JP3559785B2 - Pll回路及び位相差検出回路 - Google Patents

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Description

【0001】
【発明が属する技術分野】
本発明は、多相VCO(ICO)を用いたPLL回路に関し、特に、位相引き込み時間を短縮し高精度なスキュー調整が可能なPLL回路及び位相差検出回路に関する。
【0002】
パソコンやビデオに用いられるDVDやCD−ROMの読み出しを可能とする装置においては、PLL回路を備え、EFMという入力信号に対してPLL回路を同期動作させ、入力信号に同期した信号を生成する。かかる装置においては、前記入力信号が入ってからデータの読み出しが可能となるまでのPLL回路の引き込み時間の短縮が装置の性能を決める重要な要素となっている。又、入力信号とPLL回路が生成したクロックとの位相差、つまりスキューが大きいと読み取りエラーを生じる原因となるので、スキューの調整を高精度に行えることが前記PLL回路に求められる。このような背景から位相引き込み時間を短縮しスキュー調整を高精度かつ容易に行えるPLL回路及び位相差検出回路の実現が求められている。
【0003】
従来の入力信号に同期をかけるPLL回路としては、ディレイセル(遅延素子、DCEL)をリング状に接続し多相信号を発振する制御発振器(ICO)を他の基準クロック発振回路の出力に位相同期させ、その発振出力のうち入力信号の位相に一番近い多相信号をセレクトして出力する方法が知られている(特開平8−274629号公報、特開平9−326692号公報)。
【0004】
また、同様にディレイセルをリング状に接続した制御発振器(ICO)を使用し、その1段目等からクロックを出力し、その出力をチャネルクロック信号(チャネルクロック)として入力信号との位相比較を行う位相比較器にフィードバックし、前記位相比較器の出力で前記制御発振器(ICO)の発振周波数を制御し、入力信号と前記チャネルクロックとの位相誤差が最小限になるようにして、PLL回路の位相同期状態を作り出すものがある。
【0005】
図13は、前記後者のPLL回路の構成例を示す図である。入力信号とチャネルクロックとの位相を比較する位相比較器1aと、前記位相比較器1aの出力により制御されるチャージポンプ回路2aと、前記チャージポンプ回路2aの出力の低周波信号を抽出する低域通過フィルタ(LPFフィルタ)3aと、前記LPFフィルタ3aの出力を電流値に変換する電圧/電流変換回路(VI変換回路)4aと、前記電圧/電流変換回路4aの出力により発振周波数が制御され複数の多相信号を出力するディレイセルをリング状に接続された制御発振器(ICO)5aと、前記制御発振器5aの複数の出力のうち特定の出力を分周して前記チャネルクロックを出力する分周回路6aと、進み信号及び遅れ信号を入力し前記チャージポンプ回路2aの出力に制御信号を加算するスキュー調整回路7aと、PLL回路動作の起動を制御する周波数固定回路8aとから構成される。
【0006】
図13のPLL回路は、入力信号とチャネルクロックとを位相比較器1aで位相比較し、位相誤差の信号(上昇指示信号と下降指示信号)をチャージポンプ回路2a、LPFフィルタ3a及び電圧/電流変換回路4aを介して制御発振器(ICO)5aにフィードバックする動作を行うものであるが、周波数固定回路8aは、PLL回路の前記動作の開始前に入力信号とチャネルクロックの周波数が一致するように電圧/電流変換回路4aの出力電流Iinに制御電流I_Finを加算し、制御発振器(ICO)の入力電流I_icoinを調整し、チャネルクロックの周波数が位相比較器1aのキャプチャーレンジに入った時点でPCSTART信号を出力(ローレベル→ハイレベル)して位相比較器1aの動作を開始させるとともに、PCSTART信号の(ハイレベル)出力以降は制御電流I_Finを保持する制御を行う。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
従来の多相信号を発振する制御発振器を用いたPLL回路は、何れの構成のものも制御発振器の発振周波数は、動作の開始から位相比較器の位相誤差出力によりLPFフィルタを介してアナログ的に制御されるものであり、位相同期状態になるまでの引き込み時間が長いという点で問題がある。また、入力信号と制御発振器の出力との位相差(スキュー)は、外部から制御するスキュー調整回路を設けることにより改善することが可能であるが、スキュー調整のための制御信号(進み信号、遅れ信号)の生成手段がPLL内には存在していないので高精度なスキュー調整は実現困難であり、PLL回路としての位相同期精度を充分高めることが不可能である。
【0008】
(目的)
本発明の目的は、高速な位相引き込みを可能とするPLL回路及び位相差検出回路を提供することにある。
本発明の目的は、高精度なスキュー調整を可能とするPLL回路及び位相差検出回路を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】
本発明のPLL回路は、制御発振器(例えば図1の5)の出力により発生される多相パルス信号の1つをチャネルクロックとして位相比較器(例えば図1の1)により入力信号と位相比較し、その位相誤差信号により前記制御発振器の発振の制御を行うPLL回路において、入力信号がチャネルクロックの周波数とほぼ等しく位相比較器のキャプチャーレンジ内に入ったとき前記制御の起動信号を出力する周波数固定回路(例えば図1の9)と、前記起動信号の発生後の入力信号の発生時点に最も近い位相の多相パルス信号を前記チャネルクロックとして選択するセレクト回路(例えば図1の7)と、を備えることを特徴とする。
【0010】
前記制御発振器のスキューを調整するスキュー調整回路(例えば図1の8)を備え、前記セレクト回路は、前記多相パルス信号をチャネルクロックとして選択した後は、当該チャネルクロックに対して入力信号が遅れているか進んでいるかを判定して入力信号の遅れ進みに応じた進み信号又は遅れ信号を生成し、前記進み信号又は遅れ信号により前記スキュー調整回路を制御することを特徴とする。
【0011】
前記発明において、前記進み信号又は遅れ信号の生成後は、前記制御発振器の発振の制御を前記位相比較器に代えて前記スキュー調整回路により行うことを特徴とする。
【0012】
また、前記セレクト回路は、入力信号により多相パルス信号をラッチしラッチ時点に最も近い位相の多相パルス信号の位相情報(例えば図3のSEL01〜SEL70、図3のSEL01B〜SEL70B)を出力する前段ラッチ回路(例えば図3の711、713、図3の712、714)と、前記起動信号の発生後の入力信号の単一の発生時点(例えば最初の変化点)で前記前段ラッチ回路の出力をラッチする後段ラッチ回路(例えば図3の715、図3の716)と、前記後段ラッチ回路の出力状態と前記多相パルス信号とにより前記チャネルクロックを選択して出力するとともに、前記後段ラッチ回路の出力状態に対する前記前段ラッチ回路の出力状態の変化に基づいて入力信号と前記チャネルクロックとの位相差に応じた進み信号又は遅れ信号を出力する位相制御信号発生回路(例えば図3の73、74、75)を備えることを特徴とする。
【0013】
前記前段ラッチ回路は、入力信号の前縁で多相パルス信号をラッチする第1の前段ラッチ回路(例えば図3の711、713)と、入力信号の後縁で多相パルス信号をラッチする第2の前段ラッチ回路(例えば図3の712、714)と、からなり、前記後段ラッチ回路は、前記起動信号の発生後の最初の入力信号の後縁(2番目の変化点)で前記第1の前段ラッチ回路の出力をラッチする第1の後段ラッチ回路(例えば図3の715)と、前記起動信号の発生後の2番目の入力信号の前縁(3番目の変化点)で前記第2の前段ラッチ回路の出力をラッチする第2の後段ラッチ回路(例えば図3の716)と、からなり、前記第1及び第2の前段ラッチ回路の出力と前記起動信号の発生後に最初にラッチした前記第1又は第2の後段ラッチ回路の出力を前記位相制御信号発生回路に出力するエッジ選択回路(例えば図3の72)と、を備えることを特徴とする。
【0014】
前記位相制御信号発生回路は、前記エッジ選択回路が出力する前記第1又は第2の後段ラッチ回路の出力と前記多相パルス信号とから前記チャネルクロックを選択して出力するクロック選択回路(例えば図3の73)と、前記チャネルクロックを基準とした前記多相パルス信号との位相差に相当するパルス幅の複数の進み信号及び遅れ信号を生成する進み遅れ検出回路(例えば図3の74)と、前記エッジ選択回路の出力に応じて、前記複数の進み信号又は遅れ信号の何れかを選択的に出力する進み遅れ出力回路(例えば図3の75)と、を備えることを特徴とする。
【0015】
前記進み遅れ出力回路は、それぞれ第1の前段ラッチ回路の出力に対応する前記クロック選択回路の出力を入力とし、チャネルクロックを基準とした位相ずれ幅を検出する第1の位相ずれ幅検出回路(例えば図6の752)及び前記位相ずれが進みか遅れかを判定する第1の進み遅れ判定回路(例えば図6の754)と、前記位相ずれ幅及び位相ずれの進み遅れに応じて、前記複数の進み信号又は遅れ信号のうち対応するパルス幅の進み信号又は遅れ信号を選択して第1の進み結果信号及び第1の遅れ結果信号として出力する第1の進み遅れ結果出力回路(例えば図6の756)と、それぞれ第2の前段ラッチ回路の出力に対応する前記クロック選択回路の出力を入力とし、チャネルクロックを基準とした位相ずれ幅を検出する第2の位相ずれ幅検出回路(例えば図6の751)及び前記位相ずれが進みか遅れかを判定する第2の進み遅れ判定回路(例えば図6の753)と、前記位相ずれ幅及び位相ずれの進み遅れに応じて、前記複数の進み信号又は遅れ信号のうち対応するパルス幅の進み信号又は遅れ信号を選択して第2の進み結果信号及び第2の遅れ結果信号として出力する第2の進み遅れ結果出力回路(例えば図6の755)と、入力信号の論理状態に応じて第1の進み結果信号又は第2の進み結果信号及び第1の遅れ結果信号又は第2の遅れ結果信号をそれぞれ進み信号及び遅れ信号として交互に切り換えて出力する出力論理回路(例えば図6の757、759)と、を備えることを特徴とする。
【0016】
本発明の位相差検出回路は、多相パルス信号を発生する制御発振器を使用するPLL回路における位相差検出回路であって、入力信号により多相パルス信号をラッチしラッチ時点に最も近い位相の多相パルス信号の位相情報(例えば図3のSEL01〜SEL70、図3のSEL01B〜SEL70B)を出力する前段ラッチ回路(例えば図3の711、713、図3の712、714)と、単一の入力信号の発生時点で前記前段ラッチ回路の出力をラッチする後段ラッチ回路(例えば図3の715、図3の716)と、前記後段ラッチ回路の出力状態と前記多相パルス信号とにより前記チャネルクロックを選択して出力するとともに、前記後段ラッチ回路の出力状態に対する前記前段ラッチ回路の出力状態の変化に基づいて入力信号とチャネルクロックとの位相差に応じた進み信号及び遅れ信号として出力する位相制御信号発生回路(例えば図3の73、74、75)を備えることを特徴とする。
【0017】
前記前段ラッチ回路は、入力信号の前縁で多相パルス信号をラッチする第1の前段ラッチ回路(例えば図3の711、713)と、入力信号の後縁で多相パルス信号をラッチする第2の前段ラッチ回路(例えば図3の712、714)と、からなり、前記後段ラッチ回路は、前記起動信号の発生後の最初の入力信号の後縁で前記第1の前段ラッチ回路の出力をラッチする第1の後段ラッチ回路(例えば図3の715)と、前記起動信号の発生後の2番目の入力信号の前縁で前記第2の前段ラッチ回路の出力をラッチする第2の後段ラッチ回路(例えば図3の716)と、からなり、前記第1及び第2の前段ラッチ回路の出力と前記起動信号の発生後に最初にラッチした前記第1又は第2の後段ラッチ回路の出力を前記位相制御信号発生回路に出力するエッジ選択回路(例えば図3の72)と、を備えることを特徴とする。
【0018】
前記位相制御信号発生回路は、前記エッジ選択回路が出力する前記第1又は第2の後段ラッチ回路の出力と前記多相パルス信号とから前記チャネルクロックを選択して出力するクロック選択回路(例えば図3の73)と、前記チャネルクロックを基準とした前記多相パルス信号との位相差に相当するパルス幅の複数の進み信号及び遅れ信号を生成する進み遅れ検出回路(例えば図3の74)と、前記エッジ選択回路の出力に応じて、前記複数の進み信号又は遅れ信号の何れかを選択的に出力する進み遅れ出力回路(例えば図3の75)と、を備えることを特徴とする。
【0019】
前記進み遅れ出力回路は、それぞれ第1の前段ラッチ回路の出力に対応する前記クロック選択回路の出力を入力とし、チャネルクロックを基準とした位相ずれ幅を検出する第1の位相ずれ幅検出回路(例えば図6の752)及び前記位相ずれが進みか遅れかを判定する第1の進み遅れ判定回路(例えば図6の754)と、前記位相ずれ幅及び位相ずれの進み遅れに応じて、前記複数の進み信号又は遅れ信号のうち対応するパルス幅の進み信号又は遅れ信号を選択して第1の進み結果信号及び第1の遅れ結果信号として出力する第1の進み遅れ結果出力回路(例えば図6の756)と、それぞれ第2の前段ラッチ回路の出力に対応する前記クロック選択回路の出力を入力とし、チャネルクロックを基準とした位相ずれ幅を検出する第2の位相ずれ幅検出回路(例えば図6の751)及び前記位相ずれが進みか遅れかを判定する第2の進み遅れ判定回路(例えば図6の753)と、前記位相ずれ幅及び位相ずれの進み遅れに応じて、前記複数の進み信号又は遅れ信号のうち対応するパルス幅の進み信号又は遅れ信号を選択して第2の進み結果信号及び第2の遅れ結果信号として出力する第2の進み遅れ結果出力回路(例えば図6の755)と、入力信号の論理状態に応じて第1の進み結果信号又は第2の進み結果信号及び第1の遅れ結果信号又は第2の遅れ結果信号をそれぞれ進み信号及び遅れ信号として交互に切り換えて出力する出力論理回路(例えば図6の757、759)と、を備えることを特徴とする。
【0020】
(作用)
入力信号はセレクト回路に接続されそこで多相パルス信号のどの相に近いかが判定される。判定の結果、入力信号の位相に最も近い多相パルス信号をチャネルクロック(PLLの出力クロック)として設定する。チャネルクロックを一度設定した後は固定しておき、位相比較器による入力信号とチャネルクロックの比較により位相同期の引き込み動作を行わせる。その後セレクト回路は最初に固定したチャネルクロックに対して遅れているか進んでいるかにより電圧差もしくは電流差としてチャネルクロックの遅れ進みのスキュー調整用の信号とする(図1)。
【0021】
【発明の実施の形態】
次に、本発明の多相信号を発振する多相の制御発振器(ICO)を用いたPLL回路及び位相差検出回路の一実施の形態を詳細に説明する。
(構成の説明)
(PLL回路の全体構成の説明)
図1は、本実施の形態の構成例を示す図である。本実施の形態の構成は、EFM等の入力信号とチャネルクロックとの位相を比較する位相比較器1と、前記位相比較器1の出力(上昇指示信号、下降指示信号)により制御されるチャージポンプ回路2と、前記チャージポンプ回路2の出力の低周波信号を抽出する低域通過フィルタ(LPFフィルタ)3と、前記LPFフィルタ3の出力を電流値に変換する電圧/電流変換回路(VI変換回路)4と、前記電圧/電流変換回路4の出力により発振周波数が制御され複数の多相信号を出力する、ディレイセルをリング状に接続された制御発振器(ICO)5と、前記制御発振器5の複数の出力をそれぞれ分周した信号であり、順次所定の遅延時間(1ディレイ)だけ遅延した複数個でなる多相パルス信号を出力する複数の分周回路6と、入力信号、前記複数の分周回路6の出力及び同期動作の開始を制御するPCSTART信号を入力し、前記複数の分周回路6のいずれかの出力のうち選択された出力を前記チャネルクロックとして出力するとともに、入力信号に対するチャネルクロックのスキューを調整するための制御信号である進み信号及び遅れ信号を出力するセレクト回路7と、前記進み信号及び遅れ信号を入力し前記チャージポンプ回路の出力を制御し、スキュー調整を行うスキュー調整回路8と、入力信号とチャネルクロックを入力し、PLL回路のキャプチャーレンジに入ったときにPLL動作を開始するPCSTART信号を位相比較器1に出力する周波数固定回路9と、から構成される。各部の構成、機能は以下のとおりである。
【0022】
周波数固定回路9は、PLL回路(図1の1〜8)の本来の動作に先立つ初期動作において、入力信号とチャネルクロックの周波数が一致するように電圧/電流変換回路4の出力電流Iinに制御電流I_Finを加算し、電流制御可能な制御発振器(ICO)の入力電流I_icoinを調整し、前記PLL回路の動作による位相比較器1のキャプチャーレンジに入るように初期の周波数の同期動作を行うものである。周波数固定回路9は、チャネルクロックの周波数が位相比較器1のキャプチャーレンジに入った時点でPLL動作の起動信号としてのPCSTART信号を出力(ローレベルからハイレベルに)して位相比較器1の動作を開始させるとともに、PCSTART信号の(ハイレベル)出力以降は制御電流I_Finを保持する制御機能を有する。位相比較器1は、周波数固定回路9から出力されるPCSTART信号により動作を開始し、入力信号と制御発振器(ICO)5の出力であるチャネルクロックとの位相を比較し、位相誤差に応じた信号として上昇指示信号又は下降指示信号を出力する機能を有する。チャージポンプ回路2は、位相比較器1の出力の上昇指示信号及び下降指示信号によりそれぞれ制御されるスイッチ21、22と、各スイッチ21、22と直列接続された電流源23、24とを有し、各スイッチのON/OFF状態により、電流源23、24の何れかの電流を出力とする機能を有する。LPFフィルタ3はチャージポンプ回路2の出力電流及びスキュー調整回路8の出力電流の加算値を入力とし、該加算電流の低周波成分の信号を抽出して出力する機能を有する。電圧/電流変換回路4は、前記低周波成分の信号を入力し電流信号及び変換する機能を有する。
【0023】
制御発振器(ICO)5はインバータ回路又は反転増幅器のような入出力間で伝搬遅延時間を生じるディレイセルをリング状に接続して構成し、各ディレイセルからそれぞれ互いに位相の異なる複数の多相信号を発振する制御発振器であって、ディレイセルに対する電流源等を制御することによりその発振周波数を制御可能であり、前記電源電流として前記電圧/電流変換回路4の出力が供給され、前記電圧/電流変換回路4の出力電流により発振周波数が変化する発振機能を有する。分周回路6は前記制御発振器を構成するディレイセルの各段から出力される多相信号のそれぞれを所定分周数で分周して多相パルス信号として出力する機能を有する。なお、分周回路6は、必ずしも必要とせず多相信号を出力する制御発振器5の出力段機能を有する回路に代えることができる。
【0024】
スキュー調整回路8は、前記進み信号及び遅れ信号を入力し前記チャージポンプ回路2の出力側にスキューを制御する電流信号を出力する機能を有する。
図2は、スキュー調整回路の構成例を示す図である。スキュー調整回路8は、チャージポンプ回路2と同様の構成でなり、電流を吐出する電流源83と、電流を吸い込む電流源84と、前記各電流源83、84と出力端子間に直列に設けられ、遅れ信号及び進み信号によりそれぞれON/OFF制御されるスイッチ81、82とから構成される。スキュー調整回路8は、入力する遅れ信号及び進み信号の差分の電流を出力し、該電流は前記チャージポンプ回路2の出力に対する補正信号として該出力に加算される。
【0025】
次に、セレクト回路7は、前記複数の分周回路6からの多相パルス信号と入力信号の位相とを比較して、PCSTART信号が入力(ハイレベル入力)された直後の入力信号の位相(エッジの位相)に一番近い多相パルス信号の1つを選択し、該多相パルス信号を前記チャネルクロックとして固定的に出力するとともに、前記チャネルクロックと入力信号との位相差を常時検出し、前記位相差に対応する進み信号及び遅れ信号を出力する機能を有する。
【0026】
(セレクト回路の説明)
次に、本発明のチャネルクロックの選択及びスキュー調整の位相比較機能を有するセレクト回路のより具体的な実施の形態について、図3〜図12を参照して詳細に説明する。
図3は、セレクト回路の実施の形態の構成を示す図であり、図11及び図12は、本実施の形態のセレクト回路の動作のタイミングチャートを示す図である。同図ではPCSTART信号が入力信号のローレベル状態のt0時点で立ち上がる場合の動作を示している。以下、セレクト回路の各部の動作はタイミングチャートをも参照して説明する。
【0027】
本セレクト回路7は、入力信号及びPCSTART信号の入力部70と、入力信号が多相パルス信号のどの位相と一番近いかを検出するD型フリップフロップ回路でなるラッチ回路71と、PCSTART信号のハイレベルへの立ち上がり直後の入力信号のエッジから直ちに動作が開始するようにラッチ回路71の出力を選択して出力するエッジ選択回路72と、入力信号の前記エッジを基準とし入力信号に最も位相の近い多相パルス信号を選択しチャネルクロック等を出力するクロック選択回路73と、制御発振器5の進み遅れ(スキュー)を制御するため複数のパルス幅の制御信号を出力する進み遅れ検出回路74と、制御発振器5の進み遅れを帰還制御する進み信号又は遅れ信号を出力する進み遅れ出力回路75と、から構成される。
【0028】
以下、図3に示すセレクト回路における個々の回路動作について説明する。
入力部70は、入力信号と、ハイレベルへの立ち上りをPLL動作の起動信号(スタート信号)とするPCSTART信号と、を入力とする第1〜第3の遅延回路701〜703を備える。第1の遅延回路701は、PCSTART信号をD端子に、入力信号をクロック端子に入力し、Q出力端子とD端子とを直列接続した2つのD型フリップフロップ回路で構成したシフトレジスタ構成の遅延回路である。第2の遅延回路702は、前記PCSTART信号をD端子に入力し、反転した入力信号をクロック端子に入力し、Q出力端子とD端子とを直列接続した2つのD型フリップフロップ回路で構成したシフトレジスタ構成の遅延回路である。第3の遅延回路703は、PCSTART信号をクロック端子に入力し、入力信号をD端子に入力する単一のD型フリップフロップ回路で構成した遅延回路である。
【0029】
第1の遅延回路701は、入力信号の立ち上がり及び立ち下がりによりスタート信号を順次シフトすることにより、スタート信号を入力信号の1パルスのハイレベルの幅だけ遅延して図11に示す信号PHASESELを出力する。同様に第2の遅延回路702は、入力信号の立ち下がり及び立ち上がりによりスタート信号を順次シフトすることにより、スタート信号を入力信号のパルスのローレベルの幅だけ遅延して図11に示す信号PHASESELBを出力する。第3の遅延回路703は、スタート信号の立ち上がりにより入力信号をラッチすることにより、スタート信号の立ち上がり時における入力信号の論理状態(ハイレベル又はローレベル)をラッチして信号EDGESELを出力する。
【0030】
ラッチ回路71は、入力信号をクロック端子に入力し、複数の多相パルス信号CK0DIV〜CK7DIVのそれぞれをD端子に入力する多相の相数と同数のD型フリップフロップ回路でなる前段の第1のラッチ回路711と、同様の構成でなり、クロック端子に反転した入力信号を入力したD型フリップフロップ回路でなる前段の第2のラッチ回路712と、前段の第1のラッチ回路711のQ出力の論理回路であって、前記多相パルス信号の位相順にQ出力のインバータ回路を介して反転した出力とその位相順で1つ前のD型フリップフロップ回路のQ出力とをナンド回路に入力し、それぞれ入力信号と多相パルス信号の位相関係の情報を有する位相検出信号SEL01〜SEL70を出力する複数の第1の論理回路713と、同様の構成でなる前段の第2のラッチ回路712の出力側の複数の第2の論理回路714と、前段の第1の論理回路713の出力をD端子に入力し第1の遅延回路701の出力をクロック端子に入力するD型フリップフロップ回路でなる後段の第1のラッチ回路715と、同様な構成でなり、複数の第2の論理回路714の出力側における、クロック端子に前段の第2の遅延回路702の出力を入力したD型フリップフロップ回路でなる後段の第2のラッチ回路716と、を備える。
【0031】
ラッチ回路71においては、前段の第1のラッチ回路711では入力信号の各ハイレベルへの立ち上がりエッジ(パルスの前縁t1、t3、t5、…)における多相パルス信号の論理状態をラッチして図11に示す信号CK0D〜CK7Dを出力する。前段の第2のラッチ回路712では入力信号の各ローレベルへの立ち下がりエッジ(パルスの後縁t2、t4、t6、…)における多相パルス信号の論理状態をラッチして図11に示す信号CK0DB〜CK7DBを出力する。各ラッチ回路の複数のD型フリップフロップ回路の出力(信号CK0D〜CK7D、信号CK0DB〜CK7DB)は、多相の相数が偶数であるから図11の信号CK0D〜CK7Dのようにそれぞれ半分がハイレベルであり残る半分がローレベルである。第1の論理回路713は、前記信号CK0D〜CK7D、信号CK0DB〜CK7DBの内、多相パルス信号の位相順で最初にハイレベルを出力しているD型フリップフロップ回路の出力に反転回路を介して接続されているNAND回路からハイレベルを出力し、第3のラッチ回路715はハイレベルを出力するNAND回路と接続されたD型フリップフロップ回路のみが前縁(t1、t3、t5、…)で当該ハイレベルをラッチして出力する。第4のラッチ回路716はハイレベルを出力するNAND回路と接続されたD型フリップフロップ回路のみが前縁(t2、t4、t6、…)で当該ハイレベルをラッチして出力する。
【0032】
次に、エッジ選択回路72の構成、動作について図4により説明する。
図4は、エッジ選択回路の具体的な回路構成例を示す図である。エッジ選択回路72は、切替回路721と、入出力間を接続する接続端子722と、を備え、切替回路721は、第3のラッチ回路715及び第4のラッチ回路716の複数の出力のそれぞれを位相順に組み合わせた2入力の内、何れかを切り替えて出力する回路であり、その制御は第3の遅延回路703から出力されるEDGSEL信号により行われ、それぞれSEL0EDG〜SEL7EDG信号として後続の回路に出力される。また、第1の論理回路713の出力SEL70〜SEL67及び第2の論理回路714の出力SEL70B〜SEL67Bは、前記接続端子722を介して後続の回路に出力される。
【0033】
エッジ選択回路72は、以上の構成により、PCSTART信号の立ち上がり直後の入力信号のエッジでラッチした第3のラッチ回路715又は第4のラッチ回路716のそれぞれの出力SEL0D〜SEL7D又は出力SEL0DB〜SEL7DBの何れかを選択して出力する機能を有する。PCSTART信号の立ち上がり時点で入力信号がローレベル状態の場合は第3のラッチ回路715の出力を、同ハイレベル状態の場合は第4のラッチ回路716の出力を選択して出力する。図11に示す場合は、第3のラッチ回路715の出力SEL0D〜SEL7Dが選択され、後続の回路に出力される。
【0034】
次に、クロック選択回路73の構成、機能について図5により以下説明する。
図5は、クロック選択回路73の具体的な回路構成例を示す図である。クロック選択回路73は、エッジ選択回路72の出力信号SEL0EDGE〜SEL7EDGE及び多相パルス信号CK0DIV〜CK7DIVを入力し、信号SEL1EDGE〜SEL7EDGEの出力の何れもローレベルのときにのみ信号SEL0EDGEに代えてハイレベルを出力する論理回路731と、前記論理回路731の出力信号、信号SEL1EDGE〜SEL7EDGEと、多相パルス信号CK0DIV〜CK7DIVをそれぞれ順次1つずつ対応させて入力する2入力の8つのナンド(NAND)回路と、各NAND回路の隣接する出力を順次アンド(AND)回路に入力し最終的に1つのNAND回路を介して出力するチャネルクロック生成回路732と、同様の構成でなり2入力の8つのNAND回路の2つの入力の組み合わせのうち多相パルス信号CK0DIV〜CK7DIVを順次1つずつずらして入力し、チャネルクロックに対し1ディレイ単位で順次遅延したそれぞれクロックP1信号、クロックP2信号、クロックP3信号、チャネルクロックB(チャネルクロックB)、クロックM3信号、クロックM2信号、クロックM1信号をそれぞれ出力するクロックP1生成回路734、クロックP2生成回路735、クロックP3生成回路736と、チャネルクロックB生成回路733、クロックM3生成回路737、クロックM2生成回路738及びクロックM1生成回路739と、を備える。
【0035】
クロック選択回路73は、前記構成により論理回路731の出力から信号SEL1EDGE〜信号SEL7EDGEの何れか1つがハイレベル状態となり、このハイレベル状態は、入力信号の立ち上がりタイミングに一番近い位置で立ち上がる多相パルス信号の1つを多相パルス信号CK0DIV〜CK7DIVから選択して互いに逆位相の関係にあるチャネルクロック又はチャネルクロックBをチャネルクロック生成回路732又はチャネルクロックB生成回路733から出力し、他の生成回路734、735、736、及び生成回路737、738、739から前記チャネルクロック及び前記チャネルクロックBに対し順次1ディレイ単位で位相のずれたクロックP1信号〜P3信号、クロックM1信号〜クロックM3信号を出力するように動作する。
【0036】
次に、図3に戻りセレクト回路のうち進み遅れ検出回路74について詳細に説明する。
進み遅れ検出回路74は、初段のD型フリップフロップ回路のD端子に入力信号を入力し、クロック端子にチャネルクロックを入力した2つのD型フリップフロップ回路を直列接続したシフトレジスタ構成の第4の遅延回路と、前記第4の遅延回路の2段目のD型フリップフロップ回路の入出力の排他的論理和回路からなり、該排他的論理和回路から入力信号許可信号1を出力する入力信号許可回路(1)741と、D端子に入力信号を入力し、クロック端子にチャネルクロックを入力したD型フリップフロップ回路と、初段のD型フリップフロップ回路のD端子に前記D型フリップフロップ回路の出力を入力しクロック端子にチャネルクロックBを入力した2つのD型フリップフロップ回路を直列接続したシフトレジスタ構成の第5の遅延回路と、前記第5の遅延回路の2段目(出力側)のD型フリップフロップ回路の入出力の排他的論理和回路からなり、該排他的論理和回路から入力信号許可信号2を出力する入力信号許可回路(2)742と、チャネルクロックとクロックP1信号〜クロックP3信号の反転出力とをそれぞれ入力とするナンド(NAND)回路743と、チャネルクロックBとクロックM1信号〜クロックM3信号を入力とするノア(NOR)回路744と、チャネルクロックとNAND回路743の各出力をそれぞれ一方の入力とし、入力信号許可回路(1)741の出力を他方の入力とするアンド(AND)回路745と、チャネルクロックとNOR回路744の各出力をそれぞれ一方の入力とし入力信号許可回路(2)742の出力を他方の入力とするAND回路746と、から構成される。
【0037】
進み遅れ検出回路74においては、入力信号許可回路(1)741は、入力信号をチャネルクロックの各立ち上がりに同期させた信号と、更に該信号をチャネルクロックの各立ち上がり時点で同期させた(チャネルクロックの周期だけ遅延した)信号との排他的論理和操作により、図11に示すように入力信号のハイレベルをチャネルクロックの周期の信号である入力許可信号1として出力する機能を有する。入力信号許可回路(2)742は最初のD型フリップフロップ回路により入力信号をチャネルクロックの周期だけ遅延した信号に対してチャネルクロックと逆相であるチャネルクロックBにより同様の論理操作を行うので、結果的に図11に示すように入力許可信号1に対して90°位相がずれた(遅延した)信号である入力許可信号2を出力する機能を有する。また、NAND回路743は、チャネルクロックとクロックP1信号〜クロックP3信号の反転信号とのNAND処理により、チャネルクロックの後縁からクロックP1信号〜クロックP3信号の後縁までのパルス幅の信号をそれぞれ出力し、NOR回路744は、チャネルクロックBとクロックM1信号〜クロックM3信号のNAND処理により、クロックM1信号〜クロックM3信号の後縁からチャネルクロックBの前縁までのパルス幅の信号をそれぞれ出力する。次に、NAND回路743の出力は、AND回路745により入力許可信号1のハイレベル期間のみ出力され、NAND回路744の出力は、AND回路746により入力許可信号2のハイレベル期間のみ出力されるから、図11に示すようにAND回路745からは多相パルス信号の1ディレイに相当する時間幅に対し、時間幅×1、時間幅×2、時間幅×3、時間幅×4のパルス幅の信号をそれぞれ進み1、進み2、進み3、進み4として出力し、AND回路746からは同時間幅に対し時間幅×1、時間幅×2、時間幅×3、時間幅×4のパルス幅の信号を遅れ1、遅れ2、遅れ3、遅れ4として出力する。ここで同一パルス幅の進みと遅れの信号は、図11、図12に示すように時間的に一部でも重複して出力されることはない。これら進み及び遅れの計8個の信号は、次に説明する進み遅れ出力回路75において制御発振器の出力の位相ずれ(スキュー)の程度により選択的にスキュー調整回路に出力される信号である。
【0038】
次に、図3に示す進み遅れ出力回路75について詳細に説明する。
図6は、進み遅れ出力回路75の構成例を示す図である。進み遅れ出力回路75は、位相情報タイミング生成回路750a、750b(図7)、位相ずれ幅検出回路751、752(図8)、進み遅れ判定回路753、754(図9)、進み遅れ結果出力回路755、756(図10)、前記進み遅れ結果出力回路755、756の出力に対する出力側のAND回路及びOR回路でなる論理回路(図6)、から構成される。図6に示す構成から分かるように進み遅れ出力回路75は上段と下段の同様な2つの回路構成からなる。以下、各回路の構成、機能について順次説明する。
【0039】
図12は進み遅れ出力回路75のタイミングチャートを示す図である。以下、図12をも参照して進み遅れ出力回路75の各部の回路を説明する。
【0040】
図7は、図6に示す位相情報タイミング生成回路750a、750bの回路構成例を示す図である。図3に示す第1の論理回路713の出力信号SEL70〜SEL67(又は第2の論理回路714の出力信号SEL70B〜SEL67B)と、入力信号とを入力する。第1(又は第2)の論理回路の各出力をそれぞれD端子に入力し、クロック端子に入力信号を入力する複数のD型フリップフロップ回路で構成される。図12に示すように、位相情報タイミング生成回路750a(750b)は、第1(又は第2)の論理回路のそれぞれの出力SEL70〜SEL67(又はSEL70B〜SEL67B)を入力信号の1周期だけ遅延させた信号を出力OUTSEL70〜OUTSEL67(又はOUTSEL70B〜OUTSEL67B)として出力する機能を有する。本実施の形態のこの機能は、後述するように選択したチャネルクロックの位相ずれを入力信号の各エッジ(前縁又は後縁)で検出し、その1周期後にスキュー制御を行うための進み遅れの信号を出力する構成を採用するための位相調整を行うものである。つまり、スキュー(位相ずれ)の判断の基準になる第3及び第4のラッチ回路715、716の出力信号の発生タイミングと前段の第1及び第2のラッチ回路711、712の出力の発生タイミングとを一致させるものである。
【0041】
図8は、図6に示す位相ずれ幅検出回路751、752の回路構成例を示す図である。
図7に示す位相情報タイミング生成回路750a(又は750b)の出力信号OUTSEL70〜OUTSEL67(又はOUTSEL70B〜OUTSEL67B)と、エッジ選択回路72の出力信号SEL0EDGE〜SEL7EDGEを入力し、信号SEL0EDGE〜SEL7EDGEのそれぞれを一方の入力とし、信号SEL0EDGE〜SEL7EDGEのそれぞれに対し、1ディレイ単位の進み及び遅れ、2ディレイの進み及び遅れ、3ディレイ単位の進み及び遅れ、4ディレイ単位の進み及び遅れに相当する信号SEL0EDGE〜SEL7EDGEの2信号をオア(OR)回路Aにより論理和をとった出力を他方の入力とする複数のナンド(NAND)回路Bと、各NAND回路Bの出力を順次論理和をとるアンド回路と最終段のナンド(NAND)回路からなる論理回路Cとからなり、それぞれ出力信号OUTSEL70〜OUTSEL67(又はOUTSEL70B〜OUTSEL67B)のそれぞれを基準とした1相ずれ、2相ずれ、3相ずれ、4相ずれを示す信号を出力する4つの論理回路7511(7521)、7512(7522)、7513(7523)、7514(7524)を備える。
【0042】
位相ずれ幅検出回路751(752)は、前記構成により入力信号の最初の立ち上がり(又は立ち下がり)で多相パルス信号をラッチすることにより検出した入力信号のエッジに一番近い多相パルス信号の位相情報であるエッジ選択回路72の出力信号SEL0EDGE〜SEL7EDGEの1つのハイレベルに対し、その後の入力信号の各エッジで検出した当該位相情報からのずれを1ないし4ディレイ単位で検出し、1相ずれ、2相ずれ、3相ずれ、4相ずれの何れかをハイレベルとして出力する。この出力は次の入力信号のエッジまでその出力状態が保持される。
【0043】
図9は、図6に示す進み遅れ判定回路753(754)の回路構成例を示す図である。
進み遅れ判定回路753(754)は、図7に示す位相情報タイミング生成回路750a(又は750b)の出力信号OUTSEL70〜OUTSEL67(又はOUTSEL70B〜OUTSEL67B)と、エッジ選択回路72の出力信号SEL0EDGE〜SEL7EDGEを入力し、信号SEL0EDGE〜SEL7EDGEのそれぞれを一方の入力とする進み判定用の論理回路7531(又は7541)及び遅れ判定用の論理回路7532(又は7542)を備える。
【0044】
進み判定用の論理回路7531(又は7541)は、信号SEL0EDGE〜SEL7EDGEのそれぞれを一方の入力とし、それぞれの入力に対し1ディレイの進み、2ディレイの進み、3ディレイの進みに相当する信号OUTSEL70〜OUTSEL67(又はOUTSEL70B〜OUTSEL67B)の3つの信号を論理和をとった出力であるOR回路D1の出力をそれぞれ他方の入力とする複数のNAND回路E1と、各NAND回路E1の出力を順次2つずつ入力とするAND回路及び最終のAND回路の出力を入力とするNAND回路からなる論理回路F1と、から構成される。
【0045】
遅れ判定用の論理回路7532(又は7542)は、信号SEL0EDGE〜SEL7EDGEのそれぞれを一方の入力とし、それぞれの入力に対し1ディレイの遅れ、2ディレイの遅れ、3ディレイ遅れに相当する信号OUTSEL70〜OUTSEL67(又はOUTSEL70B〜OUTSEL67B)の3つの信号の論理和を出力するOR回路D2の出力をそれぞれ他方の入力とする複数のNAND回路E2と、各NAND回路E2の出力を順次2つずつ入力とするAND回路及び最終のAND回路の出力を入力とするNAND回路からなる論理回路F2と、から構成される。
【0046】
以上の構成により、進み判定用の論理回路7531(又は7541)及び遅れ判定用の論理回路7532(又は7542)は、図8に示す位相ずれ幅検出回路751(又は752)から出力される1相ずれ〜3相ずれを示す出力のずれ方向が進みのずれか遅れのずれかを示す進み判定信号又は遅れ判定信号をそれぞれ出力する。
【0047】
図10は、図6に示す進み遅れ結果出力回路755(756)の回路構成例を示す図である。
1相ずれ〜4相ずれを示す信号のそれぞれと、進み1〜進み4の信号のそれぞれを入力する4つのNAND回路と、該NAND回路の2つずつの出力を入力とするAND回路と、該AND回路の出力を入力とするNAND回路と、から構成された第1の進み遅れ結果論理回路7551(7561)と、同様に1相ずれ〜4相ずれを示す信号のそれぞれと、遅れ1〜遅れ4の信号のそれぞれを入力する4つのNAND回路と、該NAND回路の2つずつの出力を入力とするAND回路と、該AND回路の出力を入力とするNAND回路と、から構成された第2の進み遅れ結果論理回路7552(7562)と、第1の進み遅れ結果論理回路と進み判定出力、第2の進み遅れ結果論理回路と遅れ判定出力をAND回路介してそれぞれ進み結果出力及び遅れ結果出力として出力する構成を備える。
【0048】
進み遅れ結果出力回路755(756)から出力される進み結果出力及び遅れ結果出力は、図6に示す2つの出力AND回路757(758)にそれぞれ入力され、該出力AND回路の他方の入力には入力信号(反転した入力信号)が入力される。更にそれぞれの出力AND回路の出力はそれぞれ2つの出力OR回路759に入力され、スキュー調整回路に進み信号及び遅れ信号として出力される。
【0049】
(全体の動作説明)
本実施の形態の以上の構成及び各部の機能に基づいて、以下、図11及び図12に示すタイムチャートに示す入力信号及びPCSTART信号の例により全体の動作を説明する。以下、適宜タイミングチャートのグループ単位の信号a、b、c…の表示を引用する。
図1に示すPLL回路の初期動作において、セレクト回路7が多相パルス信号の何れかをチャネルクロックとして出力しているとすると、周波数固定回路9は入力信号と該チャネルクロックとの周波数差に相当する電流I_Finを出力し、前記チャネルクロックと入力信号の周波数を一致させるように制御発振器5の発振周波数を制御するとともに、チャネルクロックの周波数(位相)が位相比較器1の位相比較特性のキャプチャーレンジに入った場合、これを検出して位相比較器1に対してPCSTART信号のハイレベルを出力(PCSTART信号を出力)する。図11は、このPCSTART信号が入力信号のローレベルのt0時点で出力された場合を示している。PCSTART信号がハイレベルになった後のラッチ回路71の動作を説明する。
【0050】
前段の第1のラッチ回路711は入力信号の前縁(t1、t3、t5、…)で多相パス信号aの状態をラッチし、ラッチ出力の信号bを入力信号の前縁から次の前縁まで保持して出力する。同様に前段の第2のラッチ回路712は入力信号の後縁(t2、t4、t6、…)で多相パルス信号aの状態をラッチしてラッチ出力の信号eを入力信号の後縁から次の後縁まで保持して出力する。つまりt1時点では、前段の第1のラッチ回路711は、多相パルス信号aの状態によりその位相順に連続する4信号のハイレベルと残りの4信号のローレベルをラッチするため信号bも隣接する4信号のみが連続してハイレベルとなる。t2時点では信号eが同様に隣接する4信号のみが連続してハイレベル(4連続ハイレベル)となる。
【0051】
t3時点以降のラッチ出力も同様の動作により多相パルス信号aをラッチするが、入力信号の位相はt1時点以降において次第に僅かな位相ずれが生じており、信号b、信号eのt3時点以降の4連続ハイレベルも、ローレベルからハイレベルへの切り替わる位置(位相)において変動している。
【0052】
第1の論理回路713では、信号bの4連続ハイレベルの開始位相を検出する。つまり信号bの8信号のうちローレベルからハイレベルに切り替わった位相を検出し信号dに示すように当該位相に対応する信号のみがハイレベルとなる8信号を出力する。つまりt1時点からSEL12のみがハイレベル、t3時点からSEL23のみがハイレベル、t5からSEL01のみがハイレベル、…等となる。
【0053】
第2の論理回路714も同様の動作により信号eに基づき信号fとして、信号eの8信号のうちローレベルからハイレベルに切り替わった位相に対応する信号のみがハイレベルとなる8信号を出力する。この出力は、t2時点から開始し、t2時点からSEL12Bのみがハイレベル、t4時点からSEL01Bのみがハイレベル、t6時点からSEL23Bのみがハイレベル、…等となる。
【0054】
第3のラッチ回路715と第4のラッチ回路714は、PCSTART信号がハイレベルになった以降、それぞれ第1の論理回路713の8信号と第2の論理回路714の8信号を一度だけラッチする。つまり、第3のラッチ回路715はt2時点で出力する第1の遅延回路701の出力PHASESEL信号によりトリガされ、t1時点で出力される第1の論理回路713の8信号である信号dをラッチして信号hを出力する。同様に第4のラッチ回路714は、t3時点で出力する第2の遅延回路702の出力PHASESELB信号によりトリガされ、t2時点で出力される第2の論理回路714の8信号である信号fをラッチして信号gを出力する。
【0055】
第3のラッチ回路715又は第4のラッチ回路716からの信号d又は信号gは、後述する説明により明らかになるように本実施の形態のPLL回路のスキュー調整のための基準(位相)の情報を与える信号である。本例のようにPCSTART信号が入力信号のローレベル状態の時点t0でハイレベルに立ち上がった場合は、第3のラッチ回路715からの信号dの方がより速く基準を設定できるという理由により、エッジ選択回路72において信号dをスキュー調整のための基準として選択される。
【0056】
エッジ選択回路72では、図4に示すように第3のラッチ回路715又は第4のラッチ回路716の何れかの信号d又は信号gを切替回路721により選択して出力する。この切替の制御信号としては、第3の遅延回路703により入力信号をPCSTART信号の立ち上がり時点で入力信号をラッチした信号EDGESEが使用される。本例ではPCSTART信号の立ち上がり時点で入力信号がローレベルであり、これをラッチした信号EDGESEにより第3のラッチ回路715の信号dを切替回路712で選択し信号SEL0EDGE〜SEL7EDGE(信号h)として出力する。エッジ選択回路72は、第1及び第2の論理回路713、714からの信号c及び信号fをも中継して、それぞれ信号SEL70〜SEL67及びSEL70B〜SEL67Bとして出力する。
【0057】
クロック選択回路73は、信号hに基づいて多相パルス信号の出力である信号aのうち入力信号の立ち上がり時点t1の位相に最も近いパルス信号をPLL回路の位相比較器1に供給するチャネルクロックとして出力するとともに、該チャネルクロックに対し逆位相のチャネルクロックB及びチャネルクロックとチャネルクロックBに対し1ディレイ単位で遅延した多相パルス信号をクロックP1信号、クロックP2信号、クロックP3信号及びクロックM1信号、クロックM2信号、クロックM3信号としてそれぞれ出力する。つまり、信号hにより多相パルス信号の出力順序を変えて出力する。
【0058】
本例では、信号hのうち信号SEL1EDGEのみがハイレベルであるから、チャネルクロックを選択するチャネルクロック生成回路732は、当該信号SEL1EDGEが入力された上から7番目のNAND回路のみが他方に入力する多相パルス信号CK1DIVをその論理状態を反転させて出力し、この出力は後続のAND回路を通過し、最終段のNAND回路で再度論理状態を反転してチャネルクロックとなる。なお、入力側の残りの6つのNAND回路は全てハイレベルを出力し当該チャネルクロック生成回路732の出力には影響しない。クロックP1生成回路734、クロックP2生成回路735及びクロックP3生成回路736は、クロック選択回路73の構成、機能の説明において述べたように、入力側のNAND回路への信号aの入力順が1ディレイ単位でずらしているため、それぞれの7番目のNAND回路を通過し最終段のNAND回路から出力するパルス信号はそれぞれチャネルクロックに対し1ディレイずつずれた多相パルス信号が選択出力される。チャネルクロックB生成回路733、クロックM3生成回路737、クロックM2生成回路738及びクロックM1生成回路739の出力も同様であり、それぞれチャネルクロックBと、該チャネルクロックに対し1ディレイ単位ずつずれた位相の多相パルス信号が選択出力される。
【0059】
クロック選択回路73から出力される各クロック信号は進み遅れ検出回路75において、前述のスキュー制御用の進み1〜4、遅れ1〜4の信号に変換される。つまり、進み遅れ検出回路74では、第4の遅延回路741により入力信号のハイレベルをチャネルクロックに同期させた入力許可信号1の期間にのみ、AND回路745からチャネルクロックの後縁から各クロックP1、P2、P3の後縁までの時間幅×1、時間幅×2、時間幅×3、時間幅×4(時間幅は1ディレイ時間幅)のそれぞれ進み1、進み2、進み3、進み4の信号を出力する。同様に第5の遅延回路742により入力信号のハイレベルを1チャネルクロック遅延させチャネルクロックBに同期させた入力許可信号2の期間のみ、AND回路746からチャネルクロックの後縁から各クロックM1、M2、M3の後縁までの時間幅×1、時間幅×2、時間幅×3、時間幅×4(時間幅は1ディレイ時間幅)のそれぞれ遅れ1、遅れ2、遅れ3、遅れ4の信号を出力する。ここで進み1〜4の信号と遅れ1〜4の信号は互いに時間的に重複しない。
【0060】
次に、進み1〜4の信号と遅れ1〜4の信号は、進み遅れ出力回路75に入力され、入力信号のt1時点の位相情報を有する信号hと、その後の多相パルス信号の位相に対する入力信号の位相変化に応じ変化する位相情報を有する信号c及び信号fとの比較により、現時点の入力信号の位相変化に応じたスキュー制御用の信号として最適な制御量(パルス幅)のものが選択的に進み信号又は遅れ信号として出力される。進み遅れ出力回路の動作はつぎの通りである。
【0061】
まず、図6に示すように、信号hは信号cから入力信号のハイレベル期間遅延しているので、そのタイミングを一致させるために、位相情報タイミング生成回路750a、750bによりそれぞれ信号f及び信号cを前記期間遅延させる。図7に信号cの遅延例を示すようにD型フリップフロップ回路で信号cのSEL67〜SEL70を入力信号により遅延させる。遅延出力は、図12に示すように信号f’及びc’の信号OUTSEL01〜OUTSEL70、信号OUTSEL01B〜OUTSEL70Bとなる。
【0062】
次に、基準となる信号hと、信号f’及び信号c’とを位相ずれ幅検出回路751、752及び進み遅れ検出回路753、754により比較する。位相ずれ幅検出回路751、752は位相ずれの幅の絶対値を検出し、1ディレイ単位のどれだけずれているかを1相ずれ〜4相ずれ、1相ずれB〜4相ずれBとして検出する。進み遅れ検出回路753、754は、それぞれのずれが遅れか進みかを検出する。
【0063】
本例では、図12に示す信号hと信号c’の関係から分かるように、信号c’ではOUTSEL12がハイレベルであるから、信号hのSEL1EDGEのハイレベルと一致しており、位相ずれはなく、信号c’のt4〜t6間ではOUTSEL23がハイレベルで信号hはSEL1EDGEがハイレベルであるから、位相ずれは1相ずれ、進み遅れは進みである。同様に信号c’のt2〜t4間、t6〜t8間、t8〜t9間、t10〜では、それぞれ同相、1相ずれ、2相ずれ、2相ずれであり、進み遅れはそれぞれ無し、遅れ、遅れ、進みである。一方、信号f’は、同様に信号hとの比較により、t3〜t5間、t5〜t7間、t7〜t9間、t9〜では、それぞれ同相、1相ずれ、1相ずれ、同相であり、進み遅れは、それぞれ無し、遅れ、進み、無しである。これらの結果は、位相ずれ幅検出回路752から1相ずれ及び2相ずれのハイレベル出力、進み遅れ判定回路754から進み判定、遅れ判定のハイレベル出力によりそれぞれ検出され、位相ずれ幅検出回路751から1相ずれBのハイレベル出力、進み遅れ判定回路754から進み判定B、遅れ判定Bのハイレベル出力によりそれぞれ検出される。
【0064】
図8に信号hと信号c’との位相ずれ幅を検出する位相ずれ幅検出回路752の例を示すように、この位相ずれ幅検出回路752は、例えばt4〜t8間では、信号hのSEL1EDGEのハイレベルが入力されている論理回路7511のNAND回路の上から7番目のNAND回路が入力側のOR回路に信号c’のOUTSEL12から1相ずれのOUTSEL12が入力しており、当該NAND回路のみがローレベルを出力し、このローレベルは後続のAND回路を介して最終のNAND回路から1相ずれを示すハイレベルが出力され、t2〜では、同様にして論理回路7512から1相ずれを示すハイレベルが出力される。
図9に信号hと信号c’との位相ずれの進み遅れを検出する進み遅れ判定回路754の例を示すように、進み判定用の論理回路7541は1相ずれに関するt4〜t6間、t10〜で進み判定のハイレベルを検出し、遅れ判定用の論理回路7542は1相及び2相ずれに関するt6〜t10間の遅れ判定のハイレベルを出力する。
【0065】
同様に位相ずれ幅検出回路751は、信号hと信号f’との位相ずれ幅を検出する。図12に示す信号hと信号f’の関係からわかるように、t5〜t9間でのみ1相ずれBを示すハイレベルが出力される。進み遅れ判定回路753は、遅れ判定用の論理回路7532がt5〜t7間で遅れ判定Bのハイレベルを、遅れ判定用の論理回路7531がt7〜t9間で進み判定Bのハイレベルをそれぞれ出力する。
【0066】
次に、進み遅れ結果出力回路755において、1相ずれ〜4相ずれを示す信号のそれぞれと、進み1〜進み4の信号のそれぞれの組み合わせの何れかの一致する出力を第1の進み遅れ結果論理回路7551、第2の進み遅れ結果論理回路7552から出力し、更に進み判定又は遅れ判定のハイレベル期間のみを出力し、図12の進み結果又は遅れ結果の信号を出力する。同様に進み遅れ結果出力回路756において、1相ずれ〜4相ずれを示す信号のそれぞれと、進み1〜進み4の信号のそれぞれの組み合わせの何れかの一致する出力を第1の進み遅れ結果論理回路7561、第2の進み遅れ結果論理回路7562から出力し、更に進み判定又は遅れ判定のハイレベル期間のみを出力し、図12の進み結果B又は遅れ結果Bの信号を出力する。
【0067】
前記進み結果又は遅れ結果の信号及び進み結果B又は遅れ結果Bの信号は、図12から分かるように位相ずれが継続している期間は入力信号のハイレベル及びローレベルの期間毎に何相ずれかに比例したパルス幅の信号として出力される。この各信号は出力AND回路757、758において、進み結果又は遅れ結果の信号と進み結果B又は遅れ結果Bとを入力信号又はその反転信号によりゲートすることにより、交互に通過させ、出力OR回路759において進み結果と進み結果B及び遅れ結果と遅れ結果Bを合成して進み又は遅れとしてスキュー制御信号として出力される。
【0068】
スキュー調整回路8は、電圧のパルス幅で示される遅れ信号と進み信号を受けてスキュー調整用チャージポンプでパルス幅をもった電流に置き換わる。そしてスキュー調整回路8の先に接続されるLPFフィルタ3の働きにより、VDDからVCに向かって流れる電流Ipskewoutと、VCからGNDに向かって流れる電流Inskewoutのパルス幅の差に応じた電圧を出力する。LPFフィルタ3には位相比較器の上昇指示信号を受けたIcgp_pと下降指示信号を受けたIcgp_nの電流パルス幅の差による影響もあるのでこれらを足し合わせた値がVCとして入力される。
【0069】
(他の実施の形態)
以上の実施の形態においては、図3〜図10に示すように、PLL回路の位相同期制御の構成を入力信号の前縁と後縁の何れにおいても位相制御発振器の出力との位相差を求めて前記位相制御発振器を制御するように、ラッチ回路71、エッジ回路72、クロック選択回路73、進み遅れ検出回路74及び進み遅れ出力回路75を2重化した構成としているが、位相同期制御を入力信号の前縁又は後縁のみで行うように制御すればよい場合は、各部の2重化した構成をその一方のみで構成することも可能である。
【0070】
また前記実施の形態では、PCSTART信号によるPLL回路の位相比較器1による位相同期動作の開始後、セレクト回路7から進み信号及び遅れ信号が出力されるとスキュー調整回路8の動作により、より高精度な位相同期制御ループが形成されることから、以降の位相同期動作を位相比較器1による位相同期動作に代えてスキュー調整回路8により同期動作を継続するようにすることが可能である。例えば、実質的にスキュー調整回路8による制御を主体とするように構成し、又は位相比較器1、チャージポンプ2の機能を停止するように構成することが可能である。
【0071】
更に前記実施の形態において、ラッチ回路71に関する本発明の前段の第1及び第2のラッチ回路(第1のラッチ回路711及び第1の論理回路713、第2のラッチ回路712及び第2の論理回路714)は、前述のように信号bの4連続ハイレベルの開始位相を検出して出力する機能を有するものであるが、これは信号bの4連続ハイレベルをそのまま出力するように構成することができる。つまり第1の論理回路713と第2の論理回路714を取り除き、後段の第1及び第2のラッチ回路(第2のラッチ回路715、第1のラッチ回路716)はその出力を直接ラッチするように構成することができる。この場合、前段の第1及び第2のラッチ回路の出力とエッジ選択回路72の入力との間及び後段の第1及び第2のラッチ回路の出力とエッジ選択回路72の入力との間に、それぞれ第1の論理回路713、第2の論理回路714に相当するものをそれぞれ設けることにより、後続の回路機能はそのままで同様の動作が実現される。従って、前記タッチ回路71に関しては、何れの構成を採用しても、本発明の入力信号により多相パルス信号をラッチしラッチ時点に最も近い位相の多相パルス信号の位相情報を出力する前段ラッチ回路と、前記起動信号の発生後の入力信号の単一の発生時点で前記前段ラッチ回路の出力をラッチする後段ラッチ回路とから構成されていることになる。
【0072】
【発明の効果】
本発明によれば、制御発振器の出力により発生される多相パルス信号の1つをチャネルクロックとして位相比較器により入力信号と位相比較し、その位相誤差信号により前記制御発振器を制御するPLL回路において、入力信号がチャネルクロックの周波数とほぼ等しく位相比較器のキャプチャーレンジ内に入ったとき発生されるPLL回路の起動用の起動信号により、前記位相比較器が動作し、その位相誤差信号により前記制御発振器を制御するとともに、前記起動信号の発生後の位相引き込み動作において、前記チャネルクロックとして、入力信号の最初の立ち上がり(又は立ち下がり)のタイミングに最も位相が近い多相パルス信号が選ばれるので引き込み時間を格段に短縮することができる。
【0073】
また、PLL回路の起動後の定常的な位相同期状態では、起動直後の入力信号により瞬時に決定した多相パルス信号をチャネルクロックとして固定しておき、そのチャネルクロックに対して遅れているか進んでいるかをセレクト回路で検出させる。つまり、起動信号の発生後の入力信号の各々の発生タイミングで多相パルス信号をラッチする第1ラッチ回路と、入力信号の発生タイミング後の単一のタイミングで前記第1ラッチ回路の出力をラッチする第2ラッチ回路とを備え、第2ラッチ回路の出力状態に対する第1ラッチ回路の出力状態の変化により入力信号とチャネルクロックとの位相差に応じた制御信号を出力し、前記制御信号によりスキューを制御するものであるから、起動初期の位相を常にその後の位相変動の比較基準とし、制御発振器のスキュー等の位相変動に応じて位相を高精度に制御できるとともに入力信号の位相に高精度に同期することを可能とする。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態を示す図である。
【図2】本実施の形態のスキュー調整回路を示す図である。
【図3】本実施の形態のセレクト回路の回路構成例を示す図である。
【図4】本実施の形態のエッジ選択回路の具体的な回路構成例を示す図である。
【図5】クロック選択回路73の具体的な回路構成例を示す図である。
【図6】進み遅れ出力回路75の回路構成例を示す図である。
【図7】位相情報タイミング生成回路750a、750bの回路構成例を示す図である。
【図8】位相ずれ幅検出回路751、752の回路構成例を示す図である。
【図9】進み遅れ判定回路753(754)の回路構成例を示す図である。
【図10】進み遅れ結果出力回路755(756)の回路構成例を示す図である。
【図11】本実施の形態のセレクト回路の動作のタイミングチャートを示す図である。
【図12】本実施の形態の進み遅れ出力回路の動作のタイミングチャートを示す図である。
【図13】従来例を示す図である。
【符号の説明】
1a 位相比較器
2、2a チャージポンプ回路
3、3a フィルタ(LPFフィルタ)
4、4a VI変換回路
5、5a 制御発振器
6、6a 分周器
7 セレクト回路
7a、8 スキュー調整回路
8a、9 周波数固定回路
23、24、83、84 電流源
70 遅延回路
701 第1の遅延回路
702 第2の遅延回路
703 第3の遅延回路
71 ラッチ回路
711 前段の第1のラッチ回路
713 第1の論理回路
714 第2の論理回路
715 後段の第1の論理回路
716 後段の第2の論理回路
721 切替回路
722 接続端子
750a、750b 位相情報タイミング生成回路
751、752 位相ずれ幅検出回路
753、754 進み遅れ判定回路
755、756 進み遅れ結果出力回路
757、758 出力AND回路
759 出力OR回路

Claims (11)

  1. 制御発振器の出力により発生される多相パルス信号の1つをチャネルクロックとして位相比較器により入力信号と位相比較し、その位相誤差信号により前記制御発振器の発振の制御を行うPLL回路において、
    入力信号がチャネルクロックの周波数とほぼ等しく位相比較器のキャプチャーレンジ内に入ったとき前記制御の起動信号を出力する周波数固定回路と、前記起動信号の発生後の入力信号の発生時点に最も近い位相の多相パルス信号を前記チャネルクロックとして選択するセレクト回路と、を備えることを特徴とするPLL回路。
  2. 前記制御発振器のスキューを調整するスキュー調整回路を備え、前記セレクト回路は、前記多相パルス信号をチャネルクロックとして選択した後は、当該チャネルクロックに対して入力信号が遅れているか進んでいるかを判定して入力信号の遅れ進みに応じた進み信号又は遅れ信号を生成し、前記進み信号又は遅れ信号により前記スキュー調整回路を制御することを特徴とする請求項1記載のPLL回路。
  3. 前記進み信号又は遅れ信号の生成後は、前記制御発振器の発振の制御を前記位相比較器に代えて前記スキュー調整回路により行うことを特徴とする請求項2記載のPLL回路。
  4. 前記セレクト回路は、入力信号により多相パルス信号をラッチしラッチ時点に最も近い位相の多相パルス信号の位相情報を出力する前段ラッチ回路と、前記起動信号の発生後の入力信号の単一の発生時点で前記前段ラッチ回路の出力をラッチする後段ラッチ回路と、前記後段ラッチ回路の出力状態と前記多相パルス信号とにより前記チャネルクロックを選択して出力するとともに、前記後段ラッチ回路の出力状態に対する前記前段ラッチ回路の出力状態の変化に基づいて入力信号と前記チャネルクロックとの位相差に応じた進み信号又は遅れ信号を出力する位相制御信号発生回路を備えることを特徴とする請求項2又は3記載のPLL回路。
  5. 前記前段ラッチ回路は、入力信号の前縁で多相パルス信号をラッチする第1の前段ラッチ回路と、入力信号の後縁で多相パルス信号をラッチする第2の前段ラッチ回路と、からなり、前記後段ラッチ回路は、前記起動信号の発生後の最初の入力信号の後縁で前記第1の前段ラッチ回路の出力をラッチする第1の後段ラッチ回路と、前記起動信号の発生後の2番目の入力信号の前縁で前記第2の前段ラッチ回路の出力をラッチする第2の後段ラッチ回路と、からなり、前記第1及び第2の前段ラッチ回路の出力と前記起動信号の発生後に最初にラッチした前記第1又は第2の後段ラッチ回路の出力を前記位相制御信号発生回路に出力するエッジ選択回路と、を備えることを特徴とする請求項4記載のPLL回路。
  6. 前記位相制御信号発生回路は、前記エッジ選択回路が出力する前記第1又は第2の後段ラッチ回路の出力と前記多相パルス信号とから前記チャネルクロックを選択して出力するクロック選択回路と、前記チャネルクロックを基準とした前記多相パルス信号との位相差に相当するパルス幅の複数の進み信号及び遅れ信号を生成する進み遅れ検出回路と、前記エッジ選択回路の出力に応じて、前記複数の進み信号又は遅れ信号の何れかを選択的に出力する進み遅れ出力回路と、を備えることを特徴とする請求項5記載のPLL回路。
  7. 前記進み遅れ出力回路は、それぞれ第1の前段ラッチ回路の出力に対応する前記クロック選択回路の出力を入力とし、チャネルクロックを基準とした位相ずれ幅を検出する第1の位相ずれ幅検出回路及び前記位相ずれが進みか遅れかを判定する第1の進み遅れ判定回路と、前記位相ずれ幅及び位相ずれの進み遅れに応じて、前記複数の進み信号又は遅れ信号のうち対応するパルス幅の進み信号又は遅れ信号を選択して第1の進み結果信号及び第1の遅れ結果信号として出力する第1の進み遅れ結果出力回路と、それぞれ第2の前段ラッチ回路の出力に対応する前記クロック選択回路の出力を入力とし、チャネルクロックを基準とした位相ずれ幅を検出する第2の位相ずれ幅検出回路及び前記位相ずれが進みか遅れかを判定する第2の進み遅れ判定回路と、前記位相ずれ幅及び位相ずれの進み遅れに応じて、前記複数の進み信号又は遅れ信号のうち対応するパルス幅の進み信号又は遅れ信号を選択して第2の進み結果信号及び第2の遅れ結果信号として出力する第2の進み遅れ結果出力回路と、入力信号の論理状態に応じて第1の進み結果信号又は第2の進み結果信号及び第1の遅れ結果信号又は第2の遅れ結果信号をそれぞれ進み信号及び遅れ信号として交互に切り換えて出力する出力論理回路と、を備えることを特徴とする請求項6記載のPLL回路。
  8. 多相パルス信号を発生する制御発振器を使用するPLL回路における位相差検出回路であって、
    入力信号により多相パルス信号をラッチしラッチ時点に最も近い位相の多相パルス信号の位相情報を出力する前段ラッチ回路と、単一の入力信号の発生時点で前記前段ラッチ回路の出力をラッチする後段ラッチ回路と、前記後段ラッチ回路の出力状態と前記多相パルス信号とにより前記チャネルクロックを選択して出力するとともに、前記後段ラッチ回路の出力状態に対する前記前段ラッチ回路の出力状態の変化に基づいて入力信号とチャネルクロックとの位相差に応じた進み信号及び遅れ信号として出力する位相制御信号発生回路を備えることを特徴とする位相差検出回路。
  9. 前記前段ラッチ回路は、入力信号の前縁で多相パルス信号をラッチする第1の前段ラッチ回路と、入力信号の後縁で多相パルス信号をラッチする第2の前段ラッチ回路と、からなり、前記後段ラッチ回路は、前記起動信号の発生後の最初の入力信号の後縁で前記第1の前段ラッチ回路の出力をラッチする第1の後段ラッチ回路と、前記起動信号の発生後の2番目の入力信号の前縁で前記第2の前段ラッチ回路の出力をラッチする第2の後段ラッチ回路と、からなり、前記第1及び第2の前段ラッチ回路の出力と前記起動信号の発生後に最初にラッチした前記第1又は第2の後段ラッチ回路の出力を前記位相制御信号発生回路に出力するエッジ選択回路と、を備えることを特徴とする請求項8記載の位相差検出回路。
  10. 前記位相制御信号発生回路は、前記エッジ選択回路が出力する前記第1又は第2の後段ラッチ回路の出力と前記多相パルス信号とから前記チャネルクロックを選択して出力するクロック選択回路と、前記チャネルクロックを基準とした前記多相パルス信号との位相差に相当するパルス幅の複数の進み信号及び遅れ信号を生成する進み遅れ検出回路と、前記エッジ選択回路の出力に応じて、前記複数の進み信号又は遅れ信号の何れかを選択的に出力する進み遅れ出力回路と、を備えることを特徴とする請求項9記載の位相差検出回路。
  11. 前記進み遅れ出力回路は、それぞれ第1の前段ラッチ回路の出力に対応する前記クロック選択回路の出力を入力とし、チャネルクロックを基準とした位相ずれ幅を検出する第1の位相ずれ幅検出回路及び前記位相ずれが進みか遅れかを判定する第1の進み遅れ判定回路と、前記位相ずれ幅及び位相ずれの進み遅れに応じて、前記複数の進み信号又は遅れ信号のうち対応するパルス幅の進み信号又は遅れ信号を選択して第1の進み結果信号及び第1の遅れ結果信号として出力する第1の進み遅れ結果出力回路と、それぞれ第2の前段ラッチ回路の出力に対応する前記クロック選択回路の出力を入力とし、チャネルクロックを基準とした位相ずれ幅を検出する第2の位相ずれ幅検出回路及び前記位相ずれが進みか遅れかを判定する第2の進み遅れ判定回路と、前記位相ずれ幅及び位相ずれの進み遅れに応じて、前記複数の進み信号又は遅れ信号のうち対応するパルス幅の進み信号又は遅れ信号を選択して第2の進み結果信号及び第2の遅れ結果信号として出力する第2の進み遅れ結果出力回路と、入力信号の論理状態に応じて第1の進み結果信号又は第2の進み結果信号及び第1の遅れ結果信号又は第2の遅れ結果信号をそれぞれ進み信号及び遅れ信号として交互に切り換えて出力する出力論理回路と、を備えることを特徴とする請求項10記載の位相差検出回路。
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Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW579621B (en) * 2002-12-31 2004-03-11 Realtek Semiconductor Corp Voltage control oscillator for automatically adjusting frequency curve
DE10328566B4 (de) * 2003-06-25 2005-06-30 Infineon Technologies Ag Verfahren und Vorrichtung zum Abtasten eines Datensignals
US7362739B2 (en) * 2004-06-22 2008-04-22 Intel Corporation Methods and apparatuses for detecting clock failure and establishing an alternate clock lane
US7216319B1 (en) * 2004-11-05 2007-05-08 Xilinx, Inc. Regional clock skew measurement technique
KR100608382B1 (ko) 2005-06-21 2006-08-08 주식회사 하이닉스반도체 출력 인에이블 신호 생성회로
US8327204B2 (en) * 2005-10-27 2012-12-04 Dft Microsystems, Inc. High-speed transceiver tester incorporating jitter injection
US20080007313A1 (en) * 2006-05-08 2008-01-10 Kevin Chiang Digital clock generator
US7681091B2 (en) * 2006-07-14 2010-03-16 Dft Microsystems, Inc. Signal integrity measurement systems and methods using a predominantly digital time-base generator
US7813297B2 (en) * 2006-07-14 2010-10-12 Dft Microsystems, Inc. High-speed signal testing system having oscilloscope functionality
KR100739957B1 (ko) 2006-07-24 2007-07-16 주식회사 하이닉스반도체 고속 반도체 메모리 장치의 입력 신호들의 지터 및 스큐를감소시키는 호스트 인터페이스 장치
EP2115940A2 (en) * 2007-02-09 2009-11-11 DFT Microsystems, Inc. System and method for physical-layer testing of high-speed serial links in their mission environments
US7917319B2 (en) * 2008-02-06 2011-03-29 Dft Microsystems Inc. Systems and methods for testing and diagnosing delay faults and for parametric testing in digital circuits
US8258775B2 (en) * 2009-04-15 2012-09-04 Via Technologies, Inc. Method and apparatus for determining phase error between clock signals
US8174953B2 (en) * 2009-06-11 2012-05-08 Texas Instruments Incorporated Input current channel device
JP5463246B2 (ja) * 2010-09-01 2014-04-09 株式会社日立製作所 位相同期回路、cdr回路及び受信回路
US10367488B2 (en) * 2017-08-25 2019-07-30 HKC Corporation Limited Device and method for eliminating electromagnetic interference

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08274629A (ja) 1995-03-31 1996-10-18 Seiko Epson Corp ディジタルpll回路
JPH09326692A (ja) 1996-06-04 1997-12-16 Texas Instr Japan Ltd 位相同期ループ回路
US6356158B1 (en) * 2000-05-02 2002-03-12 Xilinx, Inc. Phase-locked loop employing programmable tapped-delay-line oscillator

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