JPH08201170A

JPH08201170A - 測光装置

Info

Publication number: JPH08201170A
Application number: JP7008406A
Authority: JP
Inventors: Hiroyuki Iwasaki; 宏之岩崎
Original assignee: Nikon Corp
Current assignee: Nikon Corp
Priority date: 1995-01-23
Filing date: 1995-01-23
Publication date: 1996-08-09
Also published as: US5640235A

Abstract

(57)【要約】【目的】補正部や制御部を構成するマイクロコンピュ
ータやメモリ等に負担をかけず、簡単な算出手法によっ
て、容易に正確な測光結果を得ることを可能とする。【構成】物体からの光を光電変換する光電変換部１２
と、光電変換部１２の情報を出力する出力回路（１３，
１４）と、出力回路の出力を対数圧縮する対数変換部１
５と、出力回路からの出力を補正する補正部１６とを備
え、補正部１６は、対数変換部１５によって対数圧縮さ
れた後に、出力回路からの出力の補正を行うようにし
た。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、被写体の輝度を測定す
る測光装置に関し、特に、カメラの自動露出制御に用い
ることができる測光装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】図１０は、従来例に係る測光装置の明る
さＬに対する出力特性Ｖを示した線図である。Ｌ−Ｖ特
性は、理想状態では曲線８−１のように比例関係にある
が、温度変化や電源電圧変化などによって曲線８−２の
ようにずれてしまう。Ｌ−Ｖの理想特性は、曲線８−１
の場合には式１によって、曲線８−２の場合には式２に
よって表される。Ｖ＝ａ・Ｌ・・・（１）Ｖ’＝ａ’・Ｌ＋ｂ・・・（２）従って、曲線８−２の場合には、実際に得られるＶ’か
ら傾きのずれａ／ａ’と、オフセットのずれｂを補正す
る必要がある。従来、このずれは、次のような式３を用
いて補正していた。Ｖ＝（Ｖ’−ｂ）・ａ／ａ’ ・・・（３）

【０００３】一方、従来の測光装置として、特開平６−
２０８１５４号公報等に記載されているようなものがあ
った。この測光装置は、図１１に示したように、１０／
ＮｍＳ（Ｎは１でない奇数）おきに測光を行い、最新の
Ｎ回分の測光値の平均によって、最終測光値を求めて、
光源のフリッカーの影響を受けない測光を行おうという
ものである。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかし、前者の測光装
置では、式３に示したように、乗算、除算は測光演算を
行うマイクロコンピュータにとって負担が大きく、演算
に時間がかかるという問題点があった。

【０００５】また、後者の特開平６−２０８１５４号公
報の測光装置は、最初にＮ回の測光を行わなければ最終
測光値を得られず、また、Ｎ回分の測光値を記憶しなけ
ればならないので、メモリの負担が大きいという問題点
があった。

【０００６】本発明の目的は、補正部を構成するマイク
ロコンピュータやメモリ等に負担をかけず、簡単な算出
手法によって、容易に正確な測光結果を得ることが可能
な測光装置を提供することである。

【０００７】

【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、請求項１の発明は、物体からの光を光電変換する光
電変換部と、前記光電変換部の情報を出力する出力回路
と、前記出力回路の出力を対数圧縮する対数変換部と、
前記出力回路からの出力を補正する補正部とを備えた測
光装置において、前記補正部は、前記対数変換部によっ
て対数圧縮された後に、前記出力回路からの出力の補正
を行うことを特徴としている。

【０００８】請求項２の発明は、請求項１に記載の測光
装置において、前記補正部は、前記出力回路の温度変化
による出力誤差を補正することを特徴としている。

【０００９】請求項３の発明は、請求項１に記載の測光
装置において、前記補正部は、前記出力回路の電源電圧
の変化による出力誤差を補正することを特徴としてい
る。

【００１０】請求項４の発明は、請求項１に記載の測光
装置において、前記補正部は、前記光電変換部の温度変
化による感度変化を補正することを特徴としている。

【００１１】請求項５の発明は、請求項１に記載の測光
装置において、前記出力回路は、少なくとも２つの出力
を有し、前記補正部は、前記出力回路の出力が対数圧縮
される前に、前記出力同士の差を取ることを特徴として
いる。

【００１２】請求項６の発明は、請求項５に記載の測光
装置において、前記出力回路は、基準電圧と少なくとも
１つの測光出力とを出力し、前記補正部は、前記基準電
圧と測光出力との差を取ることを特徴としている。

【００１３】請求項７の発明は、請求項６に記載の測光
装置において、前記出力回路は、前記基準電圧と測光出
力とが同一の端子より出力されることを特徴としてい
る。

【００１４】請求項８の発明は、物体からの光を測光す
る測光部と、所定間隔で測光を繰り返す制御部と、電源
立ち上げ後に初回の測光か否かを判別する判別部と、前
記判別部の判別結果に基づいて、初回の測光である場合
には、前記測光値を最終測光結果として出力し、初回の
測光でない場合には、前回の最終測光結果と最新の測光
値とを加重平均したものを最終測光結果として出力する
測光結果算出部とを備えたものである。

【００１５】請求項９の発明は、請求項１〜請求項８の
いずれか１項に記載の測光装置において、前記測光部
は、蓄積型の測光素子を用いたことを特徴としている。

【００１６】

【作用】請求項１では、出力回路の補正を対数圧縮後に
行うようにしたので、補正部に負担がかからない。請求
項２では、出力回路の温度変化による出力誤差を対数圧
縮後に行うようにしたので、出力誤差を簡単に補正する
ことができる。請求項３では、出力回路の電源電圧変化
による出力誤差を対数圧縮後に行うようにしたので、そ
の出力誤差を簡単に補正することができる。請求項４で
は、光電変換部の温度変化による感度変化を対数圧縮後
に行うようにしたので、その感度変化を簡単に補正でき
る。請求項５では、出力回路の出力が対数圧縮される前
に、出力同士で差を取るようにしたので、オフセット分
の誤差を補正する必要がなくなる。請求項６では、出力
回路の出力が対数圧縮される前に、基準電圧と測光出力
との差を取るようにしたので、オフセット分の補正をす
る必要がなくなる。請求項７では、基準電圧と測光出力
とが同一の端子より出力されるので、出力読み込み端子
が１本で済む。

【００１７】請求項８では、初回の測光である場合に
は、測光値を最終測光結果として出力し、初回の測光で
ない場合には、前回の最終測光結果と最新の測光値とを
加重平均したものを最終測光結果として出力するように
したので、少量のメモリ使用量で安定した測光が行え
る。請求項９では、蓄積型の測光素子を用いたので、蓄
積型の素子を使った出力回路の補正が簡単に行え、ま
た、安定した測光値を得ることが可能となる。

【００１８】

【実施例】以下、図面等を参照して、本発明の実施例に
ついて説明する。図１は、本発明の一実施例に係わるカ
メラの測光装置の概略の構成を示すブロック図である。
この実施例の測光装置は、主に受光素子９、マイクロプ
ロセッサ（以下、マイコンと略す）２０、レンズ内マイ
コン２１、露出制御部１９、絞り１０、シャッター１
１、ミラー２等が含まれている。

【００１９】受光素子９は、被写界からの光を光電変換
する測光部１２と、その測光部１２の出力を電圧レベル
に変換した後に増幅して出力する増幅部１３などを備え
ている。

【００２０】マイコン２０は、受光素子９からの出力を
数値レベルに変換するＡ／Ｄ変換部１４と、Ａ／Ｄ変換
部１４のデータを対数圧縮する対数変換部１５と、対数
変換部１５からのデータを入力し、受光素子９からの出
力データの補正を行う補正部１６と、補正部１６からの
データと撮影レンズ内に納められたレンズ内マイコン２
１から出力される撮影レンズに関するデータとから被写
界の輝度値を算出する輝度算出部１７と、輝度算出部１
７からの出力を用いて適正露出値を演算する露出演算部
１８等を備えている。マイコン２０は、不図示のメモリ
内に書き込まれたプログラムが実行されることにより各
部の動作が実現されるが、プログラムの内容について
は、後に詳しい説明を行う。

【００２１】露出制御部１９は、露出演算部１８の出力
に基づいて、ミラー２、絞り１０、及びシャッター１１
等を制御し、フィルムへの露光を行う。

【００２２】図２は、本実施例に係る測光装置の光学系
を示すブロック図である。光束は、撮影レンズ１を通過
した後に、クイックリターンミラー２、拡散スクリーン
３、コンデンサレンズ４、ペンタプリズム５、接眼レン
ズ６を通って撮影者の目に到達する。一方、光束の一部
は、拡散スクリーン３によって拡散された後に、コンデ
ンサレンズ４、ペンタプリズム５、測光用プリズム７、
測光用レンズ８を通して受光素子９へ到達する。

【００２３】図３は、本実施例に係る測光装置の測光素
子の分割状態を被写界に照らし合わせて示した図であ
る。測光素子９は、例えばＣＣＤ（チャージ・カップル
ド・デバイス）等の蓄積型センサーが用いられており、
本実施例では、上下方向に１２分割、左右方向に２０分
割された合計２４０領域から構成されている。

【００２４】図４は、本実施例に係る測光装置の受光素
子の内部構成を詳しく表した図である。受光素子９は、
前述したように、ＣＣＤ等の蓄積型の素子から成ってお
り、受光部をもたないＯＰＢレジスタＲＯ、第１電荷注
入レジスタＲ１及び第２電荷注入レジスタＲ２の３本の
レジスタと、受光部を備え被写界の測光を行う１２本の
ＨレジスタＲＨ１〜ＲＨ１２とを備えている。上記各レ
ジスタＲは、それぞれ２０個の独立した画素信号出力が
接続されており、測光出力等は、これらのレジスタＲを
介し、ＨレジスタＲＨ１〜ＲＨ１２と９０度の角度をな
して配置されているＶレジスタＲＶを通して、出力回路
２２へ出力される。

【００２５】出力回路２２は、ＶレジスタＲＶからの出
力を電圧に変換した後に、信号を１倍（ゲインＬ時）又
は４倍（ゲインＨ時）して、所定のタイミングにより出
力端子より出力する。出力回路２２のゲインは、マイコ
ン２０からのポート操作により切り替えられるようにな
っている。

【００２６】ＯＰＢレジスタＲＯは、光学的に遮光され
た光電変換部を備え、受光素子９の蓄積中に発生した暗
電流成分のみを出力するものであり、暗電流成分の補正
時に使用される。第１及び第２電荷注入レジスタＲ１，
Ｒ２の出力は、後に受光素子９の出力の補正を行うとき
に使用され、被写界の明るさに係わらず常に一定電荷の
出力を行うものである。尚、第１及び第２電荷注入レジ
スタＲ１，Ｒ２は、それぞれ注入される電荷の量が異な
っているものである。

【００２７】図５は、本実施例に係る測光装置の受光素
子からの出力信号の形態を示した図である。受光素子９
の出力は、Ｖｔｉｍ信号の立ち下がりに同期して、Ｖｏ
ｕｔ信号を読み取ることによって取り込まれる。Ｖｔｉ
ｍ信号の初めの３パルス分は、測光部１２からの情報を
含まない、いわゆるダミー出力となっており、この電圧
レベルＶｏｒｅｆ（約４Ｖ）が受光素子９の基準レベル
となる。

【００２８】その後に、ＯＰＢ出力Ｖｏｐｂ、第１及び
第２注入電荷出力Ｖ１，Ｖ２、ＨレジスタＲＨ１〜ＲＨ
１２までの出力Ｖｏ［ｘ］（ｘ＝１・・・１２）が、１
画素分ずつ基準レベルからの差として出力され、Ｖレジ
スタＲＶの１回分の出力を終了する。尚、各出力の信号
成分は、基準レベルを０として０Ｖ方向に出力される。
１画面分の出力は、この動作を２０列分繰り返すことに
よって完了する。ここで、正味の信号成分は、基準レベ
ルからその画素の信号レベルを引くことにより求められ
る。例えば、基準レベル＝４Ｖ、信号出力レベル＝３Ｖ
の場合に、その画素の信号成分は１Ｖである。

【００２９】図６、図７は、本実施例に係る測光装置の
動作（マイコン２０のプログラム）を示したフローチャ
ート（その１、その２）である。カメラの電源は、不図
示のカメラのレリーズボタンが半押しされることによっ
て入り、本プログラムがスタートする。まず、ステップ
Ｓ１０１において、受光素子９が初期化済みであるか否
かを判別し、初期化済みでない場合には、ステップＳ１
０２に進み、受光素子９内の不要電荷の吐き出しを行う
初期化の処理を行う。

【００３０】次に、初期化済みの場合には、ステップＳ
１０３に進み、受光素子９の蓄積を行い、Ａ／Ｄ変換部
１４によって測光データの読み出しを行う。初回の蓄積
時間は、適当な値（例えば１ｍＳ等）によって測光を行
い、その時の測光値から後のステップＳ１１７によっ
て、次回以降の蓄積時間及びゲインを決定する。

【００３１】測光データの読み取り後は、ステップ１０
４において、基準信号と各データとの差を取り、正味の
測光出力を求める。その求め方は、以下に示す式４によ
って行う。ＲＶｘ［ｎ］＝Ｖｏｒｅｆ［ｎ］−Ｖｘ［ｎ］・・・（４）ここで、ＲＶｘは、正味の測光データ、Ｖｘは測光出力
を表し、［ｎ］はｎ列目のデータであることを示す。

【００３２】次に、ステップＳ１０５において、測光デ
ータが有効であるか否か、すなわち測光ダイナミックレ
ンジに収まっているか否かを判別する。有効か否かの判
定は、以下の式５、６が同時に満たされている場合とす
る。Ｖｏｍａｘ＞Ｖｍａｘ＿ｍｉｎ・・・（５）Ｖｏｍｉｎ＜Ｖｍｉｎ＿ｍａｘ・・・（６）ここで、Ｖｏｍａｘ、Ｖｏｍｉｎは、ステップＳ１０４
で求めた２４０個の測光領域の正味の信号成分、すなわ
ち基準電圧信号から出力信号を引いた値の、それぞれ最
大値、最小値である。

【００３３】また、Ｖｍａｘ＿ｍｉｎ、Ｖｍｉｎ＿ｍａ
ｘは、受光素子９の特性によって決められる値である。
Ｖｍａｘ＿ｍｉｎは、信号出力として信頼性のあると思
われる最大値の最小値を示しており、例えば全信号出力
がＶｍａｘ＿ｍｉｎ以下であってもその後の測光演算に
影響を与えない程度の値として設定されている。ここで
は、Ｖｍａｘ＿ｍｉｎ＝０．５１２Ｖとする。逆に、Ｖ
ｍｉｎ＿ｍａｘは、信号出力として信頼性のあると思わ
れる最小値の最大値を示しており、例えば全信号出力が
Ｖｍｉｎ＿ｍａｘ以上であってもその後の測光演算が可
能な程度の値として設定されている。ここでは、Ｖｍｉ
ｎ＿ｍａｘ＝３．４Ｖ（受光素子９の飽和信号出力程
度）とする。

【００３４】ステップＳ１０６では、ステップＳ１０４
で求めた２４０領域の測光データの対数変換を式７を用
いて行う。ＬＶ［ｎ，ｘ］＝Ｌｏｇ（ＲＶ［ｎ，ｘ］）／Ｌｏｇ（２）・・・（７）ここで、ＲＶ［ｎ，ｘ］は、ステップＳ１０４によって
求めた横ｎ列、縦ｘ行の対数変換前のデータ（ｎ＝１・
・・２０，ｘ＝１・・・１２）、ＬＶ［ｎ，ｘ］は、同
様に、対数変換後のデータである。

【００３５】ステップＳ１０７では、アンプゲイン補正
係数Ｃａを式８により算出する。Ｃａ＝Ｖ１２−Ｖ１２’ ・・・（８）ここで、Ｖ１２’は、ステップＳ１０６によって求めら
れたＶ１［ｎ］（ｎ＝１・・・２０）及びＶ２［ｎ］
（ｎ＝１・・・２０）の平均値であり、Ｖ１２は、測光
装置の輝度更正時に得られたＶ１２’であり、測光装置
の不揮発性メモリなどに記憶しておくものである。ここ
で、演算の簡略化のために、Ｖ１２、Ｖ１２’の代わり
に、Ｖ１［ｎ］またはＶ２［ｎ］のいずれかのみの平均
値を用いてもよい。また、更なる演算の簡略化のため
に、ｎ列の平均値を求めずに任意の列のデータを用いて
更正するようにしてもよい。

【００３６】ステップＳ１０８において、感度補正値Ｃ
ｔを式９によって算出する。Ｃｔは、受光素子９の光電
変換部の感度が温度によって変動するのを補正する係数
である。Ｃｔ＝Ｔｇ・（ｔ０−ｔ）・・・（９）ここで、ｔ０は測光装置の輝度更正時の温度、ｔは測光
時の温度、Ｔｇは定数である。このＴｇは、おおよそ
０．００５程度の数値である。ｔは、測光装置内に温度
を検出する回路を設けてもよいし、受光素子９のＯＰＢ
出力が温度と蓄積時間の関数であることを利用し、ＯＰ
Ｂ出力と蓄積時間とから計算して求めてもよい。

【００３７】次に、ステップＳ１０９では、蓄積時間補
正係数Ｃｉｎｔを式１０によって求める。Ｃｉｎｔ＝Ｌｏｇ（ｉｎｔ０／ｉｎｔ）／Ｌｏｇ（２）・・・（１０）ここで、ｉｎｔ０は基準の蓄積時間（例えば１ｍＳ）、
ｉｎｔは測光時の蓄積時間である。

【００３８】図７に示したステップ１１０では、２４０
領域の輝度値を式１１によって算出する。ＢＶ［ｎ，ｘ］＝ＬＶ［ｎ，ｘ］＋Ｃａ＋Ｃｔ＋Ｃｉｎｔ＋Ｃｆ０＋Ｃｇ＋Ｃｚ［ｎ，ｘ］・・・（１１）ここで、ＬＶ［ｎ，ｘ］は式７で求めた対数変換後の測
光データ、Ｃａはアンプゲイン補正係数、Ｃｔは感度補
正係数、Ｃｉｎｔは蓄積時間補正係数、Ｃｇは受光素子
の出力回路のゲイン補正係数（ゲインＨ時＝０、ゲイン
Ｌ時＝２）、Ｃｚ［ｎ，ｘ］は各測光領域での測光誤差
補正係数であり、レンズ内マイコン２１からのデータに
よってレンズ毎に算出されるものである。

【００３９】ステップＳ１１１では、得られた２４０領
域の輝度値を用いて、被写界の適正露出値の演算を行
う。適正露出値の求め方は、本出願人による特開平６−
９５２００号公報等に詳しく記載されているので、ここ
では説明を省略する。

【００４０】ステップＳ１１２では、１回目の測光か否
かを判断して、肯定された場合には、ステップＳ１１４
へ進み、否定された場合には、ステップＳ１１３に進
み、式１２によってＢＶａｎｓを求める。ＢＶａｎｓ＝（３・ＢＶａｎｓ＋ＢＶａｎｓ’）／４・・・（１２）

【００４１】ステップＳ１１４では、レリーズボタンが
全押しされたか否かを判別し、全押しされた場合には、
ステップＳ１１５に進み、求められた適正露出値によっ
て露出制御を行う。ステップＳ１１６では、マイコン２
０に内蔵されたタイマーがタイマー切れか否かを判別
し、否定された場合には、ステップＳ１１７に進み、次
回測光時の蓄積時間ｉｎｔと出力回路のゲインを求めた
後に、再びステップＳ１０１へ戻って処理を繰り返し、
タイマー切れの場合には、プログラムを終了する。ステ
ップ１１７の処理については、次に詳しく述べる。

【００４２】図８、図９は、本実施例に係る測光装置の
動作（次回蓄積時間及び受光素子のアンプゲインを決定
するサブルーチン）を示すフローチャート（その１、そ
の２）である。図７のステップＳ１１７が実行されるこ
とにより、本サブルーチンが呼び出されて実行される。
本サブルーチンが呼び出される前には、電源立ち上げ後
に、少なくとも１回は測光が行われているので、直前の
測光値がマイコン２０内のメモリ内に残っている。

【００４３】ステップＳ２０１では、メモリ内に残って
いる直前の測光値の中から最大値Ｖｏｍａｘ、及びＶｏ
ｐｂｍａｘを求める。Ｖｏｍａｘは、式５で求めた値と
同一であり、Ｖｏｐｂｍａｘは、式４で求めた２０個の
正味のＯＰＢ出力の最大値である。

【００４４】ステップＳ２０２では、式１３の判定を行
う。（Ｖｏｖ−Ｖａｇｃ）＜Ｖｏｐｂｍａｘ・・・（１３）ここで、Ｖｏｖは、式４で求めた正味の出力の飽和値、
Ｖａｇｃは、目標とする出力最大値であり、それぞれ受
光素子９の特性によって決定されるが、おおよそ３．４
Ｖ、３Ｖ程度である。受光素子９の出力は、素子の構成
上ＯＰＢ成分と正味の信号成分との和が飽和値を越えて
出力することができない。そのために、ＯＰＢ出力が大
きいと正味の信号成分のダイナミックレンジが狭くなっ
てしまう。数式１３が成立する場合には、ＯＰＢ出力が
大きくダイナミックレンジが小さくなるので、信号成分
がＶａｇｃに到達する前に飽和してしまう可能性があ
り、Ｖａｇｃの補正を行わなければならない。

【００４５】式１３が成立する場合には、ステップ２０
３で式１４によって、Ｖａｇｃの補正値Ｖｃを求める。Ｖｃ＝Ｖｏｐｂｍａｘ−（Ｖｏｖ−Ｖａｇｃ）・・・（１４）また、数式１３が否定の場合には、問題がないのでステ
ップＳ２０４においてＶｃ＝０とする。

【００４６】次に、ステップＳ２０５において、Ｖｏｍ
ａｘ＞Ｖａｇｃであるか、すなわち測光データの最大値
がＡＧＣ目標レベルより大きいか否かを判定し、大きい
場合には、ステップＳ２１１へ進み、それ以外の場合は
ステップＳ２０６へ進む。

【００４７】ステップＳ２０６では、更に前回の蓄積時
間ｉｎｔが最大蓄積時間ｉｎｔ＿ｍａｘ以上か否かを判
定する。ｉｎｔ＿ｍａｘは、おおよそ４００ｍＳ程度の
値である。ステップＳ２０６が否定の場合には、ステッ
プＳ２０８へ進み、それ以外の場合はステップＳ２０７
へ進む。

【００４８】ステップＳ２０７では、前回の測光データ
の最大値がＶａｇｃ以下であり、かつ、蓄積時間が最大
であったので、次回の蓄積時間ｉｎｔ’としてｉｎｔ＿
ｍａｘを代入する。

【００４９】ステップＳ２０８では、Ｖｏｍａｘ＝０か
否かを判定し、肯定された場合には、ステップＳ２１０
へ進み、次回の蓄積時間ｉｎｔ’をｉｎｔのｉｎｔｘ倍
とする。この場合には、ｉｎｔｘは４とする。ステップ
Ｓ２０８が否定された場合は、ステップＳ２０９へ進
み、式１５によってｉｎｔ’を求める。ｉｎｔ’＝（Ｖａｇｃ−Ｖｃ）・ｉｎｔ／Ｖｏｍａｘ・・・（１５）

【００５０】ステップＳ２１１では、蓄積時間ｉｎｔが
最小蓄積時間ｉｎｔ＿ｍｉｎ（約１０μＳ）以下である
か否かを判定し、肯定された場合には、ステップＳ２１
２にに進み、ｉｎｔ’＝ｉｎｔ＿ｍｉｎとする。否定さ
れた場合には、ステップＳ２１３に進み、ステップＳ２
０９と同様に式１５によってｉｎｔ’を求める。

【００５１】ステップＳ２１４では、式１６によって前
回の蓄積時間ｉｎｔと次回蓄積時間ｉｎｔ’との加重平
均値を求めて、再びｉｎｔへ代入する。ｉｎｔ＝（ｉｎｔ・３＋ｉｎｔ’）／４・・・（１６）尚、ここでは、前回の蓄積時間に３倍の重みをつけた重
み付け平均を取っているが、この値は、これに限らず調
節可能である。このように、前回の蓄積時間の履歴を残
しておくことにより、光源のフリッカー等により蓄積時
間の調節が不安定化するのを防止することができる。

【００５２】次に、ステップＳ２１５では、受光素子９
内の出力回路２２のゲイン＝Ｌであり、かつ、式１６で
求めたｉｎｔが１００ｍＳより大であるか否かを判定
し、肯定された場合には、ステップＳ２１６に進み、次
回の蓄積をゲイン＝Ｈ、蓄積時間を式１６の４分の１に
する。この理由は、ゲインＨがゲインＬの４倍のアンプ
になっているためであり、蓄積時間を短縮して測光を速
く行うことを目的としている。

【００５３】ステップＳ２１７では、同様に、ゲイン＝
Ｈであり、かつ、式１６で求めたｉｎｔが１０ｍＳより
小であるか否かを判定し、肯定された場合には、ステッ
プＳ２１８に進み、次回の蓄積をゲイン＝Ｌ、蓄積時間
を式１６の４倍にする。この場合には、どちらのゲイン
であっても測光時間に占める蓄積時間の割合が比較的小
さいので、比較的ノイズの小さいゲインＬを選択する。

【００５４】ステップＳ２１９では、ｉｎｔがｉｎｔ＿
ｍｉｎを下回っていないか否かを判定し、肯定された場
合には、ステップＳ２２０に進み、ｉｎｔ＝ｉｎｔ＿ｍ
ｉｎとする。ステップＳ２２１では、ｉｎｔがｉｎｔ＿
ｍａｘを上回っていないか否かを判定し、肯定された場
合には、ステップＳ２２２に進み、ｉｎｔ＝ｉｎｔ＿ｍ
ａｘとして処理を終了する。

【００５５】以上の実施例において、測光部１２が光電
変換部に、増幅部１３または出力回路２２が出力回路
に、対数変換部１５が対数変換部に、補正部１６が補正
部に、受光素子９が測光部に、マイコン２０が制御部
に、図６のステップＳ１０１が判別部にそれぞれ対応す
る。

【００５６】以上説明した実施例に限定されることな
く、種々の変形や変更が可能であって、それらも本発明
に含まれる。例えば、本実施例では、２４０個の全ての
測光領域について対数変換及び補正を施し、それぞれの
輝度値を算出したが、全領域の輝度値を求めなくてもよ
い。

【００５７】また、複数の測光領域をグループ化し、グ
ループ内の測光出力を平均する等の処理をした後に、対
数変換及び補正をすることによりグループ毎の輝度値を
求め、それらの輝度値を用いて適正露出演算を行っても
よい。この場合に、グループ化することにより、対数変
換及び補正を施す回数が減るので、演算が高速にできる
などの効果がある。

【００５８】

【発明の効果】以上詳しく説明したように、本発明によ
れば、簡単な算出手法により測光出力の補正を行うの
で、補正部に負担をかけずに正確な測光結果を得ること
が可能となる。また、複数の測光値を記憶しなくても、
光源のフリッカー等の影響を受けない測光値を出力可能
なために、制御部に負担がかからない。

【００５９】特に、請求項１によれば、出力回路の補正
を対数圧縮後に行うようにしたので、補正部に負担がか
からない。請求項２によれば、出力回路の温度変化によ
る出力誤差を対数圧縮後に行うようにしたので、出力誤
差を簡単に補正することができる。請求項３によれば、
出力回路の電源電圧変化による出力誤差を対数圧縮後に
行うようにしたので、その出力誤差を簡単に補正するこ
とができる。請求項４によれば、光電変換部の温度変化
による感度変化を対数圧縮後に行うようにしたので、そ
の感度変化を簡単に補正できる。請求項５によれば、出
力回路の出力が対数圧縮される前に、出力同士で差を取
るようにしたので、オフセット分の誤差を補正する必要
がなくなる。請求項６によれば、出力回路の出力が対数
圧縮される前に、基準電圧と測光出力との差を取るよう
にしたので、オフセット分の補正をする必要がなくな
る。請求項７によれば、基準電圧と測光出力とが同一の
端子より出力されるので、出力読み込み端子が１本で済
む。

【００６０】請求項８によれば、初回の測光である場合
には、測光値を最終測光結果として出力し、初回の測光
でない場合には、前回の最終測光結果と最新の測光値と
を加重平均したものを最終測光結果として出力するよう
にしたので、少量のメモリ使用量で安定した測光が行え
る等の効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明による測光装置の実施例の構成を示すブ
ロック図である。

【図２】本実施例に係る測光装置の光学系を示した図で
ある。

【図３】本実施例に係る測光装置の測光部の分割状態を
示す図である。

【図４】本実施例に係る測光装置の受光素子の内部構成
を示す図である。

【図５】本実施例に係る測光装置の受光素子からの出力
信号の形態を示す図である。

【図６】本実施例に係る測光装置のアルゴリズム（マイ
コン２０のプログラム）を示すフローチャート（その
１）である。

【図７】本実施例に係る測光装置のアルゴリズム（マイ
コン２０のプログラム）を示すフローチャート（その
２）である。

【図８】本実施例に係る測光装置のアルゴリズム（次回
蓄積時間及び受光素子のアンプゲインを決定するサブル
ーチン）を示すフローチャート（その１）である。

【図９】本実施例に係る測光装置のアルゴリズム（次回
蓄積時間及び受光素子のアンプゲインを決定するサブル
ーチン）を示すフローチャート（その２）である。

【図１０】従来例に係る測光装置を示す説明図である。

【図１１】従来例に係る測光装置を示す説明図である。

【符号の説明】

１撮影レンズ２クイックリターンミラー３拡散スクリーン４コンデンサレンズ５ペンタプリズム６接眼レンズ７測光用プリズム８測光用レンズ９受光素子１０絞り１１シャッター１２測光部１３増幅部１４Ａ／Ｄ変換部１５対数変換部１６補正部１７輝度算出部１８露出演算部１９露出制御部２０マイクロプロセッサ２１レンズ内マイコン２２出力回路

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】物体からの光を光電変換する光電変換部
と、前記光電変換部の情報を出力する出力回路と、前記出力回路の出力を対数圧縮する対数変換部と、前記出力回路からの出力を補正する補正部とを備えた測
光装置において、前記補正部は、前記対数変換部によって対数圧縮された
後に、前記出力回路からの出力の補正を行うことを特徴
とする測光装置。
【請求項２】請求項１に記載の測光装置において、前記補正部は、前記出力回路の温度変化による出力誤差
を補正することを特徴とする測光装置。
【請求項３】請求項１に記載の測光装置において、前記補正部は、前記出力回路の電源電圧の変化による出
力誤差を補正することを特徴とする測光装置。
【請求項４】請求項１に記載の測光装置において、前記補正部は、前記光電変換部の温度変化による感度変
化を補正することを特徴とする測光装置。
【請求項５】請求項１に記載の測光装置において、前記出力回路は、少なくとも２つの出力を有し、前記補正部は、前記出力回路の出力が対数圧縮される前
に、前記出力同士の差を取ることを特徴とする測光装
置。
【請求項６】請求項５に記載の測光装置において、前記出力回路は、基準電圧と少なくとも１つの測光出力
とを出力し、前記補正部は、前記基準電圧と測光出力との差を取るこ
とを特徴とする測光装置。
【請求項７】請求項６に記載の測光装置において、前記出力回路は、前記基準電圧と測光出力とが同一の端
子より出力されることを特徴とする測光装置。
【請求項８】物体からの光を測光する測光部と、所定間隔で測光を繰り返す制御部と、電源立ち上げ後に初回の測光か否かを判別する判別部
と、前記判別部の判別結果に基づいて、初回の測光である場
合には、前記測光値を最終測光結果として出力し、初回
の測光でない場合には、前回の最終測光結果と最新の測
光値とを加重平均したものを最終測光結果として出力す
る測光結果算出部とを備えた測光装置。
【請求項９】請求項１〜請求項８のいずれか１項に記
載の測光装置において、前記測光部は、蓄積型の測光素子を用いたことを特徴と
する測光装置。