JP3772033B2 - 電子回路ユニット - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、携帯電話機に使用される送受信ユニット等の電子回路ユニットに関する。
【0002】
【従来の技術】
従来の電子回路ユニットを図5〜図7に基づいて説明すると、図5は従来の電子回路ユニットをマザー基板に取り付けた状態を示す側面図、図6は従来の電子回路ユニットに係り、レジストを取り除いた状態の下面図、図7は従来の電子回路ユニットの反りの状態を示す説明図である。
【0003】
そして、従来の電子回路ユニット21は、図5〜図7に示すように、絶縁体が多層に積層されてなる絶縁基板22と、この絶縁基板22の上面22aに設けられた回路パターン(図示せず)に接続されて、上面22aに搭載された抵抗、コンデンサ、IC部品等の電気部品23と、回路パターンに接続された状態で、絶縁基板22の側縁部22bを通して下面22cに引き出されたサイド電極24と、サイド電極24を除いて下面22cの全面に、銅箔がベタ状に形成された接地パターン25と、接地パターン25の上面に形成されたレジスト26とで構成されている。
【0004】
そして、このような電子回路ユニット21は、図5に示すように、マザー基板27上に載置され、マザー基板27に設けた導電パターン(図示せず)にサイド電極24を半田28付けして取り付けられ、電子回路ユニット21がマザー基板27に面実装されるようになっている。
このような電子回路ユニット21は、一般に種々の試験が行われるが、マザー基板27に電子回路ユニット21を面実装した状態で、温度サイクル試験を行った結果、絶縁基板22の外周部の反りが大きく、マザー基板27の導電パターンとサイド電極24との間の半田28による接続が破壊して、接続不良が多く発生した。
【0005】
そこで、このような半田28の接続破壊を分析した結果、図7に示すように、厚さが1mmの絶縁基板22を使用した時、絶縁基板22の中央部を基準として、外周部で反りが発生し、その反りTが0.2mmの大きさであった。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
従来の電子回路ユニットは、絶縁基板22の下面22cのほぼ全面に、ベタ状態で接地パターン25が設けられた構成であるため、側縁部22bの周辺での反りが大きく、電子回路ユニット21をマザー基板27に半田28付けした状態で、外部環境下で使用した際、接続不良を多く発生するという問題がある。
【0007】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するための第1の解決手段として、絶縁基板の一方の面には、回路パターンが設けられて、この回路パターンに電気部品が接続されて搭載され、また、前記絶縁基板の他方の面には、ほぼ全面に、パターン除去部を有する網目状の接地パターンを形成し、前記接地パターンは、前記絶縁基板の外周部における前記接地パターンの面積を、前記絶縁基板の中央部における前記接地パターンの面積より少なくした構成とした。
また、第2の解決手段として、前記絶縁基板の外周部における前記接地パターンの幅を、前記絶縁基板の中央部における前記接地パターンの幅より狭い幅で形成した構成とした
【0008】
【発明の実施の形態】
本発明の電子回路ユニットを図1〜図4に基づいて説明すると、図1は本発明の電子回路ユニットをマザー基板に取り付けた状態を示す側面図、図2は本発明の電子回路ユニットの第1の実施例に係り、レジストを取り除いた状態の下面図、図3は本発明の電子回路ユニットの第2の実施例に係り、レジストを取り除いた状態の下面図、図4は本発明の電子回路ユニットの反りの状態を示す説明図である。
【0009】
そして、本発明の電子回路ユニット1の第1の実施例は、図1、図2に示すように、絶縁体が多層に積層されてなる絶縁基板2と、この絶縁基板2の上面2aに設けられた回路パターン(図示せず)に接続されて、上面2aに搭載された抵抗、コンデンサ、IC部品等の電気部品3と、回路パターンに接続された状態で、絶縁基板2の側縁部2bを通して下面2cに引き出されたサイド電極4と、サイド電極4を除いて下面2cのほぼ全面に、多数のパターン除去部5aを有する網目状に形成された接地パターン5と、接地パターン5の上面に形成されたレジスト6とで構成されている。
【0010】
また、第1の実施例では、図2に示すように、パターン除去部5aは、矩形状で形成されて、接地パターン5が網目状となっており、この実施例では、パターン除去部5aの幅A1を0.4mm、パターン除去部5a間の幅A2を同じく0.4mmとして、整列されたパターン除去部5aを備えた網目状の接地パターン5を形成したものである。
【0011】
また、図3は本発明の第2の実施例を示し、この実施例における接地パターン5は、絶縁基板2の外周部における接地パターン5の面積を、絶縁基板2の中央部における接地パターン5の面積よりも少なくしたものである。
そして、その具体的な構成の一例として、図3に示すように、絶縁基板2の外周部におけるパターン除去部5aの幅A3を0.6mm、パターン除去部5a間の幅A4を0.2mmとし、また、絶縁基板2の中央部におけるパターン除去部5aの幅A5を0.4mm、パターン除去部5a間の幅A6を同じく0.4mmとして、絶縁基板2の外周部における接地パターン5の幅A4を、絶縁基板2の中央部における接地パターン5の幅A6よりも狭く形成して、外周部における接地パターン5の面積を、中央部における接地パターン5の面積よりも少なくしたものである。
【0012】
そして、このような電子回路ユニット1は、図1に示すように、マザー基板7上に載置され、マザー基板7に設けた導電パターン(図示せず)にサイド電極4を半田8付けして取り付けられ、電子回路ユニット1がマザー基板7に面実装されるようになっている。
このような電子回路ユニット1は、一般に種々の試験が行われるが、マザー基板7に電子回路ユニット1を面実装した状態で、温度サイクル試験を行った結果、絶縁基板2の反りが小さく、マザー基板7の導電パターンとサイド電極4との間の半田8による破壊が少なく、接続不良の発生を少なくできる結果を得た。
【0013】
そして、上記第1と第2の実施例における絶縁基板2の反りを分析した結果、図4に示すように、厚さが1mmの絶縁基板22を使用した時、第1の実施例においては、絶縁基板2の中央部を基準として、外周部で反りが発生するが、その反りt1が0.1mm、また、第2の実施例においては、その反りt1が0.03mmとなり、何れも従来に比して小さくできるものであった。
【0014】
【発明の効果】
本発明の電子回路ユニットは、絶縁基板2の下面2cにおいて、ほぼ全面に、パターン除去部5aを有する網目状の接地パターン5を設けたもであるため、従来に比して、絶縁基板2の外周部における反りを小さくでき、マザー基板7との半田8による接続不良を少なくできる電子回路ユニットを提供できる。
また、接地パターン5は、絶縁基板5の外周部における接地パターン5の面積を、絶縁基板2の中央部における接地パターン5の面積よりも少なくすることにより、一層、絶縁基板2の外周部における反りを小さくできて、接続不良の極めて少ない電子回路ユニットを提供できる。
また、絶縁基板2の外周部における接地パターン5の幅を、絶縁基板2の中央部における接地パターン5の幅よりも狭い幅で形成することにより、一層、絶縁基板2の外周部における反りを小さくできて、接続不良の極めて少ない電子回路ユニットを提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の電子回路ユニットをマザー基板に取り付けた状態を示す側面図。
【図2】本発明の電子回路ユニットの第1の実施例に係り、レジストを取り除いた状態の下面図。
【図3】本発明の電子回路ユニットの第2の実施例に係り、レジストを取り除いた状態の下面図。
【図4】本発明の電子回路ユニットの反りの状態を示す説明図。
【図5】従来の電子回路ユニットをマザー基板に取り付けた状態を示す側面図。
【図6】従来の電子回路ユニットに係り、レジストを取り除いた状態の下面図。
【図7】従来の電子回路ユニットの反りの状態を示す説明図。
【符号の説明】
1 電子回路ユニット
2 絶縁基板
2a 上面
2b 側縁部
2c 下面
3 電気部品
4 サイド電極
5 接地パターン
5a パターン除去部
6 レジスト
7 マザー基板
8 半田
A1 幅
A2 幅
A3 幅
A4 幅
A5 幅
A6 幅

Claims (2)

  1. 絶縁基板の一方の面には、回路パターンが設けられて、この回路パターンに電気部品が接続されて搭載され、また、前記絶縁基板の他方の面には、ほぼ全面に、パターン除去部を有する網目状の接地パターンを形成し、前記接地パターンは、前記絶縁基板の外周部における前記接地パターンの面積を、前記絶縁基板の中央部における前記接地パターンの面積より少なくしたことを特徴とする請求項1記載の電子回路ユニット。
  2. 前記絶縁基板の外周部における前記接地パターンの幅を、前記絶縁基板の中央部における前記接地パターンの幅より狭い幅で形成したことを特徴とする請求項1記載の電子回路ユニット。
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