを受けるため、信号φGを3.3V−VthN8にクランプする。クランプ回路12が信号φGをクランプすることで、差動増幅回路9のPチャネルMOSトランジスタP13に耐圧よりも高い信号φGを出力しない。よってPチャネルMOSトランジスタP13のゲート酸化膜の信頼性は確保でき、差動増幅回路9は破壊されない。3.3V−VthN8の信号φGを受け、差動増幅回路9は出力ノード11からLレベル(0V)の制御信号φFを出力する。
【0050】
レベルキーパ6内のPチャネルMOSトランジスタP8はゲートに0Vの制御信号φFを受け、ソースに3.3Vを受けるため、ソース電圧からゲート電圧を差し引いた値がしきい値電圧VthP8を越える。そのため、PチャネルMOSトランジスタP8は完全にオンされる。PチャネルMOSトランジスタP9はゲートにインバータIV1の出力信号を受ける。時刻t1以降であって外部信号φCがNチャネルMOSトランジスタN2のしきい値電圧VthN2を越えたときからインバータIV1の出力信号は0Vとなる。よって、時刻t2でPチャネルMOSトランジスタP9はそのゲートに0Vの出力信号を受けており、オンされる。PチャネルMOSトランジスタP8及びP9がともにオンされるため、レベルキーパ6は中間信号φDを3.3Vに引き上げる。
【0051】
以上の動作により、外部信号φCが3.6Vを越えた後、中間信号φDは3.3Vに固定される。このときノード13からレベルキーパ6へ電流I1が流れるが、従来のレベルキーパ60と比較して、電流I1の流れる量は小さく抑えることができる。レベルキーパ6はインバータIV1の出力信号がLレベルのときに動作するのではなく、外部信号φCが3.6Vを越えたときに動作するためである。
【0052】
時刻t3以降、外部信号φCは単位時間当たり一定の割合で5.5Vから減少する。外部信号φCが3.6V以下となった時刻t4以降で、PチャネルMOSトランジスタP10のソース電圧(外部信号φC)からゲート電圧Vgを差し引いた値がしきい値VthP10よりも小さくなる。そのためPチャネルMOSトランジスタP10はオフとなり、制御信号φEは急速に低下する。PチャネルMOSトランジスタP1のソース電圧(外部信号φC)からゲート電圧(制御信号φE)を差し引いた値がしきい値電圧VthP1を越えたとき、PチャネルMOSトランジスタP1は再びオンされる。そのため、クランプ回路3から出力される中間信号φDは外部信号φCと再び等しくなる。
【0053】
制御回路4内のNチャネルMOSトランジスタN8はゲートソース電圧がしきい値電圧VthN8よりも大きくなるため、制御信号φEと等しい信号φGを出力する。信号φGが基準電圧Vref(=1.65V)よりも低くなる時刻t5で差動増幅回路9は3.3Vの制御信号φFを出力する。このときレベルキーパ6内のPチャネルMOSトランジスタP8のソース電圧(3.3V)からゲート電圧(3.3V)を差し引いた値は0となり、しきい値電圧VthP8より小さくなるため、PチャネルMOSトランジスタP8はオフされる。レベルキーパ6はその動作を停止し、中間信号φDを引き上げないため、中間信号φDは外部信号φCと同じになる。レベルキーパ6が動作を停止するまでの間にレベルキーパ6からノード13に電流I1が流れる。しかしながら時刻t5でレベルキーパ6の動作を停止させることで、従来の電流量よりも小さく抑えることができる。
【0054】
なお、本実施の形態では、高電圧入力トレラントレシーバ1の内部素子の耐圧を3.6Vと想定して、外部信号φCが3.6Vを越えたとき制御回路4内のPチャネルMOSトランジスタP10が完全にオンされるようにゲート電圧Vgを1.96Vと設定した。内部素子の耐圧より大きい外部信号φCが高電圧入力トレラントレシーバ1に入力されることで、内部素子が破壊されるのを防止するためである。よって内部素子の耐圧が3.6Vでなく、他の値であっても、高電圧入力トレラントレシーバ1の内部素子の耐圧に基づいてPチャネルMOSトランジスタP10のゲート電圧Vgを決定すればよい。また、3.3V電源電位も内部素子の耐圧よりも低い電源電位であれば他の値であってもよい。
【0055】
以上、本発明の実施の形態を説明したが、上述した実施の形態は本発明を実施するための例示に過ぎない。よって、本発明は上述した実施の形態に限定されることなく、その趣旨を逸脱しない範囲内で上述した実施の形態を適宜変形して実施することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態による高電圧入力トレラントレシーバの全体構成を示す回路図である。
【図2】図1に示した高電圧入力トレラントレシーバの動作を示すタイミング図である。
【図3】従来の高電圧入力トレラントレシーバの全体構成を示す回路図である。
【図4】図3に示した高電圧入力トレラントレシーバの動作を示すタイミング図である。
【図5】リセット回路の全体構成を示す回路図である。
【符号の説明】
1,100 高電圧入力トレラントレシーバ
2 パッド
3,30 クランプ回路
4 制御回路
6,60 レベルキーパ
9 バッファ回路
12 クランプ回路
14 スイッチ回路

Claims (6)

  1. 内部素子の耐圧よりも高い電位と接地電位との間で変化する外部信号を受け、前記内部素子の耐圧よりも低い電位と接地電位との間で変化する内部信号を出力する高電圧入力トレラントレシーバであって、
    前記外部信号を受けるパッドと、
    前記パッドから入力された外部信号を受け、第1の電位よりも前記外部信号が高いときに第1及び第2の制御信号を出力する制御手段と、
    前記パッドから入力された外部信号を受け、前記外部信号と等しい中間信号を出力し、前記第1の制御信号を受けたとき、前記中間信号を前記第1の電位よりも低い第2の電位にクランプする第1のクランプ手段と、
    前記第2の制御信号を受けたとき、前記中間信号を前記第1の電位以下である第3の電位に引き上げるレベルキープ手段と、
    前記中間信号を受け、前記内部信号を出力するバッファ手段とを備えることを特徴とする高電圧入力トレラントレシーバ。
  2. 請求項1に記載の高電圧入力トレラントレシーバであって、
    前記第1のクランプ手段は、
    前記第3の電位を受けるゲートを有し、前記外部信号を受ける第1のNチャネルトランジスタと、
    前記第1のNチャネルトランジスタと並列に接続され、前記第1の制御信号を受けるゲートを有する第1のPチャネルトランジスタとを含むことを特徴とする高電圧入力トレラントレシーバ。
  3. 請求項1又は請求項2に記載の高電圧入力トレラントレシーバであって、
    前記バッファ手段は、前記中間信号を受けるインバータを含み、
    前記レベルキープ手段は、
    前記第3電位を受けるソースと、前記第2の制御信号を受けるゲートとを有する第2のPチャネルトランジスタと、
    前記第2のPチャネルトランジスタのドレインと前記第1のクランプ手段の出力ノードとの間に接続され、前記インバータの出力信号を受けるゲートを有する第3のPチャネルトランジスタとを含むことを特徴とする高電圧入力トレラントレシーバ。
  4. 請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載の高電圧入力トレラントレシーバであって、
    前記制御手段は、
    前記外部信号が前記第1の電位よりも高いとき前記外部信号と等しい前記第1の制御信号を出力するスイッチ手段と、
    前記第1の制御信号を受けたとき、前記第1の制御信号を前記第1の電位よりも低い電位にクランプする第2のクランプ手段と、
    前記クランプされた第1の制御信号を受け、前記第2の制御信号を出力する差動増幅回路とを含むことを特徴とする高電圧入力トレラントレシーバ。
  5. 請求項4に記載の高電圧入力トレラントレシーバであって、前記スイッチ手段は、前記外部信号を受けるソースを有し、前記外部信号が前記第1の電位よりも高いときにオンされる第4のPチャネルトランジスタを含むことを特徴とする高電圧入力トレラントレシーバ。
  6. 請求項4又は請求項5に記載の高電圧入力トレラントレシーバであって、
    前記第2のクランプ手段は、前記第3の電位を受けるゲートを有し、前記第1の制御信号を受ける第2のNチャネルトランジスタを含むことを特徴とする高電圧入力トレラントレシーバ。
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US7589561B1 (en) * 2006-09-29 2009-09-15 Marvell International Ltd. Tolerant CMOS receiver
US8638132B2 (en) * 2009-12-30 2014-01-28 Stmicroelectronics S.R.L. Transmission channel for ultrasound applications
US9669427B2 (en) * 2012-01-24 2017-06-06 Texas Instruments Incorporated Methods and systems for ultrasound control with bi-directional transistor
US9671427B2 (en) 2013-04-24 2017-06-06 Keysight Technologies, Inc. Dual output high voltage active probe with output clamping and associated methods
US9423422B2 (en) * 2013-04-24 2016-08-23 Keysight Technologies, Inc. Oscilloscope probe having output clamping circuit

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5966026A (en) * 1995-02-14 1999-10-12 Advanced Micro Devices, Inc. Output buffer with improved tolerance to overvoltage
JP3429455B2 (ja) 1999-03-29 2003-07-22 松下電器産業株式会社 入出力回路
KR100378201B1 (ko) * 2001-06-29 2003-03-29 삼성전자주식회사 전원전압 이상의 입력신호를 용인하는 신호전송회로
US6441670B1 (en) * 2001-08-15 2002-08-27 International Business Machines Corporation 5V-tolerant receiver for low voltage CMOS technologies
KR100495667B1 (ko) * 2003-01-13 2005-06-16 삼성전자주식회사 아날로그/디지털 입력 모드를 제공하는 입출력 버퍼

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