JPS63212826A - フ−リエ変換赤外分光光度計のデ−タ処理装置 - Google Patents

フ−リエ変換赤外分光光度計のデ−タ処理装置

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JPS63212826A
JPS63212826A JP4656087A JP4656087A JPS63212826A JP S63212826 A JPS63212826 A JP S63212826A JP 4656087 A JP4656087 A JP 4656087A JP 4656087 A JP4656087 A JP 4656087A JP S63212826 A JPS63212826 A JP S63212826A
Authority
JP
Japan
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spectrum
water vapor
interfering
carbon dioxide
storage section
Prior art date
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Pending
Application number
JP4656087A
Other languages
English (en)
Inventor
Katsuhiko Ichimura
市村 克彦
Takahiro Tajima
田島 孝博
Hiroshi Yamamoto
山本 裕志
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Filing date
Publication date
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Publication of JPS63212826A publication Critical patent/JPS63212826A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明はフーリエ変換赤外分光光度計において得られた
データを処理する装置に関し、特に測定データから水蒸
気や炭酸ガスなどの妨害成分のスペクトルを取り除くた
めのデータ処理装置に関するものである。
(従来の技術) フーリエ変換赤外分光光度計で試料の測定を行なうと、
その試料スペクトルが大気中の水蒸気や炭酸ガスなどの
妨害成分の影響を受け、それらの妨害成分の吸収ピーク
が試料の測定対象物質の吸収ピークと重なる場合が多い
(発明が解決しようとする問題点) これらの妨害成分の吸収ピークは試料の定性分析や定量
分析の妨げになる。
本発明は測定されたスペクトルから水蒸気や炭酸ガスな
どの妨害成分のスペクトルの影響を取り除くことを目的
とするものである。
(問題点を解決するための手段) 本発明のデータ処理装置を第1図に示す。2は水蒸気及
び炭酸ガスの少なくとも一方を含む妨害成分のスペクト
ル又はインターフェログラム、並びに必要なパラメータ
を含むデータ処理条件を記憶しているパラメータ記憶部
、4は測定された試料スペクトルを記憶する試料スペク
トル記憶部。
3はパラメータ記憶部2から試料スペクトルの条件に合
った妨害スペクトルを得て記憶する妨害スペクトル記憶
部である。6は演算部であり、試料スペクトル記憶部4
の試料スペクトルの指定された波数における吸収ピーク
の吸光度が0になるように、その試料スペクトルと妨害
スペクトル記憶部3の妨害スペクトルとの間の差スペク
トルを求める。8は演算された差スペクトルを記憶する
差スペクトル記憶部、10は差スペクトル記憶部8の内
容を表示する表示部である。
(作用) 第2図のフローチャートを参照して本発明の詳細な説明
する。
データ処理条件が記憶されたパラメータ記憶部2を呼び
出す(ステップS1)、パラメータ記憶部2には必要な
パラメータとして1例えば、水蒸気や炭酸ガスなどの妨
害成分の吸収ピークとベースの波数の値、及び後述の第
4図に示されるような吸収ピークのベースラインの引き
方などが記憶されている。
測定された試料スペクトルを試料スペクトル記憶部4に
FxleAとして記憶する(ステップS2)。
試料スペクトルの分解及びアポダイゼーション関数をチ
ェックし、それに対応した水蒸気スペクトルをパラメー
タ記憶部2から妨害スペクトル記憶部3にFile B
として呼び出す(ステップS3)。
試料スペクトルにおける指定された波数の水蒸気スペク
トルの吸光度が0になるように差スペクトルを実行する
。その結果の差スペクトルは差スペクトル記憶部8にF
ileCとして記憶する(ステップS4)。
試料スペクトルの分解及びアポダイゼーション関数をチ
ェックして、それに対応した炭酸ガススペクトルをパラ
メータ記憶部2から妨害スペクトル記憶部3にFile
Bとして呼び出す(ステップS5)。
FileCの差スペクトルにおける指定された波数の炭
酸ガススペクトルの吸光度が0になるように差スペクト
ルを実行する。その結果の差スペクトルは差スペクトル
記憶部8にFile Dとして記憶する(ステップS6
)。
水蒸気スペクトルと炭酸ガススペクトルのうちいずれか
一方だけを試料スペクトルから引くようにしてもよい。
また、妨害スペクトルはパラメータ記憶部2から呼び出
すのではなく、予め分析者が転送し、呼び出しておいて
もよい。
さらにまた、水蒸気と炭酸ガスの二成分のスペクトルを
除くとき、FileHには水蒸気スペクトル、File
B ’  (もう1つの妨害スペクトル記憶部3)には
炭酸ガススペクトルを格納し演算してもよい。
(実施例) 第3図は本発明をマイクロコンピュータ・システムによ
って実現した実施例を表わしている。
バス12にCPU14、RAM16.ROM18が接続
されている。バス12にはまたインターフェイス20を
介して測定部22が接続され、インターフェイス24を
介してフロッピーディスク装W126が接続され、イン
ターフェイス28を介してCRT表示装!!30が接続
され、インターフェイス32を介してキーボード34が
接続されている。
演算部6はCPU14、RAM16及びROM18によ
り実現され、妨害スペクトル記憶部3、試料スペクトル
記憶部4及び差スペクトル記憶部8は°RAM16によ
り実現される。パラメータ記憶部2はフロッピーディス
ク装置26により実現される。フロッピーディスク装置
!26に代えてROMやハードディスク装置を用いるこ
ともできる。
水蒸気や炭酸ガスなどの妨害成分のスペクトルのピーク
高さを試料スペクトルから求める際、それらの妨害スペ
クトルの吸収バンドが目的対象物質の吸収バンドと重な
り合っているときは、ベースラインの取り方によってピ
ーク高さが変ってくる。そこで第4図(A)〜(C)に
示されるように、妨害スペクトルの吸収ピークの形状に
よってベースラインの引き方を定めておき、それぞれの
形状に対応してピーク高さAを算出するようにする。こ
のようなベースラインの引き方はパラメータとしてパラ
メータ記憶部2であるフロッピーディスク装置26に記
憶されている。
第5図に水蒸気と炭酸ガスのスペクトルの影響を受けた
ポリプロピレンの赤外吸収スペクトルを示す、CO2で
示されるピークが炭酸ガスの主な吸収ピークである。
第6図に炭酸ガスの赤外吸収スペクトルを示す。
炭酸ガススペクトルには主にaとbで示される吸収ピー
クが存在するが、aの吸収ピークの波数を指定しておけ
ば、第5図の試料スペクトルの吸収ピークC○2を0に
するように差スペクトルを求めると、吸収スペクトルb
についても試料スペクトルから取り除かれる。
第7図はこのようにして水蒸気と炭酸ガスのスペクトル
を取り除いたポリプロピレンの赤外吸収スペクトルを表
わしたものである。
上記の実施例では水蒸気スペクトルと炭酸ガススペクト
ルをともに取り除いているが、一方だけを取り除くよう
にしてもよい。
また、水蒸気と炭酸ガス以外の妨害物質として、−酸化
炭素(CO)や亜酸化窒素(N20)なども考えられる
が、これらの妨害物質についても吸収ピークの指定波数
を変えることによって同様に取り除くことができる。
水蒸気や炭酸ガスなどの妨害物質のスペクトルは1分解
能やアポダイゼーション関数に応じてスペクトルを記憶
しておいてもよいし、最高分解能で測定されたインター
フェログラムを記憶しておき、試料スペクトルの分解能
やアポダイゼーション関数の種類に応じてフーリエ変換
し、計算によりそれらの妨害物質のスペクトルを求める
ようにしてもよい。
(Jl!明の効果) 本発明のデータ処理装置は試料スペクトルから水蒸気や
炭酸ガスなどの妨害スペクトルを取り除くことができる
ので、妨害スペクトルの影響のない試料スペクトルを得
ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明を示すブロック図、第2図は本発明の作
用を示すフローチャート、第3図は一実施例を示すブロ
ック図、第4図(A)ないし同図(C)はベースライン
の引き方を示す波形図、第5図は水蒸気と炭酸ガスの影
響を受けたポリプロピレンの赤外吸収スペクトルを示す
波形図、第6図は炭酸ガスの赤外吸収スペクトルを示す
波形図、第7図は水蒸気と炭酸ガスのスペクトルを取り
除いたポリプロピレンの赤外吸収スペクトルを示す波形
図である。 2・・・・・・パラメータ記憶部、 3・・・・・・妨害スペクトル記憶部、4・・・・・・
試料スペクトル記憶部、6・・・・・・演算部、 8・・・・・・差スペクトル記憶部、 10・・・・・・表示部。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)水蒸気及び炭酸ガスの少なくとも一方を含む妨害
    成分のスペクトル又はインターフェログラム、並びに必
    要なパラメータを含むデータ処理条件を記憶しているパ
    ラメータ記憶部と、測定された試料スペクトルを記憶す
    る試料スペクトル記憶部と、パラメータ記憶部から試料
    スペクトルの条件に合った妨害スペクトルを得て記憶す
    る妨害スペクトル記憶部と、指定された波数における吸
    収ピークの吸光度が0になるように試料スペクトルと妨
    害スペクトルの間の差スペクトルを求める演算部と、演
    算された差スペクトルを記憶する差スペクトル記憶部と
    、差スペクトル記憶部の内容を表示する表示部とを備え
    たフーリエ変換赤外分光光度計のデータ処理装置。
JP4656087A 1987-02-27 1987-02-27 フ−リエ変換赤外分光光度計のデ−タ処理装置 Pending JPS63212826A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000074827A (ja) * 1998-08-28 2000-03-14 Perkin Elmer Ltd 分光計の測定スペクトルにおける望まれないコンポ―ネントの抑圧方法及び装置
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JP2015021956A (ja) * 2013-07-24 2015-02-02 株式会社島津製作所 フーリエ変換赤外分光光度計

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