JP3346809B2 - プラズマベーク炉 - Google Patents

プラズマベーク炉

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宏仁 佐合
英也 小針
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  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体ウェハやガラス基
板等の被処理物表面に塗布した膜のキュアリング等に用
いるプラズマベーク炉に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体ウェハ上にSiO2、ホスフォシリ
ケートガラス(PSG)、ボロンホスフォシリケートガ
ラス(BPSG)、チッ化膜等を、又ガラス基板表面に
SiO2膜を形成する方法として、これら基板表面に上記
被膜の形成用塗布液を塗布した後、ベーク炉でキュアリ
ングする方法が従来から行なわれている。
【0003】そして、従来のベーク炉の構造は、ベース
プレート上に反応チャンバーを固定し、この反応チャン
バーの外周にヒータを配置し、更に反応チャンバー内に
は下方から多数の被処理物を収納した保持具を挿入可能
とし、反応チャンバー内を減圧することで、被処理物表
面に形成された塗膜中の溶剤を蒸発せしめて除去し、こ
の後加熱してキュアリングを行なうようにしている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記のキュ
アリングを行なう場合、プラズマ雰囲気で行なうと、膜
質の改善がなされることが判明した。しかしながら従来
のプラズマ処理装置は、チャンバーの外周に筒状或いは
半割り筒状の電極を配置した構造になっている。このよ
うなプラズマ処理装置の外側にヒータを配置した場合、
ヒータからの熱が電極によって遮断されチャンバー内を
高温にすることができない。尚、ヒータの外側に電極を
配置した場合にはチャンバー内にプラズマを発生せしめ
ることが困難となる。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決すべく本
発明は、ベースプレート上に設けられる処理チャンバー
の外側に加熱装置を配置するとともに、この加熱装置と
チャンバーとの間に加熱装置からチャンバーへの放射熱
を遮断しない形状のプラズマ発生用電極、例えば複数の
帯状または棒状電極からなるプラズマ発生用電極を設け
た。
【0006】
【作用】チャンバーの外側に配置した加熱装置によりチ
ャンバー内が高温に加熱されるとともに、プラズマ発生
用電極にてチャンバー内にはプラズマが発生し、チャン
バー内の被処理物は、高真空、高温及びプラズマ雰囲気
下でキュアリング処理される。
【0007】
【実施例】以下に本発明の実施例を添付図面に基づいて
説明する。ここで、図1は本発明に係るプラズマベーク
炉の縦断面図、図2はチャンバーの斜視図、図3はプラ
ズマ発生用電極の配置例を示す平面図である。
【0008】プラズマベーク炉はベースプレート1に開
口2を形成し、この開口2に真空引き装置につながる図
示しない配管を取り付け、また開口2を跨ぐように合成
石英等からなる被処理物保持具4を固定し、この被処理
物保持具4に半導体ウェハやガラス基板等の被処理物W
をセットしている。
【0009】また、被処理物保持具4の外側には昇降体
5を配置している。この昇降体5は図示しないシリンダ
ユニットにより上下動可能とされ、その下面には円環状
のシール部材6を取り付けている。
【0010】昇降体5の内側部分には合成石英等からな
るベルジャー型のチャンバー7の下端を固定し、昇降体
5の上には加熱装置8を固定している。この加熱装置8
は断熱壁9の内側面にヒータ線10を配置し、断熱壁9
の外側をステンレスケース等で囲うようにしている。
【0011】尚、図1においてはチャンバー7及び加熱
装置8をベースプレート1に対して昇降自在とし、被処
理物保持具4をベースプレート1に固定したが、チャン
バー7及び加熱装置8をベースプレート1に固定し、被
処理物保持具4をベースプレート1に形成した開口2を
介して昇降自在としてもよい。
【0012】一方、チャンバー7の外周にはプラズマ発
生用電極11を配置している。このプラズマ発生用電極
11は上下方向に伸び且つ周方向に配置される複数本
(図示例では6本)の帯状電極11a…からなる。そし
て、帯状電極11a…のうちの所定の本数(図示例では
4本)を高周波電源12に接続し、残りの帯状電極(図
示例では2本)をアースしている。また帯状電極11a
…の上端はチャンバー7の一部に形成した係止部13に
嵌め込まれ、更に係止部13の内側に入り込む部分には
熱膨張によって係止部13を破損するのを防止するため
のスリット11bを形成している。尚、帯状電極11a
の本数は任意であり、またどの帯状電極を高周波電源1
2に接続するかも任意であり、更に帯状電極の代わりに
棒状電極としてもよい。
【0013】図4及び図5はプラズマ発生用電極11の
別実施例を示し、図4に示すプラズマ発生用電極11に
あっては高周波電源12に接続する帯状電極11a…の
上下の端部間及びアースされた帯状電極11a…の上下
の端部間を電気的に接続し、チャンバー7内にプラズマ
がより均一に発生するようにしている。また、図5に示
すプラズマ発生用電極11は筒状のメッシュ電極として
いる。尚、メッシュ電極の代わりにパンチングメタルに
て筒状のプラズマ発生用電極11を構成してもよい。
【0014】図6はチャンバー7と加熱装置8とを独立
して昇降させるようにした別実施例を示す。即ち、加熱
装置8をチャンバー7を支持する昇降体5とは別の昇降
体14上に支持し、キュアリング前に加熱装置8のみを
上昇させることで、チャンバー7内の温度を速やかに低
下せしめることができ、低温下(200℃程度)つまり
縮合反応を起こさない温度で溶剤のみを蒸発させること
ができ、膜強度を高めることができる。
【0015】
【発明の効果】以上に説明したように本発明によれば、
処理チャンバーの外周にプラズマ発生用の電極を設ける
とともに、この電極よりも外側に加熱装置を配置し、し
かも電極の形状を帯状、棒状、パンチング或いはメッシ
ュ等のように、加熱装置からチャンバーへの放射熱を遮
断しないものとしたので、プラズマ雰囲気下でキュアリ
ング処理することができ、膜質の改善等が有効に行なえ
る。なお、本発明のプラズマベーク炉を用いれば、塗布
された被膜に、まずプラズマ処理することによって被膜
を改質し、続いて加熱処理することによって被膜中の溶
剤を揮発除去せしめることもできる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るプラズマベーク炉の縦断面図
【図2】チャンバーの斜視図
【図3】プラズマ発生用電極の配置例を示す平面図
【図4】プラズマ発生用電極の別実施例を示す図2と同
様の図
【図5】プラズマ発生用電極の別実施例を示す図2と同
様の図
【図6】別実施例に係るプラズマベーク炉の縦断面図
【符号の説明】
1…ベースプレート、2…開口、4…被処理物保持具、
5,14…昇降体、7…チャンバー、8…加熱装置、1
1…プラズマ発生用電極、11a…帯状電極、12…高
周波電源。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平5−160042(JP,A) 特開 昭63−81920(JP,A) 特開 平3−11621(JP,A) 特開 平4−302146(JP,A) 実開 平1−118434(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/31

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ベースプレートに対して昇降可能とされ
    たチャンバーと、ベースプレートに形成した開口を介し
    て前記チャンバー内に臨むかベースプレートに形成した
    開口を跨ぐように固設された被処理物保持具と、前記チ
    ャンバーの外側に配置される加熱装置と、前記チャンバ
    ーと前記加熱装置との間に配置され且つ加熱装置からチ
    ャンバーへの放射熱を遮断しない形状とされたプラズマ
    発生用電極とからなることを特徴とするプラズマベーク
    炉。
  2. 【請求項2】 前記チャンバーと加熱装置とが独立して
    昇降動することを特徴とする請求項1に記載のプラズマ
    ベーク炉。
  3. 【請求項3】 前記プラズマ発生用電極は上下方向に伸
    びる複数本の帯状または棒状電極からなり、これら帯状
    または棒状電極はチャンバーの外側面に周方向に配置さ
    れ、更に帯状または棒状電極のうち高周波電源に接続さ
    れる電極同士は上端部間及び下端部間が電気的に接続さ
    れ、またアースされる電極同士は上端部間及び下端部間
    が電気的に接続されていることを特徴とする請求項1に
    記載のプラズマベーク炉。
  4. 【請求項4】 前記プラズマ発生用電極はチャンバー外
    周を囲むように配置される筒状のパンチング電極または
    メッシュ電極であることを特徴とする請求項1に記載の
    プラズマベーク炉。
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