JP3484396B2 - ウェハーの切断方法 - Google Patents
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Description
に関し、更に詳細にはマウントテープに貼着したウェハ
ーを切断装置によって個片に切断するウェハーの切断方
法に関する。
は、通常、図6に示す様に、シリコンウェハー10(以
下、単にウェハー10と称する)に造り込まれた多数個
の半導体素子10,10・・を、個片に切断して供給さ
れる。ウェハー12の半導体素子10,10・・を個片
に切断する際には、先ず、図7に示す様に、ウェハー1
2の背面全面を、主として樹脂から成るマウントテープ
100に接着剤層14によって貼着する。次いで、ウェ
ハー12が貼着されたマウントテープ100を、図8に
示す様に、ステージ102のステージ面に載置して回転
刃104によりウェハー12を切断する。その際、ステ
ージ102のステージ面と回転刃104とを所定の間隙
Hに保持する。
ージ102のステージ面と回転刃104とを所定の間隙
Hを保持してウェハー12を切断することによって、図
9に示す様に、回転刃104により切断溝106,10
6・・が形成される。この切断溝106,106・・に
よって、ウェハー12の半導体素子10,10・・は個
々に切断されているものの、マウントテープ100はハ
ーフカットされているのみであって切断されていない。
このため、切断された半導体素子10,10・・は、切
断中及び切断後にバラバラにならず、切断処理及びその
後の処理における取扱を容易とすることができる。
進展し、ウェハー12の有する強度等が低下してきてい
る。このため、回転刃104によって切断された際に、
ウェハー12にクラックや欠け部等が発生することが判
明した。本発明者等は、かかるクラックや欠け部等の発
生は、切断刃104によってウェハー12を切断する際
に、ウェハー12に加えられるせん断力に起因するもの
と考え、レーザ光を用いてウェハー12を切断すること
を試みた。しかし、本発明者等は、レーザ光によってウ
ェハー12の半導体素子10,10・・を個片に切断す
る際には、マウントテープ100も同時に個片に切断さ
れてしまうことを知った。このため、本発明者等は、レ
ーザ光によってウェハー12の半導体素子10,10・
・を個片に切断し且つマウントテープ100をハーフカ
ットすることを試みたが、レーザ光によってマウントテ
ープ100に図9に示す切断溝106を形成するには、
レーザ光の出力の微妙な調整を要すること、及びレーザ
光によるウェハーの切断の際には、熱が発生することが
判明し、レーザ光によるウェハー12の切断は工業的で
ないことが判明した。この様に、従来のウェハー12の
レーザ光による切断には種々の課題が存在するが、回転
刃104による切断の如く、ウェハー12に大きなせん
断力が加えられないため、ウェハー12の切断に起因す
るクラックや欠け部等の発生が極めて少なくできる。そ
こで、本発明の課題は、レーザ光を用いてウェハーを容
易に切断し得るウェハーの切断方法を提供することにあ
る。
を解決すべく検討したところ、ウェハーの切断装置とし
て、所望の切断スリット幅に絞って吐出したビーム状の
水をウェハーの切断個所に噴射し、その際に、このビー
ム状の水中を伝搬したレーザ光をウェハーの切断個所に
照射してウェハーを切断するレーザ切断装置を用いるこ
とによって、切断の際に発生する熱を除去しつつウェー
ハを切断できることを知った。更に、ウェハーを貼着し
て切断に供するマウントテープとして、マウントテープ
を主として形成する樹脂よりも硬質な材料によって形成
したメッシュ状部材を、樹脂中に配設して成るマウント
テープを用いることによって、前述したレーザ切断装置
でマウントテープを切断しても、メッシュ状部材は切断
されず切断された個片を互いに連結していることを見出
し、本発明に到達した。
着したウェハーを切断装置によって個片に切断する際
に、該マウントテープを主として形成する樹脂よりも硬
質な材料によって形成されたメッシュ状部材が、前記樹
脂中に配設されて成るマウントテープの一面側に、前記
ウェハーの背面を貼着した後、前記切断装置として、所
望の切断スリット幅に対応するように絞って吐出される
ビーム状の液体をウェハーの切断個所に沿って噴射し、
その際に、前記ビーム状の液体中を伝搬させて前記ウェ
ハーの切断個所にレーザ光を照射するレーザ切断装置を
用い、前記ウェハーの切断個所の切断スリット内に、前
記メッシュ状部材を残留しつつ、前記ウェハーを個片に
切断することを特徴とするウェハーの切断方法にある。
かかる本発明において、メッシュ状部材として、ガラス
繊維によって形成されたガラスクロスを用いることが好
適である。更に、レーザ切断装置から噴射するビーム状
の液体の吐出圧力及びレーザ光の出力を、マウントテー
プ中に配設されたメッシュ状部材を切断することのない
吐出圧力及び出力に調整することにより、切断スリット
内にメッシュ状部材を確実に残留することができる。
絞って吐出されたビーム状の液体をウェハーの切断個所
に沿って噴射し、その際に、ビーム状の液体中を伝搬し
たレーザ光をウェハーの切断個所に照射することによっ
てウェハーを切断するため、レーザ光による切断の際に
発生する熱をビーム状の液体により除去し、且つ回転刃
を用いてウェハーを切断する場合に比較して、ウェハー
に加えられるせん断力も小さくできる。しかも、本発明
では、マウントテープを主として形成する樹脂よりも硬
質な材料によって形成されたメッシュ状部材が樹脂中に
配設されて成るマウントテープに貼着したウェハーを、
所望の切断スリット幅に絞って吐出したビーム状の液体
中を伝搬したレーザ光によってウェハー及びマウントテ
ープを切断する。かかるウェハー及びマウントテープの
切断の際、マウントテープに配設されたメッシュ状部材
は、切断スリット内に切断されずに残留する。このた
め、メッシュ状部材は、切断された個片同士を互いに連
結し、切断処理及びその後の処理の際に、切断された個
片がバラバラになることを防止している。その結果、切
断処理及びその後の処理を容易に施すことができる。
は、図1に示す様に、主としてポリイミド樹脂等の樹脂
によって形成されていると共に、この樹脂よりも硬質な
材料によって形成されたメッシュ状部材が配設されてい
る。図1のメッシュ状部材としては、ガラス繊維によっ
て形成されたガラスクロス18を用いた。このガラスク
ロス18は、ガラス繊維を平織して形成されたものであ
る。かかるガラスクロス18は、マウントテープ10の
全面に亘って配設され、且つマウントテープ10の厚さ
方向の略中央部に配設されている。この様に、ガラスク
ロス18が配設されたマウントテープ10の一面側に
は、図1に示す様に、接着剤層14によってウェハー1
2の背面側全面を貼着する。この接着剤層14は、紫外
線硬化性の接着剤によって形成されている。ここで、図
1に示すマウントテープ10には、その全面に亘ってガ
ラスクロス18を配設しているが、ウェハー12を貼着
する部分のみに配設してもよい。また、マウントテープ
10を主として形成する樹脂として、紫外線硬化性樹脂
を用いてもよい。この場合、ウェハー12の貼着は、マ
ウントテープ10を主として形成する紫外線硬化性樹脂
によって行うことができる。
10とは、図2に示すレーザ切断装置によって切断す
る。このレーザ切断装置としては、特表平10−500
903号において提案されているレーザ切断装置を用い
ることができる。図2に示すレーザ切断装置では、レー
ザ発生装置30によって発生したレーザ光32をフォー
カスユニット34によって集束し、光ファイバー36に
よりコリメータ38の近傍に伝搬する。光ファイバー3
6によって伝搬されたレーザ光は、コリメータ38によ
り平行化された後、フォーカスレンズ40によってノズ
ル部42の照射口に集束される。かかるノズル部42で
は、タンク44に貯留されている水(好ましく純水)を
ポンプ46によって所定の圧力(約30MPa程度)に
昇圧され配管48によって送水された昇圧水を、約30
〜50μm程度の径に絞ったビーム状の水50を吐出す
る。このビーム状の水50には、ノズル部42の照射口
からフォーカスレンズ40によって集束されたレーザ光
が照射され、照射されたレーザ光はビーム状の水50中
を全反射しつつ伝搬される。このノズル部42から吐出
されたビーム状の水50を形成する水は、受水槽52に
一旦貯められた後、配管54によってフィルタ56を介
してタンク44に戻されて循環使用される。尚、配管4
8のポンプ46の吐出口側には、安全弁58が設けられ
ている。
に示すウェハー12とマウントテープ10とを切断する
には、図2に示す様に、ビーム状の水50の途中にウェ
ハー12が貼着されたマウントテープ10(以下、単に
マウントテープ10と称することがある)を挿入し、ウ
ェハー12の切断個所に沿ってビーム状の水50を噴射
し、その際に、ビーム状の水50中を伝搬させたレーザ
光を照射しつつ、マウントテープ50を移動させて切断
する。かかるマウントテープ10を挿入する位置は、ノ
ズル部42のビーム状の水50の吐出口から約10cm
程度の間であれば何処に挿入してもよいが、特にビーム
状の水50の吐出口から約5cm程度の個所に挿入する
ことが好ましい。この様に、ビーム状の水50の途中に
挿入されたマウントテープ10及びウェハー12は、図
3に示す様に、ビーム状の水50の径と略等しい幅の切
断スリット20が形成されて切断される。かかるマウン
トテープ10及びウェハー12の切断は、ビーム状の水
50中を伝搬させたレーザ光によってなされるため、図
8に示す回転刃104を用いてマウントテープ10及び
ウェハー12を切断する場合の如く、大きなせん断力を
ウェハー12に与えることなく切断できる。このため、
切断の際のせん断力に起因して発生するクラック等を効
果的に防止できる。更に、レーザ光による切断の際に発
生する熱は、ビーム状の水50によって直ちに除去され
るため、ウェハー12に殆ど影響を与えることがない。
て切断スリット20が形成されるマウントテープ10の
個所にガラス繊維18aが存在しない場合には、直線状
の切断スリット20が形成される。一方、レーザ光によ
って切断スリット20が形成されるマウントテープ10
の個所にガラス繊維18aが存在している場合には、レ
ーザ光はガラス繊維18aよりも軟質の樹脂によって形
成された部分を切断する。このため、ガラス繊維18a
は切断されず切断スリット20内に残留する。したがっ
て、ウェハー12及びマウントテープ10を図2に示す
レーザ切断装置によって切断したとき、図4に示す様
に、ガラスクロス18は切断されず、ウェハー12及び
マウントテープ10を半導体素子10毎に切断した個片
同士が互いに連結された状態とすることができる。その
結果、ウェハー12及びマウントテープ10の切断作業
中及び切断作業後に施す種々の処理作業中に、切断され
た個片がバラバラにならず各種作業を効率よく行うこと
ができる。また、図2に示すレーザ切断装置によってウ
ェハー12を切断できるため、複雑な切断スリット、例
えばクランク状の切断スリットでも形成できる。このた
め、図5に示す様に、同一ウェハー12からサイズの異
なる半導体素子10a,10bを切り出すことができ
る。尚、切断された個片から半導体素子10を剥離する
には、紫外線の照射によって半導体素子10を貼着する
紫外線硬化性の接着剤層14を劣化することによって剥
離できる。
の水50を用いた例について説明してきたが、透明な液
体であれば水以外の液体、例えばアルコール等の液体を
用いることができる。このビーム状に吐出される液体
は、特定の波長のレーザ光を伝搬できる液体であればよ
く、透明な液体を用いることは必ずしも必要ではない。
更に、ノズル部42から吐出されるビーム状の水50の
吐出圧力を高圧にし過ぎると、ビーム状の水50によっ
てウェハー12等を切断するおそれがあるため、ビーム
状の水50の吐出圧力はウェハー12等を切断すること
のない吐出圧力に調整することが好ましい。同様に、レ
ーザ光の出力も高出力にし過ぎると、ガラスクロス18
等のメッシュ状部材を切断するおそれがあるため、レー
ザ光の出力もメッシュ状部材を切断するおそれのない出
力に調整することが好ましい。また、メッシュ状部材に
ついても、ガラスクロス18を用いた例を説明してきた
が、金属繊維から成るメタルクロスやガラス繊維又は金
属繊維を用いた不織布等であっても使用可能である。
に、ウェハーに加えられるせん断力を少なくでき、切断
された半導体素子等に与える影響を可及的に少なくでき
るため、歩留率等を向上できる。更に、切断処理及びそ
の後の処理の際に、切断片がバラバラになることを防止
でき、切断処理及びその後の処理を容易に施すことがで
きる結果、半導体装置等の生産性の向上を図ることがで
きる。
着した状態を説明する断面図である。
るための概略図である。
びマウントテープを切断する状況を説明する部分拡大断
面図である。
びマウントテープを切断した状態を説明する断面図であ
る。
る半導体素子の配置状況を説明する平面図である。
す斜視図である。
態を説明する断面図である。
る。
及びマウントテープの状態を説明する断面図である。
Claims (3)
- 【請求項1】 マウントテープに貼着したウェハーを切
断装置によって個片に切断する際に、 該マウントテープを主として形成する樹脂よりも硬質な
材料によって形成されたメッシュ状部材が、前記樹脂中
に配設されて成るマウントテープの一面側に、前記ウェ
ハーの背面を貼着した後、 前記切断装置として、所望の切断スリット幅に対応する
ように絞って吐出されるビーム状の液体をウェハーの切
断個所に沿って噴射し、その際に、前記ビーム状の液体
中を伝搬させて前記ウェハーの切断個所にレーザ光を照
射するレーザ切断装置を用い、 前記ウェハーの切断個所の切断スリット内に、前記メッ
シュ状部材を残留しつつ、前記ウェハーを個片に切断す
ることを特徴とするウェハーの切断方法。 - 【請求項2】 メッシュ状部材として、ガラス繊維によ
って形成されたガラスクロスを用いる請求項1記載のウ
ェハーの切断方法。 - 【請求項3】 レーザ切断装置から噴射するビーム状の
液体の吐出圧力及びレーザ光の出力を、マウントテープ
中に配設されたメッシュ状部材を切断することのない吐
出圧力及び出力に調整する請求項1又は請求項2記載の
ウェハーの切断方法。
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Families Citing this family (29)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4087144B2 (ja) * | 2001-04-23 | 2008-05-21 | 古河電気工業株式会社 | レーザーダイシング用粘着テープ |
JP2003151924A (ja) * | 2001-08-28 | 2003-05-23 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | ダイシング方法およびダイシング装置 |
SG139508A1 (en) * | 2001-09-10 | 2008-02-29 | Micron Technology Inc | Wafer dicing device and method |
US20030062126A1 (en) * | 2001-10-03 | 2003-04-03 | Scaggs Michael J. | Method and apparatus for assisting laser material processing |
SG102639A1 (en) | 2001-10-08 | 2004-03-26 | Micron Technology Inc | Apparatus and method for packing circuits |
JP2003173988A (ja) * | 2001-12-04 | 2003-06-20 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 半導体ウェハのダイシング方法 |
SG142115A1 (en) | 2002-06-14 | 2008-05-28 | Micron Technology Inc | Wafer level packaging |
SG119185A1 (en) | 2003-05-06 | 2006-02-28 | Micron Technology Inc | Method for packaging circuits and packaged circuits |
US7785485B2 (en) * | 2003-09-17 | 2010-08-31 | Becton, Dickinson And Company | System and method for creating linear and non-linear trenches in silicon and other crystalline materials with a router |
US7893386B2 (en) * | 2003-11-14 | 2011-02-22 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Laser micromachining and methods of same |
JP2005203541A (ja) * | 2004-01-15 | 2005-07-28 | Disco Abrasive Syst Ltd | ウエーハのレーザー加工方法 |
US6972244B1 (en) * | 2004-04-23 | 2005-12-06 | National Semiconductor Corporation | Marking semiconductor devices through a mount tape |
US20060027542A1 (en) * | 2004-04-28 | 2006-02-09 | Niraj Mahadev | Method to eliminate defects on the periphery of a slider due to conventional machining processes |
EP1598140A1 (de) * | 2004-05-19 | 2005-11-23 | Synova S.A. | Laserbearbeitung eines Werkstücks |
EP1657020A1 (de) * | 2004-11-10 | 2006-05-17 | Synova S.A. | Verfahren und Vorrichtung zur Optimierung der Kohärenz eines Flüssigkeitsstrahls für eine Materialbearbeitung und Flüssigkeitsdüse für eine solche Vorrichtung |
TWI287838B (en) * | 2004-11-11 | 2007-10-01 | Yamaha Corp | Semiconductor device, semiconductor wafer, chip size package, and methods of manufacturing and inspection therefor |
JP4997723B2 (ja) * | 2005-07-21 | 2012-08-08 | 澁谷工業株式会社 | ハイブリッドレーザ加工装置 |
US20080067159A1 (en) * | 2006-09-19 | 2008-03-20 | General Electric Company | Laser processing system and method for material processing |
DE102008028213A1 (de) * | 2008-06-06 | 2009-12-10 | Gebr. Schmid Gmbh & Co. | Verfahren zum Befestigen eines Silizium-Blocks an einem Träger dafür und entsprechende Anordnung |
JP4645863B2 (ja) * | 2008-09-09 | 2011-03-09 | カシオ計算機株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
FI125379B (fi) * | 2010-10-25 | 2015-09-15 | Jot Automation Oy | Alusta |
JP6276947B2 (ja) * | 2013-09-02 | 2018-02-07 | 株式会社ディスコ | 加工方法 |
EP2957378A1 (de) * | 2014-06-16 | 2015-12-23 | Synova SA | Bearbeitungskopf zum Einkopplen eines Laserstrahles in einem Flüssigkeitsstrahl mit einer Flüssigkeitschnittstelle |
CN104368911B (zh) * | 2014-10-28 | 2016-12-07 | 中国科学院宁波材料技术与工程研究所 | 激光加工头及其应用、激光加工系统及方法 |
CN104759753B (zh) * | 2015-03-30 | 2016-08-31 | 江苏大学 | 多系统自动化协调工作提高激光诱导空化强化的方法 |
US10525554B2 (en) * | 2015-10-30 | 2020-01-07 | Hypertherm, Inc. | Water cooling of laser components |
WO2018147111A1 (ja) * | 2017-02-07 | 2018-08-16 | 日本電気硝子株式会社 | ガラスフィルムの製造方法 |
JP6852031B2 (ja) * | 2018-09-26 | 2021-03-31 | 株式会社東芝 | 溶接装置及びノズル装置 |
DE102019103659B4 (de) * | 2019-02-13 | 2023-11-30 | Bystronic Laser Ag | Gasführung, Laserschneidkopf und Laserschneidmaschine |
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US4239567A (en) | 1978-10-16 | 1980-12-16 | Western Electric Company, Inc. | Removably holding planar articles for polishing operations |
US4689467A (en) * | 1982-12-17 | 1987-08-25 | Inoue-Japax Research Incorporated | Laser machining apparatus |
DE3809921A1 (de) | 1988-03-24 | 1989-10-12 | Diehl Gmbh & Co | Grossflaechiger hochenergie-laserspiegel und verfahren zum herstellen eines solchen spiegels |
DE4418845C5 (de) | 1994-05-30 | 2012-01-05 | Synova S.A. | Verfahren und Vorrichtung zur Materialbearbeitung mit Hilfe eines Laserstrahls |
US5776220A (en) * | 1994-09-19 | 1998-07-07 | Corning Incorporated | Method and apparatus for breaking brittle materials |
KR970008386A (ko) * | 1995-07-07 | 1997-02-24 | 하라 세이지 | 기판의 할단(割斷)방법 및 그 할단장치 |
IT1284082B1 (it) * | 1996-06-27 | 1998-05-08 | Calp Spa | Metodo e dispositivo per il taglio mediante un raggio laser di articoli cavi in vetro |
JP3593451B2 (ja) | 1998-04-01 | 2004-11-24 | 株式会社日平トヤマ | インゴットのスライス方法 |
ATE424040T1 (de) | 2000-03-30 | 2009-03-15 | Nitto Denko Corp | Wasserdurchlässiges klebeband für die verarbeitung von halbleitern |
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