JP3238867B2 - 電池電圧測定方法および装置 - Google Patents

電池電圧測定方法および装置

Info

Publication number
JP3238867B2
JP3238867B2 JP24944596A JP24944596A JP3238867B2 JP 3238867 B2 JP3238867 B2 JP 3238867B2 JP 24944596 A JP24944596 A JP 24944596A JP 24944596 A JP24944596 A JP 24944596A JP 3238867 B2 JP3238867 B2 JP 3238867B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
battery
conversion
sample
value
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP24944596A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH1090309A (ja
Inventor
賢一 大塚
隆 新保
Original Assignee
菊水電子工業株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 菊水電子工業株式会社 filed Critical 菊水電子工業株式会社
Priority to JP24944596A priority Critical patent/JP3238867B2/ja
Publication of JPH1090309A publication Critical patent/JPH1090309A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3238867B2 publication Critical patent/JP3238867B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Tests Of Electric Status Of Batteries (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は電池電圧測定方法お
よび装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、例えば携帯電話器等のデジタル通
信機器に使用されるバッテリ(電池)の負荷電流は、デ
ジタル信号をメインに扱うことから、パルス状になる。
このような機器に使用されるバッテリの性能を調べる方
法としてパルス状負荷電流時のバッテリの端子間電圧を
測定する方法が知られている。
【0003】バッテリの端子間電圧の変動は、バッテリ
の容量減少や劣化等により次第に大きくなる。従って、
上述のような用途に使用するバッテリの能力を試験する
ために、バッテリにパルス状の負荷電流を流し、その時
の端子間電圧の変動を測定する。これによってバッテリ
の状態を評価し、判断することができる。バッテリの端
子間電圧を測る方法としては、一般的には電圧計やオシ
ロスコープ等で観測する方法が知られているが、これは
高分解能の測定値が要求される上述のような用途の場合
には適用できない。
【0004】高分解能を有する従来の電池電圧測定方法
として、ピーク検出回路を用いて、無負荷時の端子間電
圧とフル負荷時の端子間電圧との差を検出する方法が知
られている(例えば、特開平7−55850号公報参
照)。このピーク検出回路は、電池の端子間電圧をサン
プルし、コンデンサにホールドする。このピーク検出回
路の出力はA/D変換器等の電圧測定手段に供給する。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上述のピーク検出回路
を用いた従来の電池電圧測定方法においては、ピーク検
出回路のコンデンサにホールドした電圧が時間の経過に
従って降下する。したがって、上記ピーク検出回路にお
いて、比較的短い周期でサンプリングを行った場合と、
比較的長い周期でサンプリングを行った場合とでは、A
/D変換器に供給するホールド電圧(のドループ)は異
なったものとなる。そのため、サンプリング周期の長短
によって電圧測定結果が異なってしまい、信頼性に欠け
ることになる。また、サンプリングをランダムに行う、
いわゆるランダムサンプリングの場合は、例えば、電池
の負荷条件を変化させたときに、必ずしもその条件の変
わったポイントの電池電圧をサンプリングできていると
いう確証は全く無く、信頼性は極めて低い。そこで本発
明の目的は以上のような問題を解消した電池電圧測定方
法および装置を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
請求項1の発明は、複数の値の定電流が順次変化する電
流を電池に繰り返し供給し、A/D変換可能なタイミン
グで、前記複数の値の定電流のいずれかを供給している
間、前記電池の端子間電圧をサンプルホールドし、前記
各サンプルホールドによって得られた電圧を、当該各サ
ンプルホールドのタイミングから一定のタイミングでA
/D変換して測定値として出力することを特徴とする。
【0007】また、請求項2の発明は、複数の値の定電
流が順次変化する電流を電池に繰返し供給する定電流供
給手段と、前記電池の端子間電圧を検出する電圧検出手
段と、前記電圧検出手段の出力をサンプルホールドする
サンプルホールド手段と、前記サンプルホールド手段の
アナログ出力をデジタル出力に変換するA/D変換手段
と、測定すべき値の定電流供給タイミングと前記A/D
変換手段の待機中のタイミングとが一致したときに前記
A/D変換手段の変換を開始させる制御手段と、前記A
/D変換手段のデジタル出力を測定値として出力する出
力手段とを具えたことを特徴とする。
【0008】
【発明の実施の形態】図1は本発明を適用した電池電圧
測定装置のブロック図であり、1対の電池入力端に電源
1(Vcc)と定電流コントローラ2との直列回路が接
続されている。この1対の電池入力端には、外部から測
定すべき電池3が接続される。また、1対の測定入力端
には、電池3の両端子から直接導いたリード線が接続さ
れる。
【0009】定電流コントローラ2は、外部からの基準
値に応答する電流が電池3に流れるように制御する。電
圧検出用の増幅器4は、1対の測定入力端からの電圧を
入力し、出力として電池3の端子間の電圧検出値を出力
する。5はサンプルホールド回路であって、入出力端間
に接続されたスイッチ5Aと、入力端に入力された増幅
器4からの出力をスイッチ5Aを介してホールドするた
めのコンデンサ5Bとを有し、スイッチ5Aは、入力端
からコンデンサ5Bへの信号の供給をオンオフ制御す
る。サンプルホールド回路5のアナログ出力は、A/D
変換器6に入力され、そこでデジタル値に変換され、A
/D変換後の電圧値はCPU7に入力される。CPU7
は、ROM8内に格納された図2に示す如き制御手順を
実行する。また、CPU7は外部のホストコンピュータ
との間で情報を交換し、サンプルホールド回路5のスイ
ッチ5Aの開閉をコントロールし、A/D変換器6の変
換開始をコントロールし、さらにタイマを内蔵してい
る。
【0010】9はRAMであって、CPU7の作業領域
の他に後述する電流値レジスタ、設定時間、計測値ポイ
ンタ、および計測結果等の記憶領域を有する。電流値レ
ジスタはa〜dの4つの値を格納し、計測値ポインタは
前記a〜dのうちの1つを順番に示すことを繰返す。
【0011】10はD/A変換器であって、CPU7か
らの電流設定値を設定時間だけD/A変換して、定電流
コントローラ2に基準値として供給する。
【0012】図3は図1の構成の各部における信号波形
およびタイミングを示すものであって、Aはa〜dの4
段階に順次変化し、これを繰返す定電流コントローラ2
の基準値としての設定電流波形であり、BはAの電流を
定電流コントローラ2によって電池3に流したときの電
池3の端子間電圧波形(電圧検出用の増幅器4の出力波
形)であり、CはA/D変換器6の状態、すなわち、A
/D変換中か、待機中かを示すものであり、Dはサンプ
ルホールド回路5のサンプルホールド電圧であって、記
号a′〜d′はBのa′〜d′の電圧のサンプルホール
ド電圧であることを示すものであり、Eはサプルホール
ド回路5のスイッチ5Aのオン期間、すなわち、サンプ
ル期間(アクイジションタイム)を示すものであり(各
期間は全て同じ値である)、FはA/D変換器6に供給
するA/D変換開始のための信号である。
【0013】ついで、図2,図3を参照して本装置の動
作を説明する。
【0014】まず、CPU7は、ホストコンピュータか
ら、定電流コントローラ2に対する基準値としての電流
値およびその時間幅のデータを受信してRAM9に格納
する。その電流値は図3のAに示す通りであって、a〜
dの順次小さくなる4段階の値である。なお、計測値ポ
インタは初期値としてaを示す。
【0015】ついでCPU7は測定を開始し(スター
ト)、まず、電流値レジスタにaを設定し、aに対応す
る信号をD/A変換器10に供給し、これに応答してD
/A変換器10はaに相当する基準値を定電流コントロ
ーラ2に供給開始する(S1)。ついでS2で電流値a
に対応する時間幅をタイマに設定する。ついで、サンプ
ルホールド実行判定を行う(S3)。すなわち、A/
D変換器6からの待機中(すなわち、変換可能である)
であることを示す信号ADRDYが入力されていると
き、現在設定中の電流値と計測値ポインタの示す値と
が一致している、以上のかつであるときはS4に進
み、それ以外のときはS8に進む。
【0016】S3において判定を行うことによりA/D
変換器6が待機中であり、かつ電流値レジスタが現在設
定中の電流値と計測値ポインタの示す値とが一致してい
るときはS4に進み、サンプルホールド回路5のスイッ
チ5Aを一定時間(アクイジションタイム)の間、閉じ
る(図3中、t1〜t2)。これによって、コンデンサ
5Bに定電流コントローラ2によって流された電流aに
応答して生じた電池3の両端電圧a′に相当する測定電
圧がホールドされる。ついでS5でA/D変換回路6に
変換開始信号を送出し、これを受けてA/D変換器6は
サンプルホールド回路5の出力(ホールド電圧)をA/
D変換開始する。
【0017】ついでS6でタイマを監視して現在電流値
レジスタに設定中の電流値(a)に対応する時間幅が経
過するまで待ち、ついでS7で計測値ポインタをaから
次のbに更新すると共に電流値レジスタをaからbに更
新し、S1に戻る。
【0018】S3でA/D変換器6がA/D変換中であ
るとき、および/または電流値レジスタが現在設定中の
電流値と計測値ポインタの示す値とが一致していないと
き(例えば図3中、t4)はS8に進み、タイマを監視
して電流値レジスタに設定中の電流値(b)に対応する
時間幅が経過するまで待ち、S9で電流値レジスタを
(bからcに)更新し、S1に戻る。S3において、例
えば、図3中、t5のタイミングであって(すなわち、
A/D変換器6は待機中で電流値レジスタはbを設定
中)、計測値ポインタがbを示していれば、S4に進
み、電流値bについて前述したと同様の処理(S4〜S
7)が行われる。このようにして計測値ポインタが示す
順、すなわち、電流値aからdの順にA/D変換が行わ
れ、これが繰返される。また、サンプルホールド回路5
によるサンプル開始のタイミングおよびアクイジション
タイムが定電流コントローラ2による各定電流(a〜
d)のタイミングに対して常に一定であり、A/D変換
の開始タイミングがサンプルホールドのタイミングに対
して常に一定であるので、A/D変換器6には、常に安
定な状態で、すなわち、サンプルホールド回路5からの
出力電圧(コンデンサ5Bのドループ)が常に一定の状
態で入力されることになり、このため非常に正確なA/
D変換値が得られる。
【0019】なお、A/D変換器6のA/D変換終了時
点で、その変換した電圧値はCPU7に供給され、RA
M9の所定の記憶領域に記憶される。この所定の領域に
は、A/D変換器6からのA/D変換後の電圧値が順番
に(すなわちa,b,c,d,a,…)記憶され、例え
ばCPU7は、A/D変換後の電圧値が所定領域に記憶
される毎に、または、外部のホストコンピュータから要
求がある毎に、この所定領域からHigh電圧値とし
て、aについての最も新しい電圧値を読み出し、Low
電圧としてdについての最も新しい電圧値を読み出し
て、これを測定値として外部のホストコンピュータに送
出する。
【0020】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、電
池電圧を極めて正確に測定することができる。
【0021】また、各定電流の値および時間幅を広範囲
に採用しても安定な測定を行うことができる。このこと
は電池電圧測定時のトリガポイント、ゲートタイムなど
の煩わしい設定を全く必要としないということであっ
て、極めて操作性に優れている。
【0022】さらに、例えばピーク電圧とディップ電圧
とを比較選出することもできる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明装置のブロック図である。
【図2】同装置の動作フローチャートである。
【図3】同装置の各部の信号波形を示す図である。
【符号の説明】
1 電源 2 定電流コントローラ 3 電池 4 増幅器 5 サンプルホールド回路 6 A/D変換器 7 CPU 8 ROM 9 RAM

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の値の定電流が順次変化する電流を
    電池に繰り返し供給し、 A/D変換可能なタイミングで、前記複数の値の定電流
    のいずれかを供給している間、前記電池の端子間電圧を
    サンプルホールドし、 前記各サンプルホールドによって得られた電圧を、当該
    各サンプルホールドのタイミングから一定のタイミング
    でA/D変換して測定値として出力することを特徴とす
    る電池電圧測定方法。
  2. 【請求項2】 複数の値の定電流が順次変化する電流を
    電池に繰返し供給する定電流供給手段と、 前記電池の端子間電圧を検出する電圧検出手段と、 前記電圧検出手段の出力をサンプルホールドするサンプ
    ルホールド手段と、 前記サンプルホールド手段のアナログ出力をデジタル出
    力に変換するA/D変換手段と、 測定すべき値の定電流供給タイミングと前記A/D変換
    手段の待機中のタイミングとが一致したときに前記A/
    D変換手段の変換を開始させる制御手段と、 前記A/D変換手段のデジタル出力を測定値として出力
    する出力手段とを具えたことを特徴とする電池電圧測定
    装置。
JP24944596A 1996-09-20 1996-09-20 電池電圧測定方法および装置 Expired - Lifetime JP3238867B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24944596A JP3238867B2 (ja) 1996-09-20 1996-09-20 電池電圧測定方法および装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24944596A JP3238867B2 (ja) 1996-09-20 1996-09-20 電池電圧測定方法および装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH1090309A JPH1090309A (ja) 1998-04-10
JP3238867B2 true JP3238867B2 (ja) 2001-12-17

Family

ID=17193081

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP24944596A Expired - Lifetime JP3238867B2 (ja) 1996-09-20 1996-09-20 電池電圧測定方法および装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3238867B2 (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JPH1090309A (ja) 1998-04-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2593106B2 (ja) 入力信号の最大値最小値検出装置
JPH06148279A (ja) 電子デバイス試験・測定装置、およびそのタイミングならびに電圧レベル校正方法
EP0990166B1 (en) Integrated circuit tester including at least one quasi-autonomous test instrument
US6990416B2 (en) Qualification signal measurement, trigger, and/or display system
JP3238867B2 (ja) 電池電圧測定方法および装置
US6445207B1 (en) IC tester and IC test method
JPH0633701Y2 (ja) オートレンジ回路
US20030220758A1 (en) Method for testing an AD-converter
JP2598710B2 (ja) Icの入力スレショルド測定装置
JP2709982B2 (ja) Icテスター
JP3163568B2 (ja) Ic試験装置
JPH11174114A (ja) 半導体装置の測定方法及び測定装置
JPS6394166A (ja) 波形測定装置
JP2000227448A (ja) Dc測定装置
SU1580283A1 (ru) Цифровой омметр
JPH05119120A (ja) スレツシユホ−ルドレベル測定装置
JPS59120964A (ja) 電流計測回路
JP2008275411A (ja) モニタリング装置
JPS5951369A (ja) 自動特性測定装置
JPH04249779A (ja) 半導体のテスト装置
JP2001174513A (ja) 半導体集積回路装置
JPH0476490A (ja) 時間計測装置
JPH03274467A (ja) デジタルオシロスコープ
JPH0718282U (ja) 電流電圧測定装置
JPH01123530A (ja) D/a変換器の単調増加特性測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071005

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081005

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091005

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101005

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111005

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121005

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131005

Year of fee payment: 12

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term