JP3461999B2 - 磁気抵抗効果素子 - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は磁気抵抗効果素子に
関する。
関する。
【0002】
【従来の技術】磁気抵抗効果は、外部磁界により強磁性
体の電気抵抗が変化する現象であり、高感度磁気センサ
ー(例えば磁気記録読み出し用ヘッド)としての応用が
検討されている。
体の電気抵抗が変化する現象であり、高感度磁気センサ
ー(例えば磁気記録読み出し用ヘッド)としての応用が
検討されている。
【0003】磁気抵抗効果は強磁性体自体が持つ異常磁
気抵抗効果(AMR)が知られているが、高々数%程度
の抵抗変化率しか示さない。これに対し、非磁性導電体
層を介して積層された強磁性導電体層間の磁化の向きに
依存した磁気抵抗効果(GMR)は10%を越える抵抗
変化率を得ることができ、高感度磁気センサー、特に磁
気記録の読出ヘッドとして有望視されている。
気抵抗効果(AMR)が知られているが、高々数%程度
の抵抗変化率しか示さない。これに対し、非磁性導電体
層を介して積層された強磁性導電体層間の磁化の向きに
依存した磁気抵抗効果(GMR)は10%を越える抵抗
変化率を得ることができ、高感度磁気センサー、特に磁
気記録の読出ヘッドとして有望視されている。
【0004】このようなGMRタイプの磁気抵抗効果素
子としては、強磁性体層間に磁気的交換結合があるもの
(例えば金属磁性人工格子)と、強磁性体層間に実質的
に交換相互作用のない(例えばスピンバルブ)ものがあ
る。
子としては、強磁性体層間に磁気的交換結合があるもの
(例えば金属磁性人工格子)と、強磁性体層間に実質的
に交換相互作用のない(例えばスピンバルブ)ものがあ
る。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】読出ヘッド等の小磁界
を検出するためには、小さい磁界で大きな抵抗変化を得
る必要があり、抵抗変化率の大きさとともに、飽和磁界
(磁界印加による抵抗変化が飽和する磁界)の小さいこ
とが要求される。従ってGMRタイプの磁気抵抗効果素
子においては、積層膜を構成する強磁性体層の軟磁性化
が要求される。
を検出するためには、小さい磁界で大きな抵抗変化を得
る必要があり、抵抗変化率の大きさとともに、飽和磁界
(磁界印加による抵抗変化が飽和する磁界)の小さいこ
とが要求される。従ってGMRタイプの磁気抵抗効果素
子においては、積層膜を構成する強磁性体層の軟磁性化
が要求される。
【0006】このような軟磁性化を達成するためには磁
気的にソフトな材料を用いればよいが、材料によっては
抵抗変化率そのものが低下したり、また、素子作成時の
諸条件に耐えられなかったり、素子動作時の耐久性に問
題がある場合がある。
気的にソフトな材料を用いればよいが、材料によっては
抵抗変化率そのものが低下したり、また、素子作成時の
諸条件に耐えられなかったり、素子動作時の耐久性に問
題がある場合がある。
【0007】例えばNiFe合金(パーマロイなど)は
保磁力が小さく軟磁性材料の代表であるが、Co合金系
に比べキュリー温度が低く耐熱性に劣る。一方Co合金
は保磁力が大きく軟磁気特性に問題があり、飽和磁界が
大きくなってしまう。このように強磁性導電体層の材料
選択だけでは相反する特性を満足させることは困難であ
った。
保磁力が小さく軟磁性材料の代表であるが、Co合金系
に比べキュリー温度が低く耐熱性に劣る。一方Co合金
は保磁力が大きく軟磁気特性に問題があり、飽和磁界が
大きくなってしまう。このように強磁性導電体層の材料
選択だけでは相反する特性を満足させることは困難であ
った。
【0008】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、強磁性導電体層に保磁力の大きい材料を用いた場合
でも、飽和磁界を低減することのできる磁気抵抗効果素
子の提供を目的とする。
で、強磁性導電体層に保磁力の大きい材料を用いた場合
でも、飽和磁界を低減することのできる磁気抵抗効果素
子の提供を目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明者らはCo合金の
耐熱性及び高い抵抗変化率に着目し、Co合金を用いた
場合の軟磁性化について研究を進めた。その結果、強磁
性導電体層を強磁性膜の積層体とし、個々の強磁性膜の
容易軸を競合させることで軟磁性化が達成できることを
見出した。
耐熱性及び高い抵抗変化率に着目し、Co合金を用いた
場合の軟磁性化について研究を進めた。その結果、強磁
性導電体層を強磁性膜の積層体とし、個々の強磁性膜の
容易軸を競合させることで軟磁性化が達成できることを
見出した。
【0010】すなわち本発明は、第1の強磁性導電体層
と、この第1の強磁性導電体層上に積層された非磁性導
電体層と、この非磁性導電体層上に積層された第2の強
磁性導電体層とを備えた積層体と;この積層体に形成さ
れた一対の電極とを具備し、この第1及び第2の強磁性
導電体層の少なくとも一方が、磁化容易軸方向の異なる
第1及び第2の強磁性膜を含んでいることを特徴とする
磁気抵抗効果素子である。
と、この第1の強磁性導電体層上に積層された非磁性導
電体層と、この非磁性導電体層上に積層された第2の強
磁性導電体層とを備えた積層体と;この積層体に形成さ
れた一対の電極とを具備し、この第1及び第2の強磁性
導電体層の少なくとも一方が、磁化容易軸方向の異なる
第1及び第2の強磁性膜を含んでいることを特徴とする
磁気抵抗効果素子である。
【0011】磁化容易軸方向の異なる複数の強磁性膜か
らなる強磁性導電体層は、強磁性膜間には直接交換結合
が生じており、強磁性導電体層全体としては磁化は一体
的に振る舞う。この中に容易軸方向の異なる強磁性膜が
存在することで、異方性エネルギーが打ち消しあい、全
体として低い飽和磁界を実現することができる。この打
ち消し合いの効果は、容易軸が略直交する場合にもっと
も効果的に現れる。
らなる強磁性導電体層は、強磁性膜間には直接交換結合
が生じており、強磁性導電体層全体としては磁化は一体
的に振る舞う。この中に容易軸方向の異なる強磁性膜が
存在することで、異方性エネルギーが打ち消しあい、全
体として低い飽和磁界を実現することができる。この打
ち消し合いの効果は、容易軸が略直交する場合にもっと
も効果的に現れる。
【0012】
【発明の実施の形態】このような本発明をスピンバルブ
タイプの磁気抵抗効果素子に適用すると以下の構成にな
る。すなわち、膜面内方向に一軸磁気異方性が付与され
た強磁性導電体層からなり測定磁界により磁化方向が回
転するフリー層と、膜面内方向に一軸磁気異方性が付与
された強磁性導電体層からなり測定磁界により磁化方向
が実質的に回転しないピン層とが、非磁性導電層を介し
て積層された積層体を備え、前記フリー層とピン層との
磁化のなす角度による前記積層体の電気抵抗の変化によ
り測定磁界を検出する磁気抵抗効果素子において、前記
フリー層が互いに磁化容易軸方向の異なる第1及び第2
の強磁性膜を含み、前記フリー層全体として所定方向の
一軸磁気異方性を保持していることを特徴とする磁気抵
抗効果素子である。
タイプの磁気抵抗効果素子に適用すると以下の構成にな
る。すなわち、膜面内方向に一軸磁気異方性が付与され
た強磁性導電体層からなり測定磁界により磁化方向が回
転するフリー層と、膜面内方向に一軸磁気異方性が付与
された強磁性導電体層からなり測定磁界により磁化方向
が実質的に回転しないピン層とが、非磁性導電層を介し
て積層された積層体を備え、前記フリー層とピン層との
磁化のなす角度による前記積層体の電気抵抗の変化によ
り測定磁界を検出する磁気抵抗効果素子において、前記
フリー層が互いに磁化容易軸方向の異なる第1及び第2
の強磁性膜を含み、前記フリー層全体として所定方向の
一軸磁気異方性を保持していることを特徴とする磁気抵
抗効果素子である。
【0013】この膜構成を第1図(a)に示す。基板1
上にフリー層2,非磁性導電層3及びピン層4が形成さ
れている。このピン層の磁化は例えばFeMnの様な反
強磁性膜(図示せず)で固定されている。この積層膜に
一対の電極が付与される(図示せず)。
上にフリー層2,非磁性導電層3及びピン層4が形成さ
れている。このピン層の磁化は例えばFeMnの様な反
強磁性膜(図示せず)で固定されている。この積層膜に
一対の電極が付与される(図示せず)。
【0014】このフリー層2を第1及び第2の強磁性膜
2−1,2−2で構成する。例えば非磁性導電層3に接
する側を第1の強磁性膜2−1とする。スピンバルブタ
イプの磁気抵抗効果素子ではピン層4は磁化が固定され
ているため、軟磁気特性は特には要求されない。軟磁気
特性が要求されるのはフリー層2のみである。従ってフ
リー層2のみが軟磁気特性が向上するように多層化・競
合磁化状態を実現すればよい。しかしながら必要に応じ
ピン層も多層化を行っても良いことは言うまでもない。
2−1,2−2で構成する。例えば非磁性導電層3に接
する側を第1の強磁性膜2−1とする。スピンバルブタ
イプの磁気抵抗効果素子ではピン層4は磁化が固定され
ているため、軟磁気特性は特には要求されない。軟磁気
特性が要求されるのはフリー層2のみである。従ってフ
リー層2のみが軟磁気特性が向上するように多層化・競
合磁化状態を実現すればよい。しかしながら必要に応じ
ピン層も多層化を行っても良いことは言うまでもない。
【0015】GMRタイプの場合、非磁性層と磁性層の
界面が磁気抵抗効果に大きな影響を与える。従って抵抗
変化率が大きく、耐熱性に優れたCo若しくはCo合金
を用いる場合は、非磁性導電層に接する側(第1の強磁
性膜2−1)をCo若しくはCo合金とするようにフリ
ー層2中の層構成を構成すればよい。
界面が磁気抵抗効果に大きな影響を与える。従って抵抗
変化率が大きく、耐熱性に優れたCo若しくはCo合金
を用いる場合は、非磁性導電層に接する側(第1の強磁
性膜2−1)をCo若しくはCo合金とするようにフリ
ー層2中の層構成を構成すればよい。
【0016】例えばピン層をCo若しくはCo合金層で
構成し、フリー層をCo若しくはCo合金からなる第1
の磁性膜と、パーマロイなどからなる第2の強磁性膜2
−2を積層したものとし、この第1及び第2の強磁性膜
の容易軸方向を例えば直交させることで実現できる。こ
の第1の強磁性膜は非磁性導電層に接する側に配置され
る。
構成し、フリー層をCo若しくはCo合金からなる第1
の磁性膜と、パーマロイなどからなる第2の強磁性膜2
−2を積層したものとし、この第1及び第2の強磁性膜
の容易軸方向を例えば直交させることで実現できる。こ
の第1の強磁性膜は非磁性導電層に接する側に配置され
る。
【0017】さてこのように競合した磁化状態の実現で
あるが、例えば、磁場中熱処理により付与することがで
きる。第1及び第2の強磁性膜を異なる材料で構成す
る。高温側から冷却する過程で印加磁界の方向を、例え
ば90度、変化させるのである。印加磁界の方向を変え
る温度は膜構成(第1及び第2の強磁性膜の組み合わ
せ、積層状態などの諸条件により異なる)に依存する。
あるが、例えば、磁場中熱処理により付与することがで
きる。第1及び第2の強磁性膜を異なる材料で構成す
る。高温側から冷却する過程で印加磁界の方向を、例え
ば90度、変化させるのである。印加磁界の方向を変え
る温度は膜構成(第1及び第2の強磁性膜の組み合わ
せ、積層状態などの諸条件により異なる)に依存する。
【0018】適宜温度を設定することで、例えば、第1
の強磁性膜は初期の磁場方向、第2の強磁性膜には後半
の磁場方向に磁化容易軸が向くことになる。ただし膜全
体で見た場合、異方性を支配する膜の容易軸方向に一軸
磁気異方性は導入される。例えば磁化の大きさと膜厚と
異方性磁界の積の大きい膜に全体の異方性は支配される
ことになる。
の強磁性膜は初期の磁場方向、第2の強磁性膜には後半
の磁場方向に磁化容易軸が向くことになる。ただし膜全
体で見た場合、異方性を支配する膜の容易軸方向に一軸
磁気異方性は導入される。例えば磁化の大きさと膜厚と
異方性磁界の積の大きい膜に全体の異方性は支配される
ことになる。
【0019】第2の強磁性膜の磁化が第1及び第2の強
磁性膜の積層膜の磁化を支配しているとすると、第2の
強磁性膜の容易軸方向がこの積層膜の一軸磁気異方性の
方向となる。従って、第1の強磁性膜の磁化も無磁場状
態では第2の磁性膜の容易軸方向を向くことになる。
磁性膜の積層膜の磁化を支配しているとすると、第2の
強磁性膜の容易軸方向がこの積層膜の一軸磁気異方性の
方向となる。従って、第1の強磁性膜の磁化も無磁場状
態では第2の磁性膜の容易軸方向を向くことになる。
【0020】この様子を図1(b)に示す。例えばピン
層4の容易軸方向と、第1の強磁性膜2−1の容易軸方
向が一致し、第2の強磁性膜2−2の容易軸がそれに直
交する様子を示す。第2の強磁性膜2−2がフリー層2
全体の異方性方向を支配し、結果的にフリー層2とピン
層4とは直交した異方性が導入される。
層4の容易軸方向と、第1の強磁性膜2−1の容易軸方
向が一致し、第2の強磁性膜2−2の容易軸がそれに直
交する様子を示す。第2の強磁性膜2−2がフリー層2
全体の異方性方向を支配し、結果的にフリー層2とピン
層4とは直交した異方性が導入される。
【0021】スピンバルブタイプではピン層の磁化固定
に反強磁性膜を用いることが多い。この場合の構成は、
例えば図2に示すようになる。すなわち、基板21上
に、膜面内方向に一軸磁気異方性が付与された第1の強
磁性導電体層(ピン層24)と;この第1の強磁性導電
体層上に積層された非磁性導電体層23と;この非磁性
導電体層上に積層された膜面内方向に一軸磁気異方性が
付与された第2の強磁性導電体層(フリー層22)と;
反強磁性体からなり、前記第1の強磁性導電体層上に積
層された磁化固着層25とを備えた積層体が形成され、
この積層体に形成された一対の電極26とを具備し、前
記第2の強磁性導電体層が、磁化容易軸方向の異なる第
1及び第2の強磁性膜22−1,22−2を含み、前記
第2の強磁性導電体層全体として所定方向の一軸磁気異
方性を保持していることを特徴とする磁気抵抗効果素子
である。
に反強磁性膜を用いることが多い。この場合の構成は、
例えば図2に示すようになる。すなわち、基板21上
に、膜面内方向に一軸磁気異方性が付与された第1の強
磁性導電体層(ピン層24)と;この第1の強磁性導電
体層上に積層された非磁性導電体層23と;この非磁性
導電体層上に積層された膜面内方向に一軸磁気異方性が
付与された第2の強磁性導電体層(フリー層22)と;
反強磁性体からなり、前記第1の強磁性導電体層上に積
層された磁化固着層25とを備えた積層体が形成され、
この積層体に形成された一対の電極26とを具備し、前
記第2の強磁性導電体層が、磁化容易軸方向の異なる第
1及び第2の強磁性膜22−1,22−2を含み、前記
第2の強磁性導電体層全体として所定方向の一軸磁気異
方性を保持していることを特徴とする磁気抵抗効果素子
である。
【0022】図1(b)で示したのと同様の異方性が導
入されている。この場合紙面平行面が媒体面となる。
尚、図2に示す構成ではフリー層22にバイアス磁界を
付与するためCoPt合金層のような硬質磁性層がフリ
ー層に接して形成されている。硬質磁性層は必須ではな
いものの、バルクハウゼンノイズ除去のためフリー層に
はバイアス磁界を印加することが好ましい。この方向は
フリー層の一軸磁気異方性の方向と平行方向である。
入されている。この場合紙面平行面が媒体面となる。
尚、図2に示す構成ではフリー層22にバイアス磁界を
付与するためCoPt合金層のような硬質磁性層がフリ
ー層に接して形成されている。硬質磁性層は必須ではな
いものの、バルクハウゼンノイズ除去のためフリー層に
はバイアス磁界を印加することが好ましい。この方向は
フリー層の一軸磁気異方性の方向と平行方向である。
【0023】またこの構成では電極を積層膜の上に設置
したが、基板と積層膜の間、若しくは硬質磁性層と積層
膜との間でも構わない。さらに一般的に反強磁性膜は耐
腐食性に劣るため、反強磁性層上に保護膜を形成しても
良い。
したが、基板と積層膜の間、若しくは硬質磁性層と積層
膜との間でも構わない。さらに一般的に反強磁性膜は耐
腐食性に劣るため、反強磁性層上に保護膜を形成しても
良い。
【0024】通常フリー層の一軸磁気異方性は媒体面に
平行に、かつ、ピン層の一軸磁気異方性は媒体面に垂直
に設定される。従って、前述の磁場中熱処理において、
初期の印加磁場をピン層の一軸磁気異方性の方向とし、
後段の印加磁場をフリー層の一軸磁気異方性の方向とす
ればよい。すると例えば、フリー層を構成する第1の磁
性膜の磁化容易軸の方向とピン層のそれとが同方向とな
り、フリー層を構成する第2の磁性膜の磁化容易軸方向
はそれと直交する方向となる。
平行に、かつ、ピン層の一軸磁気異方性は媒体面に垂直
に設定される。従って、前述の磁場中熱処理において、
初期の印加磁場をピン層の一軸磁気異方性の方向とし、
後段の印加磁場をフリー層の一軸磁気異方性の方向とす
ればよい。すると例えば、フリー層を構成する第1の磁
性膜の磁化容易軸の方向とピン層のそれとが同方向とな
り、フリー層を構成する第2の磁性膜の磁化容易軸方向
はそれと直交する方向となる。
【0025】この場合も磁気抵抗効果に大きく寄与する
のは非磁性導電膜に接する第1の強磁性膜であるため、
本発明の条件を満足して第2の強磁性膜を付加すること
で、第1の強磁性膜だけでは両立させにくい特性を両立
させることができる。
のは非磁性導電膜に接する第1の強磁性膜であるため、
本発明の条件を満足して第2の強磁性膜を付加すること
で、第1の強磁性膜だけでは両立させにくい特性を両立
させることができる。
【0026】本発明では第1及び第2の強磁性導電層の
少なくとも一方が複数の磁性膜を含んでいればよく、2
層以上の強磁性膜を含んでいても良いことは言うまでも
ない。
少なくとも一方が複数の磁性膜を含んでいればよく、2
層以上の強磁性膜を含んでいても良いことは言うまでも
ない。
【0027】ここでフリー層が2種の磁性層の積層膜か
らなり、各々の磁性層の活性化エネルギーがε1,ε2
(eV)であり、成膜を磁場中で行う若しくは活性化エ
ネルギーに比較して充分高温で長時間アニールを行う、
等の方法で、一方向に分散の小さな一軸異方性がついて
いる場合について説明する。
らなり、各々の磁性層の活性化エネルギーがε1,ε2
(eV)であり、成膜を磁場中で行う若しくは活性化エ
ネルギーに比較して充分高温で長時間アニールを行う、
等の方法で、一方向に分散の小さな一軸異方性がついて
いる場合について説明する。
【0028】一般に誘導磁気異方性が付与された磁性膜
に、容易軸と直交する方向に磁場をかけながら温度Ta
でアニールした場合、異方性磁界は Hk=2Hk0(exp{−Aexp(−βε)t}−
0.5) という式に基づいて変化する。ここでHk0は無限時間
アニールした場合の異方性磁界で、Aは実験により求め
られる定数、tは熱処理時間、また β=1/(kB・Ta) で、kBはボルツマン定数、Taはアニール温度を表
す。
に、容易軸と直交する方向に磁場をかけながら温度Ta
でアニールした場合、異方性磁界は Hk=2Hk0(exp{−Aexp(−βε)t}−
0.5) という式に基づいて変化する。ここでHk0は無限時間
アニールした場合の異方性磁界で、Aは実験により求め
られる定数、tは熱処理時間、また β=1/(kB・Ta) で、kBはボルツマン定数、Taはアニール温度を表
す。
【0029】ここで、CoNbZr膜の実験から求めた
値Aは11.6である。これを用いて活性エネルギーε
とアニール温度TaによるHkの依存性を計算した結果
を図5に示す。アニール時間は1000秒である。
値Aは11.6である。これを用いて活性エネルギーε
とアニール温度TaによるHkの依存性を計算した結果
を図5に示す。アニール時間は1000秒である。
【0030】この図から分かるように、同じ温度で直交
化熱処理を行っても活性化エネルギーが異なると最終的
なHkの値が異なっている。またある活性化エネルギー
に対して適切なアニール温度を選べばHkをほぼ0に近
づけることができることが分かる。
化熱処理を行っても活性化エネルギーが異なると最終的
なHkの値が異なっている。またある活性化エネルギー
に対して適切なアニール温度を選べばHkをほぼ0に近
づけることができることが分かる。
【0031】しかしながら単一の膜でアニールを行った
場合は異方性分散が起きてしまうため、Hkは小さくな
っても保磁力Hcが大ききなってしまい、バルクハウゼ
ン・ノイズがでるなどの問題が生じてしまう。
場合は異方性分散が起きてしまうため、Hkは小さくな
っても保磁力Hcが大ききなってしまい、バルクハウゼ
ン・ノイズがでるなどの問題が生じてしまう。
【0032】一方、フリー層が2種の磁性層の積層膜か
らなっており、活性化エネルギーεが異なっている場
合、ある温度Taで直交化アニールを行うと、異方性磁
界の値は各層で異なってくる。
らなっており、活性化エネルギーεが異なっている場
合、ある温度Taで直交化アニールを行うと、異方性磁
界の値は各層で異なってくる。
【0033】ここでε1=0.42(eV),ε2=
0.52(eV)の磁性材料を用いて2層の磁性積層膜
を作成した場合を考える。また両層のMs・d積(Ms
は飽和磁化、dは膜厚)が1:1になるように膜厚を設
定したとする。
0.52(eV)の磁性材料を用いて2層の磁性積層膜
を作成した場合を考える。また両層のMs・d積(Ms
は飽和磁化、dは膜厚)が1:1になるように膜厚を設
定したとする。
【0034】すると200℃で直交化熱処理を行った場
合、層1のHkは8(Oe)、層2のHkは20(O
e)となり、トータルのHkは平均値の14(Oe)と
なる。これに対し270℃の処理では、それぞれ−10
(Oe)、14(Oe)となり、平均値として2(O
e)と小さな値にすることができる。
合、層1のHkは8(Oe)、層2のHkは20(O
e)となり、トータルのHkは平均値の14(Oe)と
なる。これに対し270℃の処理では、それぞれ−10
(Oe)、14(Oe)となり、平均値として2(O
e)と小さな値にすることができる。
【0035】また各々の層についてみれば十分に大きな
異方性が付与されており、異方性分散の小さい膜となっ
ている。さらに300℃で直交化熱処理を行うと、層1
が−16(Oe)、層2が0(Oe)となり、平均して
−8(Oe)となる。この場合には、異方性が全体とし
て90度回ってしまう、層2のHkが下がりすぎている
ため異方性分散が起こり、全体としての保磁力がでてし
まう、などの問題が生じる。
異方性が付与されており、異方性分散の小さい膜となっ
ている。さらに300℃で直交化熱処理を行うと、層1
が−16(Oe)、層2が0(Oe)となり、平均して
−8(Oe)となる。この場合には、異方性が全体とし
て90度回ってしまう、層2のHkが下がりすぎている
ため異方性分散が起こり、全体としての保磁力がでてし
まう、などの問題が生じる。
【0036】従ってこのような場合は、270℃程度の
直交化熱処理温度が最適であることになる。直交する容
易軸(第1方向、第2方向)を有する複数の強磁性膜か
ら強磁性導電層が構成される場合、 Hk(total)=[Σ1 (Ms・t・Hk)−Σ2
(Ms・t・Hk)]/Σ1,2 (Ms・t) Ms:各1層の飽和磁束密度; t : 各1層の層の膜厚; Hk:各1層の異方性磁界; Σ1 :第1方向の容易軸を有する強磁性層についての総
和; Σ2 :第2方向の容易軸を有する強磁性層についての総
和; Σ1,2 :強磁性層全体についての総和; で示される値の絶対値の小さい方が軟磁気特性に優れて
いる。実用上は、この値を10(Oe)以下にすること
が好ましい。この関係を満たすような温度などを選択す
ることになる。
直交化熱処理温度が最適であることになる。直交する容
易軸(第1方向、第2方向)を有する複数の強磁性膜か
ら強磁性導電層が構成される場合、 Hk(total)=[Σ1 (Ms・t・Hk)−Σ2
(Ms・t・Hk)]/Σ1,2 (Ms・t) Ms:各1層の飽和磁束密度; t : 各1層の層の膜厚; Hk:各1層の異方性磁界; Σ1 :第1方向の容易軸を有する強磁性層についての総
和; Σ2 :第2方向の容易軸を有する強磁性層についての総
和; Σ1,2 :強磁性層全体についての総和; で示される値の絶対値の小さい方が軟磁気特性に優れて
いる。実用上は、この値を10(Oe)以下にすること
が好ましい。この関係を満たすような温度などを選択す
ることになる。
【0037】本発明に用いる強磁性導電体としては、F
e,Co,Ni及びそれらの合金が挙げられる。特にC
o若しくはCo合金を用いた場合は、耐熱性、高抵抗変
化率を得るうえで効果的である。例えばFeの含有量が
5から40原子%程度のCoリッチのCoFe合金など
が挙げられる。Ptなどの添加元素を加えることもかま
わない。膜厚は5nmから20nm程度である。
e,Co,Ni及びそれらの合金が挙げられる。特にC
o若しくはCo合金を用いた場合は、耐熱性、高抵抗変
化率を得るうえで効果的である。例えばFeの含有量が
5から40原子%程度のCoリッチのCoFe合金など
が挙げられる。Ptなどの添加元素を加えることもかま
わない。膜厚は5nmから20nm程度である。
【0038】Co合金を非磁性導電層に接する側の磁性
層として用い、他の磁性膜との積層により全体として軟
磁性化を達成することで、の高耐熱性(非磁性導電層へ
の拡散の低減など)・高抵抗変化率の特徴を最大限に生
かすことができる。
層として用い、他の磁性膜との積層により全体として軟
磁性化を達成することで、の高耐熱性(非磁性導電層へ
の拡散の低減など)・高抵抗変化率の特徴を最大限に生
かすことができる。
【0039】また非磁性導電体としては、Cu,Au,
Agなどが挙げられる。同じく膜厚は5nmから20n
m程度である。さらに反強磁性体としては、FeMn,
NiO,IrMnなどを用いることができる。
Agなどが挙げられる。同じく膜厚は5nmから20n
m程度である。さらに反強磁性体としては、FeMn,
NiO,IrMnなどを用いることができる。
【0040】磁気抵抗効果素子を磁気記録の読み出しヘ
ッドとして用いた場合、例えばシールドタイプで構成す
ることを考えると、図3に示す構造をとることができ
る。基板31上には強磁性体からなる下部磁気シールド
層32が形成され、絶縁体からなる下部磁気ギャップ層
33を介してフリー層/非磁性導電層/ピン層/磁化固
着層の積層膜からなるMR膜34が形成される。
ッドとして用いた場合、例えばシールドタイプで構成す
ることを考えると、図3に示す構造をとることができ
る。基板31上には強磁性体からなる下部磁気シールド
層32が形成され、絶縁体からなる下部磁気ギャップ層
33を介してフリー層/非磁性導電層/ピン層/磁化固
着層の積層膜からなるMR膜34が形成される。
【0041】MR膜には硬質磁性層35によりバイアス
磁界が付与されている。硬質磁性層35を介して、若し
くは直接MR膜34に電極36が形成され、これらを覆
う絶縁体からなる上部磁気ギャップ層37を介して強磁
性体からなる上部磁気シールド層38が形成されてい
る。
磁界が付与されている。硬質磁性層35を介して、若し
くは直接MR膜34に電極36が形成され、これらを覆
う絶縁体からなる上部磁気ギャップ層37を介して強磁
性体からなる上部磁気シールド層38が形成されてい
る。
【0042】絶縁体としてはアルミナなどを用いること
ができ、強磁性体としてはパーマロイ、CoZrNbな
どのアモルファス磁性合金などを用いることができる。
この構成では、上下磁気シールド層間に媒体磁界が入
り、これをMR膜が検知することになる。
ができ、強磁性体としてはパーマロイ、CoZrNbな
どのアモルファス磁性合金などを用いることができる。
この構成では、上下磁気シールド層間に媒体磁界が入
り、これをMR膜が検知することになる。
【0043】上記構成においては、電極,硬質磁性膜等
を基板に埋め込み、MR積層膜の部分を平坦化すること
も可能である。また上下を逆転させ、反強磁性膜を基板
側に配置することも可能である。
を基板に埋め込み、MR積層膜の部分を平坦化すること
も可能である。また上下を逆転させ、反強磁性膜を基板
側に配置することも可能である。
【0044】録再一体のヘッドを構成する場合は、例え
ば上部磁気シールドを書き込み磁極に兼用して、この磁
極に薄膜コイルを形成すればよい。また、媒体磁界をヨ
ークにより吸い込みMR膜で検出する構成もとることが
できる(図4参照)。例えば、媒体側に突出した部分
(41−1)を設けたヨーク(41)上にMR部(4
2)を形成し、このヨーク部分から導入された媒体磁界
をMR部で検出する構成である(図4(a))。この構
成を上下磁気シールド(図示せず)間に配置し、ヘッド
を構成することになる。
ば上部磁気シールドを書き込み磁極に兼用して、この磁
極に薄膜コイルを形成すればよい。また、媒体磁界をヨ
ークにより吸い込みMR膜で検出する構成もとることが
できる(図4参照)。例えば、媒体側に突出した部分
(41−1)を設けたヨーク(41)上にMR部(4
2)を形成し、このヨーク部分から導入された媒体磁界
をMR部で検出する構成である(図4(a))。この構
成を上下磁気シールド(図示せず)間に配置し、ヘッド
を構成することになる。
【0045】図4(a)に示した構成では図の上下方向
に媒体が移動することになる。例えば図4(b)に示す
ように、基板(401)上に磁気ギャップ(402)を
介して対向する一対のヨーク(403−1、2)を配置
し、この一対のヨーク間にMR部(404)を配置し
て、図の左右方向に媒体を移動させる構成をとることも
できる。
に媒体が移動することになる。例えば図4(b)に示す
ように、基板(401)上に磁気ギャップ(402)を
介して対向する一対のヨーク(403−1、2)を配置
し、この一対のヨーク間にMR部(404)を配置し
て、図の左右方向に媒体を移動させる構成をとることも
できる。
【0046】いずれの場合もMR部分が媒体面から後退
しているので、耐腐食性、耐磨耗性などに優れた構成と
なる。また録再一体型ヘッドの場合は、誘導タイプの書
き込みヘッドを積層することも可能である。
しているので、耐腐食性、耐磨耗性などに優れた構成と
なる。また録再一体型ヘッドの場合は、誘導タイプの書
き込みヘッドを積層することも可能である。
【0047】なおヘッドに限らず磁界センサーとしての
応用や、センサーではなく記録素子(いわゆるMRA
M)として用いることもできる。例えばスピンバルブ構
造でフリー層の磁化の向きで‘1’、‘0’を記録し、
ピン層との間の磁化の向きに依存した電気抵抗の違いに
よりこの情報を読み出す方式などである。その他、磁気
スピン依存散乱に起因する磁気抵抗効果を用いた素子に
本発明が応用できることは言うまでもない。
応用や、センサーではなく記録素子(いわゆるMRA
M)として用いることもできる。例えばスピンバルブ構
造でフリー層の磁化の向きで‘1’、‘0’を記録し、
ピン層との間の磁化の向きに依存した電気抵抗の違いに
よりこの情報を読み出す方式などである。その他、磁気
スピン依存散乱に起因する磁気抵抗効果を用いた素子に
本発明が応用できることは言うまでもない。
【0048】
【実施例】以下に本発明の実施例を説明する。表面に熱
酸化膜を有するSi基板上に、基板側から Co90Zr6 Nb4 非晶質磁性膜:100A(オングス
トローム) Ni80Fe20層:20A Co90Fe10層:40A Cu層:30A Co90Fe10層:40A FeMn層:150A が順次積層された、いわゆる、スピンバルブタイプの磁
気抵抗効果素子を形成した。
酸化膜を有するSi基板上に、基板側から Co90Zr6 Nb4 非晶質磁性膜:100A(オングス
トローム) Ni80Fe20層:20A Co90Fe10層:40A Cu層:30A Co90Fe10層:40A FeMn層:150A が順次積層された、いわゆる、スピンバルブタイプの磁
気抵抗効果素子を形成した。
【0049】ここではピン層がCoFe層の単層であ
り、フリー層がCoZrNb層とNiFe層が第2の磁
性層となり、CoFe層が第1の磁性層となった複合積
層膜となる。
り、フリー層がCoZrNb層とNiFe層が第2の磁
性層となり、CoFe層が第1の磁性層となった複合積
層膜となる。
【0050】なおFeMn層上にはTi層50Aの保護
層を積層した。この積層膜に対し、以下の条件でアニー
ルを行った。 (1)250゜Cで1kOeの磁場を一方向aにかけ1
時間保持し、磁場を印加したままで室温まで冷却。 (2)250゜Cで1kOeの磁場を一方向aにかけ1
時間保持し、磁場を印加したままで200゜Cまで冷
却。200゜Cになった時点で磁場を90度回転させ
(方向b)そのまま室温まで冷却。 (3)250゜Cで1kOeの磁場を一方向aにかけ1
時間保持し、磁場を印加したままで150゜Cまで冷
却。150゜Cになった時点で磁場を90度回転させ
(方向b)そのまま室温まで冷却。
層を積層した。この積層膜に対し、以下の条件でアニー
ルを行った。 (1)250゜Cで1kOeの磁場を一方向aにかけ1
時間保持し、磁場を印加したままで室温まで冷却。 (2)250゜Cで1kOeの磁場を一方向aにかけ1
時間保持し、磁場を印加したままで200゜Cまで冷
却。200゜Cになった時点で磁場を90度回転させ
(方向b)そのまま室温まで冷却。 (3)250゜Cで1kOeの磁場を一方向aにかけ1
時間保持し、磁場を印加したままで150゜Cまで冷
却。150゜Cになった時点で磁場を90度回転させ
(方向b)そのまま室温まで冷却。
【0051】以上の3例についてフリー層の異方性磁界
をVSMで測定した値を示す。参考までに各磁性層を単
独で形成した場合のHk も併せて示す。また各磁性層の
容易軸方向を印加磁場方向で示した。
をVSMで測定した値を示す。参考までに各磁性層を単
独で形成した場合のHk も併せて示す。また各磁性層の
容易軸方向を印加磁場方向で示した。
【0052】
Hk (Oe) CoZrNb NiFe CoFe CoFe( ピン層)
(1) 11 7(a) 3(a) 13(a) 300(a)
(2) 3 7(a) 3(a) 11(b) 300(b)
(3) 11 7(a) 3(a) 13(a) 300(b)
いずれの場合もフリー層全体としては方向aの一軸磁気
異方性の付与されていた。
異方性の付与されていた。
【0053】(1)の場合、フリー層においてはすべて
の層の異方性がa方向であるため、フリー層全体として
も異方性磁界はその単純平均(膜厚、磁化を考慮した)
となり、11Oeと大きい値になっている。
の層の異方性がa方向であるため、フリー層全体として
も異方性磁界はその単純平均(膜厚、磁化を考慮した)
となり、11Oeと大きい値になっている。
【0054】(2)の場合、ピン層の異方性はFeMn
層とともにb方向を向いているが、フリー層においては
(1)と同様にa方向一様であり、異方性磁界はやはり
11Oeと大きい値となっている。
層とともにb方向を向いているが、フリー層においては
(1)と同様にa方向一様であり、異方性磁界はやはり
11Oeと大きい値となっている。
【0055】これに対し(3)の場合は、誘導磁気異方
性の向きが動きやすいフリー層中のCoFe層の容易軸
方向がCoZrNb層、NiFe層とは直交方向に向い
ており、CoFe単層では実現できない低異方性磁界3
Oeが実現できている。
性の向きが動きやすいフリー層中のCoFe層の容易軸
方向がCoZrNb層、NiFe層とは直交方向に向い
ており、CoFe単層では実現できない低異方性磁界3
Oeが実現できている。
【0056】実際に(2)の膜構成で、磁気抵抗効果素
子として磁界測定を行ったところ、10%を越える抵抗
変化率を得ることができ、200゜Cを越える耐熱性を
確認した。
子として磁界測定を行ったところ、10%を越える抵抗
変化率を得ることができ、200゜Cを越える耐熱性を
確認した。
【0057】なお、前述の計算によるHk(tota
l)の値は、測定値のHkとほぼ同等であり、(2)の
場合のみHk(total)が10以下の条件を満たし
ていた。
l)の値は、測定値のHkとほぼ同等であり、(2)の
場合のみHk(total)が10以下の条件を満たし
ていた。
【0058】磁気抵抗効果を比較したところ、(2)の
場合の感度が1.6%/Oeであるのに対し、(1)は
0.45%/Oe、(3)は0.45%/Oeであり、
(2)の高感度が確認された。
場合の感度が1.6%/Oeであるのに対し、(1)は
0.45%/Oe、(3)は0.45%/Oeであり、
(2)の高感度が確認された。
【0059】このように本発明によれば、本来Co合金
では実現できない軟磁性化が達成でき、Co合金の高耐
熱性・高抵抗変化率を活かしつつ、小さい磁界で大きな
抵抗変化を得ることのできる磁気抵抗効果素子を得るこ
とができる。
では実現できない軟磁性化が達成でき、Co合金の高耐
熱性・高抵抗変化率を活かしつつ、小さい磁界で大きな
抵抗変化を得ることのできる磁気抵抗効果素子を得るこ
とができる。
【0060】なおCo合金以外を用いても同様の効果を
得ることができる。基板としてはSi以外に、例えばア
ルミナ基板、必要に応じアルミナ膜などが付与されたA
lTiC基板などを用いることができる。
得ることができる。基板としてはSi以外に、例えばア
ルミナ基板、必要に応じアルミナ膜などが付与されたA
lTiC基板などを用いることができる。
【0061】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、C
o合金のような高保磁力材料を用いた場合でも良好な軟
磁気特性が実現でき、高保磁力材料を用いても小さい磁
界で大きな抵抗変化を得ることのできる磁気抵抗効果素
子を得ることができる。
o合金のような高保磁力材料を用いた場合でも良好な軟
磁気特性が実現でき、高保磁力材料を用いても小さい磁
界で大きな抵抗変化を得ることのできる磁気抵抗効果素
子を得ることができる。
【図1】 本発明の磁気抵抗効果素子を示す概略図。
【図2】 本発明の磁気抵抗効果素子を示す概略断面
図。
図。
【図3】 本発明の磁気抵抗効果素子を示す概略断面
図。
図。
【図4】 本発明の磁気抵抗効果素子を示す概略図。
【図5】 本発明を説明する特性図。
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(72)発明者 福澤 英明
神奈川県川崎市幸区小向東芝町1番地
株式会社東芝 研究開発センター内
(72)発明者 福家 ひろみ
神奈川県川崎市幸区小向東芝町1番地
株式会社東芝 研究開発センター内
(72)発明者 佐橋 政司
神奈川県川崎市幸区小向東芝町1番地
株式会社東芝 研究開発センター内
(56)参考文献 特開 平7−78313(JP,A)
特開 平7−169026(JP,A)
特開 平6−295420(JP,A)
特開 平8−77519(JP,A)
(58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名)
H01L 43/08
G01R 33/09
G11B 5/39
H01F 10/16
H01F 10/32
Claims (7)
- 【請求項1】第1の強磁性導電体層と、この第1の強磁
性導電体層上に積層された非磁性導電体層と、この非磁
性導電体層上に積層された第2の強磁性導電体層とを備
え、磁気抵抗効果を示す積層体と;この積層体に形成さ
れた一対の電極とを具備し、この第1及び第2の強磁性
導電体層の少なくとも一方が、磁化容易軸方向の異なる
第1及び第2の強磁性膜を含んでいることを特徴とする
磁気抵抗効果素子。 - 【請求項2】膜面内方向に一軸磁気異方性が付与された
強磁性導電体層からなり測定磁界により磁化方向が回転
するフリー層と、膜面内方向に一軸磁気異方性が付与さ
れた強磁性導電体層からなり測定磁界により磁化方向が
実質的に回転しないピン層とが、非磁性導電層を介して
積層された積層体からなり、前記フリー層とピン層との
磁化のなす角度による前記積層体の電気抵抗の変化によ
り測定磁界を検出する磁気抵抗効果素子において、 前記フリー層が互いに磁化容易軸方向の異なる第1及び
第2の強磁性層を含み、前記フリー層全体として所定方
向の一軸磁気異方性を保持していることを特徴とする磁
気抵抗効果素子。 - 【請求項3】 第1及び第2の強磁性膜の磁化容易軸が略
直交していることを特徴とする請求項1記載の磁気抵抗
効果素子。 - 【請求項4】 第1の強磁性膜がCo若しくはCo合金か
らなり、第1の強磁性膜が非磁性導電層に接するように
配置されていることを特徴とする請求項1記載の磁気抵
抗効果素子。 - 【請求項5】膜面内方向に一軸磁気異方性が付与された
第1の強磁性導電体層と;この第1の強磁性導電体層上
に積層された非磁性導電体層と;この非磁性導電体層上
に積層された膜面内方向に一軸磁気異方性が付与された
第2の強磁性導電体層と;反強磁性体からなり、前記第
1の強磁性導電体層上に積層された磁化固着層とを備え
た積層体と; この積層体に形成された一対の電極とを具備し、 前記第2の強磁性導電体層が、磁化容易軸方向の異なる
第1及び第2の強磁性膜を含み、前記第2の強磁性導電
体層全体として所定方向の一軸磁気異方性を保持してい
ることを特徴とする磁気抵抗効果素子。 - 【請求項6】前記第1及び第2の強磁性導電体層の磁化
容易軸が略直交し、前記第1及び第2の強磁性膜の一方
の磁化容易軸と前記第1の強磁性導電体層の磁化容易軸
とが略平行であることを特徴とする請求項5記載の磁気
抵抗効果素子。 - 【請求項7】 前記第2の強磁性導電体層には外部磁界に
対して磁化が回転できる程度の強さで第1の強磁性導電
体層の磁化と直交する方向にバイアス磁界が付与されて
いることを特徴とする請求項5記載の磁気抵抗効果素
子。
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-
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