JP3518841B2 - 基板およびその製造方法 - Google Patents
基板およびその製造方法Info
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Description
導電層が充填されてなる窒化アルミニウム焼結体の製造
方法に関する。特に高い熱伝導率を有し、また貫通孔に
充填された導電層と窒化アルミニウム焼結体の密着が良
好で、かつ該導電層に亀裂を有しない窒化アルミニウム
焼結体の製造方法に関する。
率を有し、電気絶縁性が良く、集積回路を形成するシリ
コン(Si)とほぼ同じ熱膨張率を有する等の優れた性
質を持つため、半導体回路部品の基板として使用されて
いる。焼結体の貫通孔に導電層が充填されてなる、いわ
ゆるビアを含む窒化アルミニウム焼結体は、このビアを
中継して、半導体外部回路との間の電気的接続をとる半
導体搭載用基板等に利用される。
焼成法が行われている。同時焼成法は導電層の焼成と、
基板の焼結を一回の焼成で同時に行う方法であり、基板
焼成後に導電層を焼成する方法に比べ、工程数が少ない
という有利な面を持っている。しかし、従来の窒化アル
ミニウムの同時焼成法では、導電層の焼成と基板の焼結
を同時に行うことからくる制約により、得られた焼結体
の熱伝導率はせいぜい、25℃で170W/mK程度で
あった。
(単体)を焼成する方法の1つとして2段焼成法が行わ
れている(特開平5−105525)。この方法では、
得られた焼結体の熱伝導率は25℃で200W/mK程
度と、高熱伝導の窒化アルミニウム焼結体を得ることが
できる。
法でビアを有する窒化アルミニウム焼結体を作製した場
合、窒化アルミニウム焼結体とビアを形成する導電層と
の間に十分高い密着強度を得ることが難しい。また、窒
化アルミニウム基板内部にクラックが発生したり、ある
いは、ビア内部に亀裂が発生することにより、抵抗値が
高くなったり、ビア上に形成した薄膜とビア間の密着強
度が低下する等の問題がある。さらに、基板の反りが大
きいという問題点を有する。
成する導電層と窒化アルミニウム焼結体との密着強度に
優れ、かつ窒化アルミニウム焼結体内部のクラックやビ
ア部の亀裂が無い窒化アルミニウム基板の開発が望まれ
ていた。
解決すべく研究を重ねた結果、上記した基板のクラック
およびビア部の亀裂の発生、基板の反りの増加が脱脂後
の炭素の作用により生じるとの知見を得、前記成形体の
脱脂体の残留炭素率を特定の範囲に制御することによ
り、窒化アルミニウム基板内部のクラックおよびビア部
の亀裂の発生、基板の反りの増加を抑えることができ、
さらに上記した窒化アルミニウム焼結体とビアを形成す
る導電層との密着強度が、前記した脱脂体の残留炭素
率、導電ペーストへの窒化アルミニウム粉の添加量、前
記2段焼成法の温度範囲を各々特定の範囲に制御するこ
とにより十分に強く、安定化させることができると共
に、ビアを有する窒化アルミニウム焼結体の熱伝導率も
十分に高められることを見出し、本発明をここに提案す
るに至った。
の貫通孔に高融点金属100重量部及び窒化アルミニウ
ム2〜10重量部よりなる導電層が充填されてなる基板
において、窒化アルミニウム焼結体の熱伝導率が190
W/mK以上であり、かつ窒化アルミニウム焼結体と導
電層との密着強度が5.0kg/mm2以上であること
を特徴とする基板である。そして更に窒化アルミニウム
粉末、焼結助剤及び有機結合剤よりなる窒化アルミニウ
ム成形体の貫通孔に、高融点金属粉末100重量部及び
窒化アルミニウム粉末2〜10重量部よりなる導電ペー
ストを充填し、窒化アルミニウム成形体中の残留炭素率
が800〜3000ppmの範囲になるように800〜
1000℃の温度で脱脂した後、1200〜1700℃
の温度で焼成し、次いで1800〜1950℃の温度で
焼成することを特徴とする基板の製造方法である。
ム焼結体の貫通孔に高融点金属100重量部及び窒化ア
ルミニウム2〜10重量部よりなる導電層が充填されて
なる基板とは、いわゆるビアを含む窒化アルミニウム焼
結体で、貫通孔のサイズは特に限定されないが、直径は
0.03〜0.50mmであり、貫通孔の長さと直径の
比(長さ/直径)は40以下である。また、導電層を構
成する物質は高融点金属であれば特に限定されないが、
通常タングステン、モリブデンなどの高融点金属であ
り、高融点金属100重量部に対して2〜10重量部の
窒化アルミニウムを含んでいる。導電層であるビアの全
体積が、ビアを含む窒化アルミニウム焼結体全体の体積
に対する割合は、特に限定されないが、通常0.1〜2
0%である。
ム焼結体よりなる基板は、窒化アルミニウム焼結体の熱
伝導率が190W/mK以上で、かつ窒化アルミニウム
焼結体と導電層との密着強度が5.0kg/mm2以上
であることを特徴とする。
高融点金属からなるビアを含むいわば複合系であるた
め、それ自身の熱伝導率を正確に評価することは困難で
ある。よって、本発明においては、同一原料、同一脱脂
・焼成バッチのビアを有しない窒化アルミニウム基板の
熱伝導率をもって本発明の窒化アルミニウム焼結体の熱
伝導率とした。なお、本発明において、上記熱伝導率は
25℃で測定された熱伝導率である。
結体と導電層との密着強度とは、ビアの中央で基板を切
断し、この切断面に鏡面加工を施し、さらに該切断面上
にTi/Pt/Auの薄膜を形成後、先端が平坦なφ
0.5mmのピンをビア部表面に接触するように、垂直
に半田付けした後、このピンを垂直方向に引っ張った際
の破壊強度として測定された強度のことを言う。
化と、窒化アルミニウム焼結体と導電層との密着強度の
高強度化は、両立させるのが困難であった。しかし、本
発明の基板は、窒化アルミニウム焼結体の熱伝導率が1
90W/mK以上であり、かつ窒化アルミニウム焼結体
と導電層との密着強度が5.0kg/mm2以上と、基
板の高熱伝導化と導電層の密着の高強度化を両立させた
優れた基板である。さらに、製造条件をもっと好適な範
囲から選べば、窒化アルミニウム焼結体の熱伝導率が2
00W/mK以上であり、かつ窒化アルミニウム焼結体
と導電層との密着強度が7.0kg/mm2以上、さら
には10.0kg/mm2以上の基板を得ることができ
る。
造方法について説明する。
構成する窒化アルミニウム粉末は特に限定されず、公知
のものが使用できる。特に沈降法で測定した平均粒径が
5μm以下の粉末が好適に、3μm以下の粉末がさらに
好適に、0.5〜2μmの範囲にある粉末が最も好適に
使われる。また、比表面積から算出した平均粒径D1と
沈降法で測定した平均粒径D2とが下記式 0.2μm≦D1≦1.5μm D2/D1≦2.60 を満足する窒化アルミニウム粉末は、焼成時における線
収縮率を小さくすることができ、焼結体の寸法安定性が
向上するばかりでなく導電ペースト層の線収縮率に近づ
くため、窒化アルミニウム焼結体と導電層との密着強度
を一層高めることができることにより好適に使用され
る。
含有が3.0重量%以下、かつ窒化アルミニウム組成を
AlNとするとき含有する陽イオン不純物が0.5重量
%以下、特に、酸素含有量が0.4〜1.0重量%の範
囲にあり、そして陽イオン不純物の含有量が0.2重量
%以下でありかつ陽イオン不純物のうちFe、Ca、S
i及びCの合計含有量が0.17重量%以下である窒化
アルミニウム粉末が好適である。このような窒化アルミ
ニウム粉末を用いた場合には、得られる窒化アルミニウ
ム焼結体の熱伝導率の向上が大きくなるために本発明で
好適に用いられる。
知のものが特に制限なく使用される。具体的には、アル
カリ土類金属化合物、例えば酸化カルシウムなどの酸化
物、イットリウムまたはランタニド元素よりなる化合
物、例えば酸化イットリウムなどの酸化物等が好適に使
用される。
剤も公知のものが特に制限なく使用される。具体的に
は、ポリアクリル酸エステル、ポリメタクリル酸エステ
ル等のアクリル樹脂、メチルセルロース、ヒドロキシメ
チルセルロース、ニトロセルロース、セルロースアセテ
ートブチレート等のセルロース系樹脂、ポリビニルブチ
ラール、ポリビニルアルコール、ポリ塩化ビニル等のビ
ニル基含有樹脂、ポリオレフィン等の炭化水素樹脂、ポ
リエチレンオキサイド等の含酸素樹脂などが一種または
二種以上混合して使用される。この中でアクリル樹脂
は、脱脂性が良好で、ビアの抵抗が低減できるため、好
適に使用される。その他溶媒、分散剤、可塑剤等、他の
成分も公知のものが特に制限なく使用される。
を構成する上記各成分の割合は、公知の配合割合が特に
制限なく採用される。例えば、窒化アルミニウム100
重量部に対して、焼結助剤0.01〜10重量部、有機
結合剤0.1〜30重量部が好適である。特に焼結助剤
2〜7重量部の場合、高熱伝導化に有利なため、好適に
使用される。また、これら各成分より窒化アルミニウム
成形体を作製する方法は特に限定されないが、一般的に
は、ドクターブレード方式によりグリーンシートとして
成形される。このグリーンシートは、単独で用いても良
いし、複数枚積層して用いても良い。
高融点金属粉末は、窒化アルミニウムの焼結温度より高
い融点を有するものであれば特に制限されない。具体的
には、タングステン、モリブデン等の金属が好適に使用
される。一般に好適に用いられる高融点金属粉末として
は、フィッシャー法で測定した平均粒径1〜2.5μm
であり、最も好適には、平均粒径1.6〜2.0μmの
範囲のものがビアの亀裂発生防止には効果的であるた
め、使用される。
ミニウム粉末は、公知のものが特に制限なく使用され
る。特に前記した窒化アルミニウム成形体において好適
に使用される性状の窒化アルミニウム粉は、高融点金属
との焼結性が良く、導電層の密着性を向上させるのに効
果があると共に、窒化アルミニウム部分と導電層部分と
の収縮率の差が減少し、焼結体の寸法安定性が向上する
ので好適に使用される。
点金属粉末100重量部に対して、2〜10重量部の窒
化アルミニウム粉末を配合した組成を有する。上記導電
ペーストの組成において、窒化アルミニウム粉末の割合
が2重量部より少ない場合は、導電層と窒化アルミニウ
ム焼結体との密着強度が低くなったり、窒化アルミニウ
ム基板部分と導電層部分の収縮率の差が増加することに
より、接合界面に隙間が生じる。また、窒化アルミニウ
ムが10重量部より多い場合は、導電ペーストの粘度が
高くなり充填性が悪化し、その結果発生したボイドによ
り導電層と窒化アルミニウム焼結体との密着強度が低く
なったり、導電層表面に窒化アルミニウムによる変色が
発生し易くなり、抵抗値が上昇する。なお、窒化アルミ
ニウム粉末の配合量が3〜7重量部の場合は、ビアとセ
ラミックスの焼成収縮率の差が非常に小さいために、ビ
ア周辺にかかる応力が小さく、かつビア電気抵抗が小さ
いため好適である。なお、上記高融点金属粉末および窒
化アルミニウム粉末との組成物をペースト状とするた
め、一般に該組成物とポリアクリル酸エステル、ポリメ
タクリル酸エステル等のアクリル系樹脂、メチルセルロ
ース、エチルセルロース、ヒドロキシメチルセルロー
ス、ニトロセルロース、セルロースアセテートブチレー
ト等のセルロース系樹脂、ポリビニルブチラール、ポリ
ビニルアルコール、ポリ塩化ビニル等のビニル基含有樹
脂、ポリオレフィン等の炭化水素樹脂、ポリエチレンオ
キサイド等の有機結合剤、フタル酸−ジ−n−ブチル、
ジエチレングリコールモノ−n−ヘキシルエーテル、酢
酸2−(2−ブドキシエトキシ)エチル、テルピネオー
ル等の有機溶剤等とを混合して、適当な粘度、一般的に
は、25℃/5rpmで、100〜30000ポイズ
(poise)の粘度のペーストに調製される。導電ペ
ーストの調製に際しては、その他分散剤、可塑剤等、他
の成分も公知のものが特に制限なく使用される。
等よりなる成形体の貫通孔に上記導電ペーストを充填
し、ビアを有する成形体を得る。上記窒化アルミニウム
等よりなる成形体に貫通孔を形成する方法は、特に限定
されず、一般的に用いられている金型打ち抜き法やパン
チングマシンによる方法が使用される。上記貫通孔の大
きさも特に限定されないが、直径0.05〜0.50m
mの貫通孔は、貫通孔への導電ペーストの充填が容易
で、かつ窒化アルミニウム部分と導電層部分との収縮率
の釣り合いがとり易いため、好適に採用される。
ミニウム等よりなる成形体に形成した貫通孔に充填する
方法は、公知の方法が特に制限なく採用される。具体的
には、印刷法、圧入法などが使用されるが、貫通孔の長
さと直径の比(長さ/直径)が2.5より大きい場合
は、圧入法の方が充填しやすいため、好適に使用され
る。
ミニウム成形体は、窒化アルミニウム成形体中の残留炭
素率が800〜3000ppm、好ましくは1200〜
2500ppmの範囲となるように脱脂することが必要
である。即ち、残留炭素率が800ppmに満たない場
合、窒化アルミニウム焼結体の熱伝導率が190W/m
Kより低い値になり、本発明の目的を達成することがで
きない。また、残留炭素率が3000ppmを越えた場
合、高融点金属粉の焼結性が悪くなることにより、窒化
アルミニウム焼結体と導電層間の均一かつ十分な密着強
度を得ることができない。また、窒化アルミニウム部分
にクラックが発生したり、窒化アルミニウム焼結体の基
板の反りが大きくなり、本発明の目的を達成することが
できない。
の窒化アルミニウム成形体中の残留炭素率を800〜3
000ppmの範囲に脱脂する方法は特に制限されな
い。脱脂の雰囲気としては、高融点金属を酸化させる恐
れのある大気等の酸化性雰囲気を除けば、特に限定され
ない。具体的には、窒素、アルゴン、ヘリウム等の不活
性ガス雰囲気、水素等の還元性ガス雰囲気、それらの混
合ガス雰囲気、それらの加湿ガス雰囲気、真空などが好
適に使用される。
0℃である。また、かかる温度への昇温速度は、特に限
定されるものではないが、一般的に10℃/分以下が好
ましい。
留炭素率が、800〜3000ppmの範囲内となる時
間を設定すればよい。かかる時間は、成形体の肉厚、成
形体密度、ビアの占める割合、脱脂温度等により多少異
なるため、一概に特定することはできないが、一般に1
〜600分の範囲で決定される。
ウム成形体中の残留炭素率が800〜3000ppmの
範囲内のビアを有する成形体(以下、「脱脂体」とい
う)は、次いで非酸化性雰囲気又は乾燥した還元性ガス
雰囲気下で焼成する。上記非酸化性雰囲気としては例え
ば、窒素、アルゴン、ヘリウム等のガスの単独或いは混
合ガスよりなる雰囲気又は真空(又は減圧)雰囲気が使
用される。また、乾燥した還元性ガス雰囲気としては、
水素や水素と不活性ガスの混合雰囲気等が使われる。ま
た、焼成の温度条件は、1段目は1200〜1700
℃、好ましくは、1500〜1650℃で焼成し、次い
で2段目は1800〜1950℃、好ましくは、182
0〜1900℃で焼成することが必要である。即ち、1
段目の焼成温度が1200℃に満たない場合、脱脂体に
残留させた炭素による窒化アルミニウム中の酸素の還元
除去反応が進みにくくなり、窒化アルミニウム焼結体の
熱伝導率が190W/mKより低い値になり、本発明の
目的を達成することができない。一方、1段目の焼成温
度が1700℃を越えた場合、残留炭素による窒化アル
ミニウム中の酸素の還元除去反応が十分進行する前に窒
化アルミニウムの焼結が進行してしまい、結果的に酸素
が窒化アルミニウム中に拡散固溶し、窒化アルミニウム
焼結体の高熱伝導化が阻害され、本発明の目的を達成す
ることができない。なお、1段目の焼成温度が1500
〜1650℃の場合、酸素の還元除去反応が効果的に進
むため好ましい。また、2段目の焼成温度が1800℃
に満たない場合、窒化アルミニウムを充分に焼結するこ
とができず、窒化アルミニウム焼結体の熱伝導率が19
0W/mKより低い値になり、本発明の目的を達成する
ことができない。また、2段目の焼成温度が1950℃
を越えた場合、ビアを形成する導電層と基板との密着強
度が低下するだけでなく、焼結体の反りが200μmよ
り大きくなってしまい、本発明の目的を達成することが
できない。かかる温度への昇温速度は、特に制限される
ものではないが、1〜40℃/分が一般的である。ま
た、上記温度の保持時間は、特に限定されないが、1段
目は30分〜10時間、2段目は1分〜20時間の範囲
に設定するのが好ましい。さらに、1段目および2段目
の焼成温度は、途中で降温せずに1回の焼成で行っても
良いし、1段目と2段目の間で降温し、2回の焼成に分
けて行っても良い。ただし、時間およびエネルギー効率
を考えると途中で降温せずに1回の焼成で行う方が好ま
しい。
ウム基板は、通常表面に薄膜等のメタライズを施して使
用される。例えば、表面に薄膜を形成する場合は、薄膜
と基板との密着強度を上げるために基板表面の研磨を行
うことが好ましい。一般的には、研磨後の基板のセラミ
ックス部分の表面粗さがRa1.0μm以下、より好ま
しくは、Ra0.1μm以下になるように研磨を行うの
が良い。また、薄膜を形成する方法は、公知の方法が制
限なく使用でき、具体的にはスパッタ法、蒸着法、溶射
法、スピンコートやディップ方式を使用したゾルゲルコ
ーティング法などが好適に使用される。薄膜の材料とし
ては、Ti、Zr、Pd、Pt、Au、Cu、Ni等回
路用の一般的な導体金属、TaN等の抵抗体、また、P
b−Sn、Au−Sn、Au−Geなどのハンダ、ある
いは、ムライト組成膜のような金属酸化物薄膜(複合酸
化物を含む)等を使用することができる。
明の基板は、25℃での熱伝導率が190W/mK以上
でかつ窒化アルミニウム焼結体とビアを形成する導電層
との密着強度が5.0kg/mm2以上と十分強く、ま
た、窒化アルミニウム焼結体内のクラックやビア部の亀
裂・変色がなく、基板の反りも小さい基板であり、その
工業的価値は極めて大である。本発明による窒化アルミ
ニウム基板は、表面に薄膜のメタライズを形成すること
により、レーザーダイオードや発光ダイオードのサブマ
ウントやチップキャリア、およびヒートシンク、ICパ
ッケージ等の電子・半導体機器部品に好適に利用されう
る。
25℃での熱伝導率が190W/mK以上でかつ窒化ア
ルミニウム焼結体とビアを形成する導電層との密着強度
が5.0kg/mm2以上と十分強く、また、窒化アル
ミニウム焼結体内のクラックやビア部の亀裂・変色がな
く、基板の反りも小さい基板を得ることができ、その工
業的価値は極めて大である。
するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものでは
ない。
は非分散型赤外吸収法炭素分析装置(EMIA−11
0、(株)堀場製作所製)により分析した値である。
式により算出した。
製遠心式粒度分布測定装置CAPA5000で測定し
た。
視及び実体顕微鏡(×40)により観察することにより
行った。窒化アルミニウム焼結体の反りは、(株)ミツ
トヨ製定盤付きマイクロメーターにて測定した。
の密着強度は、以下のように測定した。まず、貫通孔に
導電層を充填されてなる窒化アルミニウム焼結体のビア
部中央で基板を切断し、この切断面に鏡面加工を施し、
さらに該切断面上にTi/Pt/Auの薄膜を形成後、
Niメッキしたピンをビア部表面に接触するように、垂
直に半田付けした。ピンは、先端が平坦で、ピン径φ
0.5mm、42−アロイ製であり、半田は、スズ60
重量%、鉛40重量%の組成のものである。これを、
(株)東洋精機製作所製ストログラフM2にセットし、
ピンを垂直方向に引っ張った際の破壊強度を測定した。
引っ張り速度は、10mm/分とした。また、剥離モー
ドは、試験後のピンおよび焼結体の破壊面を、実体顕微
鏡(×40)、金属顕微鏡(×400)およびX線マイ
クロアナライザーにより観察することにより調べた。
2.50m2/g、したがって、比表面積から算出された
平均粒径が0.74μmで、酸素含有量が0.80%で
表1に示す組成の窒化アルミニウム粉100重量部、イ
ットリア5重量部、分散剤としてn−ブチルメタクリレ
ート2重量部、有機結合剤としてポリブチルアクリレー
ト11重量部、可塑剤としてジオクチルフタレート7重
量部、トルエン、イソプロピルアルコール混合溶媒50
重量部を秤量し、これらをボールミルポットに投入し、
ナイロンボールを使用して十分混合した。得られたスラ
リーを脱泡装置にかけ、粘度を20000cpsとした
後、ドクターブレード方式のシート成形機を用いて、ポ
リプロピレンフィルム上にシート状に成形し、厚さ約
0.50mmの窒化アルミニウムグリーンシートを作製
した。上記グリーンシートを65×65mmに切断し
た。続いて、この窒化アルミニウムグリーンシートを3
枚積層した。積層圧力は、50kgf/cm2、積層温度
80℃、積層時間は15分であった。次に、この積層グ
リーンシート65×65mmを、φ0.65mmのパン
チング用金型にて1.5mmピッチに打抜き、貫通孔が
40×40個並んだものを用意した。次にフィッシャー
法測定による平均粒径1.8μmのタングステン粉末1
00重量部に対して、上記窒化アルミニウム粉末5重量
部、有機結合剤としてエチルセルロース1.5重量部、
溶媒として酢酸2−(2−ブトキシエトキシ)エチル
5.0重量部、その他可塑剤、分散剤を自動乳鉢、続い
て3本ロールミルで十分に混練してペーストにし、圧入
法により前記貫通孔を形成した窒化アルミニウムグリー
ンシート体の貫通孔内にタングステンペーストの充填を
行った。充填圧力は80psi、充填時間は100秒で
あった。
ミニウム成形体を、乾燥窒素ガスを30l/分流通させ
ながら900℃、2時間加熱脱脂を行った。昇温速度は
2.5℃/分であった。同時に加熱脱脂したテストサン
プルの残留炭素率を調べたところ、1800ppmであ
った。脱脂後、前記脱脂体を窒化アルミニウム製の容器
に入れ、窒素雰囲気中1580℃で6時間加熱し(1段
目焼成)、さらに1870℃で10時間加熱した(2段
目焼成)。得られた基板の窒化アルミニウム焼結体内部
にはクラックは発生しておらず、かつ導電層内部にも亀
裂は発生しておらず、該焼結体外観は良好であった。ま
た、得られた窒化アルミニウム焼結体の基板全体の反り
は、45μmであった。続いて該焼結体のビア部中央で
基板を切断し、この切断面に鏡面加工を施した。該切断
面の表面粗さを測定したところ、Ra=0.02μmで
あった。さらに該切断面上にスパッタによりTi/Pt
/Auの薄膜を形成した。貫通孔に充填された導電層の
密着強度を測定したところ、17.4kg/mm2であ
った。剥離モードは、いずれも半田内破壊であった。次
に該焼結体を基板厚み0.22mmに加工し、ビア部の
電気抵抗値を測定したところ、1.5mΩであった。
35mmのテストサンプルの熱伝導率をレーザーフラッ
シュ法により測定したところ215W/mkであった。
化アルミニウム粉末の添加量を変更した以外は、実施例
1と同様にした。その結果を表2に示す。
体を、乾燥窒素ガスを18l/分流通させながら900
℃、2時間加熱脱脂を行った。昇温速度は2.5℃/分
であった。同時に加熱脱脂したテストサンプルの残留炭
素率を調べたところ、2800ppmであった。脱脂
後、前記脱脂体を窒化アルミニウム製の容器に入れ、窒
素雰囲気中1580℃で6時間加熱し(1段目焼成)、
さらに1870℃で10時間加熱した(2段目焼成)。
得られた基板の窒化アルミニウム焼結体内部にはクラッ
クは発生しておらず、かつ導電層内部にも亀裂は発生し
ておらず、該焼結体外観は良好であった。また、得られ
た窒化アルミニウム焼結体の基板全体の反りは、65μ
mであった。続いて該焼結体のビア部中央で基板を切断
し、この切断面に鏡面加工を施した。該切断面の表面粗
さを測定したところ、Ra=0.03μmであった。さ
らに該切断面上にスパッタによりTi/Pt/Auの薄
膜を形成した。貫通孔に充填された導電層の密着強度を
測定したところ、16.6kg/mm2であった。剥離
モードは、いずれも半田内破壊であった。次に該焼結体
を基板厚み0.22mmに加工し、ビア部の電気抵抗値
を測定したところ、3.0mΩであった。
35mmのテストサンプルの熱伝導率をレーザーフラッ
シュ法により測定したところ215W/mkであった。
体を、乾燥窒素ガスを23l/分流通させながら900
℃、2時間加熱脱脂を行った。昇温速度は2.5℃/分
であった。同時に加熱脱脂したテストサンプルの残留炭
素率を調べたところ、2500ppmであった。脱脂
後、前記脱脂体を窒化アルミニウム製の容器に入れ、窒
素雰囲気中1580℃で6時間加熱し(1段目焼成)、
さらに1870℃で10時間加熱した(2段目焼成)。
得られた基板の窒化アルミニウム焼結体内部にはクラッ
クは発生しておらず、かつ導電層内部にも亀裂は発生し
ておらず、該焼結体外観は良好であった。また、得られ
た窒化アルミニウム焼結体の基板全体の反りは、54μ
mであった。続いて該焼結体のビア部中央で基板を切断
し、この切断面に鏡面加工を施した。該切断面の表面粗
さを測定したところ、Ra=0.02μmであった。さ
らに該切断面上にスパッタによりTi/Pt/Auの薄
膜を形成した。貫通孔に充填された導電層の密着強度を
測定したところ、16.8kg/mm2であった。剥離
モードは、いずれも半田内破壊であった。次に該焼結体
を基板厚み0.22mmに加工し、ビア部の電気抵抗値
を測定したところ、2.5mΩであった。
35mmのテストサンプルの熱伝導率をレーザーフラッ
シュ法により測定したところ215W/mkであった。
体を、乾燥窒素ガスを35l/分流通させながら900
℃、2時間加熱脱脂を行った。昇温速度は2.5℃/分
であった。同時に加熱脱脂したテストサンプルの残留炭
素率を調べたところ、1200ppmであった。脱脂
後、前記脱脂体を窒化アルミニウム製の容器に入れ、窒
素雰囲気中1580℃で6時間加熱し(1段目焼成)、
さらに1870℃で10時間加熱した(2段目焼成)。
得られた基板の窒化アルミニウム焼結体内部にはクラッ
クは発生しておらず、かつ導電層内部にも亀裂は発生し
ておらず、該焼結体外観は良好であった。また、得られ
た窒化アルミニウム焼結体の基板全体の反りは、26μ
mであった。続いて該焼結体のビア部中央で基板を切断
し、この切断面に鏡面加工を施した。該切断面の表面粗
さを測定したところ、Ra=0.04μmであった。さ
らに該切断面上にスパッタによりTi/Pt/Auの薄
膜を形成した。貫通孔に充填された導電層の密着強度を
測定したところ、15.6kg/mm2であった。剥離
モードは、いずれも半田内破壊であった。次に該焼結体
を基板厚み0.22mmに加工し、ビア部の電気抵抗値
を測定したところ、1.3mΩであった。
35mmのテストサンプルの熱伝導率をレーザーフラッ
シュ法により測定したところ208W/mkであった。
体を、乾燥窒素/水素の混合ガスを30l/分流通させ
ながら900℃、2時間加熱脱脂を行った。昇温速度は
2.5℃/分であった。同時に加熱脱脂したテストサン
プルの残留炭素率を調べたところ、900ppmであっ
た。脱脂後、前記脱脂体を窒化アルミニウム製の容器に
入れ、窒素雰囲気中1580℃で6時間加熱し(1段目
焼成)、さらに1870℃で10時間加熱した(2段目
焼成)。得られた基板の窒化アルミニウム焼結体内部に
はクラックは発生しておらず、かつ導電層内部にも亀裂
は発生しておらず、該焼結体外観は良好であった。ま
た、得られた窒化アルミニウム焼結体の基板全体の反り
は、18μmであった。続いて該焼結体のビア部中央で
基板を切断し、この切断面に鏡面加工を施した。該切断
面の表面粗さを測定したところ、Ra=0.02μmで
あった。さらに該切断面上にスパッタによりTi/Pt
/Auの薄膜を形成した。貫通孔に充填された導電層の
密着強度を測定したところ、14.0kg/mm2であ
った。剥離モードは、いずれも半田内破壊であった。次
に該焼結体を基板厚み0.22mmに加工し、ビア部の
電気抵抗値を測定したところ、1.0mΩであった。
35mmのテストサンプルの熱伝導率をレーザーフラッ
シュ法により測定したところ198W/mkであった。
体を、乾燥窒素/水素の混合ガスを20l/分流通させ
ながら900℃、2時間加熱脱脂を行った。昇温速度は
2.5℃/分であった。同時に加熱脱脂したテストサン
プルの残留炭素率を調べたところ、600ppmであっ
た。脱脂後、前記脱脂体を窒化アルミニウム製の容器に
入れ、窒素雰囲気中1580℃で6時間加熱し(1段目
焼成)、さらに1870℃で10時間加熱した(2段目
焼成)。得られた基板の窒化アルミニウム焼結体内部に
クラックは発生しておらず、かつ導電層内部にも亀裂は
発生しておらず、該焼結体外観は良好であった。また、
得られた窒化アルミニウム焼結体基板全体の反りは、1
5μmであった。続いて該焼結体のビア部中央で基板を
切断し、この切断面に鏡面加工を施した。該切断面の表
面粗さを測定したところ、Ra=0.03μmであっ
た。さらに該切断面上にスパッタによりTi/Pt/A
uの薄膜を形成した。貫通孔に充填された導電層の密着
強度を測定したところ、8.0kg/mm2であった。
剥離モードは、いずれもタングステン層と窒化アルミニ
ウム焼結体界面での剥離であった。次に該焼結体を基板
厚み0.22mmに加工し、ビア部の電気抵抗値を測定
したところ、0.9mΩであった。
35mmのテストサンプルの熱伝導率をレーザーフラッ
シュ法により測定したところ168W/mkであった。
体を、乾燥窒素ガスを5l/分流通させながら900
℃、2時間加熱脱脂を行った。昇温速度は2.5℃/分
であった。同時に加熱脱脂したテストサンプルの残留炭
素率を調べたところ、3500ppmであった。脱脂
後、前記脱脂体を窒化アルミニウム製の容器に入れ、窒
素雰囲気中1580℃で6時間加熱し(1段目焼成)、
さらに1870℃で10時間加熱した(2段目焼成)。
得られた基板の窒化アルミニウム焼結体内部にクラック
が発生した。また、得られた窒化アルミニウム焼結体の
基板全体の反りは、242μmであった。続いて該焼結
体のビア部中央で基板を切断し、この切断面に鏡面加工
を施した。該切断面の表面粗さを測定したところ、Ra
=0.02μmであった。さらに該切断面上にスパッタ
によりTi/Pt/Auの薄膜を形成した。貫通孔に充
填された導電層の密着強度を測定したところ、3.3k
g/mm2であった。剥離モードは、いずれもタングス
テン層と薄膜界面での剥離であった。次に該焼結体を基
板厚み0.22mmに加工し、ビア部の電気抵抗値を測
定したところ、8.9mΩであった。
35mmのテストサンプルの熱伝導率をレーザーフラッ
シュ法により測定したところ195W/mkであった。
した以外は、実施例1と同様にした。その結果を表2に
示す。
した以外は、実施例1と同様にした。その結果を表2に
示す。
体を、乾燥窒素ガスを30l/分流通させながら、90
0℃、2時間加熱脱脂を行った。昇温速度は2.5℃/
分であった。同時に加熱脱脂したサンプルの残留炭素率
を調べたところ、1800ppmであった。脱脂後、前
記脱脂体を窒化アルミニウム製の容器に入れ、窒素雰囲
気中1350℃で6時間加熱し(1段目焼成)、降温し
た。同時に焼成したサンプルの残留炭素率を調べたとこ
ろ、320ppmであった。1段目焼成後再び、窒素雰
囲気中1870℃で10時間加熱した(2段目焼成)。
得られた基板の窒化アルミニウム焼結体内部には、クラ
ックは発生しておらず、かつ、導電層内部にも亀裂は発
生しておらず、該焼結体外観は良好であった。また、得
られた窒化アルミニウム焼結体の基板全体の反りは、4
6μmであった。続いて該焼結体のビア中央で基板を切
断し、この切断面に鏡面加工を施した。該切断面の表面
粗さを測定したところ、Ra=0.03μmであった。
さらに該切断面上にスパッタによりTi/Pt/Auの
薄膜を形成した。貫通孔に充填された導電層の密着強度
を測定したところ、16.7kg/mm2であった。剥
離モードは、いずれも半田内破壊であった。次に該焼結
体を基板厚み0.22mmに加工し、ビア部の電気抵抗
値を測定したところ、2.7mΩであった。また、同時
に脱脂、焼成した基板厚み0.635mmのテストサン
プルの熱伝導率をレーザーフラッシュ法により測定した
ところ205W/mKであった。
体を、乾燥窒素ガスを3l/分流通させながら、900
℃、2時間加熱脱脂を行った。昇温速度は2.5℃/分
であった。同時に加熱脱脂したサンプルの残留炭素率を
調べたところ、4500ppmであった。脱脂後、前記
脱脂体を窒化アルミニウム製の容器に入れ、窒素雰囲気
中1350℃で6時間加熱し(1段目焼成)、降温し
た。同時に焼成したサンプルの残留炭素率を調べたとこ
ろ、850ppmであった。1段目焼成後再び、窒素雰
囲気中1870℃で10時間加熱した(2段目焼成)。
得られた基板の窒化アルミニウム焼結体内部にクラック
が発生した。また、得られた窒化アルミニウム焼結体の
基板全体の反りは、327μmであった。続いて該焼結
体のビア中央で基板を切断し、この切断面に鏡面加工を
施した。該切断面の表面粗さを測定したところ、Ra=
0.02μmであった。さらに該切断面上にスパッタに
よりTi/Pt/Auの薄膜を形成した。貫通孔に充填
された導電層の密着強度を測定したところ、3.2kg
/mm2であった。剥離モードは、いずれもタングステ
ン層と窒化アルミニウム焼結体界面での剥離であった。
次に該焼結体を基板厚み0.22mmに加工し、ビア部
の電気抵抗値を測定したところ、10.0mΩであっ
た。また、同時に脱脂、焼成した基板厚み0.635m
mのテストサンプルの熱伝導率をレーザーフラッシュ法
により測定したところ196W/mKであった。
Claims (2)
- 【請求項1】 窒化アルミニウム焼結体の貫通孔に高融
点金属100重量部及び窒化アルミニウム2〜10重量
部よりなる導電層が充填されてなる基板において、窒化
アルミニウム焼結体の熱伝導率が190W/mK以上で
あり、かつ窒化アルミニウム焼結体と導電層との密着強
度が5.0kg/mm2以上であることを特徴とする基
板。 - 【請求項2】 窒化アルミニウム粉末、焼結助剤及び有
機結合剤よりなる窒化アルミニウム成形体の貫通孔に、
高融点金属粉末100重量部及び窒化アルミニウム粉末
2〜10重量部よりなる導電ペーストを充填し、窒化ア
ルミニウム成形体中の残留炭素率が800〜3000p
pmの範囲になるように800〜1000℃の温度で脱
脂した後、1200〜1700℃の温度で焼成し、次い
で1800〜1950℃の温度で焼成することを特徴と
する請求項1記載の基板の製造方法。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29744897A JP3518841B2 (ja) | 1997-10-29 | 1997-10-29 | 基板およびその製造方法 |
CA002252113A CA2252113A1 (en) | 1997-10-29 | 1998-10-28 | Substrate and process for producing the same |
DE69812533T DE69812533T2 (de) | 1997-10-29 | 1998-10-29 | Aluminiumnitridsubstrat und Verfahren zu dessen Herstellung |
EP98308854A EP0913372B1 (en) | 1997-10-29 | 1998-10-29 | Aluminum nitride substrate and process for producing the same |
US09/838,089 US6475924B2 (en) | 1997-10-23 | 2001-04-18 | Substrate and process for producing the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29744897A JP3518841B2 (ja) | 1997-10-29 | 1997-10-29 | 基板およびその製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11135906A JPH11135906A (ja) | 1999-05-21 |
JP3518841B2 true JP3518841B2 (ja) | 2004-04-12 |
Family
ID=17846649
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP29744897A Expired - Fee Related JP3518841B2 (ja) | 1997-10-23 | 1997-10-29 | 基板およびその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3518841B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2368851B (en) * | 2000-06-07 | 2003-12-10 | Tokuyama Corp | Process for producing sintered aluminium nitride furnished with via holes |
CN100381401C (zh) | 2003-06-13 | 2008-04-16 | 株式会社德山 | 氮化铝接合体及其制造方法 |
JP2005022966A (ja) * | 2003-06-13 | 2005-01-27 | Tokuyama Corp | 窒化アルミニウム接合体及びその製造方法 |
EP1775766A4 (en) * | 2004-08-06 | 2010-06-09 | Almt Corp | COLLECTIVE SUBSTRATE, MOUNTING MEMBER FOR A SEMICONDUCTOR ELEMENT, SEMICONDUCTOR ELEMENT, ILLUMINATING DEVICE, ILLUMINATED DIODE COMPONENT AND LED LUMINAIRE |
US8115114B2 (en) | 2006-09-06 | 2012-02-14 | Tokuyama Corporation | Ceramic substrate manufacturing method and ceramic substrate |
-
1997
- 1997-10-29 JP JP29744897A patent/JP3518841B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH11135906A (ja) | 1999-05-21 |
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