JP3572179B2 - 不揮発性半導体記憶装置およびその書き込み方法 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
この発明は、複数のメモリセルに並列に多値データを書き込む不揮発性半導体記憶装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年の不揮発性半導体記憶装置の進歩は著しく、記憶容量が急速に増大している。そこで、従来と同じ製造プロセスで記憶容量を増大させる方法として、1個のメモリセルに記憶できる情報のビット数を増やす(いわゆる多値化を行う)方法がある。この多値化された不揮発性半導体記憶装置では、メモリセルのしきい値電圧を制御している。上記不揮発性半導体記憶装置は、1つのメモリセルに4値(情報量としては2ビット/セル)を記憶して、メモリセルのしきい値電圧の高い方から順に、データ「0,0」,「0,1」,「1,0」および「1,1」としている。そして、データ「0,0」を消去状態とすると、この消去状態のメモリセルを、データ「0,1」,「1,0」および「1,1」の順により低いしきい値電圧に移すことによって、書き込み動作を行う。なお、消去されたメモリセルのしきい値電圧の方が書き込まれたメモリセルのしきい値電圧より低い不揮発性半導体記憶装置もあるが、本質的には同じである。
【0003】
このような多値データの書き込みを行う不揮発性半導体記憶装置として、例えばデータ「0,1」,「1,0」および「1,1」の順に夫々別々に書き込み動作とベリファイ動作を行うものが提案されている("A 3.3V 128Mb Multi-Level NAND Flash Memory for Mass Storage Applications" ISSCC96 DIGEST OF TECHNICAL PAPERS,P132〜P133)。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記不揮発性半導体記憶装置では、次の(1)〜(4)の問題がある。
【0005】
(1) 多値データ毎にべリファイ動作を行うため、このべリファイ動作に要する時間が、例えば1個のメモリセルに4値のデータを記憶する場合では、2値の場合の3倍程度長くなる。
【0006】
(2) 書き込みおよびベリファイ時のワード線電圧は、ベリファイする多値データのしきい値電圧に合わせて変える必要があるため、ワード線電圧を変化させるための時間が必要となる。
【0007】
(3) 書き込み時、ビット線に印加する電圧が多値データの値によらず一定であるため、データ「0,1」用に絶対値の小さな負電圧からデータ「1,1」用の絶対値の大きな負電圧までの電圧をワード線に印加するため、多くの書き込みパルスが必要となる。
【0008】
(4) 同一ワード線に共通に接続されているメモリセルのゲートディスターブの原因となる。
【0009】
そこで、この発明の目的は、複数のメモリセルに同時に多値データの書き込み動作とベリファイ動作ができ、多値データを高速に書き込むことができる不揮発性半導体記憶装置およびその書き込み方法を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、請求項1の不揮発性半導体記憶装置は、ビット線およびワード線により接続された複数の不揮発性メモリセルと、上記ビット線と上記ワード線により選択された上記メモリセルに書き込むべき入力多値データを記憶するラッチ回路と、上記ワード線に一定の読み出し電圧を印加することによって、上記メモリセルに書き込まれた多値データを読み出す多値センスアンプと、上記ラッチ回路に記憶された上記入力多値データと上記多値センスアンプにより上記メモリセルから読み出された上記多値データとに基づいて、上記入力多値データを上記メモリセルに書き込むための所定電圧を上記メモリセルに接続された上記ビット線に印加するビット線電圧発生回路とを備え、上記ビット線電圧発生回路は、上記ラッチ回路に記憶された上記入力多値データと上記多値センスアンプにより上記メモリセルから読み出された上記多値データとが一致する場合は、上記メモリセルに接続された上記ビット線をオープン状態にすることを特徴としている。
【0011】
上記請求項1の不揮発性半導体記憶装置によれば、上記ビット線とワード線により選択された上記メモリセルに書き込むべき入力多値データをラッチ回路に記憶し、上記ワード線に一定の読み出し電圧を印加することによって、上記メモリセルに書き込まれた多値データを多値センスアンプにより読み出す。そして、上記ラッチ回路に記憶された入力多値データと上記多値センスアンプにより読み出された上記メモリセルに書き込まれた多値データとに基づいて、ビット線電圧発生回路により上記入力多値データを上記メモリセルに書き込むための所定電圧を上記メモリセルに接続されたビット線に印加した後、ワード線に一定の書き込み電圧を印加して、上記メモリセルに入力多値データを書き込む。このように、上記多値センスアンプによって、複数のメモリセルの多値データを一度に読み出せるため、各データ毎にべリファイする必要がなく、また、多値センスアンプは、一定のワード線電圧で、メモリセルから多値データの読み出しができるため、ベリファイ中にワード線電圧を変える必要がない。また、上記ビット線電圧発生回路によりビット線毎に所定電圧を印加できるため、書き込みパルス回数の最適化が図れ、少ない書き込み回数で多値データの書き込みができる。また、書き込む多値データの値にかかわらず、ワード線に一定の電圧を印加するので、ゲートディスターブを低減できる。
【0012】
また、上記メモリセルの読み出しとビット線電圧発生回路によるビット線への電圧印加および上記メモリセルへの書き込みによって、上記ラッチ回路に記憶された入力多値データと多値センスアンプによりメモリセルから読み出された多値データとが一致すると、上記ビット線電圧発生回路は、選択されたメモリセルのビット線をオープン状態にする。したがって、同一ワード線に接続された他のメモリセルの書き込みが行われても、入力多値データが正しく書き込まれたメモリセルは、それ以上の書き込みが行われないので、入力多値データをメモリセルに確実に書き込むことができる。
【0013】
また、請求項2の不揮発性半導体記憶装置は、請求項1の不揮発性半導体記憶装置において、上記ビット線電圧発生回路は、上記メモリセルに上記入力多値データが正しく書き込まれて、上記ラッチ回路に記憶された上記入力多値データと上記多値センスアンプにより上記メモリセルから読み出された上記多値データとが一致するまで、上記入力多値データを上記メモリセルに書き込むための上記所定電圧を出力することを特徴としている。
【0014】
上記請求項2の不揮発性半導体記憶装置によれば、上記メモリセルの読み出しとビット線電圧発生回路によるビット線への電圧印加および上記メモリセルへの書き込みにより、上記メモリセルに上記入力多値データが正しく書き込まれて、上記ラッチ回路に記憶された入力多値データと上記多値センスアンプによりメモリセルから読み出された多値データとが一致するまで、ビット線電圧発生回路は、上記入力多値データを上記メモリセルに書き込むための所定電圧を出力し続ける。したがって、上記メモリセルの読み出しとビット線電圧発生回路によるビット線への電圧印加および上記メモリセルへの書き込みを繰り返すとき、書き込みパルスを切り換えるものに比べてビット線電圧発生回路の出力遅れがなく、書き込み時間を高速にできる。
【0015】
また、請求項3の不揮発性半導体記憶装置の書き込み方法は、ビット線およびワード線により接続された複数の不揮発性メモリセルを有する不揮発性半導体記憶装置の書き込み方法において、上記ビット線と上記ワード線により選択された上記メモリセルに書き込むべき入力多値データをラッチ回路に記憶する第1ステップと、上記ワード線に一定の読み出し電圧を印加することによって、上記メモリセルに書き込まれた多値データを多値センスアンプにより読み出す第2ステップと、上記ラッチ回路に記憶された上記入力多値データと上記多値センスアンプにより読み出された上記メモリセルに書き込まれた多値データとに基づいて、ビット線電圧発生回路により上記入力多値データを上記メモリセルに書き込むための所定電圧を上記メモリセルに接続された上記ビット線に印加する第3ステップと、上記ビット線電圧発生回路により上記所定電圧を上記ビット線に印加した状態で、上記ワード線に一定の書き込み電圧を印加することによって、上記メモリセルに上記入力多値データを書き込む第4ステップとを有し、上記ラッチ回路に記憶された上記入力多値データと上記多値センスアンプにより上記メモリセルから読み出された上記多値データとが一致するまで、上記第2,第3および第4ステップを繰り返し、上記ラッチ回路に記憶された上記入力多値データと上記多値センスアンプにより上記メモリセルから読み出された上記多値データとが一致する場合は、上記メモリセルに接続された上記ビット線をオープン状態にすることを特徴としている。
【0016】
上記請求項3の不揮発性半導体記憶装置の書き込み方法によれば、上記ビット線とワード線により選択された上記メモリセルに書き込むべき入力多値データをラッチ回路に記憶し、ワード線に一定の読み出し電圧を印加することによって、上記メモリセルに書き込まれた多値データを多値センスアンプにより読み出す。そして、上記ラッチ回路に記憶された入力多値データと上記多値センスアンプにより読み出された上記メモリセルに書き込まれた多値データとに基づいて、上記ビット線電圧発生回路により入力多値データをメモリセルに書き込むための所定電圧を上記メモリセルに接続されたビット線に印加した後、ワード線に一定の書き込み電圧を印加して、上記メモリセルに入力多値データを書き込む。このように、上記多値センスアンプによって、複数のメモリセルの多値データを一度に読み出せるため、各データ毎にべリファイする必要がなく、また、多値センスアンプは、一定のワード線電圧で、メモリセルから多値データの読み出しができるため、ベリファイ中にワード線電圧を変える必要がない。また、上記ビット線電圧発生回路よりビット線毎に所定電圧を印加できることと、ラッチ回路に記憶された入力多値データと多値センスアンプによりメモリセルから読み出された多値データとが一致するまで、上記メモリセルの読み出しとビット線電圧発生回路によるビット線への電圧印加およびメモリセルへの書き込みを繰り返すことによって、書き込み回数の最適化が図れ、少ない書き込み回数で多値データの書き込みができる。また、書き込む多値データの値にかかわらず、ワード線に一定電圧を印加するので、ゲートディスターブを低減できる。
【0017】
また、上記メモリセルの読み出しとビット線電圧発生回路によるビット線への電圧印加および上記メモリセルへの書き込みによって、上記ラッチ回路に記憶された入力多値データと多値センスアンプによりメモリセルから読み出された多値データとが一致すると、上記ビット線電圧発生回路は、選択されたメモリセルのビット線をオープン状態にする。したがって、同一ワード線に接続された他のメモリセルの書き込みが行われても、入力多値データが正しく書き込まれたメモリセルは、それ以上の書き込みが行われないので、入力多値データをメモリセルに確実に書き込むことができる。
【0018】
【発明の実施の形態】
以下、この発明の不揮発性半導体記憶装置およびその書き込み方法を図示の実施の形態により詳細に説明する。
【0019】
図1,図2はこの発明の実施の一形態の不揮発性半導体記憶装置の回路図であり、図1はビット線電圧発生回路1周辺の回路図を示し、図2は図1に続く多値センスアンプとメモリセル周辺の回路図を示している。なお、この不揮発性半導体記憶装置では、説明の便宜上、メモリセル1個に蓄えるデータを4値(2ビット)とし、メモリセルに電流が流れ始めるしきい値電圧Vthの高い方から順にデータ「00」,「01」,「10」,「11」としている。
【0020】
この不揮発性半導体記憶装置は、プリチャージ信号φpre#がゲートに接続されたpチャネルトランジスタ11を介してインバータIV1,IV2の入力端子が電源電圧Vccにプリチャージされた状態で、内部コラムアドレスy12−15,y8−11,y4−7およびy0−3により列が選択されると、インバータIV1,IV2の入力端子が“Low”レベルになる。そうすると、上記インバータIV1,IV2の出力端子が“High”レベルとなり、nチャネルトランジスタTR0,TR1がオンして、データ線DQ0,DQ1をnチャネルトランジスタTR0,TR1を介してラッチ回路Latch0,Latch1のラッチノードQ0,Q1に接続する。上記ラッチ回路Latch0,Latch1のラッチノードQ0,Q1に、nチャネルトランジスタ15,16を介してグランドGNDを接続している。
【0021】
上記ラッチ回路Latch0は、互いに入力端子が相手の出力端子に接続されたインバータIV3,IV4を有し、インバータIV3の入力端子側がラッチノードQ0とし、インバータIV4の入力端子側がラッチノードQ0#としている。また、上記ラッチ回路Latch1は、互いに入力端子が相手の出力端子に接続されたインバータIV5,IV6を有し、インバータIV5の入力端子側がラッチノードQ1とし、インバータIV6の入力端子側がラッチノードQ1#としている。なお、上記インバータIV3の入力端子とインバータIV4の出力端子とを、ディスエーブル信号φdisがゲートに接続されたnチャネルトランジスタ21を介して接続すると共に、インバータIV5の入力端子とインバータIV6の出力端子とを、ディスエーブル信号φdisがゲートに接続されたnチャネルトランジスタ22を介して接続している。上記ラッチ回路Latch0のラッチノードQ0を、データ転送信号φtrn0#がゲートに接続されたpチャネルトランジスタ25を介して図2に示すセンスアンプSA0のセンスノードS0に接続している。また、上記pチャネルトランジスタ25に、データ転送信号φtrn0がゲートに接続されたnチャネルトランジスタ23を並列接続している。また、上記ラッチ回路Latch1のラッチノードQ1を、データ転送信号φtrn1#がゲートに接続されたpチャネルトランジスタ26を介して図2に示すセンスアンプSA1のセンスノードS1に接続している。また、上記pチャネルトランジスタ26に、データ転送信号φtrn1がゲートに接続されたnチャネルトランジスタ24を並列接続している。
【0022】
また、上記ラッチ回路Latch0のラッチノードQ0#をpチャネルトランジスタP01,P02のゲートに夫々接続し、そのpチャネルトランジスタP01のドレインをビット線電圧供給線ndに夫々接続している。一方、上記ラッチ回路Latch1のラッチノードQ1#をpチャネルトランジスタP11,P12のゲートに夫々接続し、そのpチャネルトランジスタP11,P12のドレインをビット線電圧供給線ndに夫々接続している。上記pチャネルトランジスタP02のドレインとpチャネルトランジスタP11のソースを接続している。また、図2に示すセンスアンプSA0のセンスノードS0#をpチャネルトランジスタP21,P22のゲートに夫々接続し、pチャネルトランジスタP01のソースをpチャネルトランジスタP21のドレインに接続し、pチャネルトランジスタP02のソースをpチャネルトランジスタP22のドレインに接続している。さらに、図2に示すセンスアンプSA1のセンスノードS1#をpチャネルトランジスタP31,P32のゲートに夫々接続している。上記pチャネルトランジスタP31をpチャネルトランジスタP21に並列接続している。上記pチャネルトランジスタP12のソースに、ゲートとドレインが接続されたnチャネルトランジスタN1のドレインを接続し、nチャネルトランジスタN1のソースにpチャネルトランジスタP22のドレインに接続している。さらに、上記pチャネルトランジスタP21のソースとpチャネルトランジスタP32のソースとを、ゲートとドレインが接続されたnチャネルトランジスタN2のドレインに接続している。このnチャネルトランジスタN2のソースとpチャネルトランジスタP22,P31のソースとを接続している。上記pチャネルトランジスタP01,P02,P11,P12,P21,P22,P31,P32およびnチャネルトランジスタN1,N2でビット線電圧発生回路1を構成している。上記nチャネルトランジスタN2のソースをビット線電圧発生回路1の出力ノードnprogとしている。
【0023】
また、図2に示すように、互いに入力端子が出力端子に接続されたインバータIV7,IV8を有するセンスアンプSA0のセンスノードS0に、nチャネルトランジスタ41を介して、ビット線BLnを接続し、そのビット線BLnをメモリセルCELL0のドレインに接続している。また、互いに入力端子が出力端子に接続されたインバータIV9,IV10を有するセンスアンプSA1のセンスノードS1に、nチャネルトランジスタ43を介して、ビット線BLn+2を接続し、そのビット線BLn+2をメモリセルCELL1のドレインに接続している。上記nチャネルトランジスタ41,43のゲートにビット線切り離し信号φcutを接続している。また、上記ビット線BLnに、ビット線読み出し信号φr0がゲートに接続されたnチャネルトランジスタ73を接続する一方、ビット線BLn+2にビット線読み出し信号φr1がゲートに接続されたnチャネルトランジスタ75を接続している。上記センスアンプSA0,SA1と昇圧回路C0,C1,C2とpチャネルトランジスタ31,32およびnチャネルトランジスタ33,34で多値センスアンプを構成している。
【0024】
上記センスアンプSA0のセンスノードS0#を、ビット線切り離し信号φcutがゲートに接続されたnチャネルトランジスタ42とビット線イコライズ信号φeqがゲートに接続されたnチャネルトランジスタ61とを介してビットラインBLnに接続している。
【0025】
上記ビット線BLn,BLn+2に、ビット線プリチャージ信号φpreがゲートに接続されたnチャネルトランジスタ51,53を介してプリチャージ電圧Vpreを接続している。また、上記nチャネルトランジスタ42,61間に、ビット線プリチャージ信号φpreがゲートに接続されたnチャネルトランジスタ52を介してプリチャージ電圧Vpreを接続している。また、上記nチャネルトランジスタ44,62間に、ビット線プリチャージ信号φpreがゲートに接続されたnチャネルトランジスタ54を介してプリチャージ電圧Vpreを接続している。
【0026】
さらに、上記ビット線BLnとビット線BLn+2とを、多値センス用データ転送信号φmtrnがゲートに接続されたnチャネルトランジスタ63を介して接続している。上記nチャネルトランジスタ63をオンすることによって、センスアンプSA1によりメモリセルCEEL0の読み出しを行うことが可能となる。
【0027】
また、図1に示すビット線電圧発生回路1の出力ノードnprogを、ビット線オープン信号Vopenがゲートに接続されたpチャネルトランジスタ71とビット線書き込み信号φw0がゲートに続されたnチャネルトランジスタ74とを介してメモリセルCELL0のソースに夫々接続している。また、上記出力ノードnprogを、ビット線オープン信号Vopenがゲートに接続されたpチャネルトランジスタ72とビット線書き込み信号φw1がゲートに接続されたnチャネルトランジスタ76とを介してメモリセルCELL1のソースに夫々接続している。
【0028】
また、上記センスアンプSA0のセンスノードS0#とセンスアンプSA1のセンスノードS1との間を容量素子でなる昇圧回路C1を接続している。
上記センスアンプSA0のセンスノードS0とセンスアンプSA1のセンスノードS1#との間を容量素子でなる昇圧回路C2を接続している。さらに、上記センスアンプSA0のセンスノードS0に容量素子でなる昇圧回路C3を介して昇圧信号φbstを接続すると共に、センスアンプSA1のセンスノードS1に容量素子でなる昇圧回路C4を介して昇圧信号φbstを接続している。
【0029】
ここで、上記センスアンプSA0,SA1のセンス感度を△Vとした場合、昇圧回路C3,C4は、センスアンプSA0,SA1の電圧センス側の入力ノードS0,S1の電圧を3△Vだけ昇圧する。これに対して、昇圧回路C2は、入力ノードS0の電圧が増大すると、センスアンプSA1のリファレンス側の入力ノードS1#の電圧を2△Vだけ昇圧する。同様に、昇圧回路C1は、入力ノードS0#の電圧が増大すると、センスアンプSA1の電圧センス側の入力ノードS1の電圧を2△Vだけ昇圧する。
【0030】
なお、図2に示す消去信号φersがゲートに接続され、ドレインに消去電圧Vers/Vssが接続されたnチャネルトランジスタ81,82は、メモリセルの消去時に用いるもので、ここでは説明を省略する。
【0031】
上記構成の不揮発性半導体記憶装置では、メモリセルCELL0を構成するトランジスタのゲートにワード線WL0を介して電圧を印加して、電流が流れるかどうかによって蓄積されている多値データを判定する。ここで、選択されたメモリセルをCELL0とし、ワード線WL0に読み出しパルス(一定電圧)と書き込みパルス(一定電圧)が印加される。
【0032】
以下、図3,図4のタイミングチャートに従って、書き込み動作とベリファイ動作について説明する。ここで、上記プリチャージ信号φpreのレベルはグランドGNDとなっており、nチャネルトランジスタTR0,TR1はオフとしている。また、上記ディスエーブル信号φdisのレベルを電源電圧Vccとし、リセット信号φrstを“High”レベルとして、nチャネルトランジスタ15,16をオンし、ラッチ回路Latch0,Latch1をリセットしている。また、上記ビット線プリチャージ信号φpreとビット線イコライズ信号φeqとを“High”レベルとして、ビット線BLn〜BLn+3をプリチャージ電圧Vpreに充電している。
【0033】
(1) 入力多値データのロード
まず、2ビットの入力多値データがデータ線DQ0,DQ1に与えられ、時点t0でプリチャージ信号φpre#を“High”レベルとし、ディスエーブル信号φdisを“Low”レベルとしてから、時点t1で内部コラムアドレスy0−y15を確定する。そうすると、コラム選択用トランジスタTR0,TR1がオンして、ラッチ回路Latch0,Latch1にデータ線DQ0,DQ1のデータをロードする。
【0034】
そして、時点t3でディスエーブル信号φdisを“High”レベルにして、データ線DQ0,DQ1のデータをラッチし、内部コラムアドレス信号y0−y15を元に戻し、時点t4でプリチャージ信号φpre#を“Low”レベルに戻して、コラム選択用トランジスタTR0,TR1をオフする。
【0035】
(2) メモリセルからの読み出し
次に、上記ラッチ回路Latch0,Latch1に入力多値データがロードされた時点t2で、ビット線読み出し信号φr0と多値センス用データ転送信号φmtrnとを“High”レベルにして、メモリセルCELL0のビット線BLnを選択し、その後、時点t3でビット線プリチャージ信号φpreとビット線イコライズ信号φeqとを“Low”レベルにして、ビット線BLへのプリチャージを止める。
【0036】
次に、時点t4でワード線WL0を“High”レベルに立ち上げて、一定時間後の時点t5でビット線切り離し信号φcut,多値センス用データ転送信号φmtrnおよびビット線読み出し信号φr0を“Low”レベルにして、センスノードS0,S1をビット線BLnから切り離す。
【0037】
その後、時点t6で昇圧信号φbstを“High”レベルにして、センスノードS0,S1を昇圧後、時点t7でP−chセンス信号φsep0#を“Low”レベルにして、センスアンプSA0を動作させる。なお、時点t4〜t6までの間、読み出しパルスをワード線WL0に印加する。
【0038】
数nsec後の時点t8で、P−chセンス信号φsep1#を“Low”レベルにして、センスアンプSA1も動作させ、その後、時点t9でN−chセンス信号φsen0,φsen1を“High”レベルにして、センス結果を確定する。
【0039】
このとき、メモリセルCELL0が消去状態(情報「0,0」)であれば、図4(a),(b)に示すように、センスノードS0,S1は共に“High”レベルとなり、センスノードS0#,S1#は共に“Low”レベルとなる。
【0040】
また、メモリセルCELL0に書き込まれた情報が「0,1」であれば、図4(c),(d)に示すように、センスノードS0は“High”レベル、センスノードS0#は“Low”レベル、センスノードS1は“Low”レベル、センスノードS1#は“High”レベルとなる。
【0041】
また、メモリセルCELL0に書き込まれた情報が「1,0」であれば、図4(e),(f)に示すように、センスノードS0は“Low”レベル、センスノードS0#は“High”レベル、センスノードS1は“High”レベル、センスノードS1#は“Low”レベルとなる。
【0042】
また、メモリセルCELL0に書き込まれた情報が「1,1」であれば、図4(g),(h)に示すように、センスノードS0は“Low”レベル、センスノードS0#は“High”レベル、センスノードS1は“Low”レベル、センスノードS1#は“High”レベルとなる。
【0043】
そうして、上記ワード線WL0は、図示していないがGNDレベルに戻す(ビット線をセンスノードからカットした後はいつでもよい)。なお、上記メモリセルCELL0の読み出し時、ビット線BLn+2はGNDレベルである。
【0044】
以下、上記メモリセルCELL0の保持情報を読み出しについて詳細に説明する。なお、センスアンプSA0,SA1を構成するバッファIV7〜IV10は、図示していないが、コンプリメンタリ接続されたpチャネルトランジスタとnチャネルトランジスタで構成されている。
【0045】
まず、メモリセルCELL0が選択されて、センスアンプSA0,SA1の入力ノードS0,S1の電圧が選択メモリセルCELL0の保持情報に応じた電圧だけプリチャージ電圧Vpreよりも低下した後、昇圧回路C3,C4の動作によって入力ノードS0,S1の電圧を最大ディスチャージ電圧の1/2(3△V)だけ昇圧する。そして、センスアンプSA0のpチャネルトランジスタ(図示せず)のみを動作させる。そうすると、
入力ノードS0の電圧>入力ノードS1の電圧
の場合は、昇圧回路C2の動作によって、センスアンプSA1のリファレンス側の入力ノードS1#の電圧が2△Vだけ昇圧される。一方、
入力ノードS0の電圧<入力ノードS1の電圧
の場合は、昇圧回路C1の動作によって、センスアンプSA1の電圧センス側の入力ノードS1の電圧が2△Vだけ昇圧される。そうした後に、センスアンプSA1のpチャネルトランジスタ(図示せず)を動作させると共に、センスアンプSA0,SA1のnチャネルトランジスタ(図示せず)を動作させて、上記メモリセルCELL0の保持情報「00」,「01」,「10」,「11」を識別する。
【0046】
(3) ビット線への電圧印加
次に、時点t10でビット線書き込み信号φw0を“High”レベルにして、メモリセルCELL0を選択し、ビット線電圧供給線ndに電圧Vd(代表値6V)を印加する。そうすると、表1に示すように、ラッチノードQ0#,Q1#とセンスノードS0#,S1#の状態によって、ビット線電圧発生回路1の出力ノードnprogが所定電圧か、または、オープン状態となる。
【表1】
上記表1のしきい値電圧Vthは、図1のnチャネルトランジスタN1,N2のしきい値電圧を表している。表1に示すように、書き込みデータ「0,0」のとき、出力ノードnprogがオープン状態、データ「0,1」のとき、出力ノードnprogが(Vd−2Vth)、データ「1,0」のとき、出力ノードnprogが(Vd−Vth)、データ「1,1」のとき、出力ノードnprogが(Vd=6V)となり、出力ノードnprogの電圧をメモリセルCELL0につながるビット線BLn+1に印加する。
【0047】
(4) 書き込みパルスの印加
次に、ワード線WL0に負電圧Vneg(代表値−9V)の書き込みパルスを時点t12〜t13の間の一定時間(代表値1μsec)印加することによって、メモリセルCELL0のしきい値電圧Vthが下がる。このとき、上記メモリセルCELL0のビット線BLn+1に所定電圧(出力ノードnprog)が印加されて、メモリセルCELL0のフローティングゲートからビット線BLn+1に電子が引き抜かれる。
【0048】
(5) 書き込み動作とベリファイ動作
そこで、(2)の「メモリセルの読み出し」に戻り、メモリセルCELL0の書き込みが終了するまで、すなわち、ラッチノードQ0#とセンスノードS0の値が一致し、ラッチノードQ1#とセンスノードS1の値が一致するまで、(2)「メモリセルの読み出し」〜(4)「書き込みパルスの印加」の動作を繰り返す。
【0049】
上記ラッチノードQ0#とセンスノードS0の値を比較し、ラッチノードQ1#とセンスノードS1の値を比較する理由は、外部から入力される2ビットの入力データが、メモリセルがセンスした出力データに対して反転しているからである。
【0050】
こうして、メモリセルに正しくデータが書き込まれるまで、ビット線に電圧を与え続けて、書き込み動作とベリファイ動作を行う。そして、正しく多値データがメモリセルに書き込まれると、ビット線はオープン状態となって、ビット線に電圧は印加されなくなる。
【0051】
なお、図1,図2に示す不揮発性半導体記憶装置では、多値センスアンプを構成するセンスアンプSA1は、メモリセルCELL0,CELL1に兼用されているため、偶数または奇数のメモリセルに対して並列に書き込み動作とベリファイ動作するが、多値センスアンプをメモリセル毎に設けることによって、同一ワード線に接続されている全てのメモリセルに対して並列に書き込みおよびベリファイすることができる。
【0052】
このように、上記不揮発性半導体記憶装置は、センスアンプSA0,SA1と昇圧回路C0,C1,C2とpチャネルトランジスタ31,32およびnチャネルトランジスタ33,34で構成された多値センスアンプによって、同一ワード線に接続された複数のメモリセルの多値データを一度に読み出せるため、各データ毎にべリファイする必要がなく、また、ワード線に一定の読み出し電圧を印加することで、多値センスアンプは、メモリセルから多値データの読み出しができるため、ベリファイ中にワード線電圧を変える必要がない。また、上記ビット線電圧発生回路1によりビット線毎に所定電圧を印加できるため、書き込みパルス回数の最適化が図れ、少ない書き込み回数で多値データの書き込みを行うことが可能になる。したがって、複数のメモリセルに同時に多値データの書き込み動作とベリファイ動作ができ、多値データを高速に書き込むことができる。また、書き込む多値データの値にかかわらず、ワード線に一定の書き込み電圧Vnegを印加するので、同一ワード線に接続されたメモリセルのゲートディスターブを低減することができる。
【0053】
また、上記(2)メモリセルからの読み出し,(3)ビット線への電圧印加および(4)書き込みパルスの印加によって、ラッチ回路Latch0,Latch1に記憶された入力多値データを表すラッチノードQ0#,Q1#とセンスアンプSA0,SA1によりメモリセルCELL0から読み出された多値データを表すセンスノードS0#,S1#とが一致すると、ビット線電圧発生回路1は、選択されたメモリセルCELL0のビット線BLnをオープン状態にする。したがって、同一ワード線WL0に接続された他のメモリセルの書き込みが行われても、入力多値データが正しく書き込まれたメモリセルは、それ以上の書き込みが行われないので、入力多値データをメモリセルに確実に書き込むことができる。
【0054】
また、上記(2)メモリセルからの読み出し,(3)ビット線への電圧印加および(4)書き込みパルスの印加により、上記メモリセルに入力多値データが正しく書き込まれて、ラッチ回路Latch0,Latch1に記憶された入力多値データを表すラッチノードQ0#,Q1#とセンスアンプSA0,SA1によりメモリセルCELL0から読み出された多値データを表すセンスノードS0#,S1#とが一致するまで、ビット線電圧発生回路1は、メモリセルに接続されたビット線に印加する所定電圧を出力するので、(2)メモリセルからの読み出し,(3)ビット線への電圧印加および(4)書き込みパルスの印加を繰り返しても、ビット線電圧発生回路1の出力遅れがなく、高速な書き込みができる。
【0055】
なお、上記実施の形態では、図1に示すビット線電圧発生回路1を用いたが、ビット線電圧発生回路はこれに限らず、入力データとセンス結果から、表1に示す電圧が発生する回路であればよい。
【0056】
例えば、図5に示すように、図1に示すビット線電圧発生回路1の構成素子と同一の構成素子を用いて、各構成素子の接続を変えたものでもよい。すなわち、図5に示すビット線電圧発生回路は、図2に示すセンスアンプSA0のセンスノードS0#をpチャネルトランジスタP21,P22のゲートに夫々接続している。上記pチャネルトランジスタP21のドレインにビット線電圧供給線ndを接続している。また、図1に示すラッチ回路Latch1のラッチノードQ1#をpチャネルトランジスタP11,P12のゲートに夫々接続している。上記pチャネルトランジスタP11,P12のドレインにビット線電圧供給線ndを夫々接続している。上記pチャネルトランジスタP11のソースとpチャネルトランジスタP22のドレインを接続している。また、図2に示すセンスアンプSA1のセンスノードS1#をpチャネルトランジスタP31,P32のゲートを夫々接続している。上記pチャネルトランジスタP12の各ソースとpチャネルトランジスタP32のドレインを接続し、pチャネルトランジスタP22,P31を並列接続している。また、図1に示すラッチ回路Latch0のラッチノードQ0#をpチャネルトランジスタP01,P02のゲートに夫々接続している。上記pチャネルトランジスタP21のソースとpチャネルトランジスタP01のドレインとを接続し、pチャネルトランジスタP22のソースとpチャネルトランジスタP02のドレインとを接続している。そして、上記pチャネルトランジスタP32のソースに、ゲートとドレインが接続されたnチャネルトランジスタN1のドレインを接続し、そのnチャネルトランジスタN1のソースをpチャネルトランジスタP01のソースに接続している。さらに、nチャネルトランジスタN1のソースに、ゲートとドレインが接続されたnチャネルトランジスタN2のドレインを接続し、nチャネルトランジスタN2のソースをpチャネルトランジスタP02のソースに接続している。上記nチャネルトランジスタN2のソースをビット線電圧発生回路の出力ノードnprogとしている。
【0057】
また、図6に示すように、図1に示すビット線電圧発生回路1の構成素子と同一の構成素子を用いて、各構成素子の接続を変えたもう一つのビット線電圧発生回路でもよい。このビット線電圧発生回路は、図2に示すセンスアンプSA0のセンスノードS0#をpチャネルトランジスタP21,P22のゲートに夫々接続し、pチャネルトランジスタP21,P22のドレインにビット線電圧供給線ndを夫々接続している。また、図2に示すセンスアンプSA1のセンスノードS1#をpチャネルトランジスタP31,P32のゲートに夫々接続し、pチャネルトランジスタP32のドレインにビット線電圧供給線ndを接続している。そして、上記pチャネルトランジスタP22とpチャネルトランジスタP31とを並列に接続している。また、図1に示すラッチ回路Latch1のラッチノードQ1#をpチャネルトランジスタP11,P12のゲートに夫々接続している。上記pチャネルトランジスタP32のソースをpチャネルトランジスタP12のドレインに接続し、上記pチャネルトランジスタP31のソースをpチャネルトランジスタP11のドレインに接続している。また、図1に示すラッチ回路Latch0のラッチノードQ0#をpチャネルトランジスタP01,P02のゲートに夫々接続している。上記pチャネルトランジスタP21のソースをpチャネルトランジスタP01のドレインに接続し、pチャネルトランジスタP11のソースをpチャネルトランジスタP02のドレインに接続している。上記pチャネルトランジスタP12のソースを、ゲートとトレインを接続されたnチャネルトランジスタN1のドレインに接続し、そのnチャネルトランジスタN1のソースとpチャネルトランジスタP01のソースと接続している。さらに、上記nチャネルトランジスタN1のソースを、ゲートとドレインが接続されたnチャネルトランジスタN2のドレインに接続し、そのnチャネルトランジスタN2のソースをpチャネルトランジスタP02のソースに接続している。このnチャネルトランジスタN2のソースをビット線電圧発生回路の出力ノードnprogとしている。
【0058】
また、上記ビット線電圧発生回路は、nチャネルトランジスタのみで構成された回路でも実現することができる。
【0059】
すなわち、図7に示すように、図5のビット線電圧発生回路のpチャネルトランジスタP01〜P32を全てnチャネルN31〜N62に代え、nチャネルN1,N2はそのままとしたものでもよい。
【0060】
また、図8に示すように、図6のビット線電圧発生回路のpチャネルトランジスタP01〜P32を全てnチャネルN31〜N62に代え、nチャネルN1,N2はそのままとしたものでもよい。
【0061】
また、図9に示すように、図1のビット線電圧発生回路1のpチャネルトランジスタP01〜P32を全てnチャネルN31〜N62に代え、nチャネルN1,N2はそのままとしたものでもよい。
【0062】
さらに、図10に示すように、図1のビット線電圧発生回路1のnチャネルトランジスタN1,N2をMOSダイオードD1,D2に代えたものでもよい。
【0063】
上記実施の形態では、メモリアレイ構成として、NOR方式を用いたが、通常のNAND型、AND型、DINOR型および仮想GND型と呼ばれているアレイ構成にこの発明を適用してよい。また、メモリセルも、スプリットゲート型も含めて全てのフラッシュメモリ等の不揮発性半導体記憶装置にこの発明を適用することができる。
【0064】
また、上記実施の形態では、1個のメモリセルに蓄えるデータを4値(2ビット)としたが、1個のメモリセルに蓄えるデータはこれに限らず、1個のメモリセルに8値(3ビット)のデータを蓄える不揮発性半導体記憶装置にこの発明を適用してもよい。この場合、8値のデータを読み出す多値センスアンプを用いる。
【0065】
【発明の効果】
以上より明らかなように、請求項1の発明の不揮発性半導体記憶装置は、ビット線とワード線により選択されたメモリセルに書き込むべき入力多値データをラッチ回路に記憶し、ワード線に一定の読み出し電圧を印加することによって、上記メモリセルに書き込まれた多値データを多値センスアンプにより読み出して、ラッチ回路に記憶された入力多値データと多値センスアンプにより読み出された上記メモリセルに書き込まれた多値データとに基づいて、ビット線電圧発生回路により上記入力多値データを上記メモリセルに書き込むための所定電圧をそのメモリセルに接続されたビット線に印加した後、ワード線に一定の書き込み電圧を印加して、上記メモリセルに入力多値データを書き込むものであり、上記ビット線電圧発生回路は、上記ラッチ回路に記憶された入力多値データと上記多値センスアンプによりメモリセルから読み出された多値データとが一致する場合は、メモリセルに接続されたビット線をオープン状態にするものである。
【0066】
したがって、請求項1の発明の不揮発性半導体記憶装置によれば、上記多値センスアンプによって、同一ワード線に接続された複数のメモリセルの多値データを一度に読み出せるため、各データ毎にべリファイする必要がなく、また、上記ワード線に一定の電圧を印加することで、多値センスアンプは、メモリセルから多値データの読み出しができるため、ベリファイ中にワード線電圧を変える必要がない。また、上記ビット線電圧発生回路によりビット線毎に所定電圧を印加できるため、書き込みパルス回数の最適化が図れ、少ない書き込み回数で多値データの書き込むことができる。したがって、複数のメモリセルに同時に多値データの書き込み動作とベリファイ動作ができ、多値データを高速に書き込むことができる。また、書き込む多値データの値にかかわらず、ワード線に一定電圧を印加するので、同一ワード線に接続されたメモリセルのゲートディスターブを低減することができる。
【0067】
また、上記ビット線電圧発生回路は、上記ラッチ回路に記憶された上記入力多値データと上記多値センスアンプにより上記メモリセルから読み出された上記多値データとが一致する場合は、上記メモリセルに接続された上記ビット線をオープン状態にするので、同一ワード線に接続された他のメモリセルの書き込みが行われても、入力多値データが正しく書き込まれたメモリセルは、それ以上の書き込みが行われないので、入力多値データをメモリセルに確実に書き込むことができる。
【0068】
また、請求項2の発明の不揮発性半導体記憶装置は、請求項1の不揮発性半導体記憶装置において、上記ビット線電圧発生回路は、上記メモリセルに上記入力多値データが正しく書き込まれて、上記ラッチ回路に記憶された上記入力多値データと上記多値センスアンプにより上記メモリセルから読み出された上記多値データとが一致するまで、上記入力多値データを上記メモリセルに書き込むための上記所定電圧を出力するので、上記メモリセルの読み出しとビット線電圧発生回路によるビット線への電圧印加および上記メモリセルへの書き込みを繰り返すとき、書き込みパルスを切り換えるものに比べてビット線電圧発生回路の出力遅れがなく、書き込み時間を高速に行うことができる。
【0069】
また、請求項3の発明の不揮発性半導体記憶装置の書き込み方法は、ビット線およびワード線により接続された複数の不揮発性メモリセルを有する不揮発性半導体記憶装置の書き込み方法において、上記ビット線と上記ワード線により選択されたメモリセルに書き込むべき入力多値データをラッチ回路に記憶する第1ステップと、上記ワード線に一定の読み出し電圧を印加することによって、上記メモリセルに書き込まれた多値データを多値センスアンプにより読み出す第2ステップと、上記ラッチ回路に記憶された入力多値データと多値センスアンプにより読み出されたメモリセルに書き込まれた多値データとに基づいて、ビット線電圧発生回路により入力多値データをメモリセルに書き込むための所定電圧をメモリセルに接続されたビット線に印加する第3ステップと、上記ビット線電圧発生回路により所定電圧をビット線に印加した状態で、上記ワード線に一定の書き込み電圧を印加することによって、上記メモリセルに入力多値データを書き込む第4ステップとを有し、上記ラッチ回路に記憶された入力多値データと多値センスアンプによりメモリセルから読み出された多値データとが一致するまで、上記第2,第3および第4ステップを繰り返すものであり、し、上記ラッチ回路に記憶された入力多値データと上記多値センスアンプによりメモリセルから読み出された多値データとが一致する場合は、メモリセルに接続されたビット線をオープン状態にするものである。
【0070】
したがって、請求項3の発明の不揮発性半導体記憶装置の書き込み方法によれば、上記多値センスアンプによって、複数のメモリセルの多値データを一度に読み出せるため、各データ毎にべリファイする必要がなく、また、ワード線に一定の電圧を印加することで、多値センスアンプは、メモリセルから多値データの読み出しができるため、ベリファイ中にワード線電圧を変える必要がない。また、上記ビット線電圧発生回路よりビット線毎に所定電圧を印加できることと、ラッチ回路に記憶された入力多値データと多値センスアンプによりメモリセルから読み出された多値データとが一致するまで、上記メモリセルの読み出しとビット線電圧発生回路によるビット線への電圧印加およびメモリセルへの書き込みを繰り返すことによって、書き込み回数の最適化が図れ、少ない書き込み回数で多値データの書き込みが可能になる。したがって、複数のメモリセルに同時に多値データの書き込み動作とベリファイ動作ができ、多値データを高速に書き込むことができる。また、書き込む多値データの値にかかわらず、ワード線に一定電圧を印加するので、同一ワード線に接続されたメモリセルのゲートディスターブを低減することができる。
【0071】
また、上記ビット線電圧発生回路は、上記ラッチ回路に記憶された入力多値データと多値センスアンプにより上記メモリセルから読み出された多値データとが一致する場合は、メモリセルに接続されたビット線をオープン状態にするので、同一ワード線に接続された他のメモリセルの書き込みが行われても、入力多値データが正しく書き込まれたメモリセルは、それ以上の書き込みが行われないので、入力多値データをメモリセルに確実に書き込むことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1はこの発明の実施の一形態の不揮発性半導体記憶装置のラッチ回路とビット線電圧発生回路の周辺の回路図である。
【図2】図2は図1に続く上記不揮発性半導体記憶装置のセンスアンプとメモリセルの周辺の回路図である。
【図3】図3は上記不揮発性半導体記憶装置の書き込み時のタイミングチャートである。
【図4】図4(a)〜(h)は図3に示す書き込み時の各入力ノードの電圧変化を示す図である。
【図5】図5は上記不揮発性半導体記憶装置のビット線電圧発生回路の他の例を示す回路図である。
【図6】図6は上記不揮発性半導体記憶装置のビット線電圧発生回路の他のもう一つの例を示す回路図である。
【図7】図7は図5のビット線電圧発生回路をNチャンネルトランジスタのみで構成した例を示す回路図である。
【図8】図8は図6のビット線電圧発生回路をNチャンネルトランジスタのみで構成した例を示す回路図である。
【図9】図9は図1のビット線電圧発生回路をNチャンネルトランジスタのみで構成した例を示す回路図である。
【図10】図10は図1のビット線電圧発生回路のNチャンネルトランジスタの代わりにMOSダイオードで構成したビット線電圧発生回路を示す回路図である。
【符号の説明】
φpre#…プリチャージ信号、
y12−15,y8−11,y4−7およびy0−3…内部コラムアドレス信号、
DQ0,DQ1…データ線、
TR0、TR1…コラム選択用トランジスタ、
φrst…リセット信号、
Latch0,Latch1…ラッチ回路、
Q0,Q0#,Q1,Q1#…ラッチノード、
φtrn0,φtrn0#,φtrn1,φtrn1#…データ転送信号、
nd…ビット線電圧供給線、
P01〜P32…pチャネルトランジスタ、
N1〜N2…nチャネルトランジスタ、
D1,D2…ビット線電圧発生回路を構成するMOSダイオード、
nprog…ビット線電圧発生回路の出力ノード、
φsep0#,φsep1#…P−chセンス信号、
SA0,SA1…センスアンプ、
S0,S0#,S1,S1#…センスノード、
C0…昇圧容量、
C1,C2…多値センス用クロスカップリング容量、
φsen0,φsen1…N−chセンス信号、
φbst…昇圧信号、
φcut…ビット線切り離し信号、
Vpre…プリチャージ電圧、
φpre…ビット線プリチャージ信号、
φeq…ビット線イコライズ信号、
φmtrn…多値センス用データ転送信号、
Vopen…ビット線オープン信号、
φr0,φr1…ビット線からの読み出し信号、
φw0,φw1…ビット線への書き込み信号、
WL0…ワード線、
Vers…消去電圧、
φers…消去信号、
CELL0,CELL1…メモリセル、
BLn〜BLn+3…ビット線、
Vneg…負電圧。
Claims (3)
- ビット線およびワード線により接続された複数の不揮発性メモリセルと、
上記ビット線と上記ワード線により選択された上記メモリセルに書き込むべき入力多値データを記憶するラッチ回路と、
上記ワード線に一定の読み出し電圧を印加することによって、上記メモリセルに書き込まれた多値データを読み出す多値センスアンプと、
上記ラッチ回路に記憶された上記入力多値データと上記多値センスアンプにより上記メモリセルから読み出された上記多値データとに基づいて、上記入力多値データを上記メモリセルに書き込むための所定電圧を上記メモリセルに接続された上記ビット線に印加するビット線電圧発生回路とを備え、
上記ビット線電圧発生回路は、上記ラッチ回路に記憶された上記入力多値データと上記多値センスアンプにより上記メモリセルから読み出された上記多値データとが一致する場合は、上記メモリセルに接続された上記ビット線をオープン状態にすることを特徴とする不揮発性半導体記憶装置。 - 請求項1に記載の不揮発性半導体記憶装置において、
上記ビット線電圧発生回路は、上記メモリセルに上記入力多値データが正しく書き込まれて、上記ラッチ回路に記憶された上記入力多値データと上記多値センスアンプにより上記メモリセルから読み出された上記多値データとが一致するまで、上記入力多値データを上記メモリセルに書き込むための上記所定電圧を出力することを特徴とする不揮発性半導体記憶装置。 - ビット線およびワード線により接続された複数の不揮発性メモリセルを有する不揮発性半導体記憶装置の書き込み方法において、
上記ビット線と上記ワード線により選択された上記メモリセルに書き込むべき入力多値データをラッチ回路に記憶する第1ステップと、
上記ワード線に一定の読み出し電圧を印加することによって、上記メモリセルに書き込まれた多値データを多値センスアンプにより読み出す第2ステップと、
上記ラッチ回路に記憶された上記入力多値データと上記多値センスアンプにより読み出された上記メモリセルに書き込まれた多値データとに基づいて、ビット線電圧発生回路により上記入力多値データを上記メモリセルに書き込むための所定電圧を上記メモリセルに接続された上記ビット線に印加する第3ステップと、
上記ビット線電圧発生回路により上記所定電圧を上記ビット線に印加した状態で、上記ワード線に一定の書き込み電圧を印加することによって、上記メモリセルに上記入力多値データを書き込む第4ステップとを有し、
上記ラッチ回路に記憶された上記入力多値データと上記多値センスアンプにより上記メモリセルから読み出された上記多値データとが一致するまで、上記第2,第3および第4ステップを繰り返し、上記ラッチ回路に記憶された上記入力多値データと上記多値センスアンプにより上記メモリセルから読み出された上記多値データとが一致する場合は、上記メモリセルに接続された上記ビット線をオープン状態にすることを特徴とする不揮発性半導体記憶装置の書き込み方法。
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