JP2799361B2 - 密封容器の検査方法 - Google Patents

密封容器の検査方法

Info

Publication number
JP2799361B2
JP2799361B2 JP1289381A JP28938189A JP2799361B2 JP 2799361 B2 JP2799361 B2 JP 2799361B2 JP 1289381 A JP1289381 A JP 1289381A JP 28938189 A JP28938189 A JP 28938189A JP 2799361 B2 JP2799361 B2 JP 2799361B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
container
sealed
sealing
conductive
pinhole
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP1289381A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH03150440A (ja
Inventor
浩史 前田
徹郎 安池
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Idemitsu Petrochemical Co Ltd
Original Assignee
Idemitsu Petrochemical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Idemitsu Petrochemical Co Ltd filed Critical Idemitsu Petrochemical Co Ltd
Priority to JP1289381A priority Critical patent/JP2799361B2/ja
Publication of JPH03150440A publication Critical patent/JPH03150440A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2799361B2 publication Critical patent/JP2799361B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Examining Or Testing Airtightness (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、導電性内容物が充填されてプラスチックフ
ィルム等の蓋材により密封される容器における密封部の
密封不良(ピンホール等)を検査する方法に関し、特に
デザートや果汁飲料等の液体状かつ導電性の食品が充填
される密封容器の検査に利用できる。
〔背景技術〕
従来より、内容物が充填されてプラスチックフィルム
等の蓋材で密封包装されるプラスチック製成形容器は、
様々な分野で利用されている。特に内容物の保存に要求
される物性、例えば水蒸気やガスの遮断性等の物性を与
えることができ、また大量生産に適し経済的であるた
め、デザートや果汁飲料等の食品の容器として広範に利
用されている。
このようなプラスチック容器にピンホールが存在する
と、内容物の微生物汚染や液体等の内容物の漏洩等の問
題が生じるため、従来よりピンホールの有無を検査する
ピンホール検査が行われている。特に、ピンホール蓋材
と容器とのシール部分つまり密封部に生じることが多い
ため、この密封部のピンホール検査は重量な品質管理項
目となっている。
このピンホール検査を行う従来技術として、密封包装
を試験する方法(特公昭50−6998号公報)がある。この
方法は、絶縁性包装被膜で密封包装された食品に高周波
電圧を印加して、電極および食品間で形成される容量リ
アクタンスの差による閃絡電流を検知してピンホールを
検査する方法であり、いわゆる高周波スパーク法と呼ば
れているものである。
また、この高周波スパーク法を内容物が充填された密
封容器のピンホール検査に応用した装置として、密封食
品におけるピンホール等の検出装置(特開昭62−70725
号公報)がある。この検出装置は、第6図に示すよう
に、絶縁性の容器61内に食品62を挿入後、容器開口63を
絶縁性フィルム64でシールして形成した密封食品65の上
方からフィルム64にブラシ状の電極66を接触させ、かつ
容器61の底面にアース電極67を接触させ、両電極66,67
間に高周波電圧発生源68で高周波電圧を印加し、ピンホ
ールが存在すればそこに閃絡が生じるようにして、この
閃絡による電流変化を高周波電流検出器69で検知してピ
ンホールを検出するものである。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、いずれの方法や装置においても、食品
が包装材料に完全に密着、あるいは容器61に充満されて
容器61およびフィルム64に密着されていない場合には、
第6図に示すように、空気等の気層部71が形成されるこ
とになる。この気層部71は絶縁層となるため、フィルム
64にピンホールが存在していても閃絡が生じず、ピンホ
ール検査を行うことができないという問題がある。
本発明の目的は、内部に気層部を含む密封容器であっ
ても、その密封不良の検査を確実に行える密封容器の検
査方法を提供することにある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の密封容器の検査方法は、導電性内容物が充填
されかつ開口部が蓋材により密封された容器の検査方法
であって、前記容器を傾けて導電性内容物が前記蓋材に
接するようにし、前記容器をその底面に直交する軸を中
心に回転させながら、この密封部の一部と前記容器の導
電性内容物が接触する部分との間に高周波電圧を印加
し、その際の電流値および/または電圧値の変化により
前記密封部のピンホール等の密封不良を検査することを
特徴とする。
また、本発明の密封容器の検査方法は、前記容器を傾
けて導電性内容物が前記蓋材および容器の密封部の全部
に接するようにし、前記密封部に沿って検知部を移動さ
せながら、当該検知部が接触する密封部の一部と前記容
器の導電性内容物が接触する部分との間に高周波電圧を
印加し、その際の電流値および/または電圧値の変化に
より前記密封部の密封不良を検査することを特徴とする
ものでもよい。
ここで、前記蓋材および容器としてはプラスチックや
紙等の絶縁性を有する部材が利用できる。
また、前記密封部には、検知部を構成するブラシ状の
電極を接触させて高周波電圧を印加し、この電極により
ピンホール等の密封不良を検出することが好ましい。
さらに、前記容器の底面または側面の導電性内容物が
接触する部分には、接触面積の大きなアース電極が接触
され、このアース電極により高周波電圧が印加されるこ
とが好ましい。
また、導電性内容物としては、導電性を有する液体状
のものが利用できる。
〔作用〕
このような本発明においては、密封容器を傾斜させて
導電性内容物を蓋材と容器との密封部に接触させ、容器
をその底面に直交する軸を中心に回転させながら、この
密封部の一部と前記容器の導電性内容物が接触する部分
との間に高周波電圧を印加する。ここで、電圧が印加さ
れている密封部にピンホール等の密封不良が存在する
と、密封部および容器間にピンホールおよび導電性内容
物を介して電気回路が形成される。この際、密封部には
導電性内容物が接触しているため、気層部により前記電
気回路が絶縁されることがなく、電流あるいは電圧の変
化が測定されてピンホールが確実に検知される。
一方、密封容器を傾斜させて導電性内容物を蓋材と容
器との密封部の全部に接触させ、この密封部に沿って検
知部を移動させながら、この検知部が接触する密封部の
一部と前記容器の導電性内容物が接触する部分との間に
高周波電圧を印加した場合には、検知部により電圧が印
加されている密封部にピンホール等の密封不良が存在す
ると、その密封部および容器間にピンホールおよび導電
性内容物を介して電気回路が形成され、この際の電流あ
るいは電圧の変化を測定することで密封不良が検知され
る。
すなわち、本発明は、容器内に気層部があっても容器
を傾斜させることで、高周波電圧が印加される密封部と
導電性内容物との間から気層部を無くし、よって気層部
による絶縁層がないため、ピンホールの有無のみで電気
回路が断続されてピンホールが確実に検出され、これら
により前記目的が達成される。
〔実施例〕
以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。
第1図には、本発明に基づいてプラスチック容器のピ
ンホール検査を行う検査システム1が示されている。
検査システム1は、検査対象であるプラスチック容器
2に高周波電圧を印加してピンホール検査を行うもので
ある。このプラスチック容器2は、絶縁性を有するプラ
スチック、例えばポリプロピレン等を原料として、例え
ば、第2図に示すような寸法の底付円筒状に成形され
る。
このプラスチック容器2の開口部にはフランジ3が形
成され、このフランジ3には、絶縁性を有するプラスチ
ックフィルム、例えばナイロン(NY)およびキャストポ
リプロピレン(CPP)が積層されたトップフィルム4が
ヒートシール等で接着されている。従って、容器2内部
は液体状の導電性内容物5が充填された状態でトップフ
ィルム4により密封され、このフィルム4と容器2とが
接着されるフランジ3部分により密封部6が構成され
る。
なお、このプラスチック容器2には、内容物5が充満
されてはおらず、一部に空気等の気層部7が形成される
とともに、検査時には略垂直に傾斜されて気層部7が上
方に位置する状態とされる。
一方、検査システム1は、第1図に示すように、高周
波電圧発生検出装置10を備えている。この発生検出装置
10は、高周波電圧発生源11、保安抵抗12および高周波電
流検出器13を備えている。
この発生検出装置10には、高周波電圧発生源11により
高周波電圧が印加されるアース電極20および検知部30が
接続されている。
アース電極20は、導電性を有する金属、好ましくは亜
鉛銅スズ合金か銅を用いてプラスチック容器2の底部形
状と同型に形成されて容器2に嵌合され、かつモータ21
を有する容器回転手段22で回転可能とされている。従っ
て、アース電極20の回転に伴い、プラスチック容器2は
底面に直交する略水平な回転軸を中心に回転される。
一方、検知部30は、導電性を有する金属、好ましくは
銅製による線径φ0.5mm以下のブラシ状の電極31で構成
され、第3図にも示すように、容器2の回転軸に直交す
る方向から導電性内容物5が接している密封部6の一部
に接触されている。従って、容器2の回転に伴い、検知
部30が接触する密封部6が順次移動して密封部6の全周
が検査される。
このように構成された本実施例においては、次に示す
ような手順でプラスチック容器2のピンホール検査を行
う。
まず、容器2を略直交方向に傾斜させるとともに、容
器2の底部にアース電極20を嵌合し、かつ導電性内容物
5が接する密封部6に検知部30を接触させる。
次に、高周波電圧発生検出装置10の高周波電圧発生源
11によりアース電極20および検知部30間に高周波電圧を
印加するとともに、容器回転手段22によりアース電極20
を介して容器2を1回転させる。
ここで、検知部30が接触している密封部6が完全に密
封されている場合には、容器2およびトップフィルム4
は絶縁性のプラスチックより形成されているため、検知
部30と導電性内容物5とは電気的に接続されず、電気回
路が形成されないため、高周波電流検出器13では電流が
検出されない。
一方、容器2の回転に伴い、検知部30がピンホール等
の密封不良を有する密封部6に接触した場合には、この
ピンホール等により検知部30と導電性内容物5とが電気
的に接続されて電気回路が形成されるため、電流検出器
13において電流が検出される。
従って、電流検出器13における検出電流の有無によ
り、密封部6のピンホール等の密封不良が検出される。
このような本実施例によれば、次のような効果があ
る。
すなわち、プラスチック容器2内に気層部7を有して
いても、容器2を傾斜させることで導電性内容物5が密
封部6に接触させることができ、このため密封部6にピ
ンホールが存在する場合において、検知部30と導電性内
容物5との間に気層部7による絶縁層が形成されないの
で、電気回路が形成されてピンホールによる電流を確実
に検出することができる。
つまり、本実施例によれば、ピンホールがあっても気
層部7の絶縁層により電気回路が形成されないといった
不都合がなく、電流検出器13における検出電流はピンホ
ールの有無によってのみ影響されるため、ピンホールを
確実に検出することができる。
また、容器回転手段22により容器2を回転させている
ので、検知部30を固定した状態で密封部6の全周を検査
することができ、検査作業を容易かつ短時間で行うこと
ができる。さらに、プラスチック容器2の密封部6の一
部を検知部30に接触させた状態でプラスチック容器2を
回転させているので、密封部6を一部分ごとに順次検査
することができ、密封部6の密封不良の有無だけでな
く、その位置も検出することができる。
なお、本発明は前記実施例の構成等に限らず、本発明
の目的を達成できる範囲の変形は本発明に含まれるもの
である。
例えば、前記実施例では、容器2を略垂直に傾斜させ
て検査を行っていたが、例えば、第4図に示すように、
トップフィルム4側を斜め下方に向けて傾斜させ、全て
の密封部6が導電性内容物5に接するようにして検査を
行ってもよい。この場合には、前記実施例のように容器
2を回転させてもよいが、全ての密封部6が内容物5に
接しているため、容器2を回転させずに検知部30を密封
部6に沿って移動させながら、検知部30が接触する密封
部6の一部と容器2の導電性内容物5が接触する部分つ
まりアース電極20との間に高周波電圧を印加して検査し
てもよい。
要するに、本発明においては、密封部6の少なくとも
一部に導電性内容物5が接するように容器2を傾斜し、
この内容物5が接している密封部6の一部に検知部30を
接触させればよく、その傾斜角度は実施にあたって適宜
設定すればよい。
また、容器2を回転させる容器回転手段22としては、
前記実施例のように容器2の底部に嵌合されるアース電
極20を回転させるものに限らず、例えば、アース電極20
を板状に形成し、容器2をトップフィルム4側からアー
ス電極20に押しつけて回転させる押え治具等を用いても
よく、その構成は任意である。
さらに、検査対象となる容器2は、前記実施例のもの
に限らず、例えば、第5図に示すように、密封部6の先
端が折曲された被せ蓋状の密封方式を採用した容器50の
検査にも利用できる。特に、この被せ蓋状の容器50で
は、従来のようにフィルム4の上方から電極66を接触さ
せる方法では、折曲された密封部6に電極66を接触させ
ることが困難なため、ピンホール検査を行えないが、本
発明では、密封部6に容器50の側方から検知部30を接触
させることができるため、第5図に示すように電極31の
ブラシ形状として折曲方向に合ったものなどを適宜選択
することができ、よってピンホール検査を確実に行うこ
とができる。
また、前記実施例では、高周波電流検出器13で検出さ
れる電流の変化によりピンホールを検出していたが、電
圧を測定してその変化により検出してもよいし、電流お
よび電圧の両方を測定して検出してもよく、これらは実
施にあたって適宜設定すればよい。
さらに、前記実施例では、プラスチック製の容器2と
蓋材であるフィルム4とを用いていたが、本発明の容器
および蓋材はプラスチックに限らず紙等でもよく、要す
るに絶縁性のものであれば利用できる。
また、導電性内容物5としては、液体に限らず、液体
および固体を混合したものでもよく、要するに容器2を
傾斜させたときに密封部6に接触可能な内容物5であれ
ばよい。さらに、この内容物5は、食品に限らず、導電
性の他の物質も適用できる。
次に、本発明の検査システム1を用いた実験結果につ
いて説明する。
この実験は、検査対象の容器として、第2図に示す寸
法および形状で厚みが0.8mmのポリプロピレン製の容器
2を用いたものである。この容器2の容量は65ccであ
り、導電性内容物5として2%食塩水を55ccつまり85%
の充填を行った。
また、トップフィルム4は、ナイロンが15μかつキャ
ストポリプロピレンが60μの厚さで積層されたフィルム
を用いた。
さらに、高周波電圧発生検出装置10として、ニッカ電
測(株)製HSE型(名称、卓上ピンホールインスペクタ
ー)を用いた。この検出装置10は、電圧を0〜15KVに可
変可能であり、電流検出の有無をランプで表示するもの
である。
このような容器2を用いて第1図に示す本発明方法と
第6図に示す従来方法とにおいて、3KVの高周波電圧を
印加した際の実験結果を表−1に示す。
この表−1から判るように、従来の方法では検知でき
ない15μ,50μの孔を本発明の方法によれば検知するこ
とができた。
従って、本発明の密封容器の検査方法による検査が有
効であることが判る。
〔発明の効果〕
このような本発明によれば、内部に気層部を含む密封
容器であっても、密封不良の検査を確実に行うことがで
きるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す概略側面図、第2図は
プラスチック容器を示す断面図、第3図は前記実施例の
概略正面図、第4図および第5図はそれぞれ本発明の変
形例を示す概略図、第6図は従来例を示す概略図であ
る。 1……検査システム、2……プラスチック容器、3……
フランジ、4……トップフィルム、5……導電性内容
物、6……密封部、7……気層部、10……高周波電圧発
生検出装置、20……アース電極、22……容器回転手段、
30……検知部、31……電極。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01M 3/16 G01M 3/40 G01N 27/92

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】導電性内容物が充填されかつ開口部が蓋材
    により密封された容器の検査方法であって、 前記容器を傾けて導電性内容物が前記蓋材および容器の
    密封部に接するようにし、前記容器をその底面に直交す
    る軸を中心に回転させながら、前記密封部の一部と前記
    容器の導電性内容物が接触する部分との間に高周波電圧
    を印加し、その際の電流値および/または電圧値の変化
    により前記密封部の密封不良を検査することを特徴とす
    る密封容器の検査方法。
  2. 【請求項2】導電性内容物が充填されかつ開口部が蓋材
    により密封された容器の検査方法であって、 前記容器を傾けて導電性内容物が前記蓋材および容器の
    密封部の全部に接するようにし、前記密封部に沿って検
    知部を移動させながら、当該検知部が接触する密封部の
    一部と前記容器の導電性内容物が接触する部分との間に
    高周波電圧を印加し、その際の電流値および/または電
    圧値の変化により前記密封部の密封不良を検査すること
    を特徴とする密封容器の検査方法。
JP1289381A 1989-11-06 1989-11-06 密封容器の検査方法 Expired - Fee Related JP2799361B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1289381A JP2799361B2 (ja) 1989-11-06 1989-11-06 密封容器の検査方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1289381A JP2799361B2 (ja) 1989-11-06 1989-11-06 密封容器の検査方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH03150440A JPH03150440A (ja) 1991-06-26
JP2799361B2 true JP2799361B2 (ja) 1998-09-17

Family

ID=17742482

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1289381A Expired - Fee Related JP2799361B2 (ja) 1989-11-06 1989-11-06 密封容器の検査方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2799361B2 (ja)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000088788A (ja) * 1998-07-10 2000-03-31 Jiyooben Denki Kk 密封包装物の検査方法
JP2002189021A (ja) * 2000-12-22 2002-07-05 Nihon Tetra Pak Kk 品質検査装置
JP4825954B2 (ja) * 2001-02-19 2011-11-30 日新電子工業株式会社 シール不良検査機
US7038464B2 (en) * 2004-08-26 2006-05-02 Diamond Machine Werks, Inc. Carrier line oriented spin high voltage leak detection system and method
JP2009236505A (ja) * 2008-03-26 2009-10-15 Daiwa Can Co Ltd 容器のシール不良検査方法
JP5273713B2 (ja) * 2008-09-04 2013-08-28 大和製罐株式会社 容器のシール不良検査方法
CN109174688B (zh) * 2018-09-04 2024-01-02 湖南正中制药机械有限公司 一种塑料扁瓶电子检漏系统
KR102469325B1 (ko) * 2022-06-13 2022-11-22 주식회사 이앤비솔루션 누액 검사장비

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5184687A (ja) * 1975-01-24 1976-07-24 Densoku Kogyo Kk Dodenseinonakamiojusurumitsupuyokino pinhoorutonokensahohooyobisochi
JPS63101728A (ja) * 1986-10-20 1988-05-06 Nikka Densoku Kk 密封包装体のピンホ−ル有無検査装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH03150440A (ja) 1991-06-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11300476B2 (en) System and method for alternating-direct high voltage leak detection
JP2799361B2 (ja) 密封容器の検査方法
JP2000088788A (ja) 密封包装物の検査方法
JP2681764B2 (ja) 密封包装物の検査方法
JP4167900B2 (ja) 多層複合材およびこれから作られた容器の試験方法および装置
US20030110833A1 (en) Perforation detection method
JP2799360B2 (ja) 密封容器の検査方法
US5497102A (en) Method and apparatus for detection of liquid incendiaries by changes in capacitance
CA2226974A1 (en) Method of quality control and appropriately prepared packaging container and blank
JP2908751B2 (ja) 密封包装物の検査方法
JP2004069458A (ja) 食品密封包装容器のピンホール検査方法
CN115165264A (zh) 一种混悬液密封完整性的测试方法及测试装置
JP2946843B2 (ja) 果実等の熟成度の判定方法及び熟成度判定センサ
JP2021110598A (ja) 紙製カップ容器検査装置および検査方法
JPS59125035A (ja) 不良検査装置
JP4072675B2 (ja) ピンホール検査装置およびピンホール検査方法
JPH10132776A (ja) 積層蓋体の金属露出の検出方法
WO1982001418A1 (fr) Procede permettant de tester electriquement un emballage scelle
JP2001074586A (ja) 容器接合部の漏れ検出方法および装置
JPH11334710A (ja) 密封包装物の検査方法
JPH0623716B2 (ja) 積層材製缶蓋の疵検知方法及び装置
JPH10267784A (ja) 密封包装物の検査方法
JPH08254478A (ja) シーム部検査装置
JPS59124246A (ja) 容器の不良検査方法及び検査装置
JPS6323050B2 (ja)

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees