JP2000304782A - スペクトル分析装置、スペクトル分析方法およびその方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 効率的な電磁波（不要輻射スペクトル）抑制
対策等のための、複数のクロック周波数の発生源を有す
る電子機器のスペクトルの全体としての分析を迅速にか
つ正確におこなうこと。 【解決手段】 電子機器の電磁界測定をおこなった結果
として得られる周波数に対応するスペクトルデータを入
力するスペクトルデータ入力部２０１と、入力されたス
ペクトルデータから、周辺の周波数に対して突出した量
のスペクトルを有するスペクトルピーク周波数を抽出す
るスペクトルピーク周波数抽出部２０２と、スペクトル
ピーク周波数が複数のクロック周波数のうちのどの発生
源のクロック周波数に対応するかを解析するスペクトル
ピーク周波数解析部２０３と、を備える。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、複数のクロック
周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルを分析す
るスペクトル分析装置、スペクトル分析方法、およびそ
の方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録し
たコンピュータ読み取り可能な記録媒体に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、電子機器から発せられる電磁波
（不要輻射スペクトル）による機器の誤動作等の悪影響
を回避する必要があるため、電子機器を設計する際に
は、この電磁波をいかに抑制するかが問題となる。そこ
で、この電磁波を抑制する対策をとるために、電子機器
の中における上記電磁波を発している発生源を正確に分
析・把握する必要がある。

【０００３】このように、複数のクロック周波数の発生
源を有する電子機器の不要輻射スペクトルを分析する場
合には、電波暗室において対象となる電子機器の電磁波
を測定し、垂直偏波スペクトルと水平偏波スペクトルに
分けて表示をしていた。そして、表示された偏波スペク
トルのうち、問題となるスペクトルのピーク部分に着目
して、各発生源のクロック周波数と比較することで、問
題となるピーク部分に関連のある発生源を問題がある発
生源として特定していた。

【０００４】

【発明が解消しようとする課題】しかしながら、従来の
分析方法にあっては、計算量が膨大である等の理由か
ら、問題となるスペクトルのピークを一度に一つずつし
か対象とすることができず、全体に渡る分析を一度にお
こなうことが困難であり、結果として全体としての対策
をとることができないため、目測と試行錯誤的な実験に
頼らざるを得ず、電子機器が発する電磁波を抑制する対
策を効率よくかつ的確にとることができないという問題
点があった。

【０００５】この発明は、上述した従来例による問題点
を解消するため、効率的な電磁波（不要輻射スペクト
ル）抑制対策等のための、複数のクロック周波数の発生
源を有する電子機器のスペクトルの全体としての分析を
迅速にかつ正確におこなうことができるスペクトル分析
装置、スペクトル分析方法、およびその方法をコンピュ
ータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読
み取り可能な記録媒体を提供することを目的とする。

【０００６】

【課題を解決するための手段】上述した課題を解決し、
目的を達成するため、請求項１に記載の発明に係るスペ
クトル分析装置は、複数のクロック周波数の発生源を有
する電子機器のスペクトルを分析するスペクトル分析装
置において、前記電子機器の電磁界測定をおこなった結
果として得られる周波数に対応するスペクトルデータを
入力するスペクトルデータ入力手段と、前記スペクトル
データ入力手段により入力されたスペクトルデータか
ら、周辺の周波数に対して突出した量のスペクトルを有
するスペクトルピーク周波数を抽出するスペクトルピー
ク周波数抽出手段と、前記スペクトルピーク周波数抽出
手段により抽出されたスペクトルピーク周波数が前記複
数のクロック周波数のうちのどの発生源のクロック周波
数に対応するかを解析するスペクトルピーク周波数解析
手段と、を備えたことを特徴とする。

【０００７】この請求項１に記載の発明によれば、スペ
クトルピーク周波数がどの発生源のクロック周波数に対
応するかをスペクトルピーク周波数ごとに効率よく解析
することができる。

【０００８】また、請求項２に記載の発明に係るスペク
トル分析装置は、請求項１に記載の発明において、前記
スペクトルピーク周波数解析手段が、前記スペクトルピ
ーク周波数抽出手段により抽出されたスペクトルピーク
周波数がどの発生源のクロック周波数に対応するかを、
前記各スペクトルピーク周波数を前記各クロック周波数
で除算することにより解析することを特徴とする。

【０００９】この請求項２に記載の発明によれば、スペ
クトルピーク周波数がどの発生源のクロック周波数に対
応するかを簡易な方法で高速に解析することができる。

【００１０】また、請求項３に記載の発明に係るスペク
トル分析装置は、請求項２に記載の発明において、前記
スペクトルピーク周波数解析手段が、前記各スペクトル
ピーク周波数を前記各クロック周波数で除算し、除算の
結果が整数値になるクロック周波数の発生源を特定し、
前記スペクトルピーク周波数におけるスペクトルは前記
特定した発生源から出されたものと解析することを特徴
とする。

【００１１】この請求項３に記載の発明によれば、スペ
クトルピーク周波数がどの発生源のクロック周波数に対
応するかを簡易な方法で正確に解析することができる。

【００１２】また、請求項４に記載の発明に係るスペク
トル分析装置は、請求項１〜３に記載の発明において、
さらに、表示画面を有する表示手段と、前記表示手段を
制御して、前記スペクトルピーク周波数解析手段により
解析された結果を前記表示画面に表示する表示制御手段
と、を備えたことを特徴とする。

【００１３】この請求項４に記載の発明によれば、発生
源ごとにスペクトル周波数全体に渡る解析結果を的確に
把握することができる。

【００１４】また、請求項５に記載の発明に係るスペク
トル分析装置は、請求項４記載の発明において、前記表
示制御手段が、前記表示手段を制御して、前記スペクト
ルピーク周波数解析手段により解析された前記発生源ご
とのスペクトルピーク周波数に対するスペクトル量を表
示することを特徴とする。

【００１５】この請求項５に記載の発明によれば、すべ
ての発生源の周波数に対するスペクトル量を同時に見る
ことができ、問題となる発生源の特定を容易にかつ迅速
におこなうことができる。

【００１６】また、請求項６に記載の発明に係るスペク
トル分析装置は、請求項４または５に記載の発明におい
て、前記スペクトルピーク周波数解析手段により解析さ
れた前記スペクトルピーク周波数に対するスペクトル量
を前記発生源ごとに累積する累積手段を備え、前記表示
制御手段が、前記表示手段を制御して、前記累積手段に
より累積された累積スペクトル量を表示することを特徴
とする。

【００１７】この請求項６に記載の発明によれば、スペ
クトルを多く放射している発生源を容易に認識すること
ができる。

【００１８】また、請求項７に記載の発明に係るスペク
トル分析装置は、請求項４〜６に記載の発明において、
前記スペクトルピーク周波数解析手段により解析された
結果をすでに解析された別の解析結果と比較する比較手
段を備え、前記表示制御手段が、前記表示手段を制御し
て、前記比較手段により比較された解析結果を表示する
ことを特徴とする。

【００１９】この請求項７に記載の発明によれば、別の
解析結果との比較においてスペクトルピーク周波数ごと
のスペクトル量がどのくらい変化したかを容易に認識す
ることができる。

【００２０】また、請求項８に記載の発明に係るスペク
トル分析装置は、請求項７に記載の発明において、前記
比較手段が、前記すでに解析された別の解析結果のう
ち、前記発生源ごとのスペクトルピーク周波数に対する
スペクトル量または／および前記累積スペクトル量の差
分を算出し、前記表示制御手段が、前記表示手段を制御
して、前記比較手段により算出された前記発生源ごとの
スペクトルピーク周波数に対するスペクトル量または／
および前記累積スペクトル量の差分を表示することを特
徴とする。

【００２１】この請求項８に記載の発明によれば、別の
解析結果との比較において発生源ごとのスペクトル量が
どのくらい変化したかを容易に認識することができる。

【００２２】また、請求項９に記載の発明に係るスペク
トル分析方法は、複数のクロック周波数の発生源を有す
る電子機器のスペクトルを分析するスペクトル分析方法
において、前記電子機器の電磁界測定をおこなった結果
として得られる周波数に対応するスペクトルデータを入
力するスペクトルデータ入力工程と、前記スペクトルデ
ータ入力工程により入力されたスペクトルデータから、
周辺の周波数に対して突出した量のスペクトルを有する
スペクトルピーク周波数を抽出するスペクトルピーク周
波数抽出工程と、前記スペクトルピーク周波数抽出工程
により抽出されたスペクトルピーク周波数が前記複数の
クロック周波数のうちのどの発生源のクロック周波数に
対応するかを解析するスペクトルピーク周波数解析工程
と、を含んだことを特徴とする。

【００２３】この請求項９に記載の発明によれば、スペ
クトルピーク周波数がどの発生源のクロック周波数に対
応するかをスペクトルピーク周波数ごとに効率よく解析
することができる。

【００２４】また、請求項１０に記載の発明に係るスペ
クトル分析方法は、請求項９に記載の発明において、前
記スペクトルピーク周波数解析工程が、前記スペクトル
ピーク周波数抽出工程により抽出されたスペクトルピー
ク周波数がどの発生源のクロック周波数に対応するか
を、前記各スペクトルピーク周波数を前記各クロック周
波数で除算することにより解析することを特徴とする。

【００２５】この請求項１０に記載の発明によれば、ス
ペクトルピーク周波数がどの発生源のクロック周波数に
対応するかを簡易な方法で高速に解析することができ
る。

【００２６】また、請求項１１に記載の発明に係るスペ
クトル分析方法は、請求項１０に記載の発明において、
前記スペクトルピーク周波数解析工程が、前記各スペク
トルピーク周波数を前記各クロック周波数で除算し、除
算の結果が整数値になるクロック周波数の発生源を特定
し、前記スペクトルピーク周波数におけるスペクトルは
前記特定した発生源から出されたものと解析することを
特徴とする。

【００２７】この請求項１１に記載の発明によれば、ス
ペクトルピーク周波数がどの発生源のクロック周波数に
対応するかを簡易な方法で正確に解析することができ
る。

【００２８】また、請求項１２に記載の発明に係るスペ
クトル分析方法は、請求項９〜１１に記載の発明におい
て、さらに、前記スペクトルピーク周波数解析工程によ
り解析された結果を表示する表示工程を含んだことを特
徴とする。

【００２９】この請求項１２に記載の発明によれば、発
生源ごとにスペクトル周波数全体に渡る解析結果を的確
に把握することができる。

【００３０】また、請求項１３に記載の発明に係るスペ
クトル分析方法は、請求項１２に記載の発明において、
前記表示工程が、前記スペクトルピーク周波数解析工程
により解析された前記発生源ごとのスペクトルピーク周
波数に対するスペクトル量を表示することを特徴とす
る。

【００３１】この請求項１３に記載の発明によれば、す
べての発生源の周波数に対するスペクトル量を同時に見
ることができ、問題となる発生源の特定を容易にかつ迅
速におこなうことができる。

【００３２】また、請求項１４に記載の発明に係るスペ
クトル分析方法は、請求項１２または１３に記載の発明
において、前記スペクトルピーク周波数解析工程により
解析された前記スペクトルピーク周波数に対するスペク
トル量を前記発生源ごとに累積する累積工程を含み、前
記表示工程が、前記累積工程により累積された累積スペ
クトル量を表示することを特徴とする。

【００３３】この請求項１４に記載の発明によれば、ス
ペクトルを多く放射している発生源を容易に認識するこ
とができる。

【００３４】また、請求項１５に記載の発明に係るスペ
クトル分析方法は、請求項１２〜１４に記載の発明にお
いて、前記スペクトルピーク周波数解析工程により解析
された結果をすでに解析された別の解析結果と比較する
比較工程を含み、前記表示工程が、前記比較工程により
比較された解析結果を表示することを特徴とする。

【００３５】この請求項１５に記載の発明によれば、別
の解析結果との比較においてスペクトルピーク周波数ご
とのスペクトル量がどのくらい変化したかを容易に認識
することができる。

【００３６】また、請求項１６に記載の発明に係るスペ
クトル分析方法は、請求項１５に記載の発明において、
前記比較工程が、前記すでに解析された別の解析結果の
うち、前記発生源ごとのスペクトルピーク周波数に対す
るスペクトル量または／および前記累積スペクトル量の
差分を算出し、前記表示工程が、前記比較工程により算
出された前記発生源ごとのスペクトルピーク周波数に対
するスペクトル量または／および前記累積スペクトル量
の差分を表示することを特徴とする。

【００３７】この請求項１６に記載の発明によれば、別
の解析結果との比較において発生源ごとのスペクトル量
がどのくらい変化したかを容易に認識することができ
る。

【００３８】また、請求項１７に記載の発明に係る記憶
媒体は、請求項９〜１６に記載された方法をコンピュー
タに実行させるプログラムを記録したことで、そのプロ
グラムを機械読み取り可能となり、これによって、請求
項９〜１６の動作をコンピュータによって実現すること
が可能である。

【００３９】

【発明の実施の形態】以下に添付図面を参照して、この
発明に係るスペクトル分析装置、スペクトル分析方法、
およびその方法をコンピュータに実行させるプログラム
を記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体の好適
な実施の形態について詳細に説明する。

【００４０】〔実施の形態１〕 （スペクトル分析装置の概要）実施の形態１によるスペ
クトル分析装置は、電波暗室や実験室で測定された電子
機器の不要輻射スペクトル測定結果を上記装置が処理で
きるようなコンピュータ処理可能なデータ形式に変換
し、自動的に分析を加え、分析結果の報告書を自動的に
作成するソフトウエア群より構成されている。

【００４１】この装置によって分析結果報告書作成を自
動化することにより、設計者の負担を軽減し、従来目測
と試行錯誤的な実験に頼っていた部分を定量的に把握で
きるようになり、実験結果に対する正確な把握が可能と
なることにより、対策のトレードオフ現象の把握は最小
限（コストミニマム）の対策の選択がやりやすくなるば
かりでなく、一定の書式で作成された分析データを蓄積
・分類することにより共通した問題点の抽出をおこなえ
ば、予防策をあらかじめ用意することも可能にする取り
組むへの展望を開くことができる。

【００４２】（ハードウエア構成）まず、この発明の実
施の形態１によるスペクトル分析装置のハードウエア構
成について説明する。図１は、実施の形態１によるスペ
クトル分析装置のハードウエア構成を示すブロック図で
ある。

【００４３】図１において、１０１はスペクトル分析装
置全体を制御するＣＰＵを、１０２はブートプログラム
等を記憶したＲＯＭを、１０３はＣＰＵ１０１のワーク
エリアとして使用されるＲＡＭを、１０４はＣＰＵ１０
１の制御にしたがってＨＤ（ハードディスク）１０５に
対するデータのリード／ライトを制御するＨＤＤ（ハー
ドディスクドライブ）を、１０５はＨＤＤ１０４の制御
で書き込まれたデータを記憶するＨＤをそれぞれ示して
いる。

【００４４】また、１０６はＣＰＵ１０１の制御にした
がってＦＤ（フロッピーディスク）１０７に対するデー
タのリード／ライトを制御するＦＤＤ（フロッピーディ
スクドライブ）を、１０７はＦＤＤ１０６の制御で書き
込まれたデータを記憶する着脱自在な記憶媒体の一例と
してのＦＤを、１０８はドキュメント、表やグラフを含
む画像、機能情報等を表示するディスプレイをそれぞれ
示している。

【００４５】また、１０９は通信回線１１０を介してネ
ットワークに接続され、そのネットワークＮＥＴと内部
のインターフェイスを司るインターフェイス（Ｉ／Ｆ）
を、１１１は文字、数値、各種指示等の入力のためのキ
ーを備えたキーボードを、１１２はカーソルの移動や範
囲選択、あるいは表示画面に表示されたアイコンやボタ
ンの押下やウインドウの移動やサイズの変更等をおこな
うマウスをそれぞれ示している。

【００４６】また、１１３はＯＣＲ（Ｏｐｔｉｃａｌ
Ｃｈａｒａｃｔｅｒ Ｒｅａｄｅｒ）機能を備えた画像
を光学的に読み取るスキャナを、１１４は検索結果その
他表示画面に表示されたデータの内容等を印刷するプリ
ンタを、１１５は上記各部を結合するためのバスをそれ
ぞれ示している。

【００４７】また、ＨＤ１０５には後述するスペクトル
分析ソフトウエア、データ変換ソフトウエア、表計算ソ
フトウエア、インターネット等のネットワークへの接続
ソフトウエア等のアプリケーションソフトウエアや、動
的書式マクロプログラム等のマクロプログラムが記憶さ
れているようにしてもよい。

【００４８】（機能的構成）つぎに、実施の形態１によ
るスペクトル分析装置の機能的構成について説明する。
図２は、実施の形態１によるスペクトル分析装置の構成
を機能的に示すブロック図である。

【００４９】図２のブロック図において、スペクトル分
析装置は、スペクトルデータ入力部２０１と、スペクト
ルピーク周波数抽出部２０２と、スペクトルピーク周波
数解析部２０３と、表示制御部２０４と、表示部２０５
と、累積部２０６とを含む構成である。

【００５０】スペクトル入力部２０１は、複数のクロッ
ク周波数の発生源を有する電子機器の電磁界測定をおこ
なった結果得られる周波数に対応するスペクトルデータ
を入力する。スペクトルデータの入力は、たとえば、ス
ペクトルデータが記憶されたＦＤ１０５をＦＤＤ１０６
で読み取ることにより入力することができる。また、ネ
ットワークＮＥＴを介してＩ／Ｆ１０９によりスペクト
ルデータを入力するようにしてもよい。

【００５１】スペクトルピーク周波数抽出部２０２は、
スペクトルデータ入力部２０１により入力されたスペク
トルデータから、周辺の周波数に対して突出した量のス
ペクトルを有するスペクトルピーク周波数を抽出する。
スペクトルピーク周波数の抽出処理の具体的内容につい
ては後述する。

【００５２】スペクトルピーク周波数解析部２０３は、
スペクトルピーク周波数抽出部２０２により抽出された
スペクトルピーク周波数が前記複数のクロック周波数の
うちのどの発生源のクロック周波数に対応するかを解析
する。

【００５３】また、スペクトルピーク周波数解析部２０
３は、スペクトルピーク周波数抽出部２０２により抽出
されたスペクトルピーク周波数がどの発生源のクロック
周波数に対応するかを、各スペクトルピーク周波数を各
クロック周波数で除算することにより解析する。

【００５４】また、スペクトルピーク周波数解析部２０
３は、各スペクトルピーク周波数を各クロック周波数で
除算し、除算の結果が整数値になるクロック周波数の発
生源を特定し、前記スペクトルピーク周波数におけるス
ペクトルは前記特定した発生源から出されたものと解析
する。

【００５５】表示制御部２０４は、表示画面を有する表
示部２０５を制御して、スペクトルピーク周波数解析部
２０３により解析された結果を前記表示画面に表示す
る。また、表示制御部２０４は、表示部２０５を制御し
て、スペクトルピーク周波数解析部２０３により解析さ
れた発生源ごとのスペクトルピーク周波数に対するスペ
クトル量を表示する。

【００５６】累積部２０６は、スペクトルピーク周波数
解析部２０３により解析されたスペクトルピーク周波数
に対するスペクトル量を発生源ごとに累積する。その
際、表示制御部２０４は、表示部２０５を制御して、累
積部２０６により累積された累積スペクトル量を表示す
る。

【００５７】なお、スペクトルデータ入力部２０１、ス
ペクトルピーク周波数抽出部２０２、スペクトルピーク
周波数解析部２０３、表示制御部２０４、表示部２０
５、累積部２０６は、ＲＯＭ１０２、ＲＡＭ１０３、あ
るいはハードディスク１０５等の記録媒体に記録された
プログラム等に記載された命令にしたがってＣＰＵ１０
１等が命令処理を実行することにより、各部の機能を実
現するようにしてもよい。

【００５８】（ソフトウエア群およびデータの内容）つ
ぎに、実施の形態１に係るスペクトル分析装置の各機能
を実現するためのソフトウエア群およびデータの内容に
ついて説明する。図３は、実施の形態１に係るスペクト
ル分析装置の各機能を実現するためのソフトウエア群お
よびデータを示す説明図である。

【００５９】図３において、スペクトル分析装置３００
は、データ変換ソフトウエア３０３と、スペクトル分析
ソフトウエア３０６と、表計算ソフトウエア３０８と、
動的書式マクロプログラム３０９等の各ソフトウエア
（プログラム）を有している。

【００６０】また、スペクトル分析装置３００は、デー
タ変換ソフトウエアによりデータ変換された水平偏波ス
ペクトルデータファイル３４１と垂直偏波スペクトルデ
ータファイル３４２とからなるＣＳＶ形式データファイ
ル３０４と、分析用データファイル３０５（発生源リス
トファイル３５１、電波規格データファイル３５２、周
波数補正データファイル３５３、初期化ファイルである
ＩＮＩファイル３５４）と、スペクトル分析ソフトウエ
ア３０６により分析された結果に関するＣＳＶ形式デー
タファイル３０７（統計分析データファイル３７１、フ
ィルタデータファイル３７２、高調波リストファイル３
７３）と、報告書データベース３１０等を有する。

【００６１】また、スペクトル分析装置３００とは別個
に、電波暗室計測器制御ソフトウエア３０１および電波
暗室測定データファイル３０２を備える。電波暗室計測
器制御ソフトウエア３０１により得られた電波暗室測定
データファイル３０２に格納されたデータは、データ変
換ソフトウエア３０３により、水平偏波スペクトルデー
タおよび垂直偏波スペクトルデータに変換される。

【００６２】データ変換後、変換された水平偏波スペク
トルデータおよび垂直偏波スペクトルデータを、水平偏
波スペクトルデータファイル３４１または水平偏波スペ
クトルデータファイル３４２にそれぞれ格納する。水平
偏波スペクトルデータの一例を図４に示す。また、垂直
偏波スペクトルデータの一例を図５に示す。

【００６３】（分析用データファイル３０５）つぎに、
分析用データファイル３０５の内容について説明する。
分析用データには、発生源リストファイル３５１と、電
波規格データファイル３５２と、周波数補正データファ
イル３５３と、初期化ファイルであるＩＮＩファイル３
５４を含んでいる。

【００６４】発生源リストファイル３５１には、「発生
源名」，「発振周波数」，「クロック処理デバイス
名」，「参考になる代表的分周数」等が格納される。発
生源リストの一例を図６に示す。

【００６５】電波規格データファイル３５２には、「周
波数」，「規格値」等が格納される。データ行のならび
は周波数の昇順で、周波数の単位は〔ＭＨｚ〕であり、
規格値の単位は〔ｄＢμＶ／ｍ〕である。これはいわゆ
るピースワイズリニアと呼ばれるデータ形式で、折れ線
の頂点座標データの集まりを示す。電波規格値データの
一例を図７に示す。

【００６６】周波数補正データファイル３５３には、
「周波数」，「周波数誤差」等が格納される。データ行
ならびは周波数の昇順で、周波数の単位は〔ＭＨｚ〕で
あり、周波数誤差値の単位は〔ｄＢμＶ／ｍ〕である。
データ形式は、電波規格データファイル３５２と同様に
ピースワイズリニアのデータ形式である。周波数補正デ
ータの一例を図８に示す。

【００６７】（ＣＳＶ形式データファイル３０７）つぎ
に、ＣＳＶ形式データファイル３０７の内容について説
明する。ＣＳＶ形式データ３０７には、統計分析データ
ファイル３７１と、フィルタデータファイル３７２と、
高調波リストファイル３７３を含んでいる。

【００６８】統計分析データファイル３７１には、各発
生源に対する統計分析結果を格納する。統計とは、検出
されたピークのある部分のリニアスペクトルグラフの面
積に相当する。これによって、スペクトルの全体がどれ
くらいの量があるかを把握することができる。

【００６９】統計分析データのデータフォーマットは、
「発生源」，「発生源スペクトル値」，「分周値」，
「観測周波数」，「設計周波数」，「クロック処理デバ
イス」となる。周波数の単位は〔ＭＨｚ〕であり、統計
結果である「発生源スペクトル値」の単位は〔ＭＨｚｄ
ＢμＶ／ｍ〕である。

【００７０】フィルタデータファイル３７２には、各発
生源ごとに抽出した高調波のスペクトルデータを格納す
る。このデータは各発生源ごとの周波数特性を見るのに
使用する。書式は、「周波数」，「観測値データ値」，
「ブロードスペクトル値」，「規格値」，「発生源高調
波１」，・・・，「発生源高調波ｎ」となる。「発生源
高調波」の順は発生源リスト順となる。周波数の単位は
〔ＭＨｚ〕であり、スペクトル値の単位は〔ｄＢμＶ／
ｍ〕である。

【００７１】高調波リストファイル３７３には、各発生
源の３０ＭＨｚ〜１ＧＨｚまでの各高調波番号に対する
観測値と周波数誤差、補正値などのデータを出力したプ
ログラムでバック用データを格納する。最後の補正値と
誤差値は周波数補正データを作成する際に利用する。

【００７２】高調波リストのデータのフォーマットは、
「観測値」，「発生源」，「クロック処理デバイス」，
「源振周波数」，「高調波番号」，「観測周波数」，
「検出周波数」，「励振周波数」，「誤差値」，「補正
値」となる。「補正値」は、周波数補正データに基づく
観測周波数に対する本来あるべき周波数からの補正値で
ある。

【００７３】「誤差値」は、補正後の周波数に対して本
来あるべき周波数からの差である。「誤差値」と「補正
値」の和を取ると、観測周波数に対する補正値になる。
すなわち、「誤差値」は周波数データに対する補正値で
ある。

【００７４】（スペクトルピーク周波数抽出処理の内
容）つぎに、スペクトルピーク周波数抽出処理の内容に
ついて説明する。図９は、スペクトルピーク周波数抽出
処理の手順を示すフローチャートである。図９のフロー
チャートにおいて、まず、注目する周波数ｎにおけるス
ペクトル量を入力数する（ステップＳ９０１）。ここ
で、この値をＡとする。

【００７５】つぎに、注目する周波数よりも所定数だけ
低い周波数ｎ−１におけるスペクトル量を入力する（ス
テップＳ９０２）。ここで、この値をＢとする。さら
に、注目する周波数よりも所定数だけ高い周波数ｎ＋１
におけるスペクトル量を入力する（ステップＳ９０
３）。ここで、この値をＣとする。

【００７６】つぎに、上記ＡおよびＢを比較する（ステ
ップＳ９０４）。ここで、Ａ＞Ｂでない場合（ステップ
Ｓ９０４否定）は、なにもせずに、リターンされる。一
方、Ａ＞Ｂである場合（ステップＳ９０４肯定）は、つ
ぎに、上記ＡおよびＣを比較する（ステップＳ９０
５）。

【００７７】ステップＳ９０５において、Ａ＜Ｃでない
場合（ステップＳ９０５否定）は、なにもせずに、リタ
ーンされる。一方、Ａ＞Ｃである場合（ステップＳ９０
５肯定）は、注目する周波数ｎをスペクトルピーク周波
数として抽出し、かつ記憶する（ステップＳ９０６）。
その後、リターンされる。この処理をすべての周波数に
おいて繰り返しおこなうことにより、全スペクトルピー
ク周波数を抽出することができる。

【００７８】図１０は、スペクトルピーク周波数を示す
説明図である。図１０に示すように、周辺の周波数と比
較してスペクトル量が多くなっている周波数をスペクト
ルピーク周波数とする。図１０においては、Ｐ１、Ｐ
２、・・・がスペクトルピーク周波数である。

【００７９】（スペクトルピーク周波数解析処理の内
容）つぎに、スペクトルピーク周波数解析処理の内容に
ついて説明する。図１１は、スペクトルピーク周波数解
析処理の手順を示すフローチャートである。図１１のフ
ローチャートにおいて、まず、複数抽出されたスペクト
ルピーク周波数のうち、最初のスペクトルピーク周波数
を入力する（ステップＳ１１０１）。最初のルピーク周
波数とは、複数抽出されたスペクトルピーク周波数のう
ちの任意のスペクトルピーク周波数であり、ここではも
っとも低いスペクトルピーク周波数とすることができ
る。

【００８０】つぎに、複数の発生源のクロック周波数の
うちの最初の発生源のクロック周波数を入力する（ステ
ップＳ１１０２）。ここでも同様に、最初の発生源のク
ロック周波数とは、複数ある発生源のクロック周波数の
うちの任意のクロック周波数である。

【００８１】つぎに、スペクトルピーク周波数を、発生
源のクロック周波数で除算する（ステップＳ１１０
３）。すなわち、 （スペクトルピーク周波数）÷（発生源のクロック周波
数） を実行する。

【００８２】そして、除算の結果が整数値になるか否か
を判断する（ステップＳ１１０４）。ここで、上記除算
をおこない、除算の結果が整数値になるか否かを判断す
るのは、除算の結果が整数値になれば、ピークとなった
スペクトル量は当該発生源が原因となっているというこ
とがわかるからである。

【００８３】したがって、除算の結果、整数値の場合
（ステップＳ１１０４肯定）は、当該発生源に対応させ
てスペクトルピーク周波数および当該スペクトルピーク
周波数におけるスペクトル量を所定の記憶領域（たとえ
ば、ＲＡＭ１０３等）に格納する（ステップＳ１１０
５）。

【００８４】一方、ステップＳ１１０４において、除算
の結果が整数値にならない場合（ステップＳ１１０４否
定）は、ピークとなったスペクトル量は当該発生源とは
なんら関連性がないと判断できるため、なにもせずに、
ステップＳ１１０６へ移行する。

【００８５】つぎに、ステップＳ１１０６において、最
後の発生源のクロック周波数であるか否かを判断する。
すなわち、すべての発生源のクロック周波数について上
記ステップＳ１１０３〜Ｓ１１０５の各処理をおこなっ
たか否かを判断するものである。

【００８６】ステップＳ１１０６において、最後の発生
源のクロック周波数でない場合（ステップＳ１１０６否
定）、すなわち、未だ、すべての発生源クロック周波数
について上記各処理（除算処理）がおこなわれていない
場合は、つぎの発生源のクロック周波数、すなわち、未
だ、上記各処理（除算処理）なおこなわれていない発生
源のクロック周波数を入力し（ステップＳ１１０７）、
その後、ステップＳ１１０３へ移行し、以後、ステップ
Ｓ１１０３〜Ｓ１１０７の各処理を繰り返しおこなう。

【００８７】すなわち、６種類の発生源のクロック周波
数がある場合は、一つのスペクトルピーク周波数に対し
て、各発生源のクロック周波数ごとに上記除算処理をお
こなう。したがって、結果的には上記除算処理は６回繰
り返しておこなわれることになる。

【００８８】また、本実施の形態では、ステップＳ１１
０５における格納処理がおこなわれたか否かに関わら
ず、一つのスペクトルピーク周波数において、上記除算
処理をすべての発生源のクロック周波数ごと（上記の例
では６回）おこなうようにしたが、ステップＳ１１０５
における格納処理がおこなわれた段階で、当該スペクト
ルピーク周波数における上記除算処理を中止するように
してもよい。これによって、さらに高速にスペクトルピ
ーク周波数の解析処理を完了させることができる。

【００８９】つぎに、ステップＳ１１０８において、最
後のスペクトルピーク周波数か否かを判断する。すなわ
ち、すべてのスペクトルピーク周波数について上記ステ
ップＳ１１０２〜Ｓ１１０７の各処理（発生源のクロッ
ク周波数抽出処理）をおこなったか否かを判断するもの
である。

【００９０】ステップＳ１１０８において、最後のスペ
クトルピーク周波数でない場合（ステップＳ１１０８否
定）、すなわち、未だ、すべてのスペクトルピーク周波
数について上記ステップＳ１１０２〜Ｓ１１０７の各処
理（発生源のクロック周波数抽出処理）がおこなわれて
いない場合は、つぎのスペクトルピーク周波数、すなわ
ち、未だ、上記各処理（発生源のクロック周波数抽出処
理）がおこなわれていないスペクトルピーク周波数を入
力し（ステップＳ１１０９）、その後、ステップＳ１１
０２へ移行し、以後、ステップＳ１１０２〜Ｓ１１０９
の各処理を繰り返しおこなう。

【００９１】ステップＳ１１０８において、最後のスペ
クトルピーク周波数である場合（ステップＳ１１０８肯
定）、すなわち、すべてのスペクトルピーク周波数にお
いて、上記発生源のクロック周波数抽出処理が終了した
場合は、スペクトルピーク周波数解析処理を終了する。

【００９２】（解析結果の表示例）つぎに、解析された
結果の表示内容について説明する。図１２は、解析結果
の表示の一例を示す説明図である。図１２において、表
示画面に表示されるのは、統計分析結果１２０１、放射
電磁界測定スペクトル１２０２、放射電界ブロードスペ
クトル１２０３、各発生源の概要１２０４、各発生源の
スペクトル（水平偏波）１２０５、各発生源のスペクト
ル（垂直偏波）１２０６が表示される。また、それらの
上方側には考察記入領域１２０７が表示される。

【００９３】図１３は、実施の形態１に係るスペクトル
分析装置の解析結果の表示の別の一例を示す説明図であ
る。すなわち、図１３は、図１１に表示される統計分析
結果１２０１を表示する拡大表示図である。図１３に示
すように、縦軸には、各発生源が表示され、各発生源ご
とにスペクトル値（量）の累積値が棒グラフで表示され
る。累積値には、水平偏波と垂直偏波が区別できるよう
にしてあり、かつ、水平偏波と垂直偏波とを累積してい
る。このグラフにより、スペクトルを多く放射している
発生源を容易に認識することができる。

【００９４】また、図１４は、実施の形態１に係るスペ
クトル分析装置の解析結果の表示の別の一例を示す説明
図である。すなわち、図１４は、各発生源の概要１２０
４を表示する拡大表示図である。図１４に示すように、
各発生源の概要１２０４には、発生源を表示する項目
と、Ｘ’ｔａｌ〔ＭＨｚ〕を表示する項目と、クロック
処理デバイスを表示する項目と、検出分周数を表示する
項目とからなり、かく発生源ごとの詳細なデータが表示
される。これにより、各発生源の概要を容易に知ること
ができる。

【００９５】また、図１５は、実施の形態１に係るスペ
クトル分析装置の解析結果の表示の別の一例を示す説明
図である。すなわち、図１５は、各発生源のスペクトル
（水平偏波）１２０５を表示する拡大表示図である。図
１５に示すように、各発生源ごとに抽出されたピークス
ペクトル周波数およびその周波数におけるスペクトル量
を示すグラフとなっている。これらのグラフにより、す
べての発生源の周波数に対するスペクトル量を同時に見
ることができるので、問題となる発生源の特定を容易に
かつ迅速におこなうことができる。

【００９６】（一連の処理手順）つぎに、実施の形態１
によるスペクトル分析方法の一連の動作の内容について
説明する。図１６は、実施の形態１に係るスペクトル分
析方法の一連の動作の流れを示すフローチャートであ
る。図１６のフローチャートにおいて、まず、スペクト
ルデータを入力する（ステップＳ１６０１）。つぎに、
スペクトルピーク周波数を上述した抽出方法により抽出
する（ステップＳ１６０２）。

【００９７】つぎに、上記ステップＳ１６０２により抽
出されたスペクトルピーク周波数を解析し、そのスペク
トルピークがどの発生源のクロック周波数に起因してい
るかを解析する（ステップＳ１６０３）。この解析方法
も上述の通りであるので、詳細な説明は省略する。

【００９８】この解析をすべてのスペクトルピーク周波
数に対しておこない、すべてのスペクトルピーク周波数
の改正が終了した場合（ステップＳ１６０４肯定）に、
つぎに解析結果を表示し（ステップＳ１６０５）、解析
結果を表示した後、一連のすべての処理を終了する。

【００９９】以上説明したように、実施の形態１によれ
ば、スペクトルデータ入力部２０１が、電子機器の電磁
界測定をおこなった結果として得られる周波数に対応す
るスペクトルデータを入力し、スペクトルピーク周波数
抽出部２０２が、入力されたスペクトルデータから、周
辺の周波数に対して突出した量のスペクトルを有するス
ペクトルピーク周波数を抽出し、スペクトルピーク周波
数解析部２０３が、抽出されたスペクトルピーク周波数
が前記複数のクロック周波数のうちのどの発生源のクロ
ック周波数に対応するかを解析するので、スペクトルピ
ーク周波数がどの発生源のクロック周波数に対応するか
をスペクトルピーク周波数ごとに効率よく解析すること
ができ、これにより、複数のクロック周波数の発生源を
有する電子機器のスペクトルの全体としての分析を迅速
にかつ正確におこなうことができる。

【０１００】また、スペクトルピーク周波数解析部２０
３が、抽出されたスペクトルピーク周波数がどの発生源
のクロック周波数に対応するかを、各スペクトルピーク
周波数を各クロック周波数で除算することにより解析す
るので、スペクトルピーク周波数がどの発生源のクロッ
ク周波数に対応するかを簡易な方法で高速に解析するこ
とができる。

【０１０１】また、前記スペクトルピーク周波数解析部
２０３が、各スペクトルピーク周波数を各クロック周波
数で除算し、除算の結果が整数値になるクロック周波数
の発生源を特定し、スペクトルピーク周波数におけるス
ペクトルは前記特定した発生源から出されたものと解析
するので、スペクトルピーク周波数がどの発生源のクロ
ック周波数に対応するかを簡易な方法で正確に解析する
ことができる。

【０１０２】また、表示制御部２０４が、表示画面を有
する表示部２０５を制御して、スペクトルピーク周波数
解析部２０３により解析された結果を表示画面に表示す
るので、発生源ごとにスペクトル周波数全体に渡る解析
結果を的確に把握することができる。

【０１０３】また、前記表示制御部２０４がスペクトル
ピーク周波数解析部２０３により解析された発生源ごと
のスペクトルピーク周波数に対するスペクトル量を表示
するので、すべての発生源の周波数に対するスペクトル
量を同時に見ることができ、問題となる発生源の特定を
容易にかつ迅速におこなうことができる。

【０１０４】また、累積部２０６が、スペクトルピーク
周波数解析部２０３により解析されたスペクトルピーク
周波数に対するスペクトル量を発生源ごとに累積し、表
示制御部２０４が、表示部２０５を制御して、累積され
た累積スペクトル量を表示するので、スペクトルを多く
放射している発生源を容易に認識することができる。

【０１０５】上記の効果にともない、さらに以下のよう
な効果を奏するものである。 （１）問題となるスペクトルピークの発生源（クロック
やデバイス）を迅速に特定することができる。 （２）対策後の発生源ごとの効果を確認することができ
る。 （３）対策部品の効果を把握（対策部品の必要最小限
化、コストミニマム化）することができる。 （４）分析データの蓄積・分類による共通問題点を把握
することができる。

【０１０６】〔実施の形態２〕さて、上述した実施の形
態１にあっては、一つの解析結果を表示するようにした
が、以下に説明する実施の形態２のように、複数の解析
結果を比較して表示するようにしてもよい。なお、実施
の形態２によるスペクトル分析装置のハードウエア構成
は、実施の形態１と同様であるので、その説明は省略す
る。また、実施の形態２によるスペクトル分析装置のソ
フトウエア群およびデータの内容についても実施の形態
１と同様であるので、その説明は省略する。

【０１０７】（機能的構成）まず、実施の形態２に係る
スペクトル分析装置の機能的構成について説明する。図
１７は、実施の形態２に係るスペクトル分析装置の構成
を機能的に示すブロック図である。なお、図２に示した
実施の形態１と同一の構成部については、同一の符号を
付してその説明を省略する。

【０１０８】図１７のブロック図において、スペクトル
分析装置は、スペクトルデータ入力部２０１と、スペク
トルピーク周波数抽出部２０２と、スペクトルピーク周
波数解析部２０３と、表示制御部２０４と、表示部２０
５と、累積部２０６のほか、記憶部１７０１と、比較部
１７０２とを含む構成である。

【０１０９】記憶部１７０１は、スペクトルピーク周波
数解析部２０３により解析された結果、すなわち、解析
されたスペクトルピーク周波数に対するスペクトル量、
または／および累積部２０５に累積された累積スペクト
ル量を各発生源ごとに記憶する。記憶部１７０１は、ハ
ードディスクドライブ（ＨＤＤ）１０４によりハードデ
ィスク（ＨＤ）１０５に上記データを記憶することによ
り実現する。また、ＨＤ１０５のかわりに、フロッピー
ディスク（ＦＤ）１０５その他の記憶媒体を用いてもよ
い。

【０１１０】比較部１７０２は、スペクトルピーク周波
数解析部２０３により解析された結果をすでに解析され
た別の解析結果であって記憶部１７０１に記憶されてい
る解析結果と比較する。

【０１１１】より具体的には、比較部１７０２は、すで
に解析され、記憶部１７０１に記憶されている別の解析
結果のうち、発生源ごとのスペクトルピーク周波数に対
するスペクトル量または／および前記累積スペクトル量
の差分を算出する。

【０１１２】その際、表示制御部２０４は、表示部２０
５を制御して、比較部１７０２により比較された解析結
果、具体的には、比較部１７０２により算出された発生
源ごとのスペクトルピーク周波数に対するスペクトル量
または／および累積スペクトル量の差分を表示する。差
分であるから、別の解析結果よりもスペクトル量が増加
していればプラス（＋）になり、逆に、減少していれば
マイナス（−）になる。

【０１１３】なお、記憶部１７０１、比較部１７０２
は、ＲＯＭ１０２、ＲＡＭ１０３、あるいはハードディ
スク１０５等の記録媒体に記録されたプログラム等に記
載された命令にしたがってＣＰＵ１０１等が命令処理を
実行することにより、各部の機能を実現するようにして
もよい。

【０１１４】（解析結果の表示例）つぎに、解析された
結果の表示内容について説明する。図１８は、解析結果
の表示の一例を示す説明図である。図１８において、表
示画面に表示されるのは、ッズ１２に示した実施の形態
１と同様に、統計分析結果１８０１、放射電磁界測定ス
ペクトル１８０２、放射電界ブロードスペクトル１８０
３、各発生源の概要１２０４、各発生源のスペクトル
（水平偏波）１８０５、各発生源のスペクトル（垂直偏
波）１８０６が表示される。また、それらの上方側には
考察記入領域１８０７が表示される。

【０１１５】図１９は、実施の形態２に係るスペクトル
分析装置の解析結果の表示の別の一例を示す説明図であ
る。すなわち、図１９は、図１８に表示される統計分析
結果１８０１を表示する拡大表示図である。図１９に示
すように、縦軸には、各発生源が表示され、各発生源ご
とにスペクトル値（量）の累積値の差分、すなわち、比
較の対象となる記憶部１７０２１に記憶された累積値か
ら減算した結果が棒グラフで表示される。累積値の差分
には、水平偏波と垂直偏波が区別できるようにしてあ
り、かつ、水平偏波と垂直偏波とを累積している。

【０１１６】グラフの中央の縦線が差分０を示してお
り、その中央の縦線よりも左側に棒グラフが伸びていれ
ば、スペクトル値が減ったことを示しており、反対に、
中央の縦線よりも右側に棒グラフが伸びていれば、スペ
クトル値が増えたことを示している。このグラフによ
り、スペクトル量の軽減を図るための対策（改善処置）
が有効であったか否かを容易に認識することができる。

【０１１７】また、図２０は、実施の形態２に係るスペ
クトル分析装置の解析結果の表示の別の一例を示す説明
図である。すなわち、図２０は、各発生源のスペクトル
（水平偏波）１８０５を表示する拡大表示図である。図
２０に示すように、各発生源ごとに抽出されたピークス
ペクトル周波数およびその周波数におけるスペクトル量
の差分を示すグラフとなっている。なお、図２０におい
ては、水平偏波１８０５についてのみ示したが、垂直偏
波１８０６についても同様の内容であるので、その説明
は省略する。

【０１１８】これらのグラフにより、すべての発生源の
周波数に対するスペクトル量を同時に見ることができる
ので、問題となる発生源についての改善処置による効果
を発生源全体に渡って容易にかつ迅速に認識することが
できる。

【０１１９】（一連の処理手順）つぎに、実施の形態２
によるスペクトル分析方法の一連の動作の内容について
説明する。図２１は、実施の形態２に係るスペクトル分
析方法の一連の動作の流れを示すフローチャートであ
る。図２１フローチャートにおいて、ステップＳ２１０
１〜Ｓ２１０４までは、図１６に示した実施の形態１に
おけるのフローチャートのステップＳ１６０１〜Ｓ１６
０４までと同様の内容なので、その説明は省略する。

【０１２０】ステップＳ２１０５において、他の解析結
果との比較をすべき旨に指示があったか否かを判断す
る。ここでは、操作者が特定の指示情報が入力されるこ
とにより、比較すべき指示があったか否かを判断するこ
とができる。

【０１２１】ステップＳ２１０５において、比較すべき
旨に指示があった場合（ステップＳ２１０５肯定）は、
つぎに、比較すべき対象となる解析結果に関するデータ
が記憶されているか否かを判断する（ステップＳ２１０
６）。ここで、解析結果に関するデータが記憶されてい
る場合（ステップＳ２１０６肯定）は、互いの解析結果
の比較処理をおこなう。

【０１２２】比較処理の具体的に内容については、上述
の通りであるので、その説明は省略する。その後、ステ
ップＳ２１０７において比較処理された結果を表示し
（ステップＳ２１０８）、すべての処理を終了する。

【０１２３】一方、ステップＳ２１０５において、他の
解析結果との比較をすべき旨に指示がなかった場合（ス
テップＳ２１０５否定）は、図１６に示したステップＳ
１６０５と同様に、解析結果を表示し（ステップＳ２１
１０）、解析結果を表示した後、一連のすべての処理を
終了する。

【０１２４】また、ステップＳ２１０６において、解析
結果に関するデータが記憶されていにない場合（ステッ
プＳ２１０６否定）は、その旨を警告し（ステップＳ２
１０９）、その後、ステップＳ２１１０へ移行する。あ
るいは、図示は省略するが、警告（ステップＳ２１０
９）後、解析結果を記憶するだけで、すべての処理を終
了するようにしてもよい。

【０１２５】以上説明したように、実施の形態２によれ
ば、比較部１７０２が、スペクトルピーク周波数解析部
２０３により解析された結果をすでに解析され、記憶部
１７０１に記憶された別の解析結果と比較し、前記表示
制御部２０４が、表示部２０５を制御して、比較された
解析結果を表示するので、別の解析結果との比較におい
てスペクトルピーク周波数ごとのスペクトル量がどのく
らい変化したかを容易に認識することができ、これによ
り、複数のクロック周波数の発生源を有する電子機器の
スペクトルの全体としての分析を迅速にかつ正確におこ
なうことができる。

【０１２６】また、比較部１７０２が、記憶部１７０１
に記憶された解析結果のうち、発生源ごとのスペクトル
ピーク周波数に対するスペクトル量または／および累積
スペクトル量の差分を算出し、表示制御部２０４が、算
出された発生源ごとのスペクトルピーク周波数に対する
スペクトル量または／および累積スペクトル量の差分を
表示するので、別の解析結果との比較において発生源ご
とのスペクトル量がどのくらい変化したかを容易に認識
することができる。

【０１２７】なお、実施の形態１または２で説明したス
ペクトル分析方法は、あらかじめ用意されたプログラム
をパーソナルコンピュータやワークステーション等のコ
ンピュータで実行することにより実現される。このプロ
グラムは、ハードディスク、フロッピーディスク、ＣＤ
−ＲＯＭ、ＭＯ、ＤＶＤ等のコンピュータで読み取り可
能な記録媒体に記録され、コンピュータによって記録媒
体から読み出されることによって実行される。またこの
プログラムは、上記記録媒体を介して、インターネット
等のネットワークを介して配布することができる。

【０１２８】

【発明の効果】以上説明したように、請求項１の発明に
よれば、入力手段が、前記電子機器の電磁界測定をおこ
なった結果として得られる周波数に対応するスペクトル
データを入力し、スペクトルピーク周波数抽出手段が、
前記スペクトルデータ入力手段により入力されたスペク
トルデータから、周辺の周波数に対して突出した量のス
ペクトルを有するスペクトルピーク周波数を抽出し、ス
ペクトルピーク周波数解析手段が、前記スペクトルピー
ク周波数抽出手段により抽出されたスペクトルピーク周
波数が前記複数のクロック周波数のうちのどの発生源の
クロック周波数に対応するかを解析するので、スペクト
ルピーク周波数がどの発生源のクロック周波数に対応す
るかをスペクトルピーク周波数ごとに効率よく解析する
ことができ、これにより、複数のクロック周波数の発生
源を有する電子機器のスペクトルの全体としての分析を
迅速にかつ正確におこなうことができるスペクトル分析
装置が得られるという効果を奏する。

【０１２９】また、請求項２に記載の発明によれば、請
求項１に記載の発明において、前記スペクトルピーク周
波数解析手段が、前記スペクトルピーク周波数抽出手段
により抽出されたスペクトルピーク周波数がどの発生源
のクロック周波数に対応するかを、前記各スペクトルピ
ーク周波数を前記各クロック周波数で除算することによ
り解析するので、スペクトルピーク周波数がどの発生源
のクロック周波数に対応するかを簡易な方法で高速に解
析することができ、これにより、複数のクロック周波数
の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体としての
分析を迅速にかつ正確におこなうことができるスペクト
ル分析装置が得られるという効果を奏する。

【０１３０】また、請求項３に記載の発明によれば、請
求項２に記載の発明において、前記スペクトルピーク周
波数解析手段が、前記各スペクトルピーク周波数を前記
各クロック周波数で除算し、除算の結果が整数値になる
クロック周波数の発生源を特定し、前記スペクトルピー
ク周波数におけるスペクトルは前記特定した発生源から
出されたものと解析するので、スペクトルピーク周波数
がどの発生源のクロック周波数に対応するかを簡易な方
法で正確に解析することができ、これにより、複数のク
ロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの
全体としての分析を迅速にかつ正確におこなうことがで
きるスペクトル分析装置が得られるという効果を奏す
る。

【０１３１】また、請求項４に記載の発明によれば、請
求項１〜３に記載の発明において、表示制御手段が、表
示画面を有する表示手段を制御して、前記スペクトルピ
ーク周波数解析手段により解析された結果を前記表示画
面に表示するので、発生源ごとにスペクトル周波数全体
に渡る解析結果を的確に把握することができ、これによ
り、複数のクロック周波数の発生源を有する電子機器の
スペクトルの全体としての分析を迅速にかつ正確におこ
なうことができるスペクトル分析装置が得られるという
効果を奏する。

【０１３２】また、請求項５に記載の発明によれば、請
求項４記載の発明において、前記表示制御手段が、前記
表示手段を制御して、前記スペクトルピーク周波数解析
手段により解析された前記発生源ごとのスペクトルピー
ク周波数に対するスペクトル量を表示するので、すべて
の発生源の周波数に対するスペクトル量を同時に見るこ
とができ、問題となる発生源の特定を容易にかつ迅速に
おこなうことができ、これにより、複数のクロック周波
数の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体として
の分析を迅速にかつ正確におこなうことができるスペク
トル分析装置が得られるという効果を奏する。

【０１３３】また、請求項６に記載の発明によれば、請
求項４または５に記載の発明において、累積手段が、前
記スペクトルピーク周波数解析手段により解析された前
記スペクトルピーク周波数に対するスペクトル量を前記
発生源ごとに累積し、前記表示制御手段が、前記表示手
段を制御して、前記累積手段により累積された累積スペ
クトル量を表示するので、スペクトルを多く放射してい
る発生源を容易に認識することができ、これにより、複
数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペク
トルの全体としての分析を迅速にかつ正確におこなうこ
とができるスペクトル分析装置が得られるという効果を
奏する。

【０１３４】また、請求項７に記載の発明によれば、請
求項４〜６に記載の発明において、比較手段が、前記ス
ペクトルピーク周波数解析手段により解析された結果を
すでに解析された別の解析結果と比較し、前記表示制御
手段が、前記表示手段を制御して、前記比較手段により
比較された解析結果を表示するので、別の解析結果との
比較においてスペクトルピーク周波数ごとのスペクトル
量がどのくらい変化したかを容易に認識することがで
き、これにより、複数のクロック周波数の発生源を有す
る電子機器のスペクトルの全体としての分析を迅速にか
つ正確におこなうことができるスペクトル分析装置が得
られるという効果を奏する。

【０１３５】また、請求項８に記載の発明によれば、請
求項７に記載の発明において、前記比較手段が、前記す
でに解析された別の解析結果のうち、前記発生源ごとの
スペクトルピーク周波数に対するスペクトル量または／
および前記累積スペクトル量の差分を算出し、前記表示
制御手段が、前記表示手段を制御して、前記比較手段に
より算出された前記発生源ごとのスペクトルピーク周波
数に対するスペクトル量または／および前記累積スペク
トル量の差分を表示するので、別の解析結果との比較に
おいて発生源ごとのスペクトル量がどのくらい変化した
かを容易に認識することができ、これにより、複数のク
ロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの
全体としての分析を迅速にかつ正確におこなうことがで
きるスペクトル分析装置が得られるという効果を奏す
る。

【０１３６】また、請求項９に記載の発明によれば、ス
ペクトルデータ入力工程が、前記電子機器の電磁界測定
をおこなった結果として得られる周波数に対応するスペ
クトルデータを入力し、スペクトルピーク周波数抽出工
程が、前記スペクトルデータ入力工程により入力された
スペクトルデータから、周辺の周波数に対して突出した
量のスペクトルを有するスペクトルピーク周波数を抽出
し、スペクトルピーク周波数解析工程が、前記スペクト
ルピーク周波数抽出工程により抽出されたスペクトルピ
ーク周波数が前記複数のクロック周波数のうちのどの発
生源のクロック周波数に対応するかを解析するので、ス
ペクトルピーク周波数がどの発生源のクロック周波数に
対応するかをスペクトルピーク周波数ごとに効率よく解
析することができ、これにより、複数のクロック周波数
の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体としての
分析を迅速にかつ正確におこなうことができるスペクト
ル分析方法が得られるという効果を奏する。

【０１３７】また、請求項１０に記載の発明によれば、
請求項９に記載の発明において、前記スペクトルピーク
周波数解析工程が、前記スペクトルピーク周波数抽出工
程により抽出されたスペクトルピーク周波数がどの発生
源のクロック周波数に対応するかを、前記各スペクトル
ピーク周波数を前記各クロック周波数で除算することに
より解析するので、スペクトルピーク周波数がどの発生
源のクロック周波数に対応するかを簡易な方法で高速に
解析することができ、これにより、複数のクロック周波
数の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体として
の分析を迅速にかつ正確におこなうことができるスペク
トル分析方法が得られるという効果を奏する。

【０１３８】また、請求項１１によれば、請求項１０に
記載の発明において、前記スペクトルピーク周波数解析
工程が、前記各スペクトルピーク周波数を前記各クロッ
ク周波数で除算し、除算の結果が整数値になるクロック
周波数の発生源を特定し、前記スペクトルピーク周波数
におけるスペクトルは前記特定した発生源から出された
ものと解析するので、スペクトルピーク周波数がどの発
生源のクロック周波数に対応するかを簡易な方法で正確
に解析することができ、これにより、複数のクロック周
波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体とし
ての分析を迅速にかつ正確におこなうことができるスペ
クトル分析方法が得られるという効果を奏する。

【０１３９】また、請求項１２に記載の発明によれば、
請求項９〜１１に記載の発明において、表示工程が、前
記スペクトルピーク周波数解析工程により解析された結
果を表示するので、発生源ごとにスペクトル周波数全体
に渡る解析結果を的確に把握することができ、これによ
り、複数のクロック周波数の発生源を有する電子機器の
スペクトルの全体としての分析を迅速にかつ正確におこ
なうことができるスペクトル分析方法が得られるという
効果を奏する。

【０１４０】また、請求項１３に記載の発明によれば、
請求項１２に記載の発明において、前記表示工程が、前
記スペクトルピーク周波数解析工程により解析された前
記発生源ごとのスペクトルピーク周波数に対するスペク
トル量を表示するので、すべての発生源の周波数に対す
るスペクトル量を同時に見ることができ、問題となる発
生源の特定を容易にかつ迅速におこなうことができ、こ
れにより、複数のクロック周波数の発生源を有する電子
機器のスペクトルの全体としての分析を迅速にかつ正確
におこなうことができるスペクトル分析方法が得られる
という効果を奏する。

【０１４１】また、請求項１４に記載の発明によれば、
請求項１２または１３に記載の発明において、累積工程
が、前記スペクトルピーク周波数解析工程により解析さ
れた前記スペクトルピーク周波数に対するスペクトル量
を前記発生源ごとに累積し、前記表示工程が、前記累積
工程により累積された累積スペクトル量を表示するの
で、スペクトルを多く放射している発生源を容易に認識
することができ、これにより、複数のクロック周波数の
発生源を有する電子機器のスペクトルの全体としての分
析を迅速にかつ正確におこなうことができるスペクトル
分析方法が得られるという効果を奏する。

【０１４２】また、請求項１５に記載の発明によれば、
請求項１２〜１４に記載の発明において、比較工程が、
前記スペクトルピーク周波数解析工程により解析された
結果をすでに解析された別の解析結果と比較し、前記表
示工程が、前記比較工程により比較された解析結果を表
示するので、別の解析結果との比較においてスペクトル
ピーク周波数ごとのスペクトル量がどのくらい変化した
かを容易に認識することができ、これにより、複数のク
ロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの
全体としての分析を迅速にかつ正確におこなうことがで
きるスペクトル分析方法が得られるという効果を奏す
る。

【０１４３】また、請求項１６に記載の発明によれば、
請求項１５に記載の発明において、前記比較工程が、前
記すでに解析された別の解析結果のうち、前記発生源ご
とのスペクトルピーク周波数に対するスペクトル量また
は／および前記累積スペクトル量の差分を算出し、前記
表示工程が、前記比較工程により算出された前記発生源
ごとのスペクトルピーク周波数に対するスペクトル量ま
たは／および前記累積スペクトル量の差分を表示するの
で、別の解析結果との比較において発生源ごとのスペク
トル量がどのくらい変化したかを容易に認識することが
でき、これにより、複数のクロック周波数の発生源を有
する電子機器のスペクトルの全体としての分析を迅速に
かつ正確におこなうことができるスペクトル分析方法が
得られるという効果を奏する。

【０１４４】また、請求項１７の発明によれば、請求項
９〜１６に記載された方法をコンピュータに実行させる
プログラムを記録したことで、そのプログラムを機械読
み取り可能となり、これによって、請求項９〜１６の動
作をコンピュータによって実現することが可能な記録媒
体が得られるという効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の実施の形態１によるスペクトル分析
装置のハードウエア構成を示すブロック図である。

【図２】実施の形態１に係るスペクトル分析装置の構成
を機能的に示すブロック図である。

【図３】実施の形態１に係るスペクトル分析装置の各機
能を実現するためのソフトウエア群およびデータを示す
説明図である。

【図４】実施の形態１に係るスペクトル分析装置の水平
偏波スペクトルデータの一例を示す説明図である。

【図５】実施の形態１に係るスペクトル分析装置の垂直
偏波スペクトルデータの一例を示す説明図である。

【図６】実施の形態１に係るスペクトル分析装置の発生
源リストの一例の具体的内容の一例を示す説明図であ
る。

【図７】実施の形態１に係るスペクトル分析装置の電波
規格値データの一例を示す説明図である。

【図８】実施の形態１に係るスペクトル分析装置の周波
数補正データの一例を示す説明図である。

【図９】実施の形態１に係るスペクトル分析装置のスペ
クトルピーク周波数抽出処理の手順を示すフローチャー
トである。

【図１０】実施の形態１に係るスペクトル分析装置のス
ペクトルピーク周波数を示す説明図である。

【図１１】実施の形態１に係るスペクトル分析装置のス
ペクトルピーク周波数解析処理の手順を示すフローチャ
ートである。

【図１２】実施の形態１に係るスペクトル分析装置の解
析結果の表示の一例を示す説明図である。

【図１３】実施の形態１に係るスペクトル分析装置の解
析結果の表示の別の一例を示す説明図である。

【図１４】実施の形態１に係るスペクトル分析装置の解
析結果の表示の別の一例を示す説明図である。

【図１５】実施の形態１に係るスペクトル分析装置の解
析結果の表示の別の一例を示す説明図である。

【図１６】実施の形態１に係るスペクトル分析方法の一
連の動作の流れを示すフローチャートである。

【図１７】実施の形態２に係るスペクトル分析装置の構
成を機能的に示すブロック図である。

【図１８】実施の形態２に係るスペクトル分析装置の解
析結果の表示の一例を示す説明図である。

【図１９】実施の形態２に係るスペクトル分析装置の解
析結果の表示の別の一例を示す説明図である。

【図２０】実施の形態２に係るスペクトル分析装置の解
析結果の表示の別の一例を示す説明図である。

【図２１】実施の形態２に係るスペクトル分析方法の一
連の動作の流れを示すフローチャートである。

【符号の説明】

１０１ ＣＰＵ １０２ ＲＯＭ １０３ ＲＡＭ １０４ ＨＤＤ １０５ ＨＤ １０６ ＦＤＤ １０７ ＦＤ １０８ ディスプレイ １０９ Ｉ／Ｆ １１０ 通信回線 １１１ キーボード １１２ マウス １１４ プリンタ １１５ バス ２０１ スペクトルデータ入力部 ２０２ スペクトルピーク周波数抽出部 ２０３ スペクトルピーク周波数解析部 ２０４ 表示制御部 ２０５ 表示部 ２０６ 累積部 ３００ スペクトル分析装置 ３０１ 電波暗室計測器制御ソフトウエア ３０２ 電波暗室測定データファイル ３０３ データ変換ソフトウエア ３０４，３０７ ＣＳＶ形式データファイル ３０５ 分析用データファイル ３０６ スペクトル分析ソフトウエア ３０８ 表計算ソフトウエア ３０９ 動的書式マクロプログラム ３１０ 報告書データベース ３４１ 水平偏波スペクトルデータファイル ３４２ 垂直偏波スペクトルデータファイル ３５１ 発生源リストファイル ３５２ 電波規格データファイル ３５３ 周波数補正データファイル ３５４ ＩＮＩファイル ３７１ 統計分析データファイル ３７２ フィルタデータファイル ３７３ 高調波リストファイル １２０１，１８０１ 統計分析結果 １２０２，１８０２ 放射電磁界測定スペクトル １２０３，１８０３ 放射電界ブロードスペクトル １２０４ 各発生源の概要 １２０５，１８０５ 各発生源のスペクトル（水平偏
波） １２０６，１８０６ 各発生源のスペクトル（垂直偏
波） １２０７，１８０７ 考察記入領域 １７０１ 記憶部 １７０２ 比較部

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中村 隆行 東京都大田区中馬込１丁目３番６号 株式 会社リコー内 (72)発明者 磯邊 滋 東京都大田区中馬込１丁目３番６号 株式 会社リコー内 (72)発明者 柳本 太加志 東京都大田区中馬込１丁目３番６号 株式 会社リコー内

Claims (17)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 複数のクロック周波数の発生源を有する
   電子機器のスペクトルを分析するスペクトル分析装置に
   おいて、 前記電子機器の電磁界測定をおこなった結果として得ら
   れる周波数に対応するスペクトルデータを入力するスペ
   クトルデータ入力手段と、 前記スペクトルデータ入力手段により入力されたスペク
   トルデータから、周辺の周波数に対して突出した量のス
   ペクトルを有するスペクトルピーク周波数を抽出するス
   ペクトルピーク周波数抽出手段と、 前記スペクトルピーク周波数抽出手段により抽出された
   スペクトルピーク周波数が前記複数のクロック周波数の
   うちのどの発生源のクロック周波数に対応するかを解析
   するスペクトルピーク周波数解析手段と、 を備えたことを特徴とするスペクトル分析装置。
2. 【請求項２】 前記スペクトルピーク周波数解析手段
   は、前記スペクトルピーク周波数抽出手段により抽出さ
   れたスペクトルピーク周波数がどの発生源のクロック周
   波数に対応するかを、前記各スペクトルピーク周波数を
   前記各クロック周波数で除算することにより解析するこ
   とを特徴とする請求項１に記載のスペクトル分析装置。
3. 【請求項３】 前記スペクトルピーク周波数解析手段
   は、前記各スペクトルピーク周波数を前記各クロック周
   波数で除算し、除算の結果が整数値になるクロック周波
   数の発生源を特定し、前記スペクトルピーク周波数にお
   けるスペクトルは前記特定した発生源から出されたもの
   と解析することを特徴とする請求項２に記載のスペクト
   ル分析装置。
4. 【請求項４】 さらに、表示画面を有する表示手段と、 前記表示手段を制御して、前記スペクトルピーク周波数
   解析手段により解析された結果を前記表示画面に表示す
   る表示制御手段と、 を備えたことを特徴とする請求項１〜３に記載のスペク
   トル分析装置。
5. 【請求項５】 前記表示制御手段は、前記表示手段を制
   御して、前記スペクトルピーク周波数解析手段により解
   析された前記発生源ごとのスペクトルピーク周波数に対
   するスペクトル量を表示することを特徴とする請求項４
   に記載のスペクトル分析装置。
6. 【請求項６】 前記スペクトルピーク周波数解析手段に
   より解析された前記スペクトルピーク周波数に対するス
   ペクトル量を前記発生源ごとに累積する累積手段を備
   え、 前記表示制御手段は、前記表示手段を制御して、前記累
   積手段により累積された累積スペクトル量を表示するこ
   とを特徴とする請求項４または５に記載のスペクトル分
   析装置。
7. 【請求項７】 前記スペクトルピーク周波数解析手段に
   より解析された結果をすでに解析された別の解析結果と
   比較する比較手段を備え、 前記表示制御手段は、前記表示手段を制御して、前記比
   較手段により比較された解析結果を表示することを特徴
   とする請求項４〜６のいずれか一つに記載のスペクトル
   分析装置。
8. 【請求項８】 前記比較手段は、前記すでに解析された
   別の解析結果のうち、前記発生源ごとのスペクトルピー
   ク周波数に対するスペクトル量または／および前記累積
   スペクトル量の差分を算出し、 前記表示制御手段は、前記表示手段を制御して、前記比
   較手段により算出された前記発生源ごとのスペクトルピ
   ーク周波数に対するスペクトル量または／および前記累
   積スペクトル量の差分を表示することを特徴とする請求
   項７に記載のスペクトル分析装置。
9. 【請求項９】 複数のクロック周波数の発生源を有する
   電子機器のスペクトルを分析するスペクトル分析方法に
   おいて、 前記電子機器の電磁界測定をおこなった結果として得ら
   れる周波数に対応するスペクトルデータを入力するスペ
   クトルデータ入力工程と、 前記スペクトルデータ入力工程により入力されたスペク
   トルデータから、周辺の周波数に対して突出した量のス
   ペクトルを有するスペクトルピーク周波数を抽出するス
   ペクトルピーク周波数抽出工程と、 前記スペクトルピーク周波数抽出工程により抽出された
   スペクトルピーク周波数が前記複数のクロック周波数の
   うちのどの発生源のクロック周波数に対応するかを解析
   するスペクトルピーク周波数解析工程と、 を含んだことを特徴とするスペクトル分析方法。
10. 【請求項１０】 前記スペクトルピーク周波数解析工程
    は、前記スペクトルピーク周波数抽出工程により抽出さ
    れたスペクトルピーク周波数がどの発生源のクロック周
    波数に対応するかを、前記各スペクトルピーク周波数を
    前記各クロック周波数で除算することにより解析するこ
    とを特徴とする請求項９に記載のスペクトル分析方法。
11. 【請求項１１】 前記スペクトルピーク周波数解析工程
    は、前記各スペクトルピーク周波数を前記各クロック周
    波数で除算し、除算の結果が整数値になるクロック周波
    数の発生源を特定し、前記スペクトルピーク周波数にお
    けるスペクトルは前記特定した発生源から出されたもの
    と解析することを特徴とする請求項１０に記載のスペク
    トル分析方法。
12. 【請求項１２】 さらに、前記スペクトルピーク周波数
    解析工程により解析された結果を表示する表示工程を含
    んだことを特徴とする請求項９〜１１に記載のスペクト
    ル分析方法。
13. 【請求項１３】 前記表示工程は、前記スペクトルピー
    ク周波数解析工程により解析された前記発生源ごとのス
    ペクトルピーク周波数に対するスペクトル量を表示する
    ことを特徴とする請求項１２に記載のスペクトル分析方
    法。
14. 【請求項１４】 前記スペクトルピーク周波数解析工程
    により解析された前記スペクトルピーク周波数に対する
    スペクトル量を前記発生源ごとに累積する累積工程を含
    み、 前記表示工程は、前記累積工程により累積された累積ス
    ペクトル量を表示することを特徴とする請求項１２また
    は１３に記載のスペクトル分析方法。
15. 【請求項１５】 前記スペクトルピーク周波数解析工程
    により解析された結果をすでに解析された別の解析結果
    と比較する比較工程を含み、 前記表示工程は、前記比較工程により比較された解析結
    果を表示することを特徴とする請求項１２〜１４のいず
    れか一つに記載のスペクトル分析方法。
16. 【請求項１６】 前記比較工程は、前記すでに解析され
    た別の解析結果のうち、前記発生源ごとのスペクトルピ
    ーク周波数に対するスペクトル量または／および前記累
    積スペクトル量の差分を算出し、 前記表示工程は、前記比較工程により算出された前記発
    生源ごとのスペクトルピーク周波数に対するスペクトル
    量または／および前記累積スペクトル量の差分を表示す
    ることを特徴とする請求項１５に記載のスペクトル分析
    方法。
17. 【請求項１７】 前記請求項９〜１６のいずれか一つに
    記載された方法をコンピュータに実行させるプログラム
    を記録したことを特徴とするコンピュータ読み取り可能
    な記録媒体。