JP3478125B2 - 光周波数スペクトラム計算方法 - Google Patents
光周波数スペクトラム計算方法Info
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
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- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光源の光スペクト
ラム特性を測定する光スペクトラム測定装置に用いられ
る光周波数スペクトラム計算方法に関する。
ラム特性を測定する光スペクトラム測定装置に用いられ
る光周波数スペクトラム計算方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】図４は、従来の光スペクトラム測定装置
の構成を示すブロック図である。図４において、１０は
種々の波長成分が含まれ、スペクトル測定の対象である
光を出射する光源である。１２は光源１０から出射され
る光の強度を制限する入射スリットである。１４は入射
スリット１２を介して入射される光を平行光に変換する
凹面鏡である。
の構成を示すブロック図である。図４において、１０は
種々の波長成分が含まれ、スペクトル測定の対象である
光を出射する光源である。１２は光源１０から出射され
る光の強度を制限する入射スリットである。１４は入射
スリット１２を介して入射される光を平行光に変換する
凹面鏡である。
【０００３】１６は回折格子であり、表面に多数の溝が
形成されており、凹面鏡１４で変換された平行光を波長
毎に空間的に分離する。この回折格子１６は図中符号Ｄ
1が付された方向に回動可能なステージ１７上に配され
ており、ステージ １７の回動に合わせて符号Ｄ1が付さ
れた方向に回動する。１８は凹面鏡であり 、回折格子
１６によって波長毎に空間的に分離された光のうち、凹
面鏡１８に入射した光のみを出射スリット２０のスリッ
ト位置に結像させるものである。２０は出射スリットで
あり、凹面鏡１８によってスリット位置に結像された光
の波長帯域を制限するためのものである。上記入射スリ
ット１２、凹面鏡１４、回折格子１６、凹面鏡１８、及
び出射スリット２０はツェルニ・ターナ形分散分光器と
呼ばれる分光器をなす。
形成されており、凹面鏡１４で変換された平行光を波長
毎に空間的に分離する。この回折格子１６は図中符号Ｄ
1が付された方向に回動可能なステージ１７上に配され
ており、ステージ １７の回動に合わせて符号Ｄ1が付さ
れた方向に回動する。１８は凹面鏡であり 、回折格子
１６によって波長毎に空間的に分離された光のうち、凹
面鏡１８に入射した光のみを出射スリット２０のスリッ
ト位置に結像させるものである。２０は出射スリットで
あり、凹面鏡１８によってスリット位置に結像された光
の波長帯域を制限するためのものである。上記入射スリ
ット１２、凹面鏡１４、回折格子１６、凹面鏡１８、及
び出射スリット２０はツェルニ・ターナ形分散分光器と
呼ばれる分光器をなす。
【０００４】２２はフォトダイオード等の光検出器であ
り、出射スリット２０から出射される光の強度を電気信
号に変換するためのものである。２４は光検出器２２か
ら出力される電気信号を増幅する増幅器である。２６は
増幅器２４で増幅された値をディジタル信号に変換する
アナログ／ディジタル変換器（以下、Ｄ／Ａコンバータ
と称する）である。
り、出射スリット２０から出射される光の強度を電気信
号に変換するためのものである。２４は光検出器２２か
ら出力される電気信号を増幅する増幅器である。２６は
増幅器２４で増幅された値をディジタル信号に変換する
アナログ／ディジタル変換器（以下、Ｄ／Ａコンバータ
と称する）である。
【０００５】また、図中符号２８が付された部材は回折
格子１６が配されたステージ１７を回動させるモータで
あり、符号Ｄ2が付された方向にモータ２８の回動軸２
９が回動することによって、ステージ１７及び回折格子
１６を符号Ｄ1が付された方向に回動させる。３０はモ
ータ駆動回路であり、後述するＣＰＵ３４から出力され
る制御信号に応じてモータ２８の回動軸２９の回動動作
を制御する。３２は後述のＣＰＵ３４から出力される制
御信号に応じて、出射スリット２０のスリット幅を変化
させるスリット幅制御装置である。
格子１６が配されたステージ１７を回動させるモータで
あり、符号Ｄ2が付された方向にモータ２８の回動軸２
９が回動することによって、ステージ１７及び回折格子
１６を符号Ｄ1が付された方向に回動させる。３０はモ
ータ駆動回路であり、後述するＣＰＵ３４から出力され
る制御信号に応じてモータ２８の回動軸２９の回動動作
を制御する。３２は後述のＣＰＵ３４から出力される制
御信号に応じて、出射スリット２０のスリット幅を変化
させるスリット幅制御装置である。
【０００６】３６は、例えばＣＲＴ（Cathod Ray Tub
e）、液晶等の表示装置である。ＣＰＵ３４は、前述し
たＡ／Ｄコンバータ２６、モータ駆動回路３０、スリッ
ト幅制御装置３２、及び表示装置３６とバスＢによって
接続され、モータ駆動回路３０、スリット幅制御装置３
２を制御する制御信号を出力するとともに、Ａ／Ｄコン
バータ２６から出力されるディジタル信号を演算処理
し、例えばスペクトラム分布を表示装置３６に表示させ
る。
e）、液晶等の表示装置である。ＣＰＵ３４は、前述し
たＡ／Ｄコンバータ２６、モータ駆動回路３０、スリッ
ト幅制御装置３２、及び表示装置３６とバスＢによって
接続され、モータ駆動回路３０、スリット幅制御装置３
２を制御する制御信号を出力するとともに、Ａ／Ｄコン
バータ２６から出力されるディジタル信号を演算処理
し、例えばスペクトラム分布を表示装置３６に表示させ
る。
【０００７】上記構成において、光源１０から光が出射
されると、出射された光は入射スリット１２へ入射す
る。入射スリット１２を通過した光は凹面鏡１４よって
平行光に変換され、回折格子１６に入射する。回折格子
１６は、表面に形成された多数の溝に平行な軸を中心と
して、モータ２８により回動させられ、平行光に対して
任意の角度をなすようになる。この任意の角度は、モー
タ駆動回路３０がＣＰＵ３４から出力される制御信号に
応じてモータ２８を制御することにより決定される。
されると、出射された光は入射スリット１２へ入射す
る。入射スリット１２を通過した光は凹面鏡１４よって
平行光に変換され、回折格子１６に入射する。回折格子
１６は、表面に形成された多数の溝に平行な軸を中心と
して、モータ２８により回動させられ、平行光に対して
任意の角度をなすようになる。この任意の角度は、モー
タ駆動回路３０がＣＰＵ３４から出力される制御信号に
応じてモータ２８を制御することにより決定される。
【０００８】回折格子１６は、入射する平行光を波長毎
に空間的に分離する。回折格子１６によって空間的に分
離された波長のうち、平行光の進行方向と回折格子１６
とのなす角度等によって決定される波長の光のみが凹面
鏡１８へ出射される。凹面鏡１８は入射した波長の光の
みを出射スリット２０のスリット位置へ結像させる。そ
して、出射スリット２０のスリット幅の範囲内となる波
長成分だけが出射スリット２０を通過する。スリット幅
制御装置３２はＣＰＵ３４から出力される制御信号に基
づいて、出射スリット２０のスリット幅を設定する。
に空間的に分離する。回折格子１６によって空間的に分
離された波長のうち、平行光の進行方向と回折格子１６
とのなす角度等によって決定される波長の光のみが凹面
鏡１８へ出射される。凹面鏡１８は入射した波長の光の
みを出射スリット２０のスリット位置へ結像させる。そ
して、出射スリット２０のスリット幅の範囲内となる波
長成分だけが出射スリット２０を通過する。スリット幅
制御装置３２はＣＰＵ３４から出力される制御信号に基
づいて、出射スリット２０のスリット幅を設定する。
【０００９】光検出器２２は、出射スリット２０の通過
光を受光し、通過光の光強度に比例した電気信号に変換
する。増幅器２４は光検出器２２の出力をＡ／Ｄコンバ
ータ２６の入力に適した電圧まで増幅する。Ａ／Ｄコン
バータ２６は増幅器２４の出力をディジタル信号に変換
する。Ａ／Ｄコンバータ２６から出力されたディジタル
信号は、ＣＰＵ３４に入力され、ＣＰＵ３４において演
算処理される。ＣＰＵ３４は演算処理の結果（例えば、
スペクトラム分布）をバスＢを介して表示装置３６に出
力する。表示装置３６はＣＰＵ３４から出力される演算
結果に応じた表示内容を表示する。
光を受光し、通過光の光強度に比例した電気信号に変換
する。増幅器２４は光検出器２２の出力をＡ／Ｄコンバ
ータ２６の入力に適した電圧まで増幅する。Ａ／Ｄコン
バータ２６は増幅器２４の出力をディジタル信号に変換
する。Ａ／Ｄコンバータ２６から出力されたディジタル
信号は、ＣＰＵ３４に入力され、ＣＰＵ３４において演
算処理される。ＣＰＵ３４は演算処理の結果（例えば、
スペクトラム分布）をバスＢを介して表示装置３６に出
力する。表示装置３６はＣＰＵ３４から出力される演算
結果に応じた表示内容を表示する。
【００１０】次に測定の手順を説明する。まず、ＣＰＵ
３４は、スリット幅制御装置３２に制御信号を出力し、
出射スリット２０の幅を設定する。次に、ＣＰＵ３４
は、モータ駆動回路３０に指令を与え、回折格子１６の
角度を可変することにより出射スリット２０を通過する
波長を設定し、出射スリット２０の透過光の光強度をＡ
／Ｄコンバータ２６の出力から取り込む。ＣＰＵ３４
は、モータ駆動回路３０へ制御信号を出力し、出射スリ
ット２０を通過する波長を測定開始波長から測定終了波
長まで掃引させ、繰り返し得られた測定波長対光強度特
性を、光スペクトラムとして表示装置３６に表示させ
る。
３４は、スリット幅制御装置３２に制御信号を出力し、
出射スリット２０の幅を設定する。次に、ＣＰＵ３４
は、モータ駆動回路３０に指令を与え、回折格子１６の
角度を可変することにより出射スリット２０を通過する
波長を設定し、出射スリット２０の透過光の光強度をＡ
／Ｄコンバータ２６の出力から取り込む。ＣＰＵ３４
は、モータ駆動回路３０へ制御信号を出力し、出射スリ
ット２０を通過する波長を測定開始波長から測定終了波
長まで掃引させ、繰り返し得られた測定波長対光強度特
性を、光スペクトラムとして表示装置３６に表示させ
る。
【００１１】最近、特に光通信分野では、光スペクトラ
ムを波長対光強度の特性として表すのではなく、光周波
数スペクトラム、つまり光周波数対光強度の特性として
表す場合が増えている。この場合は、繰り返し得られた
測定波長対光強度特性をもとに、各測定点の測定波長を
光周波数に変換し、光周波数スペクトラムとして表示装
置３６に表示させる。最近の光スペクトラム測定装置で
は光スペクトラムと光周波数スペクトラムの両者を切り
替えて表示できる機能を備えたものが市販されている。
ムを波長対光強度の特性として表すのではなく、光周波
数スペクトラム、つまり光周波数対光強度の特性として
表す場合が増えている。この場合は、繰り返し得られた
測定波長対光強度特性をもとに、各測定点の測定波長を
光周波数に変換し、光周波数スペクトラムとして表示装
置３６に表示させる。最近の光スペクトラム測定装置で
は光スペクトラムと光周波数スペクトラムの両者を切り
替えて表示できる機能を備えたものが市販されている。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】ところで、図４に示さ
れたツェルニ・ターナ形分散形の分光器５の通過波長帯
域幅ＲＢ（波長分解能ともいう）は、凹面鏡１４の焦点
距離と凹面鏡１８の焦点距離とが等しく、出射スリット
２０のスリット幅が入力スリット１２のスリット幅より
広いという条件において、およそ次の（１）式で表され
る。
れたツェルニ・ターナ形分散形の分光器５の通過波長帯
域幅ＲＢ（波長分解能ともいう）は、凹面鏡１４の焦点
距離と凹面鏡１８の焦点距離とが等しく、出射スリット
２０のスリット幅が入力スリット１２のスリット幅より
広いという条件において、およそ次の（１）式で表され
る。
【数１】
ここで、ｄは回折格子１６に形成された溝の間隔、ｍは
回折格子１６の回折次数、ｆは凹面鏡１４，１８の焦点
距離、Ｓは出射スリット２０のスリット幅、βは回折格
子１６の回折光のうち、凹面鏡１８の方向へ出射される
光の方向と回折格子１６の法線とのなす角である。
回折格子１６の回折次数、ｆは凹面鏡１４，１８の焦点
距離、Ｓは出射スリット２０のスリット幅、βは回折格
子１６の回折光のうち、凹面鏡１８の方向へ出射される
光の方向と回折格子１６の法線とのなす角である。
【００１３】光スペクトラム測定装置においては、測定
の際の分光器５の波長帯域幅を光源の種類に合わせて適
切に設定することが必要である。上記（１）式によれ
ば、分光器５の波長帯域幅ＲＢを変化させるためには出
射スリット２０の幅を変えてやればよい。そこで従来
は、分光器５の波長帯域幅を任意に設定するために、ス
リット幅制御装置３２により出射スリット２０のスリッ
ト幅を機械的に制御していた。このため、構成が複雑と
なり、調整が大変であった。
の際の分光器５の波長帯域幅を光源の種類に合わせて適
切に設定することが必要である。上記（１）式によれ
ば、分光器５の波長帯域幅ＲＢを変化させるためには出
射スリット２０の幅を変えてやればよい。そこで従来
は、分光器５の波長帯域幅を任意に設定するために、ス
リット幅制御装置３２により出射スリット２０のスリッ
ト幅を機械的に制御していた。このため、構成が複雑と
なり、調整が大変であった。
【００１４】また、測定波長を変化させる場合は、回折
格子１６を図中符号Ｄ1が付された方向に回動させなけ
ればならないが、回折格子１６の平行光に対する角度を
変化させると、上記式（１）中の角βも変化する。
（１）式によれば、分光器５の波長帯域幅は測定波長に
依存して変化することとなる。このため、分光器５の波
長帯域幅の特性は、例えば、図５に示した特性となる。
図５は、図４に示された分光器５の特性の一例を示す図
である。図５において、符号Ｇ１が付された曲線は、図
４に示された分光器５の波長帯域幅の特性の一例を示
し、符号Ｇ２が付された曲線は、光周波数帯域幅の特性
の一例を示す。
格子１６を図中符号Ｄ1が付された方向に回動させなけ
ればならないが、回折格子１６の平行光に対する角度を
変化させると、上記式（１）中の角βも変化する。
（１）式によれば、分光器５の波長帯域幅は測定波長に
依存して変化することとなる。このため、分光器５の波
長帯域幅の特性は、例えば、図５に示した特性となる。
図５は、図４に示された分光器５の特性の一例を示す図
である。図５において、符号Ｇ１が付された曲線は、図
４に示された分光器５の波長帯域幅の特性の一例を示
し、符号Ｇ２が付された曲線は、光周波数帯域幅の特性
の一例を示す。
【００１５】被測定光の光スペクトラムは、分光器５の
波長帯域幅より広がっている場合が一般的であるから、
図５に示された特性の波長帯域幅を分光器５が有する場
合、測定された光スペクトラムは波長の短い側が持ち上
がった特性となり、光スペクトラムが正しく得られない
という問題があった。光スペクトラムを光周波数対光強
度特性として表示する場合も、分光器５の光周波数帯域
幅は波長帯域幅と同様に、測定波長あるいは測定光周波
数に依存して変化するので、同様の問題がある。
波長帯域幅より広がっている場合が一般的であるから、
図５に示された特性の波長帯域幅を分光器５が有する場
合、測定された光スペクトラムは波長の短い側が持ち上
がった特性となり、光スペクトラムが正しく得られない
という問題があった。光スペクトラムを光周波数対光強
度特性として表示する場合も、分光器５の光周波数帯域
幅は波長帯域幅と同様に、測定波長あるいは測定光周波
数に依存して変化するので、同様の問題がある。
【００１６】例えば、符号Ｇ１を付して示した分光器５
の波長帯域幅の特性は、光周波数帯域幅の特性に換算す
ると符号Ｇ２を付して示した曲線で示されるようにな
り、波長帯域幅と比べても一層大きな変化を示す。従来
の技術においては、測定された波長対光強度特性より単
に波長を光周波数に換算するだけで、そのまま光スペク
トラムとしていたため上記の問題を解決することができ
なかった。尚、出願者は、波長対光強度特性の光スペク
トラムにおいて、任意に定めた波長帯域幅による光スペ
クトラムを得るための光スペクトラム計算方法を特願平
９−１４２７６５号において提供している。
の波長帯域幅の特性は、光周波数帯域幅の特性に換算す
ると符号Ｇ２を付して示した曲線で示されるようにな
り、波長帯域幅と比べても一層大きな変化を示す。従来
の技術においては、測定された波長対光強度特性より単
に波長を光周波数に換算するだけで、そのまま光スペク
トラムとしていたため上記の問題を解決することができ
なかった。尚、出願者は、波長対光強度特性の光スペク
トラムにおいて、任意に定めた波長帯域幅による光スペ
クトラムを得るための光スペクトラム計算方法を特願平
９−１４２７６５号において提供している。
【００１７】本発明は、上記事情に鑑みてなされたもの
であり、光周波数対光強度特性の光周波数スペクトラム
を表示する際、出射スリットの幅を任意に変化させるこ
とのできない分光器においても、任意に定めた光周波数
帯域幅による光スペクトラムを求めることができる光周
波数スペクトラム計算方法を提供することを目的とす
る。また、本発明は、分光器の波長帯域幅が測定波長に
依存して変化する場合であっても、任意に定めた光周波
数帯域幅に対する光スペクトラムを正しく求めることが
できる光周波数スペクトラム計算方法を提供することを
目的とする。
であり、光周波数対光強度特性の光周波数スペクトラム
を表示する際、出射スリットの幅を任意に変化させるこ
とのできない分光器においても、任意に定めた光周波数
帯域幅による光スペクトラムを求めることができる光周
波数スペクトラム計算方法を提供することを目的とす
る。また、本発明は、分光器の波長帯域幅が測定波長に
依存して変化する場合であっても、任意に定めた光周波
数帯域幅に対する光スペクトラムを正しく求めることが
できる光周波数スペクトラム計算方法を提供することを
目的とする。
【００１８】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明は、光スペクトラムの測定点の測定間隔及び
所定の光周波数帯域幅を設定し、設定された前記測定点
毎に入射される光の光強度を分光器によって測定し、前
記測定点の各々に対し、短波長及び長波長側に前記測定
間隔及び前記光周波数帯域幅によって決定される波長領
域を設定し、測定された光強度に対して当該波長領域に
わたって光強度を加算して前記測定点各々の光強度値を
得ることを特徴とする。あるいは、本発明は、光スペク
トラムの測定点の測定間隔及び所定の光周波数帯域幅を
設定し、設定された前記測定点毎に入射される光の光強
度を分光器によって測定し、前記測定点の各々に対し、
低周波数及び高周波数側に前記測定間隔及び前記光周波
数帯域幅によって決定される光周波数領域を設定し、測
定された光強度に対して当該波長領域にわたって光強度
を加算して前記測定点各々の光強度値を得ることを特徴
とする。また、本発明は、測定波長に対応する分光器の
波長帯域幅を設定し、光スペクトラムの測定点の測定間
隔及び所定の光周波数帯域幅を設定し、設定された前記
測定点毎に入射される光の光強度を前記分光器によって
測定し、光スペクトラムの前記測定点各々に対する前記
分光器の波長帯域幅を設定された前記波長帯域幅から求
め前記測定点の各々に対し、短波長及び長波長側に前記
測定間隔及び前記光周波数帯域幅によって決定される波
長領域を設定し、測定された光強度に対して当該波長領
域にわたって光強度を加算して前記測定点各々の光強度
を得て、前記測定点各々の光強度を、前記波長帯域幅と
前記波長間隔との比に基づいて補正することにより各測
定点の光強度値を得ることを特徴とする。前記波長領域
の最短波長部及び最長波長部が前記測定点と測定点の間
にある場合、最短波長部にあっては、前記波長領域外で
あって、当該最短波長部に最も近接する測定点の光強
度、最短波長部が当該最も近接する測定点への近接の度
合い、及び当該最も近接する測定点における波長帯域幅
と前記波長間隔との比に応じて、最長波長部にあって
は、前記波長領域外であって、当該最長波長部に最も近
接する測定点の光強度、最長波長部が当該最も近接する
測定点への近接の度合い、及び当該最も近接する測定点
における波長帯域幅と前記波長間隔との比に応じて、前
記光強度値を補正することが好ましい。
に、本発明は、光スペクトラムの測定点の測定間隔及び
所定の光周波数帯域幅を設定し、設定された前記測定点
毎に入射される光の光強度を分光器によって測定し、前
記測定点の各々に対し、短波長及び長波長側に前記測定
間隔及び前記光周波数帯域幅によって決定される波長領
域を設定し、測定された光強度に対して当該波長領域に
わたって光強度を加算して前記測定点各々の光強度値を
得ることを特徴とする。あるいは、本発明は、光スペク
トラムの測定点の測定間隔及び所定の光周波数帯域幅を
設定し、設定された前記測定点毎に入射される光の光強
度を分光器によって測定し、前記測定点の各々に対し、
低周波数及び高周波数側に前記測定間隔及び前記光周波
数帯域幅によって決定される光周波数領域を設定し、測
定された光強度に対して当該波長領域にわたって光強度
を加算して前記測定点各々の光強度値を得ることを特徴
とする。また、本発明は、測定波長に対応する分光器の
波長帯域幅を設定し、光スペクトラムの測定点の測定間
隔及び所定の光周波数帯域幅を設定し、設定された前記
測定点毎に入射される光の光強度を前記分光器によって
測定し、光スペクトラムの前記測定点各々に対する前記
分光器の波長帯域幅を設定された前記波長帯域幅から求
め前記測定点の各々に対し、短波長及び長波長側に前記
測定間隔及び前記光周波数帯域幅によって決定される波
長領域を設定し、測定された光強度に対して当該波長領
域にわたって光強度を加算して前記測定点各々の光強度
を得て、前記測定点各々の光強度を、前記波長帯域幅と
前記波長間隔との比に基づいて補正することにより各測
定点の光強度値を得ることを特徴とする。前記波長領域
の最短波長部及び最長波長部が前記測定点と測定点の間
にある場合、最短波長部にあっては、前記波長領域外で
あって、当該最短波長部に最も近接する測定点の光強
度、最短波長部が当該最も近接する測定点への近接の度
合い、及び当該最も近接する測定点における波長帯域幅
と前記波長間隔との比に応じて、最長波長部にあって
は、前記波長領域外であって、当該最長波長部に最も近
接する測定点の光強度、最長波長部が当該最も近接する
測定点への近接の度合い、及び当該最も近接する測定点
における波長帯域幅と前記波長間隔との比に応じて、前
記光強度値を補正することが好ましい。
【００１９】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の一
実施形態による光周波数スペクトラム計算方法について
詳細に説明する。まず、本発明の一実施形態について説
明する前に、以下の説明で用いる記号及び語句の意味を
定義し、更に本発明の一実施形態による光周波数スペク
トラム計算方法が適用される光スペクトラム測定装置に
ついて説明する。
実施形態による光周波数スペクトラム計算方法について
詳細に説明する。まず、本発明の一実施形態について説
明する前に、以下の説明で用いる記号及び語句の意味を
定義し、更に本発明の一実施形態による光周波数スペク
トラム計算方法が適用される光スペクトラム測定装置に
ついて説明する。
【００２０】まず、「測定点」は波長を変化させて光強
度を測定している場合の離散的な各測定点を意味する。
各々の測定点には番号を付し、この測定点に付した番号
をｍ（ｍは整数である）で示す。また、１つの測定点に
は単一の波長が対応づけられ、この波長をλ（ｍ）で表
し、この測定点において得られる光強度をＰ（ｍ）と表
す。例えば、６００ｎｍ〜７００ｎｍの波長範囲を０．
１ｎｍ間隔で測定する場合には、λ（１）＝６００．
０、λ（２）＝６００．１、λ（３）＝６００．２、…
…、λ（１００１）＝７００．０ となる。
度を測定している場合の離散的な各測定点を意味する。
各々の測定点には番号を付し、この測定点に付した番号
をｍ（ｍは整数である）で示す。また、１つの測定点に
は単一の波長が対応づけられ、この波長をλ（ｍ）で表
し、この測定点において得られる光強度をＰ（ｍ）と表
す。例えば、６００ｎｍ〜７００ｎｍの波長範囲を０．
１ｎｍ間隔で測定する場合には、λ（１）＝６００．
０、λ（２）＝６００．１、λ（３）＝６００．２、…
…、λ（１００１）＝７００．０ となる。
【００２１】また、それぞれの測定点の波長を光周波数
に換算した値をＦ（ｍ）で示す。光周波数スペクトラム
を図示する場合は、横軸にＦ（ｍ）、縦軸にＰ（ｍ）を
とったＸＹグラフで示される。
に換算した値をＦ（ｍ）で示す。光周波数スペクトラム
を図示する場合は、横軸にＦ（ｍ）、縦軸にＰ（ｍ）を
とったＸＹグラフで示される。
【００２２】図１は、本発明の実施形態による光周波数
スペクトラム計算方法が適用される光周波数スペクトラ
ム測定装置の構成を示すブロック図である。図１に示さ
れた光スペクトラム測定装置が、図４に示した従来の光
スペクトラム測定装置と異なる点は、図４中のスリット
幅制御装置３２が省略され、出射スリット２０が出射ス
リット２０′に変更された分光器５′を備えた点であ
る。
スペクトラム計算方法が適用される光周波数スペクトラ
ム測定装置の構成を示すブロック図である。図１に示さ
れた光スペクトラム測定装置が、図４に示した従来の光
スペクトラム測定装置と異なる点は、図４中のスリット
幅制御装置３２が省略され、出射スリット２０が出射ス
リット２０′に変更された分光器５′を備えた点であ
る。
【００２３】出射スリット２０′は、従来の出射スリッ
ト２０のようにスリット幅を変化せず、スリット幅が固
定されたスリットである。また、帯域幅記憶部４０がバ
スＢに接続されている点が異なる。波長帯域幅記憶部４
０は、分光器５′の測定波長に対する通過波長帯域幅の
特性を記憶する。例えば、６００ｎｍ〜１７５０ｎｍに
対する波長帯域幅が１０ｎｍ毎に記憶されている。この
値は実測又は計算により求めた値を予め記憶させてお
く。
ト２０のようにスリット幅を変化せず、スリット幅が固
定されたスリットである。また、帯域幅記憶部４０がバ
スＢに接続されている点が異なる。波長帯域幅記憶部４
０は、分光器５′の測定波長に対する通過波長帯域幅の
特性を記憶する。例えば、６００ｎｍ〜１７５０ｎｍに
対する波長帯域幅が１０ｎｍ毎に記憶されている。この
値は実測又は計算により求めた値を予め記憶させてお
く。
【００２４】上記構成において、本発明の一実施形態に
よる光周波数スペクトラム計算方法について説明する前
に、図１に示した装置を用いて波長対光強度特性の光ス
ペクトラム特性を得た後、周波数対光強度特性を求める
場合の動作について説明する。光スペクトラムの測定を
行う場合には、従来と同様に、光源１０から出射された
光を、出射スリット１２を介して凹面鏡１４へ入射させ
て平行光に変換した後、回折格子１６へ入射させる。回
折格子１６へ入射した光は空間的に分離されるが、入射
する光の方向と回折格子１６の法線のなす角度等によっ
て決定される波長の光のみが凹面鏡１８の方向へ回折さ
れ、凹面鏡１８によって出射スリット２０′のスリット
に結像される。
よる光周波数スペクトラム計算方法について説明する前
に、図１に示した装置を用いて波長対光強度特性の光ス
ペクトラム特性を得た後、周波数対光強度特性を求める
場合の動作について説明する。光スペクトラムの測定を
行う場合には、従来と同様に、光源１０から出射された
光を、出射スリット１２を介して凹面鏡１４へ入射させ
て平行光に変換した後、回折格子１６へ入射させる。回
折格子１６へ入射した光は空間的に分離されるが、入射
する光の方向と回折格子１６の法線のなす角度等によっ
て決定される波長の光のみが凹面鏡１８の方向へ回折さ
れ、凹面鏡１８によって出射スリット２０′のスリット
に結像される。
【００２５】そして、出射スリット２０′のスリット幅
によって決定される波長成分だけが出射スリット２０′
を通過し、光検出器２２へ入射する。入射した光は光検
出器２２によって光強度に比例した電気信号に変換さ
れ、光検出器２２から出力される。光検出器２２から出
力された信号は増幅器２４によってＡ／Ｄコンバータ２
６の入力に適した電圧まで増幅する。増幅された信号は
Ａ／Ｄコンバータ２６によってディジタル信号に変換さ
れる。変換されたディジタル信号は、ＣＰＵ３４に入力
され、ＣＰＵ３４において演算処理される。
によって決定される波長成分だけが出射スリット２０′
を通過し、光検出器２２へ入射する。入射した光は光検
出器２２によって光強度に比例した電気信号に変換さ
れ、光検出器２２から出力される。光検出器２２から出
力された信号は増幅器２４によってＡ／Ｄコンバータ２
６の入力に適した電圧まで増幅する。増幅された信号は
Ａ／Ｄコンバータ２６によってディジタル信号に変換さ
れる。変換されたディジタル信号は、ＣＰＵ３４に入力
され、ＣＰＵ３４において演算処理される。
【００２６】ＣＰＵ３４は、ある波長の光に対する光強
度の測定を終了すると、制御信号をモータ駆動回路３０
へ出力し、モータ２８を回転させて凹面鏡１４から出射
される光の方向と回折格子１６の法線とのなす角度を変
化させる。この角度が変化すると、出射スリット２０′
から出射される光の波長が例えば０．１ｎｍ変化する。
度の測定を終了すると、制御信号をモータ駆動回路３０
へ出力し、モータ２８を回転させて凹面鏡１４から出射
される光の方向と回折格子１６の法線とのなす角度を変
化させる。この角度が変化すると、出射スリット２０′
から出射される光の波長が例えば０．１ｎｍ変化する。
【００２７】ＣＰＵ３４は上述した制御信号を出力した
後、前述した動作と同様に、入力されるディジタル信号
を演算処理する。このようにして、ＣＰＵ３４は、例え
ば、１５２９ｎｍ〜１５７９ｎｍの波長範囲を０．１ｎ
ｍ間隔で測定し、各波長の光強度を演算処理して求め
る。この波長範囲は約１８９．８ＴＨｚから１９６．０
ＴＨｚの光周波数範囲に相当する。従って、測定した波
長範囲を単に光周波数範囲に変換すれば、光周波数スペ
クトラムを得ることができる。
後、前述した動作と同様に、入力されるディジタル信号
を演算処理する。このようにして、ＣＰＵ３４は、例え
ば、１５２９ｎｍ〜１５７９ｎｍの波長範囲を０．１ｎ
ｍ間隔で測定し、各波長の光強度を演算処理して求め
る。この波長範囲は約１８９．８ＴＨｚから１９６．０
ＴＨｚの光周波数範囲に相当する。従って、測定した波
長範囲を単に光周波数範囲に変換すれば、光周波数スペ
クトラムを得ることができる。
【００２８】このようにして得られた光周波数スペクト
ラムの一例を図２に示す。図２は、本発明の一実施形態
による光周波数スペクトラム計算方法が適用されない場
合に得られたＤＦＢレーザの光スペクトラムの一例を示
す図である。図示されたように、この例では、約１９
２．８ＴＨｚ付近に光強度のピークを有する波形が得ら
れ、その左右の光周波数領域においては、光強度が約
０．００００１ｍＷ付近で振動する波形が得られる。
ラムの一例を図２に示す。図２は、本発明の一実施形態
による光周波数スペクトラム計算方法が適用されない場
合に得られたＤＦＢレーザの光スペクトラムの一例を示
す図である。図示されたように、この例では、約１９
２．８ＴＨｚ付近に光強度のピークを有する波形が得ら
れ、その左右の光周波数領域においては、光強度が約
０．００００１ｍＷ付近で振動する波形が得られる。
【００２９】次に、本発明の一実施形態による光周波数
スペクトラム計算方法について詳細に説明する。
スペクトラム計算方法について詳細に説明する。
【００３０】本実施形態においては、分光器５′の波長
が変化すると波長帯域も変化することを考慮し、各測定
点ｍにおける波長帯域幅をＲＢ（ｍ）と表す。本発明の
一実施形態による光周波数スペクトラム計算方法が特徴
とするところは、図１中の波長帯域幅記憶部４０に記憶
された測定波長に対する通過波長帯域幅の特性を用いる
点である。波長帯域幅記憶部４０は、分光器５′の測定
波長に対する通過波長帯域幅の特性が記憶されている。
例えば、６００ｎｍ〜１７５０ｎｍに対する分光器５′
波の長帯域幅が１０ｎｍ毎に記憶されている。この値は
実測又は計算により求めた値を予め記憶させておく。
が変化すると波長帯域も変化することを考慮し、各測定
点ｍにおける波長帯域幅をＲＢ（ｍ）と表す。本発明の
一実施形態による光周波数スペクトラム計算方法が特徴
とするところは、図１中の波長帯域幅記憶部４０に記憶
された測定波長に対する通過波長帯域幅の特性を用いる
点である。波長帯域幅記憶部４０は、分光器５′の測定
波長に対する通過波長帯域幅の特性が記憶されている。
例えば、６００ｎｍ〜１７５０ｎｍに対する分光器５′
波の長帯域幅が１０ｎｍ毎に記憶されている。この値は
実測又は計算により求めた値を予め記憶させておく。
【００３１】以下に説明する処理は、図１中のＣＰＵ３
４が所定のプログラムを実行することにより行われる。
まず、測定する波長の間隔を波長間隔Ｓに設定し、前述
のように、光の強度を測定する波長帯域に亘って測定す
る。この測定動作は前述した動作と全く同一である。
尚、測定前又は測定後に、操作者は任意の光周波数帯域
幅Ｒｆを設定する、この光周波数帯域幅Ｒｆは操作者が
任意に設定可能であり、例えば、１００ＧＨｚに設定す
る。
４が所定のプログラムを実行することにより行われる。
まず、測定する波長の間隔を波長間隔Ｓに設定し、前述
のように、光の強度を測定する波長帯域に亘って測定す
る。この測定動作は前述した動作と全く同一である。
尚、測定前又は測定後に、操作者は任意の光周波数帯域
幅Ｒｆを設定する、この光周波数帯域幅Ｒｆは操作者が
任意に設定可能であり、例えば、１００ＧＨｚに設定す
る。
【００３２】測定が終了すると、まず波長帯域幅記憶部
４０に記憶されている波長帯域幅に基づき、各測定点ｍ
に対する分光器５′の波長帯域幅ＲＢ（ｍ）を求める。
測定点ｍに対応する波長が記憶されていない場合は、記
憶されている最も近い波長の通過帯域幅をもとに直線補
間などの方法によりＲＢ（ｍ）を求める。次に、操作者
の設定した光周波数帯域幅Ｒｆを波長帯域幅に換算する
処理を行う。周波数帯域幅を同一とした場合の波長帯域
幅は測定波長に依存して異なるため、換算された波長帯
域幅をＲ０（ｍ）で表す。換算式は以下の（２）式のよ
うになる。
４０に記憶されている波長帯域幅に基づき、各測定点ｍ
に対する分光器５′の波長帯域幅ＲＢ（ｍ）を求める。
測定点ｍに対応する波長が記憶されていない場合は、記
憶されている最も近い波長の通過帯域幅をもとに直線補
間などの方法によりＲＢ（ｍ）を求める。次に、操作者
の設定した光周波数帯域幅Ｒｆを波長帯域幅に換算する
処理を行う。周波数帯域幅を同一とした場合の波長帯域
幅は測定波長に依存して異なるため、換算された波長帯
域幅をＲ０（ｍ）で表す。換算式は以下の（２）式のよ
うになる。
【数２】
【００３３】次に、移動加算する範囲（測定点の数）Ｎ
（ｍ）を以下の（３）式より決める。前述のように波長
帯域幅Ｒ０（ｍ）が測定点毎に異なるため、移動加算す
る範囲も測定点毎に異なる。
（ｍ）を以下の（３）式より決める。前述のように波長
帯域幅Ｒ０（ｍ）が測定点毎に異なるため、移動加算す
る範囲も測定点毎に異なる。
【数３】
次に、（４）式により、光周波数帯域幅ＲＢｆに対する
光強度Ｐ′（ｍ）を各測定点ｍについて求める。
光強度Ｐ′（ｍ）を各測定点ｍについて求める。
【数４】
【００３４】上記（４）式によれば、光強度Ｐ′（ｍ）
は、各測定点ｍの光強度Ｐ（ｍ）を、光周波数帯域幅Ｒ
ｆの範囲にわたって移動加算し、更に、測定点ｍにより
異なる波長帯域幅ＲＢ（ｍ）で測定したことによる誤差
を補正している。従って、波長帯域幅ＲＢ（ｍ）で測定
されたデータを、光周波数帯域幅Ｒｆとした場合の光ス
ペクトラムに変換することができる。
は、各測定点ｍの光強度Ｐ（ｍ）を、光周波数帯域幅Ｒ
ｆの範囲にわたって移動加算し、更に、測定点ｍにより
異なる波長帯域幅ＲＢ（ｍ）で測定したことによる誤差
を補正している。従って、波長帯域幅ＲＢ（ｍ）で測定
されたデータを、光周波数帯域幅Ｒｆとした場合の光ス
ペクトラムに変換することができる。
【００３５】図３は、本発明の一実施形態による光周波
数スペクトラム計算方法を適用した場合に得られる光周
波数スペクトラムである。図３の光周波数スペクトラム
は、図２に示した光スペクトラムの各測定点ｍの光強度
を（４）式により光周波数帯域幅１００ＧＨｚの範囲に
わたって移動加算し、補正したものである。例えば、図
３中の測定点Ａ２の値は、図２中の測定点Ａ１を中心に
光周波数帯域幅１００ＧＨｚの範囲にわたって加算し、
補正して得られたものである。る。尚、Ｎ（ｍ）が整数
でない場合、小数部を切り捨ててしまうと、移動加算さ
れる幅が光周波数帯域幅Ｒｆに対して狭くなるため誤差
を生じる。この場合は下記（５）式のように、光周波数
帯域幅Ｒｆの外側の波長帯域を考慮に入れて補正するこ
ともできる。
数スペクトラム計算方法を適用した場合に得られる光周
波数スペクトラムである。図３の光周波数スペクトラム
は、図２に示した光スペクトラムの各測定点ｍの光強度
を（４）式により光周波数帯域幅１００ＧＨｚの範囲に
わたって移動加算し、補正したものである。例えば、図
３中の測定点Ａ２の値は、図２中の測定点Ａ１を中心に
光周波数帯域幅１００ＧＨｚの範囲にわたって加算し、
補正して得られたものである。る。尚、Ｎ（ｍ）が整数
でない場合、小数部を切り捨ててしまうと、移動加算さ
れる幅が光周波数帯域幅Ｒｆに対して狭くなるため誤差
を生じる。この場合は下記（５）式のように、光周波数
帯域幅Ｒｆの外側の波長帯域を考慮に入れて補正するこ
ともできる。
【数５】
【００３６】以上、本発明の実施形態について説明した
が、光源１０の光を光ファイバを介して分光器５′に出
射する構成とすることもできる。この場合は、光ファイ
バの出力端が入射スリット１２の役目を果たすため、入
射スリット１２を省略することができる。また、凹面鏡
１４及び凹面鏡１８を同一の凹面鏡で兼用させる構成と
することもできる。あるいは、凹面鏡１４と凹面鏡１８
をレンズで置き換えることもできる。更に、特開平６−
２２１９２２号公報で開示されているような２段式分光
器にも本発明の実施形態を適用することができる。
が、光源１０の光を光ファイバを介して分光器５′に出
射する構成とすることもできる。この場合は、光ファイ
バの出力端が入射スリット１２の役目を果たすため、入
射スリット１２を省略することができる。また、凹面鏡
１４及び凹面鏡１８を同一の凹面鏡で兼用させる構成と
することもできる。あるいは、凹面鏡１４と凹面鏡１８
をレンズで置き換えることもできる。更に、特開平６−
２２１９２２号公報で開示されているような２段式分光
器にも本発明の実施形態を適用することができる。
【００３７】また、前述した実施形態では、図４中のス
リット幅制御装置３２を省略した場合について説明した
が、例え図４のようにスリット幅制御装置３２を有する
場合であっても本発明の実施形態を適用することができ
る。この場合にあっても、本実施形態によって、スリッ
ト幅制御装置３２により設定可能なスリット幅より得ら
れる光周波数帯域幅と異なる光周波数帯域幅に対する光
スペクトラムを計算することができる。
リット幅制御装置３２を省略した場合について説明した
が、例え図４のようにスリット幅制御装置３２を有する
場合であっても本発明の実施形態を適用することができ
る。この場合にあっても、本実施形態によって、スリッ
ト幅制御装置３２により設定可能なスリット幅より得ら
れる光周波数帯域幅と異なる光周波数帯域幅に対する光
スペクトラムを計算することができる。
【００３８】更に、本実施形態においては、測定範囲を
波長により定め、各測定点を等波長間隔とした場合を説
明したが、本発明の原理は各測定点の間隔が等波長間隔
でない場合にも適用できる。例えば、測定範囲を光周波
数により定め、各測定点を等周波数間隔とすることもで
きる。この場合は、測定点の各々に対し、所望の光周波
数帯域幅と等しい周波数領域を設定し、この範囲で光強
度を加算すればよい。
波長により定め、各測定点を等波長間隔とした場合を説
明したが、本発明の原理は各測定点の間隔が等波長間隔
でない場合にも適用できる。例えば、測定範囲を光周波
数により定め、各測定点を等周波数間隔とすることもで
きる。この場合は、測定点の各々に対し、所望の光周波
数帯域幅と等しい周波数領域を設定し、この範囲で光強
度を加算すればよい。
【００３９】あるいは、回折格子１６の回動角度が等間
隔となるように測定点の間隔を定める場合にも本発明を
適用できる。回折格子１６を定速度で回動し、各測定点
を一定の時間間隔で測定しようとする場合である。この
場合も同様に、測定点の各々に対し、所望の光周波数帯
域幅と等しい周波数領域を設定し、この範囲で光強度を
加算すればよい。
隔となるように測定点の間隔を定める場合にも本発明を
適用できる。回折格子１６を定速度で回動し、各測定点
を一定の時間間隔で測定しようとする場合である。この
場合も同様に、測定点の各々に対し、所望の光周波数帯
域幅と等しい周波数領域を設定し、この範囲で光強度を
加算すればよい。
【００４０】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
測定された光スペクトラムの各測定点の光強度測定値を
波長軸方向に光周波数帯域幅が一定となるように移動加
算するようにしたので、出射スリットの幅を任意に設定
することのできない分光器においても、任意の光周波数
帯域幅による光スペクトラムを求めることができるとい
う効果がある。更に、分光器の各波長に対する分解能帯
域幅をあらかじめ記憶しておき、移動加算された光強度
に測定波長に対する分光器の波長帯域幅と測定波長間隔
の比を掛けることにより、分光器の波長帯域幅が測定波
長に依存して変化する場合でも、任意の光周波数帯域幅
に対する光周波数スペクトラムを正しく求めることがで
きるという効果がある。
測定された光スペクトラムの各測定点の光強度測定値を
波長軸方向に光周波数帯域幅が一定となるように移動加
算するようにしたので、出射スリットの幅を任意に設定
することのできない分光器においても、任意の光周波数
帯域幅による光スペクトラムを求めることができるとい
う効果がある。更に、分光器の各波長に対する分解能帯
域幅をあらかじめ記憶しておき、移動加算された光強度
に測定波長に対する分光器の波長帯域幅と測定波長間隔
の比を掛けることにより、分光器の波長帯域幅が測定波
長に依存して変化する場合でも、任意の光周波数帯域幅
に対する光周波数スペクトラムを正しく求めることがで
きるという効果がある。
【図１】 本発明の実施形態による光周波数スペクトラ
ム計算方法が適用される光周波数スペクトラム測定装置
の構成を示すブロック図である。
ム計算方法が適用される光周波数スペクトラム測定装置
の構成を示すブロック図である。
【図２】 本発明の一実施形態による光周波数スペクト
ラム計算方法が適用されない場合に得られたＤＦＢレー
ザの光スペクトラムの一例を示す図である。
ラム計算方法が適用されない場合に得られたＤＦＢレー
ザの光スペクトラムの一例を示す図である。
【図３】 本発明の一実施形態による光周波数スペクト
ラム計算方法を適用した場合に得られる光周波数スペク
トラムである。
ラム計算方法を適用した場合に得られる光周波数スペク
トラムである。
【図４】 従来の光スペクトラム測定装置の構成を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
【図５】 図４に示された分光器５の特性の一例を示す
図である。
図である。
１０ 光源
１２ 入射スリット
１４ 凹面鏡
１６ 回折格子
１８ 凹面鏡
２０′ 出射スリット
２２ 光検出器
２４ 増幅回路
２６ Ａ／Ｄコンバータ
２８ モータ
３０ モータ駆動回路
３４ ＣＰＵ
３６ 表示装置
４０ 帯域幅記憶部
５′ 分光器
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01J 3/00 - 3/51
G01J 9/00 - 9/04
G01N 21/00 - 21/01
G01N 21/17 - 21/71
H04B 10/08
Claims (4)
- 【請求項１】 光スペクトラムの測定点の測定間隔を設
定すると共に光周波数帯域幅を任意に設定し、この光周波数帯域幅に基づいて各測定点毎に波長帯域幅
を設定し、 前記測定点毎に入射される光の光強度を分光器によって
測定し、 前記測定点の各々に対し、短波長及び長波長側に前記測
定間隔及び前記光周波数帯域幅によって決定される波長
領域を設定し、測定された光強度に対して当該波長領域
にわたって光強度を加算することによって前記波長帯域
幅に対応した前記測定点各々の光強度値を得ることを特
徴とする光周波数スペクトラム計算方法。 - 【請求項２】 光スペクトラムの測定点の測定間隔を設
定すると共に光周波数帯域幅を任意に設定し、この光周波数帯域幅に基づいて各測定点毎に波長帯域幅
を設定し、 前記測定点毎に入射される光の光強度を分光器によって
測定し、 前記測定点の各々に対し、低周波数及び高周波数側に前
記測定間隔及び前記光周波数帯域幅によって決定される
光周波数領域を設定し、測定された光強度に対して当該
光周波数領域にわたって光強度を加算することによって
前記波長帯域幅に対応した前記測定点各々の光強度値を
得ることを特徴とする光周波数スペクトラム計算方法。 - 【請求項３】 測定波長に対応する分光器の波長帯域幅
を設定し、 光スペクトラムの測定点の測定間隔を設定すると共に光
周波数帯域幅を任意に設定し、 設定された前記測定点毎に入射される光の光強度を前記
分光器によって測定し、 光スペクトラムの前記測定点各々に対する前記分光器の
波長帯域幅を設定された前記波長帯域幅から求め前記測
定点の各々に対し、短波長及び長波長側に前記測定間隔
及び前記光周波数帯域幅によって決定される波長領域を
設定し、測定された光強度に対して当該波長領域にわた
って光強度を加算することによって前記波長帯域幅に対
応した前記測定点各々の光強度を得て、 前記測定点各々の光強度を、前記波長帯域幅と前記測定
間隔との比に基づいて補正することにより各測定点の光
強度値を得ることを特徴とする光周波数スペクトラム計
算方法。 - 【請求項４】 前記波長領域の最短波長部及び最長波長
部が前記測定点と測定点の間にある場合、 最短波長部にあっては、前記波長領域外であって、当該
最短波長部に最も近接する測定点の光強度、最短波長部
が当該最も近接する測定点への近接の度合い、及び当該
最も近接する測定点における波長帯域幅と前記波長間隔
との比に応じて、 最長波長部にあっては、前記波長領域外であって、当該
最長波長部に最も近接する測定点の光強度、最長波長部
が当該最も近接する測定点への近接の度合い、及び当該
最も近接する測定点における波長帯域幅と前記波長間隔
との比に応じて、 前記光強度値を補正することを特徴とする請求項３記載
の光周波数スペクトラム計算方法。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14346698A JP3478125B2 (ja) | 1998-05-25 | 1998-05-25 | 光周波数スペクトラム計算方法 |
| EP99110044A EP0961107A3 (en) | 1998-05-25 | 1999-05-21 | Method of calculating optical frequency spectrum |
| US09/316,064 US6304324B1 (en) | 1998-05-25 | 1999-05-21 | Method of calculating optical frequency spectrum |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14346698A JP3478125B2 (ja) | 1998-05-25 | 1998-05-25 | 光周波数スペクトラム計算方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11337408A JPH11337408A (ja) | 1999-12-10 |
| JP3478125B2 true JP3478125B2 (ja) | 2003-12-15 |
Family
ID=15339369
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14346698A Expired - Lifetime JP3478125B2 (ja) | 1998-05-25 | 1998-05-25 | 光周波数スペクトラム計算方法 |
Country Status (3)
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|---|---|
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| EP (1) | EP0961107A3 (ja) |
| JP (1) | JP3478125B2 (ja) |
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- 1998-05-25 JP JP14346698A patent/JP3478125B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1999
- 1999-05-21 US US09/316,064 patent/US6304324B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1999-05-21 EP EP99110044A patent/EP0961107A3/en not_active Withdrawn
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| EP0961107A2 (en) | 1999-12-01 |
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