JPS5811878A - 開閉器測定装置 - Google Patents
開閉器測定装置Info
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- JPS5811878A JPS5811878A JP56111165A JP11116581A JPS5811878A JP S5811878 A JPS5811878 A JP S5811878A JP 56111165 A JP56111165 A JP 56111165A JP 11116581 A JP11116581 A JP 11116581A JP S5811878 A JPS5811878 A JP S5811878A
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- memory
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- 230000015654 memory Effects 0.000 claims abstract description 27
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 5
- 238000005070 sampling Methods 0.000 abstract description 4
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/327—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers
- G01R31/3271—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers of high voltage or medium voltage devices
- G01R31/3272—Apparatus, systems or circuits therefor
- G01R31/3274—Details related to measuring, e.g. sensing, displaying or computing; Measuring of variables related to the contact pieces, e.g. wear, position or resistance
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、開閉器の開閉動作の特性を測定する装置に
関する。
関する。
従来、変圧器と負荷間に接続され、適宜タップの切換を
行う開閉器について開閉動作の特性を測定する場合、オ
シロスコープによる波形観測により測定する方法があっ
た。このような方法は、次のような欠点がある。
行う開閉器について開閉動作の特性を測定する場合、オ
シロスコープによる波形観測により測定する方法があっ
た。このような方法は、次のような欠点がある。
（ａ） オシロスコープ上に表示された波形を読み取
る際の読み取り誤差が観測毎に一定せず、しかも大きい
。
る際の読み取り誤差が観測毎に一定せず、しかも大きい
。
（ｂｌ オシロスコープの操作が煩雑かつ同期がとり
にくい。
にくい。
（Ｃ） 測定したデータの平均値、分散等を求めるに
は更に他の手段を用いなげればならない。
は更に他の手段を用いなげればならない。
この発明は、上記のような従来技術の欠点を除去するた
めになされたもので、開閉器の出力端における電圧をサ
ンプリングし、メモリに記憶した後、メモリの内容を演
算処理装置に読み込み、適当に演算処理をすることによ
り測定精度を高めることができる開閉器測定装置を提供
することを目的とする。
めになされたもので、開閉器の出力端における電圧をサ
ンプリングし、メモリに記憶した後、メモリの内容を演
算処理装置に読み込み、適当に演算処理をすることによ
り測定精度を高めることができる開閉器測定装置を提供
することを目的とする。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第１
図において、１は測定対象の開閉器で、可動接点１ａ、
固定接点１ｂ、ｉｃ、ｉｄを有する。２−１は固定接点
１ｂに接続された抵抗、２−２．２−３は互に直列接続
されると共に固定接点１Ｃに接続される抵抗で、抵抗２
−３は開閉器１の限流抵抗器である。２−４は固定接点
１ｄに接続される抵抗、３は開閉器１を介して抵抗２−
１〜２−４に電流を流す電源、４−１〜４−３は抵抗２
−１ 、２−２ 、２−４の電圧Ｖｌ、Ｖ２゜ｖ３が印
加される波形整形器、５−１〜５−３はＲＡＭからなり
、波形整波器４−１〜４−３の出力を１又はＯで記憶す
るメモリ、６はメモリ５−１〜５−３を選択するセレク
タ、７はカウンタよりなり、メモリ５−１〜５−３のア
ドレスを発生するアドレス発生器、８はセレクタ６及び
アドレス発生器γを制御するコントローラ、９はアドレ
ス発生器７をステップさせるクロック信号を発生する発
振器、１０はメモリ５−１〜５−３の出力の論理和をと
ろオア・ゲート、１１はコントローラ８にメモリ指定及
びデータ転送命令を送り、メモリ５−１〜５−３のデー
タを読み込むマイクロコンピュータ、１２はマイクロコ
ンピュータ１１に接続された入出力装置である。
図において、１は測定対象の開閉器で、可動接点１ａ、
固定接点１ｂ、ｉｃ、ｉｄを有する。２−１は固定接点
１ｂに接続された抵抗、２−２．２−３は互に直列接続
されると共に固定接点１Ｃに接続される抵抗で、抵抗２
−３は開閉器１の限流抵抗器である。２−４は固定接点
１ｄに接続される抵抗、３は開閉器１を介して抵抗２−
１〜２−４に電流を流す電源、４−１〜４−３は抵抗２
−１ 、２−２ 、２−４の電圧Ｖｌ、Ｖ２゜ｖ３が印
加される波形整形器、５−１〜５−３はＲＡＭからなり
、波形整波器４−１〜４−３の出力を１又はＯで記憶す
るメモリ、６はメモリ５−１〜５−３を選択するセレク
タ、７はカウンタよりなり、メモリ５−１〜５−３のア
ドレスを発生するアドレス発生器、８はセレクタ６及び
アドレス発生器γを制御するコントローラ、９はアドレ
ス発生器７をステップさせるクロック信号を発生する発
振器、１０はメモリ５−１〜５−３の出力の論理和をと
ろオア・ゲート、１１はコントローラ８にメモリ指定及
びデータ転送命令を送り、メモリ５−１〜５−３のデー
タを読み込むマイクロコンピュータ、１２はマイクロコ
ンピュータ１１に接続された入出力装置である。
第２図は開閉器１の動作を説ＩＪＪするタイムチャート
である。特性を測定するため、可動接点１ａが図示矢印
方向に時刻ｔｏから移動を開始すると時刻ｔ１で可動接
点１ａは固定接点１Ｃに接触し、電源３の電流は抵抗２
−１〜２−３を流れ、抵抗２−１に電圧Ｖｌ、抵抗２−
２に電圧ｖ２が発生する。時刻、ｔ２になると、可動接
点１ａと固定接点１ｂは離れる。時刻ｔ３になると、可
動接点１ａは固定接点１Ｃ１及び１ｄに接触し、抵抗２
−２．２−４に電圧Ｖ２ 、Ｖ３’（ｉ７発生する。時
刻ｔ４になると、可動接点１ａは固定接点１Ｃから離れ
、固定接点１ｄにのみ接触する。時刻ｔ５〜ｔ６間で電
圧Ｖ３がゼロとなったのは、チャツタリングにより可動
接点１ａと固定接点１ｄの接触がなくなったことを示す
。
である。特性を測定するため、可動接点１ａが図示矢印
方向に時刻ｔｏから移動を開始すると時刻ｔ１で可動接
点１ａは固定接点１Ｃに接触し、電源３の電流は抵抗２
−１〜２−３を流れ、抵抗２−１に電圧Ｖｌ、抵抗２−
２に電圧ｖ２が発生する。時刻、ｔ２になると、可動接
点１ａと固定接点１ｂは離れる。時刻ｔ３になると、可
動接点１ａは固定接点１Ｃ１及び１ｄに接触し、抵抗２
−２．２−４に電圧Ｖ２ 、Ｖ３’（ｉ７発生する。時
刻ｔ４になると、可動接点１ａは固定接点１Ｃから離れ
、固定接点１ｄにのみ接触する。時刻ｔ５〜ｔ６間で電
圧Ｖ３がゼロとなったのは、チャツタリングにより可動
接点１ａと固定接点１ｄの接触がなくなったことを示す
。
電圧Ｖｌ、Ｖ２．Ｖ３は、波形整形器４−１〜４−３に
より波形整形された後、そのハイ・レベルが１”のデー
タとしてまたそのロー・レベル（３〕 がＯ”のデータとしてメモリ５−１〜５−３に記憶され
る。即ち、アドレス発生器７は発振器９のクロック信号
によりアドレスを逐次変化させるので、電圧ｖ１．ｖ２
．ｖ３の１又は０の状態が連続的にクロック信号でサン
プリングされ、データとしてメモリ５−１〜５−３に空
間的に配列された形式で記憶される。従って、メモリ５
−１〜５−３の内容は電圧ｖ１〜Ｖ３の波形を記憶した
ものである。
より波形整形された後、そのハイ・レベルが１”のデー
タとしてまたそのロー・レベル（３〕 がＯ”のデータとしてメモリ５−１〜５−３に記憶され
る。即ち、アドレス発生器７は発振器９のクロック信号
によりアドレスを逐次変化させるので、電圧ｖ１．ｖ２
．ｖ３の１又は０の状態が連続的にクロック信号でサン
プリングされ、データとしてメモリ５−１〜５−３に空
間的に配列された形式で記憶される。従って、メモリ５
−１〜５−３の内容は電圧ｖ１〜Ｖ３の波形を記憶した
ものである。
次にマイクロコンピュータ１１のメモリ指定及びデータ
転送指令に応答し、コントローラ８は、セレクタ６を起
動させる。セレクタ６は順次メモリ５−１〜５−３に読
み出し信号を入力する。従って、アドレス発生器７のア
ドレスに従ってメモリ５−１〜５−３のデータが順次読
み出され、データがスイッチ１の動作を示す時系列的な
配列された信号としていわゆる直接メモリ・アクセス（
ＤＭＡ ）でマイクロコンピュータ１１に入力されて読
み取られる。なお、メモリ５−１〜５−３の書き込みに
おいて、発振器９のクロック信号は、（４） マイクロコンピュータ１１のクロック信号よりも高速で
、スイッチ１の動作解析に十分なサンプリング速度を与
える。
転送指令に応答し、コントローラ８は、セレクタ６を起
動させる。セレクタ６は順次メモリ５−１〜５−３に読
み出し信号を入力する。従って、アドレス発生器７のア
ドレスに従ってメモリ５−１〜５−３のデータが順次読
み出され、データがスイッチ１の動作を示す時系列的な
配列された信号としていわゆる直接メモリ・アクセス（
ＤＭＡ ）でマイクロコンピュータ１１に入力されて読
み取られる。なお、メモリ５−１〜５−３の書き込みに
おいて、発振器９のクロック信号は、（４） マイクロコンピュータ１１のクロック信号よりも高速で
、スイッチ１の動作解析に十分なサンプリング速度を与
える。
マイクロコンピュータ１１では入力されたメモリ５−１
〜５−３のデータから電圧ｖ１〜ｖ３の波形を解析し、
これにより更に開閉器１の動作を解析する。この解析に
は、例えば時刻ｔ１〜ｔ４に対応スるメモリ５−１〜５
−３のアドレスを確定することを含む。解析した結果は
、マイクロコンピュータ１１より入出力装置１２に転送
され、例えばグラフで表示されろ。
〜５−３のデータから電圧ｖ１〜ｖ３の波形を解析し、
これにより更に開閉器１の動作を解析する。この解析に
は、例えば時刻ｔ１〜ｔ４に対応スるメモリ５−１〜５
−３のアドレスを確定することを含む。解析した結果は
、マイクロコンピュータ１１より入出力装置１２に転送
され、例えばグラフで表示されろ。
なお、上記実施例では固定接点が３個の場合を説明した
が、４個以上であってもよく、これに必要とするメモリ
の増設等は当業者にとり、上記説明から明らかである。
が、４個以上であってもよく、これに必要とするメモリ
の増設等は当業者にとり、上記説明から明らかである。
以上のように、この発明によれば、開閉器に電流が流れ
る状態で切換動作させ、それによって発生する電圧波形
をサンプリングする形式で、メモＩＪ Ｋ記憶させたの
で、開閉器の特性の解析が容易となり、測定した原始デ
ータを適当に加工して表示器に表示することも容易にで
きる効果がある。
る状態で切換動作させ、それによって発生する電圧波形
をサンプリングする形式で、メモＩＪ Ｋ記憶させたの
で、開閉器の特性の解析が容易となり、測定した原始デ
ータを適当に加工して表示器に表示することも容易にで
きる効果がある。
第１図はこの発明の一実施例による開閉器測定装置のブ
ロック図、第２図は第１図に示す開閉器の動作波形を示
す図である。 １・・・開閉器、２−１〜２−４・・・抵抗、４−１〜
４−３・・・波形整形器、５−１〜５−３・・・メモリ
、６・・・セレクタ、７・・・アドレス発生器、９・・
・発振器、８・・・コントローラ、１１・・・マイクロ
コンピュータ、１２・・・入出力装置。 代理人 葛野信−（ほか１名） （７）
ロック図、第２図は第１図に示す開閉器の動作波形を示
す図である。 １・・・開閉器、２−１〜２−４・・・抵抗、４−１〜
４−３・・・波形整形器、５−１〜５−３・・・メモリ
、６・・・セレクタ、７・・・アドレス発生器、９・・
・発振器、８・・・コントローラ、１１・・・マイクロ
コンピュータ、１２・・・入出力装置。 代理人 葛野信−（ほか１名） （７）
Claims (2)
- （１）配列された複数の固定接点と、これら固定接点に
順次電気的に接触される可動接点とを有する開閉器の特
性を測定する開閉測定装置において、上記固定接点と可
動接点の接触により流れる電流を導（抵抗と、この抵抗
に発生する電圧状態を連続したアドレスで記憶するメモ
リと、このメモリから連続的に変化するアドレスで読み
出されたデータを入力し所定の演算処理をする演算処理
装置とを備えたことを特徴とする開閉器測定装置。 - （２）演算処理装置はメモリのデータを直接メモリ・ア
クセスにより読み込むことを特徴とする特許請求の範囲
第１項記載の開閉器測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56111165A JPS5811878A (ja) | 1981-07-14 | 1981-07-14 | 開閉器測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56111165A JPS5811878A (ja) | 1981-07-14 | 1981-07-14 | 開閉器測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5811878A true JPS5811878A (ja) | 1983-01-22 |
Family
ID=14554119
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56111165A Pending JPS5811878A (ja) | 1981-07-14 | 1981-07-14 | 開閉器測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5811878A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61108981U (ja) * | 1984-12-20 | 1986-07-10 | ||
| US4856829A (en) * | 1987-05-20 | 1989-08-15 | Ohi Seisakusho Co., Ltd. | Pawl structure in a door locking device for a vehicle |
| JPH0231180A (ja) * | 1988-07-21 | 1990-02-01 | Toshiba Corp | 開閉機器の動作時間計測装置 |
| JP2009148117A (ja) * | 2007-12-17 | 2009-07-02 | Kanto Denki Hoan Kyokai | 遮断器の動作時間測定装置 |
-
1981
- 1981-07-14 JP JP56111165A patent/JPS5811878A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61108981U (ja) * | 1984-12-20 | 1986-07-10 | ||
| US4856829A (en) * | 1987-05-20 | 1989-08-15 | Ohi Seisakusho Co., Ltd. | Pawl structure in a door locking device for a vehicle |
| JPH0231180A (ja) * | 1988-07-21 | 1990-02-01 | Toshiba Corp | 開閉機器の動作時間計測装置 |
| JP2009148117A (ja) * | 2007-12-17 | 2009-07-02 | Kanto Denki Hoan Kyokai | 遮断器の動作時間測定装置 |
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