JPH09269266A - 温度検出回路、温度検出方法及び温度検出装置 - Google Patents

温度検出回路、温度検出方法及び温度検出装置

Info

Publication number
JPH09269266A
JPH09269266A JP10340096A JP10340096A JPH09269266A JP H09269266 A JPH09269266 A JP H09269266A JP 10340096 A JP10340096 A JP 10340096A JP 10340096 A JP10340096 A JP 10340096A JP H09269266 A JPH09269266 A JP H09269266A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
value
temperature
absolute temperature
measured
absolute
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10340096A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoichi Miyauchi
洋一 宮内
Shin Yasuhara
伸 安原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kyocera Corp
Original Assignee
Kyocera Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kyocera Corp filed Critical Kyocera Corp
Priority to JP10340096A priority Critical patent/JPH09269266A/ja
Publication of JPH09269266A publication Critical patent/JPH09269266A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 特別な温度センサや切替手段を設ける必要が
なく、絶対温度に比例する測光出力を用いて実測AD値
から簡単に温度を検出する温度検出回路、温度検出方法
及び温度検出装置を提供する。 【解決手段】 測光回路1の絶対温度比例出力電源13
をAD変換器2の基準電圧Vrefとして印加して、所
定温度における温度に依存しない基準電圧源7の電圧を
AD変換して測定絶対温度値を求め、所定温度における
基準絶対温度値と前記測定絶対温度値との差分に相当す
る調整値により前記測定絶対温度値を調整可能になし、
所定温度における基準AD値と基準絶対温度値との積を
基準値Cとして予め記憶し、所定温度における前記実測
AD値を求めるとともに、前記基準値Cと前記実測AD
値との商により前記測定絶対温度値を求め、前記基準絶
対温度値と等しくなるように前記調整値分前記測定絶対
温度値を調整するように構成した。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、絶対温度に比例す
る測光出力を用いて温度を検出する温度検出回路、温度
検出方法及び温度検出装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より光ダイオードを用い、絶対温度
に比例した測光出力により温度の影響をキャンセルして
露出制御を行う技術は良く知られている。しかしなが
ら、他の電気回路は温度変化により出力が変動する特性
を有し、温度を測定して電気回路を補正する必要があ
る。
【0003】従来の温度検出回路は、図6に示されるよ
うに、絶対温度に比例する出力を送出する出力端子1b
を有した光電変換回路14と、出力端子1aに絶対温度
に比例する出力電圧源を印加可能な絶対温度比例出力電
源13とを備えた測光回路1と、温度に比例した出力を
送出する温度比例出力回路17と、AD変換の基準とな
るVref端子及びAD変換されるアナログ電圧が印加
されるAN1端子、AAN2端子を有したAD変換器2
とを備え、該AD変換器2のVref端子に前記測光回
路1の絶対温度比例出力電源の端子1aと印加電源Vd
dとを切り換え手段15を介して切り換え可能に接続
し、光電変換回路14の端子1bをAN1に接続し、温
度比例出力回路17をAN2端子に接続している。
【0004】この回路は、絶対温度に比例した基準電圧
をAD変換器2のVref端子に印加し、光電変換回路
14のアナログ入力をAN1端子に印加して温度の影響
をキャンセルした測光出力を得ることができる。一方、
温度を検出するには、切り換え手段15を駆動して、基
準電圧VddをVref端子に印加して、該基準電圧を
基準として温度比例出力回路17からの出力をAD変換
して、そのAD値から温度を演算している。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】よって、上述の従来技
術によると、測光回路1の絶対温度比例出力電源から基
準電圧Vddを切り換え接続する切り換え手段や、ポジ
スターやサーミスタ等の素子を用いて温度に比例する出
力を送出する温度比例出力回路17等が必要になり、部
品点数が増加するとともに制御が煩雑になり、コストが
増大するという問題を有していた。上述の事情に鑑み本
発明の目的は、簡単な構成により、絶対温度に比例する
測光出力を用いて温度を検出する温度検出回路、温度検
出方法及び温度検出装置を提供することである。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、基本的に絶対
温度に比例するバイアス電圧を有したAD変換器を含
み、前記バイアス電圧を基準として温度に影響しない電
圧をAD変換して、そのAD値を演算して温度を検出す
ることに特徴を有するものである。
【0007】本発明の請求項1は、温度検出回路に係
り、絶対温度に比例するアナログ出力を送出する測光回
路と、前記測光回路の絶対温度に比例する出力電圧を基
準入力端子に受けるとともに、温度に依存しない電圧源
を変換電圧入力端子に受け、前記変換電圧をAD変換す
るAD変換回路と、前記AD変換回路の出力を演算して
温度を検出する演算回路とを備えたことを特徴とする。
【0008】図1に示すように、測光回路1の出力端子
1a及び1bはともに絶対温度に比例した電圧である。
したがって、AD変換器2は絶対温度に比例した測光出
力をディジタル変換して出力し、そのデータを必要部署
に送出することができる。
【0009】一方、温度に依存しない基準電圧源7から
の所定電圧Vkを絶対温度にに比例する基準出力電圧V
refによりAD変換し、そのAD値から演算ユニット
3により演算して絶対温度Tを求め、その絶対温度Tか
ら温度を検出する。
【0010】このように、絶対温度に比例する測光回路
1と、温度に依存しない基準電圧源7と、AD変換器2
と、演算ユニット3とにより温度変換回路を構成してい
るので、特別な温度センサや切替手段を設ける必要がな
く、簡単な構成により温度検出回路を形成することがで
きる。
【0011】本発明の請求項2は、温度検出方法であ
り、絶対温度に比例するアナログ出力を送出する測光回
路の出力電圧を基準電圧として、温度に依存しない電圧
源による印加電圧を(AD)値としてAD変換するAD
変換器により、前記(AD)値と絶対温度Tとの積を基
準値Cとして記憶するとともに、前記Cのバラツキを補
正する補正値をXとして記憶し、前記(AD)値を求
め、T=C・X/(AD)として温度を検出することを
特徴とする。
【0012】温度tにおけるAD値を(ADt)とし、
温度tにおける絶対温度値をTtとし、Ct=Tt×
(ADt)とすれば、 Tt=Ct/(ADt)、t℃=Tt−273 として、そのときの絶対温度を演算することにより、温
度を検出することができる。
【0013】しかしながら、温度に依存しない電圧源を
形成する回路素子は温度に影響される素子で構成される
ために、実測AD値及び基準値Cはバラツクこととな
る。よって、補正値Xにより基準値Cを補正することに
より正確な温度を検出することができる。このように、
特別な温度センサや切替手段を設ける必要がなく、簡単
に実測AD値から温度を求めることができる。
【0014】また、絶対温度に比例するアナログ出力を
送出する測光回路の出力電圧を基準電圧として、温度に
依存しない電圧源による印加電圧をAD変換してAD値
を求め、所定温度における前記AD値を演算して測定絶
対温度値を求め、所定温度における基準絶対温度値と前
記測定絶対温度値との差分を前記測定絶対温度値を加減
算調整することにより解消する調整値を、最小調整値を
2のマイナス乗数で重み付するとともに、該調整値との
関係具合を関数式、テーブル等として用意し、所定温度
における基準AD値と基準絶対温度値との積を基準値C
として予め記憶し、所定温度における前記実測AD値を
求めるとともに、前記基準値Cと前記実測AD値との商
により前記測定絶対温度値を求め、所定温度における前
記基準絶対温度値と等しくなるように前記差分に相当す
る調整値分前記測定絶対温度値を調整することにより設
定される前記演算回路を備えて構成すると好ましい。
【0015】図1に示される回路において、実測AD値
から絶対温度Tを演算する基準値Cを前記補正値Aによ
り補正する必要があり、そして、その補正値Aは基準電
圧源7ごとに、言い換えれば、製造誤差により世の中に
は同一部品は存在しないという理論により、製品ごとに
異なる部品が使用される測光演算回路20ごとに違う値
を取り、演算ユニット3は異なった調整値に調整される
必要がある。
【0016】その意味から、測光演算回路20の温度特
性を補正するには、まず、所定温度における予め決めら
れている基準AD値と基準絶対温度値との積を基準値C
として求める。次に、所定温度の前記測光回路1の基準
電圧源7の実測AD値を求め、前記基準値Cと前記実測
AD値との商により測定絶対温度値を求め、この測定絶
対温度値と前記基準絶対温度値との差から前記差分を求
める。尚、この差分を解消する調整値は、最小調整値を
2のマイナス乗数で重み付され、前記差分は正叉は負の
値として求められる。そして、前記測定絶対温度値に前
記差分に相当する調整値を加減算することにより測光演
算回路の温度特性が補正される。
【0017】このように、予め決められている基準AD
値と基準絶対温度値との積を演算ユニット3の基準値C
として求めておき、該基準値Cを用いて求めた測定絶対
温度値と前記基準絶対温度値との差分に相当する調整値
を、前記測定絶対温度値に加減算しているので、回路素
子の温度による出力の変動を補正するために、特別に温
度センサを設け、該温度センサの温度出力により出力基
準を変化させて補正する必要がなく、簡単な構成で測光
演算回路の温度特性を補正することができる。
【0018】また、本発明の請求項4は、温度検出装置
であり、絶対温度に比例する測光出力を送出する光電変
換回路及び、絶対温度に比例するする出力電源を有する
測光回路と、前記出力電源を基準電圧とし印加するとと
もに、温度に依存しない電圧源による印加電圧をディジ
タル変換して実測AD値を求めるAD変換器と、所定温
度における、基準AD値と基準絶対温度値との積を基準
値Cとして記憶し、前記測定絶対温度値を前記基準値C
と所定温度における前記実測AD値との商により求める
とともに、前記実測AD値を演算して、温度を検出する
演算手段と、所定温度における温度に依存しない前記電
圧源による測定絶対温度値と該測定温度値を変化させる
調整値との換算手段と、前記基準絶対温度値と等しくな
るように前記基準絶対温度値と前記測定温度値との前記
差分に相当する調整値分前記測定絶対温度値を調整して
前記演算手段に前記調整値を入力する調整手段とを備え
て構成した。
【0019】測光演算回路20の温度特性を補正するに
は、まず、所定温度における予め決められている基準A
D値と基準絶対温度値との積を基準値Cとして求め、R
OM4に記憶しておく。そして、所定温度における測定
絶対温度値と該測定温度値を変化させる調整値との換算
手段を関数式もしくは、テーブル表として用意してお
く。
【0020】次に、所定温度の基準電圧源7のの実測A
D値を求め、ROM4に記憶されていた前記基準値Cと
前記実測AD値との商により測定絶対温度値を求め、こ
の測定絶対温度値と前記基準絶対温度値との差からこの
差分に対応する調整値を前記換算手段より正叉は負の値
として求める。そして、前記測定絶対温度値に前記差分
に対応する調整値を加減算することにより測光演算回路
の温度特性が補正される。
【0021】このように、予め決められている基準AD
値と基準絶対温度値との積を演算ユニット3の基準値C
としてROM4に記憶しておき、測定絶対温度値と前記
基準絶対温度値との差から求められる前記差分を調整値
として、前記測定絶対温度値に加減算しているので、回
路素子の温度による出力の変動を補正するために、特別
に温度センサを設け、該温度センサの温度出力により出
力基準を変化させて補正する必要がなく、簡単な構成で
測光演算回路の温度特性を補正することができる。
【0022】また、前記換算手段をテーブル表により構
成して、前記差分に相当する調整値を該テーブル表によ
り算出するように構成すると好ましい。前記測定絶対温
度値は、前記基準値Cと所定温度における実測AD値と
の商により求められ、前記調整値は、前記差分に対応す
るものとして求められる。今、Tn:測定絶対温度値、
ADn:所定温度における実測AD値、ADs:所定温
度における基準AD値、M:調整値 Ts:所定温度における基準絶対温度 とすると、Ts=C/ADs、Tn=C/ADn Ts=C/ADn×(ADn/ADs) ADn/ADs=1+2-8×M Ts=Tnであれば、M=0であり、調整は不要であ
る。したがって、Ts=TnとしたTn値を調整値M=
0とし、TsとTnとの差分を調整値Mとして対応ずけ
てテーブル化しておけば、テーブル上から簡単に調整値
を求めることができる。
【0023】また、前記調整手段を加算信号入力スイッ
チと減算信号入力スイッチとで構成し、該スイッチ入力
回数により前記差分を調整するように構成すると好まし
い。前記差分は正叉は負の値として求められる。したが
って、差分の極性によってスイッチを選択してスイッチ
の入力回数分調整することにより、調整方法が簡単にな
る。
【0024】また、前記調整値が絶対温度の1度数に対
応して変化するようなスイッチ入力手段を備えて前記演
算手段を構成し、前記調整値に対応する回数だけ前記ス
イッチ手段を操作することにより前記差分が調整される
ように構成すると好ましい。このように構成すると、調
整値とスイッチ操作数が1対1で対応し、複数のスイッ
チ操作により絶対温度の1度数が調整されたり、1スイ
ッチ操作で複数の絶対温度の度数が変化する場合のよう
に、補正係数によりスイッチ操作数を演算して求めた
り、調整基準を変化させる必要がなく、簡単な操作で差
値の調整ができる。
【0025】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の好
適な実施例を例示的に詳しく説明する。但しこの実施例
に記載されている構成部品の寸法、材質、形状、その相
対的配置等は特に特定的な記載がないかぎりは、この発
明の範囲をそれに限定する趣旨ではなく、単なる説明例
にすぎない。
【0026】図1は、本発明に用いられる演算回路の手
動調整手段を示した基本構成図、図2は、本発明に用い
られる演算回路の自動調整手段を示した基本構成図、図
3は、調整値Mによる調整操作の説明図、図4は、基準
値Cから10%異なった特性を有する演算回路の温度を
パラメータとした調整値を示す図、図5は、基準値Cか
ら20%異なった特性を有する演算回路の温度をパラメ
ータとした調整値を示す図である。
【0027】図1において、測光回路1と演算回路11
とにより測光演算回路20が構成される。測光回路1
は、演算増幅器とフォトダイオードPDと帰還回路等に
より構成され、絶対温度に比例するアナログ光出力を送
出する出力端子1bを有する光電変換回路14と、同じ
く出力端子1aを有し絶対温度に比例する出力電圧を送
出する絶対温度比例出力電源13で構成されている。
【0028】演算回路11は、AD変換器2と演算ユニ
ット3により構成され、測光回路1の出力端1aはAD
変換器2のVref端子に接続され、測光回路1の1b
端子はAN1端子に接続され、測光回路1の光電流に比
例した出力電圧は前記AN1端子を介してAD変換器2
によりAD変換され、演算ユニット3に送出されるよう
に構成されている。
【0029】また、基準電圧源7はAD変換器2のAN
2端子に接続される。そして、この前記基準電圧源7は
演算ユニット3の温度特性を補正する調整値を、カメラ
の組立工程もしくは修理時にAD変換器2に挿入するも
のであり、この実施例のスイッチ機構に限定されず他の
方法でもよい。
【0030】演算ユニット3には、演算アルゴリズムを
記憶したROM4、演算に利用される調整値を記憶する
EEPROM5、演算結果の測定絶対温度値を表示する
表示部6、演算結果を加算調整するアップスイッチ9、
及び演算結果を減算調整するダウンスイッチ10が接続
されている。換算表16は、基準絶対温度と測定絶対温
度との差分に相当する調整値を換算するテーブルであ
る。尚、前記差分に相当する調整値は換算表に代えて関
数式により算出してもよい。
【0031】次に、本実施例における温度特性補正方法
を説明する。図1において、基準電圧源7からAD変換
器2のAN2端子に基準電圧Vkが印加される。今、基
準温度25℃における絶対温度比例出力電源13の電圧
をVref(T)とし、Vref298を25℃でのV
ref電圧とすると、 Vref(T)=(Vref298/298)×T ・・・・(1) AD変換器2のAD出力値をAD(T)、8ビットの分
解能を256とすると、 AD(T)=256×Vk/Vref(T) ・・・・(2) AD(T)×T=256×Vk×298/Vref298 ・・・(3)
【0032】上記(3)式の右辺のVk及びVref2
98は、回路素子の製造誤差等によりバラツク。このバ
ラツキの程度は、±2%の抵抗を2個用いるとして±4
%、印加電圧Vddが±10%、バイアス電圧Vref
298がー3〜+7%を見積もると、これらの積算は−
17〜+21%の調整が必要となる。
【0033】今、基準電圧源7のVk=2V、Vref
298=2.88Vとすると、(3)式は、 AD(T)×T=256×2×298/2.88 =52977.8 ・・・・(4) すなわち、AD(T)×T=C、C=52977.8な
る基本式を得る。ところで、得られるAD値をU=AD
(T)とする。
【0034】さて、前述したように、回路素子の製造誤
差により設計AD値に対して得られるAD値Uはバラツ
ク。Cを設計定数、Uoを設計AD値とすると、(4)
式から、 Uo×T=C ・・・・(4)′ であるが、UがUoでない場合、(4)′の右辺と左辺
を一致させるバラツキ係数Xを定義すると、 U×T=C×X ・・・・(5) と表される。
【0035】さて、ここで、(4)式右辺の値がC値で
あるが、前記+20%の調整を見込むと(5)式の右辺
は、52977.8×1.2=63573.36とな
り、この値は65535(=FFFFhex)内の値で
あり、2バイトのデータ長で演算可能なことが判る。逆
に演算の都合上、(5)式の最大値をこの値(6553
5)とすると、 C=65535×0.8=52428(CCCChex)・・・・(6) を設計上の固定値として定義する。ここで、25℃(=
298K)でのバラツキ係数Xは(5)式より、 X=(298/C)×U ・・・・(7) 両辺をTで微分すると、 △X/△T=(298/C)×(△U/△T) ・・・・(7)′ となる。
【0036】さて、UとTの関係は(5)式より、U=
C・X/Tであり、両辺を微分すると、 △U/△T=−CX・(1/T2 ) ・・・・(8) 25℃で設計上の△U/△T値は、X=1、T=298
となるので、 △U/△T=−C×(1/2982 ) ・・・・(8)′ (7)′と(8)′から△Uを消去すると、 △X=−△T/298 ・・・・(9) 設計上はX=1であるから、 X=1−△T/298 ・・・・(9)′ となる。この(9)′式は、本来UのバラツキがXに与
える影響を25℃付近のT換算したものである。即ち、
演算後の温度が△Tだけ基準温度より高い結果になった
場合補正すべきバラツキ係数は△T/298分減じてや
れば良いことを表す。(9)′式の−△T/298=N
とおくと、 X=1+N ・・・・(9)″ Xは±20%の範囲を調整する必要があることから、
0.8≦X≦1.2、−0.2≦N≦+0.2となる。
【0037】さて、実際の調整ステップは、ラフ過ぎる
と調整値1LSB当たり変化量が大きく細かな調整がで
きず、細かすぎると、AD値の分解能が設計上伴わなか
ったり、伴っていても調整値1LSB当たりの温度校正
量が小さく時間がかかるという問題がある。本実施例で
は(7)式よりAD値(U)1変化当たり298/Cと
なり、一方、(9)′式より1℃変化当たり、1/19
8変化することから(1/298)/(298/C)=
C/2982 =0.59となり、この値は四捨五入して
1となる。すなわち、AD値の分解能からくる1LSB
当たりの温度校正量は1℃以上に設定する必要がある。
【0038】ここでは、調整値1LSB当たり、温度校
正量1℃と設計すると(9)″式ののNは△T=1当た
り−1/298変化すればよい。調整値をMとすれば、
N=(1/298)Mとなり、ここで、log(1/2
98)/log2=−8.22となるので、重みは2-8
とする。すなわち、バラツキ係数Xは、X=1+2-8×
Mなる調整値Mで構成される。(5)式からXをC値に
乗じAD値Uで割れば、演算結果は基準温度に校正され
る。また、25℃を基準温度にとって説明したが、基準
温度が任意であっても演算結果が基準温度値になるよう
にMを決めれば任意の温度で校正することが可能であ
る。
【0039】図3は、試料Aは設計基準値より+10%
の誤差を有する測光演算回路の場合、試料Bは設計基準
値より+20%の誤差を有する測光演算回路の場合、試
料Cは設計基準値より−10%の誤差を有する測光演算
回路の場合、試料Dは設計基準値より−20%の誤差を
有する測光演算回路の場合、の基準値絶対温度Ts、基
準AD値ADnする実測AD値ADn、測定絶対温度T
n、調整値M等を記載した調整操作説明図である。
【0040】 測定絶対温度Tn=[C/AD(n)]=52428/ADn・・・(10) で表されるので、 試料AのTn(A)=52428/194=270 試料BのTn(B)=52428/211=248 試料CのTn(C)=52428/158=332 試料DのTn(D)=52428/141=372 したがって、これらのTnが基準絶対温度Tsと等しく
なるステップ数に対応するMを読むことにより調整値M
を知ることができる。試料AのM(A)=27、試料B
のM(B)=52、試料CのM(C)=−26、試料D
のM(D)=−51となる。
【0041】よって、これらの絶対温度Tnと調整値M
のテーブルを作成し、または、絶対温度Tnと調整値M
は直線的に変化する(図4、図5)ので、関数式として
用意して、それらを使用して調整値Mを知ることができ
る。
【0042】所定温度における測定絶対温度値は図1の
表示部6に表示される。操作者はその表示部7の表示を
読んで、絶対温度Tnと調整値Mのテーブル、もしく
は、関数式を使用して調整値Mを知ることができ、それ
が負の値であれば、ダウンスイッチ10を操作してその
値の回数だけパルスを演算ユニット3に入力することに
よって、演算ユニット3は減算カウントして表示部7に
最終的に所定温度における基準絶対温度値の表示がされ
る。また、調整値Mが正の値であれば、アップスイッチ
9を操作してその値の回数だけパルスを演算ユニット3
に入力することによって、演算ユニット3は加算カウン
トして表示部7に、最終的に所定温度における基準絶対
温度値の表示がされる。このように演算ユニット3に調
整値Mを入力した後に、その調整値MはEEPROM5
に記憶される。
【0043】また、本実施例は図4及び図5に示すよう
に、調整値Mの1度数に対して絶対温度値がほぼ1度数
変化するように構成されているので、前記調整値が絶対
温度の1度数に対応して変化するようなスイッチ入力手
段を備えて前記演算手段を構成することができるため
に、前記調整値に対応する回数だけ前記スイッチ手段を
操作することにより前記差分が調整することができる。
【0044】このように構成することにより、調整値と
スイッチ操作数が1対1で対応し、複数のスイッチ操作
により絶対温度の1度数が調整されたり、1スイッチ操
作で複数の絶対温度の度数が変化する場合のように、補
正係数によりスイッチ操作数を演算して求めたり、調整
基準を変化させる必要がなく、簡単な操作で差値の調整
ができる。
【0045】また、本実施例は前記調整手段を加算信号
入力スイッチと減算信号入力スイッチとで構成している
ので、正叉は負の値として求められる前記調整値の極性
によってスイッチを選択してスイッチの入力回数分調整
することにより、調整方法が簡単になる。
【0046】図2は、本発明に用いられる演算回路の自
動調整手段を示した基本構成図であり、図1と同一部材
は同一符号を用いる。演算ユニット3には、温度情報が
入力されるように校正用温度計8Bに接続された自動調
整機12が接続され、該自動調整機12は演算ユニット
3から上述の測定絶対温度値の情報を受けて、校正用温
度計8Bからの温度信号により基準絶対温度値を算出し
て、自動調整機内に記憶されている絶対温度Tnと調整
値Mのテーブル、もしくは、関数式を使用して調整値M
を知ることができ、その調整値Mを調整信号として、演
算ユニット3に入力して調整し、調整値MはEEPRO
M5に記憶される。
【0047】このように、調整値MはEEPROM5に
記憶されているので、図1において、基準電圧源7から
測定AD値から得られる測定絶対温度値は、記憶された
調整値Mにより補正され、この補正された正しい絶対温
度値Tから、t=T−273としてt℃の温度情報を得
ることができる。
【0048】以上詳述したように、本実施例によると、
基本的に絶対温度に比例するバイアス電圧を有したAD
変換器を含み、前記バイアス電圧を基準として温度に影
響しない電圧をAD変換して、そのAD値を演算して温
度を検出することに特徴を有するものであり、絶対温度
に比例する測光回路1と、温度に依存しない基準電圧源
7と、AD変換器2と、演算ユニット3とにより温度変
換回路を構成しているので、特別な温度センサや切替手
段を設ける必要がなく、簡単な構成により温度検出回路
を形成することができる。
【0049】また、絶対温度に比例するアナログ出力を
送出する測光回路の出力電圧を基準電圧として、温度に
依存しない電圧源による印加電圧を(AD)値としてA
D変換するAD変換器により、前記(AD)値と絶対温
度Tとの積を基準値Cとして記憶するとともに、前記C
のバラツキを補正する補正値をXとして記憶し、前記
(AD)値を求め、T=C・X/(AD)として温度を
検出しているので、製品毎に回路素子に製造上のバラツ
クがあっても、補正値Xにより基準値Cを補正すること
により正確な温度を検出することができる。このよう
に、特別な温度センサや切替手段を設ける必要がなく、
簡単に実測AD値から温度を求めることができる。
【0050】また、絶対温度に比例するアナログ出力を
送出する測光回路の出力電圧を基準電圧として、温度に
依存しない電圧源による印加電圧をAD変換してAD値
を求め、所定温度における前記AD値を演算して測定絶
対温度値を求め、所定温度における基準絶対温度値と前
記測定絶対温度値との差分を前記測定絶対温度値を加減
算調整することにより解消する調整値を、最小調整値を
2のマイナス乗数で重み付するとともに、該調整値との
関係具合を関係式もしくはテーブル等として用意し、所
定温度における基準AD値と基準絶対温度値との積を基
準値Cとして予め記憶し、所定温度における前記実測A
D値を求めるとともに、前記基準値Cと前記実測AD値
との商により前記測定絶対温度値を求め、所定温度にお
ける前記基準絶対温度値と等しくなるように前記差分に
相当する調整値分前記測定絶対温度値を調整することに
より設定される前記演算回路を備えている。
【0051】このように、予め決められている基準AD
値と基準絶対温度値との積を演算ユニット3の基準値C
として求めておき、該基準値Cを用いて求めた測定絶対
温度値と前記基準絶対温度値との差分に相当する調整値
を、前記測定絶対温度値に加減算しているので、回路素
子の温度による出力の変動を補正するために、特別に温
度センサを設け、該温度センサの温度出力により出力基
準を変化させて補正する必要がなく、簡単な構成で測光
演算回路の温度特性を補正することができる。
【0052】また、所定温度における温度に依存しない
前記電圧源による測定絶対温度値と該測定温度値を変化
させる調整値との換算手段と、前記基準絶対温度値と等
しくなるように前記基準絶対温度値と前記測定温度値と
の前記差分に相当する調整値分前記測定絶対温度値を調
整して前記演算手段に前記調整値を入力する調整手段と
を備えているので、前記測定絶対温度値に前記差分に対
応する調整値を加減算することにより測光演算回路の温
度特性が補正される。
【0053】このように、予め決められている基準AD
値と基準絶対温度値との積を演算ユニット3の基準値C
としてROM4に記憶しておき、測定絶対温度値と前記
基準絶対温度値との差から求められる前記差分を調整値
として、前記測定絶対温度値に加減算しているので、回
路素子の温度による出力の変動を補正するために、特別
に温度センサを設け、該温度センサの温度出力により出
力基準を変化させて補正する必要がなく、簡単な構成で
測光演算回路の温度特性を補正することができる。
【0054】また、前記換算手段をテーブル表により構
成して、前記差分に相当する調整値を該テーブル表によ
り算出するように構成しているので、テーブル上から簡
単に調整値を求めることができる。
【0055】また、前記調整手段を加算信号入力スイッ
チと減算信号入力スイッチとで構成し、該スイッチ入力
回数により前記差分を調整するように構成しているの
で、差分の極性によってスイッチを選択してスイッチの
入力回数分調整することにより、調整方法が簡単にな
る。
【0056】また、前記調整値が絶対温度の1度数に対
応して変化するようなスイッチ入力手段を備えて前記演
算手段を構成し、前記調整値に対応する回数だけ前記ス
イッチ手段を操作することにより前記差分が調整される
ように構成した場合は、調整値とスイッチ操作数が1対
1で対応し、複数のスイッチ操作により絶対温度の1度
数が調整されたり、1スイッチ操作で複数の絶対温度の
度数が変化する場合のように、補正係数によりスイッチ
操作数を演算して求めたり、調整基準を変化させる必要
がなく、簡単な操作で差値の調整ができる。
【0057】
【発明の効果】以上詳述したように本発明は、特別な温
度センサや切替手段を設ける必要がなく、絶対温度に比
例する測光出力を用いて実測AD値から簡単に温度を検
出する温度検出回路、温度検出方法及び温度検出装置を
提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明に用いられる演算回路の手動調整手段
を示した基本構成図である。
【図2】 本発明に用いられる演算回路の自動調整手段
を示した基本構成図である。
【図3】 調整値Mによる調整操作の説明図である。
【図4】 基準値Cから10%異なった特性を有する演
算回路の温度をパラメータとした調整値を示す図であ
る。
【図5】 基準値Cから20%異なった特性を有する演
算回路の温度をパラメータとした調整値を示す図であ
る。
【図6】 従来の温度検出回路図である。
【符号の説明】
1 測光回路 2 AD変換器 3 演算ユニット 4 ROM 5 EEPROM 6 表示部 7 基準電圧源 8 温度計(8A,8B) 9 アップスイッチ 10 ダウンスイッチ 11 演算回路 12 自動調整機 13 絶対温度比例出力電源 14 光電変換回路 16 換算表 20 測光演算回路

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 絶対温度に比例するアナログ出力を送出
    する測光回路と、 前記測光回路の絶対温度に比例する出力電圧を基準入力
    端子に受けるとともに、温度に依存しない電圧源を変換
    電圧入力端子に受け、前記変換電圧をAD変換するAD
    変換回路と、 前記AD変換回路の出力を演算して温度を検出する演算
    回路とを備えたことを特徴とする温度検出回路。
  2. 【請求項2】 絶対温度に比例するアナログ出力を送出
    する測光回路の出力電圧を基準電圧として、温度に依存
    しない電圧源による印加電圧を(AD)値としてAD変
    換するAD変換器により、前記(AD)値と絶対温度T
    との積を基準値Cとして記憶するとともに、前記Cのバ
    ラツキを補正する補正値をXとして記憶し、前記(A
    D)値を求め、T=C・X/(AD)として温度を検出
    することを特徴とする温度検出方法。
  3. 【請求項3】 絶対温度に比例するアナログ出力を送出
    する測光回路の出力電圧を基準電圧として、温度に依存
    しない電圧源による印加電圧をAD変換してAD値を求
    め、所定温度における前記AD値を演算して測定絶対温
    度値を求め、所定温度における基準絶対温度値と前記測
    定絶対温度値との差分を前記測定絶対温度値を加減算調
    整することにより解消する調整値を、最小調整値を2の
    マイナス乗数で重み付するとともに、該調整値との関係
    具合を関数式、テーブル等として用意し、 所定温度における基準AD値と基準絶対温度値との積を
    基準値Cとして予め記憶し、 所定温度における前記実測AD値を求めるとともに、前
    記基準値Cと前記実測AD値との商により前記測定絶対
    温度値を求め、 所定温度における前記基準絶対温度値と等しくなるよう
    に前記差分に相当する調整値分前記測定絶対温度値を調
    整することにより設定される前記演算回路を備えたこと
    を特徴とする請求項1記載の温度検出回路。
  4. 【請求項4】 絶対温度に比例する測光出力を送出する
    光電変換回路及び、絶対温度に比例するする出力電源を
    有する測光回路と、 前記出力電源を基準電圧とし印加するとともに、温度に
    依存しない電圧源による印加電圧をディジタル変換して
    実測AD値を求めるAD変換器と、 所定温度における、基準AD値と基準絶対温度値との積
    を基準値Cとして記憶し、前記測定絶対温度値を前記基
    準値Cと所定温度における前記実測AD値との商により
    求めるとともに、前記実測AD値を演算して、温度を検
    出する演算手段と、 所定温度における温度に依存しない前記電圧源による測
    定絶対温度値と該測定温度値を変化させる調整値との換
    算手段と、 前記基準絶対温度値と等しくなるように前記基準絶対温
    度値と前記測定温度値との前記差分に相当する調整値分
    前記測定絶対温度値を調整して前記演算手段に前記調整
    値を入力する調整手段とを備えて構成したことを特徴と
    する温度検出装置。
  5. 【請求項5】 前記換算手段をテーブル表により構成し
    て、前記差分に相当する調整値を該テーブル表により算
    出することを特徴とする請求項4記載の温度検出装置。
  6. 【請求項6】 前記調整手段を加算信号入力スイッチと
    減算信号入力スイッチとで構成し、該スイッチ入力回数
    により前記差分を調整することを特徴とする請求項4記
    載の温度検出装置。
  7. 【請求項7】 前記調整値が絶対温度の1度数に対応し
    て変化するようなスイッチ入力手段を備えて前記演算手
    段を構成し、前記調整値に対応する回数だけ前記スイッ
    チ手段を操作することにより前記差分が調整されること
    を特徴とする請求項4記載の温度検出装置。
JP10340096A 1996-03-29 1996-03-29 温度検出回路、温度検出方法及び温度検出装置 Pending JPH09269266A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10340096A JPH09269266A (ja) 1996-03-29 1996-03-29 温度検出回路、温度検出方法及び温度検出装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10340096A JPH09269266A (ja) 1996-03-29 1996-03-29 温度検出回路、温度検出方法及び温度検出装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH09269266A true JPH09269266A (ja) 1997-10-14

Family

ID=14353013

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10340096A Pending JPH09269266A (ja) 1996-03-29 1996-03-29 温度検出回路、温度検出方法及び温度検出装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH09269266A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003232681A (ja) * 2002-02-07 2003-08-22 Hitachi High-Technologies Corp 分光光度計
CN102840925A (zh) * 2012-09-20 2012-12-26 卓捷创芯科技(深圳)有限公司 一种温度测量与校准电路及无源射频识别标签以及温度测量方法
JP2016191652A (ja) * 2015-03-31 2016-11-10 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 電子機器、電子機器の制御方法及び制御プログラム
CN116026486A (zh) * 2023-01-29 2023-04-28 中国长江电力股份有限公司 一种可人机交互的多输出温度变送器

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003232681A (ja) * 2002-02-07 2003-08-22 Hitachi High-Technologies Corp 分光光度計
CN102840925A (zh) * 2012-09-20 2012-12-26 卓捷创芯科技(深圳)有限公司 一种温度测量与校准电路及无源射频识别标签以及温度测量方法
JP2016191652A (ja) * 2015-03-31 2016-11-10 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 電子機器、電子機器の制御方法及び制御プログラム
CN116026486A (zh) * 2023-01-29 2023-04-28 中国长江电力股份有限公司 一种可人机交互的多输出温度变送器
CN116026486B (zh) * 2023-01-29 2024-03-12 中国长江电力股份有限公司 一种可人机交互的多输出温度变送器

Similar Documents

Publication Publication Date Title
AU762022B2 (en) Cell voltage detection circuit, and method of detecting cell voltage
JP2000136966A (ja) サ―モパイルセンサを用いた温度測定回路
US7341374B2 (en) Temperature measurement circuit calibrated through shifting a conversion reference level
FI70485B (fi) Maetningsfoerfarande foer impedanser saerskilt smao kapacitanser vid vilket man anvaender en eller flera referenser
CN101467013A (zh) 温度测量装置和测量方法
US7331237B2 (en) Technique for improving Pirani gauge temperature compensation over its full pressure range
US5121051A (en) Method and apparatus for measuring small electrical signals
US5475623A (en) Method for the conversion of a measured signal, a converter as well as a measurement setup and a pirani measuring circuit
US5764067A (en) Method and apparatus for sensor signal conditioning using low-cost, high-accuracy analog circuitry
JPH09269266A (ja) 温度検出回路、温度検出方法及び温度検出装置
JPH0755588A (ja) 温度検出器
JP3432920B2 (ja) 温度測定回路
JP3964037B2 (ja) 圧力計の較正方法及び装置
JPH11125555A (ja) ロードセル秤
JP2572783Y2 (ja) ガス検出装置
JP2863758B2 (ja) 入力オフセット電圧補正装置
JP3084579B2 (ja) 温度センサのリニアライズ処理方法
JPH11118617A (ja) 温度調節器
JP2540147Y2 (ja) センサの補正装置
KR0145591B1 (ko) 써모파일 센서를 이용한 온도 감지방법 및 그 장치
JP2953070B2 (ja) A/d変換装置
JPH08166297A (ja) ロードセル式はかりの温度補償方法
JPH0743211A (ja) 測光装置
JP6375685B2 (ja) 回路装置、温度検出装置、電子機器及び温度検出方法
JPH11174022A (ja) 血糖値測定装置