JP3419033B2 - パルス幅制御回路及びパルス幅測定回路 - Google Patents

パルス幅制御回路及びパルス幅測定回路

Info

Publication number
JP3419033B2
JP3419033B2 JP18717293A JP18717293A JP3419033B2 JP 3419033 B2 JP3419033 B2 JP 3419033B2 JP 18717293 A JP18717293 A JP 18717293A JP 18717293 A JP18717293 A JP 18717293A JP 3419033 B2 JP3419033 B2 JP 3419033B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pulse
circuit
shot
pulse width
input
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP18717293A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0722920A (ja
Inventor
不二夫 竹村
正則 酒井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TDK Corp
Original Assignee
TDK Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by TDK Corp filed Critical TDK Corp
Priority to JP18717293A priority Critical patent/JP3419033B2/ja
Publication of JPH0722920A publication Critical patent/JPH0722920A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3419033B2 publication Critical patent/JP3419033B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Pulse Circuits (AREA)
  • Recording Or Reproducing By Magnetic Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はパルス幅制御回路及びパ
ルス幅測定回路に関し、更に詳しくは、時間間隔を隔て
たペアパルスを測定する場合に、測定可能な時間間隔の
下限値を広げる技術に関わる。
【0002】
【従来の技術】例えば、磁気ディスク装置或いは磁気ヘ
ッドの特性測定装置においては、数十ナノ秒程度のペア
パルスからなる2つのイベントパルスを、数百ピコ秒以
下の高い分解能で測定する必要がある。従来、数十ピコ
秒程度の分解能で測定できる計時回路は知られている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、従来
の計時回路は数十ピコ秒程度の分解能で測定できるだけ
であり、10ナノ秒以下の短い時間間隔を有するイベン
トペアパルスを測定することができない。
【0004】そこで、本発明の課題は、上述する従来の
問題点を解決し、時間間隔を隔てたペアパルスを測定す
る場合に、測定可能な時間間隔の下限値以上、例えば1
0ナノ秒以上に広げることの可能なパルス幅制御回路及
びパルス測定装置を提供することである。
【0005】
【課題を解決するための手段】上述した課題を解決する
ため、本発明に係るパルス幅制御回路は、少なくとも5
つの回路を含み、ペアパルスとして与えられる入力パル
スの時間間隔を調整して出力する。前記ペアパルスは、
測定可能な時間間隔よりも短い時間間隔を持つ1つの信
号として与えられる。第1の回路は、1つの入力端子に
前記ペアパルスが入力され、前記時間間隔に対応したパ
ルス幅を持つ第1のパルスに変換して出力する回路であ
る。第2の回路は、前記第1のパルスが入力され、前記
第1のパルスの立ち下がりを検出して第1のワンショッ
ト.パルスを出力する回路である。第3の回路は、前記
第1のワンショット.パルスが入力され、前記第1のワ
ンショット.パルスを基準にした遅延時間をおいて第2
のパルスを出力する回路である。第4の回路は、少なく
とも2つの入力端と、少なくとも1つの出力端とを有
し、第1の入力端に前記第1のパルスが与えられ、第2
の入力端に第2のパルスが入力され、前記第1の入力端
子に前記第1のパルスが与えられたとき第1の状態に対
応する出力を生じ、前記第2の入力端子に前記第2のパ
ルスが入力されたとき、前記第1の状態と反転関係にあ
る第2の状態の出力を生じる回路である。第5の回路
は、前記第1の状態への立ち上りを検出して、第3のワ
ンショット.パルスを出力し、第2の状態への立ち下が
り検出して第4のワンショット.パルスを出力する回路
であって、前記第3のワンショット.パルスと前記第4
のワンショット.パルスとの間の時間間隔は、測定可能
な時間間隔である。
【0006】本発明に係るパルス幅測定装置は、前述し
たパルス幅制御回路を備えるほかパルス幅演算回路を備
える。パルス幅演算回路は、前記パルス幅制御回路から
与えられる前記第3のワンショット.パルス及び前記第
4のワンショット.パルスの時間間隔から、前記前記パ
ルス幅制御回路に含まれる前記第3の回路によって与え
られた前記遅延時間を減算処理して、入力された前記ペ
アパルスの時間間隔を算出する。
【0007】
【作用】時間間隔を隔てたペアパルスが第1の回路に入
力されると、第1の回路からペアパルスの時間間隔に対
応したパルス幅を持つ第1のパルスが出力される。第2
の回路は第1のパルスの立ち下がりを検出して第1のワ
ンショット.パルスを出力する。第3の回路は第1のワ
ンショット.パルスを基準にした遅延時間をおいて第2
のパルスを出力する。第4の回路は第1の入力端に第1
のパルスが与えられたとき、第1の状態に対応する出力
を生じ、第2の入力端に第2のパルスが入力され第1の
状態と反転関係にある第2の状態の出力を生じる。従っ
て、第4の回路からは、ペアパルスの時間間隔に対し、
第3の回路によって得られた遅延時間を加算したパルス
幅を有するパルスが得られる。
【0008】第5の回路は、第4の回路から供給される
パルスに関し、第1の状態への立ち上りを検出して、第
3のワンショット.パルスを出力し、第2の状態への立
ち下がり検出して第4のワンショット.パルスを出力す
る。従って、第3のワンショット.パルス及び第4のワ
ンショット.パルスの時間間隔も、第3の回路によって
付加された遅延時間だけ拡張される。このため、ペアパ
ルスを測定する場合に、測定可能な時間間隔の下限値以
上、例えば10ナノ秒以上に広げることが可能である。
【0009】本発明に係るパルス幅測定回路は、上述し
たパルス幅制御回路と、パルス幅演算回路とを含む。パ
ルス幅演算回路はパルス幅制御回路から与えられる第3
のワンショット.パルス及び第4のワンショット.パル
スの時間間隔から、パルス幅制御回路に含まれる第3の
回路によって与えられた遅延時間を減算処理して、入力
されたペアパルスの時間間隔を算出する。これにより、
従来は不可能であった10ナノ秒以下の時間間隔のペア
パルスであっても測定することができる。
【0010】
【実施例】図1は本発明に係るパルス幅制御回路のブロ
ック図、図2は各部のタイムチャートである。図におい
て、INは入力端子、OUTは出力端子である。入力端
子INには、時間間隔T0 を隔てたペアパルスP01、P
02が入力される(図2のS1参照)。ペアパルスP01、
P02は、例えば磁気ディスク装置或いは磁気ヘッド等か
ら出力されるイベントパルスである。入力端子INと出
力端子OUTの間には、第1の回路1、第2の回路2、
第3の回路3、第4の回路4及び第5の回路5が備えら
れている。
【0011】第1の回路1はペアパルスP01、P02が入
力され、時間間隔T0 に対応したパルス幅T1 を持つ第
1のパルスP1 に変換して出力する(図2のS2参
照)。このような第1の回路1は例えばTーフリップ.
フロップによって実現できる。
【0012】第2の回路2は、第1のパルスP1 が入力
され、第1のパルスP1 の立ち下がりを検出して第1の
ワンショット.パルスP2 を出力する(図2のS4参
照)。
【0013】第3の回路3は、第1のワンショット.パ
ルスP2 が入力され、第1のワンショット.パルスP2
を基準にした遅延時間Tdをおいて第2のパルスP3 を
出力する(図2のS5参照)。
【0014】第4の回路4は、少なくとも2つの入力端
S、Rと、少なくとも1つの出力端Qとを有し、第1の
入力端Sに第1のパルスP1 が与えられ、第2の入力端
Rに第2のパルスP3 が入力され、第1の入力端Sに第
1のパルスP1 が与えられたとき第1の状態Hに対応す
る出力を生じ、第2の入力端Rに第2のパルスが入力さ
れたとき、第1の状態Hと反転関係にある第2の状態L
の出力を生じる(図2のS6参照)。第4の回路4の具
体例はRSーフリップ.フロップである。フリップ.フ
ロップは以下F/Fと称することする。
【0015】第5の回路5は、第1の状態Hへの立ち上
りを検出して、第3のワンショット.パルスP51を出力
し、第2の状態Lへの立ち下がり検出して第4のワンシ
ョット.パルスP52を出力する(図2のS7参照)。
【0016】ペアパルスP01、P02が第1の回路1に入
力されると、第1の回路1からペアパルスP01、P02の
時間間隔T0 に対応したパルス幅T1 を持つ第1のパル
スP1 が出力される。第2の回路2は第1のパルスP1
の立ち下がりを検出して第1のワンショット.パルスP
2を出力する。第3の回路3は第1のワンショット.パ
ルスP2を基準にした遅延時間をおいて第2のパルスP
3 を出力する。
【0017】第4の回路4は第1の入力端に第1のパル
スP1 が与えられたとき、第1の状態Hに対応する出力
を生じ、第2の入力端に第2のパルスP3 が入力され第
1の状態と反転関係にある第2の状態の出力を生じる。
従って、第4の回路4からは、ペアパルスP01、P02の
時間間隔T0に対し、第3の回路3によって得られた遅
延時間Tdを加算したパルス幅T3を有する拡張パルス
P4が得られる。
【0018】第5の回路5は、第4の回路4から出力さ
れる拡張パルスP4に関し、第1の状態Hへの立ち上り
を検出して、第3のワンショット.パルスP51を出力
し、第2の状態Lへの立ち下がり検出して第4のワンシ
ョット.パルスP52を出力する。従って、第3のワンシ
ョット.パルスP51及び第4のワンショット.パルスP
52の時間間隔T3も、第3の回路3によって付加された
遅延時間Tdだけ拡張される。このため、時間間隔を隔
てたペアパルスP01、P02を測定する場合に、測定可能
な時間間隔の下限値以上、例えば10ナノ秒以上に広げ
ることが可能である。
【0019】図3は本発明に係るパルス幅測定回路のブ
ロック図である。パルス幅測定回路は前述したパルス幅
制御回路1〜5と、パルス幅演算回路6とを有する。パ
ルス幅演算回路6はパルス幅制御回路から与えられる第
3のワンショット.パルスP51及び第4のワンショッ
ト.パルスP52の時間間隔から、パルス幅制御回路に含
まれる第3の回路3によって与えられた遅延時間Tdを
減算処理して、入力されたペアパルスP01、P02の時間
間隔T0を算出する。これにより、従来は不可能であっ
た、例えば10ナノ秒以下の時間間隔のペアパルスP0
1、P02であっても、測定が可能になる。
【0020】図4は第5の回路5の具体例を示すブロッ
ク図である。この実施例はペアパルスが短い時間間隔を
おいて発生するために、第4の回路4から出力されるパ
ルスP4の間に充分な時間間隔が確保できない場合に有
効な構成を示している。第5の回路5は立ち上り検出回
路51、立ち下がり検出回路52、F/F53、54及
びオアゲート55を有する。
【0021】第1のペアパルスP01、P02が入力される
(図5のS1参照)と、第3の回路3(図1参照)によ
って得られた遅延時間Tを加算したパルス幅を有する拡
張パルスP41が得られる(図5のS6参照)。立ち上
り検出回路51は、拡張パルスP41の第1の状態Hへ
の立ち上りE1を検出し、論理値1の時刻計測トリガパ
ルスPE1を出力する(図5のS9参照)。この時刻計
測トリガパルスPE1がオアゲート55に与えられ、オ
アゲート55から第3のワンショット.パルスP51が出
力される(図5のS7参照)。立ち上りE1の検出は、
遅延時間を管理する外部回路、例えばコンピュータから
与えられる時刻計測終了信号P61が、F/F53のリ
セット端子Rに供給されるまで継続する(図5のS8参
照)。信号S8は信号S7を、時間計測に必要な最小時
間、例えば約10ナノ秒だけ遅らせた信号である。従っ
て、パルスP61はパルスP51から約10ナノ秒遅れ
た信号となり、パルスP62はパルスP52から約10
ナノ秒遅れた信号となる。
【0022】時刻計測トリガパルスPE1はF/F53
のセット端子Sにも与えられ、F/F53の出力が論理
値0から論理値1に反転する。F/F53の出力は立ち
上り検出回路51の入力端に入力される。これにより、
立ち上り検出回路51に対し、後続する第2のイベント
ペアの立ち上がりE3の受付け禁止指令が加わる(図5
のA参照)。
【0023】F/F53の出力は立ち下がり検出回路5
2の入力端にも入力される。これにより、立ち下がり検
出回路52は第1のイベントペアの立ち下がりE2の受
付けが可能になる(図5のC参照)。図5のCのタイム
チャートは、立ち下がり検出回路52が第1のイベント
ペアの立ち下がりE2を受付けることの可能な状態を、
論理値1として表示してある。
【0024】立ち下がり検出回路52は、拡張パルスP
41の第2の状態Hへの立ち上りE1を検出し、論理値
1の時刻計測トリガパルスPE2を出力する(図5のB
参照)。この時刻計測トリガパルスPE2がオアゲート
55に与えられ、オアゲート55から第3のワンショッ
ト.パルスP52が出力される(図5のS7参照)。立
ち下がりE2の検出は時刻計測終了信号P62が、F/
F54のリセット端子Rに供給されるまで継続する(図
5のS8参照)。
【0025】時刻計測トリガパルスPE2はF/F54
のセット端子Sに与えられ、F/F54の出力が論理値
0から論理値1に反転する。F/F54の出力は立ち下
がり検出回路52の入力端に入力される。これにより、
立ち下がり検出回路52に対し、後続する第2のイベン
トペアの立ち下がりE4の受付け禁止指令が加わる(図
5のC参照)。F/F54の出力は立ち下がり検出回路
52の入力端に入力される。これにより、立ち下がり検
出回路52は第2のイベントペアの立ち下がりE5の受
付けが可能になる(図5のC参照)。
【0026】時刻計測終了信号P62がF/F54のリ
セット端子Rに供給されるまで継続する(図5のS8参
照)し、その間、立ち上がり検出回路51に対して、第
2のペアパルスの立ち上がりE3の受付けを禁止する指
令が継続して加わる(図5のA参照)。従って、立ち下
がりE2の検出が終了するまえに、第2のペアパルスが
発生しても、立ち上がり検出回路51によって、第2の
ペアパルスの立ち上がりE3が検出されることがない。
第2のペアパルスの立ち下がりE4に関しても同様であ
る。従って、第1のペアパルスの後に短い時間間隔をお
いて、第2のペアパルスが発生した場合、第2のペアパ
ルスは無視されることとなる。
【0027】時刻計測終了信号P62がF/F54のリ
セット端子Rに供給される(図5のS8参照)される
と、F/F53及びF/F54がリセットされ、立ち上
がり検出回路51に対する禁止指令及び立ち下がり検出
回路52に対する禁止指令が解除される。従って、この
後は、第3のペアパルスの立ち上がりE5及び立ち下が
りE6の検出が可能になる。
【0028】図6は図4に示した回路の更に具体的な例
を示す回路図である。立ち上り検出回路51は、D型フ
リップ.フロップ511とオアゲート512を含んでい
る。立ち下がり検出回路52もD型フリップ.フロップ
521とオアゲート522を含んでいる。オアゲート5
5はオア回路551とD型フリップ.フロップ552を
含んでいる。図6に示す回路の動作は、図4の回路と実
質的に同じであるので、詳細な説明は省略する。
【0029】
【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、時間
間隔を隔てたペアパルスを測定する場合に、測定可能な
時間間隔の下限値以上、例えば10ナノ秒以上に広げる
ことの可能なパルス幅制御回路及びパルス測定装置を提
供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るパルス幅制御回路のブロック図で
ある。
【図2】図1に示したパルス幅制御回路の各部のタイム
チャートである。
【図3】本発明に係るパルス幅測定回路のブロック図で
ある。
【図4】本発明に係るパルス幅制御回路及びパルス幅測
定回路に用いられる第5の回路のブロック図である。
【図5】図4に示した回路の各部におけるタイムチャー
トである。
【図6】図4に示した回路の更に具体的な例を示す回路
図である。
【符号の説明】
1 第1の回路 2 第2の回路 3 第3の回路 4 第4の回路 5 第5の回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平3−197875(JP,A) 特開 平2−283121(JP,A) 特開 昭63−61963(JP,A) 特開 昭60−76807(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H03K 5/04 G01R 29/02

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 少なくとも5つの回路を含み、ペアパル
    スとして与えられる入力パルスの時間間隔を調整して出
    力するパルス幅制御回路であって、前記ペアパルスは、測定可能な時間間隔よりも短い時間
    間隔を持つ1つの信号として与えられるものであり、 第1の回路は、1つの入力端子に前記ペアパルスが入力
    され、前記時間間隔に対応したパルス幅を持つ第1のパ
    ルスに変換して出力する回路であり、 第2の回路は、前記第1のパルスが入力され、前記第1
    のパルスの立ち下がりを検出して第1のワンショット.
    パルスを出力する回路であり、 第3の回路は、前記第1のワンショット.パルスが入力
    され、前記第1のワンショット.パルスを基準にした遅
    延時間をおいて第2のパルスを出力する回路であり、 第4の回路は、少なくとも2つの入力端と、少なくとも
    1つの出力端とを有し、第1の入力端に前記第1のパル
    スが与えられ、第2の入力端に第2のパルスが入力さ
    れ、前記第1の入力端子に前記第1のパルスが与えられ
    たとき第1の状態に対応する出力を生じ、前記第2の入
    力端子に前記第2のパルスが入力されたとき、前記第1
    の状態と反転関係にある第2の状態の出力を生じる回路
    であり、 第5の回路は、前記第1の状態への立ち上りを検出し
    て、第3のワンショット.パルスを出力し、第2の状態
    への立ち下がり検出して第4のワンショット.パルスを
    出力する回路であって、前記第3のワンショット.パル
    スと前記第4のワンショット.パルスとの間の時間間隔
    は、測定可能な時間間隔であるパルス幅制御回路。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載されたパルス幅制御回路
    であって、ペアパルスは、磁気ディスク装置または磁気
    ヘッドから出力されるイベントパルスであるパルス幅制
    御回路。
  3. 【請求項3】 パルス幅制御回路と、パルス幅演算回路
    とを含むパルス幅測定回路であって、 前記パルス幅制御回路は、請求項1または請求項2に記
    載されたものでなり、 前記パルス幅演算回路は、前記パルス幅制御回路から与
    えられる前記第3のワンショット.パルス及び前記第4
    のワンショット.パルスの時間間隔から、前記前記パル
    ス幅制御回路に含まれる前記第3の回路によって与えら
    れた前記遅延時間を減算処理して、入力された前記ペア
    パルスの時間間隔を算出するパルス幅測定回路。
JP18717293A 1993-06-30 1993-06-30 パルス幅制御回路及びパルス幅測定回路 Expired - Fee Related JP3419033B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18717293A JP3419033B2 (ja) 1993-06-30 1993-06-30 パルス幅制御回路及びパルス幅測定回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18717293A JP3419033B2 (ja) 1993-06-30 1993-06-30 パルス幅制御回路及びパルス幅測定回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0722920A JPH0722920A (ja) 1995-01-24
JP3419033B2 true JP3419033B2 (ja) 2003-06-23

Family

ID=16201374

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP18717293A Expired - Fee Related JP3419033B2 (ja) 1993-06-30 1993-06-30 パルス幅制御回路及びパルス幅測定回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3419033B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5267392B2 (ja) * 2009-09-09 2013-08-21 富士電機株式会社 パルス生成回路及びレベルシフト回路

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0722920A (ja) 1995-01-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4122995A (en) Asynchronous digital circuit testing system
US4857760A (en) Bipolar glitch detector circuit
JP2653250B2 (ja) 不安定状態回避回路および不安定状態を回避する方法
JP3419033B2 (ja) パルス幅制御回路及びパルス幅測定回路
JPH1172517A (ja) タイミング波形検出装置
JP2722582B2 (ja) グリッチ検出回路
JP2605894B2 (ja) トリガ信号発生器
JP3112366B2 (ja) チャタリング除去回路
JP2553680B2 (ja) デジタル信号処理回路
JP2605895B2 (ja) トリガ信号発生器
JPS60211372A (ja) 位相差検出装置
JPH0597127U (ja) 微分回路
JPS628059A (ja) パルス入力信号検出方式
JPS598211Y2 (ja) ノイズ検出回路
JP2545959B2 (ja) 集積回路試験装置
JPH04244971A (ja) パルス間隔測定回路
JPH04269674A (ja) 伝送線路長測定装置
JP2538786B2 (ja) クリアパルス発生方式
JPH0241528Y2 (ja)
JPS5630654A (en) Peak value detection system
JPH03197875A (ja) 位相差検出装置
JPS6313503Y2 (ja)
JPH0682580U (ja) 連続パルス幅測定装置
JPH04109733A (ja) 出力回路
JPH01197669A (ja) パルス幅検出方式

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20030319

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees