JP3710931B2 - マイクロコンピュータ - Google Patents
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Description
【発明が属する技術分野】
本発明は、フラッシュメモリ等の不揮発性メモリを内蔵したマイクロコンピュータ(以下マイコンと称す)に関し、特に、メモリのテストを効率的に行うための機能を付加したマイコンに関する。
【0002】
【従来の技術】
メモリセルが単一のトランジスタからなる電気的に消去可能なプログラマブルROM(EEPROM:Electricaly Erasable Programmable ROM)においては、フローティングゲートとコントロールゲートを有する2重ゲート構造のトランジスタによって各メモリセルが構成される。このような2重ゲート構造のトランジスタの場合、フローティングゲートのドレイン側で発生したホットエレクトロンをソース側へ加速し、ゲート絶縁膜を通過させてフローティングゲートに注入することにより情報の書き込みが行われ、注入されたホットエレクトロンをフローティングゲートから抜き取ることによって消去が行われる。そして、フローティングゲートに電荷が注入されたか否かによるメモリセルトランジスタの動作特性の差を検出することで、情報の読み出しが行われる。
【0003】
特に、セクター(128バイト)毎の一括消去及び書き込みが可能な不揮発性メモリは、フラッシュメモリと呼ばれる。
このような不揮発性メモリをマイコンのプログラムメモリあるいはデータメモリとして内蔵する、いわゆるフラッシュマイコンが開発されている。図3は、フラッシュマイコンの概略ブロック図であり、マイコンのCPU部分5と不揮発性メモリ6で構成される。不揮発性メモリ6の書き込み及び読み出しを制御する制御信号*CE、*OE、*WE及びアドレス信号ADは、CPU部分5から印加され、また、データDATAもCPU部分5との間でやりとりされる。
【0004】
通常の動作状態では、マイコンのプログラムによって、必要に応じて、不揮発性メモリ6の書き込みを行うが、この時、制御信号*CE、*OE、*WEは、プログラムの実行によりCPU部分5によって発生され、同様にアドレスAD及び書き込むデータDATAもCPU部分5から印加される。即ち、通常の動作状態では、不揮発性メモリ6は、CPU部分5によって制御される。
【0005】
また、このようなマイコンでは、不揮発性メモリ6のテストを行うために、外部から直接PROMライターによって書き込み及びテストができるように構成されている。即ち、マイコンをテスト状態にすると、入出力端子I/Oが直接不揮発性メモリ6の制御信号*CE、*OE、*WEとアドレスADとデータDATAに接続されるようになり、外部から直接不揮発性メモリ6を制御可能になる。
【0006】
図4は、マイコンに内蔵された不揮発性メモリの一部ブロック図である。図に於いて、発振回路1は、クロック信号CLKを発生するためのリング発振器であり、その出力はタイマーカウンター2に印加される。タイマーカウンター2は、バイナリーカウンタで構成され、所定段の出力A1、A2及びA3が制御回路3に印加される。電源検出回路4は、電源電圧の投入又は低下を検出し書き込み禁止信号STOPWを制御回路3に印加する。制御回路3は、制御信号*CE、*OE、*WEの信号と、タイマーカウンタ2の出力A1、A2及びA3と、書き込み禁止信号STOPWとに基づき、不揮発性メモリセルの内部書き込み信号WRT、消去モード信号ERASE、書き込みモード信号PROG、リコールモード信号RECALLを発生する。
【0007】
図4に示された回路に於いて、電源投入後、テスト装置によって、セクター単位の書き込みを行う場合の制御回路3の動作について、図5のタイミング図を参照して説明する。
まず、セクター単位の書き込みを行うために、マイコンに電源を印加するとともに図示しないマイコンの端子にテスト信号を与えることによってテストモードにする。これにより、制御信号*OE、*CE、*WE、アドレスAD、及び、データDATAは、マイコンの外部端子から印加可能となる。そこで、制御信号*OEを「H」レベルとした状態で、制御信号*CE及び*WEを「L」レベルにする。電源が印加されたとき電源検出回路4は、その電源電圧の立ち上がりを検出して、書き込み禁止信号STOPWに電源の立ち上がりと同期した「H」レベルのパルスを出力する。制御回路3は、外部からの制御信号*CE及び*WEの立ち下がりにより、制御回路3内部のフラグ(フリップフロップで構成されるが図示せず)がセットされ、通常は内部書き込み信号WRTを「H」レベルにするのであるが、この書き込み禁止信号STOPWにより、フラグがリセット状態に保持され、内部書き込み信号WRTの「H」レベル出力が禁止される。同時に、制御回路3は、タイマーカウンタ2をリセットする。タイマーカウンタ2は、リセット後、発振回路1のクロックCLKのカウントを開始し、一定時間後、例えば、1.6msec後に分周出力A1を発生する。この分周出力A1により、制御回路3のフラグがセットされ、内部書き込み信号WRTが「H」レベルになって、書き込み禁止が解除される。従って、電源投入から内部書き込み信号WRTが「H」レベルになるまでの期間が書き込み禁止期間となる。
内部書き込み信号WRTが「H」レベルになると、不揮発性メモリは、書き込み可能状態になる。その後、制御信号*CE及び*WEをクロッキングすることにより、印加されたアドレスで指定される不揮発性メモリのバッファ(図示せず)に1セクタ(128バイト)分のデータが書き込まれる。制御信号*CE、*WEの128回のクロッキング終了に基づき、制御回路3は、リコールモード信号RECALLを「H」レベルとする。このリコールモードは、既に不揮発性メモリの中に記憶されている1セクタ分の情報を読み出し、バッファに書き込まれたデータに対して書き換える必要の無いデータについては、そのデータを再度書き込むためにバッファに保持するためのモードである。
リコールモードが終了し、信号RECALLが「L」レベルとなると、制御回路3は、消去モード信号ERASEを「H」レベルとし、不揮発性メモリの1セクタ分の消去動作を開始させる。一方、消去モード信号「H」の発生と同期して、制御回路3は、タイマーカウンタ2をリセットする。不揮発性メモリの消去動作は、フローティングゲートに注入された電荷をコントロールゲートに引き抜く動作であり、1セクタのメモリセルの消去が一括で行われるが、個々のメモリセルのばらつきにより、その消去時間にもばらつきがある。従って、すべてのメモリセルの消去が完了するのに十分な時間をタイマーカウンタ2で設定している。例えば、リセットされてから1.6msec後に分周出力A2が発生すると、制御回路3は、消去モード信号ERASEを「L」レベルにする。これにより、消去動作が終了する。
この消去モード信号ERASEの終了を受けて、制御回路3は、書き込みモード信号PROGRAMを「H」レベルにし、消去されたセクタの書き込み動作を開始させる。また、書き込みの開始と同期してタイマーカウンタ2のリセットを行う。この書き込み動作は、バッファに保持された128バイトのデータを一括で書き込むのであるが、メモリセルの書き込み特性にばらつきがあるため、書き込み終了までに十分な時間を要する。そのために、書き込み時間は、例えば、3.2msecに設定され、タイマーカウンタ2のリセットから3.2msec後に出力される分周出力A3により、制御回路3は、書き込みモード信号PROGRAMを「L」レベルにし、書き込み動作を終了させる。これにより、セクター単位の書き込みが終了する。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
上述した不揮発性メモリを製造して出荷する際には、テスターによって、図5に示すようなセクター単位の書き込みテストを行う。この時、不揮発性メモリ6は、内蔵される制御回路3によって内部回路の動作が制御されているため、外部のテスターには、その動作状態及び進行状況が把握できなかった。従って、全ての動作が完了した時点で、その被テストマイコンが正常かどうかの判定しかできなかった。即ち、不揮発性メモリの制御回路が正しく動作し、正しく各モード信号が出力されているか否かの判定ができないので、制御回路が不良であっても途中でのテストの中止ができずテスト時間が長くなる不都合があった。
【0009】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上述した点に鑑みて、創作されたものであり、書き込み及び読み出しを制御するための制御信号に基づいて内部信号を発生し、該内部信号に従って動作する不揮発性メモリを内蔵するマイクロコンピュータに於いて、前記不揮発性メモリのテストを行うテストモード状態で、テスト用の信号の入力又は出力を入出力端子から可能とするゲート回路を備え、テスト時に前記制御信号を前記入出力端子から供給するとともに前記内部信号を前記入出力端子から取り出し可能としたことを特徴とする。
【0010】
更に、前記不揮発性メモリは、内部発振回路と、該内部発振回路の出力を計数するカウンタと、該カウンタの分周出力と前記書き込み及び読み出しを制御するための制御信号に基づいて内部の書き込み及び読み出しを制御する内部制御信号を発生する制御回路を備え、テストモード時に前記制御回路からの内部制御信号が前記入出力端子から出力されることを特徴とするものである。
【0011】
これにより、不揮発性メモリ内蔵のマイクロコンピュータのテスト時間が短縮できるものである。
【0012】
【発明の実施の形態】
図1は、本発明の実施形態を示すマイコンの概略ブロック図であり、CPU部分7及び不揮発性メモリ8で構成される。不揮発性メモリ8は、図4の構成と同一であり、制御回路3から出力される内部書き込み信号WRT、リコール信号RECALL、消去モード信号ERASE、書き込みモード信号PROG、及び、電源検出回路4の出力信号STOPWがCPU部分7に印加される。
【0013】
CPU部分7は、通常の動作状態では、マイコンのプログラムによって、必要に応じて、不揮発性メモリ8の書き込みを行うが、この時、制御信号*CE、*OE、*WEは、プログラムの実行によりCPU部分7によって発生され、同様にアドレスAD及び書き込むデータDATAもCPU部分7から印加される。
一方、CPU部分7は、不揮発性メモリ6のテストを行うために、外部から直接PROMライターによって書き込み及びテストができるように構成されている。即ち、マイコンをテスト状態にすると、入出力端子I/Oが直接不揮発性メモリ6の制御信号*CE、*OE、*WEとアドレスADとデータDATAに接続されるようになり、外部から直接不揮発性メモリ6を制御可能になると同時に、不揮発性メモリ8の内部書き込み信号WRT、リコール信号RECALL、消去モード信号ERASE、書き込みモード信号PROG、及び、電源検出回路4の出力信号STOPWが入出力端子I/Oから出力される。
【0014】
図2は、CPU部分7の入出力回路の一部ブロック図である。データバスDATABUSに入力Lが接続されたラッチ回路9は、出力命令の実行によって発生するラッチクロックφOUTによって、データバスDATABUSに転送されたデータをラッチして入出力端子I/Oに出力する出力レジスタを構成する。また、入力Lが入出力端子I/Oに接続され、出力QがデータバスDATABUSに接続されたラッチ回路10は、入力命令の実行によって発生するラッチクロックφINによって、入出力端子I/Oに印加されたデータをラッチしてデータバスDATABUSに出力する入力レジスタを構成する。
【0015】
また、ラッチ回路9の出力Qと入出力端子I/Oの間には、テストモード信号*TESTと出力イネーブル信号OUTENAの論理積信号によって制御されるクロックドバッファ11が設けられる。更に、1つの入出力端子I/Oにその入力が接続されたクロックドバッファ12が設けられ、その出力は不揮発性メモリ8の制御信号*WEとして出力され、一方の入出力端子I/Oには、その出力が接続されたクロックドバッファ13が設けられ、その入力には不揮発性メモリ8の内部書き込み信号WRTが印加される。
【0016】
通常の動作状態では、テストモード信号TESTは「L」レベル、*TESTは「H」レベルであるため、クロックドバッファ12、13は、非動作状態にあり、不揮発性メモリ8と入出力端子I/Oは分離される。一方、出力命令が実行された時には、出力イネーブル信号OUTENAが「H」レベルになるため、クロックドバッファ11は、動作状態になり、ラッチ回路9にラッチされたデータがクロックドバッファ11を介して入出力端子I/Oに出力される。また、入力命令が実行されると、出力イネーブル信号OUTENAは、「L」レベルとなるため、クロックドバッファ11は、非動作状態になり、入出力端子I/Oに印加されたデータがラッチ回路10に取り込まれる。
【0017】
不揮発性メモリ8のテストを行う場合には、図示しないテスト用の端子にテスト信号を印加して、マイコンをテストモード状態にする。これにより、テストモード信号TESTが「H」レベル、*TESTが「L」レベルとなるため、クロックドバッファ11は、非動作状態となる。一方、クロックバッファ12及び13は、動作状態となる。この状態で、入出力端子I/Oに制御信号*WEを印加すると、クロックドバッファ12を介して制御信号*WEが不揮発性メモリ8に印加される。また、不揮発性メモリ8の内部書き込み信号WRTは、クロックドバッファ13を介して入出力端子I/Oから出力される。
【0018】
同様に、制御信号*OE、*CE、及び、消去モード信号ERASE、書き込みモード信号PROG、リコールモード信号RECALL、電源検出回路4の検出信号STOPWも図2の回路と同一の回路によって、入出力端子I/Oと直接接続されることになる。従って、テストモードにおいては、マイコン外部の入出力端子I/Oを使用して直接に不揮発性メモリのテストを行うことができるものである。
【0019】
【発明の効果】
上述の如く、本発明によれば、マイコンに内蔵される不揮発性メモリのテスト時には外部から印加する制御信号で制御でき、また、不揮発性メモリの内部信号もマイコンの入出力端子から取り出すことができるため、テスタにおいて直接不揮発性メモリの状態が把握できる。従って、不揮発性メモリの制御回路の不良もテストの終了を待たずして発見できるので、テスト時間が短縮できる利点を有する。更に、マイコンの入出力端子を兼用しているので特に端子を増設する必要もない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態を示すブロック図である。
【図2】図1に示されたブロックの一部を示す回路図である。
【図3】従来例を示すブロック図である。
【図4】マイコンに内蔵された不揮発性メモリの一部ブロック図である。
【図5】不揮発性メモリのセクタ単位の書き込みを示すタイミング図である。
【符号の説明】
1 発振回路
2 タイマーカウンタ
3 制御回路
4 電源検出回路
5、7 CPU
6、8 不揮発性メモリ
9、10 ラッチ回路
11、12、13 クロックドバッファ
Claims (3)
- 不揮発性メモリを備え、前記不揮発性メモリは、前記不揮発性メモリの書き込み及び読み出しを制御するための制御信号に基づいて前記不揮発性メモリの状態を表す内部信号を発生する制御手段を含み前記内部信号に従って動作するマイクロコンピュータにおいて、
前記不揮発性メモリのテストを行うテストモード状態で、前記制御信号と前記内部信号の入力又は出力を前記マイクロコンピュータの入出力端子から可能とするゲート回路を備え、
前記ゲート回路は、前記不揮発性メモリの書き込み及び読み出しを制御するための前記制御信号を前記入出力端子から供給するとともに、前記不揮発性メモリの状態を表す前記内部信号を前記入出力端子から取り出し可能としたことを特徴とするマイクロコンピュータ。 - 不揮発性メモリを備え、前記不揮発性メモリは、前記不揮発性メモリの書き込み及び読み出しを制御するための制御信号に基づいて前記不揮発性メモリの状態を表す内部信号を発生する制御手段を含み前記内部信号に従って動作するマイクロコンピュータにおいて、
前記不揮発性メモリのテストを行うテストモード状態で、前記制御信号の入力を前記マイクロコンピュータの第1入出力端子から可能とする第1ゲート回路と、
前記不揮発性メモリのテストを行うテストモード状態で、前記内部信号の出力を前記マイクロコンピュータの第2入出力端子から可能とする第2ゲート回路と、を備え、
前記第1ゲート回路は、前記不揮発性メモリの書き込み及び読み出しを制御するための前記制御信号を前記第1入出力端子から供給するとともに、前記第2ゲート回路は、前記不揮発性メモリの状態を表す前記内部信号を前記第2入出力端子から取り出し可能としたことを特徴とするマイクロコンピュータ。 - 前記制御手段は、内部発振回路と、該内部発振回路の出力を計数するカウンタと、該カウンタの分周出力と前記不揮発性メモリの書き込み及び読み出しを制御するための前記制御信号に基づいて前記不揮発性メモリの状態を表す前記内部信号を発生する制御回路とを備え、テストモード時に前記制御回路からの前記内部信号が前記入出力端子から出力されることを特徴とする請求項1記載のマイクロコンピュータ。
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