JP3340204B2 - 積算型分光光度計 - Google Patents
積算型分光光度計Info
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- JP3340204B2 JP3340204B2 JP23084593A JP23084593A JP3340204B2 JP 3340204 B2 JP3340204 B2 JP 3340204B2 JP 23084593 A JP23084593 A JP 23084593A JP 23084593 A JP23084593 A JP 23084593A JP 3340204 B2 JP3340204 B2 JP 3340204B2
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- Japan
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- measurement
- integrating
- setting
- spectrum
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- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は積算型分光光度計、特に
測定条件設定機構の改良に関する。
測定条件設定機構の改良に関する。
【０００２】
【従来の技術】短時間で広い波長範囲のスペクトルデー
タを得ることのできるフーリエ変換分光光度計が周知で
ある。このフーリエ変換分光光度計では、例えば赤外干
渉光を被測定物に照射し、その反射光ないし透過光から
得られるインターフェログラムをフーリエ変換し、所望
のスペクトルデータを得ているが、一のインターフェロ
グラムをフーリエ変換してスペクトルデータを得たので
はノイズが多くなる恐れがあり、このため複数のインタ
ーフェログラムを採取し、その結果を積算してスペクト
ルデータとすることが多い。
タを得ることのできるフーリエ変換分光光度計が周知で
ある。このフーリエ変換分光光度計では、例えば赤外干
渉光を被測定物に照射し、その反射光ないし透過光から
得られるインターフェログラムをフーリエ変換し、所望
のスペクトルデータを得ているが、一のインターフェロ
グラムをフーリエ変換してスペクトルデータを得たので
はノイズが多くなる恐れがあり、このため複数のインタ
ーフェログラムを採取し、その結果を積算してスペクト
ルデータとすることが多い。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述し
たような積算型分光光度計においては、測定条件の設定
が非常に困難であるという課題があった。すなわち、積
算型分光光度計により適正なスペクトルデータを得るた
めには、その分解能、アポタイゼーションあるいはゼロ
フィリング等の測定条件の設定、さらには被測定物の配
置などの設定を適正に行なわなければならない。このた
め、測定条件の設定あるいは被測定物の調製は、測定者
の経験と勘によるところが大きく、また既知の被測定物
であるならば場合により文献などからこれらの諸条件の
推定を行なうことも可能であろうが、未知の被測定物で
はまったく手探りの状態で試行錯誤を繰返しながら適正
条件の設定を行なわなければならない。
たような積算型分光光度計においては、測定条件の設定
が非常に困難であるという課題があった。すなわち、積
算型分光光度計により適正なスペクトルデータを得るた
めには、その分解能、アポタイゼーションあるいはゼロ
フィリング等の測定条件の設定、さらには被測定物の配
置などの設定を適正に行なわなければならない。このた
め、測定条件の設定あるいは被測定物の調製は、測定者
の経験と勘によるところが大きく、また既知の被測定物
であるならば場合により文献などからこれらの諸条件の
推定を行なうことも可能であろうが、未知の被測定物で
はまったく手探りの状態で試行錯誤を繰返しながら適正
条件の設定を行なわなければならない。
【０００４】一方、従来の積算型分光光度計では、測定
条件の設定、スペクトル測定、積算、スペクトル出力は
一連の手続により行なわれており、たとえ積算回数を一
度にしたところで、各測定条件の設定毎にこの手順を順
次経なければならないことに変りはなく、繁雑な操作と
時間の浪費が不可避であった。本発明は前記従来技術の
課題に鑑みなされたものであり、その目的は簡易な操作
で適切な測定条件の設定を行なうことのできる積算型分
光光度計を提供することにある。
条件の設定、スペクトル測定、積算、スペクトル出力は
一連の手続により行なわれており、たとえ積算回数を一
度にしたところで、各測定条件の設定毎にこの手順を順
次経なければならないことに変りはなく、繁雑な操作と
時間の浪費が不可避であった。本発明は前記従来技術の
課題に鑑みなされたものであり、その目的は簡易な操作
で適切な測定条件の設定を行なうことのできる積算型分
光光度計を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に本発明にかかる積算型分光光度計は、設定手段と、表
示制御手段を備える。そして、前記設定手段は測定モー
ドおよび設定モードの二種を備えており、設定モードで
は前記スペクトル測定条件の設定を行なうことが可能と
なっている。そして、表示制御手段は、前記設定モード
時には、その時点での測定条件で測定されたスペクトル
を積算しないまま、該測定条件と同時に前記表示手段に
表示させる。
に本発明にかかる積算型分光光度計は、設定手段と、表
示制御手段を備える。そして、前記設定手段は測定モー
ドおよび設定モードの二種を備えており、設定モードで
は前記スペクトル測定条件の設定を行なうことが可能と
なっている。そして、表示制御手段は、前記設定モード
時には、その時点での測定条件で測定されたスペクトル
を積算しないまま、該測定条件と同時に前記表示手段に
表示させる。
【０００６】
【作用】本発明にかかる積算型分光光度計は、前述した
ように設定手段と表示制御手段を備えているので、設定
手段が設定モードであるときには測定条件および該測定
条件による実質的に積算されていないスペクトルを表示
手段上に表示する。そして、測定条件を順次変更するこ
とにより、これにつれて該測定条件に対応したスペクト
ルが同時表示され、極めて容易に適正測定条件の設定を
行なうことができる。なお、適正測定条件が設定された
ならば、前記設定手段を測定モードに切換えることによ
り、一般的な積算型分光光度計と同様に測定データの積
算および該積算結果に基づくスペクトル表示が行なわれ
る。
ように設定手段と表示制御手段を備えているので、設定
手段が設定モードであるときには測定条件および該測定
条件による実質的に積算されていないスペクトルを表示
手段上に表示する。そして、測定条件を順次変更するこ
とにより、これにつれて該測定条件に対応したスペクト
ルが同時表示され、極めて容易に適正測定条件の設定を
行なうことができる。なお、適正測定条件が設定された
ならば、前記設定手段を測定モードに切換えることによ
り、一般的な積算型分光光度計と同様に測定データの積
算および該積算結果に基づくスペクトル表示が行なわれ
る。
【０００７】
【実施例】以下、図面に基づき本発明の好適な実施例を
説明する。図１には本発明の一実施例にかかる積算型分
光光度計が示されている。同図に示す分光光度計１０
は、順次インターフェログラムの採取を行なう測定手段
１２と、該測定手段１２から得られるインターフェログ
ラムデータを記憶する記憶手段１４と、該記憶手段１４
から読み出されるインターフェログラムデータをフーリ
エ変換しスペクトルデータに変換するフーリエ変換手段
１６と、前記フーリエ変換手段１６より出力されるスペ
クトルデータを積算する積算手段１８と、フレームメモ
リ２０およびディスプレイ２２を備えた表示手段２４を
備える。本発明において特徴的なことは、測定条件の設
定時に、該測定条件およびその測定条件に対応したスペ
クトル表示を行なうことであり、このために本実施例に
おいてはキーボード等の入力手段３０により測定条件の
入力が可能な設定手段３２および表示制御手段３４を備
えている。
説明する。図１には本発明の一実施例にかかる積算型分
光光度計が示されている。同図に示す分光光度計１０
は、順次インターフェログラムの採取を行なう測定手段
１２と、該測定手段１２から得られるインターフェログ
ラムデータを記憶する記憶手段１４と、該記憶手段１４
から読み出されるインターフェログラムデータをフーリ
エ変換しスペクトルデータに変換するフーリエ変換手段
１６と、前記フーリエ変換手段１６より出力されるスペ
クトルデータを積算する積算手段１８と、フレームメモ
リ２０およびディスプレイ２２を備えた表示手段２４を
備える。本発明において特徴的なことは、測定条件の設
定時に、該測定条件およびその測定条件に対応したスペ
クトル表示を行なうことであり、このために本実施例に
おいてはキーボード等の入力手段３０により測定条件の
入力が可能な設定手段３２および表示制御手段３４を備
えている。
【０００８】本発明にかかる積算型分光光度計は概略以
上のように構成され、次に図２を参照しつつその作用に
ついて説明する。まず、積算型分光光度計１０の起動時
には図２（Ａ）に示すような画面５０が表れ、スペクト
ルの「測定」５２、および記憶されたスペクトルの「表
示」５４を、図示を省略したマウスにより選択する。そ
して、「測定」５２を選択すると、前記設定手段３２は
設定モードに切換えられ、図２（Ｂ）に示すように当該
時点における測定条件が画面左上部分５６に表示される
とともに、画面右下部分５８にはその測定条件における
現在のスペクトル波形が表示される。
上のように構成され、次に図２を参照しつつその作用に
ついて説明する。まず、積算型分光光度計１０の起動時
には図２（Ａ）に示すような画面５０が表れ、スペクト
ルの「測定」５２、および記憶されたスペクトルの「表
示」５４を、図示を省略したマウスにより選択する。そ
して、「測定」５２を選択すると、前記設定手段３２は
設定モードに切換えられ、図２（Ｂ）に示すように当該
時点における測定条件が画面左上部分５６に表示される
とともに、画面右下部分５８にはその測定条件における
現在のスペクトル波形が表示される。
【０００９】すなわち、設定手段３２が設定モードに切
換えられることにより、該設定手段３２は測定手段１２
に指示を与え、該時点における測定条件によりインター
フェログラムの採取を開始する。そして、このインター
フェログラムデータは記憶手段１４を介してフーリエ変
換手段１６によりスペクトルデータに変換される。一
方、前記設定手段３２は表示制御手段３４にも指示を与
え、該表示制御手段３４は、スペクトルデータを、積算
手段１８を介さずにフレームメモリ２０の画面右下部分
５８に相当する記憶エリアに記憶する。また、表示制御
手段３４は前記設定手段３２より測定条件データを得て
おり、該測定条件データはフレームメモリ２０の画面左
上部分５６に相当する記憶エリアに記憶される。
換えられることにより、該設定手段３２は測定手段１２
に指示を与え、該時点における測定条件によりインター
フェログラムの採取を開始する。そして、このインター
フェログラムデータは記憶手段１４を介してフーリエ変
換手段１６によりスペクトルデータに変換される。一
方、前記設定手段３２は表示制御手段３４にも指示を与
え、該表示制御手段３４は、スペクトルデータを、積算
手段１８を介さずにフレームメモリ２０の画面右下部分
５８に相当する記憶エリアに記憶する。また、表示制御
手段３４は前記設定手段３２より測定条件データを得て
おり、該測定条件データはフレームメモリ２０の画面左
上部分５６に相当する記憶エリアに記憶される。
【００１０】この結果、前述した図２（Ｂ）に示すよう
に測定条件および該測定条件に対応した積算されていな
いスペクトルデータの表示を同一画面上に表示すること
ができる。そして、前記設定手段３２は、その測定条件
が変更されると順次新たなスペクトルデータを得るた
め、測定者は画面上を注視しながら測定条件の変更を行
なうことで、ほぼリアルタイムにその測定条件に対応す
るスペクトル波形を観察することができる。このため、
最適のスペクトル波形を得ることのできる測定条件を容
易に見出すことが可能となる。
に測定条件および該測定条件に対応した積算されていな
いスペクトルデータの表示を同一画面上に表示すること
ができる。そして、前記設定手段３２は、その測定条件
が変更されると順次新たなスペクトルデータを得るた
め、測定者は画面上を注視しながら測定条件の変更を行
なうことで、ほぼリアルタイムにその測定条件に対応す
るスペクトル波形を観察することができる。このため、
最適のスペクトル波形を得ることのできる測定条件を容
易に見出すことが可能となる。
【００１１】次に、最適測定条件の探索が終了すると、
そのまま設定モード画面上の測定実行キー６０をマウス
によりクリックすることで、当該測定条件によるスペク
トルの連続的測定および積算が開始される。すなわち、
設定手段３２は表示制御手段３４に指示を与え、フーリ
エ変換手段１６からのスペクトルデータを積算手段１８
に供給し、該積算手段１８は積算されたスペクトルデー
タでフレームメモリ２０を順次書換え、ディスプレイ２
２に表示させる。
そのまま設定モード画面上の測定実行キー６０をマウス
によりクリックすることで、当該測定条件によるスペク
トルの連続的測定および積算が開始される。すなわち、
設定手段３２は表示制御手段３４に指示を与え、フーリ
エ変換手段１６からのスペクトルデータを積算手段１８
に供給し、該積算手段１８は積算されたスペクトルデー
タでフレームメモリ２０を順次書換え、ディスプレイ２
２に表示させる。
【００１２】したがって、必要充分なスペクトルを得ら
れた時点で測定を中止することも可能である。無論あら
かじめ設定された積算数の積算を行なった時点で、図２
（Ｃ）に示すようにスペクトル表示を行なうこともでき
る。以上説明したように本実施例にかかる積算型分光光
度計によれば、測定条件と該測定条件に対応したスペク
トル波形の両者を同一画面上で確認しながら、最適測定
条件の設定を行なうことが可能となり、条件設定の大幅
な簡易化が図られる。
れた時点で測定を中止することも可能である。無論あら
かじめ設定された積算数の積算を行なった時点で、図２
（Ｃ）に示すようにスペクトル表示を行なうこともでき
る。以上説明したように本実施例にかかる積算型分光光
度計によれば、測定条件と該測定条件に対応したスペク
トル波形の両者を同一画面上で確認しながら、最適測定
条件の設定を行なうことが可能となり、条件設定の大幅
な簡易化が図られる。
【００１３】なお、前記実施例においては、設定モード
では積算手段１８を介さずにスペクトル波形表示を行な
うこととしたが、これに限られるものではなく、例えば
設定モードでは積算手段１８の積算回数を強制的に１回
に設定してしまうこともできる。また、前記実施例にお
いては、記憶手段からのデータをフーリエ変換した後に
積算手段に送られているが、記憶手段からのデータを積
算した後にフーリエ変換するようにしてもよい。
では積算手段１８を介さずにスペクトル波形表示を行な
うこととしたが、これに限られるものではなく、例えば
設定モードでは積算手段１８の積算回数を強制的に１回
に設定してしまうこともできる。また、前記実施例にお
いては、記憶手段からのデータをフーリエ変換した後に
積算手段に送られているが、記憶手段からのデータを積
算した後にフーリエ変換するようにしてもよい。
【００１４】
【発明の効果】以上説明したように本発明にかかる積算
型分光光度計によれば、設定手段および表示制御手段に
より測定条件および該測定条件に対応したスペクトルを
同一画面上に表示させつつ、測定条件の設定を行なうこ
ととしたので、測定条件の設定の大幅な簡易化を図るこ
とができる。
型分光光度計によれば、設定手段および表示制御手段に
より測定条件および該測定条件に対応したスペクトルを
同一画面上に表示させつつ、測定条件の設定を行なうこ
ととしたので、測定条件の設定の大幅な簡易化を図るこ
とができる。
【図１】本発明の一実施例にかかる積算型分光光度計の
概略構成図である。
概略構成図である。
【図２】前記図１に示した分光光度計による画面表示状
態の説明図である。
態の説明図である。
１０ 積算型分光光度計 １２ 測定手段 １８ 積算手段 ２４ 表示手段 ３２ 設定手段 ３４ 表示制御手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平２−93918（ＪＰ，Ａ) 特開 昭52−64955（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−262237（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01J 3/45 G01D 7/00 - 7/18 G01N 21/35
Claims (1)
- 【請求項１】 スペクトル測定を行なう測定手段と、 前記測定手段より得られる複数のスペクトルを積算する
積算手段と、 前記積算手段により積算されたスペクトルデータの表示
を行なう表示手段と、 を備えた積算型分光光度計において、 測定モードおよび設定モードの二種を備えており、設定
モードでは前記スペクトル測定条件の設定を行なうこと
を可能とする設定手段と、 前記設定モード時には、その時点での測定条件で前記測
定手段により測定されたスペクトルを積算しないまま、
該測定条件と同時に前記表示手段に表示させる表示制御
手段と、 を備えたことを特徴とする積算型分光光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23084593A JP3340204B2 (ja) | 1993-08-24 | 1993-08-24 | 積算型分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23084593A JP3340204B2 (ja) | 1993-08-24 | 1993-08-24 | 積算型分光光度計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0763610A JPH0763610A (ja) | 1995-03-10 |
| JP3340204B2 true JP3340204B2 (ja) | 2002-11-05 |
Family
ID=16914194
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23084593A Expired - Fee Related JP3340204B2 (ja) | 1993-08-24 | 1993-08-24 | 積算型分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3340204B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3842630B2 (ja) * | 2001-11-30 | 2006-11-08 | ギガフォトン株式会社 | 波長検出装置及びそれを用いたレーザ装置 |
| JP4639633B2 (ja) * | 2004-05-07 | 2011-02-23 | 株式会社島津製作所 | 分光光度計 |
-
1993
- 1993-08-24 JP JP23084593A patent/JP3340204B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0763610A (ja) | 1995-03-10 |
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