JP3621137B2 - 非モノリシックレーザーアレイ - Google Patents

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Description

【0001】
【産業上の利用分野】
本発明は、非モノリシックレーザーアレイに関するものである。
【0002】
【従来の技術】
レーザープリンタや光メモリなどの多くの装置の性能は、独立に制御されるレーザー素子から成るレーザーアレイによって向上させることができる。たとえば、レーザー素子から成るレーザーアレイを使用するレーザープリンタは、単一レーザー素子のみを使用するプリンタよりも高い印刷速度とすぐれたスポット鮮鋭度をもつことができる。多くのアプリケーションにおいて、レーザーアレイのレーザー素子の位置および方位を正確に定めることが重要である。
【0003】
モノリシックレーザーアレイは、通例、同じ波長の光線を出力する。一般に、その波長は狭い範囲内で変えることができるだけである。しかし、カラー印刷を含む幾つかのアプリケーションにおいては、広い範囲(たとえば、赤外線から可視光)にわたる多くの波長を出力することが望ましい。カラー印刷の場合、これにより、レーザー出力特性を感光体レスポンスウィンドウに適合させることができ、あるいは重なり合ったレーザー光線をダイクロイックフィルタを使用して分離することができる。また、幾つかのアプリケーションにおいては、異なる偏光またはスポットプロフィールをもつ多数のレーザー光線を放射することが望ましいことがある。最後に、ほとんどの場合、レーザー素子間の電気的、光学的、および熱的漏話が少ないことが望ましい。
【0004】
現在のモノリシックレーザーアレイに比べると、非モノリシックレーザーアレイはより広い範囲のレーザー光線の特性(波長や偏光など)を与えることができ、そして電気的、光学的、および熱的漏話をより少なくすることができる。従って、非モノリシックレーザーアレイのほうが好ましいことが多い。
【0005】
非モノリシックレーザーアレイは、一般に、支持体に取り付けられた複数の個別レーザーダイオードから成っている。多くのアプリケーションにおいて、出力レーザー光線を正確に間隔をおいて配置しなければならないので、支持体は非モノリシックレーザーアレイの長所を損なわないようにしながら、レーザー素子を正確に配置することができなければならない。
【0006】
従来の非モノリシックレーザーアレイは、通例、平坦な支持体を使用している。これらの平坦レーザーアレイには、放射されたレーザー光線をどれだけ近い間隔で配置することができるかに関して大きな問題がある。これは、レーザー素子が形成されたウェーハを切断する際に損傷を避けるため、レーザー素子のレーザーストライプ(レーザー光線の発生源)が一般にレーザー素子の中央に置かれることが理由である。従って、従来は、レーザーストライプを共通平坦基板上に置く場合には、レーザーストライプをレーザー素子の幅より狭い任意の間隔で配置することは容易でなかった。
【0007】
米国特許第,901,325号は、レーザー素子が近接した間隔で配置された非平坦・非モノリシックレーザーアレイを開示している。図1に、非モノリシックレーザーアレイの支持体10の簡単な斜視図を示す。支持体10(スペーサ12と共に)は、レーザー素子14を数ミクロン以内の間隔を置いて配置することができるが、レーザー素子間隔の完全な制御(レーザー素子が所望の場所にどれほど近いか)を行っていない。またレーザー素子の方位も精密に制御されていない。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
従って、電気的、光学的、および(または)熱的漏話が過大でなく、非モノリシックレーザーアレイのレーザー素子を近接して正確な間隔で配置することを可能にする方法および装置が要望されている。上記の方法および装置がさらにレーザー素子の方位を正確に定めることができれば、よりいっそう望ましい。
【0009】
【課題を解決するための手段】
本発明は、レーザー素子の正確な位置決めおよび分離を可能にし、かつ熱的、光学的、および電気的漏話を少なくすることができる支持体に取り付けられたレーザー素子から成る非モノリシックレーザーアレイを提供する。本発明は、非常に広範囲の分離にわたって使用できるが、レーザー素子を約250ミクロン以下に分離する場合に特に有用である。
【0010】
支持体はスペーサが突き出た本体をもつ複合構造である。支持体は低熱拡散率領域と、その低熱拡散率領域を取り囲み、レーザー素子取付け面を形成している1個またはそれ以上の高熱拡散率領域から成っている。従って、レーザー素子の水平方向の分離はスペーサの厚さによって支配される。
【0011】
もし本体および(または)スペーサが絶縁物であれば、必要なとき電流がレーザー素子へ流れるように、本体および(または)スペーサの1つまたはそれ以上の外面にわたって導電性層をデポジットすることができる。都合のよいことに、支持体に接合されるレーザー素子の取付け面は電気入力端子である。レーザー素子の他の端子は電線を通して対応する電流源に接続されている。従って、支持体は2個のレーザー素子へ電流を伝える。
【0012】
レーザー素子を通る電流によって発生した熱はスペーサの高熱拡散率領域を通って本体へ伝わる。本体はヒートシンクであることが好ましい。スペーサの低熱拡散率領域はレーザー素子間の熱の流れを減らす熱障壁になる。このように、スペーサはレーザー素子間の熱的漏話を減らすまたは除去するほか、レーザー素子の自己加熱(レーザードループを引き起こす)を減らす作用もする。
【0013】
本発明の他の特徴は、添付図面を参照して以下の説明を読まれれば明らかになるであろう。
【0014】
【実施例】
最初に熱拡散率と熱伝導率の2つの特性について説明する。熱拡散率は熱を伝達する材料の能力を表すのに対し、熱伝導率は熱拡散率と熱容量の積である。次に説明する複合構造の目的は熱を発生するレーザー素子からの熱伝達を最適にすることにあるので、熱拡散率が最も重要な特性である。
【0015】
次に説明する実施例に使用した典型的なレーザー素子は、図2に示すように、半導体ダイオードレーザー20である。ダイオードレーザー20は、或る電気的な型(たとえばn型)にドーピングされた基板22と、その上に全面成長させた複数区間のエピタキシャル層24から成っている。エピタキシャル層24は5つの層24a〜24eから成っている。層24aと24bはn型であり、層24dと24eはp型であり、層24cはドーピングされていない。さまざまな層24a〜24eは再結合するキャリヤと、その結果放射されたフォトンを閉じ込める作用をする。エピタキシャル層24の上に電極層28が形成されている。必要なとき入力電流を閉じ込めるため、電極層28をパターニングすることができる、またはエピタキシャル層24内の材料を部分修正することができる(たとえば、層の秩序を乱すこと、すなわち逆ドーピングによって)。基板22の底面全体に第2電極層30が形成されている。ダイオードレーザー20は、電極層28,30を通して印加された電流によって光を放射するように構成されている。
【0016】
周知のように、ダイオードレーザー20は動作するために光反射器が必要である(通例はへき開面として具体化される)。ダイオードレーザー20の光反射器は誘導放射のためキャビティを形成しているへき開面32(1つのみを示す)を使用して得られる。動作中、レーザー光線36はへき開面32から放射される。
【0017】
レーザー出力の最大間隔および位置決め精度を達成するため、電極層28が支持体に電気的に接触した状態でレーザー素子20が支持体に取り付けられている(以下、説明する)。エキタキシャル層24a〜24eの厚さと電極層28の厚さを制御するほうが基板の厚さを制御するより容易であるので、これは有利である。さらにエキタキシャル層24a〜24eと電極層28は非常に薄い(全部で約2μm)ので、このやり方で取り付けると、レーザー光線出力が支持体に非常に近接する。従って、レーザー光線間の間隔は本質的に支持体の厚さに等しい。最後にレーザー素子をこのやり方で取り付けると、熱を発生するエピタキシャル層が支持体に良好に熱的に接触した状態に置かれるので、熱伝達が向上する。
【0018】
次に図3について説明する。本発明の第1実施例による非モノリシックレーザーアレイでは、2個のレーザー素子20a,20bが支持体102に取り付けられている。支持体102は低熱拡散率芯104と、低熱拡散率芯104を取り囲んでいる導電性高熱拡散率部分106(図3に示した部分106a,106b)から成るT形複合構造である。レーザー素子は、(1)支持体に熱的に接触した状態で、かつ(2)電極層28が高熱拡散率部分106と電気的に接触した状態で支持体に取り付けられている。実例として、芯104はシリコンであってもよく、高熱拡散率部分16は銅、金、またはアルミニウムであってもよい。
【0019】
動作中、電流源108a,108bから対応するレーザー素子20a,20bへ電流が印加される。高熱拡散率部分106は2つの電流源の共通導体の役目を果たす。ここでレーザー素子20aのみについて検討すると、電流源108aから導電性層30(図2参照)に印加された電流は、レーザー素子20aを通って光を放射させ、レーザー素子20aから電極層28を通って支持体102へ流れ、支持体102を通って電流源108aへ戻る。レーザー素子20bも電流源108bに対し同様に作用する。
【0020】
レーザー素子を通って流れる電流は熱を発生する。その熱は高熱拡散率部分106へ流れるので、レーザー素子が冷却される。これにより、レーザードループが減少し、かつ熱が逃げる機会が減少する。高熱拡散率部分106を通って流れる熱は適当なヒートシンクによって容易に除去される。低熱拡散率部分104はレーザー素子間の熱の流れを減らす熱障壁となるので、熱的漏話が減少する。
【0021】
以下説明する別の実施例はすべて電気的および熱的に同様に作用するので、上に述べた電気的および熱的な作用の説明を繰り返す必要はないであろう。
【0022】
本発明の非モノリシックレーザーアレイの原理は、図3に示した実施例以外の多くの実施例において実施することができる。たとえば、図4に、特定のアプリケーションにおいて非常に望ましいと思われる代替実施例の非モノリシックレーザーアレイ150を示す。レーザーアレイ150では、2個のレーザー素子20c,20dが高熱拡散率支持体152に取り付けられている。支持体152はシリコン内芯154と、それを取り囲んでいるダイヤモンド外芯156から成っている。ダイヤモンドは絶縁物質であるから、レーザー素子20c,20dに電流路を与えるため、ダイヤモンド外芯156の少なくとも一部分に導電性層158がデポジットされている。電線160はレーザー素子と導電性層158を電流源(図4には図示してない)に接続する。このダイヤモンド/シリコン複合構造は非常に有効な支持構造になる。
【0023】
図5に、図4に示した構造に類似した代替実施例の非モノリシックレーザーアレイ170を示す。レーザーアレイ170では、2個のレーザー素子20e,20fが高熱拡散率複合シート172に取り付けられている。複合シート172は、外面に薄い導電性層をもつ2枚のダイヤモンドシート176と、その間にはさまれたシリコン芯174から成っている。図4に示すように、レーザー素子は、薄い導電性層に電気的に接触した状態で、かつダイヤモンドシート176に熱的に接触した状態で取り付けられる。銅ヒートシンク178は複合シート172のための熱シンクになる。
【0024】
図6に、さらに別の非モノリシックレーザーアレイ200を示す。レーザーアレイ200では、2個のレーザー素子20g,20hが支持体204の脚部202a,202bに取り付けられている。脚部間のギャップ206の中に、低熱拡散率物質を充填することができる。
【0025】
説明した諸実施例は広範囲のレーザー素子間隔にわたってうまく機能するが、レーザー素子間隔が約250μm以下のとき特に有用である。これは、レーザー素子間隔が減少するとレーザー素子間を熱絶縁する必要性が増すからである。
【0026】
具体化する特定の実施例のさまざまな要素を構成する材料は、その特定要素の目標を達成するように選定すべきである。
【0027】
熱的性質によって材料を選定する表を以下に示す。
Figure 0003621137
【0028】
記載したいろいろな実施例は多くのやり方で製作することができる。たとえば、低熱拡散率材料の上に高熱拡散率材料をコーティングすることができる。また低熱拡散率材料の上に高熱拡散率材料を接着することができる(たとえばエポキシ樹脂を用いて)。あるいは2つの高熱拡散率層を空気または低熱拡散率材料によって(図6のように)物理的に分離することができる。
【0029】
低熱拡散率材料に対する高熱拡散率材料のコーティングは、金属の電気メッキまたは電着、蒸着、またはスパッタリングなど、幾つかのやり方で、あるいはシリコン、ニッケル、またはプラチナ上のCVDダイヤモンド成長などの物質成長によって達成することができる。電気メッキを使用する場合は、ボイドの無い密な膜を生成する条件のもとでプロセスを実施しなければならない。シリコンT形サブマウントの上に約10μmの厚さまで銅、銀、および金をうまく電気メッキできた(約48分のデポジッション時間)。
【0030】
シリコンT形サブマウント(図4参照)の上に金属を電着する場合には、ハンダ(たとえば、Sn:Ag=95:5)を使用してサブマウントを銅ヒートシンクにハンダ付けした後、電着を実施するのが最良である。蒸発したCr:Auを用いてハンダ付けするため、逆T形の底面の準備を行う。次にシリコンT形サブマウントの側面をスパッタさけたNi:Ptで被覆する。次に電着を実施し、続いてシリコン逆T形サブマウントに薄いNi:Pt層をスパッタリングする。最後に、シリコン逆T形サブマウントにIn(インジウム)を蒸着する。また高熱拡散率要素を製作するのに、無電解触媒金属皮膜を使用することもできよう。シリコンサブマウントの上に直接成長させたCVDダイヤモンドも可能である。
【0031】
また、いろいろな要素を一緒にハンダ付けすることも可能である。ハンダを使用する場合には、レーザー素子を所定の場所にハンダ付けするときの問題を避けるため(以下参照)、In−Snなどの高溶融温度ハンダを使用することが有益である。
【0032】
いろいろな支持体に対するレーザー素子の取付けは、Inなどの低温ハンダを使用して実施するのが最良である。最初に、ハンダ付けする前に、ハンダ付けに使用するインジウムパレットを希塩酸溶液に浸して酸化物を除去する。次に、ニッケルの薄層のスパッタデポジッション、続いてプラチナの薄層のスパッタ・デポジッションによってハンダ付けするため、スペーサの取付け面の準備を行う。次にタングステンボートからインジウムパレットの蒸発を用いて、スペーサの上にハンダをデポジットする。その目的は、平坦化および湿潤化する程度に厚く、しかし僅かな材料の流れを許す程度に薄い膜をデポジットすることである。妥当なIn膜の厚さは約2〜2.5 μmである。次にレーザー素子をスペーサのインジュウム層に近づけて、整合する。次に目視によって、スペーサの温度をインジウムハンダの溶融温度より上に高め、そして真空コレットを使用してレーザー素子20をその場所に押し込む。次に真空を解放する。しかしコレットによる物理的圧力は維持する。次に加熱源をオフにし、レーザー素子に冷却窒素ガス流を当てる。ハンダが凝固したら、レーザー素子上の圧力を解放する。そのあと室温まで冷却し続ける。
【0033】
上に述べたハンダ付け手順は、個々のアプリケーションおよび材料に適合するように修正することがきる。しかし、すべての場合において、満足のいく、信頼性の高い、熱的および電気的な接合を確保するため、表面の準備を注意深く実施すべきである。
【0034】
以上の説明から、この分野の専門家には本発明の原理の多くの修正および変更は自明であろう。従って、本発明の範囲は特許請求の範囲によって定めるべきである。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来の非モノリシックレーザーアレイの斜視図である。
【図2】例示したいろいろな実施例の非モノリシックレーザーアレイに使用できるレーザー素子の斜視図である。
【図3】本発明の原理による第1実施例の非モノリシックレーザーアレイの斜視図である。
【図4】本発明の原理による第2実施例の非モノリシックレーザーアレイの平面図である。
【図5】本発明の原理による第3実施例の非モノリシックレーザーアレイの平面図である。
【図6】本発明の原理による第4実施例の非モノリシックレーザーアレイの平面図である。
【符号の説明】
10 支持体
12 スペーサ
14 レーザー素子
20 半導体ダイオードレーザー(レーザー素子)
22 基板
24 エピタキシャル層
28,30 電極層
32 へき開面
36 レーザー光線
102 支持体
104 低熱拡散率芯
106 高熱拡散率部分
108 電流源
150 非モノリシックレーザーアレイ
152 高熱拡散率支持体
154 シリコン内芯
156 ダイヤモンド外芯
158 導電性層
160 電線
170 非モノリシックレーザーアレイ
172 高熱拡散率複合シート
174 シリコン芯
176 ダイヤモンドシート
178 銅シートシンク
200 非モノリシックレーザーアレイ
202 脚部
204 支持体
206 ギャップ

Claims (2)

  1. 少なくとも2つの取付け面をもつ導電性高熱拡散率領域と、前記取付け面の間に少なくとも一部分が置かれた低熱拡散率領域とから成る複合支持体と、
    レーザー素子間の分離が前記高熱拡散率領域の厚さと前記取付け面の間に置かれた前記低熱拡散率領域の部分の厚さによって支配されるように、各レーザー素子が対応する取付け面に取り付けられ、前記レーザー素子が対応する取付け面に電気的および熱的に接触している少なくとも2個のレーザー素子とから成り、
    前記低熱拡散率領域は少なくとも一方のレーザー素子が光を放射しているときレーザー素子間の熱の流れを妨げており、前記高熱拡散率領域は前記光を放射しているレーザー素子内に発生した熱を該レーザー素子の外へ伝導しており、
    前記複合支持体は、前記取付け面が立ち上がるように前記高熱拡散率領域部分及び前記低熱拡散率領域部分を支持する、該高熱拡散率材料と低熱拡散率材料とから成る支持部を包含し、該支持部は前記高熱拡散率領域部分及び前記低熱拡散率領域部分より前記取付け面に対して直交する方向に延び出ており、更に、該支持部において前記低熱拡散率材料部分が前記直交方向に沿って前記取付け面より延び出ている
    ことを特徴とするレーザーアレイ。
  2. 2つの導電性表面をもつ高熱拡散率領域と、前記2つの表面の間に少なくとも一部分が置かれた低熱拡散率領域とから成る複合支持体と、
    レーザー素子間の分離が前記高熱拡散率領域の厚さと前記高拡散率領域の間に置かれた前記低熱拡散率領域の部分の厚さによって支配されるように、各レーザー素子が対応する前記導電性表面の取付け面に取り付けられ、前記レーザー素子が前記導電性表面に電気的および熱的に接触している少なくとも2個のレーザー素子とから成り、
    前記低熱拡散率領域は少なくとも一方のレーザー素子が光を放射しているときレーザー素子間の熱の流れを妨げており、前記高熱拡散率領域は前記光を放射しているレーザー素子内に発生した熱を該レーザー素子の外へ伝導しており、
    前記複合支持体は、前記導電性表面が立ち上がるように前記高熱拡散率領域部分及び前記低熱拡散率領域部分を支持する、該高熱拡散率材料及び低熱拡散率材料から成る支持部を包含し、該支持部は前記高熱拡散率領域部分及び低熱拡散率領域部分より前記取付け面に対して直交する方向に延び出ており、更に、該支持部において前記低熱拡散率材料部分が前記直交方向に沿って前記取付け面より延び出ている
    ことを特徴とするレーザーアレイ。
JP27874794A 1993-11-22 1994-11-14 非モノリシックレーザーアレイ Expired - Lifetime JP3621137B2 (ja)

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Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5469454A (en) * 1994-05-02 1995-11-21 University Of Central Florida Mode locked laser diode in a high power solid state regenerative amplifier and mount mechanism
JPH08111562A (ja) * 1994-10-11 1996-04-30 Mitsubishi Electric Corp アレイ型半導体レーザ装置,及びその製造方法
JPH0997943A (ja) * 1995-09-28 1997-04-08 Denso Corp スタック型半導体レーザ
US9310167B1 (en) * 1995-11-28 2016-04-12 Bae Systems Information And Electronic Systems Integration Inc. Compact infrared countermeasure emitter
US5832016A (en) * 1997-01-29 1998-11-03 Northrop Grumman Corporation Slab laser assembly
US6396864B1 (en) 1998-03-13 2002-05-28 Jds Uniphase Corporation Thermally conductive coatings for light emitting devices
WO2003068291A1 (en) 2002-02-11 2003-08-21 Medela Holding Ag Lubricated breastshield
US7268005B2 (en) * 2002-10-30 2007-09-11 Finisar Corporation Apparatus and method for stacking laser bars for uniform facet coating
EP1677397A4 (en) * 2003-10-24 2008-03-19 Pioneer Corp SEMICONDUCTOR LASER AND MANUFACTURING METHOD
JP4544892B2 (ja) * 2004-03-30 2010-09-15 三洋電機株式会社 半導体レーザ装置およびその製造方法
JP5522977B2 (ja) * 2009-06-09 2014-06-18 三菱電機株式会社 多波長半導体レーザ装置
US11431146B2 (en) * 2015-03-27 2022-08-30 Jabil Inc. Chip on submount module
CN107810377B (zh) 2015-06-10 2020-06-19 康宁股份有限公司 耐热串扰的流动反应器
US10183269B2 (en) 2015-06-10 2019-01-22 Corning Incorporated Continuous flow reactor with tunable heat transfer capability

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR910004265B1 (ko) * 1987-03-26 1991-06-25 가부시기가이샤 히다찌세이사꾸쇼 반도체 레이저 장치와 그 제조 방법 및 그것을 사용한 광 헤드
US5106429A (en) * 1989-02-24 1992-04-21 Golden Aluminum Company Process of fabrication of aluminum sheet
US5086431A (en) * 1990-12-21 1992-02-04 Santa Barbara Research Center Increased intensity laser diode source configuration
US5099488A (en) * 1991-03-27 1992-03-24 Spectra Diode Laboratories, Inc. Ribbed submounts for two dimensional stacked laser array
US5305344A (en) * 1993-04-29 1994-04-19 Opto Power Corporation Laser diode array

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