JPH0743211A - 測光装置 - Google Patents
測光装置Info
- Publication number
- JPH0743211A JPH0743211A JP19872693A JP19872693A JPH0743211A JP H0743211 A JPH0743211 A JP H0743211A JP 19872693 A JP19872693 A JP 19872693A JP 19872693 A JP19872693 A JP 19872693A JP H0743211 A JPH0743211 A JP H0743211A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- temperature
- data
- photometric
- capacitor
- amount
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Exposure Control For Cameras (AREA)
Abstract
温度変化に対応する正確な測光値を得る。 【構成】測光の輝度量を光電流量の対数に比例した出力
電圧を得られる光電変換手段によって、所定の輝度を異
なる2つの測光時間で光電変換出力された値をそれぞれ
A/D変換して測光データとし、マイクロコンピュータ
に入力し、他方、前記光電変換手段の温度特性を補正す
るための感温素子を具えた温度補償回路による出力をA
/D変換して、マイクロコンピュータに入力し、この温
度補正データとそれぞれの測光データをEEPROMな
どの不揮発性メモリに記憶する。また被写体測光時には
前記変換手段により被写体を測光しA/D変換を行い、
同時に前記温度補償回路による温度補正データ出力のA
/D変換を行いデジタル化した輝度データと温度補正デ
ータとそれぞれの前記不揮発性メモリに記憶されている
内容を参照し、測光対象の輝度値を算出する。
Description
適用される測光回路、特に、コンパクトカメラ等のカメ
ラの測光装置に関する。
電気信号に光電変換するSPD等の光電変換素子と、こ
の出力を増幅する増幅回路と、増幅された光電変換出力
値をA/D変換して測光値を決定するマイクロコンピュ
ータとから構成されている。しかし前記光電変換素子は
温度変化によって出力電圧が微妙に増減するため、この
温度変化に対応して補正するため増幅回路にはサーミス
タ等を組み込み、このサーミスタの補償を行うために輝
度レベルをステップ間隔で調節するボリュームが設けて
いる。また、光電変換秦子は個々の変換特性にバラツキ
があるため、各カメラについて光電変換素子からの出力
を増幅する際の基準電圧や増幅率を調節する必要があ
る。このため、輝度レベルを調節するボリュームと、こ
の輝度レベルを調節するための基準電圧を調節するボリ
ュームが設けられている。例えば、特開平5−6406
4号公報に記載されるものが提案されているが、これは
補正時に二つの輝度値を測定し、それぞれの輝度値に対
応した測光データを記憶して不揮発性メモリとするもの
である。
光回路には温度補償を行うためのサーミスタとボリュー
ム等の調整回路が必要であり、また校正するために所定
の異なる2個の輝度値に対しての2つの測光データを求
め、この直線勾配から補正値を算出するものは、輝度値
を複数管理しなければならない。この発明の目的は、温
度補償回路を簡素化し、所定の1つの輝度値のみで校正
を行い簡素な方法により正確な測光データを求めること
ができる測光装置を提供するものである。
被写体輝度を光電変換し、この出力をA/D変換して測
光値を得る測光装置において、測光の輝度量を光電流量
の対数に比例した出力電圧を得る光電変換手段と、この
光電変換手段によって出力された値を一定時間コンデン
サに充電を行い、その電荷量をA/D変換し、測光デー
タとするA/D変換手段と、前記光電変換手段の温度特
性を補正するための感温素子を具えた温度補償回路と、
この温度補償回路の出力をA/D変換し、この温度補正
データとするA/D変換手段と、前記測光データ、前記
温度補正データを記憶する不揮発性メモリと、これらの
デジタル信号を処理するマイクロコンピユータとからな
り、前記光電変換手段により所定の1つの輝度値で2つ
の異なる時間により得られた電荷量を個々にA/D変換
を行い、また、前記手段により前記温度補償回路のVB
E出力を温度補正データとして、それぞれ不揮発性メモ
リに格納し、測光時に被写体の輝度データと前記不揮発
性メモリデータとより演算を行い被写体の輝度値を求め
ることを特徴とする測光装置によって達成することがで
きる。すなわち、測光時の測光データをマイクロコンピ
ュータで2つの露光量および温度補正データが格納され
ている不揮発性メモリを参照して演算処理を行い測光値
を補正する。
したことにより、光電変換素子により所定の1つの輝度
値で2つのそれぞれ異なる時間により得られた電荷量を
個々にA/D変換手段によりA/D変換を行い、他方、
A/D変換手段により前記感温素子のVBE出力を温度
補正データとしてマイクロコンピュータ経て不揮発性メ
モリに格納させることにより、測定対象を測光する時に
測光データを同時に再度感温素子のVBE特性に基づく
温度補正データと、先の不揮発性メモリよりの各データ
をマイクロコンピュータにより演算し、温度補正された
正確な測光データとして出力することができる。
る方法について説明すると、測光装置を配置した室内の
周囲温度T℃の環境下で、輝度値をBV12の光源をシ
ヤッタ時間t=1/4にした時の露光量をA/D変換
し、そのカウント値CT12tとし、他方、シヤッタ時
間をt=1/500におけるカウント値をCT5tとす
ると、この両者の露光量の差は7EVとなる。また、こ
の時の周囲の温度センサのカウント値をCTtとする
と、輝度値BVx、その時のカウント値をCTxの関係
は CTx=γt(BVx−5(BV5))+CT5t (1) となる。 ただし、 ここで、CT5tとγtは温度により変化するので補正
する必要があった。
率をA%/℃とすると校正時の周囲温度T℃でのγtと
測定温度Tx℃でのγxとの関係は となる。また、CT5の減少率をB%/℃とすると。校
正時の周囲温度T℃でのCT5tと測定温度Tx℃での
CT5xとの関係は 同じく周囲の温度により温度カウント値Tの減少率をC
%/℃とすると校正時の周囲の温度T℃での温度カウン
ト値CTtと測定温度Tx℃での温度カウント値CTx
との関係は、 となり、式9により(Tx−T)について求めると、 となる。これを前記(3)および(4)式に代入し、γ
x、CT5Xを求めると となる。(8)、(9)式より明らかなように温度補正
を行うには温度の絶対値は必要ではなく校正時の周囲温
度のカウント値CTtと測定時の周囲温度のカウント値
CTxが求められれば、γt、CT5tの補正した値を
求めることができる。 更に、このγx、CT5xを5
のγt、CT5tに置き換えれば任意の温度での補正さ
れたBVxを求めることができる。
である。この発明の測光装置は、輝度の測定前はsw2
のオンにより充電用のコンデンサ8はリセットされてい
る。測光時、sw2はオフにしてEV12の所定輝度を
光電変換素子1(SPD)で光電流に変換した後、その
電流量の対数に比例した出力が得られる光電変換器2に
より電圧出力として出力する。その出力はマイクロコン
ピュータ4からの制御信号によりsw1を1/4秒間オ
ンしてコンデンサ8に充電する。充電された電荷量はA
/D変換装置3によりマイクロコンピュータ4を介し、
不揮発性メモリ7に格納し、再度sw2のオンによりコ
ンデンサ8をリセットする。同様に同出力をsw1によ
り1/500秒間オンし(7EV差)A/D変換した値
を不揮発性メモリ7に格納する。表1にその様子を示
す。
えば、ダイオード接続されているトランジスタ5を備え
た温度補正回路6によって、トランジスタ5のVBE電
圧をsw3を1/30秒間オンし、前記コンデンサ8を
充電する。その電荷量をA/D変換装置3によりマイク
ロコンピュータ4を介し、不揮発性メモリ7に格納す
る。その後、sw2のオンによりコンデンサ8をリセッ
トする。
を被写体に向けて上記補正方法と同様に光電変換器によ
り電圧出力をsw1の1/30秒間のオン時間により、
コンデンサ8に充電し、充電された電荷量をA/D変換
装置3によりマイクロコンピュータ4に取り込む、その
後、測光時の周囲温度を測定するためダイオード接続さ
れているトランジスタ5のVBE電圧をsw3を1/3
0秒間オンし、コンデンサ8に充電し、充電された電荷
量をA/D変換装置3により、マイクロコンピュータ4
に取り込む、これらのマイクロコンピュータ4に取り込
まれたデータと校正時に不揮発性メモリ7に格納されて
いたデータとで前記算出方法により補正された輝度デー
タとして取り出す。ただし、通常測定はsw1のオンさ
れている時間は前記のように1/30秒としているので
先の校正時の1/4秒と3EV差があるので演算式
(2)によって補正が行われる。 前記式(2)’より求める。この実施例では光電変換器
から測光データをデジタル信号に変換するA/D変換装
置と温度補正回路からの温度補正データをデジタル信号
に変換するA/D変換装置とが同一装置によって処理し
ているが、個々に変換装置を設けることもできる。
されている1つの所定輝度による2つの異なる露光量と
温度補正データとを不揮発性メモリに記憶させておき、
測光時に不揮発メモリを参照して補正された輝度値を算
出することができるから、簡素な測光回路によって正確
な測光データが得られる。
略図である。図2はこの発明の測光装置の状態説明図で
ある。この発明の測光装置は、輝度の測定前はsw2の
オンにより充電用のコンデンサ8はリセットされてい
る。測光時、sw2はオフにしてEV12の所定輝度を
光電変換素子1(SPD)で光電流に変換した後、その
電流量の対数に比例した出力が得られる光電変換器2に
より電圧出力として出力する。その出力はマイクロコン
ピュータ4からの制御信号によりsw1を1/4秒間オ
ンしてコンデンサ8に充電する。充電された電荷量はA
/D変換装置3によりマイクロコンピュータ4を介し、
不揮発性メモリ7に格納し、再度sw2のオンによりコ
ンデンサ8をリセットする。同様に同出力をsw1によ
り1/500秒間オンし(7EV差)A/D変換した値
を不揮発性メモリ7に格納する。図2にその様子を示
す。その後、周囲温度を測定する温度補償素子、例え
ば、ダイオード接続されているトランジスタ5を備えた
温度補正回路6によって、トランジスタ5のVBE電圧
をsw3で1/30秒間オンし、前記コンデンサ8を充
電する。その電荷量をA/D変換装置3によりマイクロ
コンピュータ4を介し、不揮発性メモリ7に格納する。
その後、sw2のオンによりコンデンサ8をリセットす
る。
る。
Claims (1)
- 【請求項1】被写体輝度を光電変換し、この出力をA/
D変換して測光値を得る測光装置において、 測光の輝度量を光電流量の対数に比例した出力電圧が得
られる光電変換手段と、この光電変換手段によって出力
された値を露光量として一定時間コンデンサに充電し、
このコンデンサの放電による電荷量をA/D変換し、測
光データとするA/D変換手段と、前記光電変換手段の
温度特性を補正するための感温素子を具えた温度補償回
路と、この温度補償回路からの出力をA/D変換し、こ
の温度補正データとするA/D変換手段と、前記測光デ
ータ、前記温度補正データを記憶する不揮発性メモリ
と、これらのデジタル信号を処理するマイクロコンピュ
ータとからなり、前記光電変換手段により所定の1つの
輝度値で2つの異なる時間により得られた電荷量を個々
にA/D変換を行い、また、前記手段により前記温度補
償回路の出力を温度補正データとしてそれぞれ不揮発性
メモリに格納し、測光時に被写体の輝度データと前記不
揮発性メモリデータとより演算を行い被写体の輝度値を
求めることを特徴とする測光装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19872693A JP3427220B2 (ja) | 1993-06-25 | 1993-06-25 | 測光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19872693A JP3427220B2 (ja) | 1993-06-25 | 1993-06-25 | 測光装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0743211A true JPH0743211A (ja) | 1995-02-14 |
JP3427220B2 JP3427220B2 (ja) | 2003-07-14 |
Family
ID=16395971
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19872693A Expired - Fee Related JP3427220B2 (ja) | 1993-06-25 | 1993-06-25 | 測光装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3427220B2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006292439A (ja) * | 2005-04-06 | 2006-10-26 | Hamamatsu Photonics Kk | 温度検出装置 |
JP2006292437A (ja) * | 2005-04-06 | 2006-10-26 | Hamamatsu Photonics Kk | 温度検出装置 |
JP2009290022A (ja) * | 2008-05-29 | 2009-12-10 | Fujitsu Ltd | 光送受信装置 |
JP2011119398A (ja) * | 2009-12-02 | 2011-06-16 | Asahi Kasei Electronics Co Ltd | 赤外線センサの信号処理装置、赤外線センサ |
JP2016213307A (ja) * | 2015-05-07 | 2016-12-15 | 新日本無線株式会社 | 反射型センサ装置及びその製造方法 |
-
1993
- 1993-06-25 JP JP19872693A patent/JP3427220B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006292439A (ja) * | 2005-04-06 | 2006-10-26 | Hamamatsu Photonics Kk | 温度検出装置 |
JP2006292437A (ja) * | 2005-04-06 | 2006-10-26 | Hamamatsu Photonics Kk | 温度検出装置 |
JP4652874B2 (ja) * | 2005-04-06 | 2011-03-16 | 浜松ホトニクス株式会社 | 温度検出装置 |
JP2009290022A (ja) * | 2008-05-29 | 2009-12-10 | Fujitsu Ltd | 光送受信装置 |
US8045860B2 (en) | 2008-05-29 | 2011-10-25 | Fujitsu Limited | Optical transceiver |
JP2011119398A (ja) * | 2009-12-02 | 2011-06-16 | Asahi Kasei Electronics Co Ltd | 赤外線センサの信号処理装置、赤外線センサ |
JP2016213307A (ja) * | 2015-05-07 | 2016-12-15 | 新日本無線株式会社 | 反射型センサ装置及びその製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3427220B2 (ja) | 2003-07-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7489883B2 (en) | Method for determining temperature of an active pixel imager and automatic correcting temperature induced variations in an imager | |
ATE347686T1 (de) | Kontrolle, kalibrierung und betrieb einer mikrobolometermatrix | |
JP2000136966A (ja) | サ―モパイルセンサを用いた温度測定回路 | |
US5027148A (en) | Autofocus chip with reference level determination circuit | |
US3518438A (en) | Circuit for photometers and the like having sensing and compensating diodes and utilizing potentiometer for setting the constant of proportionality between the light intensity and the output current | |
JPH0743211A (ja) | 測光装置 | |
JPS5916812Y2 (ja) | カメラの測光回路 | |
US5327210A (en) | Light measurement device | |
FR2521290A1 (fr) | Balance a compensation electromagnetique | |
JP2863758B2 (ja) | 入力オフセット電圧補正装置 | |
JP2678528B2 (ja) | 半導体センサ及びその調整方法 | |
JP3084579B2 (ja) | 温度センサのリニアライズ処理方法 | |
JPH04286477A (ja) | 赤外線撮像装置 | |
JPS63283293A (ja) | ホワイト・バランス調整装置 | |
JP2571558B2 (ja) | ストロボ撮影装置若しくはストロボ撮影装置を使用可能な撮像機器 | |
US4051490A (en) | Photographic exposure meter circuit having temperature compensation | |
JPH0933979A (ja) | 露出測光装置 | |
JPH07105663B2 (ja) | 増幅装置 | |
JPH1138463A (ja) | カメラの測光装置 | |
JPH10104082A (ja) | 赤外線熱画像装置における温度ドリフト補正装置および方法 | |
JPS6041311A (ja) | 自動校正機能付増幅装置 | |
JP2744249B2 (ja) | ホワイト・バランス調整装置 | |
JPH11237254A (ja) | 抵抗ブリッジ型センサの温度補償回路 | |
JPS6040904A (ja) | 長さ測定装置 | |
JPH04208928A (ja) | カメラの色補正装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090516 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100516 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110516 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 9 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120516 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130516 Year of fee payment: 10 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |