JP3510917B2 - 分光光度計 - Google Patents
分光光度計Info
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- JP3510917B2 JP3510917B2 JP02904694A JP2904694A JP3510917B2 JP 3510917 B2 JP3510917 B2 JP 3510917B2 JP 02904694 A JP02904694 A JP 02904694A JP 2904694 A JP2904694 A JP 2904694A JP 3510917 B2 JP3510917 B2 JP 3510917B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は分光光度計、特にその設
定パラメータ及び処理データの表示機構の改良に関す
る。
定パラメータ及び処理データの表示機構の改良に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】例えば、フーリエ変換赤外分光光度計に
おいて試料の分析を行う場合、赤外干渉光を試料に照射
し、その反射光ないし透過光から得られるインターフェ
ログラムをフーリエ変換し、所望のスペクトルデータを
得ている。また、該スペクトルデータに対しベースライ
ン補正やノイズ除去の演算を施し、試料分析に必要なデ
ータ処理を行っている。
おいて試料の分析を行う場合、赤外干渉光を試料に照射
し、その反射光ないし透過光から得られるインターフェ
ログラムをフーリエ変換し、所望のスペクトルデータを
得ている。また、該スペクトルデータに対しベースライ
ン補正やノイズ除去の演算を施し、試料分析に必要なデ
ータ処理を行っている。
【０００３】ここで、前記インターフェログラムをフー
リエ変換する際やスペクトルデータに対し種々の演算処
理を行う際のパラメータは、所望のデータを得るために
適切な値に設定されなければならない。しかし、個々の
試料から得られる測定生データが異なれば、それぞれの
データに対する適切なパラメータ値も当然異なってくる
こととなり、設定したパラメータが適切か否かは処理デ
ータをディスプレイなどに表示させ視認するまで判断す
ることができない。すなわち、初めにおおよその見当で
パラメータを設定し、処理データを確認した後にパラメ
ータを徐々に変更して最適パラメータ値を見出すのであ
る。
リエ変換する際やスペクトルデータに対し種々の演算処
理を行う際のパラメータは、所望のデータを得るために
適切な値に設定されなければならない。しかし、個々の
試料から得られる測定生データが異なれば、それぞれの
データに対する適切なパラメータ値も当然異なってくる
こととなり、設定したパラメータが適切か否かは処理デ
ータをディスプレイなどに表示させ視認するまで判断す
ることができない。すなわち、初めにおおよその見当で
パラメータを設定し、処理データを確認した後にパラメ
ータを徐々に変更して最適パラメータ値を見出すのであ
る。
【０００４】そして、従来の分光光度計は、前記パラメ
ータ設定及び処理データの表示において、データ処理を
選択するとまず画面上にパラメータ設定画面として処理
前の測定生データと共にパラメータの設定項目が表示さ
れる。次に該画面上で各パラメータ項目に適当と思われ
るパラメータ値をそれぞれ設定し、演算処理を実行指示
する。これにより、表示画面は処理結果画面に移り、設
定したパラメータ値に基づく処理データが表示される。
ータ設定及び処理データの表示において、データ処理を
選択するとまず画面上にパラメータ設定画面として処理
前の測定生データと共にパラメータの設定項目が表示さ
れる。次に該画面上で各パラメータ項目に適当と思われ
るパラメータ値をそれぞれ設定し、演算処理を実行指示
する。これにより、表示画面は処理結果画面に移り、設
定したパラメータ値に基づく処理データが表示される。
【０００５】さらに、該処理データを確認した結果、所
望の処理データが得られなかった場合、すなわち設定し
たパラメータ値が適切でなかった場合には、再度表示画
面を前記パラメータ設定画面に切換え戻し、パラメータ
値を変更する。そして、再び演算処理を実行指示するこ
とにより表示画面が処理結果画面に移り、新たに変更し
たパラメータ値に基づく処理データが表示される。この
ように、表示画面をパラメータ設定画面と処理結果画面
とで繰返し切換え、試行錯誤しながらパラメータの最適
値を決定し、所望の処理データを得るのである。
望の処理データが得られなかった場合、すなわち設定し
たパラメータ値が適切でなかった場合には、再度表示画
面を前記パラメータ設定画面に切換え戻し、パラメータ
値を変更する。そして、再び演算処理を実行指示するこ
とにより表示画面が処理結果画面に移り、新たに変更し
たパラメータ値に基づく処理データが表示される。この
ように、表示画面をパラメータ設定画面と処理結果画面
とで繰返し切換え、試行錯誤しながらパラメータの最適
値を決定し、所望の処理データを得るのである。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来の分光光度計では、パラメータ設定画面と処理結果画
面との表示が相互に移り変わるため、前の画面が消えて
新たな画面のみが表示される。すなわち、測定生データ
とパラメータ項目が表示されているパラメータ設定画面
において、パラメータ値を設定して演算処理を実行する
と、該測定生データ及びパラメータ値が画面上から消え
て処理データのみの表示に変ってしまう。また、パラメ
ータ値を変更するために、処理結果画面からパラメータ
設定画面に戻ると、それまで表示されていた処理データ
が画面上から消えて測定生データとパラメータ項目のみ
の表示に戻ってしまう。このため、パラメータ値の変更
毎に画面切換えをしなければならず、操作性が悪いとい
う課題があった。
来の分光光度計では、パラメータ設定画面と処理結果画
面との表示が相互に移り変わるため、前の画面が消えて
新たな画面のみが表示される。すなわち、測定生データ
とパラメータ項目が表示されているパラメータ設定画面
において、パラメータ値を設定して演算処理を実行する
と、該測定生データ及びパラメータ値が画面上から消え
て処理データのみの表示に変ってしまう。また、パラメ
ータ値を変更するために、処理結果画面からパラメータ
設定画面に戻ると、それまで表示されていた処理データ
が画面上から消えて測定生データとパラメータ項目のみ
の表示に戻ってしまう。このため、パラメータ値の変更
毎に画面切換えをしなければならず、操作性が悪いとい
う課題があった。
【０００７】また、パラメータ値の変更をする際、変更
前のパラメータ値に基づく処理データを同時に視認でき
ないため、最適なパラメータ値を設定するまでの効率が
極めて悪く多大な時間と労力を要するという課題があっ
た。すなわち、パラメータ値の変更は、先に得られた処
理データがどの点で不適切であったのかを変更前のパラ
メータ値を基に該処理データと比較参照しながら行うこ
とが効率的なのである。しかし、前述したように従来は
パラメータ設定の変更時に先のパラメータ値と処理デー
タを同時に確認できず、双方の比較参照が極めて困難で
あるため、パラメータ値の変更を的確に効率良く行うこ
とができなかったのである。
前のパラメータ値に基づく処理データを同時に視認でき
ないため、最適なパラメータ値を設定するまでの効率が
極めて悪く多大な時間と労力を要するという課題があっ
た。すなわち、パラメータ値の変更は、先に得られた処
理データがどの点で不適切であったのかを変更前のパラ
メータ値を基に該処理データと比較参照しながら行うこ
とが効率的なのである。しかし、前述したように従来は
パラメータ設定の変更時に先のパラメータ値と処理デー
タを同時に確認できず、双方の比較参照が極めて困難で
あるため、パラメータ値の変更を的確に効率良く行うこ
とができなかったのである。
【０００８】特に、干渉波形除去処理のように前記パラ
メータが極めて複雑な場合には、最適なパラメータ値の
設定はさらに困難性を有する。本発明は前記従来技術の
課題に鑑みなされたものであり、その目的はパラメータ
値の変更を操作性良く行うと共に最適パラメータ値を的
確かく効率良く設定可能な分光光度計を提供することに
ある。
メータが極めて複雑な場合には、最適なパラメータ値の
設定はさらに困難性を有する。本発明は前記従来技術の
課題に鑑みなされたものであり、その目的はパラメータ
値の変更を操作性良く行うと共に最適パラメータ値を的
確かく効率良く設定可能な分光光度計を提供することに
ある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に本発明にかかる分光光度計は、試料のスペクトル測定
を行う測定手段と、前記測定手段からのスペクトル生デ
ータを演算処理するデータ処理手段と、前記データ処理
手段における種々の演算パラメータを設定するパラメー
タ設定手段と、前記測定手段からのスペクトル生デー
タ、データ処理手段からの演算処理後のスペクトルデー
タ、及びパラメータ設定手段における各パラメータを表
示する表示画面を持つ表示手段と、前記スペクトル生デ
ータ、演算処理後のスペクトルデータ、及びパラメータ
を表示手段の表示画面上に同時に表示させる表示制御手
段と、を備える。そして、前記表示手段の画面上に同時
に表示される前記スペクトル生データ、パラメータ値、
及び演算処理後のスペクトルデータを視認しながら、前
記パラメータ値が設定可能であることを特徴とする。
に本発明にかかる分光光度計は、試料のスペクトル測定
を行う測定手段と、前記測定手段からのスペクトル生デ
ータを演算処理するデータ処理手段と、前記データ処理
手段における種々の演算パラメータを設定するパラメー
タ設定手段と、前記測定手段からのスペクトル生デー
タ、データ処理手段からの演算処理後のスペクトルデー
タ、及びパラメータ設定手段における各パラメータを表
示する表示画面を持つ表示手段と、前記スペクトル生デ
ータ、演算処理後のスペクトルデータ、及びパラメータ
を表示手段の表示画面上に同時に表示させる表示制御手
段と、を備える。そして、前記表示手段の画面上に同時
に表示される前記スペクトル生データ、パラメータ値、
及び演算処理後のスペクトルデータを視認しながら、前
記パラメータ値が設定可能であることを特徴とする。
【００１０】ここで、前記表示制御手段がパラメータ値
をスペクトル生データ上に位置表示させ、前記パラメー
タ設定を該スペクトル生データ上での位置設定により行
うことが好適である。また、干渉波形除去処理において
は、前記表示制御手段がパラメータとしての干渉波をス
ペクトル生データ上に三角関数曲線で実線表示させ、前
記パラメータ設定を該実線表示された干渉波の振幅、周
波数、位相設定により行うことが好適である。
をスペクトル生データ上に位置表示させ、前記パラメー
タ設定を該スペクトル生データ上での位置設定により行
うことが好適である。また、干渉波形除去処理において
は、前記表示制御手段がパラメータとしての干渉波をス
ペクトル生データ上に三角関数曲線で実線表示させ、前
記パラメータ設定を該実線表示された干渉波の振幅、周
波数、位相設定により行うことが好適である。
【００１１】
【作用】本発明にかかる分光光度計は、前述したように
表示制御手段を備えるているので、設定されたパラメー
タ値に基づく演算処理データが、該パラメータ値及び測
定生データと共に同時表示される。このため、パラメー
タ設定画面と処理結果画面とが同一画面となりパラメー
タ値の変更において画面切換えをする必要がない。
表示制御手段を備えるているので、設定されたパラメー
タ値に基づく演算処理データが、該パラメータ値及び測
定生データと共に同時表示される。このため、パラメー
タ設定画面と処理結果画面とが同一画面となりパラメー
タ値の変更において画面切換えをする必要がない。
【００１２】また、前記同時表示により測定生データ、
演算処理データ、及びパラメータの三つの関係が容易に
視認把握することができ、先に設定されたパラメータ値
が適切でなかった場合に、該三つの関係を参照しながら
から最適パラメータ値へ的確かつ効率良く設定変更する
ことが可能となる。また、前記パラメータ値を測定生デ
ータ上に位置表示させることで、該パラメータを視覚的
に認識することができるため、最適パラメータを更に容
易に設定することが可能となる。
演算処理データ、及びパラメータの三つの関係が容易に
視認把握することができ、先に設定されたパラメータ値
が適切でなかった場合に、該三つの関係を参照しながら
から最適パラメータ値へ的確かつ効率良く設定変更する
ことが可能となる。また、前記パラメータ値を測定生デ
ータ上に位置表示させることで、該パラメータを視覚的
に認識することができるため、最適パラメータを更に容
易に設定することが可能となる。
【００１３】特に、干渉波形除去処理においては、パラ
メータとなる干渉波を三角関数曲線で測定生データ上に
重ねて実線表示することで、該干渉波形を実際の形とし
て視覚的に確認しながらその振幅、周波数、位相を設定
することができ、最適パラメータを容易に設定すること
が可能となる。
メータとなる干渉波を三角関数曲線で測定生データ上に
重ねて実線表示することで、該干渉波形を実際の形とし
て視覚的に確認しながらその振幅、周波数、位相を設定
することができ、最適パラメータを容易に設定すること
が可能となる。
【００１４】
【実施例】以下、図面に基づき本発明の好適な実施例を
説明する。図１には、本発明の一実施例にかかる分光光
度計の概略構成図が示されている。同図に示す分光光度
計１０は、順次インターフェログラムの採取を行う測定
手段１２と、該測定手段１２から得られるインターフェ
ログラムを記憶するインターフェログラム記憶手段１４
と、該記憶手段１４から読み出されるインターフェログ
ラムをフーリエ変換しスペクトルデータに変換するフー
リエ変換手段１６と、該スペクトルデータを記憶するス
ペクトル記憶手段１７と、該スペクトル記憶手段１７か
ら読み出されるスペクトルデータを演算処理するデータ
処理手段１８と、フレームメモリ２０及びディスプレイ
２２を有する表示手段２４を備えている。
説明する。図１には、本発明の一実施例にかかる分光光
度計の概略構成図が示されている。同図に示す分光光度
計１０は、順次インターフェログラムの採取を行う測定
手段１２と、該測定手段１２から得られるインターフェ
ログラムを記憶するインターフェログラム記憶手段１４
と、該記憶手段１４から読み出されるインターフェログ
ラムをフーリエ変換しスペクトルデータに変換するフー
リエ変換手段１６と、該スペクトルデータを記憶するス
ペクトル記憶手段１７と、該スペクトル記憶手段１７か
ら読み出されるスペクトルデータを演算処理するデータ
処理手段１８と、フレームメモリ２０及びディスプレイ
２２を有する表示手段２４を備えている。
【００１５】本発明において特徴的なことは、前記フー
リエ変換手段１６及びデータ処理手段１８において用い
られる演算パラメータを設定する画面に処理データを併
せて表示することにある。すなわち、従来別々の画面と
して表示していたパラメータ設定画面と処理データ表示
画面とを同一画面上に表示するものである。このため、
本実施例においてはキーボード等の入力手段２６により
演算パラメータの入力が可能なパラメータ設定手段２８
及び表示制御手段３０を備えている。
リエ変換手段１６及びデータ処理手段１８において用い
られる演算パラメータを設定する画面に処理データを併
せて表示することにある。すなわち、従来別々の画面と
して表示していたパラメータ設定画面と処理データ表示
画面とを同一画面上に表示するものである。このため、
本実施例においてはキーボード等の入力手段２６により
演算パラメータの入力が可能なパラメータ設定手段２８
及び表示制御手段３０を備えている。
【００１６】なお、前記測定生データ及び処理データと
は、フーリエ変換時においては前者がインターフェログ
ラム、後者がスペクトルデータを指し、スペクトルデー
タの演算処理時においては前者が演算処理前スペクトル
データ、後者が演算処理後スペクトルデータを指す。本
実施例にかかる分光光度計は概略以上のように構成さ
れ、次に本実施例におけるパラメータ設定及びデータ処
理の具体的な作用について説明する。
は、フーリエ変換時においては前者がインターフェログ
ラム、後者がスペクトルデータを指し、スペクトルデー
タの演算処理時においては前者が演算処理前スペクトル
データ、後者が演算処理後スペクトルデータを指す。本
実施例にかかる分光光度計は概略以上のように構成さ
れ、次に本実施例におけるパラメータ設定及びデータ処
理の具体的な作用について説明する。
【００１７】まず、前記インターフェログラムをフーリ
エ変換手段１６によりスペクトルデータにフーリエ変換
するＩＦスペクトル変換処理において、メニュー画面か
らデータ処理を選択すると図２に示すような画面４０が
表示される。そして、データ処理を行うインターフェロ
グラムが前記インターフェログラム記憶手段１４から読
み出され、該インターフェログラムデータが表示制御手
段３０に出力される。さらに、表示制御手段３０はこの
インターフェログラムデータをフレームメモリ２０の画
面上部にあたる測定生データ表示部４２に相当するエリ
アに記憶する。
エ変換手段１６によりスペクトルデータにフーリエ変換
するＩＦスペクトル変換処理において、メニュー画面か
らデータ処理を選択すると図２に示すような画面４０が
表示される。そして、データ処理を行うインターフェロ
グラムが前記インターフェログラム記憶手段１４から読
み出され、該インターフェログラムデータが表示制御手
段３０に出力される。さらに、表示制御手段３０はこの
インターフェログラムデータをフレームメモリ２０の画
面上部にあたる測定生データ表示部４２に相当するエリ
アに記憶する。
【００１８】次に入力手段２６からパラメータ値をパラ
メータ設定手段２８に設定することにより、画面４０の
パラメータ項目部４４の設定値欄に各パラメータが表示
される。そして、パラメータ値の設定が終了した時点で
画面４０に示す「ＯＫ」を選択することにより、該パラ
メータ値がパラメータ設定手段２８からフーリエ変換手
段１６に出力され、インターフェログラムのフーリエ変
換処理が行われる。
メータ設定手段２８に設定することにより、画面４０の
パラメータ項目部４４の設定値欄に各パラメータが表示
される。そして、パラメータ値の設定が終了した時点で
画面４０に示す「ＯＫ」を選択することにより、該パラ
メータ値がパラメータ設定手段２８からフーリエ変換手
段１６に出力され、インターフェログラムのフーリエ変
換処理が行われる。
【００１９】そして、前記フーリエ変換されたスペクト
ルデータは表示制御手段３０に出力され、該表示制御手
段３０はこのスペクトルデータをフレームメモリ２０の
画面下部にあたる処理データ表示部４６に相当するエリ
アに記憶する。この結果、前記図２に示すようにインタ
ーフェログラムデータ、スペクトルデータ、及びパラメ
ータ値を全て同一画面上に同時表示することができる。
ルデータは表示制御手段３０に出力され、該表示制御手
段３０はこのスペクトルデータをフレームメモリ２０の
画面下部にあたる処理データ表示部４６に相当するエリ
アに記憶する。この結果、前記図２に示すようにインタ
ーフェログラムデータ、スペクトルデータ、及びパラメ
ータ値を全て同一画面上に同時表示することができる。
【００２０】さらに、前記処理データ表示部４６の処理
データを確認した上で、該処理データが所望のデータと
異なる場合には前記パラメータ値の変更を行う。そし
て、新たなパラメータ値を入力し「ＯＫ」を選択する
と、再び該パラメータ値に基づくフーリエ変換処理が行
われ、該フーリエ変換された新たなスペクトルデータが
表示制御手段３０に出力される。さらに、表示制御手段
３０は先のスペクトルデータをこの新たなスペクトルデ
ータに書換えてフレームメモリ２０に記憶し、該新たな
スペクトルデータを処理データ表示部４６に表示する。
以上のようにして、最適なパラメータ値が見つかるま
で、前記パラメータ設定とフーリエ変換処理を繰返し行
う。
データを確認した上で、該処理データが所望のデータと
異なる場合には前記パラメータ値の変更を行う。そし
て、新たなパラメータ値を入力し「ＯＫ」を選択する
と、再び該パラメータ値に基づくフーリエ変換処理が行
われ、該フーリエ変換された新たなスペクトルデータが
表示制御手段３０に出力される。さらに、表示制御手段
３０は先のスペクトルデータをこの新たなスペクトルデ
ータに書換えてフレームメモリ２０に記憶し、該新たな
スペクトルデータを処理データ表示部４６に表示する。
以上のようにして、最適なパラメータ値が見つかるま
で、前記パラメータ設定とフーリエ変換処理を繰返し行
う。
【００２１】このように、本実施例においては、前記パ
ラメータ設定とフーリエ変換処理との繰返し操作は、同
一画面上でパラメータ設定入力と「ＯＫ」の選択を繰返
すだけでよく、画面の切換えが不用であり操作性良く行
うことができる。また、先に設定したパラメータ値と、
該パラメータ値に基づくスペクトルデータを同時に視認
できるため、両者を比較参照しながらパラメータ値の変
更をすることができ、パラメータ値の最適値を効率良く
見出すことができる。
ラメータ設定とフーリエ変換処理との繰返し操作は、同
一画面上でパラメータ設定入力と「ＯＫ」の選択を繰返
すだけでよく、画面の切換えが不用であり操作性良く行
うことができる。また、先に設定したパラメータ値と、
該パラメータ値に基づくスペクトルデータを同時に視認
できるため、両者を比較参照しながらパラメータ値の変
更をすることができ、パラメータ値の最適値を効率良く
見出すことができる。
【００２２】次に、前記フーリエ変換されたスペクトル
生データに様々なデータ処理を施す場合の例を図３及び
図４に従って説明する。なお、前記図２と対応する部分
には同一符号を付し説明を省略する。図３には、スペク
トル生データのデータ処理の一例としてベースライン補
正のデータ処理画面が示されている。そして、同図にお
いて、測定生データ表示部４２にはフーリエ変換された
スペクトル生データが表示され、処理データ表示部４６
にはベースライン補正処理を行った後のスペクトル処理
データが表示される。
生データに様々なデータ処理を施す場合の例を図３及び
図４に従って説明する。なお、前記図２と対応する部分
には同一符号を付し説明を省略する。図３には、スペク
トル生データのデータ処理の一例としてベースライン補
正のデータ処理画面が示されている。そして、同図にお
いて、測定生データ表示部４２にはフーリエ変換された
スペクトル生データが表示され、処理データ表示部４６
にはベースライン補正処理を行った後のスペクトル処理
データが表示される。
【００２３】すなわち、まずベースライン補正処理にお
いてメニュー画面からデータ処理を選択すると、前記ス
ペクトル記憶手段１７からデータ処理を行うスペクトル
生データが読み出され、該スペクトル生データが表示制
御部３０に出力される。そして、表示制御部３０は該ス
ペクトル生データをフレームメモリ２０の画面上部の測
定生データ表示部４２に相当するエリアに記憶する。
いてメニュー画面からデータ処理を選択すると、前記ス
ペクトル記憶手段１７からデータ処理を行うスペクトル
生データが読み出され、該スペクトル生データが表示制
御部３０に出力される。そして、表示制御部３０は該ス
ペクトル生データをフレームメモリ２０の画面上部の測
定生データ表示部４２に相当するエリアに記憶する。
【００２４】そして、パラメータ値を入力手段２６から
パラメータ設定手段２８に設定すると、該パラメータ値
がパラメータ設定手段２８からスペクトルデータ処理手
段１８に出力され、ベースライン補正のデータ処理が行
われる。さらに、該データ処理手段１８から処理データ
が表示制御部３０に出力され、表示制御部３０は該処理
データをフレームメモリ２０の画面下部の処理データ表
示部４６に相当するエリアに記憶する。この結果、図３
に示すようにパラメータ値、スペクトル生データ、及び
スペクトル処理データが同時表示されるのである。
パラメータ設定手段２８に設定すると、該パラメータ値
がパラメータ設定手段２８からスペクトルデータ処理手
段１８に出力され、ベースライン補正のデータ処理が行
われる。さらに、該データ処理手段１８から処理データ
が表示制御部３０に出力され、表示制御部３０は該処理
データをフレームメモリ２０の画面下部の処理データ表
示部４６に相当するエリアに記憶する。この結果、図３
に示すようにパラメータ値、スペクトル生データ、及び
スペクトル処理データが同時表示されるのである。
【００２５】ここで、本実施例においては、図３に示す
ように補正ベースライン４８を測定生データ表示部４２
のエリア内に位置表示し、該位置設定によりパラメータ
設定を行っている。すなわち、測定生データ表示部４２
内に指定した数のポイント５０及びそれぞれのポイント
５０を結んだ補正ベースライン４８を表示し、各ポイン
ト５０の位置をマウスなどで設定することで、該ポイン
ト５０の位置に対応した補正ベースライン４８を得るた
めのパラメータを設定しているのである。
ように補正ベースライン４８を測定生データ表示部４２
のエリア内に位置表示し、該位置設定によりパラメータ
設定を行っている。すなわち、測定生データ表示部４２
内に指定した数のポイント５０及びそれぞれのポイント
５０を結んだ補正ベースライン４８を表示し、各ポイン
ト５０の位置をマウスなどで設定することで、該ポイン
ト５０の位置に対応した補正ベースライン４８を得るた
めのパラメータを設定しているのである。
【００２６】なお、前記ポイント５０の設定値は、パラ
メータ設定手段２８から表示制御部３０に出力され、該
表示制御部３０によりフレームメモリ２０の測定生デー
タ表示部４２に相当するエリア内に記憶され、該測定生
データ表示部４２内にスペクトル生データと共に表示さ
れる。このように、本実施例においては、複雑な形状の
補正ベースラインの設定も、前記各ポイントの数及び位
置の設定だけで容易に行うことができ、さらに該補正ベ
ースラインの設定変更においても、先に設定された補正
ベースラインとこれに基づくスペクトル処理データを同
時に確認し比較参照しながら行うことができ、的確な設
定変更を効率良く行うことが可能となる。
メータ設定手段２８から表示制御部３０に出力され、該
表示制御部３０によりフレームメモリ２０の測定生デー
タ表示部４２に相当するエリア内に記憶され、該測定生
データ表示部４２内にスペクトル生データと共に表示さ
れる。このように、本実施例においては、複雑な形状の
補正ベースラインの設定も、前記各ポイントの数及び位
置の設定だけで容易に行うことができ、さらに該補正ベ
ースラインの設定変更においても、先に設定された補正
ベースラインとこれに基づくスペクトル処理データを同
時に確認し比較参照しながら行うことができ、的確な設
定変更を効率良く行うことが可能となる。
【００２７】また、図４には、スペクトル生データのデ
ータ処理の他の例として干渉波形除去のデータ処理画面
が示されている。同図においては、前記図３に示すベー
スラインの変りに干渉波としての三角関数曲線５２をス
ペクトル生データ上に表示している。なお、パラメー
タ、スペクトル生データ、及びスペクトル処理データを
同一画面に表示する機構は、前述したベースライン補正
と同様である。そして、本実施例においては、干渉波形
が含まれているスペクトル生データ上に三角関数曲線５
２を重ね書き表示することにより、干渉波形除去のため
の最適なパラメータを効率良く見出すことを可能として
いる。
ータ処理の他の例として干渉波形除去のデータ処理画面
が示されている。同図においては、前記図３に示すベー
スラインの変りに干渉波としての三角関数曲線５２をス
ペクトル生データ上に表示している。なお、パラメー
タ、スペクトル生データ、及びスペクトル処理データを
同一画面に表示する機構は、前述したベースライン補正
と同様である。そして、本実施例においては、干渉波形
が含まれているスペクトル生データ上に三角関数曲線５
２を重ね書き表示することにより、干渉波形除去のため
の最適なパラメータを効率良く見出すことを可能として
いる。
【００２８】すなわち、スペクトル生データに含まれて
いる干渉波形は、干渉波がスペクトルデータに乗ってい
るために生じるものであり、該干渉波形は限定された範
囲内では略一定の振幅、周波数、位相で表すことができ
る。そこで、前記干渉波形を三角関数曲線５２でスペク
トル生データ上に表示し、該スペクトル生データに三角
関数曲線５２がほぼ重なるように振幅、周波数、位相を
それぞれ設定している。このように、本実施例において
は、干渉波形を実際の形として視覚的に認識することに
より、最適なパラメータの設定を容易に行うことを可能
としている。
いる干渉波形は、干渉波がスペクトルデータに乗ってい
るために生じるものであり、該干渉波形は限定された範
囲内では略一定の振幅、周波数、位相で表すことができ
る。そこで、前記干渉波形を三角関数曲線５２でスペク
トル生データ上に表示し、該スペクトル生データに三角
関数曲線５２がほぼ重なるように振幅、周波数、位相を
それぞれ設定している。このように、本実施例において
は、干渉波形を実際の形として視覚的に認識することに
より、最適なパラメータの設定を容易に行うことを可能
としている。
【００２９】なお、前記実施例においてはベースライン
補正処理及び干渉波形除去処理を例に説明したが、この
他のデコンボリューション処理、四則演算処理、データ
連結処理、差スペクトル処理、ＣＯ2ピーク除去処理、
微分処理、スムージング処理、ＦＦＴフィルター処理な
どの各スペクトルデータ処理においても、パラメータ設
定画面と処理結果画面を同一画面で表示することによ
り、パラメータ設定を容易かつ効率的に行うことが可能
である。
補正処理及び干渉波形除去処理を例に説明したが、この
他のデコンボリューション処理、四則演算処理、データ
連結処理、差スペクトル処理、ＣＯ2ピーク除去処理、
微分処理、スムージング処理、ＦＦＴフィルター処理な
どの各スペクトルデータ処理においても、パラメータ設
定画面と処理結果画面を同一画面で表示することによ
り、パラメータ設定を容易かつ効率的に行うことが可能
である。
【００３０】
【発明の効果】以上説明したように、本発明にかかる分
光光度計によれば、測定生データ、演算処理データ、及
びパラメータを同一画面に同時表示するため、画面を切
換えることなくパラメータ値の変更を行うことができ、
さらに先に設定したパラメータ値とこれに基づく処理デ
ータを同時に視認し、両者を比較参照しながらパラメー
タ値の変更を行うことが可能となる。
光光度計によれば、測定生データ、演算処理データ、及
びパラメータを同一画面に同時表示するため、画面を切
換えることなくパラメータ値の変更を行うことができ、
さらに先に設定したパラメータ値とこれに基づく処理デ
ータを同時に視認し、両者を比較参照しながらパラメー
タ値の変更を行うことが可能となる。
【図１】本発明の一実施例にかかる分光光度計の概略構
成の説明図である。
成の説明図である。
【図２】前記図１に示す分光光度計を用いたＩＦスペク
トル変換処理における表示画面の説明図である。
トル変換処理における表示画面の説明図である。
【図３】前記図１に示す分光光度計を用いたベースライ
ン補正処理における表示画面の説明図である。
ン補正処理における表示画面の説明図である。
【図４】前記図１に示す分光光度計を用いた干渉波形除
去処理における表示画面の説明図である。
去処理における表示画面の説明図である。
１２ … 測定手段
１４ … インターフェログラム記憶手段
１６ … フーリエ変換手段
１８ … スペクトルデータ処理手段
２４ … 表示手段
２８ … パラメータ設定手段
３０ … 表示制御手段
４２ … 測定生データ表示部
４４ … パラメータ項目部
４６ … 処理データ表示部
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(72)発明者 脇本 範雄
東京都八王子市石川町2967番地の５ 日
本分光株式会社内
(56)参考文献 特開 昭60−6833（ＪＰ，Ａ)
特開 平４−140669（ＪＰ，Ａ)
特開 昭59−3328（ＪＰ，Ａ)
特開 昭63−241321（ＪＰ，Ａ)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01J 3/00 - 3/52
G01N 21/00 - 21/61
Claims (3)
- 【請求項１】 試料のスペクトル測定を行う測定手段
と、 前記測定手段からのスペクトル生データを演算処理する
ためのパラメータ値を設定するパラメータ設定手段と、 前記パラメータ値に基づきスペクトル生データを演算処
理するデータ処理手段と、 前記スペクトル生データ、パラメータ値、及び演算処理
後のスペクトルデータを表示する表示画面を持つ表示手
段と、 前記スペクトル生データ、パラメータ値、及び演算処理
後のスペクトルデータを表示手段の表示画面上に同時に
表示させる表示制御手段と、を備え、 前記表示手段の表示画面上に同時に表示される前記スペ
クトル生データ、パラメータ値、及び演算処理後のスペ
クトルデータを視認しながら、前記パラメータ値が設定
可能であることを特徴とする分光光度計。 - 【請求項２】 請求項１記載の分光光度計において、 前記表示制御手段がパラメータ値をスペクトル生データ
上に位置表示させ、前記パラメータ設定を該スペクトル
生データ上での位置設定により行うことを特徴とする分
光光度計。 - 【請求項３】 請求項２記載の分光光度計による干渉波
形除去処理において、 前記表示制御手段がパラメータとなる干渉波をスペクト
ル生データ上に三角関数曲線で実線表示させ、前記パラ
メータ設定を該実線表示された干渉波の振幅、周波数、
位相設定により行うことを特徴とする分光光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP02904694A JP3510917B2 (ja) | 1994-02-01 | 1994-02-01 | 分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP02904694A JP3510917B2 (ja) | 1994-02-01 | 1994-02-01 | 分光光度計 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002350050A Division JP3619823B2 (ja) | 2002-12-02 | 2002-12-02 | 分光光度計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07218341A JPH07218341A (ja) | 1995-08-18 |
| JP3510917B2 true JP3510917B2 (ja) | 2004-03-29 |
Family
ID=12265454
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP02904694A Expired - Fee Related JP3510917B2 (ja) | 1994-02-01 | 1994-02-01 | 分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3510917B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000275195A (ja) * | 1999-03-26 | 2000-10-06 | Rigaku Industrial Co | 蛍光ｘ線分析装置 |
| JP2002340791A (ja) * | 2001-05-16 | 2002-11-27 | Jasco Corp | スペクトルデータを用いた分析方法及びその装置 |
| AU2002361105A1 (en) * | 2001-12-28 | 2003-07-24 | Nikon Corporation | Spectral measuring device |
| JP2007040905A (ja) * | 2005-08-04 | 2007-02-15 | Hitachi High-Technologies Corp | クロマトグラフデータ処理装置 |
-
1994
- 1994-02-01 JP JP02904694A patent/JP3510917B2/ja not_active Expired - Fee Related
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|---|---|
| JPH07218341A (ja) | 1995-08-18 |
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