JP3648885B2 - Ｘ線高電圧装置 - Google Patents
Ｘ線高電圧装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP3648885B2 JP3648885B2 JP30711096A JP30711096A JP3648885B2 JP 3648885 B2 JP3648885 B2 JP 3648885B2 JP 30711096 A JP30711096 A JP 30711096A JP 30711096 A JP30711096 A JP 30711096A JP 3648885 B2 JP3648885 B2 JP 3648885B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- heating current
- filament
- ray tube
- high voltage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- X-Ray Techniques (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、医学的診断のためのＸ線透視撮影装置などに用いられるＸ線高電圧装置に関し、とくにＸ線管とＸ線撮像装置との間の距離情報に応じてＸ線管のフィラメント加熱電流を補正する機能を有するＸ線高電圧装置の改良に関する。
【０００２】
【従来の技術】
Ｘ線高電圧装置は、Ｘ線管のカソード・アノード間に高電圧を供給するとともにそのフィラメントに加熱電流を供給することによってＸ線管からＸ線を発射させるものであるが、Ｘ線管とＸ線撮像装置（たとえばイメージインテンシファイア）との間の距離（以下ＳＩＤと略す）が大きいときは、イメージインテンシファイア等の入射Ｘ線量が減少するため、これを補うようフィラメント加熱電流を補正することによって管電流の上限値を引き上げる機能を有するものが知られている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このような機能を有するＸ線高電圧装置では、その有用な機能が実際にはかえってフィラメント加熱電流を無駄に増やし、ひいてはＸ線管のフィラメントの寿命を縮めるという弊害を生じさせるという問題がある。
【０００４】
すなわち、Ｘ線検査が終了して被検者を検診テーブルから降ろしたりするときは、いったんテーブルを下げるとともにＸ線管やイメージインテンシファイアを被検者から遠ざける。このとき、Ｘ線管への高電圧は遮断されてＸ線曝射はオフにされるが、フィラメント加熱電流はつぎのＸ線検査までの時間が長いことが予定される場合以外は、通常継続して流しておいてフィラメントを加熱状態としておく。そのため、ＳＩＤが大きくなることからフィラメント加熱電流が大きくなってしまい、これはＸ線曝射による検査が行われていないにもかかわらず起こるもので、まったく無駄のものといえるし、このようなことが度重なればフィラメントの寿命が短くなってしまうことになる。
【０００５】
この発明は、上記に鑑み、ＳＩＤに応じてフィラメント加熱電流を補正するＸ線高電圧装置において、被検者がテーブルから降りる状態等では上記の補正機能を停止せしめフィラメント加熱電流を強制的に小さくして無駄なフィラメント加熱電流増加を抑え、フィラメントの長寿命化を図ることを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成するため、この発明によるＸ線高電圧装置においては、Ｘ線管とＸ線撮像装置との間の距離情報の入力手段と、該距離情報に応じてＸ線管のフィラメント加熱電流を補正する補正手段と、Ｘ線管およびＸ線撮像装置からなる撮像系と検診テーブルと間の位置関係の検出出力を入力する手段と、該位置関係検出出力に応じて該位置関係が所定範囲か否かを判定する手段と、該判定にしたがってＸ線管のフィラメント加熱電流を強制的に所定の小さな値にするフィラメント加熱電流抑制手段とが備えられることが特徴となっている。
【０００７】
Ｘ線管およびＸ線撮像装置からなる撮像系と検診テーブルと間の位置関係が検出され、その検出出力が入力される。検診テーブルの位置がある範囲を超えて低くされているなら、被検者がテーブルから降ろされる状態となっているわけで、上記の検出出力により、このことの判定が可能である。このような判定がなされた場合、Ｘ線管とＸ線撮像装置との間の距離が大きいときでも、フィラメント加熱電流は強制的に小さくされる。その結果、無駄なフィラメント加熱電流増加が抑えられ、フィラメントを長寿命化することができる。
【０００８】
【発明の実施の形態】
つぎに、この発明の実施の形態について図面を参照しながら詳細に説明する。図１はこの発明を適用したＸ線高電圧装置のブロック図であり、たとえば図３に示すようなＸ線透視装置に組み込まれる（図１のＸ線高電圧装置は図３のスタンド２６内に収納される）。このＸ線高電圧装置は図１に示すように、商用交流電源４１から電力供給を受けて高電圧供給回路４２が高圧の直流電圧を発生し、これをＸ線管２１のアノード・カソード間に供給するとともに、フィラメント加熱電流供給回路４３がトランス４４を経てＸ線管２１のフィラメントに所定値の加熱電流を供給する。
【０００９】
制御器４５（たとえば図３のモニター台車３２内に収納される）は、モニター台車３２の側面等に設けられた操作パネル３３（図３を参照）での操作によって設定されたＸ線管電圧・管電流などのＸ線条件に応じて、高電圧供給回路４２およびフィラメント加熱電流制御回路４６を制御する。フィラメント加熱電流制御回路４６は、Ｘ線条件（管電圧・管電流）ごとに必要なフィラメント加熱電流の値を出力する。このＸ線条件ごとのフィラメント加熱電流値は、個々のＸ線管２１によって異なるため、個々のＸ線管２１ごとに実測され、そのＸ線条件ごとのフィラメント加熱電流値がメモリなどに保持され、Ｘ線条件が設定されると、その値が読み出され、あるいは該当するＸ線条件に対応する値がない場合は補間計算などにより求められて、出力される。
【００１０】
この出力されるフィラメント加熱電流値は、補正回路４７によって補正された上でフィラメント加熱電流供給回路４３に送られる。この補正回路４７は、インターフェイス回路４８を経て制御器４５に入力されたＳＩＤ信号に応じて図２の実線のようにフィラメント加熱電流値を変化させる。フィラメント加熱電流供給回路４３は、この値通りのフィラメント電流をトランス４４を介して供給する。
【００１１】
一方、検診台１１（図３を参照）などから送られた位置信号（たとえば検診テーブル１２の位置を表わす）がインターフェイス回路４９を介して制御器４５に入力されている。制御器４５は、その入力された位置信号が一定範囲を外れたか否かにより、被検者１０が検診台１１の検診テーブル１２から降ろされる状態となっているか否かを判定し、その判定に応じて補正回路４７を停止させるとともに、フィラメント加熱電流制御回路４６を制御して図２の点線で示すような一定の小さな値のフィラメント加熱電流値がフィラメント加熱電流供給回路４３に与えられるようにする。
【００１２】
図３のＸ線透視装置では、被検者１０が検診台１１の検診テーブル１２に載置されるようになっており、この検診テーブル１２は、検診台１１上で矢印で示すように上下および左右に移動できるようになっている。なお、この例では検診台１１自体も床面上で自由に移動できるようになっている。この被検者１０を挟むようにＸ線管２１と、イメージインテンシファイア（Ｉ．Ｉ．）２２とが対向配置される。この例では、これらＸ線管２１、イメージインテンシファイア２２は、それぞれＣ型アーム２４の両端に取り付けられている。イメージインテンシファイア２２にはテレビカメラ２３が光学的に結合されている。
【００１３】
Ｃ型アーム２４は保持装置２５によって保持され、この保持装置２５はスタンド２６に取り付けられている。この保持装置２５によって、Ｃ型アーム２４はスタンド２６に対して、矢印で示すように、Ｃ型アーム２４の円弧方向の回転や、その円弧の半径方向の水平軸回りの回転や、前後方向・上下方向直線移動など、あらゆる方向での移動・回転が可能となっている。また、Ｘ線管２１とイメージインテンシファイア２２も、Ｃ型アーム２４の先端において、矢印で示すように、両者が近づいたり遠ざかったりする方向に移動可能に保持されている。そしてスタンド２６は車輪を備えていて、検査室の床面を自由に移動できるようになっている。スタンド２６内には、Ｘ線管２１に高電圧の管電圧やフィラメント電流を供給するＸ線高電圧装置（図１）が納められている。
【００１４】
イメージインテンシファイア２２およびテレビカメラ２３で得られた映像信号はケーブルを介してモニター台車３２に送られ、その中に収納された画像処理装置などで処理を受けた後、モニター台車３２上に置かれているテレビモニター装置３１に送られる。このモニター台車３２も検査室の床面を自由に移動できるようになっている。このモニター台車３２の側面には、Ｘ線条件を設定するためのスイッチなどが備えられた操作パネル３３が取り付けられている。このモニター台車３２には画像処理装置のほかに制御器４５（図１）などが納められている。操作パネル３３の操作によって、スタンド２６内のＸ線高電圧装置を制御してＸ線管２１からＸ線を照射させ、テレビカメラ２３から得られた映像信号に対してフィルタ処理などの各種画像処理を行なった上でテレビモニター装置３１に表示させる。またこのモニター台車３２は検診台１１とケーブルで接続されており、検診台１１からの検診テーブル１２の位置を表わす信号が送られてきている。
【００１５】
そこで、通常のＸ線検査においては、被検者１０の状態や撮影部位に応じて被検者１０に対するＸ線管２１、イメージインテンシファイア２２の位置が定められてＸ線透視像が得られ、これがテレビモニター装置３１で表示される。このときＳＩＤ信号がモニター台車３２内の制御器４５に入力され、上記のように図２の実線のようなＳＩＤに応じたフィラメント電流制御が行われる。すなわち、ＳＩＤが大きいときはフィラメント加熱電流を増加して透視管電流を増やし、Ｘ線量を増大させて画像のコントラストが不足しないようにする。
【００１６】
検査が終了して被検者１０が検診テーブル１２から降ろされるときは、検診テーブル１２は最も低い位置に下げられている。この検診テーブル１２の位置を表わす信号が上記のように制御器４５に入力されている。このような被検者１０の検診テーブル１２に対する上げ降ろし時には、検診テーブル１２は検査時には取り得ないような低い位置とされるため、その位置信号が一定範囲を外れたかどうかを制御器４５が監視することにより、上げ降ろし時であること（Ｘ線検査時ではないこと）が判定できる。そして、このように判定されたときは、図２の点線で示すようにＳＩＤがどうあろうとフィラメント電流は小さな値に強制的に抑制される。そのため、この上げ降ろし時には、被検者１０が降り易いようにイメージインテンシファイア２２が最低位置に下げられるとともにＸ線管２１が最高位置に上げられてＳＩＤが最大値をとることが多いが、そのような場合でもフィラメント加熱電流が抑えられることになる。
【００１７】
なお、ここでは検診テーブル１２の上下位置でＸ線検査時ではないことを判定しているが、検診テーブル１２の左右位置で、つまりＸ線管２１とイメージインテンシファイア２２との間から待避した位置にあるかどうかで、Ｘ線検査時ではないことを判定するよう構成することもできる。また、スタンド２６と検診台１１との間の距離が大きく離れたことをもって、被検者１０の上げ降ろし時であることを判定するようにしてもよい（この場合はスタンド２６の位置を検出しその位置信号を入力する）。Ｘ線検査時ではないことの確実な判定が可能であれば、どのような位置関係を示すものであっても判定用の位置信号として使用可能である。
【００１８】
また、上ではＣ型アームに保持されたタイプのＸ線透視装置に適用した例について説明したが、この型のＸ線透視装置以外の種々のタイプのＸ線透視装置、Ｘ線透視撮影装置にも適用可能であることはもちろんである。
【００１９】
【発明の効果】
以上説明したように、この発明によれば、ＳＩＤに応じてフィラメント加熱電流を補正するＸ線高電圧装置において、被検者がテーブルから降りる状態等では上記の補正機能を停止せしめフィラメント加熱電流を強制的に小さくして無駄なフィラメント加熱電流増加を抑え、フィラメントの長寿命化を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明にかかるＸ線高電圧装置の実施の形態を示すブロック図。
【図２】ＳＩＤとフィラメント加熱電流値との関係を示すグラフ。
【図３】図１のＸ線高電圧装置が組み込まれたＸ線透視装置の例を示すブロック図。
【符号の説明】
１０ 被検者
１１ 検診台
１２ 検診テーブル
２１ Ｘ線管
２２ イメージインテンシファイア
２３ テレビカメラ
２４ Ｃ型アーム
２５ 保持装置
２６ スタンド
３１ テレビモニター装置
３２ モニター台車
３３ 操作パネル
４１ 商用交流電源
４２ 高電圧供給回路
４３ フィラメント加熱電流供給回路
４４ トランス
４５ 制御器
４６ フィラメント加熱電流制御回路
４７ 補正回路
４８、４９ インターフェイス回路
【発明の属する技術分野】
この発明は、医学的診断のためのＸ線透視撮影装置などに用いられるＸ線高電圧装置に関し、とくにＸ線管とＸ線撮像装置との間の距離情報に応じてＸ線管のフィラメント加熱電流を補正する機能を有するＸ線高電圧装置の改良に関する。
【０００２】
【従来の技術】
Ｘ線高電圧装置は、Ｘ線管のカソード・アノード間に高電圧を供給するとともにそのフィラメントに加熱電流を供給することによってＸ線管からＸ線を発射させるものであるが、Ｘ線管とＸ線撮像装置（たとえばイメージインテンシファイア）との間の距離（以下ＳＩＤと略す）が大きいときは、イメージインテンシファイア等の入射Ｘ線量が減少するため、これを補うようフィラメント加熱電流を補正することによって管電流の上限値を引き上げる機能を有するものが知られている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このような機能を有するＸ線高電圧装置では、その有用な機能が実際にはかえってフィラメント加熱電流を無駄に増やし、ひいてはＸ線管のフィラメントの寿命を縮めるという弊害を生じさせるという問題がある。
【０００４】
すなわち、Ｘ線検査が終了して被検者を検診テーブルから降ろしたりするときは、いったんテーブルを下げるとともにＸ線管やイメージインテンシファイアを被検者から遠ざける。このとき、Ｘ線管への高電圧は遮断されてＸ線曝射はオフにされるが、フィラメント加熱電流はつぎのＸ線検査までの時間が長いことが予定される場合以外は、通常継続して流しておいてフィラメントを加熱状態としておく。そのため、ＳＩＤが大きくなることからフィラメント加熱電流が大きくなってしまい、これはＸ線曝射による検査が行われていないにもかかわらず起こるもので、まったく無駄のものといえるし、このようなことが度重なればフィラメントの寿命が短くなってしまうことになる。
【０００５】
この発明は、上記に鑑み、ＳＩＤに応じてフィラメント加熱電流を補正するＸ線高電圧装置において、被検者がテーブルから降りる状態等では上記の補正機能を停止せしめフィラメント加熱電流を強制的に小さくして無駄なフィラメント加熱電流増加を抑え、フィラメントの長寿命化を図ることを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成するため、この発明によるＸ線高電圧装置においては、Ｘ線管とＸ線撮像装置との間の距離情報の入力手段と、該距離情報に応じてＸ線管のフィラメント加熱電流を補正する補正手段と、Ｘ線管およびＸ線撮像装置からなる撮像系と検診テーブルと間の位置関係の検出出力を入力する手段と、該位置関係検出出力に応じて該位置関係が所定範囲か否かを判定する手段と、該判定にしたがってＸ線管のフィラメント加熱電流を強制的に所定の小さな値にするフィラメント加熱電流抑制手段とが備えられることが特徴となっている。
【０００７】
Ｘ線管およびＸ線撮像装置からなる撮像系と検診テーブルと間の位置関係が検出され、その検出出力が入力される。検診テーブルの位置がある範囲を超えて低くされているなら、被検者がテーブルから降ろされる状態となっているわけで、上記の検出出力により、このことの判定が可能である。このような判定がなされた場合、Ｘ線管とＸ線撮像装置との間の距離が大きいときでも、フィラメント加熱電流は強制的に小さくされる。その結果、無駄なフィラメント加熱電流増加が抑えられ、フィラメントを長寿命化することができる。
【０００８】
【発明の実施の形態】
つぎに、この発明の実施の形態について図面を参照しながら詳細に説明する。図１はこの発明を適用したＸ線高電圧装置のブロック図であり、たとえば図３に示すようなＸ線透視装置に組み込まれる（図１のＸ線高電圧装置は図３のスタンド２６内に収納される）。このＸ線高電圧装置は図１に示すように、商用交流電源４１から電力供給を受けて高電圧供給回路４２が高圧の直流電圧を発生し、これをＸ線管２１のアノード・カソード間に供給するとともに、フィラメント加熱電流供給回路４３がトランス４４を経てＸ線管２１のフィラメントに所定値の加熱電流を供給する。
【０００９】
制御器４５（たとえば図３のモニター台車３２内に収納される）は、モニター台車３２の側面等に設けられた操作パネル３３（図３を参照）での操作によって設定されたＸ線管電圧・管電流などのＸ線条件に応じて、高電圧供給回路４２およびフィラメント加熱電流制御回路４６を制御する。フィラメント加熱電流制御回路４６は、Ｘ線条件（管電圧・管電流）ごとに必要なフィラメント加熱電流の値を出力する。このＸ線条件ごとのフィラメント加熱電流値は、個々のＸ線管２１によって異なるため、個々のＸ線管２１ごとに実測され、そのＸ線条件ごとのフィラメント加熱電流値がメモリなどに保持され、Ｘ線条件が設定されると、その値が読み出され、あるいは該当するＸ線条件に対応する値がない場合は補間計算などにより求められて、出力される。
【００１０】
この出力されるフィラメント加熱電流値は、補正回路４７によって補正された上でフィラメント加熱電流供給回路４３に送られる。この補正回路４７は、インターフェイス回路４８を経て制御器４５に入力されたＳＩＤ信号に応じて図２の実線のようにフィラメント加熱電流値を変化させる。フィラメント加熱電流供給回路４３は、この値通りのフィラメント電流をトランス４４を介して供給する。
【００１１】
一方、検診台１１（図３を参照）などから送られた位置信号（たとえば検診テーブル１２の位置を表わす）がインターフェイス回路４９を介して制御器４５に入力されている。制御器４５は、その入力された位置信号が一定範囲を外れたか否かにより、被検者１０が検診台１１の検診テーブル１２から降ろされる状態となっているか否かを判定し、その判定に応じて補正回路４７を停止させるとともに、フィラメント加熱電流制御回路４６を制御して図２の点線で示すような一定の小さな値のフィラメント加熱電流値がフィラメント加熱電流供給回路４３に与えられるようにする。
【００１２】
図３のＸ線透視装置では、被検者１０が検診台１１の検診テーブル１２に載置されるようになっており、この検診テーブル１２は、検診台１１上で矢印で示すように上下および左右に移動できるようになっている。なお、この例では検診台１１自体も床面上で自由に移動できるようになっている。この被検者１０を挟むようにＸ線管２１と、イメージインテンシファイア（Ｉ．Ｉ．）２２とが対向配置される。この例では、これらＸ線管２１、イメージインテンシファイア２２は、それぞれＣ型アーム２４の両端に取り付けられている。イメージインテンシファイア２２にはテレビカメラ２３が光学的に結合されている。
【００１３】
Ｃ型アーム２４は保持装置２５によって保持され、この保持装置２５はスタンド２６に取り付けられている。この保持装置２５によって、Ｃ型アーム２４はスタンド２６に対して、矢印で示すように、Ｃ型アーム２４の円弧方向の回転や、その円弧の半径方向の水平軸回りの回転や、前後方向・上下方向直線移動など、あらゆる方向での移動・回転が可能となっている。また、Ｘ線管２１とイメージインテンシファイア２２も、Ｃ型アーム２４の先端において、矢印で示すように、両者が近づいたり遠ざかったりする方向に移動可能に保持されている。そしてスタンド２６は車輪を備えていて、検査室の床面を自由に移動できるようになっている。スタンド２６内には、Ｘ線管２１に高電圧の管電圧やフィラメント電流を供給するＸ線高電圧装置（図１）が納められている。
【００１４】
イメージインテンシファイア２２およびテレビカメラ２３で得られた映像信号はケーブルを介してモニター台車３２に送られ、その中に収納された画像処理装置などで処理を受けた後、モニター台車３２上に置かれているテレビモニター装置３１に送られる。このモニター台車３２も検査室の床面を自由に移動できるようになっている。このモニター台車３２の側面には、Ｘ線条件を設定するためのスイッチなどが備えられた操作パネル３３が取り付けられている。このモニター台車３２には画像処理装置のほかに制御器４５（図１）などが納められている。操作パネル３３の操作によって、スタンド２６内のＸ線高電圧装置を制御してＸ線管２１からＸ線を照射させ、テレビカメラ２３から得られた映像信号に対してフィルタ処理などの各種画像処理を行なった上でテレビモニター装置３１に表示させる。またこのモニター台車３２は検診台１１とケーブルで接続されており、検診台１１からの検診テーブル１２の位置を表わす信号が送られてきている。
【００１５】
そこで、通常のＸ線検査においては、被検者１０の状態や撮影部位に応じて被検者１０に対するＸ線管２１、イメージインテンシファイア２２の位置が定められてＸ線透視像が得られ、これがテレビモニター装置３１で表示される。このときＳＩＤ信号がモニター台車３２内の制御器４５に入力され、上記のように図２の実線のようなＳＩＤに応じたフィラメント電流制御が行われる。すなわち、ＳＩＤが大きいときはフィラメント加熱電流を増加して透視管電流を増やし、Ｘ線量を増大させて画像のコントラストが不足しないようにする。
【００１６】
検査が終了して被検者１０が検診テーブル１２から降ろされるときは、検診テーブル１２は最も低い位置に下げられている。この検診テーブル１２の位置を表わす信号が上記のように制御器４５に入力されている。このような被検者１０の検診テーブル１２に対する上げ降ろし時には、検診テーブル１２は検査時には取り得ないような低い位置とされるため、その位置信号が一定範囲を外れたかどうかを制御器４５が監視することにより、上げ降ろし時であること（Ｘ線検査時ではないこと）が判定できる。そして、このように判定されたときは、図２の点線で示すようにＳＩＤがどうあろうとフィラメント電流は小さな値に強制的に抑制される。そのため、この上げ降ろし時には、被検者１０が降り易いようにイメージインテンシファイア２２が最低位置に下げられるとともにＸ線管２１が最高位置に上げられてＳＩＤが最大値をとることが多いが、そのような場合でもフィラメント加熱電流が抑えられることになる。
【００１７】
なお、ここでは検診テーブル１２の上下位置でＸ線検査時ではないことを判定しているが、検診テーブル１２の左右位置で、つまりＸ線管２１とイメージインテンシファイア２２との間から待避した位置にあるかどうかで、Ｘ線検査時ではないことを判定するよう構成することもできる。また、スタンド２６と検診台１１との間の距離が大きく離れたことをもって、被検者１０の上げ降ろし時であることを判定するようにしてもよい（この場合はスタンド２６の位置を検出しその位置信号を入力する）。Ｘ線検査時ではないことの確実な判定が可能であれば、どのような位置関係を示すものであっても判定用の位置信号として使用可能である。
【００１８】
また、上ではＣ型アームに保持されたタイプのＸ線透視装置に適用した例について説明したが、この型のＸ線透視装置以外の種々のタイプのＸ線透視装置、Ｘ線透視撮影装置にも適用可能であることはもちろんである。
【００１９】
【発明の効果】
以上説明したように、この発明によれば、ＳＩＤに応じてフィラメント加熱電流を補正するＸ線高電圧装置において、被検者がテーブルから降りる状態等では上記の補正機能を停止せしめフィラメント加熱電流を強制的に小さくして無駄なフィラメント加熱電流増加を抑え、フィラメントの長寿命化を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明にかかるＸ線高電圧装置の実施の形態を示すブロック図。
【図２】ＳＩＤとフィラメント加熱電流値との関係を示すグラフ。
【図３】図１のＸ線高電圧装置が組み込まれたＸ線透視装置の例を示すブロック図。
【符号の説明】
１０ 被検者
１１ 検診台
１２ 検診テーブル
２１ Ｘ線管
２２ イメージインテンシファイア
２３ テレビカメラ
２４ Ｃ型アーム
２５ 保持装置
２６ スタンド
３１ テレビモニター装置
３２ モニター台車
３３ 操作パネル
４１ 商用交流電源
４２ 高電圧供給回路
４３ フィラメント加熱電流供給回路
４４ トランス
４５ 制御器
４６ フィラメント加熱電流制御回路
４７ 補正回路
４８、４９ インターフェイス回路
Claims (1)
- Ｘ線管とＸ線撮像装置との間の距離情報の入力手段と、該距離情報に応じてＸ線管のフィラメント加熱電流を補正する補正手段と、Ｘ線管およびＸ線撮像装置からなる撮像系と検診テーブルと間の位置関係の検出出力を入力する手段と、該位置関係検出出力に応じて該位置関係が所定範囲か否かを判定する手段と、該判定にしたがってＸ線管のフィラメント加熱電流を強制的に所定の小さな値にするフィラメント加熱電流抑制手段とを備えることを特徴とするＸ線高電圧装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30711096A JP3648885B2 (ja) | 1996-10-31 | 1996-10-31 | Ｘ線高電圧装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30711096A JP3648885B2 (ja) | 1996-10-31 | 1996-10-31 | Ｘ線高電圧装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10134991A JPH10134991A (ja) | 1998-05-22 |
| JP3648885B2 true JP3648885B2 (ja) | 2005-05-18 |
Family
ID=17965161
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30711096A Expired - Fee Related JP3648885B2 (ja) | 1996-10-31 | 1996-10-31 | Ｘ線高電圧装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3648885B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4889871B2 (ja) * | 2001-03-29 | 2012-03-07 | 浜松ホトニクス株式会社 | Ｘ線発生装置 |
| JP2012019856A (ja) * | 2010-07-13 | 2012-02-02 | Shimadzu Corp | 診断用ｘ線撮影装置 |
-
1996
- 1996-10-31 JP JP30711096A patent/JP3648885B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH10134991A (ja) | 1998-05-22 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP6362865B2 (ja) | Ｘ線コンピュータ断層撮影装置及びｘ線発生装置 | |
| JP4699167B2 (ja) | Ｘ線画像診断装置 | |
| US9125619B2 (en) | Radiographic examination apparatus and method for the same | |
| AU770876B2 (en) | Imaging apparatus | |
| US20150250442A1 (en) | X-ray image diagnostic apparatus | |
| JP2597588B2 (ja) | Ｘ線透視装置 | |
| JP3648885B2 (ja) | Ｘ線高電圧装置 | |
| JP2007151733A (ja) | Ｘ線撮影装置 | |
| US10901098B2 (en) | Radiation imaging system, control apparatus, and method of controlling the same | |
| JP2005296277A (ja) | Ｘ線診断装置及びその診断方法 | |
| JP2006314704A (ja) | Ｘ線画像診断装置 | |
| JP2007236810A (ja) | モニタ輝度制御システム及び該システムを用いた医用診断システム | |
| JP2010063586A (ja) | 画像の表示方向変更方法及びそれを用いたｘ線装置 | |
| JP2003235835A (ja) | Ｘ線診断装置 | |
| JP3767910B2 (ja) | Ｘ線診断装置 | |
| JP4828854B2 (ja) | Ｘ線診断装置およびその管理装置 | |
| JP5392111B2 (ja) | Ｘ線透視撮影装置 | |
| EP3403584A1 (en) | X-ray fluoroscopic device | |
| JPH11299766A (ja) | Ｘ線診断装置 | |
| JPH0970400A (ja) | Ｘ線画像撮影装置 | |
| US20180333124A1 (en) | X-ray diagnosis apparatus | |
| US11154263B2 (en) | Radiography apparatus, radiography apparatus operation method, and radiography apparatus operation program | |
| JP3267548B2 (ja) | Ｘ線撮影装置 | |
| JP2012079540A (ja) | 移動型ｘ線撮影装置およびｘ線撮影方法 | |
| JP2000070244A (ja) | 医用ｘ線装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20050125 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20050207 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080225 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090225 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100225 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100225 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110225 Year of fee payment: 6 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |