JPH04269674A - 伝送線路長測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、遠端開放の伝送線路に
パルスを送出して得られる反射波形から伝送線路長を測
定する伝送線路長測定装置に関し、特に複数の試験ピン
を有する集積回路試験装置等において、該試験ピンに対
応して設置された試験パタン出力／試験結果判定回路か
ら、被試験回路の入出力ピンに至るまでの伝送線路長の
高精度測定等に適した伝送線路長測定装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】集積回路試験装置の試験タイミング精度
を維持するために必要なタイミング補正においては、集
積回路試験装置の試験ピンに対応して設置された試験パ
タン出力／試験結果判定回路から被試験回路の入出力ピ
ンに至る伝送線路長の、試験ピン間バラツキによって生
じるタイミング誤差を補正することが主要な処理項目の
一つとなっている。

【０００３】従来においては、このような伝送線路長を
測定するにあたり、特願昭６２−３０９３２６号に記載
されているような方法が用いられていた。この従来技術
の一例を図４により説明する。

【０００４】図４において、２つの位相差検出回路１０
１および１０２を用い、各々、測定したい伝送線路１０
０を、遠端開放状態として、これら２つの位相差検出回
路１０１および１０２の各一方の入力端Ａ１およびＢ１
に接続して一定の繰り返し周期を有するパルス信号Ｓ１
を入力し、各他方の入力端Ａ２およびＢ２にはこのパル
ス信号Ｓ１とは繰り返し周期がわずかに異なる基準パル
ス信号Ｓ２を入力する。一方の位相差検出回路１０１で
は、入力端Ａ１に現われる階段状の反射波の第一の立上
りエッジのタイミングで、両入力端Ａ１およびＡ２に供
給される信号間の位相差を比較する。他方の位相差検出
回路１０２では、入力端Ｂ１に現われる階段状の反射波
の第二の立上りエッジのタイミングで、両入力端Ｂ１お
よびＢ２に供給される信号間の位相差を比較する。

【０００５】両位相差検出回路１０１および１０２から
の位相差情報信号Ｓ３およびＳ４を排他的論理和ゲート
１０３に供給し、そのゲート出力Ｓ５と基準パルス信号
Ｓ２とを論理積ゲート１０４に供給し、この論理積ゲー
ト１０４からは、位相差信号Ｓ３とＳ４とが一致してい
ないときのみ、当該基準パルス信号Ｓ２を有効として出
力する。その有効パルス信号Ｓ６をカウンタ１０５で計
数することによって、階段状の反射波の第一と第二の立
上りエッジ間の時間差を求め、この時間差の値を二分し
て当該伝送線路を往復する伝搬遅延時間とみなしていた
。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】前述した両位相差検出
回路１０１および１０２の位相差情報信号Ｓ３とＳ４と
が一致していない状態としては、位相差情報信号Ｓ３お
よびＳ４の各立上りエッジ部分での不一致状態と、各立
下りエッジ部分での不一致状態が存在する。例えば、入
力信号Ａ１およびＢ１の立上りエッジで位相差を検出す
る場合には、位相差情報信号Ｓ３およびＳ４の各立上り
エッジは、基準パルス信号Ｓ２の立上りエッジを入力信
号Ａ１およびＢ１の立上りエッジがよぎる時に生じる。 他方、位相差情報信号Ｓ３およびＳ４の各立下りエッジ
は、基準パルス信号Ｓ２の立下りエッジを入力信号Ａ１
およびＢ１の立上りエッジがよぎる時に生じる。

【０００７】上記位相差情報信号Ｓ３およびＳ４の立上
りエッジ間の位相差と、立下りエッジ間の位相差は、と
もに、当該伝送線路を往復するときの伝搬遅延時間２Ｔ
と、パルス信号Ｓ１およびＳ２の繰り返し周期ｔ，ｔ＋
ｄｔによって決定され、理想的には２Ｔを（ｔ＋Δｔ）
／Δｔ倍に伸長した値に等しくなる。

【０００８】しかしながら、実際の位相差検出回路には
固有の検出感度特性が存在し、その検出感度が低下する
ほど、上記位相差には多くの誤差が生じる。

【０００９】従って、位相差検出回路１０１および１０
２の検出感度特性に、立上りエッジ−立上りエッジ間の
検出と立上りエッジ−立下りエッジ間の検出とで差異が
生じる場合には、検出感度の劣るエッジ間の位相差検出
結果により多くの誤差が生じ、上記の測定方法ではこの
誤差分が必然的に含まれるという問題を有していた。

【００１０】例えば、特願昭６２−２９９０３７号に記
載されている回路を上述した位相差検出回路に適用すれ
ば、現在の半導体技術を用いれば立上りエッジ−立上り
エッジ間の位相差検出では数ピコ秒の検出感度が実現で
きるが、立上りエッジ−立下りエッジ間の位相差検出で
は原理的に感度が劣り、測定精度上問題となっていた。

【００１１】さらに、上述した従来技術では、両位相差
情報信号の不一致期間の一周期分だけに繰り返される基
準パルス信号数が伝送線路長の２倍の量に対応するため
、両位相差情報信号の不一致期間の一周期分だけに繰り
返される基準パルス信号数を計数するか、もしくは計数
した基準パルス信号数が両位相差情報信号の不一致期間
の何周期分の値であるのかを正確に把握する必要がある
。しかしながら、それを実現する機能がなく、位相差検
出回路の入力信号パルス数自体を付加的な手段で制御す
るしか方法がなかった。

【００１２】そこで、本発明の目的は、従来の問題点を
解決し、高精度かつ高機能な伝送線路長測定装置を提供
することにある。

【００１３】

【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために、本発明は、遠端開放の伝送線路にパルスを送
出して得られる反射波形から伝送線路長を測定する伝送
線路長測定装置において、一定の繰り返し周期を有する
遠端開放による階段波と、該階段波とは繰り返し周期が
わずかに異なる基準パルス信号が入力信号として入力さ
れ、該２つの入力信号に対するしきい値が独立に制御可
能で、前記階段波の進行波成分による立上りエッジ、も
しくは立下りエッジ毎に両入力信号間の位相ずれを選択
的に検出する第一の位相差検出回路と、前記階段波と、
前記基準パルス信号が入力信号として入力され、該２つ
の入力信号に対するしきい値が独立に制御可能で、前記
階段波の反射波成分による立上りエッジ、もしくは立下
りエッジ毎に両入力信号間の位相ずれを選択的に検出す
る第二の位相差検出回路と、前記階段波が共通の２入力
信号として入力され、該２つの入力信号に対するしきい
値が独立に制御可能で、前記階段波の反射波成分と進行
波成分の立上りエッジ間、もしくは立下りエッジ間の位
相ずれを選択的に検出する第三の位相差検出回路と、前
記第一，第二および第三の位相差検出回路の各々からの
第一，第二および第三の位相差情報信号をもとに、該第
一の位相差情報信号と該第二の位相差情報信号の立上り
部分で生じている位相ずれ期間、および立下り部分で生
じている位相ずれ期間のいずれか一方を選択的に抽出す
る位相差信号抽出回路と、外部からの要求信号が入力さ
れ、該要求信号が入力された後に前記第一もしくは前記
第二の位相差情報信号の１周期分に相当する期間内でか
つ前記位相差信号抽出回路が抽出した位相ずれ期間のみ
、前記基準パルス信号を有効とする基準パルスゲート回
路と、該基準パルスゲート回路からの出力信号を計数す
るカウンタと、を備えたことを特徴とする。

【００１４】

【作用】本発明では、進行波に反射波が重畳された階段
状波形の、進行波によるエッジのタイミングと反射波に
よるエッジのタイミングを個別に、該階段状波形とはわ
ずかに異なる繰り返し周期を有する基準パルスのタイミ
ングと比較し、同時に該進行波によるエッジと該反射波
によるエッジの位相極性を検出し、これらの比較および
検出の結果を用いて、進行波エッジと基準パルスのタイ
ミング比較で得られる位相差情報信号と、反射波と基準
パルスのタイミング比較で得られる位相差情報信号との
不一致状態のうち、該２つの位相差情報信号の立上りエ
ッジ間もしくは立下りエッジ間の不一致状態のいずれか
一方を選択的に抽出し、かつ、外部からの測定要求信号
が入力された後に該抽出した不一致期間の一周期分だけ
、該基準パルス信号を計数することによって、該進行波
エッジと反射波エッジのタイミング差、すなわち伝送線
路長を測定する。

【００１５】従って、該位相差検出回路の検出感度が、
同一極性のエッジ間での検出と逆極性のエッジ間での検
出とで異なっていても、感度の高い検出結果のみを測定
結果として採用できるため、位相差検出回路の特性を最
大限に活用でき、高精度な伝送線路長の測定が可能とな
る。しかもまた、入力信号のパルス数を制御することな
く、確実に伝送線路長に対応する計数値が得られる。

【００１６】

【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細
に説明する。

【００１７】図１に本発明の基本回路構成の一実施例を
示す。図２には図１に示した本発明の基本回路構成の一
実施例の各部における信号を例示するタイムチャートを
示す。両図面に基づいて以下に実施例を説明する。

【００１８】伝送遅延時間Ｔの伝送線路１００の遠端を
開放して得られる階段波ＲＦの立上りエッジにおいて、
第一のエッジすなわち進行波によるエッジをａ、第二の
エッジすなわち反射波によるエッジをｂとする。これら
エッジａおよびｂには２Ｔだけタイミングのずれがある
。

【００１９】図１において、１，２および３は、入力信
号のしきい値制御が可能な位相差検出回路である。位相
差検出回路１には、前記進行波による立上りエッジａと
タイミング比較パルスＰＲの立上りエッジとの位相差を
比較すべく、両信号が被測定入力信号として加えられる
。ここで、図２に示すように、入力信号しきい値を決め
る基準レベル入力ＶＲ１１およびＶＲ１２として、進行
波による立上りエッジの中間レベルおよびタイミング比
較パルスＰＲの中間レベルを、ぞれぞれ、設定する。

【００２０】位相差検出回路２には、前記反射波による
立上りエッジｂとタイミング比較パルスＰＲの立上りエ
ッジとの位相差を比較すべく、両信号が被測定入力信号
として加えられる。ここで、図２に示すように、入力信
号しきい値を決める基準レベル入力ＶＲ２１およびＶＲ
２２として、反射波による立上りエッジの中間レベルお
よびタイミング比較パルスＰＲの中間レベルを、それぞ
れ、設定する。

【００２１】同様に、位相差検出回路３には、前記進行
波による立上りエッジａと前記反射波による立上りエッ
ジｂの位相差を比較すべく、前記階段波信号が共通の被
測定入力信号として加えられる。ここで、図２に示すよ
うに、入力信号しきい値を決める基準レベル入力ＶＲ３
１およびＶＲ３２として、進行波による立上りエッジの
中間レベルおよび反射波による立上りエッジの中間レベ
ルを、それぞれ、設定する。

【００２２】位相差検出回路１および２は、図２に示す
ように、タイミング比較パルスＰＲのタイミングが他方
のタイミングに比べて遅れているときに正の位相差情報
としてハイレベルを出力し、逆の場合は、負の位相差情
報としてローレベルを出力するＮＲＺ（Ｎｏｎ　　Ｒｅ
ｔｕｒｎ　　Ｚｅｒｏ）の位相差情報信号Ｑ＋とその反
転信号Ｑ−をそれぞれ出力する。

【００２３】一方、位相差検出回路３の動作も位相差検
出回路１または２のそれと同様であり、反射波による立
上りエッジタイミングは進行波による立上りエッジタイ
ミングに比べて遅れているから、正の位相差情報として
Ｑ＋にはハイレベル、Ｑ−にはローレベルのＮＲＺ信号
を定常的に出力する。

【００２４】ここで、階段波ＲＦおよびタイミング比較
パルスＰＲの繰り返し周期がそれぞれｔおよびｔ＋ｄｔ
であると仮定すると、両信号の繰り返し周期の差はｄｔ
であるから、両信号の位相関係は一周期毎にｄｔずつず
れていく。従って、位相差検出回路１および２の各々の
出力信号Ｑ＋およびＱ−の周期はｔ＋ｄｔを（ｔ＋ｄｔ
）／ｄｔ倍に伸張したものとなり、位相差検出回路１の
出力信号Ｑ＋およびＱ−と位相差検出回路２の出力信号
Ｑ＋およびＱ−との位相関係は、周期と同様に、進行波
によるエッジａと反射波によるエッジｂとの時間差２Ｔ
を（ｔ＋ｄｔ）／ｄｔ倍に伸張したものとなる。

【００２５】次に、符号４は位相差信号抽出回路を示す
。この位相差信号抽出回路４の一実施例として、図１で
は、否定論理和ゲート４１，４２，４３，４４および４
５によって構成している。以下にこの位相差信号抽出回
路の構成と動作を説明する。

【００２６】位相差検出回路１の出力信号Ｑ＋と位相差
検出回路２の出力信号Ｑ−、および位相差検出回路１の
出力信号Ｑ−と位相差検出回路２の出力信号Ｑ＋の各々
の否定論理和を論理ゲート４１および４２で取る。論理
ゲート４１の出力としては、図２に示すように、位相差
検出回路１の出力信号Ｑ＋と位相差検出回路２の出力信
号Ｑ＋との間の立下りエッジ間のタイミング差が生じて
いる期間だけハイレベルが生じる。論理ゲート４２の出
力としては、図２に示すように、位相差検出回路１の出
力信号Ｑ＋と位相差検出回路２の出力信号Ｑ＋との間の
立上りエッジ間のタイミング差が生じている期間だけハ
イレベルが生じる。

【００２７】さらに、例えば、論理ゲート４１の出力と
位相差検出回路３の出力信号Ｑ＋、および論理ゲート４
２の出力と位相差検出回路３の出力信号Ｑ−の各々の否
定論理和を論理ゲート４３および４４で取ると、回路３
の出力信号Ｑ＋にはハイレベルが定常的に出力されてい
るから論理ゲート４３の出力はローレベルに固定される
。一方、回路３の出力信号Ｑ−には、図２に示すように
、ローレベルが定常的に出力されているから論理ゲート
４４の出力としては、論理ゲート４１の出力の反転信号
、すなわち位相差検出回路１の出力信号Ｑ＋と位相差検
出回路２の出力信号Ｑ＋との間の立下りエッジ間のタイ
ミング差が生じている期間だけローレベルが生じ、この
期間を抽出できる。従って、さらに論理ゲート４５で論
理ゲート４３の出力と論理ゲート４４の出力との否定論
理和を取ると、図２に示すように、論理ゲート４５によ
り、位相差検出回路１の出力信号Ｑ＋と位相差検出回路
２の出力信号Ｑ＋との間の立上りエッジ間のタイミング
差が生じている期間だけを抽出できる。

【００２８】なお、位相差検出回路３の出力信号Ｑ＋と
Ｑ−の接続を逆転すれば、論理ゲート４５の出力には、
位相差検出回路１の出力信号Ｑ＋と位相差検出回路２の
出力信号Ｑ＋との間の立下りエッジ間のタイミング差が
生じている期間だけローレベルが生じ、この期間を抽出
できる。従って、位相差検出回路１および２の検出特性
において、立上りエッジ間での検出感度と、立上りエッ
ジ−立下りエッジ間での検出感度に差異があっても、位
相差検出回路３の出力信号Ｑ＋とＱ−の接続方法の選択
に応じて、検出感度の高い成分の情報だけを抽出するこ
とができ、以て高精度な位相差検出が可能となる。

【００２９】次に、符号５は基準パルスゲート回路を示
し、この回路５は図３に示す例の如き構成の論理回路５
１および否定論理和ゲート５２より構成される。この基
準パルスゲート回路の構成および動作を図３に示す一実
施例を用いて以下に説明する。

【００３０】基準パルスゲート回路５は、リセット優先
セットリセットフリップフロップ５３および５４，強制
リセット付きトグルフリップフロップ５５、および論理
和ゲート５６および５７より成る論理回路５１と否定論
理和ゲート５２によって構成されている。

【００３１】ここで、フリップフロップ５３，５４およ
び５５はすべてクロック入力の立上りエッジをセンスし
て出力信号ＱおよびＱＢが確定するものと仮定する。ま
ず、図２に示すように、リセット信号ＲＳＴによってこ
れらフリップフロップ５３，５４および５５が初期化さ
れる。

【００３２】測定要求信号Ｔ１がハイになると、この信
号Ｔ１を受けるフリップフロップ５３のＱＢ出力がロー
レベルになる。図２に示すように、このＱＢ出力と位相
差検出回路１のＱ＋信号が論理和ゲート５７を介してト
グルフリップフロップ５５のクロック端子に印加される
。トグルフリップフロップ５５のＱＢ出力は位相差検出
回路１のＱ＋信号の立上りエッジで反転するから、位相
差検出回路１のＱ＋信号の２度目の立上りエッジでトグ
ルフリップフロップ５５のＱＢ出力は再びハイレベルに
反転する。このＱＢ出力は、フリップフロップ５４のセ
ット端子に供給され、そのＱ出力がハイレベルに反転す
る。このＱ出力はリセット信号ＲＳＴと共に論理和ゲー
ト５６を介してフリップフロップ５３のリセット端子に
供給される。したがって、このフリップフロップ５３を
リセットし、それ以後のトグルフリップフロップ５５の
クロック入力は禁止される。

【００３３】かくして、トグルフリップフロップ５５の
ＱＢ出力には測定要求信号Ｔ１が印加された直後に位相
差検出回路１のＱ＋出力の一周期分だけがハイレベルと
なる信号が出力される。このＱＢ出力，タイミング比較
パルスＰＲおよび否定論理和ゲート４５の出力を否定論
理和ゲート５２に供給すると、図２に示すような出力が
得られる。

【００３４】前記位相差信号抽出回路４で抽出された位
相差情報信号は、前記階段波ＲＦとタイミング比較パル
スＰＲが入力され続ける限り、位相差検出回路１および
２の出力信号Ｑ＋やＱ−の信号周期で繰り返される。

【００３５】そこで、例えば図３に示すような基準パル
スゲート回路５においては、外部からの測定要求信号Ｔ
１が印加されると、その印加後に、論理回路５１により
位相差検出回路１のＱ＋出力の一周期分だけを抽出し、
その抽出出力信号と、位相差信号抽出回路４から前記位
相差情報信号と、タイミング比較パルスＰＲとの否定論
理和を論理ゲート５２で取れば、位相差検出回路１のＱ
＋出力と位相差検出回路２のＱ＋出力との間の立上りエ
ッジ間のタイミング差が生じている期間の一周期分だけ
の間に送出されるタイミング比較パルスＰＲのパルスを
抽出できる。

【００３６】従って、さらにカウンタ６で論理ゲート５
２からの出力パルスの個数を計数し、計数値がＮであっ
たとすれば、位相差検出回路１のＱ＋出力と位相差検出
回路２のＱ＋出力との間の立上りエッジ間のタイミング
差が生じている期間をタイミング比較パルスＰＲの周期
（ｔ＋ｄｔ）のＮ倍として認識できる。

【００３７】ところで、上述したように、位相差検出回
路１の出力信号Ｑ＋およびＱ−と位相差検出回路２の出
力信号Ｑ＋およびＱ−との位相関係は、進行波によるエ
ッジａと反射波によるエッジｂとの時間差２Ｔを（ｔ＋
ｄｔ）／ｄｔ倍に伸張したものであるから、以下の等式
が成り立つ。

【００３８】 ２Ｔ×（ｔ＋ｄｔ）／ｄｔ＝Ｎ×（ｔ＋ｄｔ）これより
測定すべき値、すなわち伝送線路長Ｔは次式のごとく測
定値Ｎと設定した入力信号との間の周期差ｄｔによって
求めることができる。

【００３９】Ｔ＝Ｎ×ｄｔ／２ 以上の説明においては、階段波ＲＦの立上りエッジにお
ける、進行波によるエッジａと反射波によるエッジｂの
時間差を求めることによって、階段波ＲＦが伝搬した伝
送線路長Ｔを求める場合について、本発明の実施例を述
べたが、階段波ＲＦの立下りエッジにおける、進行波に
よるエッジａと反射波によるエッジｂの時間差を求める
ことによっても同様に伝送線路長Ｔを求めることができ
る。その場合には、上述した説明において、位相差検出
回路１，２および３として、入力信号の立下りエッジ間
の位相差を比較する回路を用いれば、全く同様の手順に
よって、伝送線路長Ｔを求めることができる。

【００４０】あるいはまた、位相差検出回路１，２およ
び３として、入力信号の立下りエッジ間の位相差比較と
立上りエッジ間の位相差比較を選択的に制御可能な回路
を用いてもよい。

【００４１】測定精度を支配する要因としては、入力さ
れる階段波ＲＦとタイミングパルス信号ＰＲの繰り返し
周期安定度と、上述した、位相差検出回路１，２および
３の検出感度特性が挙げられる。前者については、信号
源として周波数分解能１Ｈｚ、周波数安定度１×１０−
１１　／分程度の性能を有する市販のシンセサイザを用
いれば、例えば、繰り返し周波数を５０ＭＨｚ±１Ｈｚ
（５０００００００±１Ｈｚ）と５０．００２０００Ｍ
Ｈｚ±１Ｈｚ（５０００２０００±１Ｈｚ）に設定すれ
ば、分解能は０．８ｐｓ±０．０００４ｐｓに設定でき
る。後者については、上述したように、例えば特願昭６
２−２９９０３７号に記載された回路を位相差検出回路
に適用すれば、現在の半導体技術を用いれば数ピコ秒の
検出感度が実現できる。従って、測定分解能と時間精度
がともにピコ秒オーダの伝送線路長測定が本発明によっ
て実現できる。

【００４２】

【発明の効果】以上の説明から明らかなごとく、本発明
によれば、位相検出回路の検出感度が、同一極性のエッ
ジ間と逆極性のエッジ間とで異なっていても、位相差検
出回路の特性を最大限に活用でき、高精度な伝送線路長
の測定が可能となる。しかもまた、本発明によれば、入
力信号のパルス数を制御することなく、確実に伝送線路
長に対応する計数値が得られる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明における伝送線路長測定装置の基本回路
構成の一実施例を示す回路ブロック図である。

【図２】本発明における伝送線路長測定装置の動作原理
を示すタイムチャートである。

【図３】本発明における基準パルスゲート回路に適用可
能な回路構成の一実施例を示す回路ブロック図である。

【図４】従来技術の一例を示す回路ブロック図である。

【符号の説明】

１００　　伝送線路 ＲＦ　　遠端を開放して得られる階段波ＰＲ　　タイミ
ング比較パルス ａ　　階段波ＲＦの進行波による立上りエッジｂ　　階
段波ＲＦの反射波による立上りエッジ１，２，３　　位
相差検出回路 ４　　位相差信号抽出回路 ５　　基準パルスゲート回路 ６　　カウンタ ＶＲ１１，ＶＲ１２　　位相差検出回路１の入力信号し
きい値を決める基準レベル入力 ＶＲ２１，ＶＲ２２　　位相差検出回路２の入力信号し
きい値を決める基準レベル入力 ＶＲ３１，ＶＲ３２　　位相差検出回路３の入力信号し
きい値を決める基準レベル入力 Ｑ＋　　位相差検出回路の位相差情報信号Ｑ−　　位相
差検出回路の位相差情報信号Ｑ＋の論理反転信号 ４１，４２，４３，４４，４５，５２　　否定論理和ゲ
ート ５１　　論理回路 ５３，５４　　リセット優先セットリセットフリップフ
ロップ ５５　　強制リセット付きトグルフリップフロップ５６
，５７　　論理和ゲート ＲＳＴ　　リセット信号 Ｔ１　　測定要求信号 １０１，１０２　　位相差検出回路 １０３　　排他的論理和ゲート １０４　　論理積ゲート １０５　　カウンタ

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】　　遠端開放の伝送線路にパルスを送出し
   て得られる反射波形から伝送線路長を測定する伝送線路
   長測定装置において、一定の繰り返し周期を有する遠端
   開放による階段波と、該階段波とは繰り返し周期がわず
   かに異なる基準パルス信号が入力信号として入力され、
   該２つの入力信号に対するしきい値が独立に制御可能で
   、前記階段波の進行波成分による立上りエッジ、もしく
   は立下りエッジ毎に両入力信号間の位相ずれを選択的に
   検出する第一の位相差検出回路と、前記階段波と、前記
   基準パルス信号が入力信号として入力され、該２つの入
   力信号に対するしきい値が独立に制御可能で、前記階段
   波の反射波成分による立上りエッジ、もしくは立下りエ
   ッジ毎に両入力信号間の位相ずれを選択的に検出する第
   二の位相差検出回路と、前記階段波が共通の２入力信号
   として入力され、該２つの入力信号に対するしきい値が
   独立に制御可能で、前記階段波の反射波成分と進行波成
   分の立上りエッジ間、もしくは立下りエッジ間の位相ず
   れを選択的に検出する第三の位相差検出回路と、前記第
   一，第二および第三の位相差検出回路の各々からの第一
   ，第二および第三の位相差情報信号をもとに、該第一の
   位相差情報信号と該第二の位相差情報信号の立上り部分
   で生じている位相ずれ期間、および立下り部分で生じて
   いる位相ずれ期間のいずれか一方を選択的に抽出する位
   相差信号抽出回路と、外部からの要求信号が入力され、
   該要求信号が入力された後に前記第一もしくは前記第二
   の位相差情報信号の１周期分に相当する期間内でかつ前
   記位相差信号抽出回路が抽出した位相ずれ期間のみ、前
   記基準パルス信号を有効とする基準パルスゲート回路と
   、該基準パルスゲート回路からの出力信号を計数するカ
   ウンタと、を備えたことを特徴とする伝送線路長測定装
   置。