JPH0933979A - 露出測光装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明は、周囲の温湿度変化による誤差成分に
対して適正な補正を行うことができ、精度の高い露出測
光値が得られる露出測光装置を提供する。 【解決手段】通常測光動作では、受光素子４１の出力信
号を積分器８２で積分するとともに、この積分器８２の
積分電圧レベルＶC を所定時間間隔ごとにＣＰＵ１１で
監視し、この積分電圧レベルＶC が規定レベルＶref に
到達するまで積分開始からの経過時間を積分累積時間Ｔ
C として計測し、この積分累積時間ＴC から露出時間Ｔ
L を演算し、また、補正測光動作では、受光素子４２の
出力信号を積分器８２で積分し、この積分器８２の積分
出力の所定時間経過毎の積分出力により、積分器８２の
積分出力を零にするように該積分器８２を補正するとと
もに、この時の補正入力を温湿度補正値として、通常測
光時の動作を補償する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、顕微鏡等の光学機
器に用いられる写真撮影用の露出測光装置に関するもの
である。

【０００２】

【従来の技術】従来、顕微鏡等の光学機器に用いられる
写真撮影用の露出測光装置として、例えば特公昭６２−
１２９０４号公報に開示されているものがある。図９
は、かかる露出測光装置の基本的構成を示すブロック図
で、写真撮影すべき被写体の明るさに対応した出力信号
を生ずる光電変換素子２４からの出力信号をタイミング
パルスの間で露光量演算回路２５により積分し、それら
積分値の和として撮影開始時点からの露出量を求め、一
方、タイミングパルスに同期して予想露出時間演算回路
２６ｂにより光電変換素子２４の出力信号に基づいてタ
イミングパルス発生時における照度が撮影開始時から終
了まで継続すると仮定したときの予想露出時間を演算
し、さらにタイミングパルスに同期して実質的露出時間
演算回路２６ａにより撮影開始時からタイミングパルス
の発生瞬時までの露出量と当該瞬時における照度との比
で表される実質的露出時間を演算して、予想露出時間演
算回路２６ｂより演算される予想露出時間から実質的露
出時間演算回路２６ａより演算された実質的露出時間を
減算回路２７で減算し残り露出時間を求め、この残り露
出時間を表示装置２８で表示するとともに、タイミング
パルスに同期して比較回路２９で残り露出時間を零に近
い所定の範囲と比較し、残り露出時間がこの範囲に入っ
た時にシャッタ閉信号を発生し、このシャッタ閉信号を
シャッタ駆動回路３０に与えることにより、被写体２１
とフィルム２３の間に介在されるをシャッタ２２を、撮
影開始時に開き、シャッタ閉信号を受けて閉じるように
制御するようにしている。

【０００３】つまり、かかる露出測光装置は、受光素子
と、この受光素子の出力信号を順次のタイミングパルス
で積分する回路で構成され、この積分値の和として撮影
開始からの露出量を求め、照度が露出開始時から終了ま
で継続すると仮定した時の予想露出時間を演算し、また
これによりタイミングパルス間の露出量と、タイミング
パルス発生時の照度より求められる実質的露出時間との
差により実露出時の残時間を演算するようになってい
る。

【０００４】そして、このような露出測光装置は、受光
素子としてフォトトランジスタやフォトダイオードなど
の半導体素子を用いれば、所定の性能を満足するものが
低価格で得られるようになる。

【０００５】ところが、これら半導体素子は低価格であ
る反面、環境による特性変化が大きいという性質を有し
ている。実際に、露出測光装置が組み込まれる写真撮影
装置の使用される環境としては、低温から高温、低湿か
ら高湿と様々であり、そのために受光素子や回路中の各
素子の特性が温度により変化し、測光演算の結果が不正
確となり好ましくない。特に、受光素子の測光出力Ｐ
は、例えば図１０に示すように、周囲の温度によって著
しく変化するため、測光出力Ｐをこのまま用いて積分す
ると演算結果に誤差が含まれ、正確な測光結果が得られ
ないことになる。

【０００６】そこで、従来、受光素子とともにサーミス
タ等の感温素子を用いて、受光素子の測光出力をアナロ
グ回路的に温度補償したり、特開昭６２−２１８９４８
号公報に開示されるように温度検出素子を用いてその出
力をＡ／Ｄ変換し、Ａ／Ｄ変換されたデジタル値に基づ
いてマイクロコンピュータにより温度補償を演算し温度
補償を行うなどの方法が考えられている。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】このように従来の露出
測光装置にあっては、周囲温度による回路素子の特性変
化量をあらかじめ想定して、アナログ的に補正量が一致
するようにサーミスタ等の感温素子を選択したり、感温
特性値の回路的な合わせ込みを行うようにしているが、
いずれにしても正しい補正は難しい。すなわち、受光素
子として、フォトダイオード等の半導体受光素子を用い
る場合、回路に流れる電流が微小であり、このため電流
−電圧変換し、さらに積分するような回路構成が採られ
ているが、周囲温度による誤差は回路中の各素子の温度
ドリフト電流の総和で、この温度ドリフトは温度に対し
て各素子毎に異なる特性であるため、予め特性変化量を
特定する事が難しい。また、仮に特定する事ができたと
しても、その特性は複数の温度ドリフト特性の和となる
ため、複雑な非線型の温度特性となり、感温素子を用い
たアナログ的補正の温度特性を一致させることは困難で
ある。

【０００８】また、特開昭６２−２１８９４８号公報に
開示されるものは、上述の問題について回避可能である
が、回路中の各半導体の温度ドリフト量には個体差、す
なわち、ばらつきがあるため予め設定する温度対補正量
のテーブル値とかけ離れるという問題がある。

【０００９】さらに被写体が暗いような場合、受光素子
の光電変換出力電流は微小であるため、電流−電圧変換
および積分回路の入力端子への湿度によるリーク電流の
流入が測光値に与える影響も無視できなくなり、前述の
公知例における感温素子を湿度センサに置き換えたもの
を別に用意し、温度補償時と同様にアナログ的もしくは
デジタル的に補正する必要があり、構成が複雑で、コス
トアップになるという問題があった。

【００１０】本発明は、上記事情に鑑みてなされたもの
で、周囲の温湿度変化による誤差成分に対して適正な補
正を行うことができ、精度の高い露出測光値が得られる
露出測光装置を提供する事を目的とする。

【００１１】

【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明は、
測光すべき被写体の入射光束に対応した信号を出力する
第１の受光素子と、入射光束零に対応する信号を出力す
る第２の受光素子と、これら第１および第２の受光素子
の出力信号を適宜切り換える出力信号切り換え手段と、
この出力信号切り換え手段より出力される前記第１また
は第２の受光素子の出力信号を積分する積分手段と、前
記第１の受光素子の出力信号に対する前記積分手段の積
分出力から露出時間を演算する露出時間演算手段と、前
記第２の受光素子の出力信号に対する前記積分手段の積
分出力から前記積分手段における積分動作を補正する補
正信号を生成し前記積分手段へ送出する補正手段とによ
り構成されている。

【００１２】請求項２記載の発明は、請求項１記載にお
いて、前記第１の受光素子の出力信号による前記積分手
段の積分出力より演算される露出時間が、連続して規定
値より大きくなることで、前記補正手段による補正を実
行するようにしている。

【００１３】請求項３記載の発明は、請求項１記載にお
いて、周囲の温湿度を検出する検出手段を有し、該検出
手段の検出結果が、所定の温湿度条件になることで、前
記補正手段による補正を実行する。

【００１４】この結果、請求項１の発明によれば、温度
による回路系全体の温度ドリフト及び湿度によるリーク
電流が、受光素子に対する入射光が零、即ち暗黒状態時
に受光素子の暗時出力と共に測光積分出力となって現れ
ることに着目し、第２の受光素子の出力信号に対する積
分手段の積分出力の所定時間経過毎の積分出力により該
積分手段の積分出力を零にするよう該積分動作を補正す
るとともに、この時の補正信号から温湿度補正値を生成
することにより、周囲の温湿度変化による誤差成分に対
して適正な補正を行うことができる。

【００１５】また請求項２の発明によれば、微弱測光時
の受光素子の出力信号が小さく、回路の温度ドリフト及
び湿度リーク電流の影響が大きいような場合、これを積
分手段の積分出力より演算される露出時間が、連続して
規定値より大きくなることから判断し、補正手段による
補正を実行するようにしたので、補正動作中は通常の測
光が行われず、その間に被写体の明るさが変化してもこ
れに追従できないが、このように必要な時のみ補正を行
うことにより、明るさ変動への追従性を改善できる。

【００１６】また請求項３の発明によれば、周囲の温湿
度を検出する検出手段により回路の温度ドリフトまたは
湿度リークが測光値に与える影響が無視できない温度ま
たは湿度となった事を検知して、補正手段による補正を
実行するようにしたので、不要な測光補正動作を行わな
いようにでき、被写体の明るさ変動に対する測光演算の
追従性を改善できる。

【００１７】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に従い説明する。 （第１の実施の形態）図１は本発明が適用される露出測
光装置の概略構成を示している。図において、１は例え
ば顕微鏡観察用標本といった被写体、２は撮影フィル
ム、３は撮影フィルム２への露光を制御する電磁的駆動
シャッタである。この電磁的駆動シャッタ３は、シャッ
タ駆動回路５により駆動されるようになっている。

【００１８】一方、４１は被写体１の入射光束に対応し
た通常の明るさを測光するためのフォトダイオード等の
半導体受光素子、４２は遮光板６で遮光され入射光束零
の暗黒状態を測光するための半導体受光素子４１と同様
の半導体受光素子である。

【００１９】そして、これら半導体受光素子４１、４２
の出力信号をスイッチ素子７に入力するようにしてい
る。このスイッチ素子７は、受光素子４１、４２の出力
を切り換えるもので、ＦＥＴ等からなっている。

【００２０】このスイッチ素子７には、積分変換器８を
接続している。この積分変換器８は、電流−電圧変換器
８１と積分器８２により構成されていて、スイッチ素子
７からの測光入力電流信号を電流−電圧変換するととも
に、測光値として積算するようにしている。

【００２１】そして、この積分変換器８の出力信号をＡ
／Ｄコンバータ９に与え、ここでアナログ出力信号をデ
ジタル値に変換して演算制御回路であるＣＰＵ１１に与
えるようにしている。

【００２２】ＣＰＵ１１には、Ｄ／Ａコンバータ１０、
表示装置１２、操作入力部１４およびシャッタ駆動回路
５を接続している。Ｄ／Ａコンバータ１０は、テジタル
値としてＣＰＵ１１から発行される温湿度補正値をアナ
ログレベルに変換して積算変換器８に与えるものであ
る。表示装置１２は、ＣＰＵ１１から発行される撮影条
件、撮影結果のデータを表示するものである。操作入力
部１４は、撮影条件設定入力及び撮影開始のレリーズ入
力などを出力するものである。

【００２３】なお、１３は、ＣＰＵ１１から発行される
積分器８２のリセット用入力信号である。次に、このよ
うに構成した露出測光装置において、通常の撮影が可能
な測光状態を通常測光、温湿度補正のための補正動作状
態を補正測光と称して、まず通常測光動作について説明
する。

【００２４】この場合、撮影すべき被写体１の像は、レ
ンズを含む光学系（図示せず）及びシャッタ３を経て、
フィルム２上に形成されるが、フィルム２での光学的作
用は吸収光量に比例し、光の照度と時間との相乗積に比
例する。すなわち、一般に露出時間ＴL と被写体１の照
度Ｌとの間には、 ＴL ＝（Ｋ／Ｌ）＊（１／ＩＳＯ） （１） なる関係式が成り立つ。ここでＫは露出基準である定数
値、ＩＳＯは使用フィルムの感度である。

【００２５】従って、現像後の所望の濃度となるフィル
ムを得るには、被写体１の明るさに応じて露出時間を制
御する必要がある。この目的のために被写体１の明るさ
を通常測光用の受光素子４１で測光し、 Ｉ＝ｋ＊Ｌ （２） により表される明るさに比例した電流値Ｉを発生させ
る。ここで、ｋは受光素子４１の光電変換率である。

【００２６】この場合、スイッチ素子７により選択され
る受光素子４１からの電流値Ｉは微小であるため、電流
−電圧変換器８１で電圧変換したのち積分器８２で積分
し、この積算したアナログ電圧値を逐次Ａ／Ｄコンバー
タ９でデジタル値に変換し、これをＣＰＵ１１に入力す
る。

【００２７】ここでの測光積算の開始は、積分器８２へ
のリセット信号１３によるが、これ以降の動作は、図２
に示すフローチャートのシーケンスに従い実行される。
なお、ここでの積分器８２の出力信号は、図３に示す特
性を持つものとする。

【００２８】この場合、ステップ２０１で、上述したよ
うに通常測光用の受光素子４１に切り換え、ステップ２
０２で、積分を開始する。そして、積分開始の後は、ス
テップ２０３、ステップ２０４により積分器８２の積分
電圧レベルＶC を、所定時間間隔ごとにＣＰＵ１１で監
視し、図３に示す規定レベルＶref に到達するまで積分
開始からの経過時間を積分累積時間ＴC として計測す
る。

【００２９】そして、積分電圧レベルＶC が規定レベル
Ｖref に達すると、ステップ２０５で、この時の積分累
積時間ＴC より露出時間ＴL を求め、その後、ステップ
２０６で、積分累積時間ＴC の計測をリセットし、ステ
ップ２０７で、さらに積分器８２をリセット信号１３に
よりリセットして、次の積分開始を待つようになる。つ
まり、この場合、積分器８２の積分電圧レベルＶC は、
積分コンデンサ容量Ｃ、積分経過時間ｔとすると、 ＶC ＝（Ｉ／Ｃ）＊ｔ （３） で与えられるので、この時の積分累積時間をＴC とする
と、前述の（１）式は（２）、（３）式より ＴL ＝（Ｋ／ＩＳＯ）＊（ｋ／Ｃ）＊（ＴC ／Ｖref ） （４） と変形できる。

【００３０】これにより、積分器８２のダイナミックレ
ンジ内で、かつ一回の露出測光につき積分累積時間ＴC
が実用上数秒程度となる様に規定レベルＶref を設定し
ておけば、（４）式より露出時間ＴL が求められること
になる。ただし、暗い被写体を撮影するような場合は、
露出時間ＴL が長く、積分累積時間ＴC が大きくなるた
め、より小さい容量のコンデンサを選択し、（４）式に
係数値を乗じることにより測光の高速化が図れる。

【００３１】そして、このようにして求めた露出時間Ｔ
L により実際の露光を実行するには、ＣＰＵ１１からの
露出時間ＴL に基づいた開制御信号を受けたシャッタ駆
動回路５によりシャッタ２を開駆動し、露出時間分経過
後に今度は閉制御信号によりシャッタ２を閉駆動するこ
とにより露出を終了する。

【００３２】次に、補正測光の動作について説明する。
この場合、スイッチ素子７により受光素子４２の出力を
選択し、また、積算変換器８の出力が常に零になるよう
に補正値信号１５のレベルをＣＰＵ１１によって設定し
ている。すなわち、補正値信号１５のレベル分により、
この時点での温湿度による受光素子４２、スイッチ素子
７、積算変換器８の全ドリフト及びリーク電流合計の影
響をキャンセルすることになる。なお、受光素子４１，
４２に同一製造ロット品のように，特性がほぼ揃ったも
のを用いれば、スイッチ素子７により通常測光に戻した
ときも補正値信号１５のレベルを維持することで各素子
を含む回路系の精度の高い温度補償が実現可能となる。

【００３３】このような補正測光の動作は、図４に示す
フローチャートのシーケンスに従い実行される。この場
合、まず補正値として仮の値を設定し、ステップ４０１
で、スイッチ素子７により遮光された補正用受光素子４
２に切り換え、ステップ４０２で、暗黒時の測光積分を
開始する。

【００３４】そして、ステップ４０３、ステップ４０４
で、積分を開始してからある規定時間経過を判断し、こ
の規定時間経過後に、ステップ４０５を通ってステップ
４０６で、現在の補正値に対して暗時積分レベルが零よ
り大きいかを判断し、零より大きければステップ４０９
で積分波形の微分値を減算方向へ、零より小さければス
テップ４１０で積分波形の微分値を加算方向へそれぞれ
移行するように補正値を再設定し、補正積分動作を行
う。

【００３５】そして、このようなシーケンスを繰り返し
た結果、ステップ４０５で、現在の補正値に対して暗時
積分レベルが零と判断すると、この積分レベルがほぼ零
になった時点の補正値入力を温湿度補正値として採用
し、ステップ４０９で、スイッチ素子７により通常測光
用の受光素子４１に切り換え、ステップ４１０で、上述
した通常測光を実行する。

【００３６】つまり、積分レベルがほぼ零になった時点
の補正入力を温湿度補正値として採用し、その後、通常
測光に戻る際に、その補正値を保持したまま通常測光用
受光素子４ａ側に切り換えることにより、測光系全体が
補正された状態の正確な測光値が得られるようになる。

【００３７】図５は、上述した図１に示す受光素子４
１，４２及びスイッチ素子７、積算変換器８による測光
手段の、具体的な回路構成を示すものである。この場
合、シリコンフォトダイオードよりなる通常測光用受光
素子４１と、遮光されている補正測光用受光素子４２
は、スイッチ素子７を構成するＦＥＴ７１、７２を経由
して積算変換器８の電流−電圧変換器８１を構成する電
流−電圧変換器用オペアンプ８１１を接続している。受
光素子４１と４２の選択は、ＦＥＴ７１、７２の各ゲー
トを制御するＣＯＭＤＲ信号により行われる。

【００３８】また、オペアンプ８１１の帰還回路には、
積分器８２を構成する組み合わせ選択可能なコンデンサ
８２１〜８２３と、これらコンデンサ８２１〜８２３の
選択スイッチ用ＦＥＴ８２４、８２５及び、コンデンサ
８２１〜８２３へ蓄積された電荷を放出するためのＦＥ
Ｔ８２６、抵抗器８２７を接続している。

【００３９】なお、オペアンプ８１１の非反転入力端子
に接続されている補正値信号１５は、積分時の温度ドリ
フト及び湿度リーク電流による積分誤差に対抗するため
の補正電流を設定するようになっている。

【００４０】しかして、通常測光時は、ＣＯＭＤＲ信号
をＬｏレベルに設定する事でＦＥＴ７１のソース−ドレ
イン間がＯＦＦ、ＦＥＴ７２のソース−ドレイン間がＯ
Ｎとなり、オペアンプ８１１の入力端へは受光素子４１
の測光電流信号が流れ込み、これを電流−電圧変換する
と共に積分コンデンサ８２１〜８２３で積分値として積
算する。

【００４１】この場合、積分コンデンサ８２２、８２３
はＣＨＡＲＧ１、ＣＨＡＲＧ２信号線によって制御され
るＦＥＴ８２４、８２５により、ＣＨＡＲＧ１、ＣＨＡ
ＲＧ２の信号レベルがＨｉの時に、各々のコンデンサを
接続して、積分コンデンサとして動作するようになる。
また、積分コンデンサ８２１〜８２３は受光素子４１の
測光電流値の大小により任意にその組み合わせを変える
事で、積分時間のダイナミックレンジを広く取る事がで
きるようになっている。特に、顕微鏡用写真撮影装置に
おいては、落射蛍光観察像撮影の様に非常に暗い被写体
を露出測光する場合があり、受光素子４１からの光電電
流も数ｐＡオーダーのレベルしか得られず、積分間隔に
よって決まる測光測定時間を実用に耐え得る数ｓｅｃ程
度に抑えるとすると、大きくとも数ｐＦ〜１０数ｐＦ程
度のコンデンサ容量を選択する必要がある。また、基板
上のリーク電流も測定値の誤差成分となり無視できない
ため、オペアンプ８１１の入力端子はテフロン端子等で
基板との絶縁を行い、各受光素子、ＦＥＴ、コンデンサ
類とは空中での配線接続を行う。但し高湿環境下では各
素子自身のパッケージ表面を伝って端子間リーク電流が
発生するため、実装上の工夫のみで完全にリーク電流の
影響を対策する事は困難であり、本発明に示す様な補正
手段によってこれを対策する事が必要となる。

【００４２】測光積分の開始は、ＲＥＳＥＴ信号１３に
より、ＦＥＴ８２６及び抵抗器８２７を経由してコンデ
ンサ８２１〜８２３に前回の積分で蓄積された電荷を放
電してから行われる。

【００４３】ここで、受光素子４１の光電変換電流ＩP
、暗時出力電流と温度ドリフト分の和ＩP ′、補正電
流Ｉrev 、オペアンプ８１１による電流−電圧変換およ
び積分回路全体の温度ドリフトと湿度リーク電流の和を
Ｉdrf とすると、積分電圧レベルＶC は前述の（３）式
より、 ＶC ＝（ｔ／Ｃ）＊｛（ＩP ＋ＩP ′＋Ｉdrf ）−Ｉrev ｝ （５） で表される。

【００４４】このようにして得られた積分電圧レベルＶ
C は、図１のＡ／Ｄコンバータ９でデジタル変換し、演
算装置であるＣＰＵ１１により監視しつつ、基準電圧Ｖ
refに到達するまでの積分累積時間ＴC を計測する。

【００４５】そして、基準電圧Ｖref と積分電圧レベル
ＶC が一致した時点で、積分コンデンサ８２１〜８２３
をＲＥＳＥＴ信号１３によるＦＥＴ８２６及び抵抗器８
２７で再度放電させ、次の積分サイクルを開始する。ま
た、露出時間ＴL は、各積分サイクル毎に演算で求めら
れるため、これをその都度記憶しておけば撮影要求が発
生する度に記憶された露出時間分だけシャッタ開閉制御
する事で撮影動作を行う事が出来る。また比較的明るい
被写体の場合は、積分累積時間ＴC と露出時間ＴL が一
致するため、シャッタ開動作と同期して積分を開始し基
準電圧Ｖref に到達した時点でシャッタを閉制御すると
いったリアルタイムな露光測光も可能である。

【００４６】一方、補正測光動作時は図５に示すＣＯＭ
ＤＲ信号を、通常測光時と逆にＨｉレベルとする事でＦ
ＥＴ７１のソース−ドレイン間ＯＮ、ＦＥＴ７２のソー
ス−ドレイン間がＯＦＦとなり、オペアンプ８１１の入
力端へは受光素子４２の光電変換電流が流れ込む。この
時受光素子４２へは入射光が遮断されているため、受光
素子電流は受光素子４２の温度ドリフト分を含む暗電流
ＩP ′のみとなる。

【００４７】従って、積分電圧レベルＶC は（５）式を
変形すると、 ＶC ＝（ｔ／Ｃ）＊ＩP ＋（ｔ／Ｃ）＊（ＩP'＋Ｉdrf ） −（ｔ／Ｃ）＊Ｉrcv （６） となる。ここで、（６）式は、右辺の第１項が被写体の
明るさのみの光電変換積分値、第２項が本回路の温度ド
リフト電流、湿度リーク電流すべての誤差分の電圧変換
積分値、第３項が補正値入力１５による電圧変換積分値
であり、この場合、第１項は０となり、残る第２項と第
３項が等しくなるように、即ちＶC ＝０となる様に補正
値電流Ｉrev を設定すれば、本回路の全ての誤差成分を
相殺できるようになる。

【００４８】このような補正測光時に補正値電流Ｉrev
を求るシーケンスは、上述した図４で示した通りであ
り、この補正測光動作を行う頻度は通常動作での一回の
積分測光が終了した都度行っても良いし、またある一定
間隔の期間をおいて定期的に行っても良い。但し定期的
に行う場合は、その間の急激な周囲の温湿度変化に伴っ
て測光特性が変化し始める前に、補正が実行出来るよう
な最大間隔を設定する必要がある。

【００４９】図６は通常測光から補正測光を行い、再度
通常測光に戻るまでの積分電圧レベルＶC の経時的推移
を示すものである。通常測光時は積分電圧レベルＶC を
常に監視し、基準電圧Ｖref となるまで積分を行うが、
補正測光時はある一定期間Ｔrev の間積分を行い、その
時の積分電圧レベルを測定し、これが０となるまで補正
値電流Ｉrev を変化させながら繰り返すようになる。

【００５０】従って、このような第１実施の形態によれ
ば、通常測光動作では、受光素子４１の出力信号を積分
器８２で積分するとともに、この積分器８２の積分電圧
レベルＶC を所定時間間隔ごとにＣＰＵ１１で監視し、
この積分電圧レベルＶC が規定レベルＶref に到達する
まで積分開始からの経過時間を積分累積時間ＴC として
計測し、この積分累積時間ＴC から露出時間ＴL を演算
することができ、また、温度による回路系全体の温度ド
リフト及び湿度によるリーク電流が、受光素子に対する
入射光が零、即ち暗黒状態時に受光素子の暗時出力と共
に測光積分出力となって現れることに着目し、受光素子
４２の出力信号を積分器８２で積分しつつ、この積分器
８２の積分出力の所定時間経過毎の積分出力により、積
分器８２の積分出力を零にするように該積分器８２に補
正するとともに、この時の補正入力を温湿度補正値とす
ることにより、周囲の温湿度変化による誤差成分に対し
て適正な補正を行うことができ、精度の高い露出測光値
を得ることができる。 （第２の実施の形態）第１の実施の形態で述べた補正測
光では、その動作中は補正用受光素子４２側に切り換え
られているため、この間、被写体の測光が行われず、最
新の積分値による露出測光演算ができない期間となる。
このため補正測光の実行頻度が高いと補正精度の良い露
出測光が可能となるが、この反面、被写体の光量変化に
対する追従性が悪くなることがあり、実使用上において
不要な補正測光は避けなければならない。

【００５１】そこで、第２の実施の形態では、図２で示
した通常測光フローと図４で示した補正測光フローとの
動作切り換えの条件を図７に示すフローチャートにより
実行するようにしている。

【００５２】ところで、一般に、図５で示す測光回路に
おいて比較的明るい被写体を測光する場合に、受光素子
４１により光電変換される電流値ＩP は数ｎＡ〜数１０
ｎＡ程度となり、受光素子４１の温度ドリフト及び積分
器のオペアンプとその周辺回路の温度ドリフト、または
湿度によるリーク電流等による誤差分の総和である数ｐ
Ａオーダーの値に対して非常に大きい値となる。従っ
て，この様な明るい被写体が撮影対象である場合は、特
に補正測光による温湿度補償を行う必要が無く、逆に光
電変換電流が誤差分のオーダーに近い非常に暗い被写体
の時にのみ補正を行えば良い事となる。

【００５３】図７では、ステップ７０１で、通常測光を
行い、ステップ７０２、ステップ７０３で、通常測光を
行った時の露出時間ＴL が、ある設定値以上となる様な
微弱光の被写体であるかを判定し、ステップ７０２で、
瞬間的な明るさの変動でなく、この状態が継続している
と判断すると、ステップ７０４で、微弱光測光カウンタ
をインクリメントし、ステップ７０５で、微弱光測光カ
ウンタの値が規定値を越えたかを判断して、ここで規定
値を越えたと判断すると、温湿度補償が必要として、ス
テップ７０６で、補正測光を実行し、補正終了後に直ち
に通常測光へ戻るようになる。

【００５４】このようにすれば、測光停止間隔が長くな
り、しかも被写体の明るさ変動に対して追従性良く露出
測光値を得る事ができる。 （第３の実施の形態）図８は、本発明の第３の実施の形
態の概略構成を示すもので、図１と同一部分には同符号
を付している。

【００５５】この場合、温湿度検出機構として、温度セ
ンサ１６、１７、これら温度センサ１６、１７のアナロ
グ信号をデジタル変換しＣＰＵ１１に転送するＡ／Ｄコ
ンバータ１８を付加し、これにより温湿度変位がある規
定レベル以上になった時に補正測光に移行するようにし
ている。

【００５６】ところで、第２の実施の形態でも述べたよ
うに、補正測光の頻度が高いと被写体の光量変化に対す
る露出測光の追従性が悪くなるため、不要な補正測光を
減らすことが望ましい。

【００５７】そこで、図８では、温度センサ１６及び湿
度センサ１７により、回路周辺の周囲温湿度を常時監視
する。そして、ある規定値以上の温湿度変化、即ち受光
素子４１の暗時出力電流と温度ドリフト電流の和ＩP ′
と、オペアンプによる電流−電圧変換及び積分器とその
周辺回路の温度ドリフト電流、湿度によるリーク電流等
による誤差分Ｉdrf との総和が、光電変換電流ＩP の最
小値に対して無視出来ないレベルになった時に、補正測
光に移行し、補正終了後に直ちに通常測光へ戻るように
なる。

【００５８】このようにしても、測光停止間隔が長くな
り、被写体の明るさ変動に対して追従性良く露出測光値
を得る事ができる。なお本発明は上述した実施の形態の
みに限定されるものではなく、幾多の変形または変更が
可能である。

【００５９】例えば、上述では、受光素子４１及び４２
の出力信号を切り換えるためにＦＥＴをもって構成した
が、低損失かつ漏洩電流が小さいリードリレー等をもっ
て構成する事もできる。また温度センサ及び湿度センサ
によって補正測光の実行決定を行っているが、湿度によ
るリーク電流が無視し得るレベルであれば、湿度センサ
を除いて温度センサのみによる検出動作も可能である。

【００６０】また、上述した図４では、補正測光時は規
定時間の積分をそのレベルが零近傍となるまで補正値を
変化させながら繰り返すが、高速化のために零に対する
差分がある程度までのレベルになった時点で補正動作を
打ち切り、通常測光時の積分基準電圧値に対し前記差分
の値を付加する事で補正を行う事も可能である。

【００６１】さらに電源入力ＯＮ時は、各回路素子がそ
の電源入力により自身で発熱し始め、温度ドリフトが発
生する可能性があるため、電源ＯＮ後に自己発熱が安定
した時点で補正動作を行うシーケンスを付加してもよ
い。

【００６２】さらにまた、前回電源ＯＮ時の最後の補正
測光による補正値電流を記憶しておき、次回電源ＯＮ時
の補正測光にその記憶値を補正開始値とする事で、補正
測光に必要な時間を短縮する事も可能である。

【００６３】以上、実施の形態に基づいて説明したが、
本発明中には以下の発明が含まれる。 （１）測光すべき被写体の入射光束に対応した信号を出
力する第１の受光素子と、入射光束零に対応する信号を
出力する第２の受光素子と、これら第１および第２の受
光素子の出力信号を適宜切り換える出力信号切り換え手
段と、この出力信号切り換え手段より出力される前記第
１または第２の受光素子の出力信号を積分する積分手段
と、前記第１の受光素子の出力信号に対する前記積分手
段の積分出力から露出時間を演算する露出時間演算手段
と、前記第２の受光素子の出力信号に対する前記積分手
段の積分出力から前記積分手段における積分動作を補正
する補正信号を生成し前記積分手段へ送出する補正手段
とを具備したことを特徴とする露出測光装置。

【００６４】このようにすれば、温度による回路系全体
の温度ドリフト及び湿度によるリーク電流が、受光素子
に対する入射光が零、即ち暗黒状態時に受光素子の暗時
出力と共に測光積分出力となって現れることに着目し、
第２の受光素子の出力信号に対する積分手段の積分出力
により、該積分手段の積分出力を零にするように積分動
作を補正するとともに、この時の補正信号から温湿度補
正値を生成することにより、周囲の温湿度変化による誤
差成分に対して適正な補正を行うことができ、精度の高
い露出測光値が得られる。

【００６５】（２）（１）記載の落射照明装置におい
て、前記第１の受光素子の出力信号による前記積分手段
の積分出力より演算される露出時間が、連続して規定値
より大きくなることにより、前記補正手段による補正を
実行するようにしている。

【００６６】このようにすれば、微弱測光時の受光素子
の出力信号が小さく、回路の温度ドリフト及び湿度リー
ク電流の影響が大きいような場合、これを積分手段の積
分出力より演算される露出時間が、連続して規定値より
大きくなることから判断し、補正手段による補正を実行
するようにしたので、補正動作中は通常の測光が行われ
ず、その間に被写体の明るさが変化してもこれに追従で
きないので、このように必要な時のみ補正を行うことに
より、明るさ変動への追従性を改善できる。

【００６７】（３）（１）記載の落射照明装置におい
て、周囲の温湿度を検出する検出手段を有し、該検出手
段の検出結果が、所定の温湿度条件になることにより、
前記補正手段による補正を実行するようにしている。

【００６８】このようにすれば、周囲の温湿度を検出す
る検出手段により回路の温度ドリフトまたは湿度リーク
が測光値に与える影響が無視できない温度または湿度と
なった事を検知して、補正手段による補正を実行するよ
うにしたので、不要な測光補正動作を行わないようにで
き、被写体の明るさ変動に対する測光演算の追従性を改
善できる。

【００６９】（４）測光すべき被写体の入射光束に対応
した信号を出力する第１の受光素子と、入射光束零に対
応する信号を出力する第２の受光素子と、これら第１お
よび第２の受光素子の出力信号を適宜切り換える出力信
号切り換え手段と、この出力信号切り換え手段より出力
される前記第１または第２の受光素子の出力信号を積分
する積分手段と、前記第１の受光素子の出力信号に対す
る前記積分手段の積分出力を所定時間間隔で監視し該積
分出力が所定レベルに達するまでの積分累積時間から露
出時間を演算する露出時間演算手段と、前記第２の受光
素子の出力信号に対する前記積分手段の積分出力の所定
時間経過毎の前記積分出力による前記積分手段に対する
補正入力から温湿度補正値を生成する補正手段とを具備
したことを特徴とする露出測光装置。

【００７０】このようにすれば、温度による回路系全体
の温度ドリフト及び湿度によるリーク電流が、受光素子
に対する入射光が零、即ち暗黒状態時に受光素子の暗時
出力と共に測光積分出力となって現れることに着目し、
第２の受光素子の出力信号に対する積分手段の積分出力
の所定時間経過毎の積分出力により、積分手段の積分出
力を零にするように該積分手段を補正するとともに、こ
の時の補正入力から温湿度補正値を生成することによ
り、周囲の温湿度変化による誤差成分に対して適正な補
正を行うことができ、精度の高い露出測光値が得られ
る。

【００７１】

【発明の効果】以上述べたように発明によれば、温度に
よる回路系全体の温度ドリフト及び湿度によるリーク電
流が、受光素子に対する入射光が零、即ち暗黒状態時に
受光素子の暗時出力と共に測光積分出力となって現れる
ことに着目し、第２の受光素子の出力信号に対する積分
手段の積分出力の所定時間経過毎の積分出力により、積
分手段の積分出力を零にするように該積分手段を補正す
るとともに、この時の補正入力から温湿度補正値を生成
するようにしているので、周囲の温湿度変化による誤差
成分に対して適正な補正を行うことができ、精度の高い
露出測光値が得られる。

【００７２】また、補正が必要な条件を設定し、これら
条件により補正動作を実行することにより、不要な補正
測光動作が回避でき、被写体の明るさ変動に対し追従性
の良い露出測光ができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施の形態の概略構成を示す
図。

【図２】第１の実施の形態の測光積算の動作を説明する
ためのフローチャート。

【図３】第１の実施の形態の積分器の出力特性を示す
図。

【図４】第１の実施の形態の補正測光の動作を説明する
ためのフローチャート。

【図５】第１の実施の形態の測光手段の具体的な回路構
成を示す図。

【図６】第１の実施の形態の通常測光から補正測光を行
い、再度通常測光に戻るまでの積分電圧レベルの経時的
推移を示す図。

【図７】本発明の第２の実施の形態の動作を説明するた
めのフローチャート。

【図８】本発明の第３の実施の形態の概略構成を示す
図。

【図９】従来の露出測光装置の基本的構成を示すブロッ
ク図。

【図１０】受光素子の測光出力の温度による変化を説明
するための図。

【符号の説明】

１…被写体、２…撮影フィルム、３…電磁的駆動シャッ
タ、４１、４２…受光素子、５…シャッタ駆動回路、６
…遮光板、７…スイッチ素子、７１、７２…ＦＥＴ、８
…積分変換器、８１…電流−電圧変換器、８１１…電流
−電圧変換器用オペアンプ、８２…積分器、８２１〜８
２３…コンデンサ、８２４〜８２６…ＦＥＴ、８２７…
抵抗器、９…Ａ／Ｄコンバータ、１０…Ｄ／Ａコンバー
タ、１１…ＣＰＵ、１２…表示装置、１３…リセット用
入力信号、１４…操作入力部、１５…補正値信号、１
６、１７…温度センサ、１８…Ａ／Ｄコンバータ。

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 測光すべき被写体の入射光束に対応した
   信号を出力する第１の受光素子と、 入射光束零に対応する信号を出力する第２の受光素子
   と、 これら第１および第２の受光素子の出力信号を適宜切り
   換える出力信号切り換え手段と、 この出力信号切り換え手段より出力される前記第１また
   は第２の受光素子の出力信号を積分する積分手段と、 前記第１の受光素子の出力信号に対する前記積分手段の
   積分出力から露出時間を演算する露出時間演算手段と、 前記第２の受光素子の出力信号に対する前記積分手段の
   積分出力から前記積分手段における積分動作を補正する
   補正信号を生成し前記積分手段へ送出する補正手段とを
   具備したことを特徴とする露出測光装置。
2. 【請求項２】 前記第１の受光素子の出力信号による前
   記積分手段の積分出力より演算される露出時間が、連続
   して規定値より大きくなることにより、前記補正手段に
   よる補正を実行することを特徴とする請求項１記載の露
   出測光装置。
3. 【請求項３】 周囲の温湿度を検出する検出手段を有
   し、該検出手段の検出結果が、所定の温湿度条件になる
   ことにより、前記補正手段による補正を実行することを
   特徴とする請求項１記載の露出測光装置。