JP3519347B2 - 密封包装容器の密封不良検査装置 - Google Patents

密封包装容器の密封不良検査装置

Info

Publication number
JP3519347B2
JP3519347B2 JP2000211192A JP2000211192A JP3519347B2 JP 3519347 B2 JP3519347 B2 JP 3519347B2 JP 2000211192 A JP2000211192 A JP 2000211192A JP 2000211192 A JP2000211192 A JP 2000211192A JP 3519347 B2 JP3519347 B2 JP 3519347B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
amorphous metal
electrode
conductive
conductive holding
packaging container
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2000211192A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2002022594A (ja
Inventor
稔 堀越
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nissin Electronics Co Ltd
Original Assignee
Nissin Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nissin Electronics Co Ltd filed Critical Nissin Electronics Co Ltd
Priority to JP2000211192A priority Critical patent/JP3519347B2/ja
Publication of JP2002022594A publication Critical patent/JP2002022594A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3519347B2 publication Critical patent/JP3519347B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
  • Examining Or Testing Airtightness (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、合成樹脂等の非導
電性材料で形成され内部に食品、医薬品又は産業製品等
の導電性を有する内容物が密封して充填された密封包装
容器に電極を介して高電圧を印加して、密封包装容器の
ピンホールやシール不良等の密封不良を電気的に検査す
る密封包装容器の密封不良検査装置に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】従来の密封包装容器の密封不良検査装置
に用いる電極としては、例えば図6ないし図9に示すよ
うなものがある。図6における電極25は、直線方向に
伸びる板状の導電性保持金具25aを有し、多数のアモ
ルファス金属繊維25bが導電性保持金具25aの長さ
方向に対して直角方向に伸びて、その長さ方向に沿って
並べて配置され、この多数のアモルファス金属繊維25
bの基端部が導電性保持金具25aに一括して挟まれて
ブラシ状になるように固定されている。
【0003】すなわち図7に示すように、電極25の導
電性保持金具25aはその断面において2つに折り曲げ
られて、その間にアモルファス金属繊維25bの基端部
が、直接又は接着剤を介して挟まれて固定されている。
【0004】そして、図6に示すように、多数のアモル
ファス金属繊維25bの先端部を互いに近接させて、2
つの電極25が密封不良検査装置に配置されている。2
つの電極25の互いに近接したアモルファス金属繊維2
5bの先端部の間の空隙部25cを被検物の密封包装容
器が搬送されて通る間に、密封包装容器のピンホールや
シール不良等の密封不良を検査することができるように
なっている。
【0005】アモルファス金属繊維は、高い剛性と優れ
た耐摩耗性を有し、検査時の被検物の密封包装容器の搬
送速度が大きいときでもその優れた復元力により被検物
に対する接触追随性に優れている。
【0006】図8の電極26はドーナツ状に形成されて
おり、ドーナツ状の導電性保持金具26aの半径方向に
伸びて、導電性保持金具26aの内側円周方向に沿って
多数のアモルファス金属繊維26bが並べて配置され、
この多数のアモルファス金属繊維26bの基端部(導電
性保持金具26aの半径外方端部)が導電性保持金具2
6aに挟まれて固定されている。
【0007】図8における電極26のA−A線断面も、
図7に示した電極25と同様に形成されている。図8に
おける電極26においては、その中心の円形の空隙部2
6cを被検物の密封包装容器が搬送されて通る間に、密
封包装容器のピンホールやシール不良等の密封不良を検
査することができるようになっている。
【0008】図9の電極27は四角枠状に形成されてお
り、四角枠状の導電性保持金具27aの各辺に対して直
角に伸びて、導電性保持金具27aの各辺の内側に沿っ
て多数のアモルファス金属繊維27bが並べて配置さ
れ、この多数のアモルファス金属繊維27bの基端部
(導電性保持金具27a側の端部)が導電性保持金具2
7aに挟まれて固定されている。
【0009】図9における電極27のA−A線断面も、
図7に示した電極25と同様に形成されている。図9に
おける電極27においても、その内側の四辺形の空隙部
27cを被検物の密封包装容器が搬送されて通る間に、
密封包装容器のピンホールやシール不良等の密封不良を
検査することができるようになっている。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の密封包装容器の密封不良検査装置の電極25
〜27においては、図7(a)に示すように、電極25
の導電性保持金具25aの下端部の内側のコーナー部C
の半径が小さいため、図7(b)に示すように、アモル
ファス金属繊維25bが被検物に接触して押されて折れ
曲ったときに、アモルファス金属繊維25bは上記コー
ナー部Cの小さい半径のところを支点にして折れ曲るの
で、局部的に大きな折り曲げ応力が作用すると共に、ア
モルファス金属繊維25bがその折れ曲り部で何度も繰
り返し折れ曲ることにより疲労して、その折れ曲り部か
ら破断して脱落し易くなるという問題があった。
【0011】電極25のアモルファス金属繊維25b
は、復元性に優れているとはいえ、その高い剛性によ
り、繰り返し加えられる局部的に大きな折り曲げ応力に
対する耐久性には限界があるからである。
【0012】そこで本発明は、上記問題点に鑑みて、電
極のアモルファス金属繊維が何度も繰り返し折れ曲るこ
とにより疲労して破断、脱落し易くなるのを防止して、
そのアモルファス金属繊維の耐久性を向上させることが
できる密封包装容器の密封不良検査装置を提供すること
を課題とするものである。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明による密封包装容器の密封不良検査装置は、
合成樹脂等の非導電性材料で形成され内部に導電性を有
する内容物が密封して充填された密封包装容器に電極を
介して高電圧を印加して、密封包装容器のピンホールや
シール不良等の密封不良を電気的に検査する密封包装容
器の密封不良検査装置において、前記電極が、線径が数
10μmから100μm位の多数のアモルファス金属繊
維と、この多数のアモルファス金属繊維の基端部を一括
して挟んでブラシ状に固定する導電性保持部材とを有
し、前記導電性保持部材と、この導電性保持部材の間か
ら外部にわたって伸びて露出した前記アモルファス金属
繊維の、導電性保持部材の近傍に位置する基端部との間
に、アモルファス金属繊維が小さな折れ曲り半径で折れ
曲ることに抵抗するような弾性体を盛り付けて接着した
構成としたものである。
【0014】このような構成の密封包装容器の密封不良
検査装置によれば、導電性保持部材と、この導電性保持
部材の間から外部にわたって伸びて露出したアモルファ
ス金属繊維の、導電性保持部材の近傍に位置する基端部
との間に、アモルファス金属繊維が小さな折れ曲り半径
で折れ曲ることに抵抗するような弾性体を盛り付けて接
着したため、電極のアモルファス金属繊維が何度も繰り
返し折れ曲がっても、それが疲労して破断、脱落し易く
なるのを防止することができ、アモルファス金属繊維の
耐久性を向上させることができる。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図面に基づいて具体的に説明する。図1ないし図3
は、本発明による密封包装容器の密封不良検査装置の第
1の実施の形態について説明するために参照する図であ
る。
【0016】図1は、本発明の第1の実施の形態に係る
密封包装容器の密封不良検査装置10を示す概略図であ
る。この密封不良検査装置10は、第1電極15と、第
2電極16とを有している。第1電極15は回路12を
介して電源14の正極側に接続されていて、電源14か
らの電圧が印加されており、第2電極16は回路13を
介して電源14のアースされた負極側に接続されてい
る。
【0017】回路12の途中には後述する検出制御回路
18が設けられている。第1電極15と第2電極16と
の間には、搬送コンベア20により搬送される、例え
ば、内部に導電性を有するゼリーが密封して充填された
合成樹脂製の密封包装容器の被検物22が矢印P方向に
移動するようになっている。
【0018】第1電極15は、図2に示すように、前記
従来の密封包装容器の密封不良検査装置の電極25(図
6,7参照)と基本的には同様の構成となっている。す
なわち、第1電極15は直線方向に伸びる板状の導電性
保持金具15a(導電性保持部材)を有し、多数のアモ
ルファス金属繊維15bが導電性保持金具15aの長さ
方向に対して直角方向に伸び、その長さ方向に沿って並
べて配置され、この多数のアモルファス金属繊維15b
の基端部が導電性保持金具15aに挟まれて固定されて
いる。
【0019】すなわち図3に示すように、第1電極15
の導電性保持金具15aはその断面において2つに折り
曲げられて、その間に多数のアモルファス金属繊維15
bの基端部が一括して、直接又は接着剤を介して挟まれ
てブラシ状になるように固定されている。
【0020】ところがこの第1電極15は、前記従来の
電極25と異なって、導電性保持金具15aと、この導
電性保持金具15aの間から外部にわたって伸びて露出
したアモルファス金属繊維15bの、導電性保持金具1
5aの近傍に位置する基端部との間に、弾性体のシリコ
ンゴムのような軟質ゴム接着材15c(又は軟質樹脂接
着材)を盛り付けて接着したものである。
【0021】そして導電性保持金具15aの図3中下端
部には、軟質ゴム接着材15cのアモルファス金属繊維
15bへの接着長さを大きくするために、導電性保持金
具15aの奥の方に入り込む大きな傾斜が形成されてい
る。
【0022】このような第1電極15のアモルファス金
属繊維15bは、図1の搬送コンベア20による搬送に
より移動する被検物22に接触して、図3(b)に示す
ように折れ曲ったときには、その折れ曲り部に設けられ
た軟質ゴム接着材15cが弾性変形することにより、そ
のアモルファス金属繊維15bが小さな半径で折れ曲る
ことに対して軟質ゴム接着材15cが弾性的に抵抗する
ために、その折れ曲り半径Rは従来よりも大きなものと
なる。
【0023】一方、図1において、電源14の負極側に
回路13を介して接続された第2電極16は、第1電極
15の下方の導電性材料製の搬送コンベア20の下側に
配置され、導電性を有する板状部材により構成されてい
る。
【0024】このような密封包装容器の密封不良検査装
置10の動作について、以下に説明する。図1に示すよ
うに、搬送コンベア20の上に載せられた被検物22が
矢印P方向に搬送されてくる前は、第1電極15のアモ
ルファス金属繊維15bは、図3(a)に示すように、
自らの剛性により垂直下方に真っ直ぐに伸びている。
【0025】被検物22が搬送されてきてアモルファス
金属繊維15bの先端部がそれに接触すると、アモルフ
ァス金属繊維15bは図3(b)に示すように、その先
端部が左方に押されて軟ゴム質接着材15cのところか
ら折れ曲がる。このとき上述したように、アモルファス
金属繊維15bが小さな半径で折れ曲ることに対して軟
質ゴム接着材15cが弾性的に抵抗するために、その折
れ曲り半径Rは従来よりも大きなものとなる。
【0026】このとき、被検物22にピンホールとかシ
ール不良等の密封不良がなければ、被検物22は絶縁体
なので、互いに遠く離れた第1電極15と第2電極16
の間に電流(閃絡電流)が流れることはないため、検出
制御回路18は予め設定した閾値を超えた閃絡電流を検
出することはないので、被検物22を除去することなく
その搬送をそのまま続行させる。
【0027】しかしながら、被検物22にピンホールと
かシール不良等の密封不良があった場合は、第1電極1
5に印加されている1万位Vの高電圧により、被検物2
2の内部の導電性を有する内容物のゼリーの中を、第1
電極15が接触する被検物22の密封不良の部分から第
2電極16に向って閃絡電流が流れる。
【0028】このため閃絡電流は、被検物22の内部の
内容物から被検物22の密封包装容器の底側の肉厚と搬
送コンベア20を貫いて第2電極16に向って流れるの
で、回路12にもその閃絡電流が流れる。このため、検
出制御回路18はその閃絡電流を予め設定した閾値と比
較し、この閃絡電流が予め設定した閾値を超えたときは
検出制御回路18は、被検物22は密封不良と判断する
と共に、その密封不良を有する被検物22を除去するよ
う図示していない除去装置を制御する。
【0029】そして、検出制御回路18が検出した閃絡
電流が予め設定した閾値を超えないときは、検出制御回
路18は被検物22はその内容物が完全に密封されてい
る良品と判断して、その密封不良検査に係る被検物22
を除去することなくそのまま搬送させる。
【0030】このように、本発明の第1の実施の形態に
係る、密封包装容器の密封不良検査装置10によれば、
導電性保持金具15aと、この導電性保持金具15aの
間から外部にわたって伸びて露出したアモルファス金属
繊維15bの、導電性保持金具15aの近傍に位置する
基端部との間に、弾性体のシリコンゴムのような軟質ゴ
ム接着材15c(又は軟質樹脂接着材)を盛り付けて接
着したため、アモルファス金属繊維15bが小さな半径
で折れ曲ることに対して軟質ゴム接着材15cが弾性的
に抵抗するので、第1電極15のアモルファス金属繊維
15bが何度も繰り返し折れ曲がっても、それが疲労し
て破断、脱落し易くなるのを防止することができ、アモ
ルファス金属繊維15bの耐久性を向上させることがで
きる。
【0031】図4は、本発明の第2の実施の形態に係る
第1電極17について説明するために参照する図であ
る。この第1電極17も、前記従来の電極25と基本的
には同様の構成となっている。すなわち、第1電極17
は直線方向に伸びる板状の導電性保持金具17a(導電
性保持部材)を有し、多数のアモルファス金属繊維17
bが導電性保持金具17aの長さ方向に対して直角方向
に伸びて、その長さ方向に沿って並べて配置され、この
多数のアモルファス金属繊維17bの基端部が導電性保
持金具17aに挟まれて固定されている。
【0032】すなわち図4に示すように、第1電極17
の導電性保持金具17aはその断面において2つに折り
曲げられて、その間に多数のアモルファス金属繊維17
bの基端部が一括して、直接又は接着剤を介して挟まれ
てブラシ状になるように固定されている。
【0033】ところがこの第1電極17は前記従来の電
極25と異なって、導電性保持金具17aの、アモルフ
ァス金属繊維17bが折れ曲る側に、大きな半径Rの曲
面が内側に形成されたガイド部17c(折れ曲がり受け
部)が、導電性保持金具17aに一体的に形成されてい
る。
【0034】このような本発明の第2の実施の形態によ
れば、第1電極17のアモルファス金属繊維17bは、
搬送により移動する被検物22に接触して、図4に二点
鎖線で示すように折れ曲ったときに、その折れ曲り部は
ガイド部17cの大きな半径Rの曲面により受けられる
ために、アモルファス金属繊維17bの折れ曲り半径R
は従来よりも大きなものとなる。
【0035】このため、第1電極17のアモルファス金
属繊維17bが何度も繰り返し折れ曲がっても、それが
疲労して破断、脱落し易くなるのを防止することがで
き、アモルファス金属繊維17bの耐久性を向上させる
ことができる。
【0036】図5は、本発明の第3の実施の形態に係る
第1電極19について説明するために参照する図であ
る。この第1電極19も、前記従来の電極25と基本的
には同様の構成となっている。すなわち、第1電極19
は直線方向に伸びる板状の導電性保持金具19a(導電
性保持部材)を有し、多数のアモルファス金属繊維19
bが導電性保持金具19aの長さ方向に対して直角方向
に伸びて、その長さ方向に沿って並べて配置され、この
多数のアモルファス金属繊維19bの基端部が導電性保
持金具19aに挟まれて固定されている。
【0037】すなわち図5に示すように、第1電極19
の導電性保持金具19aはその断面において2つに折り
曲げられて、その間に多数のアモルファス金属繊維19
bの基端部が一括して、直接又は接着剤を介して挟まれ
てブラシ状になるように固定されている。
【0038】ところがこの第1電極19は前記従来の電
極25と異なって、導電性保持金具19aの、アモルフ
ァス金属繊維19bが折れ曲る側と、アモルファス金属
繊維19bの基端部との間に、アモルファス金属繊維1
9bより短くて、アモルファス金属繊維19bが折れ曲
るときにこの折れ曲り部を大きな半径Rの曲面で受ける
ことができる、例えば合成樹脂製の板状の折れ曲り受け
部材21を挟んで設けたものである。
【0039】このような本発明の第3の実施の形態によ
れば、第1電極19のアモルファス金属繊維19bは、
搬送により移動する被検物22に接触して図5に二点鎖
線で示すように折れ曲ったときに、その折れ曲り部は折
れ曲り受け部材21の大きな半径Rの曲面により受けら
れるために、アモルファス金属繊維19bの折れ曲り半
径Rは従来よりも大きなものとなる。
【0040】このため、第1電極19のアモルファス金
属繊維19bが何度も繰り返し折れ曲がっても、それが
疲労して破断、脱落し易くなるのを防止することがで
き、アモルファス金属繊維19bの耐久性を向上させる
ことができる。
【0041】なお、前記実施の形態においては第1電極
15,17,19に電源14の正極から電圧を印加し、
第2電極16を電源14の負極に接続する場合について
説明したが、これとは逆に、第2電極16に電源14の
正極から電圧を印加し、第1電極15,17,19を電
源14の負極に接続するようにしてもよい。
【0042】また、前記実施の形態においては導電性保
持部材として導電性保持金具15a,17a,19aを
用いたが、これらの導電性保持金具と同様の導電性を有
するものであれば、導電性保持部材としては導電性合成
樹脂等の金属以外の材料を用いてもよい。
【0043】また前記実施の形態は、図6に示す従来の
第1電極25に対応する場合の実施の形態について説明
したが、本発明は、図8,9に示す従来の電極26,2
7の各々に対応するような形態で実施することもでき
る。
【0044】以上、本発明の実施の形態について具体的
に述べてきたが、本発明は上記の実施の形態に限定され
るものではなく、本発明の技術的思想に基づいて、その
他にも各種の変更が可能なものである。
【0045】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の密封包装
容器の密封不良検査装置によれば、導電性保持部材と、
この導電性保持部材の間から外部にわたって伸びて露出
したアモルファス金属繊維の、導電性保持部材の近傍に
位置する基端部との間に、アモルファス金属繊維が小さ
な折れ曲り半径で折れ曲ることに抵抗するような弾性体
を盛り付けて接着したため、電極のアモルファス金属繊
維が何度も繰り返し折れ曲がっても、それが疲労して破
断、脱落し易くなるのを防止することができ、アモルフ
ァス金属繊維の耐久性を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態に係る密封包装容器
の密封不良検査装置10の概略構成及びその回路を示す
図である。
【図2】図1における第1電極15の側面図である。
【図3】図2における第1電極15のA−A線断面図で
あり、図3(a)は被検物22の非検査動作時の状態の
第1電極15の断面図、図3(b)は被検物22の検査
動作時の状態の第1電極15の断面図である。
【図4】本発明の第2の実施の形態に係る第1電極17
を示すその断面図である。
【図5】本発明の第3の実施の形態に係る第1電極19
及び折れ曲り受け部材21を示すその断面図である。
【図6】従来の電極25の側面図である。
【図7】図6における電極25のA−A線矢視図であ
り、図7(a)は被検物22の非検査動作時の状態の第
1電極25の断面図、図7(b)は被検物22の検査動
作時の状態の第1電極25の断面図である。
【図8】他の従来の電極26の正面図である。
【図9】さらに他の従来の電極27の正面図である。
【符号の説明】
10 密封包装容器の密封不良検査装置 12,13 回路 14 電源 15 第1電極 15a 導電性保持金具 15b アモルファス金属繊維 15c 軟質ゴム接着材 16 第2電極 17 第1電極 17a 導電性保持金具 17b アモルファス金属繊維 17c ガイド部 18 検出制御回路 19 第1電極 19a 導電性保持金具 19b アモルファス金属繊維 20 搬送コンベア 21 折れ曲り受け部材 22 被検物 25 電極 25a 導電性保持金具 25b アモルファス金属繊維 25c 空隙部 26 電極 26a 導電性保持金具 26b アモルファス金属繊維 26c 空隙部 27 電極 27a 導電性保持金具 27b アモルファス金属繊維 27c 空隙部 C コーナー部 R 半径
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01M 3/40 G01N 27/92

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 合成樹脂等の非導電性材料で形成され内
    部に導電性を有する内容物が密封して充填された密封包
    装容器に電極を介して高電圧を印加して、密封包装容器
    のピンホールやシール不良等の密封不良を電気的に検査
    する密封包装容器の密封不良検査装置において、 前記電極が、 線径が数10μmから100μm位の多数のアモルファ
    ス金属繊維と、 この多数のアモルファス金属繊維の基端部を一括して挟
    んでブラシ状に固定する導電性保持部材とを有し、 前記導電性保持部材と、 この導電性保持部材の間から外部にわたって伸びて露出
    した前記アモルファス金属繊維の、導電性保持部材の近
    傍に位置する基端部との間に、 アモルファス金属繊維が小さな折れ曲り半径で折れ曲る
    ことに抵抗するような弾性体を盛り付けて接着したこと
    を特徴とする密封包装容器の密封不良検査装置。
  2. 【請求項2】 合成樹脂等の非導電性材料で形成され内
    部に導電性を有する内容物が密封して充填された密封包
    装容器に電極を介して高電圧を印加して、密封包装容器
    のピンホールやシール不良等の密封不良を電気的に検査
    する密封包装容器の密封不良検査装置において、 前記電極が、 線径が数10μmから100μm位の多数のアモルファ
    ス金属繊維と、 この多数のアモルファス金属繊維の基端部を一括して挟
    んでブラシ状に固定する導電性保持部材とを有し、 前記導電性保持部材に、 前記アモルファス金属繊維が折れ曲るときにこの折れ曲
    り部を大きな半径の曲面で受ける折れ曲り受け部を一体
    的に形成したことを特徴とする密封包装容器の密封不良
    検査装置。
  3. 【請求項3】 合成樹脂等の非導電性材料で形成され内
    部に導電性を有する内容物が密封して充填された密封包
    装容器に電極を介して高電圧を印加して、密封包装容器
    のピンホールやシール不良等の密封不良を電気的に検査
    する密封包装容器の密封不良検査装置において、 前記電極が、 線径が数10μmから100μm位の多数のアモルファ
    ス金属繊維と、 この多数のアモルファス金属繊維の基端部を一括して挟
    んでブラシ状に固定する導電性保持部材とを有し、 前記導電性保持部材の内面と前記アモルファス金属繊維
    の基端部との間に、 アモルファス金属繊維が折れ曲るときに共に折れ曲り、
    アモルファス金属繊維の折れ曲り部を大きな半径の曲面
    で受ける折れ曲り受け部材を挟んで設けたことを特徴と
    する請求項1記載の密封包装容器の密封不良検査装置。
JP2000211192A 2000-07-12 2000-07-12 密封包装容器の密封不良検査装置 Expired - Lifetime JP3519347B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000211192A JP3519347B2 (ja) 2000-07-12 2000-07-12 密封包装容器の密封不良検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000211192A JP3519347B2 (ja) 2000-07-12 2000-07-12 密封包装容器の密封不良検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002022594A JP2002022594A (ja) 2002-01-23
JP3519347B2 true JP3519347B2 (ja) 2004-04-12

Family

ID=18707346

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000211192A Expired - Lifetime JP3519347B2 (ja) 2000-07-12 2000-07-12 密封包装容器の密封不良検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3519347B2 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4825954B2 (ja) * 2001-02-19 2011-11-30 日新電子工業株式会社 シール不良検査機
JP2006275927A (ja) * 2005-03-30 2006-10-12 Nihon Tetra Pak Kk シール状態検査装置及びシール状態検査方法
JP4943084B2 (ja) * 2006-08-02 2012-05-30 ニッカ電測株式会社 ピンホール検査装置用電極

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3047854U (ja) 1997-10-08 1998-04-28 日新電子工業株式会社 ピンホール検査装置用電極

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3047854U (ja) 1997-10-08 1998-04-28 日新電子工業株式会社 ピンホール検査装置用電極

Also Published As

Publication number Publication date
JP2002022594A (ja) 2002-01-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH08250557A (ja) 検査装置
KR101451499B1 (ko) 전자부품 검사장치
KR960706080A (ko) 반도체 디바이스의 자동검사장치 및 방법
JP3519347B2 (ja) 密封包装容器の密封不良検査装置
CN102778292B (zh) 半导体检查装置
KR101127780B1 (ko) 전극 트랜스포터 및 그를 포함한 구조체 세트들
JP4747171B2 (ja) コンドームテスト装置
KR970003749A (ko) 프로브시스템
JP2799361B2 (ja) 密封容器の検査方法
JP4505049B2 (ja) シール不良検査機
JPS642886B2 (ja)
KR960043071A (ko) 반도체 장치의 검사방법
JP4137513B2 (ja) 密封包装物の検査装置用電極
JP6206643B2 (ja) ピンホール検査装置及びピンホール検査方法
JP3340983B2 (ja) 液漏れ検査システム
JP2001074586A (ja) 容器接合部の漏れ検出方法および装置
JPH09222378A (ja) ピンホール検査装置
JPH09178806A (ja) 半導体装置製造用治具の異物除去方法および半導体装置の検査方法
JP4292013B2 (ja) 回路基板検査装置
JP2001305102A (ja) 容器の内容物用pH連続測定装置
JPS6270725A (ja) 密封食品におけるピンホ−ル等の検出装置
JPH10282066A (ja) 包装体の不良検査装置
JP3838593B2 (ja) 半導体装置の検査方法及び半導体装置の検査装置
JP4593760B2 (ja) 半導体装置用キャリアテープ及びそれを用いた測定方法
KR20040038387A (ko) 프로브 침 클리닝장치

Legal Events

Date Code Title Description
TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20040127

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20040128

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 3519347

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090206

Year of fee payment: 5

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090206

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100206

Year of fee payment: 6

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100206

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110206

Year of fee payment: 7

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110206

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120206

Year of fee payment: 8

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130206

Year of fee payment: 9

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140206

Year of fee payment: 10

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term