JP3539088B2 - Ｆｇ出力検出回路 - Google Patents
Ｆｇ出力検出回路Info
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えばＶＴＲ装置
のキャプスタンサーボ処理に使用して好適なＦＧ出力検
出回路に関するものである。
のキャプスタンサーボ処理に使用して好適なＦＧ出力検
出回路に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】例えばＶＴＲ装置のキャプスタンサーボ
を行う場合においては、キャプスタンモータにＦＧ（周
波数発電機）を設けて、このキャプスタンＦＧの出力信
号を判別してサーボ処理が行われる。
を行う場合においては、キャプスタンモータにＦＧ（周
波数発電機）を設けて、このキャプスタンＦＧの出力信
号を判別してサーボ処理が行われる。
【０００３】このようなサーボ処理において、ＦＧ出力
は例えば図５のＡに示すように正弦波に近似した波形で
取り出され、この波形が任意の電圧レベルａと比較され
て図５のＢに示すようなパルス信号に波形整形される。
そしてこのパルス信号の例えば立ち上がりエッジが図５
のＣに示すように検出されて、この立ち上がりエッジの
検出信号を用いてサーボ処理が行われている。
は例えば図５のＡに示すように正弦波に近似した波形で
取り出され、この波形が任意の電圧レベルａと比較され
て図５のＢに示すようなパルス信号に波形整形される。
そしてこのパルス信号の例えば立ち上がりエッジが図５
のＣに示すように検出されて、この立ち上がりエッジの
検出信号を用いてサーボ処理が行われている。
【０００４】ところでこのようなＶＴＲ装置において、
テープの移送速度を１／２にして記録時間を２倍に延ば
すことが行われている。その場合に上述のキャプスタン
サーボでは、キャプスタンの回転速度を１／２にしてサ
ーボ処理を行う必要がある。ところがキャプスタンの回
転速度を１／２にした場合には、上述の立ち上がりエッ
ジの検出信号の間隔が２倍になり、サーボの安定性など
に問題が生じる。
テープの移送速度を１／２にして記録時間を２倍に延ば
すことが行われている。その場合に上述のキャプスタン
サーボでは、キャプスタンの回転速度を１／２にしてサ
ーボ処理を行う必要がある。ところがキャプスタンの回
転速度を１／２にした場合には、上述の立ち上がりエッ
ジの検出信号の間隔が２倍になり、サーボの安定性など
に問題が生じる。
【０００５】そこでキャプスタンの回転速度を１／２に
したときには、例えば上述の図５のＢに示すようなパル
ス信号に対して、立ち上がり及び立ち下がりの両方のエ
ッジを検出するようにし（図５のＤ参照）、この両エッ
ジの検出信号を用いてサーボ処理を行うことが提案され
た。これによれば、検出信号の間隔が等しくなり、共通
の回路で安定なサーボ処理を行うことができる。
したときには、例えば上述の図５のＢに示すようなパル
ス信号に対して、立ち上がり及び立ち下がりの両方のエ
ッジを検出するようにし（図５のＤ参照）、この両エッ
ジの検出信号を用いてサーボ処理を行うことが提案され
た。これによれば、検出信号の間隔が等しくなり、共通
の回路で安定なサーボ処理を行うことができる。
【０００６】すなわち、例えばキャプスタンの回転速度
が標準のときは例えばパルス信号の立ち上がりエッジの
みを検出し、キャプスタンの回転速度が１／２のときは
パルス信号の立ち上がり及び立ち下がりの両方のエッジ
を検出する。これによってキャプスタンの回転速度が標
準及び１／２のいずれにおいても検出信号の間隔が等し
くなり、共通の回路で安定なサーボ処理を行うことがで
きるものである。
が標準のときは例えばパルス信号の立ち上がりエッジの
みを検出し、キャプスタンの回転速度が１／２のときは
パルス信号の立ち上がり及び立ち下がりの両方のエッジ
を検出する。これによってキャプスタンの回転速度が標
準及び１／２のいずれにおいても検出信号の間隔が等し
くなり、共通の回路で安定なサーボ処理を行うことがで
きるものである。
【０００７】しかしながらこのようなパルス信号の一方
のエッジと両方のエッジを切り換えて使用するために
は、パルス信号のデューティ比が５０％になっている必
要がある。一方、上述の図５のＡに示すような正弦波に
近似した波形から、図５のＢに示すようなパルス信号へ
の波形整形に当たっては、比較される電圧レベルａに応
じて波形整形されたパルス信号のデューティ比が変化さ
れるものである。
のエッジと両方のエッジを切り換えて使用するために
は、パルス信号のデューティ比が５０％になっている必
要がある。一方、上述の図５のＡに示すような正弦波に
近似した波形から、図５のＢに示すようなパルス信号へ
の波形整形に当たっては、比較される電圧レベルａに応
じて波形整形されたパルス信号のデューティ比が変化さ
れるものである。
【０００８】そこで、例えば従来のＶＴＲ装置の製造工
程においては、上述の電圧レベルａを任意に制御する制
御手段を設ける。そして例えば波形整形されたパルス信
号の波形を人間がオシロスコープ等で観察して、人手に
よってデューティ比が５０％になるように制御手段を調
整することが行われていた。しかしながらこのような調
整には時間が掛かり、また人為的な誤差も発生し易いも
のであった。
程においては、上述の電圧レベルａを任意に制御する制
御手段を設ける。そして例えば波形整形されたパルス信
号の波形を人間がオシロスコープ等で観察して、人手に
よってデューティ比が５０％になるように制御手段を調
整することが行われていた。しかしながらこのような調
整には時間が掛かり、また人為的な誤差も発生し易いも
のであった。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】この出願はこのような
点に鑑みて成されたものであって、解決しようとする問
題点は、従来の装置では、制御手段を調整する際に時間
が掛かり、また人為的な誤差も発生し易いものであった
というものである。またこれによって、従来は作業者に
よって調整にばらつきが生じ、サーボ処理の安定性が不
充分であるなど、信頼性に欠ける問題が生じていた。
点に鑑みて成されたものであって、解決しようとする問
題点は、従来の装置では、制御手段を調整する際に時間
が掛かり、また人為的な誤差も発生し易いものであった
というものである。またこれによって、従来は作業者に
よって調整にばらつきが生じ、サーボ処理の安定性が不
充分であるなど、信頼性に欠ける問題が生じていた。
【００１０】
【課題を解決するための手段】このため本発明において
は、設定された電圧レベルを用いてＦＧ出力を波形整形
し、この波形整形されたパルス信号のパルス幅を基準時
間と比較し、この比較結果を電圧レベルの設定手段にフ
ィードバックして制御を行うようにしたものであって、
これによれば、全自動で制御を行うことができると共
に、人為的な誤差等が発生する恐れも無くすことができ
る。
は、設定された電圧レベルを用いてＦＧ出力を波形整形
し、この波形整形されたパルス信号のパルス幅を基準時
間と比較し、この比較結果を電圧レベルの設定手段にフ
ィードバックして制御を行うようにしたものであって、
これによれば、全自動で制御を行うことができると共
に、人為的な誤差等が発生する恐れも無くすことができ
る。
【００１１】
【発明の実施の形態】すなわち本発明は、任意の電圧レ
ベルを設定する設定手段と、任意の電圧レベルが出力さ
れ標準の回転速度でのキャプスタンサーボ処理を行う処
理手段と、設定された電圧レベルを用いてＦＧ出力を波
形整形する波形整形手段とを有するＦＧ出力検出回路に
おいて、波形整形されたパルス信号の任意の１波のパル
ス幅をキャプスタンサーボ処理手段で設定されている標
準の回転速度での１波のパルス幅の基準時間と比較する
比較手段を設け、この比較結果を電圧レベルの設定手段
にフィードバックして電圧レベルを制御してなるもので
ある。
ベルを設定する設定手段と、任意の電圧レベルが出力さ
れ標準の回転速度でのキャプスタンサーボ処理を行う処
理手段と、設定された電圧レベルを用いてＦＧ出力を波
形整形する波形整形手段とを有するＦＧ出力検出回路に
おいて、波形整形されたパルス信号の任意の１波のパル
ス幅をキャプスタンサーボ処理手段で設定されている標
準の回転速度での１波のパルス幅の基準時間と比較する
比較手段を設け、この比較結果を電圧レベルの設定手段
にフィードバックして電圧レベルを制御してなるもので
ある。
【００１２】以下、図面を参照して本発明を説明する
に、図１は本発明によるＦＧ出力検出回路を適用したＶ
ＴＲ装置の一例の要部の構成を示すブロック図である。
すなわちこの図１において、磁気テープ１はキャプスタ
ン２によって移送され、このキャプスタン２がキャプス
タンモータ３によって駆動されている。そしてこのキャ
プスタンモータ３にＦＧ（周波数発電機）４が設けられ
る。
に、図１は本発明によるＦＧ出力検出回路を適用したＶ
ＴＲ装置の一例の要部の構成を示すブロック図である。
すなわちこの図１において、磁気テープ１はキャプスタ
ン２によって移送され、このキャプスタン２がキャプス
タンモータ３によって駆動されている。そしてこのキャ
プスタンモータ３にＦＧ（周波数発電機）４が設けられ
る。
【００１３】さらにこのＦＧ４の正負の出力がアンプ５
に供給され、このアンプ５の出力が比較器６に供給され
る。この比較器６でＦＧ４からの出力信号の波形整形が
行われ、波形整形されたパルス信号がサーボ処理用のマ
イクロコンピュータ７に供給される。そしてこのマイク
ロコンピュータ７で形成された駆動信号が、駆動回路８
を通じてキャプスタンモータ３に供給される。
に供給され、このアンプ５の出力が比較器６に供給され
る。この比較器６でＦＧ４からの出力信号の波形整形が
行われ、波形整形されたパルス信号がサーボ処理用のマ
イクロコンピュータ７に供給される。そしてこのマイク
ロコンピュータ７で形成された駆動信号が、駆動回路８
を通じてキャプスタンモータ３に供給される。
【００１４】またマイクロコンピュータ７では任意の電
圧レベルａが形成され、この電圧レベルａがローパスフ
ィルタ９を通じて比較器６に供給される。これによって
この比較器６で、上述のＦＧ４からの出力信号の波形整
形が行われると共に、マイクロコンピュータ７で電圧レ
ベルａを任意に制御することによって、波形整形された
パルス信号のデューティ比が調整される。
圧レベルａが形成され、この電圧レベルａがローパスフ
ィルタ９を通じて比較器６に供給される。これによって
この比較器６で、上述のＦＧ４からの出力信号の波形整
形が行われると共に、マイクロコンピュータ７で電圧レ
ベルａを任意に制御することによって、波形整形された
パルス信号のデューティ比が調整される。
【００１５】そしてこの回路において、上述のパルス信
号のデューティ比の調整は、例えばＶＴＲ装置の製造工
程において以下のようにして行われる。すなわち図２
は、例えば上述のマイクロコンピュータ７で実施される
動作の一例を示すフローチャート図である。
号のデューティ比の調整は、例えばＶＴＲ装置の製造工
程において以下のようにして行われる。すなわち図２
は、例えば上述のマイクロコンピュータ７で実施される
動作の一例を示すフローチャート図である。
【００１６】この図２において、動作がスタートされる
と、まずステップ〔１〕で任意の電圧レベルａが出力さ
れ、次にステップ〔２〕で標準の回転速度でのキャプス
タンサーボ処理が行われる。さらにステップ〔３〕で任
意の１波のパルス幅が測定される。そしてステップ
〔４〕で測定されたパルス幅が、予めサーボ処理で設定
されている標準の回転速度での１波のパルス幅の標準時
間と比較される。
と、まずステップ〔１〕で任意の電圧レベルａが出力さ
れ、次にステップ〔２〕で標準の回転速度でのキャプス
タンサーボ処理が行われる。さらにステップ〔３〕で任
意の１波のパルス幅が測定される。そしてステップ
〔４〕で測定されたパルス幅が、予めサーボ処理で設定
されている標準の回転速度での１波のパルス幅の標準時
間と比較される。
【００１７】さらにステップ〔５〕で測定されたパルス
幅が標準時間＋１０％より大きいとき（ＹＥＳ）は、ス
テップ〔６〕で電圧レベルａが少し上げられてステップ
〔３〕に戻される。またステップ〔７〕で測定されたパ
ルス幅が標準時間−１０％より小さいとき（ＹＥＳ）
は、ステップ〔８〕で電圧レベルａが少し下げられてス
テップ〔３〕に戻される。これによって電圧レベルａの
制御が行われる。
幅が標準時間＋１０％より大きいとき（ＹＥＳ）は、ス
テップ〔６〕で電圧レベルａが少し上げられてステップ
〔３〕に戻される。またステップ〔７〕で測定されたパ
ルス幅が標準時間−１０％より小さいとき（ＹＥＳ）
は、ステップ〔８〕で電圧レベルａが少し下げられてス
テップ〔３〕に戻される。これによって電圧レベルａの
制御が行われる。
【００１８】すなわち例えば図３のＡに示すようなＦＧ
出力に対して電圧レベルａを用いて波形整形を行った場
合に、波形整形されたパルス信号は図３のＢに示すよう
になる。ここでパルス信号のパルス幅ｂは、電圧レベル
ａを上げると小さくなり、電圧レベルａを下げると大き
くなる。従って上述のステップ〔５〕〜〔８〕の制御に
より、パルス幅ｂを例えば標準時間±１０％以内に制御
することができる。
出力に対して電圧レベルａを用いて波形整形を行った場
合に、波形整形されたパルス信号は図３のＢに示すよう
になる。ここでパルス信号のパルス幅ｂは、電圧レベル
ａを上げると小さくなり、電圧レベルａを下げると大き
くなる。従って上述のステップ〔５〕〜〔８〕の制御に
より、パルス幅ｂを例えば標準時間±１０％以内に制御
することができる。
【００１９】これによって、任意の１波のパルス幅が標
準時間±１０％以内に制御される。この状態で、さらに
ステップ〔９〕で少なくともＦＧ４の一回転に渡って各
波のパルス幅が順次基準時間と比較される。そしてステ
ップ〔１０〕で上述の標準時間±１０％以内の許容値を
外れるパルス信号の有無が判別される。すなわち例えば
ＦＧ４の一回転で形成される全ての波について許容値と
の判定が行われる。
準時間±１０％以内に制御される。この状態で、さらに
ステップ〔９〕で少なくともＦＧ４の一回転に渡って各
波のパルス幅が順次基準時間と比較される。そしてステ
ップ〔１０〕で上述の標準時間±１０％以内の許容値を
外れるパルス信号の有無が判別される。すなわち例えば
ＦＧ４の一回転で形成される全ての波について許容値と
の判定が行われる。
【００２０】そして上述のステップ〔１０〕で許容値を
外れるパルス信号が無いときは、ステップ〔１１〕でそ
の時の電圧レベルａに相当する値が不揮発記憶手段とし
ての例えばＥＥＰＲＯＭ１０に記憶され、ステップ〔１
２〕で「調整完了」の表示が行われて動作は終了され
る。従って以後のサーボ処理は、このＥＥＰＲＯＭ１０
に記憶された値を読み出して電圧レベルａを決定して行
われる。
外れるパルス信号が無いときは、ステップ〔１１〕でそ
の時の電圧レベルａに相当する値が不揮発記憶手段とし
ての例えばＥＥＰＲＯＭ１０に記憶され、ステップ〔１
２〕で「調整完了」の表示が行われて動作は終了され
る。従って以後のサーボ処理は、このＥＥＰＲＯＭ１０
に記憶された値を読み出して電圧レベルａを決定して行
われる。
【００２１】さらに上述のステップ〔１０〕で許容値を
外れるパルス信号が有るときは、ステップ〔１３〕で上
述の動作の回数が所定の回数に達したか否かが判断され
る。そしてこのステップ〔１３〕で動作の回数が所定の
回数に達していないとき（ＮＯ）は、ステップ〔１４〕
でＦＧ４の回転位相を少しずらせるようにし、上述の測
定される任意の１波が変えられるようにしてステップ
〔３〕に戻される。
外れるパルス信号が有るときは、ステップ〔１３〕で上
述の動作の回数が所定の回数に達したか否かが判断され
る。そしてこのステップ〔１３〕で動作の回数が所定の
回数に達していないとき（ＮＯ）は、ステップ〔１４〕
でＦＧ４の回転位相を少しずらせるようにし、上述の測
定される任意の１波が変えられるようにしてステップ
〔３〕に戻される。
【００２２】すなわち例えば図４のＡに示すようなパル
ス信号列が有った場合に、例えばパルスのパルス幅を
標準時間の例えば１００μｓｅｃに制御して、他のパル
ス〜のパルス幅を測定すると、各パルス幅は例えば
図４のＢに示すようになる。従ってこの場合に、例えば
パルスのパルス幅が１１１μｓｅｃとなって、標準時
間±１０％の許容値を外れていることになる。
ス信号列が有った場合に、例えばパルスのパルス幅を
標準時間の例えば１００μｓｅｃに制御して、他のパル
ス〜のパルス幅を測定すると、各パルス幅は例えば
図４のＢに示すようになる。従ってこの場合に、例えば
パルスのパルス幅が１１１μｓｅｃとなって、標準時
間±１０％の許容値を外れていることになる。
【００２３】これに対して、例えばパルスのパルス幅
を上述の例えば１００μｓｅｃに制御して、他のパルス
、〜のパルス幅を測定すると、各パルス幅は例え
ば図４のＣに示すようになる。この場合に、パルスの
パルス幅は９４μｓｅｃであり、また他のパルス〜
のパルス幅も全て例えば標準時間±１０％の許容値の中
に入ることになる。
を上述の例えば１００μｓｅｃに制御して、他のパルス
、〜のパルス幅を測定すると、各パルス幅は例え
ば図４のＣに示すようになる。この場合に、パルスの
パルス幅は９４μｓｅｃであり、また他のパルス〜
のパルス幅も全て例えば標準時間±１０％の許容値の中
に入ることになる。
【００２４】このようにして最初に制御されるパルス信
号を変えることによって、全てのパルス幅が例えば標準
時間±１０％の許容値の中に入るようにすることができ
る。すなわち上述のステップ〔１４〕でＦＧ４の回転位
相を少しずらせ、上述の測定される任意の１波を変える
ことによって最初に制御されるパルス信号を変えて、全
てのパルス幅が許容値の中に入るようにすることができ
る。
号を変えることによって、全てのパルス幅が例えば標準
時間±１０％の許容値の中に入るようにすることができ
る。すなわち上述のステップ〔１４〕でＦＧ４の回転位
相を少しずらせ、上述の測定される任意の１波を変える
ことによって最初に制御されるパルス信号を変えて、全
てのパルス幅が許容値の中に入るようにすることができ
る。
【００２５】従ってこの場合には、上述のステップ〔１
４〕からステップ〔３〕に戻された後の動作で、ステッ
プ〔１０〕で許容値を外れるパルス信号が無いと判断さ
れることになる。そしてステップ〔１１〕でその時の電
圧レベルａに相当する値が例えばＥＥＰＲＯＭ１０に記
憶され、ステップ〔１２〕で調整完了の表示が行われて
動作が終了される。
４〕からステップ〔３〕に戻された後の動作で、ステッ
プ〔１０〕で許容値を外れるパルス信号が無いと判断さ
れることになる。そしてステップ〔１１〕でその時の電
圧レベルａに相当する値が例えばＥＥＰＲＯＭ１０に記
憶され、ステップ〔１２〕で調整完了の表示が行われて
動作が終了される。
【００２６】さらにこの最初に制御されるパルス信号を
変更しても許容値を外れるパルス信号が有るときは、さ
らに上述の動作が繰り返される。そして上述のステップ
〔１３〕で動作の回数が所定の回数、例えば８回目にな
ったことが判断されると（ＹＥＳ）、ステップ〔１５〕
で「調整不能」の表示が行われて動作は終了される。従
ってこの場合には、制御対象のＦＧ４は使用不能として
排除される。
変更しても許容値を外れるパルス信号が有るときは、さ
らに上述の動作が繰り返される。そして上述のステップ
〔１３〕で動作の回数が所定の回数、例えば８回目にな
ったことが判断されると（ＹＥＳ）、ステップ〔１５〕
で「調整不能」の表示が行われて動作は終了される。従
ってこの場合には、制御対象のＦＧ４は使用不能として
排除される。
【００２７】従ってこの回路において、設定された電圧
レベルを用いてＦＧ出力を波形整形し、この波形整形さ
れたパルス信号のパルス幅を基準時間と比較し、この比
較結果を電圧レベルの設定手段にフィードバックして制
御を行うようにしたことによって、全自動で制御を行う
ことができると共に、人為的な誤差等が発生する恐れも
無くすことができる。
レベルを用いてＦＧ出力を波形整形し、この波形整形さ
れたパルス信号のパルス幅を基準時間と比較し、この比
較結果を電圧レベルの設定手段にフィードバックして制
御を行うようにしたことによって、全自動で制御を行う
ことができると共に、人為的な誤差等が発生する恐れも
無くすことができる。
【００２８】これによって、従来は作業者によって調整
にばらつきが生じ、サーボ処理の安定性が不充分である
など、信頼性に欠ける問題点があったものを、本発明に
よれば完全自動調整とすることによって調整誤差等のば
らつきが解消され、サーボ処理の安定性が向上し、信頼
性の高い製品を製造することができると共に、調整に要
する時間も短縮することができる。
にばらつきが生じ、サーボ処理の安定性が不充分である
など、信頼性に欠ける問題点があったものを、本発明に
よれば完全自動調整とすることによって調整誤差等のば
らつきが解消され、サーボ処理の安定性が向上し、信頼
性の高い製品を製造することができると共に、調整に要
する時間も短縮することができる。
【００２９】さらに上述の回路においては、調整動作を
ＦＧの回転位相を変えて繰り返すことで、全てパルス信
号が許容値内に入るように調整動作が行われると共に、
この調整動作が所定回数繰り返された後は、調整不能と
して例えば着磁ムラの大きいＦＧの排除を正確に行うこ
とができるものである。
ＦＧの回転位相を変えて繰り返すことで、全てパルス信
号が許容値内に入るように調整動作が行われると共に、
この調整動作が所定回数繰り返された後は、調整不能と
して例えば着磁ムラの大きいＦＧの排除を正確に行うこ
とができるものである。
【００３０】なお、上述の調整動作は製造工程でのみ行
われるものであって、通常のキャプスタンサーボ処理の
制御はＥＥＰＲＯＭ１０に記憶された値を読み出して行
われるものである。また、上述の回路はキャプスタンサ
ーボ処理だけでなく、例えば回転ヘッドドラムのサーボ
処理や、他のモータの回転制御にも応用できるものであ
る。
われるものであって、通常のキャプスタンサーボ処理の
制御はＥＥＰＲＯＭ１０に記憶された値を読み出して行
われるものである。また、上述の回路はキャプスタンサ
ーボ処理だけでなく、例えば回転ヘッドドラムのサーボ
処理や、他のモータの回転制御にも応用できるものであ
る。
【００３１】こうして上述のＦＧ出力検出回路によれ
ば、任意の電圧レベルを設定する設定手段と、任意の電
圧レベルが出力され標準の回転速度でのキャプスタンサ
ーボ処理を行う処理手段と、設定された電圧レベルを用
いてＦＧ出力を波形整形する波形整形手段とを有するＦ
Ｇ出力検出回路において、波形整形されたパルス信号の
任意の１波のパルス幅をキャプスタンサーボ処理手段で
設定されている標準の回転速度での１波のパルス幅の基
準時間と比較する比較手段を設け、この比較結果を電圧
レベルの設定手段にフィードバックして電圧レベルを制
御することにより、全自動で制御を行うことができると
共に、人為的な誤差等が発生する恐れも無くすことがで
きるものである。
ば、任意の電圧レベルを設定する設定手段と、任意の電
圧レベルが出力され標準の回転速度でのキャプスタンサ
ーボ処理を行う処理手段と、設定された電圧レベルを用
いてＦＧ出力を波形整形する波形整形手段とを有するＦ
Ｇ出力検出回路において、波形整形されたパルス信号の
任意の１波のパルス幅をキャプスタンサーボ処理手段で
設定されている標準の回転速度での１波のパルス幅の基
準時間と比較する比較手段を設け、この比較結果を電圧
レベルの設定手段にフィードバックして電圧レベルを制
御することにより、全自動で制御を行うことができると
共に、人為的な誤差等が発生する恐れも無くすことがで
きるものである。
【００３２】
【発明の効果】この発明によれば、設定された電圧レベ
ルを用いてＦＧ出力を波形整形し、この波形整形された
パルス信号のパルス幅を基準時間と比較し、この比較結
果を電圧レベルの設定手段にフィードバックして制御を
行うようにしたことによって、全自動で制御を行うこと
ができると共に、人為的な誤差等が発生する恐れも無く
すことができるようになった。
ルを用いてＦＧ出力を波形整形し、この波形整形された
パルス信号のパルス幅を基準時間と比較し、この比較結
果を電圧レベルの設定手段にフィードバックして制御を
行うようにしたことによって、全自動で制御を行うこと
ができると共に、人為的な誤差等が発生する恐れも無く
すことができるようになった。
【００３３】これによって、従来は作業者によって調整
にばらつきが生じ、サーボ処理の安定性が不充分である
など、信頼性に欠ける問題点があったものを、本発明に
よれば完全自動調整とすることによって調整誤差等のば
らつきが解消され、サーボ処理の安定性が向上し、信頼
性の高い製品を製造することができると共に、調整に要
する時間も短縮することができる。
にばらつきが生じ、サーボ処理の安定性が不充分である
など、信頼性に欠ける問題点があったものを、本発明に
よれば完全自動調整とすることによって調整誤差等のば
らつきが解消され、サーボ処理の安定性が向上し、信頼
性の高い製品を製造することができると共に、調整に要
する時間も短縮することができる。
【００３４】さらにこの発明においては、調整動作をＦ
Ｇの回転位相を変えて繰り返すことで、全てパルス信号
が許容値内に入るように調整動作が行われると共に、こ
の調整動作が所定回数繰り返された後は、調整不能とし
て例えば着磁ムラの大きいＦＧの排除を正確に行うこと
ができるものである。
Ｇの回転位相を変えて繰り返すことで、全てパルス信号
が許容値内に入るように調整動作が行われると共に、こ
の調整動作が所定回数繰り返された後は、調整不能とし
て例えば着磁ムラの大きいＦＧの排除を正確に行うこと
ができるものである。
【図１】本発明の適用されるＦＧ出力検出回路の一例の
構成図である。
構成図である。
【図２】その動作の説明のためのフローチャート図であ
る。
る。
【図３】その説明のための図である。
【図４】その説明のための図である。
【図５】キャプスタンサーボの説明のための図である。
１ 磁気テープ、２ キャプスタン、３ キャプスタン
モータ、４ ＦＧ（周波数発電機）、５ アンプ、６
比較器、７ サーボ処理用のマイクロコンピュータ、８
駆動回路、９ ローパスフィルタ、１０ 不揮発記憶
手段としてのＥＥＰＲＯＭ
モータ、４ ＦＧ（周波数発電機）、５ アンプ、６
比較器、７ サーボ処理用のマイクロコンピュータ、８
駆動回路、９ ローパスフィルタ、１０ 不揮発記憶
手段としてのＥＥＰＲＯＭ
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(56)参考文献 特開 平７−99790（ＪＰ，Ａ)
実公 平２−46113（ＪＰ，Ｙ２)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G11B 15/46
H02P 5/00
H04N 5/7826
Claims (5)
- 【請求項１】 任意の電圧レベルを設定する設定手段
と、前記任意の電圧レベルが出力され標準の回転速度でのキ
ャプスタンサーボ処理を行う処理手段と、 上記設定された電圧レベルを用いてＦＧ出力を波形整形
する波形整形手段とを有するＦＧ出力検出回路におい
て、 上記波形整形されたパルス信号の任意の１波のパルス幅
を上記キャプスタンサーボ処理手段で設定されている標
準の回転速度での１波のパルス幅の基準時間と比較する
比較手段を設け、 この比較結果を上記電圧レベルの設定手段にフィードバ
ックして上記電圧レベルを制御することを特徴とするＦ
Ｇ出力検出回路。 - 【請求項２】 請求項１記載のＦＧ出力検出回路におい
て、 上記制御された電圧レベルに相当する値を記憶する記憶
手段を有し、 この記憶された値を用いて上記設定手段の電圧レベルを
設定することを特徴とするＦＧ出力検出回路。 - 【請求項３】 請求項１記載のＦＧ出力検出回路におい
て、 上記制御された電圧レベルを用いて上記波形整形された
パルス信号のパルス幅を少なくとも上記ＦＧの一回転に
渡って順次上記基準時間と比較し、 許容値を外れる上記パルス幅が検出されたときに当該上
記ＦＧを排除することを特徴とするＦＧ出力検出回路。 - 【請求項４】 請求項１記載のＦＧ出力検出回路におい
て、 上記制御された電圧レベルを用いて上記波形整形された
パルス信号のパルス幅を少なくとも上記ＦＧの一回転に
渡って順次上記基準時間と比較し、 許容値を外れるパルス幅が検出されたときに上記ＦＧの
位相を変えて上記制御を再度行うことを特徴とするＦＧ
出力検出回路。 - 【請求項５】 請求項１記載のＦＧ出力検出回路におい
て、 上記制御によって上記波形整形されたパルス信号のデュ
ーティ比が５０％とされることを特徴とするＦＧ出力検
出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25949796A JP3539088B2 (ja) | 1996-09-30 | 1996-09-30 | Ｆｇ出力検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25949796A JP3539088B2 (ja) | 1996-09-30 | 1996-09-30 | Ｆｇ出力検出回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10106071A JPH10106071A (ja) | 1998-04-24 |
| JP3539088B2 true JP3539088B2 (ja) | 2004-06-14 |
Family
ID=17334923
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25949796A Expired - Fee Related JP3539088B2 (ja) | 1996-09-30 | 1996-09-30 | Ｆｇ出力検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3539088B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5314331B2 (ja) * | 2008-06-18 | 2013-10-16 | アスモ株式会社 | モータ制御装置 |
-
1996
- 1996-09-30 JP JP25949796A patent/JP3539088B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH10106071A (ja) | 1998-04-24 |
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