JPS6032972B2 - エツチング装置 - Google Patents

エツチング装置

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JPS6032972B2
JPS6032972B2 JP52147071A JP14707177A JPS6032972B2 JP S6032972 B2 JPS6032972 B2 JP S6032972B2 JP 52147071 A JP52147071 A JP 52147071A JP 14707177 A JP14707177 A JP 14707177A JP S6032972 B2 JPS6032972 B2 JP S6032972B2
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JP
Japan
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etching
electrode
electrodes
etching rate
plasma
Prior art date
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Expired
Application number
JP52147071A
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English (en)
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JPS5480080A (en
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巽 水谷
英雄 小松
進也 飯田
征喜 原田
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は2ケの電極を有しその一方の電極上の被エッチ
ング試料を設置して両軍極間に高周波電界を印加し、グ
ロ−放電プラズマを発生させて試料をエッチングするエ
ッチング装置に関する。
従来、アルミニウムをガスプラズマによりエッチングす
ることは困難であったが、最近、2枚の円板電極を内蔵
した所謂平行平板型2極プラズマエッチング装置を用い
て、三塩化ホウ素もしくは四塩化炭素のガスの高周波グ
ロー放電プラズマにより、アルミニウムのエッチング加
工が可能となった。プラズマエッチング法により、半導
体装置のAそ配線を加工すると、ホトレジストマスクパ
ターンを正確に転写したエッチング加工が可能であるの
で、従来の緑式エッチング法に比べて、微細なAそ配線
を高精度に形成できるという著しい技術的利点がある。
しかし、グロー放電プラズマを用いたエッチングにおい
ては、ホトレジストのプラズマ灰化等において周知のよ
うにエッチング速度のウヱーハ内、ゥェーハ間の不均一
が著しい。
平行平板型2極プラズマエッチング装置を用いてAその
エッチングの場合にも、エッチング速度の均一性は悪く
、ウェーハ内、ウェーハ間とも±20%以上の不均一性
を示すことが多い。プラズマエッチング法は微細加工法
において従来の湿式エッチング法に優れているが、Aそ
のエッチング速度と熱酸化Si02等Aその下地材料と
のエッチング速度の比が十分大きくなく通常1硯華度の
値であるため、Aそのエッチングが終了したあとも、下
地材料のエッチングが進行する。したがって、上記のご
とくエッチング速度の不均一性が大きい場合には、エッ
チングが完全に終了する時点では、下地材料が相当程度
の深さまでエッチングされてしまう問題がある。このた
め、Aそのエッチング速度をウヱーハ内、ウェーハ間で
十分に均一にすることは不可欠の要求である。本発明は
、上記不均一性のうち、ゥェーハ間のエッチング速度の
不均一性の抑制に関するものである。本発明は、真空槽
内に2電極を内蔵し、その−方に被エッチング試料を設
置して、電極間に高周波電界を印加してグロー放電プラ
ズマを発生させて試料をエッチングするエッチング装置
において、エッチング速度の均一性を向上するため、従
来、もっぱら平板型の電極が用いられたのを、2電極の
一方または両方を湾曲した形状にすることを特徴とする
三塩化ホウ素のガスプラズマにより、アルミニウムをエ
ッチングする場合、三塩化ホウ素ガス圧力0.17ro
rr、高周波電力密度0.25W/地の条件で、アルミ
ニウムのエッチング速度が第1図に示すような電極間隔
依存性を示すことが見出された。
他方、アルミニウムのエッチング速度は電極板上で第2
図に示したように電極板中心で大きく、周辺で小さいエ
ッチング速度の分布を示す。上記の2つの事実から、電
極板周辺で2電極間隔が大きく、中心で2電極を小さく
するような電極形状によって、電極板上でのエッチング
速度を均一にできると期待される。たとえば、高周波電
極上に被エッチング試料を設置する場合、操作性の点か
ら高周波電極は平板のままとし、対向する接地電極を湾
曲させるのが望ましい。
この場合、湾曲の曲率は、例えば2電極の中心での間隔
が7側の場合、高周波電極の直径の1.封音、10柳の
場合1.3倍、2仇吻の場合0.鱗音、30皿の場合は
0.8倍程度が、エッチング速度の均一性を得るために
望ましく、これ以外の場合もこれと見合った曲率とする
。平行平板型電極構造のもとではアルミニウムのエッチ
ング速度は電極板表面の各場所で±20%以上のばらつ
きを示すのに対し、上記の湾曲した電極を使用すると±
5%以下の均一性が得られた。本発明は、上記のごとく
接地電極板を湾曲させることを特徴とする装置に限らず
、請求範囲に述べたように、対向する両軍極の中心部で
電極間隔が小さく、周辺部で大きくなるような電極形状
すべてを含むものである。
以下、実施例により本発明をさらに詳細に説明する。
実施例 第3図は、本実施例におけるエッチング装置の断面を示
すものである。
真空槽1内の直径50山肌の高周波電極2に対向して、
曲率半径40仇奴で湾曲した形状を有する接地電極3を
中心部での両電極の間隔を3仇妙こなるように保持する
高周波電極2上に厚さ1山mのAそを蒸着したシリコン
ウヱ−ハ4を任意枚数載せ、真空槽1内を真空ポンプ5
により排気したのち、三塩化ホウ素または四塩化炭素ガ
スをガス導入口6より導入して、真空槽内圧力を0.1
〜0.汀onとし、高周波電源7により高周波電極2に
高周波電力を印加すると高周波グロー放電プラズマが、
両電極間に発生し、プラズマ中の活性イオンまたはラジ
カルにより、Aそのエッチングが進行する。
上記のように、湾曲した形状を有する接地電極を用いる
と、高周波電極上での高周波電界が均一になり、従って
グロ−放電により発生するプラズマの密度が均一になる
ので、Aそのエッチング速度は該高周波電極2上全面で
均一になる。
そのため、任意枚数のAそ試料4のエッチングを同時に
終了できる。
【図面の簡単な説明】
第1図はプラズマエッチング装置における電極間隔とA
そのエッチング速度との関係を示す線図である。 第2図はプラズマエッチング装置における電極坂上のA
そのエッチング速度分布を示す図である。第3図は本発
明の−実施例におけるエッチング装置の断面図を示す。
多′図 多々図 多6図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 真空槽内に互いに対向して配置された二枚の板状電
    極と、上記真空槽内に所望のガスを導入させる手段と、
    上記ガスをグロー放電させることによつて上記真空槽内
    に置かれた被エツチング物をエツチングする手段をそな
    え、上記真空槽内の少なくとも一方は、対向する中央近
    傍の間隔が小さく、周辺部の間隔が大きいように湾曲し
    ていることを特徴とするエツチング装置。
JP52147071A 1977-12-09 1977-12-09 エツチング装置 Expired JPS6032972B2 (ja)

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JP52147071A JPS6032972B2 (ja) 1977-12-09 1977-12-09 エツチング装置

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JPS5480080A JPS5480080A (en) 1979-06-26
JPS6032972B2 true JPS6032972B2 (ja) 1985-07-31

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JPS5842234A (ja) * 1981-09-04 1983-03-11 Kokusai Electric Co Ltd プラズマ・ドライエツチング装置
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JPS52127168A (en) * 1976-04-19 1977-10-25 Fujitsu Ltd Etching unit

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