JP3681692B2 - 電子機器 - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、表示パネルのパネル基板，ＴＡＢ基板，フレキシブル基板のうちの少なくとも２つを相互に接続する接続箇所に設けられ、該接続箇所の接続不良を簡易に確認するために設けられる検査用マーク及びこの検査用マークを付した表示パネル，ＴＡＢ基板又はフレキシブル基板を備えた電子機器に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
携帯電話や携帯情報端末（ＰＤＡ）の普及によって、小型且つ薄型で表示能力が高い表示パネルが求められており、液晶表示パネルや有機ＥＬ（エレクトロルミネッセンス）表示パネルがその要求を満たす表示パネルとして採用されている。
【０００３】
このような表示パネルの表示能力を向上させるためには、各表示素子の光制御特性又は発光特性を向上させることは勿論であるが、表示パネルに対する電子部品の実装を高精度に行うことが重要な要因となる。
【０００４】
図９を参照して、前述した表示パネルに対する電子部品の実装工程について説明する。表示パネルにはＴＡＢ（Tape Automated bonding：テープ自動化実装）基板やＦＰＣ（Flexible Printed Circuit：フレキシブルプリント基板）といった電子部品が接続されるが、ここでは表示パネルとＴＡＢ基板の接続を例にして説明する。
【０００５】
表示パネル５０のパネル基板５１には、その端部に表示パネル５０のリード５１ａが引き出されており、このリード５１ａに対して、ＴＡＢ基板５２のリード５２ａをＡＣＦ（Anisotropic Conductive Film：異方性導電膜）５３を介して接続する。パネル基板５１におけるリード５１ａによって形成された接続領域の左右両側にはアライメントマーク５１ｂが設けられており、このアライメントマーク５１ｂとこれに重なり合うＴＡＢ基板５２側のアライメントマーク５２ｂとを撮像装置５４によって撮影し、その撮影像を観察又は画像処理して、表示パネル５０とＴＡＢ基板５２とが所定の位置関係になるように図示省略した調整機構により位置調整を行う。
【０００６】
そして、その調整の完了後に、パネル基板５１の端部とＴＡＢ基板５２の端部とをＡＣＦ５３を挟んで互いに重ね合わせた状態で、その重ね合わせ部分を仮圧着ヘッド５５で押さえつけ、これによって、パネル基板５１とＴＡＢ基板５２とをＡＣＦ５３によって仮圧着する。
【０００７】
この仮圧着処理の後、アライメントマーク位置検査とゴミ等の付着検査を行い、これらの検査に合格したもののみを本圧着工程に移行させる。本圧着工程においては、仮圧着部分に所定の温度及び所定の圧力を所定時間加えて、パネル基板５１とＴＡＢ基板５２とを完全に圧着する。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
前述したようなアライメントマークを利用して位置調整を行ったとしても、撮像画像の有する分解能の問題や、基板ガラス，ＴＡＢ基板，ＦＰＣ等の個別の形成誤差の問題があり、高密度化されたリードのそれぞれを完全に位置合わせすることは困難な状況にある。また、位置調整後に仮圧着又は本圧着を行う過程で位置ズレや圧着不良が生じて、接続不良を引き起こすこともある。
【０００９】
そして、特に有機ＥＬ表示パネルのような電流注入型の表示素子からなる表示パネルの場合には、微妙な位置ズレによって、接続されたリード間の接触面積が減少して注入電流値に悪影響が生じ、各リード間の接続が確保されていても接触面積の減少によって表示性能が劣化する問題があり、電圧駆動される液晶表示パネル等と比較して、より厳密な位置合わせ精度が求められている。そこで、有機ＥＬ表示パネルの場合には、パネル基板，ＴＡＢ基板等を本圧着した後に、目視検査を行って、まず目視によって確認できる程度に不良が明らかなものを第１段階として排除し、残されたものに対して更に顕微鏡検査を行い、リード間の接触面積が適正に確保されているか否かの検査を行っている。
【００１０】
ここで、顕微鏡検査は高負荷の作業であるから、できる限りその前段階の目視検査で不良品を排除し、顕微鏡検査の対象を少なくしたい。しかしながら、目視検査でリード間の接触面積の良否を把握することは不可能であり、また、前述の位置調整用のアライメントマークも目視検査によって不良を確認するには微細すぎて使い物にならない。したがって、目視検査工程では圧着不良等の明らかな不良品のみしか排除できず、顕微鏡検査工程の負荷が軽減できないという問題があった。
【００１１】
本発明は、このような問題に対処するために提案されたものであって、顕微鏡検査工程前の簡易検査工程で高精度に不良品を排除でき、顕微鏡検査工程での負荷を軽減できるようにすることを目的とするものである。
【００１２】
【課題を解決するための手段】
前述の目的を達成するために、本発明は以下の特徴を具備するものである。
【００１３】
本発明は、一つには、表示パネルのパネル基板，ＴＡＢ基板又はフレキシブル基板を備え、前記表示パネルのパネル基板，ＴＡＢ基板，フレキシブル基板のうちの少なくとも２つを相互に接続する接続箇所の接続良否を確認することができる電子機器であって、前記接続箇所に検査用マークが設けられ、前記各基板上の接続領域の中心位置から該接続領域の長手方向に設けた各アライメントマークを結ぶ直線上にそれぞれ設けた前記検査用マークを接続対象間で組み合わせて一対の検査用マークを形成し、接続後の前記一対の検査用マーク間の電気的導通を検知することによって前記接続良否を確認することを特徴とする。
【００１４】
また一つには、前述の電子機器において、前記電気的導通の検知は、前記各検査用マークに接続される検査判定回路によってなされることを特徴とする。
【００１５】
また一つには、前述の電子機器において、前記電気的導通の検知は、前記検査用マークに接続される発光素子の点灯によってなされることを特徴とする。
【００１６】
また一つには、前述の電子機器において、前記発光素子は、表示パネルのパネル基板上に形成される表示素子の一形態として、該表示素子と同時に形成されることを特徴とする。
【００１７】
また一つには、前述の電子機器において、前記一対の検査用マークは、三角形状の検査用マークの頂点を互いに突き合わせた１組の検査用マークからなることを特徴とする。
【００１８】
また一つには、前述の電子機器において、前記一対の検査用マークは、前記１組の検査用マークを接続時の頂点間距離が異なるように少なくとも２組設けたことを特徴とする。
【００１９】
また一つには、表示パネルのパネル基板，ＴＡＢ基板又はフレキシブル基板を備え、前記表示パネルのパネル基板とＴＡＢ基板又はフレキシブル基板を相互に接続する接続箇所の接続良否を確認することができる電子機器であって、前記表示パネルのパネル基板上に形成される表示素子の一形態として、該表示素子と同時に前記パネル基板上に形成される発光素子を備え、前記接続箇所に検査用マークが設けられ、前記各基板にそれぞれ設けた前記検査用マークを接続対象間で組み合わせて一対の検査用マークを形成し、接続後の前記一対の検査用マーク間の電気的導通を、前記検査用マークに接続される前記発光素子の点灯によって検知し、前記接続良否を確認することを特徴とする。
【００２０】
また一つには、表示パネルのパネル基板，ＴＡＢ基板又はフレキシブル基板を備え、前記表示パネルのパネル基板，ＴＡＢ基板，フレキシブル基板のうちの少なくとも２つを相互に接続する接続箇所の接続良否を確認することができる電子機器であって、前記接続箇所に検査用マークが設けられ、前記各基板にそれぞれ設けた前記検査用マークを接続対象間で組み合わせて一対の検査用マークを形成し、前記一対の検査用マークは、三角形状の検査用マークの頂点を互いに突き合わせた１組の検査用マークからなり、接続後の前記一対の検査用マーク間の電気的導通を検知することによって前記接続良否を確認することを特徴とする。
【００２１】
また一つには、表示パネルのパネル基板，ＴＡＢ基板又はフレキシブル基板を備え、前記表示パネルのパネル基板，ＴＡＢ基板，フレキシブル基板のうちの少なくとも２つを相互に接続する接続箇所の接続良否を確認することができる電子機器であって、前記接続箇所に検査用マークが設けられ、前記各基板にそれぞれ設けた前記検査用マークを接続対象間で組み合わせて一対の検査用マークを形成し、前記一対の検査用マークは、頂点を互いに突き合わせた１組の検査用マークからなり、該１組の検査用マークを接続時の頂点間距離が異なるように少なくとも２組設け、接続後の前記一対の検査用マーク間の電気的導通を検知することによって前記接続良否を確認することを特徴とする。
【００２２】
前述した各請求項の特徴によると、以下の作用をなす。従来のアライメントマークは、表示パネル，ＴＡＢ基板，フレキシブル基板を相互に接続する接続箇所にそれぞれ設けられるものではあるが、接続時の位置合わせに用いられるものであって、接続後の接続不良を簡易に検査する検査用のマークとしては微細すぎて採用できない。
【００２３】
本発明の電子機器における検査用マークは、接続後の位置ズレを、検査用マーク間の電気的導通性を検知することにより簡易に確認できるようにしたものである。
【００２４】
そして、本発明の一つの特徴によると、接続後に一対の検査用マーク間の電気的導通性を検知し、導通が確認されれば接続良、導通が確認されなければ接続不良と判断する。この場合、接続対象の各基板に形成される検査用マークは、接続箇所の電極等と同様に導電性を有し、ＡＣＦを介して圧着することによって、重なりが生じた部分で電気的導通性が確保できるように形成される。また、接続箇所の左右両側にそれぞれ一対の検査用マークを設けて、左右のマーク対が共に導通性を確認した場合に接続良と判断することもできる。そして、各基板上の接続領域の中心位置から接続領域の長手方向に設けた各アライメントマークを結ぶ直線上にそれぞれ設けた検査用マークを接続対象間で組み合わせて一対の検査用マークを形成しているので、アライメントマーク同士を合わせるように位置合わせを行った場合の角度ズレを一対の検査用マーク間のズレに拡大して認識することができるようになる。これによって、微少な角度ズレを検査用マーク間の電気的導通性によって確認することができる。
【００２５】
また、一つには、基板間の接続後に、一対の検査用マークに検査判定回路の端子をそれぞれ接続して、検査判定回路が検査用マーク対間の導通性を示せば接続良、導通性を示さなければ接続不良と判断することもできる。さらに、一対の検査用マークの何れかに発光素子を接続して、基板間の接続後に、一対の検査用マークを介して発光素子へ電源供給を行う。これによって、発光素子が点灯した場合には接続良、点灯しなかった場合には接続不良と判断することができる。前記の検査用発光素子を表示パネル基板に形成される表示素子の一形態として、表示素子形成時に表示素子と共に予め形成しておくこともできる。これによると、別途発光素子を接続する手間が省け検査作業を効率化することができる。
【００２６】
また、一対の検査用マークを、三角形状の検査用マークの頂点を互いに突き合わせたものにすることによって、僅かな位置ズレを導通不良として検知することが可能になり、検査精度を向上させることができる。更には、三角形状の検査用マークの頂点を互いに突き合わせた検査用マークを、接続時の頂点間距離が異なるように少なくとも２組設けてもよく、接続箇所の左右両側に検査用マーク対を形成するスペースが無い場合には、接続箇所の片側のみに検査用マークを設けることで、接続箇所の左右両側に検査用マーク対を形成したものと同様の検査効果を得ることができる。
【００２７】
そして、前述の検査用マークを設けた本発明の電子機器は、検査の効率が向上し、良好な接続状態のものを効率よく生産することが可能になる。
【００２８】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態を図面を参照して説明する。図１は本発明の一実施形態を示す説明図であって、表示パネルに対する電子部品の実装形態と検査マークの配置を示している。図において、１は有機ＥＬ表示パネル、２，３はＴＡＢ基板、４はフレキシブル基板を示している。
【００２９】
有機ＥＬ表示パネル１のパネル基板１０においては、画面領域１０ａから信号線となるリード１０ｂ，１０ｃが引き出されており、このリード１０ｂ，１０ｃはそれぞれ収束されて、ＴＡＢ基板２，３のリード２ａ，３ａと、それぞれ接続領域１１，１２で接続されている。２ｂ，３ｂはＴＡＢ基板２，３に搭載された駆動用ＩＣを示している。
【００３０】
ＴＡＢ基板２，３のフレキシブル基板４側のリード２ｃ，３ｃは、フレキシブル基板４上の接続領域１３，１４においてフレキシブル基板４における接続線に接続されている。そして、前述した接続領域１１，１２，１３，１４の近傍には、アライメントマーク１１ａ，１１ｂ、１２ａ，１２ｂ，１３ａ，１３ｂ，１４ａ，１４ｂが、パネル基板１０、ＴＡＢ基板２，３、フレキシブル基板４のそれぞれに設けられている。
【００３１】
このような表示パネルの実装形態において、パネル基板１０、ＴＡＢ基板２，３、フレキシブル基板４のそれぞれに検査用マークが設けられている。検査用マークは、符号１５ａ，１５ｂ，１５ｃ，１５ｄで示すものがパネル基板１０に設けられたもの、符号２０ａ，２０ｂ，２０ｃ，２０ｄで示すものがＴＡＢ基板２に設けられたもの、符号３０ａ，３０ｂ，３０ｃ，３０ｄで示すものがＴＡＢ基板３に設けられたもの、符号４０ａ，４０ｂ，４０ｃ，４０ｄで示すものがフレキシブル基板４に設けられたものである。これらの検査用マークは、それぞれ導電性の材料によって形成され、ＡＣＦを介して圧着することによって、重なりが生じた部分で電気的導通性が確保できるように形成される。
【００３２】
この検査用マークは、正確な実装状態においては、接続領域１１，１２，１３，１４の左右に位置して、各接続領域の中心軸に対して左右対称に設けられている。そして、各々のマークは三角形状をなし、接続対象間のマークの組み合わせがその頂点を突き合わせて一対のマークを形成しており、各接続領域の左右で一対の検査用マークの頂点が互いに接触している状態が正確な接続状態となるように位置設定されている。このような位置設定を得るためには、例えば各基板のアライメントマークを結ぶ直線上に各検査用マークの頂点が位置するように設定すればよい。
【００３３】
このような検査用マークによる簡易検査の一例を図２によって説明する。ここでは接続領域１１の片側を例に示しているが、その逆側及び他の接続領域も同様に行われる。ＴＡＢ基板２は、ＡＣＦ１６を介してパネル基板１０に圧着して接続されているが、ＴＡＢ基板２側の検査用マーク２０ａとパネル基板１０側の検査用マーク１５ａも同様に圧着されて、検査用マーク２０ａ，１５ａ間の重なり部分で両検査用マーク間の導通性が得られるようにしている。そして、検査時には、これらの検査用マーク２０ａ，１５ａに検査判定回路１７を接続し、この検査用マーク１５ａ，２０ａ間に電気的導通性が有るか否かを検査判定回路１７によって検知する。
【００３４】
このような検査用マークの機能を図３を参照しながら説明する。パネル基板１０側にはアライメントマーク１１ａの軸上に検査用マーク１５ａが設けられており、ＴＡＢ基板２側には同様にアライメントマーク１１ａの軸上に検査用マーク２０ａが設けられている。ここでは、接続領域１１において、パネル基板１０側のリード１０ｂとＴＡＢ基板２側のリード２ａをＡＣＦを介して圧着して接続するにあたって、角度θの位置ズレが生じている。これによって、リード１０ｂ，２ａ間の接触面積は斜線で示す領域となって正確な接続状態と比較するとかなり減少している。有機ＥＬ表示パネル１においては、このような接続基板間の角度ズレが表示性能に大きく影響するのでこれを検査工程で見付けて排除する必要がある。しかしながら、この程度の位置ズレの場合には、接続領域１１やアライメントマーク１１ａを目視検査しただけでは位置ズレの状態を把握することはできない。
【００３５】
これに対して、接続領域１１の中心位置Ｏから接続領域の長手方向に向けて設定距離ａだけ離れた位置に三角形状の検査用マーク２０ａを設けることにより、微少な角度ズレθをｙ＝ａ・ｓｉｎθとなるｙ方向のズレに拡大して認識することが可能になる。このズレによって、頂点を突き合わせた三角形状の検査用マークはお互いの頂点が離間した状態になり、検査用マーク間の電気的導通性が得られなくなる。これを前述の検査判定回路１７によって検知して、位置ズレによる接続不良を確認する。これによると、極微少な角度ズレを検査用マーク間の電気的導通性によって確認することが可能になる。
【００３６】
また、接続領域の長手方向（ｘ方向）にも位置ズレが生じて、検査用マーク１５ａ，２０ａの頂点に間隙ｘが生じる場合にも同様の検知が可能である。しかしながら、ｘ方向の位置ズレの場合には、接続領域１１の片側で検査用マーク２０ａ，１５ａ間の導通が検知されたとしても、検査用マーク２０ａと検査用マーク１５ａが重なる方向に位置ズレが生じていることが考えられので、接続領域１１の逆側においても検査用マークに検査判定回路１７を接続して導通性を検知する必要がある。そして、左右両方の検査判定回路１７で検査用マーク間の導通を検知できた場合のみを「良」とし、左右何れかの検査判定回路１７が非導通を検知した場合には「不良」とすることで、接続領域の長手方向（ｘ方向）の位置ズレを簡易に検査することができる。
【００３７】
図４は、他の実施形態を示す説明図である。前述の実施形態では、検査用マーク間の導通検知を検査判定回路によって行ったが、この実施形態では、判定結果を視認できるように発光素子を設けている。すなわち、図２の実施形態と同様に、ＴＡＢ基板２は、ＡＣＦ１６を介してパネル基板１０に圧着して接続されており、ＴＡＢ基板２側には検査用マーク２０ａが形成され、パネル基板１０側には検査用マーク１５ａが形成されている。そして、パネル基板１０上には接地された電源供給ランド５１を有する発光素子５０が設けられ、配線５２を介して検査用マーク１５ａに接続されている。また、ＴＡＢ基板２上には電源供給ランド５３が形成され、配線５４によって検査用マーク２０ａに接続されている。
【００３８】
検査時には、電源供給ランド５１，５３に触針或いは導電ゴムなどで電源供給がなされる。検査用マーク１５ａ，２０ａの頂点が接触して導通が確保されていると、発光素子５０が点灯するので、これによって位置ズレが無いことを視認することができる。この発光素子５０は、パネル基板１０の形成後に個別に設置しても良いが、有機ＥＬ表示パネル等の表示素子用パネル基板であれば、パネル基板上に形成される表示素子の形成時に、この表示素子の一形態として検査用の発光素子５０を同時形成することもできる。
【００３９】
また、この実施形態では、図５に示すように、各接続領域に形成される複数の発光素子５０を一箇所にまとめて形成し、検査時の視認性を向上させることもできる。この際には、分散して配置される各検査用マークと発光素子５０とはパネル基板１０上に別途形成した接続用の配線で接続される。また、複数の発光素子５０を形成する場合には、一対の電源供給ランド５１，５３を共用して、ここから各発光素子へ延びる配線を各基板上に形成してもよい。
【００４０】
図６は他の実施形態を示す説明図である。この実施形態では、前述した一対のマークとして、一組の検査用マーク１５ａ，２０ａをＡ，Ｂの２組設けて、接続時の頂点間隔が異なるように設定している。これによると、同図（ａ）に示すように、一方のＡ側の組が導通（ＯＮ）で他方のＢ側の組が非導通（ＯＦＦ）となっている場合に、「良」と判断する。これに対して、左方向に圧着ズレが生じて（同図（ｂ）参照）、Ａ，Ｂが共に導通（ＯＮ）となった場合や、右方向に圧着ズレが生じて（同図（ｃ）参照）、Ａ，Ｂが共に非導通（ＯＦＦ）となった場合に、「不良」と判断する。これによると、接続領域の片側にこの検査用マークを設けるだけで、接続領域の両側に検査用マークを設けたものと同様に接続領域の長手方向のズレを検知して接続不良の判断を行うことが可能になる。ここでの接続不良の判断は、前述の検査判定回路１７によっても良いし、前述の発光素子５０によっても良い。
【００４１】
なお、本発明による検査用マークの形態は、前述したような三角形状のマークを左右に設けてその頂点を互いに突き合わせた形態に限定されるものではない。図７は本発明の検査用マークとして適用できる他の形態例を示す図である。同図（ａ）に示すマークの例は、三角形状のマークを上下に並べてその頂点を互いに突き合わせ、接続対象の一方に上側のマークを他方に下側のマークを設けたものである。マークが設けられるスペースによって、このようにマークを上下に配置してもよい。
【００４２】
同図（ｂ）〜（ｅ）に示すマークの例は、ａ側のマークを接続対象の一方側に設け、ｂ側のマークを接続対象の他方側に設けたものであり、両者が四方に適正な間隔を有して形成された場合に電気的導通が非導通となり、位置ズレが生じるとマークがａ，ｂ間で重なって電気的な導通が生じることになるもので、電気的な導通が確認できた場合に接続不良と判断することができる。前述の各実施例では、パネル基板とＴＡＢ基板との接続について説明したが、ＣＯＧ（Cip On Glass）を含むパネル基板とフレキシブル基板等の他の組み合わせでも本発明は有効である。
【００４３】
図８に示すフローよって、前述した各実施形態の検査工程を含む基板接続作業を、パネル基板にＴＡＢ基板を接続する作業を例にして説明する。前述の従来技術で示したように、仮圧着工程が終了したものは、搬送されて本圧着処理装置にセットされるが、必要に応じて仮圧着工程終了時に一度簡易検査が行われる。このように、各工程の前段階で不良品を排除することで、その後の工程の負荷を軽減させることができる。
【００４４】
次に、前述したように仮圧着部分に所定の温度及び所定の圧力を所定時間加えて、パネル基板１０とＴＡＢ基板２との接続領域１１（又は１２）をＡＣＦを介して本圧着する。そして、本圧着を行ったものは本圧着処理装置から排出され、これに対して更に簡易検査がなされる。各工程での簡易検査の要否は生産性との兼ね合いで適宜決定させる。
【００４５】
この簡易検査では、前述の検査判定回路１７又は発光素子５０の点灯又は非点灯によって接続良否の判定がなされる。この簡易検査でズレが確認できるもの（ＮＧ）は接続不良として廃棄又はリサイクルに回し、この簡易検査に合格したもの（Ｇ)に対してのみ顕微鏡検査を行う。顕微鏡検査では、接続領域１１（又は１２）のリードの接触面積を顕微鏡画像によって詳細にチェックして、接触面積が規定の状態を満たしているもののみを合格（Ｇ）とする。また、この規定に満たないもの（ＮＧ）は不良品として廃棄するか又はリサイクルに回す。
【００４６】
このような検査用マークをパネル基板１０，ＴＡＢ基板２，３，フレキシブル基板４のそれぞれに設けることによって、簡易な検査によって不良品を見つけ出す割合が高まり、負荷の高い顕微鏡検査を行う対象を少なくすることができる。
【００４７】
【発明の効果】
本発明は、このように構成されるので、表示パネル，ＴＡＢ基板，フレキシブル基板の接続作業後の検査において、簡易な検査工程で高精度に不良品を排除することができ、顕微鏡検査工程での負荷を軽減できるので、効率的な検査作業を行うことが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施形態を示す説明図であって、表示パネルに対する電子部品の実装形態と検査用マークの配置を示す説明図である。
【図２】実施形態における接続領域の構造を示す説明図である。
【図３】本発明の一実施形態を示す説明図であって、検査用マークの機能を示す説明図である。
【図４】本発明の他の実施形態を示す説明図である。
【図５】本発明の他の実施形態を示す説明図である。
【図６】本発明の他の実施形態を示す説明図である。
【図７】本発明の検査用マークとして適用できる他の形態例を示す図である。
【図８】本発明の実施形態の作業工程を示す説明図である。
【図９】従来の表示パネルに対する電子部品の実装工程を示す説明図である。
【符号の説明】
１ 有機ＥＬ表示パネル
２，３ ＴＡＢ基板
４ フレキシブル基板
１０ パネル基板
１１，１２，１３，１４ 接続領域
１５ａ〜１５ｄ，２０ａ〜２０ｄ，３０ａ〜３０ｄ，４０ａ〜４０ｄ
検査用マーク
１６ ＡＣＦ
１７ 検査判定回路
５０ 発光素子
５１，５３ 電源供給ランド
５２，５４ 配線
【発明の属する技術分野】
本発明は、表示パネルのパネル基板，ＴＡＢ基板，フレキシブル基板のうちの少なくとも２つを相互に接続する接続箇所に設けられ、該接続箇所の接続不良を簡易に確認するために設けられる検査用マーク及びこの検査用マークを付した表示パネル，ＴＡＢ基板又はフレキシブル基板を備えた電子機器に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
携帯電話や携帯情報端末（ＰＤＡ）の普及によって、小型且つ薄型で表示能力が高い表示パネルが求められており、液晶表示パネルや有機ＥＬ（エレクトロルミネッセンス）表示パネルがその要求を満たす表示パネルとして採用されている。
【０００３】
このような表示パネルの表示能力を向上させるためには、各表示素子の光制御特性又は発光特性を向上させることは勿論であるが、表示パネルに対する電子部品の実装を高精度に行うことが重要な要因となる。
【０００４】
図９を参照して、前述した表示パネルに対する電子部品の実装工程について説明する。表示パネルにはＴＡＢ（Tape Automated bonding：テープ自動化実装）基板やＦＰＣ（Flexible Printed Circuit：フレキシブルプリント基板）といった電子部品が接続されるが、ここでは表示パネルとＴＡＢ基板の接続を例にして説明する。
【０００５】
表示パネル５０のパネル基板５１には、その端部に表示パネル５０のリード５１ａが引き出されており、このリード５１ａに対して、ＴＡＢ基板５２のリード５２ａをＡＣＦ（Anisotropic Conductive Film：異方性導電膜）５３を介して接続する。パネル基板５１におけるリード５１ａによって形成された接続領域の左右両側にはアライメントマーク５１ｂが設けられており、このアライメントマーク５１ｂとこれに重なり合うＴＡＢ基板５２側のアライメントマーク５２ｂとを撮像装置５４によって撮影し、その撮影像を観察又は画像処理して、表示パネル５０とＴＡＢ基板５２とが所定の位置関係になるように図示省略した調整機構により位置調整を行う。
【０００６】
そして、その調整の完了後に、パネル基板５１の端部とＴＡＢ基板５２の端部とをＡＣＦ５３を挟んで互いに重ね合わせた状態で、その重ね合わせ部分を仮圧着ヘッド５５で押さえつけ、これによって、パネル基板５１とＴＡＢ基板５２とをＡＣＦ５３によって仮圧着する。
【０００７】
この仮圧着処理の後、アライメントマーク位置検査とゴミ等の付着検査を行い、これらの検査に合格したもののみを本圧着工程に移行させる。本圧着工程においては、仮圧着部分に所定の温度及び所定の圧力を所定時間加えて、パネル基板５１とＴＡＢ基板５２とを完全に圧着する。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
前述したようなアライメントマークを利用して位置調整を行ったとしても、撮像画像の有する分解能の問題や、基板ガラス，ＴＡＢ基板，ＦＰＣ等の個別の形成誤差の問題があり、高密度化されたリードのそれぞれを完全に位置合わせすることは困難な状況にある。また、位置調整後に仮圧着又は本圧着を行う過程で位置ズレや圧着不良が生じて、接続不良を引き起こすこともある。
【０００９】
そして、特に有機ＥＬ表示パネルのような電流注入型の表示素子からなる表示パネルの場合には、微妙な位置ズレによって、接続されたリード間の接触面積が減少して注入電流値に悪影響が生じ、各リード間の接続が確保されていても接触面積の減少によって表示性能が劣化する問題があり、電圧駆動される液晶表示パネル等と比較して、より厳密な位置合わせ精度が求められている。そこで、有機ＥＬ表示パネルの場合には、パネル基板，ＴＡＢ基板等を本圧着した後に、目視検査を行って、まず目視によって確認できる程度に不良が明らかなものを第１段階として排除し、残されたものに対して更に顕微鏡検査を行い、リード間の接触面積が適正に確保されているか否かの検査を行っている。
【００１０】
ここで、顕微鏡検査は高負荷の作業であるから、できる限りその前段階の目視検査で不良品を排除し、顕微鏡検査の対象を少なくしたい。しかしながら、目視検査でリード間の接触面積の良否を把握することは不可能であり、また、前述の位置調整用のアライメントマークも目視検査によって不良を確認するには微細すぎて使い物にならない。したがって、目視検査工程では圧着不良等の明らかな不良品のみしか排除できず、顕微鏡検査工程の負荷が軽減できないという問題があった。
【００１１】
本発明は、このような問題に対処するために提案されたものであって、顕微鏡検査工程前の簡易検査工程で高精度に不良品を排除でき、顕微鏡検査工程での負荷を軽減できるようにすることを目的とするものである。
【００１２】
【課題を解決するための手段】
前述の目的を達成するために、本発明は以下の特徴を具備するものである。
【００１３】
本発明は、一つには、表示パネルのパネル基板，ＴＡＢ基板又はフレキシブル基板を備え、前記表示パネルのパネル基板，ＴＡＢ基板，フレキシブル基板のうちの少なくとも２つを相互に接続する接続箇所の接続良否を確認することができる電子機器であって、前記接続箇所に検査用マークが設けられ、前記各基板上の接続領域の中心位置から該接続領域の長手方向に設けた各アライメントマークを結ぶ直線上にそれぞれ設けた前記検査用マークを接続対象間で組み合わせて一対の検査用マークを形成し、接続後の前記一対の検査用マーク間の電気的導通を検知することによって前記接続良否を確認することを特徴とする。
【００１４】
また一つには、前述の電子機器において、前記電気的導通の検知は、前記各検査用マークに接続される検査判定回路によってなされることを特徴とする。
【００１５】
また一つには、前述の電子機器において、前記電気的導通の検知は、前記検査用マークに接続される発光素子の点灯によってなされることを特徴とする。
【００１６】
また一つには、前述の電子機器において、前記発光素子は、表示パネルのパネル基板上に形成される表示素子の一形態として、該表示素子と同時に形成されることを特徴とする。
【００１７】
また一つには、前述の電子機器において、前記一対の検査用マークは、三角形状の検査用マークの頂点を互いに突き合わせた１組の検査用マークからなることを特徴とする。
【００１８】
また一つには、前述の電子機器において、前記一対の検査用マークは、前記１組の検査用マークを接続時の頂点間距離が異なるように少なくとも２組設けたことを特徴とする。
【００１９】
また一つには、表示パネルのパネル基板，ＴＡＢ基板又はフレキシブル基板を備え、前記表示パネルのパネル基板とＴＡＢ基板又はフレキシブル基板を相互に接続する接続箇所の接続良否を確認することができる電子機器であって、前記表示パネルのパネル基板上に形成される表示素子の一形態として、該表示素子と同時に前記パネル基板上に形成される発光素子を備え、前記接続箇所に検査用マークが設けられ、前記各基板にそれぞれ設けた前記検査用マークを接続対象間で組み合わせて一対の検査用マークを形成し、接続後の前記一対の検査用マーク間の電気的導通を、前記検査用マークに接続される前記発光素子の点灯によって検知し、前記接続良否を確認することを特徴とする。
【００２０】
また一つには、表示パネルのパネル基板，ＴＡＢ基板又はフレキシブル基板を備え、前記表示パネルのパネル基板，ＴＡＢ基板，フレキシブル基板のうちの少なくとも２つを相互に接続する接続箇所の接続良否を確認することができる電子機器であって、前記接続箇所に検査用マークが設けられ、前記各基板にそれぞれ設けた前記検査用マークを接続対象間で組み合わせて一対の検査用マークを形成し、前記一対の検査用マークは、三角形状の検査用マークの頂点を互いに突き合わせた１組の検査用マークからなり、接続後の前記一対の検査用マーク間の電気的導通を検知することによって前記接続良否を確認することを特徴とする。
【００２１】
また一つには、表示パネルのパネル基板，ＴＡＢ基板又はフレキシブル基板を備え、前記表示パネルのパネル基板，ＴＡＢ基板，フレキシブル基板のうちの少なくとも２つを相互に接続する接続箇所の接続良否を確認することができる電子機器であって、前記接続箇所に検査用マークが設けられ、前記各基板にそれぞれ設けた前記検査用マークを接続対象間で組み合わせて一対の検査用マークを形成し、前記一対の検査用マークは、頂点を互いに突き合わせた１組の検査用マークからなり、該１組の検査用マークを接続時の頂点間距離が異なるように少なくとも２組設け、接続後の前記一対の検査用マーク間の電気的導通を検知することによって前記接続良否を確認することを特徴とする。
【００２２】
前述した各請求項の特徴によると、以下の作用をなす。従来のアライメントマークは、表示パネル，ＴＡＢ基板，フレキシブル基板を相互に接続する接続箇所にそれぞれ設けられるものではあるが、接続時の位置合わせに用いられるものであって、接続後の接続不良を簡易に検査する検査用のマークとしては微細すぎて採用できない。
【００２３】
本発明の電子機器における検査用マークは、接続後の位置ズレを、検査用マーク間の電気的導通性を検知することにより簡易に確認できるようにしたものである。
【００２４】
そして、本発明の一つの特徴によると、接続後に一対の検査用マーク間の電気的導通性を検知し、導通が確認されれば接続良、導通が確認されなければ接続不良と判断する。この場合、接続対象の各基板に形成される検査用マークは、接続箇所の電極等と同様に導電性を有し、ＡＣＦを介して圧着することによって、重なりが生じた部分で電気的導通性が確保できるように形成される。また、接続箇所の左右両側にそれぞれ一対の検査用マークを設けて、左右のマーク対が共に導通性を確認した場合に接続良と判断することもできる。そして、各基板上の接続領域の中心位置から接続領域の長手方向に設けた各アライメントマークを結ぶ直線上にそれぞれ設けた検査用マークを接続対象間で組み合わせて一対の検査用マークを形成しているので、アライメントマーク同士を合わせるように位置合わせを行った場合の角度ズレを一対の検査用マーク間のズレに拡大して認識することができるようになる。これによって、微少な角度ズレを検査用マーク間の電気的導通性によって確認することができる。
【００２５】
また、一つには、基板間の接続後に、一対の検査用マークに検査判定回路の端子をそれぞれ接続して、検査判定回路が検査用マーク対間の導通性を示せば接続良、導通性を示さなければ接続不良と判断することもできる。さらに、一対の検査用マークの何れかに発光素子を接続して、基板間の接続後に、一対の検査用マークを介して発光素子へ電源供給を行う。これによって、発光素子が点灯した場合には接続良、点灯しなかった場合には接続不良と判断することができる。前記の検査用発光素子を表示パネル基板に形成される表示素子の一形態として、表示素子形成時に表示素子と共に予め形成しておくこともできる。これによると、別途発光素子を接続する手間が省け検査作業を効率化することができる。
【００２６】
また、一対の検査用マークを、三角形状の検査用マークの頂点を互いに突き合わせたものにすることによって、僅かな位置ズレを導通不良として検知することが可能になり、検査精度を向上させることができる。更には、三角形状の検査用マークの頂点を互いに突き合わせた検査用マークを、接続時の頂点間距離が異なるように少なくとも２組設けてもよく、接続箇所の左右両側に検査用マーク対を形成するスペースが無い場合には、接続箇所の片側のみに検査用マークを設けることで、接続箇所の左右両側に検査用マーク対を形成したものと同様の検査効果を得ることができる。
【００２７】
そして、前述の検査用マークを設けた本発明の電子機器は、検査の効率が向上し、良好な接続状態のものを効率よく生産することが可能になる。
【００２８】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態を図面を参照して説明する。図１は本発明の一実施形態を示す説明図であって、表示パネルに対する電子部品の実装形態と検査マークの配置を示している。図において、１は有機ＥＬ表示パネル、２，３はＴＡＢ基板、４はフレキシブル基板を示している。
【００２９】
有機ＥＬ表示パネル１のパネル基板１０においては、画面領域１０ａから信号線となるリード１０ｂ，１０ｃが引き出されており、このリード１０ｂ，１０ｃはそれぞれ収束されて、ＴＡＢ基板２，３のリード２ａ，３ａと、それぞれ接続領域１１，１２で接続されている。２ｂ，３ｂはＴＡＢ基板２，３に搭載された駆動用ＩＣを示している。
【００３０】
ＴＡＢ基板２，３のフレキシブル基板４側のリード２ｃ，３ｃは、フレキシブル基板４上の接続領域１３，１４においてフレキシブル基板４における接続線に接続されている。そして、前述した接続領域１１，１２，１３，１４の近傍には、アライメントマーク１１ａ，１１ｂ、１２ａ，１２ｂ，１３ａ，１３ｂ，１４ａ，１４ｂが、パネル基板１０、ＴＡＢ基板２，３、フレキシブル基板４のそれぞれに設けられている。
【００３１】
このような表示パネルの実装形態において、パネル基板１０、ＴＡＢ基板２，３、フレキシブル基板４のそれぞれに検査用マークが設けられている。検査用マークは、符号１５ａ，１５ｂ，１５ｃ，１５ｄで示すものがパネル基板１０に設けられたもの、符号２０ａ，２０ｂ，２０ｃ，２０ｄで示すものがＴＡＢ基板２に設けられたもの、符号３０ａ，３０ｂ，３０ｃ，３０ｄで示すものがＴＡＢ基板３に設けられたもの、符号４０ａ，４０ｂ，４０ｃ，４０ｄで示すものがフレキシブル基板４に設けられたものである。これらの検査用マークは、それぞれ導電性の材料によって形成され、ＡＣＦを介して圧着することによって、重なりが生じた部分で電気的導通性が確保できるように形成される。
【００３２】
この検査用マークは、正確な実装状態においては、接続領域１１，１２，１３，１４の左右に位置して、各接続領域の中心軸に対して左右対称に設けられている。そして、各々のマークは三角形状をなし、接続対象間のマークの組み合わせがその頂点を突き合わせて一対のマークを形成しており、各接続領域の左右で一対の検査用マークの頂点が互いに接触している状態が正確な接続状態となるように位置設定されている。このような位置設定を得るためには、例えば各基板のアライメントマークを結ぶ直線上に各検査用マークの頂点が位置するように設定すればよい。
【００３３】
このような検査用マークによる簡易検査の一例を図２によって説明する。ここでは接続領域１１の片側を例に示しているが、その逆側及び他の接続領域も同様に行われる。ＴＡＢ基板２は、ＡＣＦ１６を介してパネル基板１０に圧着して接続されているが、ＴＡＢ基板２側の検査用マーク２０ａとパネル基板１０側の検査用マーク１５ａも同様に圧着されて、検査用マーク２０ａ，１５ａ間の重なり部分で両検査用マーク間の導通性が得られるようにしている。そして、検査時には、これらの検査用マーク２０ａ，１５ａに検査判定回路１７を接続し、この検査用マーク１５ａ，２０ａ間に電気的導通性が有るか否かを検査判定回路１７によって検知する。
【００３４】
このような検査用マークの機能を図３を参照しながら説明する。パネル基板１０側にはアライメントマーク１１ａの軸上に検査用マーク１５ａが設けられており、ＴＡＢ基板２側には同様にアライメントマーク１１ａの軸上に検査用マーク２０ａが設けられている。ここでは、接続領域１１において、パネル基板１０側のリード１０ｂとＴＡＢ基板２側のリード２ａをＡＣＦを介して圧着して接続するにあたって、角度θの位置ズレが生じている。これによって、リード１０ｂ，２ａ間の接触面積は斜線で示す領域となって正確な接続状態と比較するとかなり減少している。有機ＥＬ表示パネル１においては、このような接続基板間の角度ズレが表示性能に大きく影響するのでこれを検査工程で見付けて排除する必要がある。しかしながら、この程度の位置ズレの場合には、接続領域１１やアライメントマーク１１ａを目視検査しただけでは位置ズレの状態を把握することはできない。
【００３５】
これに対して、接続領域１１の中心位置Ｏから接続領域の長手方向に向けて設定距離ａだけ離れた位置に三角形状の検査用マーク２０ａを設けることにより、微少な角度ズレθをｙ＝ａ・ｓｉｎθとなるｙ方向のズレに拡大して認識することが可能になる。このズレによって、頂点を突き合わせた三角形状の検査用マークはお互いの頂点が離間した状態になり、検査用マーク間の電気的導通性が得られなくなる。これを前述の検査判定回路１７によって検知して、位置ズレによる接続不良を確認する。これによると、極微少な角度ズレを検査用マーク間の電気的導通性によって確認することが可能になる。
【００３６】
また、接続領域の長手方向（ｘ方向）にも位置ズレが生じて、検査用マーク１５ａ，２０ａの頂点に間隙ｘが生じる場合にも同様の検知が可能である。しかしながら、ｘ方向の位置ズレの場合には、接続領域１１の片側で検査用マーク２０ａ，１５ａ間の導通が検知されたとしても、検査用マーク２０ａと検査用マーク１５ａが重なる方向に位置ズレが生じていることが考えられので、接続領域１１の逆側においても検査用マークに検査判定回路１７を接続して導通性を検知する必要がある。そして、左右両方の検査判定回路１７で検査用マーク間の導通を検知できた場合のみを「良」とし、左右何れかの検査判定回路１７が非導通を検知した場合には「不良」とすることで、接続領域の長手方向（ｘ方向）の位置ズレを簡易に検査することができる。
【００３７】
図４は、他の実施形態を示す説明図である。前述の実施形態では、検査用マーク間の導通検知を検査判定回路によって行ったが、この実施形態では、判定結果を視認できるように発光素子を設けている。すなわち、図２の実施形態と同様に、ＴＡＢ基板２は、ＡＣＦ１６を介してパネル基板１０に圧着して接続されており、ＴＡＢ基板２側には検査用マーク２０ａが形成され、パネル基板１０側には検査用マーク１５ａが形成されている。そして、パネル基板１０上には接地された電源供給ランド５１を有する発光素子５０が設けられ、配線５２を介して検査用マーク１５ａに接続されている。また、ＴＡＢ基板２上には電源供給ランド５３が形成され、配線５４によって検査用マーク２０ａに接続されている。
【００３８】
検査時には、電源供給ランド５１，５３に触針或いは導電ゴムなどで電源供給がなされる。検査用マーク１５ａ，２０ａの頂点が接触して導通が確保されていると、発光素子５０が点灯するので、これによって位置ズレが無いことを視認することができる。この発光素子５０は、パネル基板１０の形成後に個別に設置しても良いが、有機ＥＬ表示パネル等の表示素子用パネル基板であれば、パネル基板上に形成される表示素子の形成時に、この表示素子の一形態として検査用の発光素子５０を同時形成することもできる。
【００３９】
また、この実施形態では、図５に示すように、各接続領域に形成される複数の発光素子５０を一箇所にまとめて形成し、検査時の視認性を向上させることもできる。この際には、分散して配置される各検査用マークと発光素子５０とはパネル基板１０上に別途形成した接続用の配線で接続される。また、複数の発光素子５０を形成する場合には、一対の電源供給ランド５１，５３を共用して、ここから各発光素子へ延びる配線を各基板上に形成してもよい。
【００４０】
図６は他の実施形態を示す説明図である。この実施形態では、前述した一対のマークとして、一組の検査用マーク１５ａ，２０ａをＡ，Ｂの２組設けて、接続時の頂点間隔が異なるように設定している。これによると、同図（ａ）に示すように、一方のＡ側の組が導通（ＯＮ）で他方のＢ側の組が非導通（ＯＦＦ）となっている場合に、「良」と判断する。これに対して、左方向に圧着ズレが生じて（同図（ｂ）参照）、Ａ，Ｂが共に導通（ＯＮ）となった場合や、右方向に圧着ズレが生じて（同図（ｃ）参照）、Ａ，Ｂが共に非導通（ＯＦＦ）となった場合に、「不良」と判断する。これによると、接続領域の片側にこの検査用マークを設けるだけで、接続領域の両側に検査用マークを設けたものと同様に接続領域の長手方向のズレを検知して接続不良の判断を行うことが可能になる。ここでの接続不良の判断は、前述の検査判定回路１７によっても良いし、前述の発光素子５０によっても良い。
【００４１】
なお、本発明による検査用マークの形態は、前述したような三角形状のマークを左右に設けてその頂点を互いに突き合わせた形態に限定されるものではない。図７は本発明の検査用マークとして適用できる他の形態例を示す図である。同図（ａ）に示すマークの例は、三角形状のマークを上下に並べてその頂点を互いに突き合わせ、接続対象の一方に上側のマークを他方に下側のマークを設けたものである。マークが設けられるスペースによって、このようにマークを上下に配置してもよい。
【００４２】
同図（ｂ）〜（ｅ）に示すマークの例は、ａ側のマークを接続対象の一方側に設け、ｂ側のマークを接続対象の他方側に設けたものであり、両者が四方に適正な間隔を有して形成された場合に電気的導通が非導通となり、位置ズレが生じるとマークがａ，ｂ間で重なって電気的な導通が生じることになるもので、電気的な導通が確認できた場合に接続不良と判断することができる。前述の各実施例では、パネル基板とＴＡＢ基板との接続について説明したが、ＣＯＧ（Cip On Glass）を含むパネル基板とフレキシブル基板等の他の組み合わせでも本発明は有効である。
【００４３】
図８に示すフローよって、前述した各実施形態の検査工程を含む基板接続作業を、パネル基板にＴＡＢ基板を接続する作業を例にして説明する。前述の従来技術で示したように、仮圧着工程が終了したものは、搬送されて本圧着処理装置にセットされるが、必要に応じて仮圧着工程終了時に一度簡易検査が行われる。このように、各工程の前段階で不良品を排除することで、その後の工程の負荷を軽減させることができる。
【００４４】
次に、前述したように仮圧着部分に所定の温度及び所定の圧力を所定時間加えて、パネル基板１０とＴＡＢ基板２との接続領域１１（又は１２）をＡＣＦを介して本圧着する。そして、本圧着を行ったものは本圧着処理装置から排出され、これに対して更に簡易検査がなされる。各工程での簡易検査の要否は生産性との兼ね合いで適宜決定させる。
【００４５】
この簡易検査では、前述の検査判定回路１７又は発光素子５０の点灯又は非点灯によって接続良否の判定がなされる。この簡易検査でズレが確認できるもの（ＮＧ）は接続不良として廃棄又はリサイクルに回し、この簡易検査に合格したもの（Ｇ)に対してのみ顕微鏡検査を行う。顕微鏡検査では、接続領域１１（又は１２）のリードの接触面積を顕微鏡画像によって詳細にチェックして、接触面積が規定の状態を満たしているもののみを合格（Ｇ）とする。また、この規定に満たないもの（ＮＧ）は不良品として廃棄するか又はリサイクルに回す。
【００４６】
このような検査用マークをパネル基板１０，ＴＡＢ基板２，３，フレキシブル基板４のそれぞれに設けることによって、簡易な検査によって不良品を見つけ出す割合が高まり、負荷の高い顕微鏡検査を行う対象を少なくすることができる。
【００４７】
【発明の効果】
本発明は、このように構成されるので、表示パネル，ＴＡＢ基板，フレキシブル基板の接続作業後の検査において、簡易な検査工程で高精度に不良品を排除することができ、顕微鏡検査工程での負荷を軽減できるので、効率的な検査作業を行うことが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施形態を示す説明図であって、表示パネルに対する電子部品の実装形態と検査用マークの配置を示す説明図である。
【図２】実施形態における接続領域の構造を示す説明図である。
【図３】本発明の一実施形態を示す説明図であって、検査用マークの機能を示す説明図である。
【図４】本発明の他の実施形態を示す説明図である。
【図５】本発明の他の実施形態を示す説明図である。
【図６】本発明の他の実施形態を示す説明図である。
【図７】本発明の検査用マークとして適用できる他の形態例を示す図である。
【図８】本発明の実施形態の作業工程を示す説明図である。
【図９】従来の表示パネルに対する電子部品の実装工程を示す説明図である。
【符号の説明】
１ 有機ＥＬ表示パネル
２，３ ＴＡＢ基板
４ フレキシブル基板
１０ パネル基板
１１，１２，１３，１４ 接続領域
１５ａ〜１５ｄ，２０ａ〜２０ｄ，３０ａ〜３０ｄ，４０ａ〜４０ｄ
検査用マーク
１６ ＡＣＦ
１７ 検査判定回路
５０ 発光素子
５１，５３ 電源供給ランド
５２，５４ 配線
Claims (9)
- 表示パネルのパネル基板，ＴＡＢ基板，フレキシブル基板のうちの少なくとも２つを相互に接続する接続箇所の接続良否を確認することができる電子機器であって、
前記接続箇所に検査用マークが設けられ、
前記各基板上の接続領域の中心位置から該接続領域の長手方向に設けた各アライメントマークを結ぶ直線上にそれぞれ設けた前記検査用マークを接続対象間で組み合わせて一対の検査用マークを形成し、接続後の前記一対の検査用マーク間の電気的導通を検知することによって前記接続良否を確認することを特徴とする電子機器。 - 前記電気的導通の検知は、前記各検査用マークに接続される検査判定回路によってなされることを特徴とする請求項１記載の電子機器。
- 前記電気的導通の検知は、前記検査用マークに接続される発光素子の点灯によってなされることを特徴とする請求項１記載の電子機器。
- 前記発光素子は、表示パネルのパネル基板上に形成される表示素子の一形態として、該表示素子と同時に形成されることを特徴とする請求項３記載の電子機器。
- 前記一対の検査用マークは、三角形状の検査用マークの頂点を互いに突き合わせた１組の検査用マークからなることを特徴とする請求項１〜４のいずれかに記載の電子機器。
- 前記一対の検査用マークは、前記１組の検査用マークを接続時の頂点間距離が異なるように少なくとも２組設けたことを特徴とする請求項５に記載の電子機器。
- 表示パネルのパネル基板とＴＡＢ基板又はフレキシブル基板を相互に接続する接続箇所の接続良否を確認することができる電子機器であって、
前記表示パネルのパネル基板上に形成される表示素子の一形態として、該表示素子と同時に前記パネル基板上に形成される発光素子を備え、
前記接続箇所に検査用マークが設けられ、
前記各基板にそれぞれ設けた前記検査用マークを接続対象間で組み合わせて一対の検査用マークを形成し、接続後の前記一対の検査用マーク間の電気的導通を、前記検査用マークに接続される前記発光素子の点灯によって検知し、前記接続良否を確認することを特徴とする電子機器。 - 表示パネルのパネル基板，ＴＡＢ基板，フレキシブル基板のうちの少なくとも２つを相互に接続する接続箇所の接続良否を確認することができる電子機器であって、
前記接続箇所に検査用マークが設けられ、
前記各基板にそれぞれ設けた前記検査用マークを接続対象間で組み合わせて一対の検査用マークを形成し、前記一対の検査用マークは、三角形状の検査用マークの頂点を互いに突き合わせた１組の検査用マークからなり、接続後の前記一対の検査用マーク間の電気的導通を検知することによって前記接続良否を確認することを特徴とする電子機器。 - 表示パネルのパネル基板，ＴＡＢ基板，フレキシブル基板のうちの少なくとも２つを相互に接続する接続箇所の接続良否を確認することができる電子機器であって、
前記接続箇所に検査用マークが設けられ、
前記各基板にそれぞれ設けた前記検査用マークを接続対象間で組み合わせて一対の検査用マークを形成し、前記一対の検査用マークは、頂点を互いに突き合わせた１組の検査用マークからなり、該１組の検査用マークを接続時の頂点間距離が異なるように少なくとも２組設け、接続後の前記一対の検査用マーク間の電気的導通を検知することによって前記接続良否を確認することを特徴とする電子機器。
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