JP3427220B2 - 測光装置 - Google Patents
測光装置Info
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- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
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Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、露出計およびカメラに
適用される測光回路、特に、コンパクトカメラ等のカメ
ラの測光装置に関する。 【０００２】 【従来の技術】カメラの測光装置は、一般に被写体光を
電気信号に光電変換するＳＰＤ等の光電変換素子と、こ
の出力を増幅する増幅回路と、増幅された光電変換出力
値をＡ／Ｄ変換して測光値を決定するマイクロコンピュ
ータとから構成されている。しかし前記光電変換素子は
温度変化によって出力電圧が微妙に増減するため、この
温度変化に対応して補正するため増幅回路にはサーミス
タ等を組み込み、このサーミスタの補償を行うために輝
度レベルをステップ間隔で調節するボリュームが設けて
いる。また、光電変換秦子は個々の変換特性にバラツキ
があるため、各カメラについて光電変換素子からの出力
を増幅する際の基準電圧や増幅率を調節する必要があ
る。このため、輝度レベルを調節するボリュームと、こ
の輝度レベルを調節するための基準電圧を調節するボリ
ュームが設けられている。例えば、特開平５−６４０６
４号公報に記載されるものが提案されているが、これは
補正時に二つの輝度値を測定し、それぞれの輝度値に対
応した測光データを記憶して不揮発性メモリとするもの
である。 【０００３】 【発明が解決しようとする課題】上記のように従来の測
光回路には温度補償を行うためのサーミスタとボリュー
ム等の調整回路が必要であり、また校正するために所定
の異なる２個の輝度値に対しての２つの測光データを求
め、この直線勾配から補正値を算出するものは、輝度値
を複数管理しなければならない。この発明の目的は、温
度補償回路を簡素化し、所定の１つの輝度値のみで校正
を行い簡素な方法により正確な測光データを求めること
ができる測光装置を提供するものである。 【０００４】 【課題を解決するための手段】この発明の前記目的は、
被写体輝度を光電変換し、この出力をＡ／Ｄ変換して測
光値を得る測光装置において、測光の輝度量を光電流量
の対数に比例した出力電圧が得られる光電変換手段と、
この光電変換手段によって出力された値を露光値として
一定時間コンデンサに充電し、このコンデンサの放電に
よる電荷量をＡ／Ｄ変換し、測光データとするＡ／Ｄ変
換手段と、前記光電変換手段の温度特性を補正するため
の感温素子を備えた温度補償回路と、この温度補償回路
からの出力をＡ／Ｄ変換し、この温度補正データとする
Ａ／Ｄ変換手段と、前記測光データ、前記温度補正デー
タを記憶する不揮発性メモリと、これらのデジタル信号
を処理するマイクロコンビュータとからなり、前記光電
変換手段により所定の１つの輝度値で、２つの異なる時
間の長さの測定により得られた電荷量を個々にＡ／Ｄ変
換を行いデータとし、また、前記Ａ／Ｄ変換手段により
前記温度補償回路の出力を温度補正データとしてそれぞ
れ不揮発性メモリにデータを格納し、測光時に披写体の
輝度データと前記不揮発性メモリに格納されたデータと
より演算を行い被写体の輝度値を求めることを特徴とす
る測光装置によって達成することができる。すなわち、
測光時の測光データをマイクロコンピュータで２つの露
光量および温度補正データが格納されている不揮発性メ
モリを参照して演算処理を行い測光値を補正する。 【０００５】 【作用】この発明の測光装置は、上記の補正手段を採用
したことにより、光電変換素子により所定の１つの輝度
値で２つのそれぞれ異なる時間により得られた電荷量を
個々にＡ／Ｄ変換手段によりＡ／Ｄ変換を行い、他方、
Ａ／Ｄ変換手段により前記感温素子のＶＢＥ出力を温度
補正データとしてマイクロコンピュータ経て不揮発性メ
モリに格納させることにより、測定対象を測光する時に
測光データを同時に再度感温素子のＶＢＥ特性に基づく
温度補正データと、先の不揮発性メモリよりの各データ
をマイクロコンピュータにより演算し、温度補正された
正確な測光データとして出力することができる。 【０００６】１つの標準光源を使用して測光値を算出す
る方法について説明する。測光装置を配置した室内の周
囲温度Ｔ℃の環境下で、輝度値がＢＶ１２の光源をシャ
ッタ時間ｔ＝１／４にした時の露光量をＡ／Ｄ変換し、
そのカウント値をＣＴ１２ｔとし、他方、シャッタ時間
をｔ＝１／５００におけるカウント値をＣＴ５ｔとする
と、両者の露光量の差は７ＥＶとなる。また、この時の
周囲の温度センサのカウント値をＣＴｔとする。任意の
輝度値ＢＶｘにおけるその時のカウント値をＣＴｘとす
ると、その関係は ＣＴｘ＝γｔ（ＢＶｘ−５（ＢＶ５））＋ＣＴ５ｔ （１） となる。 ただし、ここでＣＴ５ｔとγｔは温度により変化するので補正す
る必要があった。 【０００７】その補正方法として説明すると、γの増加
率をＡ％／℃とすると校正時の周囲温度Ｔ℃でのγｔと
測定温度Ｔｘ℃でのγとの関係は となる。また、ＣＴ５の減少率をＢ％／℃とすると校正
時の周囲温度Ｔ℃でのＣＴ５ｔと測定温度Ｔｘ℃でのＣ
Ｔ５ｘとの関係は 同じく周囲の温度により温度カウント値Ｔの減少率をＣ
％／℃とすると校正時の周囲の温度Ｔ℃での温度カウン
ト値ＣＴｔと測定温度Ｔｘ℃での温度カウント値ＣＴｘ
との関係は、 となり、式６により（Ｔｘ−Ｔ）について求めると、 となる。これを前記（４）および（５）式に代入し、γ
ｘ，ＣＴ５ｘを求めると、 となる。（８）、（９）式より明らかなように温度補正
を行うには温度の絶対値は必要ではなく校正時の周囲温
度のカウンタ値ＣＴｔと測定時の周囲温度のカウンタ値
ＣＴｘ求められれば、γｔ、ＣＴ５ｔの補正した値を求
めることができる。更に、このγｘ、ＣＴ５ｘを測定時
の温度のγｔ、ＣＴ５ｔに置き換えれば任意の温度での
補正されたＢＶｘを求めることができる。 【０００８】図１はこの発明の測光装置の要部を示す概
略図である。図２はこの発明の測光装置の状態説明図で
ある。この発明の測光装置は、輝度の測定前はｓｗ２の
オンにより充電用のコンデンサ８はリセットされてい
る。測光時、ｓｗ２はオフにしてＥＶ１２の所定輝度を
光電変換素子１（ＳＰＤ）で光電流に変換した後、その
電流量の対数に比例した出力が得られる光電変換器２に
より電圧出力として出力する。その出力はマイクロコン
ピュータ４からの制御信号によりｓｗ１を１／４秒間オ
ンしてコンデンサ８に充電する。充電された電荷量はＡ
／Ｄ変換装置３によりマイクロコンピュータ４を介し、
不揮発性メモリ７に格納し、再度ｓｗ２のオンによりコ
ンデンサ８をリセットする。同様に同出力をｓｗ１によ
り１／５００秒間オンし（７ＥＶ差）Ａ／Ｄ変換した値
を不揮発性メモリ７に格納する。図２にその様子を示
す。その後、周囲温度を測定する温度補償素子、例え
ば、ダイオード接続されているトランジスタ５を備えた
温度補正回路６によって、トランジスタ５のＶＢＥ電圧
をｓｗ３で１／３０秒間オンし、前記コンデンサ８を充
電する。その電荷量をＡ／Ｄ変換装置３によりマイクロ
コンピュータ４を介し、不揮発性メモリ７に格納する。
その後、ｓｗ２のオンによりコンデンサ８をリセットす
る。 【０００９】被写体を測光する場合は、光電変換素子１
を被写体に向けて上記補正方法と同様に光電変換器によ
り電圧出力をｓｗ１の１／３０秒間のオン時間により、
コンデンサ８に充電し、充電された電荷量をＡ／Ｄ変換
装置３によりマイクロコンピュータ４に取り込む、その
後、測光時の周囲温度を測定するためダイオード接続さ
れているトランジスタ５のＶＢＥ電圧をｓｗ３を１／３
０秒間オンし、コンデンサ８に充電し、充電された電荷
量をＡ／Ｄ変換装置３により、マイクロコンピュータ４
に取り込む、これらのマイクロコンピュータ４に取り込
まれたデータと校正時に不揮発性メモリ７に格納されて
いたデータとで前記算出方法により補正された輝度デー
タとして取り出す。ただし、通常測定はｓｗ１のオンさ
れている時間は前記のように１／３０秒としているので
先の校正時の１／４秒と３ＥＶ差があるので演算式
（２）によって補正が行われる。 前記式（２）’より求める。この実施例では光電変換器
から測光データをデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換装
置と温度補正回路からの温度補正データをデジタル信号
に変換するＡ／Ｄ変換装置とが同一装置によって処理し
ているが、個々に変換装置を設けることもできる。 【００１０】 【発明の効果】この発明の測光装置によれば、予め入力
されている１つの所定輝度による２つの異なる露光量と
温度補正データとを不揮発性メモリに記憶させておき、
測光時に不揮発メモリを参照して補正された輝度値を算
出することができるから、簡素な測光回路によって正確
な測光データが得られる。
適用される測光回路、特に、コンパクトカメラ等のカメ
ラの測光装置に関する。 【０００２】 【従来の技術】カメラの測光装置は、一般に被写体光を
電気信号に光電変換するＳＰＤ等の光電変換素子と、こ
の出力を増幅する増幅回路と、増幅された光電変換出力
値をＡ／Ｄ変換して測光値を決定するマイクロコンピュ
ータとから構成されている。しかし前記光電変換素子は
温度変化によって出力電圧が微妙に増減するため、この
温度変化に対応して補正するため増幅回路にはサーミス
タ等を組み込み、このサーミスタの補償を行うために輝
度レベルをステップ間隔で調節するボリュームが設けて
いる。また、光電変換秦子は個々の変換特性にバラツキ
があるため、各カメラについて光電変換素子からの出力
を増幅する際の基準電圧や増幅率を調節する必要があ
る。このため、輝度レベルを調節するボリュームと、こ
の輝度レベルを調節するための基準電圧を調節するボリ
ュームが設けられている。例えば、特開平５−６４０６
４号公報に記載されるものが提案されているが、これは
補正時に二つの輝度値を測定し、それぞれの輝度値に対
応した測光データを記憶して不揮発性メモリとするもの
である。 【０００３】 【発明が解決しようとする課題】上記のように従来の測
光回路には温度補償を行うためのサーミスタとボリュー
ム等の調整回路が必要であり、また校正するために所定
の異なる２個の輝度値に対しての２つの測光データを求
め、この直線勾配から補正値を算出するものは、輝度値
を複数管理しなければならない。この発明の目的は、温
度補償回路を簡素化し、所定の１つの輝度値のみで校正
を行い簡素な方法により正確な測光データを求めること
ができる測光装置を提供するものである。 【０００４】 【課題を解決するための手段】この発明の前記目的は、
被写体輝度を光電変換し、この出力をＡ／Ｄ変換して測
光値を得る測光装置において、測光の輝度量を光電流量
の対数に比例した出力電圧が得られる光電変換手段と、
この光電変換手段によって出力された値を露光値として
一定時間コンデンサに充電し、このコンデンサの放電に
よる電荷量をＡ／Ｄ変換し、測光データとするＡ／Ｄ変
換手段と、前記光電変換手段の温度特性を補正するため
の感温素子を備えた温度補償回路と、この温度補償回路
からの出力をＡ／Ｄ変換し、この温度補正データとする
Ａ／Ｄ変換手段と、前記測光データ、前記温度補正デー
タを記憶する不揮発性メモリと、これらのデジタル信号
を処理するマイクロコンビュータとからなり、前記光電
変換手段により所定の１つの輝度値で、２つの異なる時
間の長さの測定により得られた電荷量を個々にＡ／Ｄ変
換を行いデータとし、また、前記Ａ／Ｄ変換手段により
前記温度補償回路の出力を温度補正データとしてそれぞ
れ不揮発性メモリにデータを格納し、測光時に披写体の
輝度データと前記不揮発性メモリに格納されたデータと
より演算を行い被写体の輝度値を求めることを特徴とす
る測光装置によって達成することができる。すなわち、
測光時の測光データをマイクロコンピュータで２つの露
光量および温度補正データが格納されている不揮発性メ
モリを参照して演算処理を行い測光値を補正する。 【０００５】 【作用】この発明の測光装置は、上記の補正手段を採用
したことにより、光電変換素子により所定の１つの輝度
値で２つのそれぞれ異なる時間により得られた電荷量を
個々にＡ／Ｄ変換手段によりＡ／Ｄ変換を行い、他方、
Ａ／Ｄ変換手段により前記感温素子のＶＢＥ出力を温度
補正データとしてマイクロコンピュータ経て不揮発性メ
モリに格納させることにより、測定対象を測光する時に
測光データを同時に再度感温素子のＶＢＥ特性に基づく
温度補正データと、先の不揮発性メモリよりの各データ
をマイクロコンピュータにより演算し、温度補正された
正確な測光データとして出力することができる。 【０００６】１つの標準光源を使用して測光値を算出す
る方法について説明する。測光装置を配置した室内の周
囲温度Ｔ℃の環境下で、輝度値がＢＶ１２の光源をシャ
ッタ時間ｔ＝１／４にした時の露光量をＡ／Ｄ変換し、
そのカウント値をＣＴ１２ｔとし、他方、シャッタ時間
をｔ＝１／５００におけるカウント値をＣＴ５ｔとする
と、両者の露光量の差は７ＥＶとなる。また、この時の
周囲の温度センサのカウント値をＣＴｔとする。任意の
輝度値ＢＶｘにおけるその時のカウント値をＣＴｘとす
ると、その関係は ＣＴｘ＝γｔ（ＢＶｘ−５（ＢＶ５））＋ＣＴ５ｔ （１） となる。 ただし、ここでＣＴ５ｔとγｔは温度により変化するので補正す
る必要があった。 【０００７】その補正方法として説明すると、γの増加
率をＡ％／℃とすると校正時の周囲温度Ｔ℃でのγｔと
測定温度Ｔｘ℃でのγとの関係は となる。また、ＣＴ５の減少率をＢ％／℃とすると校正
時の周囲温度Ｔ℃でのＣＴ５ｔと測定温度Ｔｘ℃でのＣ
Ｔ５ｘとの関係は 同じく周囲の温度により温度カウント値Ｔの減少率をＣ
％／℃とすると校正時の周囲の温度Ｔ℃での温度カウン
ト値ＣＴｔと測定温度Ｔｘ℃での温度カウント値ＣＴｘ
との関係は、 となり、式６により（Ｔｘ−Ｔ）について求めると、 となる。これを前記（４）および（５）式に代入し、γ
ｘ，ＣＴ５ｘを求めると、 となる。（８）、（９）式より明らかなように温度補正
を行うには温度の絶対値は必要ではなく校正時の周囲温
度のカウンタ値ＣＴｔと測定時の周囲温度のカウンタ値
ＣＴｘ求められれば、γｔ、ＣＴ５ｔの補正した値を求
めることができる。更に、このγｘ、ＣＴ５ｘを測定時
の温度のγｔ、ＣＴ５ｔに置き換えれば任意の温度での
補正されたＢＶｘを求めることができる。 【０００８】図１はこの発明の測光装置の要部を示す概
略図である。図２はこの発明の測光装置の状態説明図で
ある。この発明の測光装置は、輝度の測定前はｓｗ２の
オンにより充電用のコンデンサ８はリセットされてい
る。測光時、ｓｗ２はオフにしてＥＶ１２の所定輝度を
光電変換素子１（ＳＰＤ）で光電流に変換した後、その
電流量の対数に比例した出力が得られる光電変換器２に
より電圧出力として出力する。その出力はマイクロコン
ピュータ４からの制御信号によりｓｗ１を１／４秒間オ
ンしてコンデンサ８に充電する。充電された電荷量はＡ
／Ｄ変換装置３によりマイクロコンピュータ４を介し、
不揮発性メモリ７に格納し、再度ｓｗ２のオンによりコ
ンデンサ８をリセットする。同様に同出力をｓｗ１によ
り１／５００秒間オンし（７ＥＶ差）Ａ／Ｄ変換した値
を不揮発性メモリ７に格納する。図２にその様子を示
す。その後、周囲温度を測定する温度補償素子、例え
ば、ダイオード接続されているトランジスタ５を備えた
温度補正回路６によって、トランジスタ５のＶＢＥ電圧
をｓｗ３で１／３０秒間オンし、前記コンデンサ８を充
電する。その電荷量をＡ／Ｄ変換装置３によりマイクロ
コンピュータ４を介し、不揮発性メモリ７に格納する。
その後、ｓｗ２のオンによりコンデンサ８をリセットす
る。 【０００９】被写体を測光する場合は、光電変換素子１
を被写体に向けて上記補正方法と同様に光電変換器によ
り電圧出力をｓｗ１の１／３０秒間のオン時間により、
コンデンサ８に充電し、充電された電荷量をＡ／Ｄ変換
装置３によりマイクロコンピュータ４に取り込む、その
後、測光時の周囲温度を測定するためダイオード接続さ
れているトランジスタ５のＶＢＥ電圧をｓｗ３を１／３
０秒間オンし、コンデンサ８に充電し、充電された電荷
量をＡ／Ｄ変換装置３により、マイクロコンピュータ４
に取り込む、これらのマイクロコンピュータ４に取り込
まれたデータと校正時に不揮発性メモリ７に格納されて
いたデータとで前記算出方法により補正された輝度デー
タとして取り出す。ただし、通常測定はｓｗ１のオンさ
れている時間は前記のように１／３０秒としているので
先の校正時の１／４秒と３ＥＶ差があるので演算式
（２）によって補正が行われる。 前記式（２）’より求める。この実施例では光電変換器
から測光データをデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換装
置と温度補正回路からの温度補正データをデジタル信号
に変換するＡ／Ｄ変換装置とが同一装置によって処理し
ているが、個々に変換装置を設けることもできる。 【００１０】 【発明の効果】この発明の測光装置によれば、予め入力
されている１つの所定輝度による２つの異なる露光量と
温度補正データとを不揮発性メモリに記憶させておき、
測光時に不揮発メモリを参照して補正された輝度値を算
出することができるから、簡素な測光回路によって正確
な測光データが得られる。
【図面の簡単な説明】【図１】
この発明の測光装置の要部を示す概略図であ
る。【図２】 この発明の測光装置の状態説明図である。 【符号の説明】 １ …光電変換素子 ２ …光電変換器 ３ …Ａ／Ｄ変換装置 ４ …マイクロコンピュータ ５ …トランジスタ ６ …温度補正回路 ７ …不揮発性メモリ ８ …コンデンサ
る。【図２】 この発明の測光装置の状態説明図である。 【符号の説明】 １ …光電変換素子 ２ …光電変換器 ３ …Ａ／Ｄ変換装置 ４ …マイクロコンピュータ ５ …トランジスタ ６ …温度補正回路 ７ …不揮発性メモリ ８ …コンデンサ
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(56)参考文献 特開 平５−64064（ＪＰ，Ａ)
特開 平４−369980（ＪＰ，Ａ)
特開 平２−173711（ＪＰ，Ａ)
特開 平２−115729（ＪＰ，Ａ)
特開 昭62−218948（ＪＰ，Ａ)
特開 昭62−25733（ＪＰ，Ａ)
特開 昭61−258227（ＪＰ，Ａ)
実開 昭61−203730（ＪＰ，Ｕ)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01J 1/42 - 1/44
G03B 7/08 - 7/099
G03B 7/22
H04N 5/222 - 5/257
H04N 5/30 - 5/335
Claims (1)
- (57)【特許請求の範囲】 【請求項１】被写体輝度を光電変換し、この出力をＡ／
Ｄ変換して測光値を得る測光装置において、 測光の輝度量を光電流量の対数に比例した出力電圧が得
られる光電変換手段と、この光電変換手段によって出力
された値を露光値として一定時間コンデンサに充電し、
このコンデンサの放電による電荷量をＡ／Ｄ変換し、測
光データとするＡ／Ｄ変換手段と、前記光電変換手段の
温度特性を補正するための感温素子を備えた温度補償回
路と、この温度補償回路からの出力をＡ／Ｄ変換し、こ
の温度補正データとするＡ／Ｄ変換手段と、前記測光デ
ータ、前記温度補正データを記憶する不揮発性メモリ
と、これらのデジタル信号を処理するマイクロコンビュ
ータとからなり、前記光電変換手段により所定の１つの
輝度値で、２つの異なる時間の長さの測定により得られ
た電荷量を個々にＡ／Ｄ変換を行いデータとし、また、
前記Ａ／Ｄ変換手段により前記温度補償回路の出力を温
度補正データとしてそれぞれ不揮発性メモリにデータを
格納し、測光時に披写体の輝度データと前記不揮発性メ
モリに格納されたデータとより演算を行い被写体の輝度
値を求めることを特徴とする測光装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19872693A JP3427220B2 (ja) | 1993-06-25 | 1993-06-25 | 測光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19872693A JP3427220B2 (ja) | 1993-06-25 | 1993-06-25 | 測光装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0743211A JPH0743211A (ja) | 1995-02-14 |
| JP3427220B2 true JP3427220B2 (ja) | 2003-07-14 |
Family
ID=16395971
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19872693A Expired - Fee Related JP3427220B2 (ja) | 1993-06-25 | 1993-06-25 | 測光装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3427220B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4652874B2 (ja) * | 2005-04-06 | 2011-03-16 | 浜松ホトニクス株式会社 | 温度検出装置 |
| JP2006292439A (ja) * | 2005-04-06 | 2006-10-26 | Hamamatsu Photonics Kk | 温度検出装置 |
| JP2009290022A (ja) * | 2008-05-29 | 2009-12-10 | Fujitsu Ltd | 光送受信装置 |
| JP5520020B2 (ja) * | 2009-12-02 | 2014-06-11 | 旭化成エレクトロニクス株式会社 | 赤外線センサ |
| JP2016213307A (ja) * | 2015-05-07 | 2016-12-15 | 新日本無線株式会社 | 反射型センサ装置及びその製造方法 |
-
1993
- 1993-06-25 JP JP19872693A patent/JP3427220B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0743211A (ja) | 1995-02-14 |
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|---|---|---|---|
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