JPS63212826A - フ−リエ変換赤外分光光度計のデ−タ処理装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明はフーリエ変換赤外分光光度計において得られた
データを処理する装置に関し、特に測定データから水蒸
気や炭酸ガスなどの妨害成分のスペクトルを取り除くた
めのデータ処理装置に関するものである。

（従来の技術） フーリエ変換赤外分光光度計で試料の測定を行なうと、
その試料スペクトルが大気中の水蒸気や炭酸ガスなどの
妨害成分の影響を受け、それらの妨害成分の吸収ピーク
が試料の測定対象物質の吸収ピークと重なる場合が多い
。

（発明が解決しようとする問題点） これらの妨害成分の吸収ピークは試料の定性分析や定量
分析の妨げになる。

本発明は測定されたスペクトルから水蒸気や炭酸ガスな
どの妨害成分のスペクトルの影響を取り除くことを目的
とするものである。

（問題点を解決するための手段） 本発明のデータ処理装置を第１図に示す。２は水蒸気及
び炭酸ガスの少なくとも一方を含む妨害成分のスペクト
ル又はインターフェログラム、並びに必要なパラメータ
を含むデータ処理条件を記憶しているパラメータ記憶部
、４は測定された試料スペクトルを記憶する試料スペク
トル記憶部。

３はパラメータ記憶部２から試料スペクトルの条件に合
った妨害スペクトルを得て記憶する妨害スペクトル記憶
部である。６は演算部であり、試料スペクトル記憶部４
の試料スペクトルの指定された波数における吸収ピーク
の吸光度が０になるように、その試料スペクトルと妨害
スペクトル記憶部３の妨害スペクトルとの間の差スペク
トルを求める。８は演算された差スペクトルを記憶する
差スペクトル記憶部、１０は差スペクトル記憶部８の内
容を表示する表示部である。

（作用） 第２図のフローチャートを参照して本発明の詳細な説明
する。

データ処理条件が記憶されたパラメータ記憶部２を呼び
出す（ステップＳ１）、パラメータ記憶部２には必要な
パラメータとして１例えば、水蒸気や炭酸ガスなどの妨
害成分の吸収ピークとベースの波数の値、及び後述の第
４図に示されるような吸収ピークのベースラインの引き
方などが記憶されている。

測定された試料スペクトルを試料スペクトル記憶部４に
ＦｘｌｅＡとして記憶する（ステップＳ２）。

試料スペクトルの分解及びアポダイゼーション関数をチ
ェックし、それに対応した水蒸気スペクトルをパラメー
タ記憶部２から妨害スペクトル記憶部３にＦｉｌｅ　Ｂ
として呼び出す（ステップＳ３）。

試料スペクトルにおける指定された波数の水蒸気スペク
トルの吸光度が０になるように差スペクトルを実行する
。その結果の差スペクトルは差スペクトル記憶部８にＦ
ｉｌｅＣとして記憶する（ステップＳ４）。

試料スペクトルの分解及びアポダイゼーション関数をチ
ェックして、それに対応した炭酸ガススペクトルをパラ
メータ記憶部２から妨害スペクトル記憶部３にＦｉｌｅ
Ｂとして呼び出す（ステップＳ５）。

ＦｉｌｅＣの差スペクトルにおける指定された波数の炭
酸ガススペクトルの吸光度が０になるように差スペクト
ルを実行する。その結果の差スペクトルは差スペクトル
記憶部８にＦｉｌｅ　Ｄとして記憶する（ステップＳ６
）。

水蒸気スペクトルと炭酸ガススペクトルのうちいずれか
一方だけを試料スペクトルから引くようにしてもよい。

また、妨害スペクトルはパラメータ記憶部２から呼び出
すのではなく、予め分析者が転送し、呼び出しておいて
もよい。

さらにまた、水蒸気と炭酸ガスの二成分のスペクトルを
除くとき、ＦｉｌｅＨには水蒸気スペクトル、Ｆｉｌｅ
Ｂ　’　　（もう１つの妨害スペクトル記憶部３）には
炭酸ガススペクトルを格納し演算してもよい。

（実施例） 第３図は本発明をマイクロコンピュータ・システムによ
って実現した実施例を表わしている。

バス１２にＣＰＵ１４、ＲＡＭ１６．ＲＯＭ１８が接続
されている。バス１２にはまたインターフェイス２０を
介して測定部２２が接続され、インターフェイス２４を
介してフロッピーディスク装Ｗ１２６が接続され、イン
ターフェイス２８を介してＣＲＴ表示装！！３０が接続
され、インターフェイス３２を介してキーボード３４が
接続されている。

演算部６はＣＰＵ１４、ＲＡＭ１６及びＲＯＭ１８によ
り実現され、妨害スペクトル記憶部３、試料スペクトル
記憶部４及び差スペクトル記憶部８は°ＲＡＭ１６によ
り実現される。パラメータ記憶部２はフロッピーディス
ク装置２６により実現される。フロッピーディスク装置
！２６に代えてＲＯＭやハードディスク装置を用いるこ
ともできる。

水蒸気や炭酸ガスなどの妨害成分のスペクトルのピーク
高さを試料スペクトルから求める際、それらの妨害スペ
クトルの吸収バンドが目的対象物質の吸収バンドと重な
り合っているときは、ベースラインの取り方によってピ
ーク高さが変ってくる。そこで第４図（Ａ）〜（Ｃ）に
示されるように、妨害スペクトルの吸収ピークの形状に
よってベースラインの引き方を定めておき、それぞれの
形状に対応してピーク高さＡを算出するようにする。こ
のようなベースラインの引き方はパラメータとしてパラ
メータ記憶部２であるフロッピーディスク装置２６に記
憶されている。

第５図に水蒸気と炭酸ガスのスペクトルの影響を受けた
ポリプロピレンの赤外吸収スペクトルを示す、ＣＯ２で
示されるピークが炭酸ガスの主な吸収ピークである。

第６図に炭酸ガスの赤外吸収スペクトルを示す。

炭酸ガススペクトルには主にａとｂで示される吸収ピー
クが存在するが、ａの吸収ピークの波数を指定しておけ
ば、第５図の試料スペクトルの吸収ピークＣ○２を０に
するように差スペクトルを求めると、吸収スペクトルｂ
についても試料スペクトルから取り除かれる。

第７図はこのようにして水蒸気と炭酸ガスのスペクトル
を取り除いたポリプロピレンの赤外吸収スペクトルを表
わしたものである。

上記の実施例では水蒸気スペクトルと炭酸ガススペクト
ルをともに取り除いているが、一方だけを取り除くよう
にしてもよい。

また、水蒸気と炭酸ガス以外の妨害物質として、−酸化
炭素（ＣＯ）や亜酸化窒素（Ｎ２０）なども考えられる
が、これらの妨害物質についても吸収ピークの指定波数
を変えることによって同様に取り除くことができる。

水蒸気や炭酸ガスなどの妨害物質のスペクトルは１分解
能やアポダイゼーション関数に応じてスペクトルを記憶
しておいてもよいし、最高分解能で測定されたインター
フェログラムを記憶しておき、試料スペクトルの分解能
やアポダイゼーション関数の種類に応じてフーリエ変換
し、計算によりそれらの妨害物質のスペクトルを求める
ようにしてもよい。

（Ｊｌ！明の効果） 本発明のデータ処理装置は試料スペクトルから水蒸気や
炭酸ガスなどの妨害スペクトルを取り除くことができる
ので、妨害スペクトルの影響のない試料スペクトルを得
ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明を示すブロック図、第２図は本発明の作
用を示すフローチャート、第３図は一実施例を示すブロ
ック図、第４図（Ａ）ないし同図（Ｃ）はベースライン
の引き方を示す波形図、第５図は水蒸気と炭酸ガスの影
響を受けたポリプロピレンの赤外吸収スペクトルを示す
波形図、第６図は炭酸ガスの赤外吸収スペクトルを示す
波形図、第７図は水蒸気と炭酸ガスのスペクトルを取り
除いたポリプロピレンの赤外吸収スペクトルを示す波形
図である。 ２・・・・・・パラメータ記憶部、 ３・・・・・・妨害スペクトル記憶部、４・・・・・・
試料スペクトル記憶部、６・・・・・・演算部、 ８・・・・・・差スペクトル記憶部、 １０・・・・・・表示部。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）水蒸気及び炭酸ガスの少なくとも一方を含む妨害
   成分のスペクトル又はインターフェログラム、並びに必
   要なパラメータを含むデータ処理条件を記憶しているパ
   ラメータ記憶部と、測定された試料スペクトルを記憶す
   る試料スペクトル記憶部と、パラメータ記憶部から試料
   スペクトルの条件に合った妨害スペクトルを得て記憶す
   る妨害スペクトル記憶部と、指定された波数における吸
   収ピークの吸光度が０になるように試料スペクトルと妨
   害スペクトルの間の差スペクトルを求める演算部と、演
   算された差スペクトルを記憶する差スペクトル記憶部と
   、差スペクトル記憶部の内容を表示する表示部とを備え
   たフーリエ変換赤外分光光度計のデータ処理装置。