JP3348422B2 - 測定データ収集装置 - Google Patents
測定データ収集装置Info
- Publication number
- JP3348422B2 JP3348422B2 JP11969193A JP11969193A JP3348422B2 JP 3348422 B2 JP3348422 B2 JP 3348422B2 JP 11969193 A JP11969193 A JP 11969193A JP 11969193 A JP11969193 A JP 11969193A JP 3348422 B2 JP3348422 B2 JP 3348422B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measurement data
- data
- measurement
- sample
- stored
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はサンプリングされた測定
データを収集格納する測定データ収集装置に関し、詳し
くは、サンプルレートの制御に関するものである。
データを収集格納する測定データ収集装置に関し、詳し
くは、サンプルレートの制御に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】例えば、電圧，電流，圧力，ひずみ，振
動，音などの測定対象になる物理量の解析にあたって
は、これら物理量を所望のサンプルレートでサンプリン
グして測定データとしてメモリに収集格納し、収集格納
した測定データを必要に応じて表示器に表示させたり、
記録紙に記録させたり、解析処理することなどが行われ
ている。
動，音などの測定対象になる物理量の解析にあたって
は、これら物理量を所望のサンプルレートでサンプリン
グして測定データとしてメモリに収集格納し、収集格納
した測定データを必要に応じて表示器に表示させたり、
記録紙に記録させたり、解析処理することなどが行われ
ている。
【０００３】ところで、測定対象によっては、基本的に
は長時間にわたって緩やかに変化するものの、故障が生
じた場合などには突発的に急激な変化を生じる場合があ
る。そこで、従来は、サンプルレートが任意に設定でき
る測定データ収集装置を２台用いてそれぞれに同一の測
定信号を入力し、一方の装置については測定データを格
納するメモリの容量に制限があるためにサンプルレート
を遅くして長時間測定を行い、他方の装置については突
発現象を含む前後の変化を細かく観察できるようにサン
プルレートを速く設定しておいて突発現象に対応したト
リガ条件が成立した後に測定データの収集格納を停止さ
せることが行われていた。
は長時間にわたって緩やかに変化するものの、故障が生
じた場合などには突発的に急激な変化を生じる場合があ
る。そこで、従来は、サンプルレートが任意に設定でき
る測定データ収集装置を２台用いてそれぞれに同一の測
定信号を入力し、一方の装置については測定データを格
納するメモリの容量に制限があるためにサンプルレート
を遅くして長時間測定を行い、他方の装置については突
発現象を含む前後の変化を細かく観察できるようにサン
プルレートを速く設定しておいて突発現象に対応したト
リガ条件が成立した後に測定データの収集格納を停止さ
せることが行われていた。
【０００４】これにより、一方の装置で低速サンプルに
よる長時間にわたる監視が行え、他方の装置で高速サン
プルによる突発現象の測定が行える。
よる長時間にわたる監視が行え、他方の装置で高速サン
プルによる突発現象の測定が行える。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような従
来の測定データ収集装置では、サンプルレート毎に独立
した装置を用いなければならず、測定システムの全体構
成が大規模になってしまうという問題がある。本発明
は、このような従来の問題点を解決するものであって、
その目的は、１台の装置で同一の測定信号を異なる複数
のサンプルレートで測定でき、各サンプルレートにより
複数の突発現象に対応した測定データ群と長時間にわた
る測定データを収集格納できる測定データ収集装置を実
現することにある。
来の測定データ収集装置では、サンプルレート毎に独立
した装置を用いなければならず、測定システムの全体構
成が大規模になってしまうという問題がある。本発明
は、このような従来の問題点を解決するものであって、
その目的は、１台の装置で同一の測定信号を異なる複数
のサンプルレートで測定でき、各サンプルレートにより
複数の突発現象に対応した測定データ群と長時間にわた
る測定データを収集格納できる測定データ収集装置を実
現することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明の測定データ収集
装置は、測定データを所定のサンプルレートでサンプリ
ングする測定部と、前記測定部でサンプリングされる測
定データを順次一定量格納するリング状のバッファメモ
リと、測定データの変化状態を監視して所定のトリガ条
件が成立した時点でトリガ信号を出力するトリガ検出回
路と、前記トリガ検出回路から出力されるトリガ信号に
基づいて前記バッファメモリに所定数の測定データが格
納された時点のこの所定数の測定データを１群とする複
数の測定データ群が高速サンプルデータとして格納され
る第１のサンプルデータメモリと、前記測定部でサンプ
リングされる測定データが一定の間隔で間引かれて低速
サンプルデータとして順次格納される第２のサンプルデ
ータメモリと、これらバッファメモリと各サンプルデー
タメモリ間の測定データの転送を制御する測定データ転
送制御部、を設けたことを特徴とする。
装置は、測定データを所定のサンプルレートでサンプリ
ングする測定部と、前記測定部でサンプリングされる測
定データを順次一定量格納するリング状のバッファメモ
リと、測定データの変化状態を監視して所定のトリガ条
件が成立した時点でトリガ信号を出力するトリガ検出回
路と、前記トリガ検出回路から出力されるトリガ信号に
基づいて前記バッファメモリに所定数の測定データが格
納された時点のこの所定数の測定データを１群とする複
数の測定データ群が高速サンプルデータとして格納され
る第１のサンプルデータメモリと、前記測定部でサンプ
リングされる測定データが一定の間隔で間引かれて低速
サンプルデータとして順次格納される第２のサンプルデ
ータメモリと、これらバッファメモリと各サンプルデー
タメモリ間の測定データの転送を制御する測定データ転
送制御部、を設けたことを特徴とする。
【０００７】
【作用】第１のサンプルデータメモリには測定部でサン
プリングされる測定データがトリガ信号に基づいて所定
数の測定データを１群として順次格納されるので、複数
の突発現象などのトリガ条件の設定に応じた比較的高速
サンプルの測定データが格納される。第２のサンプルデ
ータメモリには測定部でサンプリングされる測定データ
が一定の間隔で間引かれて格納されるので、長期間にわ
たる比較的低速サンプルの測定データが格納される。
プリングされる測定データがトリガ信号に基づいて所定
数の測定データを１群として順次格納されるので、複数
の突発現象などのトリガ条件の設定に応じた比較的高速
サンプルの測定データが格納される。第２のサンプルデ
ータメモリには測定部でサンプリングされる測定データ
が一定の間隔で間引かれて格納されるので、長期間にわ
たる比較的低速サンプルの測定データが格納される。
【０００８】これにより、１台の装置で複数のサンプル
レートの測定データが収集格納できる。
レートの測定データが収集格納できる。
【０００９】
【実施例】以下、図面を用いて本発明の実施例を説明す
る。図１は本発明の一実施例の要部を示すブロック図で
ある。図において、１は測定部であり、測定データを所
定のサンプルレートでサンプリングする。２はリング状
のバッファメモリであり、測定部１でサンプリングされ
る測定データを順次一定量格納する。３はトリガ検出回
路であり、測定部１でサンプリングされる測定データの
変化状態を監視して所定のトリガ条件が成立した時点で
トリガ信号を出力する。４は第１のサンプルデータメモ
リであり、バッファメモリ２に格納されている測定デー
タがトリガ検出回路３から出力されるトリガ信号に基づ
いて順次格納される。５は第２のサンプルデータメモリ
であり、測定部１でサンプリングされる測定データが一
定の間隔で間引かれて順次格納される。６は測定データ
転送制御部であり、これらバッファメモリ２と各サンプ
ルデータメモリ４，５間の測定データの転送を制御す
る。
る。図１は本発明の一実施例の要部を示すブロック図で
ある。図において、１は測定部であり、測定データを所
定のサンプルレートでサンプリングする。２はリング状
のバッファメモリであり、測定部１でサンプリングされ
る測定データを順次一定量格納する。３はトリガ検出回
路であり、測定部１でサンプリングされる測定データの
変化状態を監視して所定のトリガ条件が成立した時点で
トリガ信号を出力する。４は第１のサンプルデータメモ
リであり、バッファメモリ２に格納されている測定デー
タがトリガ検出回路３から出力されるトリガ信号に基づ
いて順次格納される。５は第２のサンプルデータメモリ
であり、測定部１でサンプリングされる測定データが一
定の間隔で間引かれて順次格納される。６は測定データ
転送制御部であり、これらバッファメモリ２と各サンプ
ルデータメモリ４，５間の測定データの転送を制御す
る。
【００１０】図２は図１の構成において２種類のサンプ
ルレートが設定されている場合の測定データの転送を説
明するためのメモリのデータ領域図である。まず、測定
部１で所定のサンプルレート（例えば１００ＫＨｚ）で
サンプリング測定された実際の測定データは、（Ｂ）の
バッファメモリデータ領域にリング形式で順次格納され
る。ここで、（Ｂ）のバッファメモリデータ領域の容量
としては、例えばメモリ全体の記憶容量を５００Ｋワー
ド（測定データ格納数５００Ｋ個）とすると、２０Ｋワ
ード程度にする。これにより、（Ｂ）のバッファメモリ
データ領域には新しい測定データが１個サンプリングさ
れる毎に最も古い測定データが順次１個ずつ更新され、
常に２０Ｋ個の測定データが格納されることになる。す
なわち、本実施例の場合、（Ｂ）のデータ領域には、常
に２００ｍｓの時間における現象の１００ＫＨｚのサン
プルレートでの測定データが格納されることになり、そ
の時間内に収束する突発的現象の測定データも格納でき
る。
ルレートが設定されている場合の測定データの転送を説
明するためのメモリのデータ領域図である。まず、測定
部１で所定のサンプルレート（例えば１００ＫＨｚ）で
サンプリング測定された実際の測定データは、（Ｂ）の
バッファメモリデータ領域にリング形式で順次格納され
る。ここで、（Ｂ）のバッファメモリデータ領域の容量
としては、例えばメモリ全体の記憶容量を５００Ｋワー
ド（測定データ格納数５００Ｋ個）とすると、２０Ｋワ
ード程度にする。これにより、（Ｂ）のバッファメモリ
データ領域には新しい測定データが１個サンプリングさ
れる毎に最も古い測定データが順次１個ずつ更新され、
常に２０Ｋ個の測定データが格納されることになる。す
なわち、本実施例の場合、（Ｂ）のデータ領域には、常
に２００ｍｓの時間における現象の１００ＫＨｚのサン
プルレートでの測定データが格納されることになり、そ
の時間内に収束する突発的現象の測定データも格納でき
る。
【００１１】低速サンプルデータ領域（Ｃ）には、
（Ｂ）のデータ領域に格納される測定データが一定の間
隔（例えば１／１０とか１／１００など）で間引かれて
順次格納される。ここで、（Ｃ）のデータ領域の容量と
しては、例えばメモリ全体の記憶容量を５００Ｋワード
（測定データ格納数５００Ｋ個）とすると、２５０Ｋワ
ード程度にする。これにより、（Ｃ）のデータ領域に
は、実質的に測定部１のサンプルレートにくらべて１／
１０とか１／１００などの低速のサンプルレートでサン
プリングされた測定データが順次格納されることにな
る。すなわち、本実施例の場合、間引きを１／１０にす
ると１０ＫＨｚサンプルレートで２５秒間にわたる測定
データを格納でき、間引きを１／１００にすると１ＫＨ
ｚサンプルレートで２５０秒間にわたる測定データを格
納できることになる。
（Ｂ）のデータ領域に格納される測定データが一定の間
隔（例えば１／１０とか１／１００など）で間引かれて
順次格納される。ここで、（Ｃ）のデータ領域の容量と
しては、例えばメモリ全体の記憶容量を５００Ｋワード
（測定データ格納数５００Ｋ個）とすると、２５０Ｋワ
ード程度にする。これにより、（Ｃ）のデータ領域に
は、実質的に測定部１のサンプルレートにくらべて１／
１０とか１／１００などの低速のサンプルレートでサン
プリングされた測定データが順次格納されることにな
る。すなわち、本実施例の場合、間引きを１／１０にす
ると１０ＫＨｚサンプルレートで２５秒間にわたる測定
データを格納でき、間引きを１／１００にすると１ＫＨ
ｚサンプルレートで２５０秒間にわたる測定データを格
納できることになる。
【００１２】高速サンプルデータ領域（Ａ）には、予め
設定されているトリガ条件が満たされて成立しトリガ信
号が出力された場合に、（Ｂ）のデータ領域に所定数
（本実施例では２０Ｋ個）の測定データが格納された時
点で順次一括転送格納される。ここで、（Ａ）のデータ
領域の容量は、例えばメモリ全体の記憶容量を５００Ｋ
ワード（測定データ格納数５００Ｋ個）とする本実施例
の場合には２３０Ｋワードになる。これにより、トリガ
信号に関連した２００ｍｓの時間における現象の１００
ＫＨｚのサンプルレートでの２０Ｋ個の測定データを１
群とする最大１１個の突発的な現象に対応した１１群の
測定データ群が格納できることになる。（Ｃ）のデータ
領域には、実質的に測定部１のサンプルレートにくらべ
て１／１０とか１／１００などの低速のサンプルレート
でサンプリングされた測定データが順次格納されること
になり、長期間にわたる測定データが格納できる。
設定されているトリガ条件が満たされて成立しトリガ信
号が出力された場合に、（Ｂ）のデータ領域に所定数
（本実施例では２０Ｋ個）の測定データが格納された時
点で順次一括転送格納される。ここで、（Ａ）のデータ
領域の容量は、例えばメモリ全体の記憶容量を５００Ｋ
ワード（測定データ格納数５００Ｋ個）とする本実施例
の場合には２３０Ｋワードになる。これにより、トリガ
信号に関連した２００ｍｓの時間における現象の１００
ＫＨｚのサンプルレートでの２０Ｋ個の測定データを１
群とする最大１１個の突発的な現象に対応した１１群の
測定データ群が格納できることになる。（Ｃ）のデータ
領域には、実質的に測定部１のサンプルレートにくらべ
て１／１０とか１／１００などの低速のサンプルレート
でサンプリングされた測定データが順次格納されること
になり、長期間にわたる測定データが格納できる。
【００１３】図３はこのような一連の動作の流れを示す
フローチャートである。ステップの基本的な測定は、
測定部１のサンプルレートによる高速サンプルとして行
われる。この測定の過程で、ステップに示すように各
サンプルデータについて逐次設定されている間引きに基
づく低速サンプルデータとして有効か否かが判断され
る。そして、低速サンプルデータとして有効な場合には
ステップに示すように低速サンプルデータ領域（Ｃ）
に格納され、有効でない場合にはステップに示すよう
に高速サンプルデータとして有効か否かが判断される。
そして、高速サンプルデータとして有効な場合にはステ
ップに示すようにトリガ条件成立の有無が判断され、
有効でない場合にはステップへスキップする。トリガ
条件が成立するとステップに示すように高速サンプル
データとして有効なことを示すフラグをオンにし、トリ
ガ条件が成立しない場合にはステップに示すように測
定終了か否かの判断を行う。測定終了の場合にはそれで
一連の動作を終了するが、そうでない場合にはステップ
からの動作を繰り返して実行する。一方、ステップ
で高速サンプルデータとして有効なことを示すフラグを
オンにした後は、ステップに示すように高速サンプル
データがリングバッファメモリ領域（Ｂ）に所定数取り
込まれたか否かが判断される。高速サンプルデータが所
定数取り込まれた場合にはステップに示すようにそれ
らの測定データを高速サンプルデータ領域（Ａ）に転送
格納し、所定数取り込まれていない場合にはステップ
からの動作を繰り返して実行する。リングバッファメモ
リ領域（Ｂ）の測定データを高速サンプルデータ領域
（Ａ）に転送格納した後は、ステップ１０に示すように
高速サンプルデータとして有効なことを示すフラグをオ
フにしてステップからの動作を繰り返して実行する。
フローチャートである。ステップの基本的な測定は、
測定部１のサンプルレートによる高速サンプルとして行
われる。この測定の過程で、ステップに示すように各
サンプルデータについて逐次設定されている間引きに基
づく低速サンプルデータとして有効か否かが判断され
る。そして、低速サンプルデータとして有効な場合には
ステップに示すように低速サンプルデータ領域（Ｃ）
に格納され、有効でない場合にはステップに示すよう
に高速サンプルデータとして有効か否かが判断される。
そして、高速サンプルデータとして有効な場合にはステ
ップに示すようにトリガ条件成立の有無が判断され、
有効でない場合にはステップへスキップする。トリガ
条件が成立するとステップに示すように高速サンプル
データとして有効なことを示すフラグをオンにし、トリ
ガ条件が成立しない場合にはステップに示すように測
定終了か否かの判断を行う。測定終了の場合にはそれで
一連の動作を終了するが、そうでない場合にはステップ
からの動作を繰り返して実行する。一方、ステップ
で高速サンプルデータとして有効なことを示すフラグを
オンにした後は、ステップに示すように高速サンプル
データがリングバッファメモリ領域（Ｂ）に所定数取り
込まれたか否かが判断される。高速サンプルデータが所
定数取り込まれた場合にはステップに示すようにそれ
らの測定データを高速サンプルデータ領域（Ａ）に転送
格納し、所定数取り込まれていない場合にはステップ
からの動作を繰り返して実行する。リングバッファメモ
リ領域（Ｂ）の測定データを高速サンプルデータ領域
（Ａ）に転送格納した後は、ステップ１０に示すように
高速サンプルデータとして有効なことを示すフラグをオ
フにしてステップからの動作を繰り返して実行する。
【００１４】このように構成することにより、同一の測
定信号に対して複数のサンプルレートによる測定を行う
ことができ、１台で複数台を用いた場合と同等の測定結
果が得られる。また、同一の測定信号に対して複数のサ
ンプルレートによる測定を行うことができるので、必要
な場合にのみ高速サンプルデータを取り込むことが可能
になって限りあるメモリ容量を有効に活用できる。
定信号に対して複数のサンプルレートによる測定を行う
ことができ、１台で複数台を用いた場合と同等の測定結
果が得られる。また、同一の測定信号に対して複数のサ
ンプルレートによる測定を行うことができるので、必要
な場合にのみ高速サンプルデータを取り込むことが可能
になって限りあるメモリ容量を有効に活用できる。
【００１５】なお、上記実施例ではサンプルレートを２
種類に設定する例を説明したが、３種類以上についても
適用可能である。この場合、例えばトリガ条件に応じて
それぞれに対応した所望のサンプルレートが任意に選択
できるようにすることも可能であり、応用範囲を広く拡
大できる。また、低速サンプルデータ領域もリングバッ
ファメモリの形態にしておくことも可能であり、これに
より比較的長い時間関係に基づくトリガ条件を設定して
必要な測定データを取り込むこともできる。
種類に設定する例を説明したが、３種類以上についても
適用可能である。この場合、例えばトリガ条件に応じて
それぞれに対応した所望のサンプルレートが任意に選択
できるようにすることも可能であり、応用範囲を広く拡
大できる。また、低速サンプルデータ領域もリングバッ
ファメモリの形態にしておくことも可能であり、これに
より比較的長い時間関係に基づくトリガ条件を設定して
必要な測定データを取り込むこともできる。
【００１６】また、上記実施例ではメモリにおけるデー
タ転送制御について説明したが、これら各サンプルデー
タメモリ４，５に格納された測定データに基づいて各種
のデータ解析を行って解析結果を含む各種データを表示
や印字記録したり、これらのデータ類をフロッピーディ
スクやメモリカードなどの外部メディアに転送格納する
ように構成してもよい。
タ転送制御について説明したが、これら各サンプルデー
タメモリ４，５に格納された測定データに基づいて各種
のデータ解析を行って解析結果を含む各種データを表示
や印字記録したり、これらのデータ類をフロッピーディ
スクやメモリカードなどの外部メディアに転送格納する
ように構成してもよい。
【００１７】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
１台の装置で同一の測定信号を異なる複数のサンプルレ
ートで測定できて各サンプルレートにより複数の突発現
象に対応した測定データ群と長時間にわたる測定データ
を収集格納できる測定データ収集装置が実現でき、長時
間の監視と単発現象の的確な測定解析などに有効であ
る。
１台の装置で同一の測定信号を異なる複数のサンプルレ
ートで測定できて各サンプルレートにより複数の突発現
象に対応した測定データ群と長時間にわたる測定データ
を収集格納できる測定データ収集装置が実現でき、長時
間の監視と単発現象の的確な測定解析などに有効であ
る。
【図１】本発明の一実施例の要部を示すブロック図であ
る。
る。
【図２】図１の構成において２種類のサンプルレートが
設定されている場合の測定データの転送を説明するため
のメモリのデータ領域図である。
設定されている場合の測定データの転送を説明するため
のメモリのデータ領域図である。
【図３】図１および図２の一連の動作の流れを示すフロ
ーチャートである。
ーチャートである。
１ 測定部 ２ リングバッファメモリ ３ トリガ検出回路 ４ 測定データ転送制御部 ５ 第１サンプルデータメモリ ６ 第２サンプルデータメモリ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G06F 3/05 311 G06F 3/05 331 H03M 1/12
Claims (1)
- 【請求項１】測定データを所定のサンプルレートでサン
プリングする測定部と、 前記測定部でサンプリングされる測定データを順次一定
量格納するリング状のバッファメモリと、 測定データの変化状態を監視して所定のトリガ条件が成
立した時点でトリガ信号を出力するトリガ検出回路と、 前記トリガ検出回路から出力されるトリガ信号に基づい
て前記バッファメモリに所定数の測定データが格納され
た時点のこの所定数の測定データを１群とする複数の測
定データ群が高速サンプルデータとして格納される第１
のサンプルデータメモリと、 前記測定部でサンプリングされる測定データが一定の間
隔で間引かれて低速サンプルデータとして順次格納され
る第２のサンプルデータメモリと、 これらバッファメモリと各サンプルデータメモリ間の測
定データの転送を制御する測定データ転送制御部、を設
けたことを特徴とする測定データ収集装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11969193A JP3348422B2 (ja) | 1993-05-21 | 1993-05-21 | 測定データ収集装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11969193A JP3348422B2 (ja) | 1993-05-21 | 1993-05-21 | 測定データ収集装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06332621A JPH06332621A (ja) | 1994-12-02 |
| JP3348422B2 true JP3348422B2 (ja) | 2002-11-20 |
Family
ID=14767677
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11969193A Expired - Lifetime JP3348422B2 (ja) | 1993-05-21 | 1993-05-21 | 測定データ収集装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3348422B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5503865B2 (ja) * | 2008-11-05 | 2014-05-28 | 株式会社明電舎 | 蓄電装置の充放電試験システム |
| WO2022264394A1 (ja) * | 2021-06-18 | 2022-12-22 | 三菱電機株式会社 | Ａｄ変換装置 |
-
1993
- 1993-05-21 JP JP11969193A patent/JP3348422B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06332621A (ja) | 1994-12-02 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3348422B2 (ja) | 測定データ収集装置 | |
| JP2001272421A (ja) | データ蓄積システム | |
| JPH07286893A (ja) | 信号変換装置およびデータ表示システム | |
| JPH05120945A (ja) | 接点消耗監視装置 | |
| JP3102486B2 (ja) | ディジタル保護リレーの解析装置 | |
| JP3185814B2 (ja) | 波形記憶装置 | |
| JPS5811878A (ja) | 開閉器測定装置 | |
| JP3407667B2 (ja) | データ表示方法及びこれを用いた測定器 | |
| JP2676088B2 (ja) | 粒度分布処理装置 | |
| JPH08159817A (ja) | 小型データ収集装置 | |
| JP2676087B2 (ja) | 粒度分布処理装置 | |
| JP2003075205A (ja) | データの収録方法 | |
| JPH11304543A (ja) | 計測装置及び計測データの記憶手段への格納方法 | |
| JPH0446216Y2 (ja) | ||
| JPS5815061B2 (ja) | 質量分析計とコンピユ−タとの間の仲介装置 | |
| JPH04194688A (ja) | 採取データの逐次記憶および再編集機能付ロジックアナライザ | |
| JP2765889B2 (ja) | クロマトデータ処理装置 | |
| JPH01188959A (ja) | 情報履歴記憶装置 | |
| JPS62212848A (ja) | フレキシブルイベントレコ−ダ | |
| JP2000171486A (ja) | 波形測定装置 | |
| JPH0814798B2 (ja) | トレースデータ読出しシステム | |
| JPH0594342A (ja) | コンピユータ性能監視装置 | |
| JPH01260328A (ja) | 振動解析装置 | |
| JPS60196032A (ja) | プラントデ−タ集録装置 | |
| JPS6238317A (ja) | デ−タ収録装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080913 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080913 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090913 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100913 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110913 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110913 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120913 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130913 Year of fee payment: 11 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |