JP3405259B2 - 突起電極の形成方法及び突起電極を備えたフィルム基板の製造方法並びに突起電極を備えた半導体装置の製造方法 - Google Patents
突起電極の形成方法及び突起電極を備えたフィルム基板の製造方法並びに突起電極を備えた半導体装置の製造方法Info
- Publication number
- JP3405259B2 JP3405259B2 JP07270199A JP7270199A JP3405259B2 JP 3405259 B2 JP3405259 B2 JP 3405259B2 JP 07270199 A JP07270199 A JP 07270199A JP 7270199 A JP7270199 A JP 7270199A JP 3405259 B2 JP3405259 B2 JP 3405259B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- film substrate
- forming
- substrate
- holes
- film
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/3457—Solder materials or compositions; Methods of application thereof
- H05K3/3485—Applying solder paste, slurry or powder
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/48—Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326
- H01L21/4814—Conductive parts
- H01L21/4846—Leads on or in insulating or insulated substrates, e.g. metallisation
- H01L21/4853—Connection or disconnection of other leads to or from a metallisation, e.g. pins, wires, bumps
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
- H01L2224/161—Disposition
- H01L2224/16151—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/16221—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/16225—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/151—Die mounting substrate
- H01L2924/153—Connection portion
- H01L2924/1531—Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
- H01L2924/15311—Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a ball array, e.g. BGA
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/10—Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
- H05K2201/10613—Details of electrical connections of non-printed components, e.g. special leads
- H05K2201/10621—Components characterised by their electrical contacts
- H05K2201/10734—Ball grid array [BGA]; Bump grid array
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/01—Tools for processing; Objects used during processing
- H05K2203/0191—Using tape or non-metallic foil in a process, e.g. during filling of a hole with conductive paste
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/04—Soldering or other types of metallurgic bonding
- H05K2203/043—Reflowing of solder coated conductors, not during connection of components, e.g. reflowing solder paste
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/05—Patterning and lithography; Masks; Details of resist
- H05K2203/0562—Details of resist
- H05K2203/0568—Resist used for applying paste, ink or powder
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/05—Patterning and lithography; Masks; Details of resist
- H05K2203/0562—Details of resist
- H05K2203/0577—Double layer of resist having the same pattern
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/0011—Working of insulating substrates or insulating layers
- H05K3/0017—Etching of the substrate by chemical or physical means
- H05K3/0026—Etching of the substrate by chemical or physical means by laser ablation
- H05K3/0032—Etching of the substrate by chemical or physical means by laser ablation of organic insulating material
- H05K3/0035—Etching of the substrate by chemical or physical means by laser ablation of organic insulating material of blind holes, i.e. having a metal layer at the bottom
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/3452—Solder masks
Description
法及び突起電極を備えたフィルム基板の製造方法並びに
突起電極を備えた半導体装置の製造方法に関する。
れる半導体装置では、LSI等からなる半導体チップを
中間基板(インターポーザ)上に搭載し、中間基板の下面
に半田ボール(突起電極)をマトリクス状に配置してい
る。図17は従来のこのような半導体装置の一例の断面
図を示したものである。この半導体装置における中間基
板1は、半導体チップ6の平面サイズよりもやや大きめ
のフィルム基板からなっている。中間基板1の上面周辺
部には、半導体チップ6の下面周辺部に設けられたバン
プ電極7に対応して、第1の接続パッド2が設けられて
いる。中間基板1の上面の各所定の箇所には第2の接続
パッド3がマトリクス状に設けられている。第1の接続
パッド2と第2の接続パッド3とは、中間基板1の上面
に適宜に設けられた引き回し線(図示せず)を介して接
続されている。第2の接続パッド3の中央部に対応する
部分における中間基板1には円孔4が設けられている。
円孔4内及び円孔4下には半田ボール5が第2の接続パ
ッド3に接続されて設けられている。そして、半導体チ
ップ6は、バンプ電極7が第1の接続パッド2に接合さ
れていることにより、中間基板1上に搭載されている。
また、半導体チップ6を含む中間基板1の上面には樹脂
封止膜8が設けられている。
ような半導体装置において、中間基板1に半田ボール5
を形成するために、中間基板1にマトリクス状に設けら
れた各円孔4にそれぞれ半田ボールを配置する場合、円
孔4の配列に応じた構造のフラックス塗布または転写用
治具及び半田ボール吸着用治具を用いているが、円孔4
の配列が変わると、それに応じたフラックス塗布または
転写用治具及び半田ボール吸着用治具が必要になるとい
う問題があった。また、半田ボールを配置する際に、1
つでも欠落していると不良品となるので、半田ボール5
がすべて形成されているか否かの検査を行う必要がある
という問題があった。なお、スクリーン印刷により、円
孔4の部分に半田ペーストを塗布し、加熱処理により半
田ボールを形成する方法も知られているが、この場合
も、円孔4の配列が変わると、それに応じた印刷マスク
が必要になるという問題があった。また、半田ペースト
の塗布量がどちらかといえば少なく、このため半田ボー
ルの高さをある程度以上に高くすることはできないとい
う問題があった。この発明の課題は、基板に半田等から
なる突起電極を専用の補助具を用いることなく、且つ、
ある程度の高さを有して確実に形成することである。
る突起電極の形成方法は、基板の一の面に接続パッドを
形成する工程と、前記基板の前記接続パッドに対応する
部分と該基板の他の面に設けられた補助基板の前記接続
パッドに対応する部分とに孔を一括して形成する工程
と、前記両基板の孔内に導電性ペーストを充填し、加熱
処理により前記導電性ペーストの残存物によって前記両
基板の孔内に柱状電極を形成する工程と、前記柱状電極
を形成した後に前記補助基板を剥離する工程とを具備し
たものである。請求項7記載の発明に係る突起電極を備
えたフィルム基板の製造方法は、フィルム基板の一の面
に接続パッドを形成する工程と、前記フィルム基板の前
記接続パッドに対応する部分と該フィルム基板の他の面
に設けられた補助フィルム基板の前記接続パッドに対応
する部分とに孔を一括して形成する工程と、前記両フィ
ルム基板の孔内に導電性ペーストを充填し、加熱処理に
より前記導電性ペーストの残存物によって前記両フィル
ム基板の孔内に柱状電極を形成する工程と、前記柱状電
極を形成した後に前記補助フィルム基板を剥離する工程
とを具備したものである。請求項13記載の発明に係る
突起電極を備えた半導体装置の製造方法は、フィルム基
板の一の面に設けられた導電層によって第1の接続パッ
ド、第2の接続パッド及びその間の引き回し線を形成す
る工程と、前記フィルム基板及び該フィルム基板の他の
面に設けられた補助フィルム基板の前記第2の接続パッ
ドに対応する部分に、それぞれ小孔及び大孔を形成する
工程と、前記フィルム基板の一の面上に半導体チップを
前記第1の接続パッドに接続させて搭載する工程と、前
記両フィルム基板の孔内に導電性ペーストを充填し、加
熱処理により前記導電性ペーストの残存物によって前記
両フィルム基板の孔内に柱状電極を形成する工程と、前
記柱状電極を形成した後に前記補助フィルム基板を剥離
する工程とを具備したものである。以上の発明によれ
ば、両基板の孔内に充填された導電性ペースト(半田ペ
ースト)の残存物(半田)によって柱状電極を形成した
後に、補助基板を剥離すると、補助基板の孔内に形成さ
れた柱状電極が基板から突出することになるので、基板
に半田等からなる柱状電極(突起電極)をある程度の高
さを有して形成することができる。この場合、両基板の
孔内への導電性ペーストの充填を補助基板を印刷マスク
としたスクリーン印刷により行うと、専用の印刷マスク
を用いることなく、基板に半田等からなる柱状電極(突
起電極)を確実に形成することができる。
一実施形態における半導体装置の各製造工程を示したも
のである。そこで、これらの図を順に参照して、この実
施形態における半導体装置の製造方法について説明す
る。まず、図1に示すように、中間基板形成用のポリイ
ミドからなるフィルム基板11の上面に銅箔(導電層)
12を直接(または接着剤を介して)ラミネートし、フ
ィルム基板11の下面にポリイミド、PES(ポリエー
テルサルホン)、PEI(ポリエーテルイミド)、PE
T(ポリエチレンテレフタレート)等からなる補助フィ
ルム基板13を粘着剤(図示せず)を介してラミネート
したものを用意する。
銅箔12は長尺なものからなり、ロールツウロールで搬
送されるようになっている。また、一例として、フィル
ム基板11の厚さは25〜75μm程度であり、銅箔1
2の厚さは8〜18μm程度であり、補助フィルム基板
13の厚さは25〜500μm程度である。なお、補助
フィルム基板13は幾つかの役目を有し、その1つはフ
ィルム基板11を補強して製造工程中の搬送を確実とす
ることである。
いたパンチングにより、両フィルム基板11、13及び
銅箔12の幅方向両側にスプロケットホールを形成す
る。次に、図2に示すように、通常のフォトリソグラフ
ィ法により、銅箔12をパターニングして、第1の接続
パッド14、第2の接続パッド15及びその間の引き回
し線(図示せず)を形成する。次に、図3に示すよう
に、CO2レーザ、YAGレーザ、エキシマレーザ等の
レーザを照射することにより、第2の接続パッド15の
中央部に対応する部分における両フィルム基板11、1
3に円孔16を形成する。次に、レーザ加工によって発
生したスミアをデスミア等の処理(過マンガン酸液やプ
ラズマ等によるエッチング)により除去する。次に、図
示していないが、第1の接続パッド14、第2の接続パ
ッド15及びその間の引き回し線の表面にAu/Niや
Su等からなるメッキ層を形成する。
る半導体チップ21の下面周辺部に設けられたバンプ電
極22を第1の接続パッド14に接合することにより、
半導体チップ21をフィルム基板11上にフェイスダウ
ン方式により搭載する。次に、図5に示すように、スク
リーン印刷等により、半導体チップ21を含むフィルム
基板11の上面においてスプロケットホール形成部を除
く部分にエポキシ系樹脂からなる樹脂封止膜23を形成
する。
転して、印刷マスクを用いないスクリーン印刷により、
すなわち補助フィルム基板13を印刷マスクとしたスク
リーン印刷により、両フィルム基板11、13の円孔1
6内に半田ペースト24を充填する。この場合、フィル
ム基板11の円孔16内のみでなく、補助フィルム基板
13の円孔16内にも半田ペースト24を充填している
ので、半田ペースト24の充填量を十分とすることがで
きる。したがって、スクリーン印刷により半田ペースト
24を塗布しても、その塗布量を十分とすることができ
る。
中の溶剤等の有機系材料を蒸発させる。すると、図7に
示すように、両フィルム基板11、13の円孔16内に
半田ペースト24の残存物(半田)からなる柱状電極
(突起電極)25が形成される。この場合、柱状電極2
5の頭部は表面張力により丸まることによりほぼ半球状
となる。また、柱状電極25の高さは、半田ペースト2
4の塗布量(充填量)が十分であるので、ある程度の高
さとすることができ、しかも補助フィルム基板13の厚
さを変えることにより、調整することができる。次に、
補助フィルム基板13を図示しない粘着剤と共に剥離す
ると、図8に示すようになる。この状態では、柱状電極
25はフィルム基板11から突出されている。次に、切
断工程を経ると、すなわちフィルム基板11及び樹脂封
止膜23を適宜に切断すると、図9に示すような半導体
装置が複数個得られる。
は、両フィルム基板11、13の円孔16内への半田ペ
ースト14の充填をスクリーン印刷により行っているの
で、すべての孔16内に半田ペースト24を確実に充填
することができる。したがって、フィルム基板11に半
田からなる柱状電極25を確実に形成することができ、
ひいては柱状電極25がすべて形成されているか否かの
検査を省略することが可能となる。
を施して、図10に示すように、フィルム基板11から
突出されている柱状の半田によって半田ボール(突起電
極)26を形成するようにしてもよい。
工程において、レーザの照射により、両フィルム基板1
1、13に円孔16を形成する場合について説明した
が、これに限定されるものではない。例えば、まず図1
1に示すように、フィルム基板11の上面に接着剤31
を設け、フィルム基板11の下面に補助フィルム基板1
3を粘着剤32を介してラミネートしたものを用意す
る。次に、図12に示すように、パンチングにより、両
フィルム基板11、13、接着剤31及び粘着剤32に
円孔16を形成する。次に、図13に示すように、フィ
ルム基板11の上面に接着剤31を介して銅箔(導電
層)12をラミネートする。次に、図14に示すよう
に、銅箔12をパターニングして、第1の接続パッド1
4、第2の接続パッド15及びその間の引き回し線(図
示せず)を形成する。以下は、図4に示す半導体チップ
搭載工程以降となるので、その説明を省略する。
工程において、スクリーン印刷により、両フィルム基板
11、13の円孔16内に半田ペースト24を充填する
場合について説明したが、これに限定されるものではな
い。例えば、図15に示すように、ライン状の射出ノズ
ル41を用いて、両フィルム基板11、13の円孔16
内に半田ペースト24を充填するようにしてもよい。こ
の場合、射出ノズル41から半田ペースト24を圧力を
加えて射出することになるので、両フィルム基板11、
13の円孔16内に半田ペースト24を高密度に充填す
ることができる。なお、射出ノズル41の先端部にはゴ
ム部材42が設けられている。
工程において、レーザを照射することにより、両フィル
ム基板11、13に同じ孔径の円孔16を形成する場合
について説明したが、これに限定されるものではない。
例えば、図16に示すように、エッチレート制御が可能
であるエキシマレーザやYAGレーザ等のレーザの照射
により、補助フィルム基板13に大径の円孔16aを形
成し、次いでレーザの加工寸法を小さくして、フィルム
基板11に小径の円孔16bを形成するようにしてもよ
い。このようにした場合には、補助フィルム基板13の
厚さを比較的薄くしても、例えば図10に示す半田ボー
ル26の高さをある程度高くすることができる。
板11、13の円孔16内に半田ペースト24を充填す
る場合について説明したが、これに限らず、Su/Zn
/Cu、Su/Zn、Su/Ag/Cu、Su/Ag/
Cu/Bi等の鉛を含まない導電性ペーストを充填する
ようにしてもよい。加えて、上記実施形態では、半導体
チップをフェイスダウン方式により搭載する場合につい
て説明したが、これに限らず、ワイヤボンディング方式
等のフェイスアップ方式により搭載するようにしてもよ
い。
ば、両基板の孔内に充填された導電性ペースト(半田ペ
ースト)の残存物(半田)によって柱状電極を形成した
後に、補助基板を剥離すると、補助基板の孔内に形成さ
れた柱状電極が基板から突出することになるので、基板
に半田等からなる柱状電極(突起電極)をある程度の高
さを有して形成することができる。この場合、両基板の
孔内への導電性ペーストの充填を補助基板を印刷マスク
としたスクリーン印刷により行うと、専用の印刷マスク
を用いることなく、基板に半田等からなる柱状電極(突
起電極)を確実に形成することができる。
造に際し、当初用意したものの断面図。
図。
の製造に際し、当初用意したものの断面図。
充填の他の例を説明するために示す断面図。
明するために示す断面図。
Claims (19)
- 【請求項1】 基板の一の面に接続パッドを形成する工
程と、前記基板の前記接続パッドに対応する部分と該基
板の他の面に設けられた補助基板の前記接続パッドに対
応する部分とに孔を一括して形成する工程と、前記両基
板の孔内に導電性ペーストを充填し、加熱処理により前
記導電性ペーストの残存物によって前記両基板の孔内に
柱状電極を形成する工程と、前記柱状電極を形成した後
に前記補助基板を剥離する工程とを具備することを特徴
とする突起電極の形成方法。 - 【請求項2】 請求項1記載の発明において、前記両基
板に形成される孔は、前記補助基板において大孔であ
り、前記基板において小孔であることを特徴とする突起
電極の形成方法。 - 【請求項3】 請求項1または2記載の発明において、
前記両基板の孔内への前記導電性ペーストの充填は、前
記補助基板を印刷マスクとしたスクリーン印刷により行
うことを特徴とする突起電極の形成方法。 - 【請求項4】 請求項1または2記載の発明において、
前記両基板の孔内への前記導電性ペーストの充填は、ラ
イン状の射出ノズルを用いて行うことを特徴とする突起
電極の形成方法。 - 【請求項5】 請求項1〜4のいずれかに記載の発明に
おいて、前記導電性ペーストは半田ペーストであること
を特徴とする突起電極の形成方法。 - 【請求項6】 請求項5記載の発明において、前記補助
基板を剥離した後に、加熱処理により前記基板から突出
されている前記柱状電極によって半田ボールを形成する
工程をさらに具備することを特徴とする突起電極の形成
方法。 - 【請求項7】 フィルム基板の一の面に接続パッドを形
成する工程と、前記フィルム基板の前記接続パッドに対
応する部分と該フィルム基板の他の面に設けられた補助
フィルム基板の前記接続パッドに対応する部分とに孔を
一括して形成する工程と、前記両フィルム基板の孔内に
導電性ペーストを充填し、加熱処理により前記導電性ペ
ーストの残存物によって前記両フィルム基板の孔内に柱
状電極を形成する工程と、前記柱状電極を形成した後に
前記補助フィルム基板を剥離する工程とを具備すること
を特徴とする突起電極を備えたフィルム基板の製造方
法。 - 【請求項8】 請求項7記載の発明において、前記両フ
ィルム基板に形成される孔は、前記補助フィルム基板に
おいて大孔であり、前記フィルム基板において小孔であ
ることを特徴とする突起電極を備えたフィルム基板の製
造方法。 - 【請求項9】 請求項7または8記載の発明において、
前記両フィルム基板の孔内への前記導電性ペーストの充
填は、前記補助フィルム基板を印刷マスクとしたスクリ
ーン印刷により行うことを特徴とする突起電極を備えた
フィルム基板の製造方法。 - 【請求項10】 請求項7または8記載の発明におい
て、前記両フィルム基板の孔内への前記導電性ペースト
の充填は、ライン状の射出ノズルを用いて行うことを特
徴とする突起電極を備えたフィルム基板の製造方法。 - 【請求項11】 請求項7〜10のいずれかに記載の発
明において、前記導電性ペーストは半田ペーストである
ことを特徴とする突起電極を備えたフィルム基板の製造
方法。 - 【請求項12】 請求項11記載の発明において、前記
補助フィルム基板を剥離した後に、加熱処理により前記
フィルム基板から突出されている前記柱状電極によって
半田ボールを形成する工程をさらに具備することを特徴
とする突起電極を備えたフィルム基板の製造方法。 - 【請求項13】 フィルム基板の一の面に設けられた導
電層によって第1の接続パッド、第2の接続パッド及び
その間の引き回し線を形成する工程と、前記フィルム基
板及び該フィルム基板の他の面に設けられた補助フィル
ム基板の前記第2の接続パッドに対応する部分に、それ
ぞれ小孔及び大孔を形成する工程と、前記フィルム基板
の一の面上に半導体チップを前記第1の接続パッドに接
続させて搭載する工程と、前記両フィルム基板の孔内に
導電性ペーストを充填し、加熱処理により前記導電性ペ
ーストの残存物によって前記両フィルム基板の孔内に柱
状電極を形成する工程と、前記柱状電極を形成した後に
前記補助フィルム基板を剥離する工程とを具備すること
を特徴とする突起電極を備えた半導体装置の製造方法。 - 【請求項14】 請求項13記載の発明において、前記
フィルム基板の一の面上に前記半導体チップを搭載した
後に、前記半導体チップを含む前記フィルム基板の一の
面に樹脂封止膜を形成する工程をさらに具備することを
特徴とする突起電極を備えた半導体装置の製造方法。 - 【請求項15】 請求項13または14記載の発明にお
いて、前記両フィルム基板の孔内への前記導電性ペース
トの充填は、前記補助フィルム基板を印刷マスクとした
スクリーン印刷により行うことを特徴とする突起電極を
備えた半導体装置の製造方法。 - 【請求項16】 請求項13または14記載の発明にお
いて、前記両フィルム基板の孔内への前記導電性ペース
トの充填は、ライン状の射出ノズルを用いて行うことを
特徴とする突起電極を備えた半導体装置の製造方法。 - 【請求項17】 請求項13〜16のいずれかに記載の
発明において、前記導電性ペーストは半田ペーストであ
ることを特徴とする突起電極を備えた半導体装置の製造
方法。 - 【請求項18】 請求項17記載の発明において、前記
補助フィルム基板を剥離した後に、加熱処理により前記
フィルム基板から突出されている前記柱状電極によって
半田ボールを形成する工程をさらに具備することを特徴
とする突起電極を備えた半導体装置の製造方法。 - 【請求項19】 請求項13〜18のいずれかに記載の
発明において、前記フィルム基板、前記導電層及び前記
補助フィルム基板は長尺なものからなり、最終的には前
記フィルム基板を切断して複数の半導体装置を得ること
を特徴とする突起電極を備えた半導体装置の製造方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP07270199A JP3405259B2 (ja) | 1999-03-17 | 1999-03-17 | 突起電極の形成方法及び突起電極を備えたフィルム基板の製造方法並びに突起電極を備えた半導体装置の製造方法 |
US09/526,665 US6375064B1 (en) | 1999-03-17 | 2000-03-15 | Method of forming projecting electrodes and method of manufacturing semiconductor device provided with projecting electrodes |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP07270199A JP3405259B2 (ja) | 1999-03-17 | 1999-03-17 | 突起電極の形成方法及び突起電極を備えたフィルム基板の製造方法並びに突起電極を備えた半導体装置の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000269378A JP2000269378A (ja) | 2000-09-29 |
JP3405259B2 true JP3405259B2 (ja) | 2003-05-12 |
Family
ID=13496940
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP07270199A Expired - Fee Related JP3405259B2 (ja) | 1999-03-17 | 1999-03-17 | 突起電極の形成方法及び突起電極を備えたフィルム基板の製造方法並びに突起電極を備えた半導体装置の製造方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6375064B1 (ja) |
JP (1) | JP3405259B2 (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3409759B2 (ja) * | 1999-12-09 | 2003-05-26 | カシオ計算機株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
JP4635329B2 (ja) * | 2000-12-01 | 2011-02-23 | 凸版印刷株式会社 | 配線回路基板の製造方法 |
CN1383197A (zh) * | 2001-04-25 | 2002-12-04 | 松下电器产业株式会社 | 半导体装置的制造方法及半导体装置 |
US20050194665A1 (en) * | 2003-01-21 | 2005-09-08 | Huang Chien P. | Semiconductor package free of substrate and fabrication method thereof |
TWI235028B (en) * | 2004-04-30 | 2005-06-21 | Via Tech Inc | Pin grid array package carrier and process for mounting passive component thereon |
US7375288B1 (en) * | 2004-07-30 | 2008-05-20 | Intel Corp. | Apparatuses and methods for improving ball-grid-array solder joint reliability |
US20070069378A1 (en) * | 2005-04-15 | 2007-03-29 | Chang-Yong Park | Semiconductor module and method of forming a semiconductor module |
KR20130012470A (ko) * | 2011-07-25 | 2013-02-04 | 삼성전기주식회사 | 범프 형성 방법, 및 상기 범프를 포함하는 기판 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1474190A (en) * | 1973-12-17 | 1977-05-18 | Jones Co Ltd S | Stencils |
US4706167A (en) * | 1983-11-10 | 1987-11-10 | Telemark Co., Inc. | Circuit wiring disposed on solder mask coating |
US4572764A (en) * | 1984-12-13 | 1986-02-25 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Preparation of photoformed plastic multistrate by via formation first |
US4964948A (en) * | 1985-04-16 | 1990-10-23 | Protocad, Inc. | Printed circuit board through hole technique |
US4756080A (en) * | 1986-01-27 | 1988-07-12 | American Microsystems, Inc. | Metal foil semiconductor interconnection method |
JPH01289144A (ja) * | 1988-05-16 | 1989-11-21 | Seiko Instr Inc | はんだバンプの製造方法 |
JP2797542B2 (ja) * | 1989-11-06 | 1998-09-17 | ソニー株式会社 | リードフレームの製造方法 |
US5244143A (en) * | 1992-04-16 | 1993-09-14 | International Business Machines Corporation | Apparatus and method for injection molding solder and applications thereof |
US5303647A (en) * | 1992-05-27 | 1994-04-19 | Brother Kogyo Kabushiki Kaisha | Plate for stencil paper printing having a releasable film |
WO1994024704A1 (en) * | 1993-04-12 | 1994-10-27 | Bolger Justin C | Area bonding conductive adhesive preforms |
US5492266A (en) * | 1994-08-31 | 1996-02-20 | International Business Machines Corporation | Fine pitch solder deposits on printed circuit board process and product |
US5493075A (en) * | 1994-09-30 | 1996-02-20 | International Business Machines Corporation | Fine pitch solder formation on printed circuit board process and product |
US5499756A (en) * | 1995-02-03 | 1996-03-19 | Motorola, Inc. | Method of applying a tacking agent to a printed circuit board |
US5822856A (en) * | 1996-06-28 | 1998-10-20 | International Business Machines Corporation | Manufacturing circuit board assemblies having filled vias |
JPH1098257A (ja) * | 1996-09-19 | 1998-04-14 | Ibiden Co Ltd | 半田バンプ形成基板の製造方法 |
-
1999
- 1999-03-17 JP JP07270199A patent/JP3405259B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2000
- 2000-03-15 US US09/526,665 patent/US6375064B1/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2000269378A (ja) | 2000-09-29 |
US6375064B1 (en) | 2002-04-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7915718B2 (en) | Apparatus for flip-chip packaging providing testing capability | |
JP2009026805A (ja) | 半導体装置及びその製造方法 | |
JPH0750725B2 (ja) | チップ接続構造体 | |
US6849955B2 (en) | High density integrated circuit packages and method for the same | |
KR100614548B1 (ko) | 반도체 소자 실장용 배선 기판의 제조 방법 및 반도체 장치 | |
KR20140029268A (ko) | 반도체 장치의 제조 방법 | |
JP3405259B2 (ja) | 突起電極の形成方法及び突起電極を備えたフィルム基板の製造方法並びに突起電極を備えた半導体装置の製造方法 | |
TWI433282B (zh) | 半導體裝置及其製造方法 | |
US20060049519A1 (en) | Semiconductor device and method for manufacturing semiconductor device | |
JP2002359323A (ja) | 半導体装置及び半導体装置の製造方法 | |
US10755994B2 (en) | Semiconductor package structure and semiconductor substrate | |
TW200935573A (en) | Insulative wiring board, semiconductor package using the same, and method for producing the insulative wiring board | |
JP2009016378A (ja) | 多層配線板及び多層配線板製造方法 | |
US10912194B2 (en) | Printed circuit board | |
US7671477B2 (en) | Technique for moderating stresses cause by a difference in thermal expansion coeffiecients between a substrate and an electronic component | |
US11482502B2 (en) | Semiconductor device and semiconductor device manufacturing method | |
JP2000315706A (ja) | 回路基板の製造方法並びに回路基板 | |
JP2001127194A (ja) | フリップチップ型半導体装置及びその製造方法 | |
JP2020004926A (ja) | 配線基板及び配線基板の製造方法 | |
JP2007142128A (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
JP2008147367A (ja) | 半導体装置及びその製造方法 | |
JP2002124527A (ja) | チップ状電子部品の製造方法、及びその製造に用いる疑似ウェーハの製造方法 | |
JP2004039667A (ja) | スルーホールが形成された半導体素子の製造方法、及び、半導体パッケージの製造方法 | |
US20050266614A1 (en) | Method of manufacturing semiconductor device and method of manufacturing electronic device | |
KR100403359B1 (ko) | 반도체패키지의제조방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090307 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090307 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100307 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110307 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110307 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120307 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130307 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130307 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140307 Year of fee payment: 11 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |