JPH10134991A - X線高電圧装置 - Google Patents
X線高電圧装置Info
- Publication number
- JPH10134991A JPH10134991A JP30711096A JP30711096A JPH10134991A JP H10134991 A JPH10134991 A JP H10134991A JP 30711096 A JP30711096 A JP 30711096A JP 30711096 A JP30711096 A JP 30711096A JP H10134991 A JPH10134991 A JP H10134991A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- filament
- heating current
- filament heating
- ray tube
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- X-Ray Techniques (AREA)
Abstract
するX線高電圧装置において、無駄なフィラメント加熱
電流増加を抑え、フィラメントの長寿命化を図る。 【解決手段】 X線撮像系より送られるSID信号がイ
ンターフェイス回路48を介して制御器45に入力さ
れ、補正回路47によってSIDに応じたフィラメント
加熱電流値補正が行われるが、インターフェイス回路4
9を経て取り込まれた検診台等からの位置信号により制
御器45がX線検査時ではないと判定したときには、制
御器45が補正回路47の動作を停止させ、フィラメン
ト加熱電流制御回路46をして小さなフィラメント加熱
電流値を出力させる。
Description
めのX線透視撮影装置などに用いられるX線高電圧装置
に関し、とくにX線管とX線撮像装置との間の距離情報
に応じてX線管のフィラメント加熱電流を補正する機能
を有するX線高電圧装置の改良に関する。
アノード間に高電圧を供給するとともにそのフィラメン
トに加熱電流を供給することによってX線管からX線を
発射させるものであるが、X線管とX線撮像装置(たと
えばイメージインテンシファイア)との間の距離(以下
SIDと略す)が大きいときは、イメージインテンシフ
ァイア等の入射X線量が減少するため、これを補うよう
フィラメント加熱電流を補正することによって管電流の
上限値を引き上げる機能を有するものが知られている。
うな機能を有するX線高電圧装置では、その有用な機能
が実際にはかえってフィラメント加熱電流を無駄に増や
し、ひいてはX線管のフィラメントの寿命を縮めるとい
う弊害を生じさせるという問題がある。
診テーブルから降ろしたりするときは、いったんテーブ
ルを下げるとともにX線管やイメージインテンシファイ
アを被検者から遠ざける。このとき、X線管への高電圧
は遮断されてX線曝射はオフにされるが、フィラメント
加熱電流はつぎのX線検査までの時間が長いことが予定
される場合以外は、通常継続して流しておいてフィラメ
ントを加熱状態としておく。そのため、SIDが大きく
なることからフィラメント加熱電流が大きくなってしま
い、これはX線曝射による検査が行われていないにもか
かわらず起こるもので、まったく無駄のものといえる
し、このようなことが度重なればフィラメントの寿命が
短くなってしまうことになる。
フィラメント加熱電流を補正するX線高電圧装置におい
て、被検者がテーブルから降りる状態等では上記の補正
機能を停止せしめフィラメント加熱電流を強制的に小さ
くして無駄なフィラメント加熱電流増加を抑え、フィラ
メントの長寿命化を図ることを目的とする。
め、この発明によるX線高電圧装置においては、X線管
とX線撮像装置との間の距離情報の入力手段と、該距離
情報に応じてX線管のフィラメント加熱電流を補正する
補正手段と、X線管およびX線撮像装置からなる撮像系
と検診テーブルと間の位置関係の検出出力を入力する手
段と、該位置関係検出出力に応じて該位置関係が所定範
囲か否かを判定する手段と、該判定にしたがってX線管
のフィラメント加熱電流を強制的に所定の小さな値にす
るフィラメント加熱電流抑制手段とが備えられることが
特徴となっている。
と検診テーブルと間の位置関係が検出され、その検出出
力が入力される。検診テーブルの位置がある範囲を超え
て低くされているなら、被検者がテーブルから降ろされ
る状態となっているわけで、上記の検出出力により、こ
のことの判定が可能である。このような判定がなされた
場合、X線管とX線撮像装置との間の距離が大きいとき
でも、フィラメント加熱電流は強制的に小さくされる。
その結果、無駄なフィラメント加熱電流増加が抑えら
れ、フィラメントを長寿命化することができる。
ついて図面を参照しながら詳細に説明する。図1はこの
発明を適用したX線高電圧装置のブロック図であり、た
とえば図3に示すようなX線透視装置に組み込まれる
(図1のX線高電圧装置は図3のスタンド26内に収納
される)。このX線高電圧装置は図1に示すように、商
用交流電源41から電力供給を受けて高電圧供給回路4
2が高圧の直流電圧を発生し、これをX線管21のアノ
ード・カソード間に供給するとともに、フィラメント加
熱電流供給回路43がトランス44を経てX線管21の
フィラメントに所定値の加熱電流を供給する。
32内に収納される)は、モニター台車32の側面等に
設けられた操作パネル33(図3を参照)での操作によ
って設定されたX線管電圧・管電流などのX線条件に応
じて、高電圧供給回路42およびフィラメント加熱電流
制御回路46を制御する。フィラメント加熱電流制御回
路46は、X線条件(管電圧・管電流)ごとに必要なフ
ィラメント加熱電流の値を出力する。このX線条件ごと
のフィラメント加熱電流値は、個々のX線管21によっ
て異なるため、個々のX線管21ごとに実測され、その
X線条件ごとのフィラメント加熱電流値がメモリなどに
保持され、X線条件が設定されると、その値が読み出さ
れ、あるいは該当するX線条件に対応する値がない場合
は補間計算などにより求められて、出力される。
は、補正回路47によって補正された上でフィラメント
加熱電流供給回路43に送られる。この補正回路47
は、インターフェイス回路48を経て制御器45に入力
されたSID信号に応じて図2の実線のようにフィラメ
ント加熱電流値を変化させる。フィラメント加熱電流供
給回路43は、この値通りのフィラメント電流をトラン
ス44を介して供給する。
送られた位置信号(たとえば検診テーブル12の位置を
表わす)がインターフェイス回路49を介して制御器4
5に入力されている。制御器45は、その入力された位
置信号が一定範囲を外れたか否かにより、被検者10が
検診台11の検診テーブル12から降ろされる状態とな
っているか否かを判定し、その判定に応じて補正回路4
7を停止させるとともに、フィラメント加熱電流制御回
路46を制御して図2の点線で示すような一定の小さな
値のフィラメント加熱電流値がフィラメント加熱電流供
給回路43に与えられるようにする。
診台11の検診テーブル12に載置されるようになって
おり、この検診テーブル12は、検診台11上で矢印で
示すように上下および左右に移動できるようになってい
る。なお、この例では検診台11自体も床面上で自由に
移動できるようになっている。この被検者10を挟むよ
うにX線管21と、イメージインテンシファイア(I.
I.)22とが対向配置される。この例では、これらX
線管21、イメージインテンシファイア22は、それぞ
れC型アーム24の両端に取り付けられている。イメー
ジインテンシファイア22にはテレビカメラ23が光学
的に結合されている。
持され、この保持装置25はスタンド26に取り付けら
れている。この保持装置25によって、C型アーム24
はスタンド26に対して、矢印で示すように、C型アー
ム24の円弧方向の回転や、その円弧の半径方向の水平
軸回りの回転や、前後方向・上下方向直線移動など、あ
らゆる方向での移動・回転が可能となっている。また、
X線管21とイメージインテンシファイア22も、C型
アーム24の先端において、矢印で示すように、両者が
近づいたり遠ざかったりする方向に移動可能に保持され
ている。そしてスタンド26は車輪を備えていて、検査
室の床面を自由に移動できるようになっている。スタン
ド26内には、X線管21に高電圧の管電圧やフィラメ
ント電流を供給するX線高電圧装置(図1)が納められ
ている。
レビカメラ23で得られた映像信号はケーブルを介して
モニター台車32に送られ、その中に収納された画像処
理装置などで処理を受けた後、モニター台車32上に置
かれているテレビモニター装置31に送られる。このモ
ニター台車32も検査室の床面を自由に移動できるよう
になっている。このモニター台車32の側面には、X線
条件を設定するためのスイッチなどが備えられた操作パ
ネル33が取り付けられている。このモニター台車32
には画像処理装置のほかに制御器45(図1)などが納
められている。操作パネル33の操作によって、スタン
ド26内のX線高電圧装置を制御してX線管21からX
線を照射させ、テレビカメラ23から得られた映像信号
に対してフィルタ処理などの各種画像処理を行なった上
でテレビモニター装置31に表示させる。またこのモニ
ター台車32は検診台11とケーブルで接続されてお
り、検診台11からの検診テーブル12の位置を表わす
信号が送られてきている。
者10の状態や撮影部位に応じて被検者10に対するX
線管21、イメージインテンシファイア22の位置が定
められてX線透視像が得られ、これがテレビモニター装
置31で表示される。このときSID信号がモニター台
車32内の制御器45に入力され、上記のように図2の
実線のようなSIDに応じたフィラメント電流制御が行
われる。すなわち、SIDが大きいときはフィラメント
加熱電流を増加して透視管電流を増やし、X線量を増大
させて画像のコントラストが不足しないようにする。
12から降ろされるときは、検診テーブル12は最も低
い位置に下げられている。この検診テーブル12の位置
を表わす信号が上記のように制御器45に入力されてい
る。このような被検者10の検診テーブル12に対する
上げ降ろし時には、検診テーブル12は検査時には取り
得ないような低い位置とされるため、その位置信号が一
定範囲を外れたかどうかを制御器45が監視することに
より、上げ降ろし時であること(X線検査時ではないこ
と)が判定できる。そして、このように判定されたとき
は、図2の点線で示すようにSIDがどうあろうとフィ
ラメント電流は小さな値に強制的に抑制される。そのた
め、この上げ降ろし時には、被検者10が降り易いよう
にイメージインテンシファイア22が最低位置に下げら
れるとともにX線管21が最高位置に上げられてSID
が最大値をとることが多いが、そのような場合でもフィ
ラメント加熱電流が抑えられることになる。
置でX線検査時ではないことを判定しているが、検診テ
ーブル12の左右位置で、つまりX線管21とイメージ
インテンシファイア22との間から待避した位置にある
かどうかで、X線検査時ではないことを判定するよう構
成することもできる。また、スタンド26と検診台11
との間の距離が大きく離れたことをもって、被検者10
の上げ降ろし時であることを判定するようにしてもよい
(この場合はスタンド26の位置を検出しその位置信号
を入力する)。X線検査時ではないことの確実な判定が
可能であれば、どのような位置関係を示すものであって
も判定用の位置信号として使用可能である。
プのX線透視装置に適用した例について説明したが、こ
の型のX線透視装置以外の種々のタイプのX線透視装
置、X線透視撮影装置にも適用可能であることはもちろ
んである。
ば、SIDに応じてフィラメント加熱電流を補正するX
線高電圧装置において、被検者がテーブルから降りる状
態等では上記の補正機能を停止せしめフィラメント加熱
電流を強制的に小さくして無駄なフィラメント加熱電流
増加を抑え、フィラメントの長寿命化を図ることができ
る。
を示すブロック図。
すグラフ。
装置の例を示すブロック図。
Claims (1)
- 【請求項1】 X線管とX線撮像装置との間の距離情報
の入力手段と、該距離情報に応じてX線管のフィラメン
ト加熱電流を補正する補正手段と、X線管およびX線撮
像装置からなる撮像系と検診テーブルと間の位置関係の
検出出力を入力する手段と、該位置関係検出出力に応じ
て該位置関係が所定範囲か否かを判定する手段と、該判
定にしたがってX線管のフィラメント加熱電流を強制的
に所定の小さな値にするフィラメント加熱電流抑制手段
とを備えることを特徴とするX線高電圧装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30711096A JP3648885B2 (ja) | 1996-10-31 | 1996-10-31 | X線高電圧装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30711096A JP3648885B2 (ja) | 1996-10-31 | 1996-10-31 | X線高電圧装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10134991A true JPH10134991A (ja) | 1998-05-22 |
JP3648885B2 JP3648885B2 (ja) | 2005-05-18 |
Family
ID=17965161
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP30711096A Expired - Fee Related JP3648885B2 (ja) | 1996-10-31 | 1996-10-31 | X線高電圧装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3648885B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002299098A (ja) * | 2001-03-29 | 2002-10-11 | Hamamatsu Photonics Kk | X線発生装置 |
JP2012019856A (ja) * | 2010-07-13 | 2012-02-02 | Shimadzu Corp | 診断用x線撮影装置 |
-
1996
- 1996-10-31 JP JP30711096A patent/JP3648885B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002299098A (ja) * | 2001-03-29 | 2002-10-11 | Hamamatsu Photonics Kk | X線発生装置 |
JP2012019856A (ja) * | 2010-07-13 | 2012-02-02 | Shimadzu Corp | 診断用x線撮影装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3648885B2 (ja) | 2005-05-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5917882A (en) | Radiographic/fluoroscopic imaging system with reduced patient dose and faster transitions between radiographic and fluoroscopic modes | |
JP5042887B2 (ja) | 放射線画像撮影装置 | |
EP1158898B1 (en) | Imaging apparatus | |
JP2011139761A (ja) | X線診断装置及びx線診断装置の制御方法 | |
JP2007105345A (ja) | X線画像診断装置 | |
US8905636B2 (en) | X-ray diagnostic apparatus | |
US7295652B2 (en) | X-ray image diagnostic apparatus | |
WO2014013881A1 (ja) | X線透視撮影装置及びx線透視撮影装置の制御方法 | |
JP2597588B2 (ja) | X線透視装置 | |
JP2000342565A (ja) | X線診断装置 | |
JPH10134991A (ja) | X線高電圧装置 | |
JP2006239101A (ja) | X線画像診断装置 | |
JP2014200436A (ja) | X線画像診断装置 | |
JP2010063586A (ja) | 画像の表示方向変更方法及びそれを用いたx線装置 | |
JP2003230555A (ja) | X線透視撮影診断装置 | |
JP2005296277A (ja) | X線診断装置及びその診断方法 | |
JP4772355B2 (ja) | X線診断装置 | |
JP2019170539A (ja) | 放射線撮像システム、その制御装置及び制御方法 | |
JP4828854B2 (ja) | X線診断装置およびその管理装置 | |
JP2008125610A (ja) | X線透視撮影装置 | |
JPH11299766A (ja) | X線診断装置 | |
EP3403584A1 (en) | X-ray fluoroscopic device | |
JPH0970400A (ja) | X線画像撮影装置 | |
JP2000316835A (ja) | 画像処理方法および装置並びに放射線透視撮影装置 | |
JP3267548B2 (ja) | X線撮影装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20050125 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20050207 |
|
R150 | Certificate of patent (=grant) or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080225 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090225 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 5 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100225 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100225 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110225 Year of fee payment: 6 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |