JP3322768B2 - 記録再生装置及び記録媒体の交代処理方法 - Google Patents
記録再生装置及び記録媒体の交代処理方法Info
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
- G11B20/10—Digital recording or reproducing
- G11B20/18—Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs
- G11B20/1816—Testing
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B2220/00—Record carriers by type
- G11B2220/20—Disc-shaped record carriers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、記録媒体の欠陥セクタ
の交代処理を行う記録再生装置に関する。近年、記録再
生装置は低価格化と大容量化が要求されている。記録再
生装置は信頼性を保持するために試験を行い、記録媒体
に記録不良のセクタが存在するときには、別のセクタに
交代する処理が行われる。この場合、記録の大容量化に
伴って総セクタ数が増大し欠陥セクタの数も増加するこ
とから、試験時間を従前と同じにすると信頼性が保てな
い。そのため、試験時間を短縮させても十分な信頼性を
得る必要がある。
の交代処理を行う記録再生装置に関する。近年、記録再
生装置は低価格化と大容量化が要求されている。記録再
生装置は信頼性を保持するために試験を行い、記録媒体
に記録不良のセクタが存在するときには、別のセクタに
交代する処理が行われる。この場合、記録の大容量化に
伴って総セクタ数が増大し欠陥セクタの数も増加するこ
とから、試験時間を従前と同じにすると信頼性が保てな
い。そのため、試験時間を短縮させても十分な信頼性を
得る必要がある。
【０００２】
【従来の技術】従来、記録再生装置としての磁気ディス
ク装置において、媒体検査は、リード波形をアナログで
スライスし、振幅の小さい部分と大きい部分とを欠陥部
として登録するアナログ方式が主流であったが、装置の
低価格化と量産化に伴ってデジタルテストが主流となっ
てきている。デジタルテストは、データをライトしてエ
ラーした部位を欠陥部として登録する方法である。
ク装置において、媒体検査は、リード波形をアナログで
スライスし、振幅の小さい部分と大きい部分とを欠陥部
として登録するアナログ方式が主流であったが、装置の
低価格化と量産化に伴ってデジタルテストが主流となっ
てきている。デジタルテストは、データをライトしてエ
ラーした部位を欠陥部として登録する方法である。
【０００３】アナログ方式やデジタルテストの何れにお
いてもセクタ数が増大すると欠陥数も増大し、試験が長
時間化し、製造コストが高騰する。そこで、試験時間を
短縮させるものとして、自動交代処理やベリファイ処理
を行わせる方法が知られている。自動交代処理はディス
クのフォーマット時に欠陥部分を検索してスペアセクタ
に自動的に交代させるもので、ベリファイ処理はライト
した直後に読み出してチェックするものである。
いてもセクタ数が増大すると欠陥数も増大し、試験が長
時間化し、製造コストが高騰する。そこで、試験時間を
短縮させるものとして、自動交代処理やベリファイ処理
を行わせる方法が知られている。自動交代処理はディス
クのフォーマット時に欠陥部分を検索してスペアセクタ
に自動的に交代させるもので、ベリファイ処理はライト
した直後に読み出してチェックするものである。
【０００４】また、ＥＣＣ（Error Correction Code)や
オフセットリードでデータ救済を行い、かつ自動交代処
理でサポートし、それでも発生した微小欠陥に対して交
代を行って信頼性の向上を図ることも知られている。こ
こで、図１５に、従来の交代セクタの説明図を示す。図
１５はトラック１１におけるセクタ０〜１２を示したも
ので、例えばＬＢＡ（Logical Block Address)６が欠陥
ブロックであることが検出された場合にスペアセクタに
ブロック６を交代ブロックとして割り付けるものであ
る。
オフセットリードでデータ救済を行い、かつ自動交代処
理でサポートし、それでも発生した微小欠陥に対して交
代を行って信頼性の向上を図ることも知られている。こ
こで、図１５に、従来の交代セクタの説明図を示す。図
１５はトラック１１におけるセクタ０〜１２を示したも
ので、例えばＬＢＡ（Logical Block Address)６が欠陥
ブロックであることが検出された場合にスペアセクタに
ブロック６を交代ブロックとして割り付けるものであ
る。
【０００５】また、図１６に、従来の試験方法の説明図
を示す。図１６は磁気ディスク装置の微小欠陥に対する
もので、まずフォーマット時に欠陥部を検出し、回復不
能な欠陥セクタを自動交代する（ステップ（Ｓ）１０
１）。続いて、一面につき数時間の長時間ランニングを
行う（Ｓ１０２）。このとき、ＥＣＣ機能、フォーマッ
ト／サーティファイ（保証）機能により機能試験、信頼
度保証を行い、かつ微小欠陥検出により交代を行う。そ
して、出荷を行う（Ｓ１０３）。すなわち、出荷前に微
小欠陥をできるだけ登録させようとするものである。
を示す。図１６は磁気ディスク装置の微小欠陥に対する
もので、まずフォーマット時に欠陥部を検出し、回復不
能な欠陥セクタを自動交代する（ステップ（Ｓ）１０
１）。続いて、一面につき数時間の長時間ランニングを
行う（Ｓ１０２）。このとき、ＥＣＣ機能、フォーマッ
ト／サーティファイ（保証）機能により機能試験、信頼
度保証を行い、かつ微小欠陥検出により交代を行う。そ
して、出荷を行う（Ｓ１０３）。すなわち、出荷前に微
小欠陥をできるだけ登録させようとするものである。
【０００６】ところで、自動交代機能は、リードエラー
を生じたセクタを自動的に代替セクタに交代割り付けす
るものであるが、リードエラーの要因は媒体傷以外にも
生じて必ずしも交代する必要のないものもある。一つに
はエラー全体が悪く再現性の低いエラーが頻発する場合
であり、例えば外来ノイズ（電磁波）、継続的な振動、
メカニカルなオフトラック、ヘッドの物性的要因、電磁
変換特性などによるものである。
を生じたセクタを自動的に代替セクタに交代割り付けす
るものであるが、リードエラーの要因は媒体傷以外にも
生じて必ずしも交代する必要のないものもある。一つに
はエラー全体が悪く再現性の低いエラーが頻発する場合
であり、例えば外来ノイズ（電磁波）、継続的な振動、
メカニカルなオフトラック、ヘッドの物性的要因、電磁
変換特性などによるものである。
【０００７】また、再現性が高いエラーの場合は、同一
セクタで発生するが本来の媒体傷でないものがあり、例
えばライト時の衝撃によるオフトラックライト、電源遮
断などで生じた書き残しなどである。すなわち、本来の
媒体欠陥でない要因による交代発生で交代処理が行われ
ると、交代割り付けセクタ数が増加して交代エリアが満
たされ、装置の寿命が短縮し、パフォーマンスが悪化す
る。また、書き込み回数に制限のある媒体の場合には初
期化後に書き込み限度を超えたブロックに交代する場合
があって信頼性が低下する。
セクタで発生するが本来の媒体傷でないものがあり、例
えばライト時の衝撃によるオフトラックライト、電源遮
断などで生じた書き残しなどである。すなわち、本来の
媒体欠陥でない要因による交代発生で交代処理が行われ
ると、交代割り付けセクタ数が増加して交代エリアが満
たされ、装置の寿命が短縮し、パフォーマンスが悪化す
る。また、書き込み回数に制限のある媒体の場合には初
期化後に書き込み限度を超えたブロックに交代する場合
があって信頼性が低下する。
【０００８】このような問題に対して種々の対処方法が
知られており、例えば特開平５−１３８５５０２号公
報、特開平４−１０６７４７号公報に記載されたものが
ある。特開平５−１３８５５０２号公報記載のものは、
書き込み回数の制限を持つ媒体に対して、交代先を示す
ポインタを２つ設け、最初のポインタで交代が成功した
場合には正常終了させるもので、これにより書き込み限
度を超えたブロックに交代させることを防止して信頼性
の向上を図るものである。
知られており、例えば特開平５−１３８５５０２号公
報、特開平４−１０６７４７号公報に記載されたものが
ある。特開平５−１３８５５０２号公報記載のものは、
書き込み回数の制限を持つ媒体に対して、交代先を示す
ポインタを２つ設け、最初のポインタで交代が成功した
場合には正常終了させるもので、これにより書き込み限
度を超えたブロックに交代させることを防止して信頼性
の向上を図るものである。
【０００９】また、特開平４−１０６７４７号公報に記
載のものは、欠陥部とその前後数バイトだけを欠陥交代
させるもので、セクタごと交代させずに傷の部分だけ交
代することで交代エリアの効率化を図るものである。一
方、未使用領域（上位装置よりリード命令やベリファイ
命令がこない領域）では媒体欠陥が判明せずデータライ
トで初めてエラーになるような場合の対処、また欠陥の
検出率の向上のための方法等が個別に図られたものがそ
れぞれ公報等により知られている。
載のものは、欠陥部とその前後数バイトだけを欠陥交代
させるもので、セクタごと交代させずに傷の部分だけ交
代することで交代エリアの効率化を図るものである。一
方、未使用領域（上位装置よりリード命令やベリファイ
命令がこない領域）では媒体欠陥が判明せずデータライ
トで初めてエラーになるような場合の対処、また欠陥の
検出率の向上のための方法等が個別に図られたものがそ
れぞれ公報等により知られている。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記特開平５
−１３８５５０２号公報や特開平４−１０６７４７号公
報に記載されたものは、交代処理中に電源遮断やリセッ
ト、またその他交代処理が続けられないときにユーザデ
ータが消失するという問題がある。また、自動交代にお
いて、３．５インチ以下の磁気ディスクを使用する小型
の磁気ディスク装置ではＭＰＵ（マイクロプロセッサ）
の性能が限定されることから、複雑な交代処理に多大な
時間を要するにも拘らず、さらに処理時間が増大し、ま
た接続される上位装置によっては時間的な汎用性、応用
性がなく、交代処理の途中でタイムアウトになる場合が
あるという問題がある。
−１３８５５０２号公報や特開平４−１０６７４７号公
報に記載されたものは、交代処理中に電源遮断やリセッ
ト、またその他交代処理が続けられないときにユーザデ
ータが消失するという問題がある。また、自動交代にお
いて、３．５インチ以下の磁気ディスクを使用する小型
の磁気ディスク装置ではＭＰＵ（マイクロプロセッサ）
の性能が限定されることから、複雑な交代処理に多大な
時間を要するにも拘らず、さらに処理時間が増大し、ま
た接続される上位装置によっては時間的な汎用性、応用
性がなく、交代処理の途中でタイムアウトになる場合が
あるという問題がある。
【００１１】さらに、装置の使用される環境が一定では
なく、ノイズ、振動、温度等により、リードエラーだけ
の条件による交代処理ではスペアセクタが尽きて装置寿
命の短縮、信頼性の低下という問題がある。また、電源
の交代処理中のオフ状態によるユーザデータの消失や、
交代処理中の上位装置からの当該セクタに対する所定の
命令による交代処理中断でのデータ消失により信頼性が
低下するという問題がある。
なく、ノイズ、振動、温度等により、リードエラーだけ
の条件による交代処理ではスペアセクタが尽きて装置寿
命の短縮、信頼性の低下という問題がある。また、電源
の交代処理中のオフ状態によるユーザデータの消失や、
交代処理中の上位装置からの当該セクタに対する所定の
命令による交代処理中断でのデータ消失により信頼性が
低下するという問題がある。
【００１２】そこで、本発明は上記装置に鑑みなされた
もので、所定条件下でのデータ保護によに信頼性の向
上、交代処理時間の短縮化を図る記録再生装置を提供す
ることを目的とする。
もので、所定条件下でのデータ保護によに信頼性の向
上、交代処理時間の短縮化を図る記録再生装置を提供す
ることを目的とする。
【００１３】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、請求項１では、記録媒体に対してヘッドにより記録
再生を行うに際し、記録媒体上の欠陥セクタを交代領域
へ交代処理させる記録再生装置において、前記記録媒体
の所定のセクタからデータを読み出し、前記データのエ
ラー検出を行うエラー検出手段と、前記エラー検出手段
によりエラーが検出されたときに、エラーが検出された
前記セクタのデータを仮交代領域に一時記録する仮交代
処理を行う仮交代処理手段と、前記仮交代処理手段によ
り前記仮交代処理が行われた後に、前記セクタに前記デ
ータエラーが生じたエラー原因を究明する試験手段と、
を備えてなることを特徴とする記録再生装置を構成す
る。
に、請求項１では、記録媒体に対してヘッドにより記録
再生を行うに際し、記録媒体上の欠陥セクタを交代領域
へ交代処理させる記録再生装置において、前記記録媒体
の所定のセクタからデータを読み出し、前記データのエ
ラー検出を行うエラー検出手段と、前記エラー検出手段
によりエラーが検出されたときに、エラーが検出された
前記セクタのデータを仮交代領域に一時記録する仮交代
処理を行う仮交代処理手段と、前記仮交代処理手段によ
り前記仮交代処理が行われた後に、前記セクタに前記デ
ータエラーが生じたエラー原因を究明する試験手段と、
を備えてなることを特徴とする記録再生装置を構成す
る。
【００１４】請求項２では、前記セクタが欠陥セクタで
あることを検出した際に、前記欠陥セクタのアドレスを
記憶するアドレス記憶手段を備えてなる。請求項３で
は、前記アドレス記憶手段は、前記セクタの隣接セクタ
又は隣接トラックのセクタのアドレスを記憶する。請求
項４では、前記試験手段は、前記データエラーが検出さ
れたセクタを再度読出して、再度エラーが生じるかを検
査するリード再現性試験手段を備えてなる。
あることを検出した際に、前記欠陥セクタのアドレスを
記憶するアドレス記憶手段を備えてなる。請求項３で
は、前記アドレス記憶手段は、前記セクタの隣接セクタ
又は隣接トラックのセクタのアドレスを記憶する。請求
項４では、前記試験手段は、前記データエラーが検出さ
れたセクタを再度読出して、再度エラーが生じるかを検
査するリード再現性試験手段を備えてなる。
【００１５】請求項５では、前記試験手段は、前記デー
タエラーが検出されたセクタに対して、データの書込み
／読み出し試験を行い、前記セクタが欠陥であるかを検
査するセクタ試験手段を備えてなる。請求項６では、前
記セクタ試験手段により前記セクタが欠陥であることを
検出した場合は、前記セクタに記録されたデータを仮交
代領域から読み出して交代領域に記録し、前記セクタ試
験手段により前記セクタが正常セクタであることを検出
した場合は、前記領域に記録されていたデータを仮交代
領域から読み出して前記領域に書き戻す交代処理手段を
備えてなる。
タエラーが検出されたセクタに対して、データの書込み
／読み出し試験を行い、前記セクタが欠陥であるかを検
査するセクタ試験手段を備えてなる。請求項６では、前
記セクタ試験手段により前記セクタが欠陥であることを
検出した場合は、前記セクタに記録されたデータを仮交
代領域から読み出して交代領域に記録し、前記セクタ試
験手段により前記セクタが正常セクタであることを検出
した場合は、前記領域に記録されていたデータを仮交代
領域から読み出して前記領域に書き戻す交代処理手段を
備えてなる。
【００１６】請求項７では、前記試験手段は、前記デー
タ検出手段がデータエラーを検出した際に、データの読
み出しに使用した前記ヘッドを検査するヘッド試験手段
を備えてなる。請求項８では、前記ヘッド試験手段は、
前記ヘッドにリード試験用データを読ませ、リードエラ
ーが生じるかを検査する。
タ検出手段がデータエラーを検出した際に、データの読
み出しに使用した前記ヘッドを検査するヘッド試験手段
を備えてなる。請求項８では、前記ヘッド試験手段は、
前記ヘッドにリード試験用データを読ませ、リードエラ
ーが生じるかを検査する。
【００１７】請求項９では、前記ヘッド試験手段は、前
記ヘッドにダミーライト処理を行わせる。請求項１０で
は、前記ヘッド試験手段は、前記ダミーライト処理を記
録媒体上の記録されたデータに影響しない領域において
行わせる。請求項１１では、前記交代処理の進行状況を
記憶する進行状況記憶手段を備えてなる。請求項１２で
は、前記交代処理の処理順序を制御する処理順序制御手
段を備えてなる。請求項１３では、前記交代処理の各種
処理を、上位からの各種命令の実行と独立して並列処理
させる監視手段を備えてなる。
記ヘッドにダミーライト処理を行わせる。請求項１０で
は、前記ヘッド試験手段は、前記ダミーライト処理を記
録媒体上の記録されたデータに影響しない領域において
行わせる。請求項１１では、前記交代処理の進行状況を
記憶する進行状況記憶手段を備えてなる。請求項１２で
は、前記交代処理の処理順序を制御する処理順序制御手
段を備えてなる。請求項１３では、前記交代処理の各種
処理を、上位からの各種命令の実行と独立して並列処理
させる監視手段を備えてなる。
【００１８】請求項１４では、記録媒体に対してヘッド
により記録再生を行うに際し、該記録媒体における欠陥
を有するセクタの交代セクタへの交代処理を行う記録再
生装置の記録媒体の交代処理方法において、前記記録媒
体の前記欠陥を有するセクタを割り出すステップと、前
記欠陥を有するセクタの当該データを仮交代領域に一時
記録するステップと、当該データを仮交代領域に一時記
録した後に、前記欠陥を有するセクタのデータを書き換
え、再度読み出して試験を行うステップと、前記セクタ
が欠陥のときに前記セクタに交代処理を行い、前記仮交
代領域のデータを当該交代セクタに記録させるステップ
と、前記セクタのアドレスをアドレス記憶手段に記録さ
せ、交代処理の進行状況を記録させるステップと、を含
むことを特徴とする記録媒体の交代処理方法を構成す
る。
により記録再生を行うに際し、該記録媒体における欠陥
を有するセクタの交代セクタへの交代処理を行う記録再
生装置の記録媒体の交代処理方法において、前記記録媒
体の前記欠陥を有するセクタを割り出すステップと、前
記欠陥を有するセクタの当該データを仮交代領域に一時
記録するステップと、当該データを仮交代領域に一時記
録した後に、前記欠陥を有するセクタのデータを書き換
え、再度読み出して試験を行うステップと、前記セクタ
が欠陥のときに前記セクタに交代処理を行い、前記仮交
代領域のデータを当該交代セクタに記録させるステップ
と、前記セクタのアドレスをアドレス記憶手段に記録さ
せ、交代処理の進行状況を記録させるステップと、を含
むことを特徴とする記録媒体の交代処理方法を構成す
る。
【００１９】請求項１５では、請求項１４において、前
記欠陥を有するセクタが割り出されたときに、使用され
た前記ヘッドの試験を行わせる。請求項１６では、請求
項１４又は１５において、前記仮交代領域へのデータ複
写後にリードエラーの再現性の試験を行わせる。請求項
１７では、請求項１４〜１６の何れか一項において、上
位からの交代処理命令以外に、定期的に欠陥セクタの有
無を試験して該欠陥セクタのアドレスを前記アドレス記
憶手段に記録する。
記欠陥を有するセクタが割り出されたときに、使用され
た前記ヘッドの試験を行わせる。請求項１６では、請求
項１４又は１５において、前記仮交代領域へのデータ複
写後にリードエラーの再現性の試験を行わせる。請求項
１７では、請求項１４〜１６の何れか一項において、上
位からの交代処理命令以外に、定期的に欠陥セクタの有
無を試験して該欠陥セクタのアドレスを前記アドレス記
憶手段に記録する。
【００２０】請求項１８では、請求項１４〜１６の何れ
か一項において、前記アドレス記憶手段の記録内容を読
み出して当該欠陥セクタに対する交代処理が行われる。
か一項において、前記アドレス記憶手段の記録内容を読
み出して当該欠陥セクタに対する交代処理が行われる。
【００２１】
【作用】上述のように請求項１，２，５，６，１１及び
１４の発明では、所定セクタのエラー検出を行い、当該
欠陥セクタのデータを仮交代領域に一時記録した後に試
験手段で当該セクタの書き込み、読み出しによる試験を
行い、欠陥と判明したときに交代処理手段で交代セクタ
に交代処理を行って、そのアドレスをアドレス記憶手段
に記録させ、及び交代処理の進行状況を記録させる。こ
れにより、フィールドでの試験が可能となって出荷前の
試験時間が短縮されると共に、不適当な交代セクタの増
大が防止されて装置寿命、パフォーマンスの低下が防止
され、また交代処理中のデータ消失が防止されて信頼性
の向上を図ることが可能となる。
１４の発明では、所定セクタのエラー検出を行い、当該
欠陥セクタのデータを仮交代領域に一時記録した後に試
験手段で当該セクタの書き込み、読み出しによる試験を
行い、欠陥と判明したときに交代処理手段で交代セクタ
に交代処理を行って、そのアドレスをアドレス記憶手段
に記録させ、及び交代処理の進行状況を記録させる。こ
れにより、フィールドでの試験が可能となって出荷前の
試験時間が短縮されると共に、不適当な交代セクタの増
大が防止されて装置寿命、パフォーマンスの低下が防止
され、また交代処理中のデータ消失が防止されて信頼性
の向上を図ることが可能となる。
【００２２】請求項３の発明では、欠陥セクタの隣接ト
ラックにおける同位置のセクタを記憶手段に記録させ
る。これにより、欠陥セクタの隣接セクタの欠陥率の高
いことに鑑みて記録させて試験を行うことができ、欠陥
セクタの検出率の向上を図ることが可能となる。請求項
４及び１６の発明では、仮交代領域へのデータ記録後に
リードエラーの再現性を試験する。これにより、データ
保護が図られ、不必要な交代処理が防止されて交代セク
タの増加を防止することが可能となる。
ラックにおける同位置のセクタを記憶手段に記録させ
る。これにより、欠陥セクタの隣接セクタの欠陥率の高
いことに鑑みて記録させて試験を行うことができ、欠陥
セクタの検出率の向上を図ることが可能となる。請求項
４及び１６の発明では、仮交代領域へのデータ記録後に
リードエラーの再現性を試験する。これにより、データ
保護が図られ、不必要な交代処理が防止されて交代セク
タの増加を防止することが可能となる。
【００２３】請求項７〜１０及び１５の発明では、デー
タ読み出したヘッドを試験用データのリード又はダミー
ライトにより試験する。これにより、必要のない交代処
理の実行を防止することが可能となる。請求項１２の発
明では、交代処理に至る処理の順序を制御する。これに
より、処理ステップを分割することが可能となって処理
段階に応じて中断からの処理を続行することが可能とな
る。
タ読み出したヘッドを試験用データのリード又はダミー
ライトにより試験する。これにより、必要のない交代処
理の実行を防止することが可能となる。請求項１２の発
明では、交代処理に至る処理の順序を制御する。これに
より、処理ステップを分割することが可能となって処理
段階に応じて中断からの処理を続行することが可能とな
る。
【００２４】請求項１３の発明では、交代処理に至る処
理を上位からの制御と独立して並行に行わせる。これに
より、交代処理途中での中断、継続が行われてタイムア
ウト障害を防止することが可能となって小型の装置にも
信頼性高く適用することが可能となる。請求項１７及び
１８の発明では、上位からの命令以外に定期的に自己ベ
リファイを行わせるて、欠陥セクタのアドレスを記録さ
せ、記録された欠陥セクタのアドレスを読み出して前記
交代処理が行われる。これにより、アクセスしない領域
にも媒体試験が可能となって、初めて使用したセクタで
のエラーを低減させることが可能となると共に、交代処
理の効率化を図ることが可能となる。
理を上位からの制御と独立して並行に行わせる。これに
より、交代処理途中での中断、継続が行われてタイムア
ウト障害を防止することが可能となって小型の装置にも
信頼性高く適用することが可能となる。請求項１７及び
１８の発明では、上位からの命令以外に定期的に自己ベ
リファイを行わせるて、欠陥セクタのアドレスを記録さ
せ、記録された欠陥セクタのアドレスを読み出して前記
交代処理が行われる。これにより、アクセスしない領域
にも媒体試験が可能となって、初めて使用したセクタで
のエラーを低減させることが可能となると共に、交代処
理の効率化を図ることが可能となる。
【００２５】
【実施例】図１に、本発明の一実施例の構成図を示す。
図１は、記録再生装置としての磁気ディスク装置２１の
構成ブロック図を示したもので、上位装置であるホスト
コンピュータ２２にインタフェースデバイス（スカジー
デバイス）２３ａ，２３ｂを介して接続される。
図１は、記録再生装置としての磁気ディスク装置２１の
構成ブロック図を示したもので、上位装置であるホスト
コンピュータ２２にインタフェースデバイス（スカジー
デバイス）２３ａ，２３ｂを介して接続される。
【００２６】磁気ディスク装置２１は、インタフフェー
ス回路２４にはＨＤＣ（ハードディスクコントローラ）
２５が接続され、ＨＤＣ２５は監視手段である制御監視
部２６及び自動交代処理制御部２７を少くとも備えてい
る。ＨＤＣ２５にはホストコンピュータ２２よりインタ
フェース回路２４を介してユーザデータ等が入力され
る。
ス回路２４にはＨＤＣ（ハードディスクコントローラ）
２５が接続され、ＨＤＣ２５は監視手段である制御監視
部２６及び自動交代処理制御部２７を少くとも備えてい
る。ＨＤＣ２５にはホストコンピュータ２２よりインタ
フェース回路２４を介してユーザデータ等が入力され
る。
【００２７】また、インタフェース回路２４にはＭＰＵ
２８が接続され、ＭＰＵ２８にはＲＯＭ（Read Only Me
mory) ２９及びＲＡＭ（Random Access Memory) ３０が
設けられる。ＭＰＵ２８にはホストコンピュータ２２よ
りインタフェース回路２４を介してリード命令、ライト
命令等の種々のコマンドが入力される。一方、ＨＤＣ２
５にはバッファ３１が設けられ、ＨＤＣ２５に入力され
たユーザデータを一担格納し、ライト時に読み出されて
出力し、Ｒ／Ｗ（リード／ライト）回路３２を介してＲ
／Ｗヘッド３３にデータを供給する。Ｒ／Ｗ回路３２
は、図示しないが復調回路、変調回路Ａ／Ｄ変換回路、
Ｄ／Ａ変換回路を備え、ＭＰＵ２８よりライトゲート信
号、リードゲート信号が供給される。
２８が接続され、ＭＰＵ２８にはＲＯＭ（Read Only Me
mory) ２９及びＲＡＭ（Random Access Memory) ３０が
設けられる。ＭＰＵ２８にはホストコンピュータ２２よ
りインタフェース回路２４を介してリード命令、ライト
命令等の種々のコマンドが入力される。一方、ＨＤＣ２
５にはバッファ３１が設けられ、ＨＤＣ２５に入力され
たユーザデータを一担格納し、ライト時に読み出されて
出力し、Ｒ／Ｗ（リード／ライト）回路３２を介してＲ
／Ｗヘッド３３にデータを供給する。Ｒ／Ｗ回路３２
は、図示しないが復調回路、変調回路Ａ／Ｄ変換回路、
Ｄ／Ａ変換回路を備え、ＭＰＵ２８よりライトゲート信
号、リードゲート信号が供給される。
【００２８】また、ＨＤＣ２５はＶＣＭ（ボイスコイル
モータ）ドライバ３４を介してＶＣＭ３５を駆動し、Ｖ
ＣＭ３５はＲ／Ｗヘッド３３を後述する磁気ディスクの
半径方向にシークさせる。さらに、ＨＤＣ２５はＳＰＭ
（スピンドルモータ）ドライバ３６を介してＳＰＭ３７
を駆動させ、ＳＰＭ３７は記録媒体である磁気ディスク
３８を一定速度で回転させる。
モータ）ドライバ３４を介してＶＣＭ３５を駆動し、Ｖ
ＣＭ３５はＲ／Ｗヘッド３３を後述する磁気ディスクの
半径方向にシークさせる。さらに、ＨＤＣ２５はＳＰＭ
（スピンドルモータ）ドライバ３６を介してＳＰＭ３７
を駆動させ、ＳＰＭ３７は記録媒体である磁気ディスク
３８を一定速度で回転させる。
【００２９】ここで、図２に、磁気ディスク装置の内部
平面図を示す。図２において、磁気ディスク装置２１
は、アクチュエータ４１がアーム４２により支持ばね機
構４３を介してその先端にＲ／Ｗヘッド３３が搭載され
ており、アーム４２の基部がピボット４４に回転自在に
軸支される。また、アーム４２のピボット４４の反対側
には回動支持部４５が形成され、該回動支持部４５に巻
回されたコイル４６が設けられる。そして、コイル４６
の下方には２つのマグネット４７ａ，４７ｂが固定配置
される。このコイル４６及びマグネット４７ａ，４７ｂ
によりＶＣＭ３５を構成する。
平面図を示す。図２において、磁気ディスク装置２１
は、アクチュエータ４１がアーム４２により支持ばね機
構４３を介してその先端にＲ／Ｗヘッド３３が搭載され
ており、アーム４２の基部がピボット４４に回転自在に
軸支される。また、アーム４２のピボット４４の反対側
には回動支持部４５が形成され、該回動支持部４５に巻
回されたコイル４６が設けられる。そして、コイル４６
の下方には２つのマグネット４７ａ，４７ｂが固定配置
される。このコイル４６及びマグネット４７ａ，４７ｂ
によりＶＣＭ３５を構成する。
【００３０】このようなアクチュエータ４１は、センサ
レスタイプのスピンドルモータ３７（図に表われず）の
スピンドル４８に固定されて回転される磁気ディスク３
８に対し、コイル４６に配線基板４９よりフレキシブル
プリント板５０を介して通電することによりＲ／Ｗヘッ
ド３３を磁気ディスク３８の半径方向に移動させるよう
にアーム４２が回動されるものである。
レスタイプのスピンドルモータ３７（図に表われず）の
スピンドル４８に固定されて回転される磁気ディスク３
８に対し、コイル４６に配線基板４９よりフレキシブル
プリント板５０を介して通電することによりＲ／Ｗヘッ
ド３３を磁気ディスク３８の半径方向に移動させるよう
にアーム４２が回動されるものである。
【００３１】磁気ディスク３８には、例えば、最内周の
トラックにＳＡ領域（システムエリア）３８ａが設けら
れ、後述するシーケンステーブル、仮交代セクタ、その
他記録エリアを備える。そこで、図３に、図１の制御監
視部及び自動交代処理制御部のブロック図を示す。
トラックにＳＡ領域（システムエリア）３８ａが設けら
れ、後述するシーケンステーブル、仮交代セクタ、その
他記録エリアを備える。そこで、図３に、図１の制御監
視部及び自動交代処理制御部のブロック図を示す。
【００３２】図３において、上記制御監視部２６は、制
御監視手段５１、インタフェース制御手段５２、ドライ
ブ制御手段５３により構成される。ドライブ制御手段５
３はバッファ３１より種々のデータの授受を行う。制御
監視手段５１は、全体の制御の進行状況を把握する制御
監視モニタ（プログラムモニタ）であり、主にタイマ監
視と制御管理を行う。
御監視手段５１、インタフェース制御手段５２、ドライ
ブ制御手段５３により構成される。ドライブ制御手段５
３はバッファ３１より種々のデータの授受を行う。制御
監視手段５１は、全体の制御の進行状況を把握する制御
監視モニタ（プログラムモニタ）であり、主にタイマ監
視と制御管理を行う。
【００３３】インタフェース制御手段５２は、装置のホ
ストインタフェースを制御する。ドライブ制御手段５３
は、装置を制御するもので、データのライト、リードを
行うと共に、例えばリードエラーが発生したときにオフ
セットリトライを試みたり、ＥＣＣ修正等も行う。ま
た、上記自動交代処理部２７は、自動交代処理制御手段
５４、欠陥セクタ記録手段５５、進行状況ライト手段５
６、進行状況リード手段５７、データ保持手段５８、Ｗ
／Ｒテスト手段５９、欠陥セクタテスト手段６０、交代
ブロック手段６１により構成される。なお、適宜隣接セ
クタ記録手段６２が設けられる。
ストインタフェースを制御する。ドライブ制御手段５３
は、装置を制御するもので、データのライト、リードを
行うと共に、例えばリードエラーが発生したときにオフ
セットリトライを試みたり、ＥＣＣ修正等も行う。ま
た、上記自動交代処理部２７は、自動交代処理制御手段
５４、欠陥セクタ記録手段５５、進行状況ライト手段５
６、進行状況リード手段５７、データ保持手段５８、Ｗ
／Ｒテスト手段５９、欠陥セクタテスト手段６０、交代
ブロック手段６１により構成される。なお、適宜隣接セ
クタ記録手段６２が設けられる。
【００３４】自動交代処理制御手段５４は、初期交代処
理手段、交代処理手段及び処理順序制御手段を含み、交
代処理全体の処理順序を指示する。欠陥セクタ記録手段
５５は、ドライブ制御手段５３で検出したリードエラー
のセクタを割り出し、磁気ディスク３８のＳＡ領域３８
ａに記録する。進行状況ライト手段５６は、交代処理が
どこまで完了しているかをその都度ＳＡ領域３８ａに記
録するもので、途中での電源遮断を想定して複数以上の
ブロックに重複して記録され、データの先頭にタイムス
タンプが付与される。進行状況リード手段５７は、交代
処理がどこまで完了しているかを処理前にＳＡ領域３８
ａより読み出す。
理手段、交代処理手段及び処理順序制御手段を含み、交
代処理全体の処理順序を指示する。欠陥セクタ記録手段
５５は、ドライブ制御手段５３で検出したリードエラー
のセクタを割り出し、磁気ディスク３８のＳＡ領域３８
ａに記録する。進行状況ライト手段５６は、交代処理が
どこまで完了しているかをその都度ＳＡ領域３８ａに記
録するもので、途中での電源遮断を想定して複数以上の
ブロックに重複して記録され、データの先頭にタイムス
タンプが付与される。進行状況リード手段５７は、交代
処理がどこまで完了しているかを処理前にＳＡ領域３８
ａより読み出す。
【００３５】また、データ保持手段５８は、Ｒスタック
登録された欠陥セクタがエラーになるかどうかの再度テ
ストを行い、テスト結果に応じて処理を行う（図４にお
いて説明する）。Ｗ／Ｒテスト機能５９は試験手段の一
つとして、またヘッド試験手段として、エラーの発生し
たヘッド及びリード回路全体のテストを行う（後述す
る）。欠陥セクタテスト機能６０は、試験手段の一つと
して、またリード再現性試験手段、セクタ試験手段とし
て、エラーを生じたセクタが真に欠陥セクタであるか否
かをテストする（後述する）。交代ブロック機能６１
は、使用できるスペアセクタを検索する（後述する）。
登録された欠陥セクタがエラーになるかどうかの再度テ
ストを行い、テスト結果に応じて処理を行う（図４にお
いて説明する）。Ｗ／Ｒテスト機能５９は試験手段の一
つとして、またヘッド試験手段として、エラーの発生し
たヘッド及びリード回路全体のテストを行う（後述す
る）。欠陥セクタテスト機能６０は、試験手段の一つと
して、またリード再現性試験手段、セクタ試験手段とし
て、エラーを生じたセクタが真に欠陥セクタであるか否
かをテストする（後述する）。交代ブロック機能６１
は、使用できるスペアセクタを検索する（後述する）。
【００３６】そして、隣接セクタ記録手段６２は、テス
ト結果により欠陥と判定されたセクタの前後及び両隣の
トラックの同じ位置にあるセクタのアドレスを計算して
欠陥セクタ記録手段５５を介して磁気ディスク３８のＳ
Ａ領域３８ａに記録し、後に当該隣接セクタのテストを
行う。これは、媒体上の傷特性により隣接するセクタに
傷が跨がっている可能性が極めて高く、効率よく欠陥セ
クタを検索できるものである。
ト結果により欠陥と判定されたセクタの前後及び両隣の
トラックの同じ位置にあるセクタのアドレスを計算して
欠陥セクタ記録手段５５を介して磁気ディスク３８のＳ
Ａ領域３８ａに記録し、後に当該隣接セクタのテストを
行う。これは、媒体上の傷特性により隣接するセクタに
傷が跨がっている可能性が極めて高く、効率よく欠陥セ
クタを検索できるものである。
【００３７】ここで、図４に、図３の自動交代処理の各
手段の処理ブロック図を示す。なお、各手段による自動
交代処理は、回復不能な欠陥セクタのみを出荷前に行
い、微小欠陥について出荷後にフィールドで行う。この
場合、例えば後述する図１２及び図１３の自己ベリファ
イ処理でＲスタックに記録された欠陥セクタが所定数に
達したときに自動交代処理を行う。
手段の処理ブロック図を示す。なお、各手段による自動
交代処理は、回復不能な欠陥セクタのみを出荷前に行
い、微小欠陥について出荷後にフィールドで行う。この
場合、例えば後述する図１２及び図１３の自己ベリファ
イ処理でＲスタックに記録された欠陥セクタが所定数に
達したときに自動交代処理を行う。
【００３８】図４（Ａ）はデータ保持手段５８の処理ブ
ロックを示したもので、まず救済を試みたデータを予め
ＳＡ領域３８ａの仮交代セクタ３８a2（図５参照）にコ
ピーし、（５８1 ）、Ｒスタックに登録されたセクタが
エラーになるかを再度テストする（５８2 ）。コピーで
エラーが発生した場合にはオフセットリードやＥＣＣ修
正によってできる限りの救済を行う（５８3 ）。コピー
中に全くエラーが発生しなければ登録されたセクタのア
ドレスを消去し、交代処理は中止される（５８ 4 ）。
ロックを示したもので、まず救済を試みたデータを予め
ＳＡ領域３８ａの仮交代セクタ３８a2（図５参照）にコ
ピーし、（５８1 ）、Ｒスタックに登録されたセクタが
エラーになるかを再度テストする（５８2 ）。コピーで
エラーが発生した場合にはオフセットリードやＥＣＣ修
正によってできる限りの救済を行う（５８3 ）。コピー
中に全くエラーが発生しなければ登録されたセクタのア
ドレスを消去し、交代処理は中止される（５８ 4 ）。
【００３９】そして、救済できたデータはもちろんその
ままコピーし、救済できなかった場合には修正できない
状態で（ＥＣＣが一致しない状態）アンコレクタブルデ
ータとして仮交代セクタ（後述する）にコピーする。以
降、ホストコンピュータ２２より当該セクタにリードラ
イト命令がきても当該仮交代エリア上でライト及びリー
ドの実行を行う（５８5 ）。この場合、仮交代エリアに
おいてコピー中の電源遮断を想定して複数以上のブロッ
クに重複して記録しておき、データの先頭にタイムスタ
ンプを付与しておく。
ままコピーし、救済できなかった場合には修正できない
状態で（ＥＣＣが一致しない状態）アンコレクタブルデ
ータとして仮交代セクタ（後述する）にコピーする。以
降、ホストコンピュータ２２より当該セクタにリードラ
イト命令がきても当該仮交代エリア上でライト及びリー
ドの実行を行う（５８5 ）。この場合、仮交代エリアに
おいてコピー中の電源遮断を想定して複数以上のブロッ
クに重複して記録しておき、データの先頭にタイムスタ
ンプを付与しておく。
【００４０】また、図４（Ｂ）はＷ／Ｒテスト手段５９
の処理ブロックを示したもので、まず予めデータが正常
にリードできることを確認しているエリアにＲ／Ｗヘッ
ド３３を位置付けし（５９1 ）、ここでリードテストを
行う（５９2 ）。正しくデータがリードできない場合に
はＲ／Ｗヘッド３３にエラーが検出されたものと判断し
（５９3 ）、エラー情報を作成して処理を中断した後
（５９4 ）、登録されたセクタアドレスを消去する（５
９5 ）。
の処理ブロックを示したもので、まず予めデータが正常
にリードできることを確認しているエリアにＲ／Ｗヘッ
ド３３を位置付けし（５９1 ）、ここでリードテストを
行う（５９2 ）。正しくデータがリードできない場合に
はＲ／Ｗヘッド３３にエラーが検出されたものと判断し
（５９3 ）、エラー情報を作成して処理を中断した後
（５９4 ）、登録されたセクタアドレスを消去する（５
９5 ）。
【００４１】続いて、図４（Ｃ）は欠陥セクタテスト手
段の処理ブロックを示したもので、まずエラーが発生し
たセクタが真に欠陥セクタか否かをデータライト、リー
ドし（６０1 ）、正しくデータがライトできるかを判断
する（６０2 ）。データが正しくライトできる場合には
仮交代のセクタのデータを戻し（６０3 ）、同じデータ
がライトされていることを確認して処理を終了させる
（６０4 ）。
段の処理ブロックを示したもので、まずエラーが発生し
たセクタが真に欠陥セクタか否かをデータライト、リー
ドし（６０1 ）、正しくデータがライトできるかを判断
する（６０2 ）。データが正しくライトできる場合には
仮交代のセクタのデータを戻し（６０3 ）、同じデータ
がライトされていることを確認して処理を終了させる
（６０4 ）。
【００４２】また、前記欠陥セクタ試験によるデータが
リードライトできなかった場合には、図４（Ｄ）の交代
ブロック手段６１の処理ブロックを示すように、まず使
用できるスペアセクタを探索し（６１1 ）、仮交代セク
タのデータを書き込む（６１ 2 ）。そして、ベリファイ
を行い（６１3 ）、これによってエラーを生じた場合に
は異なるスペアセクタを準備して同様の処理を繰り返す
ものである（６１4 ）。
リードライトできなかった場合には、図４（Ｄ）の交代
ブロック手段６１の処理ブロックを示すように、まず使
用できるスペアセクタを探索し（６１1 ）、仮交代セク
タのデータを書き込む（６１ 2 ）。そして、ベリファイ
を行い（６１3 ）、これによってエラーを生じた場合に
は異なるスペアセクタを準備して同様の処理を繰り返す
ものである（６１4 ）。
【００４３】次に、図５に、ＳＡ領域の構成図を示す。
図５（Ａ）はＳＡ領域３８ａのシーケンステーブル３８
ａ1 を示したもので、ここにタイムスタンプ、処理中の
スタンプ、交代元ＬＢＮ、交代先ＬＢＮ、その他、パラ
メータ等が所定の処理に応じて記録される。また、図５
（Ｂ）は仮交代領域である仮交代セクタ３８ａ2 を示し
たもので、各ブロックの所定アドレス（ＬＢＮ）にエラ
ーを生じたセクタのデータが記録される。この場合、一
つのデータを複数のブロックに重複して記録することで
コピー中の電源遮断に対処している。
図５（Ａ）はＳＡ領域３８ａのシーケンステーブル３８
ａ1 を示したもので、ここにタイムスタンプ、処理中の
スタンプ、交代元ＬＢＮ、交代先ＬＢＮ、その他、パラ
メータ等が所定の処理に応じて記録される。また、図５
（Ｂ）は仮交代領域である仮交代セクタ３８ａ2 を示し
たもので、各ブロックの所定アドレス（ＬＢＮ）にエラ
ーを生じたセクタのデータが記録される。この場合、一
つのデータを複数のブロックに重複して記録することで
コピー中の電源遮断に対処している。
【００４４】さらに、図５（Ｃ）はアドレス記憶手段で
あるＲスタック３８a3を示したもので、エラーセクタの
アドレスが登録される。なお、ＲスタックはＳＡ領域３
８ａに限らず、ＲＡＭ３０に設けてもよい。ところで、
上記ＳＡ領域３８ａは磁気ディスク３８上に設けた場合
を示したが、Ｅ2 ＰＲＯＭ（Electrically Erasable Pr
ogramable ROM)をＨＤＣ２５に設け、このＥ2 ＰＲＯＭ
にＳＡ領域３８ａを設けてもよい。
あるＲスタック３８a3を示したもので、エラーセクタの
アドレスが登録される。なお、ＲスタックはＳＡ領域３
８ａに限らず、ＲＡＭ３０に設けてもよい。ところで、
上記ＳＡ領域３８ａは磁気ディスク３８上に設けた場合
を示したが、Ｅ2 ＰＲＯＭ（Electrically Erasable Pr
ogramable ROM)をＨＤＣ２５に設け、このＥ2 ＰＲＯＭ
にＳＡ領域３８ａを設けてもよい。
【００４５】次に、図６に、本発明の試験の全体のフロ
ーチャートを示す。図６（Ａ）は本発明の自動交代を採
用したときの装置全体の説明図であり、出荷前における
磁気ディスク３８のフォーマット時に欠陥セクタを検出
し、自動的に交代処理を行う（Ｓ１）。この場合の欠陥
セクタは回復不能な欠陥のセクタのみの自動交代処理を
行うもので、ＥＣＣ修正、リトライ、フォーマット／サ
ーティファイ（保証）により欠陥セクタを検索する。そ
して、機能試験、信頼度保証を行い（Ｓ２）、出荷する
（Ｓ３）。
ーチャートを示す。図６（Ａ）は本発明の自動交代を採
用したときの装置全体の説明図であり、出荷前における
磁気ディスク３８のフォーマット時に欠陥セクタを検出
し、自動的に交代処理を行う（Ｓ１）。この場合の欠陥
セクタは回復不能な欠陥のセクタのみの自動交代処理を
行うもので、ＥＣＣ修正、リトライ、フォーマット／サ
ーティファイ（保証）により欠陥セクタを検索する。そ
して、機能試験、信頼度保証を行い（Ｓ２）、出荷する
（Ｓ３）。
【００４６】これは、出荷前に回復不能な欠陥セクタの
みを交代処理し、微小欠陥については、出荷後にフィー
ルドで行うものである。また、図６（Ｂ）は自動交代処
理の大略フローチャートであり、まず制御監視手段５１
でプログラムモニタされて（Ｓ１１）、自動交代処理制
御手段５４に指示される手順で自動交代処理が開始され
る（Ｓ１２）。このとき、進行状況リード手段５７が磁
気ディスク３８（ＳＡ領域３８ａ）より交代処理の進行
状況を読み取る（Ｓ１３）。
みを交代処理し、微小欠陥については、出荷後にフィー
ルドで行うものである。また、図６（Ｂ）は自動交代処
理の大略フローチャートであり、まず制御監視手段５１
でプログラムモニタされて（Ｓ１１）、自動交代処理制
御手段５４に指示される手順で自動交代処理が開始され
る（Ｓ１２）。このとき、進行状況リード手段５７が磁
気ディスク３８（ＳＡ領域３８ａ）より交代処理の進行
状況を読み取る（Ｓ１３）。
【００４７】そして、進行状況に応じて、ドライブ制御
手段５３によるテストリードで検索された欠陥セクタに
対して、データ保持手段５８によるデータ吸い上げ及び
仮交代セクタへのコピー（Ｓ１４1 ）、Ｗ／Ｒテスト手
段５９によるライト、リード動作でのエラーヘッドのテ
スト（Ｓ１４2 ）、欠陥セクタテスト手段６０による欠
陥セクタが真の欠陥かのテスト（Ｓ１４3 ）、交代ブロ
ック手段６１による交代ブロックの選出及び書き込み
（Ｓ１４4 ）、及び隣接セクタ記録手段６２が設けられ
ている場合の欠陥セクタの隣接セクタのＳＡ領域３８ａ
への記録（Ｓ１４ 5 ）の処理を自動交代処理制御手段５
４の指示に従って行う。
手段５３によるテストリードで検索された欠陥セクタに
対して、データ保持手段５８によるデータ吸い上げ及び
仮交代セクタへのコピー（Ｓ１４1 ）、Ｗ／Ｒテスト手
段５９によるライト、リード動作でのエラーヘッドのテ
スト（Ｓ１４2 ）、欠陥セクタテスト手段６０による欠
陥セクタが真の欠陥かのテスト（Ｓ１４3 ）、交代ブロ
ック手段６１による交代ブロックの選出及び書き込み
（Ｓ１４4 ）、及び隣接セクタ記録手段６２が設けられ
ている場合の欠陥セクタの隣接セクタのＳＡ領域３８ａ
への記録（Ｓ１４ 5 ）の処理を自動交代処理制御手段５
４の指示に従って行う。
【００４８】所定の処理（Ｓ１４1 〜１４5 ）の後に自
動交代処理制御手段５４の命令に従って（Ｓ１５）、進
行状況ライト手段５６に当該進行状況をＳＡ領域３８ａ
（シーケンステーブル３８ａ1 ）に書き込み（Ｓ１
６）、制御監視手段５１のプログラムモニタで監視状態
となる（Ｓ１７）。そして、ホストコンピュータ２２よ
り中断割り込み（Ｓ１８）があったか否かを監視しなが
ら以降の処理を繰り返し、割り込みがあった場合には、
進行状況に応じて自動交代処理が進められる（後述す
る）。
動交代処理制御手段５４の命令に従って（Ｓ１５）、進
行状況ライト手段５６に当該進行状況をＳＡ領域３８ａ
（シーケンステーブル３８ａ1 ）に書き込み（Ｓ１
６）、制御監視手段５１のプログラムモニタで監視状態
となる（Ｓ１７）。そして、ホストコンピュータ２２よ
り中断割り込み（Ｓ１８）があったか否かを監視しなが
ら以降の処理を繰り返し、割り込みがあった場合には、
進行状況に応じて自動交代処理が進められる（後述す
る）。
【００４９】そこで、磁気ディスク装置２１における駆
動から自動交代処理を詳細に説明する。図７に、電源投
入時及びリセット時のフローチャートを示す。図７にお
いて、まず電源投入の場合にはＳＰＭ３７が起動されて
磁気ディスク３８を回転させる（Ｓ２１）。リセット時
は既にＳＰＭ３７は起動されており、Ｓ２１は省略され
る。そこで、起動プログラムのダウンロードが行われ
（Ｓ２２）、総ての駆動系をセットアップさせる（Ｓ２
３）。
動から自動交代処理を詳細に説明する。図７に、電源投
入時及びリセット時のフローチャートを示す。図７にお
いて、まず電源投入の場合にはＳＰＭ３７が起動されて
磁気ディスク３８を回転させる（Ｓ２１）。リセット時
は既にＳＰＭ３７は起動されており、Ｓ２１は省略され
る。そこで、起動プログラムのダウンロードが行われ
（Ｓ２２）、総ての駆動系をセットアップさせる（Ｓ２
３）。
【００５０】そして、電源投入又はリセット前で交代処
理中であったか否かを進行状況リード手段５７によって
磁気ディスク３８のＳＡ領域３８ａにより読み出して判
断し（Ｓ２４）、交代処理中であれば交代処理を行って
完了させ、リターンにより次段階に移行する（Ｓ２
５）。交代処理中でなければリターンにより次段階に移
行する。
理中であったか否かを進行状況リード手段５７によって
磁気ディスク３８のＳＡ領域３８ａにより読み出して判
断し（Ｓ２４）、交代処理中であれば交代処理を行って
完了させ、リターンにより次段階に移行する（Ｓ２
５）。交代処理中でなければリターンにより次段階に移
行する。
【００５１】そこで、図８〜図１１に、本発明の交代処
理の細部フローチャートを示す。図８において、例えば
後述する定期的な自己ベリファイによってＲスタックに
登録された欠陥セクタが確認されると、自動交代処理が
開始され、当該欠陥セクタに記録されているデータをＳ
Ａ領域３８ａにおける仮交代セクタ３８ａ2 の所定のブ
ロック（複数）にコピーして仮交代処理する（Ｓ３
１）。この場合の欠陥セクタのデータはオフセットリト
ライ及びＥＣＣ修正され、仮にアンコレクタブル（修正
不能）であってもそのままの状態でコピーされ、データ
先頭にタイムスタンプが付与される。
理の細部フローチャートを示す。図８において、例えば
後述する定期的な自己ベリファイによってＲスタックに
登録された欠陥セクタが確認されると、自動交代処理が
開始され、当該欠陥セクタに記録されているデータをＳ
Ａ領域３８ａにおける仮交代セクタ３８ａ2 の所定のブ
ロック（複数）にコピーして仮交代処理する（Ｓ３
１）。この場合の欠陥セクタのデータはオフセットリト
ライ及びＥＣＣ修正され、仮にアンコレクタブル（修正
不能）であってもそのままの状態でコピーされ、データ
先頭にタイムスタンプが付与される。
【００５２】そして、仮交代元の再度のリードテストに
よりエラーか否かを判断され（Ｓ３２）、ノーエラーで
あればＢブロックに移動する（図１１で説明する）。何
らかのエラーが発見された場合には、Ｒ／Ｗヘッド３３
のヘッドテストを行う（Ｓ３３）。テストは磁気ディス
ク３８上の所定のシリンダ（確実にリードできる保守用
シリンダ）に予め記録されているデータ（ワーストデー
タ）をリードして行う。
よりエラーか否かを判断され（Ｓ３２）、ノーエラーで
あればＢブロックに移動する（図１１で説明する）。何
らかのエラーが発見された場合には、Ｒ／Ｗヘッド３３
のヘッドテストを行う（Ｓ３３）。テストは磁気ディス
ク３８上の所定のシリンダ（確実にリードできる保守用
シリンダ）に予め記録されているデータ（ワーストデー
タ）をリードして行う。
【００５３】テストの結果により当該Ｒ／Ｗヘッド３３
が正常であるか否かが判断され（Ｓ３４）、正常であれ
ばＡブロックでのセクタの試験に移行し（後述する）、
異常であれば当該シリンダ上にダミーライトを行う（Ｓ
３５）。そして、再度ヘッドテストを行う（Ｓ３６）。
テストは当該ダミーライトをリードして行う。なお、Ｒ
／Ｗヘッド３３に記録電流又はダミー電流を単に流して
もよく、この場合には上記シリンダ上のワーストデータ
をリードする。その結果が判断されて（Ｓ３７）、正常
であればＳ１に戻り、異常であればＣブロックに移行す
る（後述する）。このように、ヘッドテストを行うこと
により、無辺別な交代登録を防止することができる。
が正常であるか否かが判断され（Ｓ３４）、正常であれ
ばＡブロックでのセクタの試験に移行し（後述する）、
異常であれば当該シリンダ上にダミーライトを行う（Ｓ
３５）。そして、再度ヘッドテストを行う（Ｓ３６）。
テストは当該ダミーライトをリードして行う。なお、Ｒ
／Ｗヘッド３３に記録電流又はダミー電流を単に流して
もよく、この場合には上記シリンダ上のワーストデータ
をリードする。その結果が判断されて（Ｓ３７）、正常
であればＳ１に戻り、異常であればＣブロックに移行す
る（後述する）。このように、ヘッドテストを行うこと
により、無辺別な交代登録を防止することができる。
【００５４】続いて、図８のＳ３４においてＲ／Ｗヘッ
ド３３が正常の場合には、図９のＡブロックに示すよう
に、交代元のセクタ（欠陥であるとされたセクタ）の再
テストを行う（Ｓ４１）。テストは、当該セクタのＩＤ
部とデータ部の内容を書き換えた後にリードすることに
よって行う。テストの結果が判断され（Ｓ４２）、欠陥
の場合にはＤブロックに移行し（後述する）、正常の場
合には仮交代セクタ３８ａ2 に記録されたＩＤ部とデー
タ部のデータを読んで当該セクタに書き戻すと共に（Ｓ
４３）、書き戻しデータの検査のためのベリファイ動作
を行わせる（Ｓ４４）。ベリファイ動作は元に戻したデ
ータの確認を行うもので、元データがアンコレクタブル
データの場合には当該ベリファイを行わない。
ド３３が正常の場合には、図９のＡブロックに示すよう
に、交代元のセクタ（欠陥であるとされたセクタ）の再
テストを行う（Ｓ４１）。テストは、当該セクタのＩＤ
部とデータ部の内容を書き換えた後にリードすることに
よって行う。テストの結果が判断され（Ｓ４２）、欠陥
の場合にはＤブロックに移行し（後述する）、正常の場
合には仮交代セクタ３８ａ2 に記録されたＩＤ部とデー
タ部のデータを読んで当該セクタに書き戻すと共に（Ｓ
４３）、書き戻しデータの検査のためのベリファイ動作
を行わせる（Ｓ４４）。ベリファイ動作は元に戻したデ
ータの確認を行うもので、元データがアンコレクタブル
データの場合には当該ベリファイを行わない。
【００５５】ベリファイの結果が判断され（Ｓ４５）、
異常の場合には、Ｓ４１に戻り、正常の場合にはＬＯＧ
（ロジカル）情報（エラーの統計情報）をＳＡ領域３８
ａに登録し（Ｓ４６）、当該セクタの登録アドレスをＲ
スタックより消去して（Ｓ４７）、処理を終了する。一
方、Ｓ４２において、交代元セクタが欠陥セクタの場合
には、図１０の Ｄブロックに示すように、交代先の新
たなセクタを検索し（Ｓ５１）、交代先セクタのＩＤ部
及びデータ部を書き換える（Ｓ５２）。そして、交代先
セクタを再度ベリファイを行ってテストし（Ｓ５３）、
その結果が判断される（Ｓ５４）。異常の場合には交代
先セクタのＩＤ部のデータを消去して（Ｓ５５）、Ｓ５
１に戻る。正常の場合には交代元セクタのＩＤ部のデー
タを消去し（Ｓ５６）、ＳＡ領域３８ａのシーケンステ
ーブル３８ａ1 のＰパラメータ（交代処理が完了したト
ラックのアドレス）を書き換える（Ｓ５７）。
異常の場合には、Ｓ４１に戻り、正常の場合にはＬＯＧ
（ロジカル）情報（エラーの統計情報）をＳＡ領域３８
ａに登録し（Ｓ４６）、当該セクタの登録アドレスをＲ
スタックより消去して（Ｓ４７）、処理を終了する。一
方、Ｓ４２において、交代元セクタが欠陥セクタの場合
には、図１０の Ｄブロックに示すように、交代先の新
たなセクタを検索し（Ｓ５１）、交代先セクタのＩＤ部
及びデータ部を書き換える（Ｓ５２）。そして、交代先
セクタを再度ベリファイを行ってテストし（Ｓ５３）、
その結果が判断される（Ｓ５４）。異常の場合には交代
先セクタのＩＤ部のデータを消去して（Ｓ５５）、Ｓ５
１に戻る。正常の場合には交代元セクタのＩＤ部のデー
タを消去し（Ｓ５６）、ＳＡ領域３８ａのシーケンステ
ーブル３８ａ1 のＰパラメータ（交代処理が完了したト
ラックのアドレス）を書き換える（Ｓ５７）。
【００５６】そして、当該欠陥セクタのアドレスを消去
すると共に、これに隣接するセクタ４箇所のアドレスを
ＳＡ領域３８ａのＲスタックに記録し（Ｓ５８）、ＬＯ
Ｇ情報をＳＡ領域３８ａに登録して（Ｓ５９）、交代処
理を終了する。また、図８におけるＳ３２において、コ
ピーしたデータがノーエラーの場合には、ノイズ等のリ
ードエラーで真の交代処理を行う必要がないことから、
図１１（Ａ）のＢブロックに示すように、ＬＯＧ情報を
ＳＡ領域３８ａに 登録し（Ｓ６１）、当該セクタのア
ドレスをＲスタックより消去して（Ｓ６２）、終了す
る。さらに、図８におけるＳ３７において、ヘッドテス
トによって当該Ｒ／Ｗヘッド３３が異常の場合には、図
１１（Ｂ）のＣブロックに示すように、ＬＯＧ情報をＳ
Ａ領域３８ａに登録し（Ｓ７１）、当該セクタのアドレ
スをＲスタックに記録して（Ｓ７２）、終了する。
すると共に、これに隣接するセクタ４箇所のアドレスを
ＳＡ領域３８ａのＲスタックに記録し（Ｓ５８）、ＬＯ
Ｇ情報をＳＡ領域３８ａに登録して（Ｓ５９）、交代処
理を終了する。また、図８におけるＳ３２において、コ
ピーしたデータがノーエラーの場合には、ノイズ等のリ
ードエラーで真の交代処理を行う必要がないことから、
図１１（Ａ）のＢブロックに示すように、ＬＯＧ情報を
ＳＡ領域３８ａに 登録し（Ｓ６１）、当該セクタのア
ドレスをＲスタックより消去して（Ｓ６２）、終了す
る。さらに、図８におけるＳ３７において、ヘッドテス
トによって当該Ｒ／Ｗヘッド３３が異常の場合には、図
１１（Ｂ）のＣブロックに示すように、ＬＯＧ情報をＳ
Ａ領域３８ａに登録し（Ｓ７１）、当該セクタのアドレ
スをＲスタックに記録して（Ｓ７２）、終了する。
【００５７】ところで、上記図８〜図１１の処理ステッ
プにおいて、Ｓ３１〜Ｓ４３及びＳ４４〜Ｓ７２の処理
ステップの終了毎にＳＡ領域３８ａのシーケンステーブ
ル３８ａ1 を書き換える。これにより、交代処理中の電
源遮断やリセットによるデータ消失や交代処理のやり直
しを防止することができるものである。次に、図１２
に、自己ベリファイ機能を付加した場合のブロック図を
示す。図１２は、制御監視手段５１で監視される自己ベ
リファイ手段６３を設けると共に、自己交代処理におけ
る隣接セクタ記録手段６２を設けたもので、他の構成は
図３と同様であり説明を省略する。
プにおいて、Ｓ３１〜Ｓ４３及びＳ４４〜Ｓ７２の処理
ステップの終了毎にＳＡ領域３８ａのシーケンステーブ
ル３８ａ1 を書き換える。これにより、交代処理中の電
源遮断やリセットによるデータ消失や交代処理のやり直
しを防止することができるものである。次に、図１２
に、自己ベリファイ機能を付加した場合のブロック図を
示す。図１２は、制御監視手段５１で監視される自己ベ
リファイ手段６３を設けると共に、自己交代処理におけ
る隣接セクタ記録手段６２を設けたもので、他の構成は
図３と同様であり説明を省略する。
【００５８】この自己ベリファイ手段６３は、磁気ディ
スク３８の全面を定期的にリードするものであり、例え
ば、３秒間ホストコンピュータ２２からのアクセスがな
い場合に媒体テストを１トラックずつ実施するものであ
る。ベリファイはシーケンシャルテストで行われ、毎回
電源投入と同時に同じトラックをテストするものを避け
るために処理の完了したトラックのアドレスをＳＡ領域
３８ａ上のＰパラメータに記録しておくと共に、リード
エラーとなったセクタのアドレスをＲスタックに記録す
る。
スク３８の全面を定期的にリードするものであり、例え
ば、３秒間ホストコンピュータ２２からのアクセスがな
い場合に媒体テストを１トラックずつ実施するものであ
る。ベリファイはシーケンシャルテストで行われ、毎回
電源投入と同時に同じトラックをテストするものを避け
るために処理の完了したトラックのアドレスをＳＡ領域
３８ａ上のＰパラメータに記録しておくと共に、リード
エラーとなったセクタのアドレスをＲスタックに記録す
る。
【００５９】この場合、未使用セクタにはできるだけリ
ード困難なテスト用リードパターンを記録しておくこと
が好ましく、そのためにはフォーマット時にデータ部に
当該テスト用リードパターンを記録しておくことが好ま
しい。このテスト用リードパターンは媒体検査において
も使用できるものである。そこで、図１３に、図１２の
自己ベリファイ動作のフローチャートを示す。図１３に
示すように、例えばホストコンピュータ２２より３秒間
アクセスがない場合にベリファイ動作を行う。まずＳＡ
領域３８ａのＲスタックを確認し（Ｓ８１）、ベリファ
イ動作を行うセクタが登録されているかを判断する（Ｓ
８２）。その結果、記録されていればリターン状態とな
り、次のセクタのベリファイ動作に移行する。
ード困難なテスト用リードパターンを記録しておくこと
が好ましく、そのためにはフォーマット時にデータ部に
当該テスト用リードパターンを記録しておくことが好ま
しい。このテスト用リードパターンは媒体検査において
も使用できるものである。そこで、図１３に、図１２の
自己ベリファイ動作のフローチャートを示す。図１３に
示すように、例えばホストコンピュータ２２より３秒間
アクセスがない場合にベリファイ動作を行う。まずＳＡ
領域３８ａのＲスタックを確認し（Ｓ８１）、ベリファ
イ動作を行うセクタが登録されているかを判断する（Ｓ
８２）。その結果、記録されていればリターン状態とな
り、次のセクタのベリファイ動作に移行する。
【００６０】Ｒスタックにより当該セクタが記録されて
いなければ、ＳＡ領域３８ａのシーケンステーブル３８
ａ1 のＰパラメータをロードし（Ｓ８３）、当該セクタ
のアドレスにＲ／Ｗヘッド３３をシークしてベリファイ
動作を行う（Ｓ８４）。ベリファイ動作の結果が判断さ
れ（Ｓ８５）、エラーの場合にはＲスタックに当該セク
タのアドレスのＬＢＮ登録を行う（Ｓ８６）。
いなければ、ＳＡ領域３８ａのシーケンステーブル３８
ａ1 のＰパラメータをロードし（Ｓ８３）、当該セクタ
のアドレスにＲ／Ｗヘッド３３をシークしてベリファイ
動作を行う（Ｓ８４）。ベリファイ動作の結果が判断さ
れ（Ｓ８５）、エラーの場合にはＲスタックに当該セク
タのアドレスのＬＢＮ登録を行う（Ｓ８６）。
【００６１】また、ベリファイの結果がエラーでなく、
又は上記ＬＢＮ登録が行われると、上記Ｐパラメータを
書き換えて（Ｓ８７）、リターンされて移行する。この
場合の書き換えは、当該セクタのトラックフォーマット
を変更しないアップデートで行われる。このような定期
的に行われる自己ベリファイによりＲスタックに記録さ
れたデータが定期的に確認され、図８〜図１１に示す自
動交代処理が行われセクタ交代される。これにより、Ｒ
スタック内の欠陥セクタのデータがある程度貯ったとこ
で自動交代処理を行うことができるものである。
又は上記ＬＢＮ登録が行われると、上記Ｐパラメータを
書き換えて（Ｓ８７）、リターンされて移行する。この
場合の書き換えは、当該セクタのトラックフォーマット
を変更しないアップデートで行われる。このような定期
的に行われる自己ベリファイによりＲスタックに記録さ
れたデータが定期的に確認され、図８〜図１１に示す自
動交代処理が行われセクタ交代される。これにより、Ｒ
スタック内の欠陥セクタのデータがある程度貯ったとこ
で自動交代処理を行うことができるものである。
【００６２】このように、常に媒体テストを行うことか
ら、リードエラーを生じるセクタに早期に未然に修復や
交代処理を行うことができ、これによりリードエラー障
害を未然に防止して信頼度を向上させることができる。
次に、図１４に、交代処理中の特別処理のフローチャー
トを示す。図１４において、ホストコンピュータ２２か
らの所定のコマンド（例えばライト命令）等があってイ
ンタフェース制御を行う場合、まず交代処理中か否かが
判断され（Ｓ９１）、交代処理中であれば無条件でイン
タフェース制御が行われる。
ら、リードエラーを生じるセクタに早期に未然に修復や
交代処理を行うことができ、これによりリードエラー障
害を未然に防止して信頼度を向上させることができる。
次に、図１４に、交代処理中の特別処理のフローチャー
トを示す。図１４において、ホストコンピュータ２２か
らの所定のコマンド（例えばライト命令）等があってイ
ンタフェース制御を行う場合、まず交代処理中か否かが
判断され（Ｓ９１）、交代処理中であれば無条件でイン
タフェース制御が行われる。
【００６３】交代処理中の場合には、処理中のＬＢＮを
確認してライト命令が当該ブロックを含むか否かを確認
し（Ｓ９２）、その結果により当該ブロックに書き換え
があるか否かを判断する（Ｓ９３）。書き換えがなけれ
ば交代処理を中断して書き換えが行われる。当該ブロッ
クの書き換えの場合には、処理中のＬＢＮを確認し（Ｓ
９４）、処理がどの段階まで進行しているか判断される
（Ｓ９５）。図８〜図１１における処理ステップＳ３１
〜Ｓ４３の場合には、ＳＡ領域３８ａの仮交代セクタ３
８ａ 2 を使用して交代処理を中断して書き換えが行われ
る（Ｓ９６）。また、図８〜図１１における処理ステッ
プでＳ４４以降の場合には、当該交代処理を完了させた
後に書き換えが行われるものである（Ｓ９７）。
確認してライト命令が当該ブロックを含むか否かを確認
し（Ｓ９２）、その結果により当該ブロックに書き換え
があるか否かを判断する（Ｓ９３）。書き換えがなけれ
ば交代処理を中断して書き換えが行われる。当該ブロッ
クの書き換えの場合には、処理中のＬＢＮを確認し（Ｓ
９４）、処理がどの段階まで進行しているか判断される
（Ｓ９５）。図８〜図１１における処理ステップＳ３１
〜Ｓ４３の場合には、ＳＡ領域３８ａの仮交代セクタ３
８ａ 2 を使用して交代処理を中断して書き換えが行われ
る（Ｓ９６）。また、図８〜図１１における処理ステッ
プでＳ４４以降の場合には、当該交代処理を完了させた
後に書き換えが行われるものである（Ｓ９７）。
【００６４】このように、アクセスしない領域にも独立
してテストすることができると共に、当該交代処理とイ
ンタフェース制御を独立して行わせることもできるもの
である。このように真の媒体欠陥だけを選んで交代する
ことから不適当な交代セクタが増大せず、装置寿命の短
縮をパフォーマンス低下を防止することができる。また
交代処理を機能別に細く分けられて処理毎に処理状況が
記録されることから、電源遮断等によって中断しても処
理を継続することができると共に、交代処理中にユーザ
データを仮交代セクタに一時退避させることでデータ消
失を防止することができ、信頼度の向上を図ることがで
きる。
してテストすることができると共に、当該交代処理とイ
ンタフェース制御を独立して行わせることもできるもの
である。このように真の媒体欠陥だけを選んで交代する
ことから不適当な交代セクタが増大せず、装置寿命の短
縮をパフォーマンス低下を防止することができる。また
交代処理を機能別に細く分けられて処理毎に処理状況が
記録されることから、電源遮断等によって中断しても処
理を継続することができると共に、交代処理中にユーザ
データを仮交代セクタに一時退避させることでデータ消
失を防止することができ、信頼度の向上を図ることがで
きる。
【００６５】さらに、アクセスしない領域にも独立して
テストが行われることから始めて使用したセクタにおい
て致命的なエラーの発生を低減させることができる。ま
た、隣接するトラックやセクタに対してもテストを行う
ことからエラー検出率を向上させることができる。ま
た、交代処理をインタフェース制御と独立させ、かつ細
く分けて処理して中断可能とすることから、タイムアウ
トのような障害を防止することができる。
テストが行われることから始めて使用したセクタにおい
て致命的なエラーの発生を低減させることができる。ま
た、隣接するトラックやセクタに対してもテストを行う
ことからエラー検出率を向上させることができる。ま
た、交代処理をインタフェース制御と独立させ、かつ細
く分けて処理して中断可能とすることから、タイムアウ
トのような障害を防止することができる。
【００６６】従って、出荷前の試験時間を短縮させても
ＥＣＣ機能やオフセットリード機能、フォーマット時の
自己交代処理機能と上記交代処理を併せることにより、
出荷後のフィールドで継続した媒体検査を行うことがで
き、信頼度の向上が図られ、試験時間を大幅に短縮する
ことができるものである。
ＥＣＣ機能やオフセットリード機能、フォーマット時の
自己交代処理機能と上記交代処理を併せることにより、
出荷後のフィールドで継続した媒体検査を行うことがで
き、信頼度の向上が図られ、試験時間を大幅に短縮する
ことができるものである。
【００６７】
【発明の効果】以上のように請求項１，２，５，６，１
１及び１４の発明によれば、所定のセクタのエラー検出
手段によるエラー検出を行い、当該欠陥セクタのデータ
を仮交代領域に一時記録した後に試験手段で当該セクタ
の書き込み、読み出しによる試験を行い、欠陥と判明し
たときに交代処理手段で交代セクタに交代処理を行っ
て、そのアドレスをアドレス記憶手段に記録させ、及び
交代処理の進行状況を記録させることにより、フィール
ドでの試験が可能となって出荷前の試験時間が短縮され
ると共に、不適当な交代セクタの増大が防止されて装置
寿命、パフォーマンスの低下が防止され、また交代処理
中のデータ消失が防止されて信頼性の向上を図ることが
できる。
１及び１４の発明によれば、所定のセクタのエラー検出
手段によるエラー検出を行い、当該欠陥セクタのデータ
を仮交代領域に一時記録した後に試験手段で当該セクタ
の書き込み、読み出しによる試験を行い、欠陥と判明し
たときに交代処理手段で交代セクタに交代処理を行っ
て、そのアドレスをアドレス記憶手段に記録させ、及び
交代処理の進行状況を記録させることにより、フィール
ドでの試験が可能となって出荷前の試験時間が短縮され
ると共に、不適当な交代セクタの増大が防止されて装置
寿命、パフォーマンスの低下が防止され、また交代処理
中のデータ消失が防止されて信頼性の向上を図ることが
できる。
【００６８】請求項３の発明によれば、欠陥セクタの隣
接トラックにおける同位置のセクタを記憶手段に記録さ
せることにより、欠陥セクタの隣接セクタの欠陥率の高
いことに鑑みて記録させて試験を行うことができ、欠陥
セクタの検出率の向上を図ることができる。請求項４及
び１６の発明によれば、仮交代領域へのデータ記録後に
リードエラーの再現性を試験することにより、データ保
護が図られ、不必要な交代処理が防止されて交代セクタ
の増加を防止することができる。
接トラックにおける同位置のセクタを記憶手段に記録さ
せることにより、欠陥セクタの隣接セクタの欠陥率の高
いことに鑑みて記録させて試験を行うことができ、欠陥
セクタの検出率の向上を図ることができる。請求項４及
び１６の発明によれば、仮交代領域へのデータ記録後に
リードエラーの再現性を試験することにより、データ保
護が図られ、不必要な交代処理が防止されて交代セクタ
の増加を防止することができる。
【００６９】請求項７〜１０及び１５の発明によれば、
データ読み出したヘッドを試験用データのリード又はダ
ミーライトにより試験することにより、必要のない交代
処理の実行を防止することができる。請求項１２の発明
によれば、交代処理に至る処理の順序を制御することに
より、処理ステップを分割することが可能となって処理
段階に応じて中断からの処理を続行することができる。
データ読み出したヘッドを試験用データのリード又はダ
ミーライトにより試験することにより、必要のない交代
処理の実行を防止することができる。請求項１２の発明
によれば、交代処理に至る処理の順序を制御することに
より、処理ステップを分割することが可能となって処理
段階に応じて中断からの処理を続行することができる。
【００７０】請求項１３の発明によれば、交代処理に至
る処理を上位からの制御と独立して並行に行わせること
により、交代処理途中での中断、継続が行われてタイム
アウト障害を防止することが可能となって小型の装置に
も信頼性高く適用することがてきる。請求項１７及び１
８の発明によれば、上位からの命令以外に定期的に自己
ベリファイを行わせて、欠陥セクタのアドレスを記録さ
せ、記録された欠陥セクタのアドレスを読み出して前記
交代処理を行わせることにより、アクセスしない領域に
も媒体試験が可能となって、初めて使用したセクタでの
エラーを低減させることができると共に、交代処理の効
率化を図ることができる。
る処理を上位からの制御と独立して並行に行わせること
により、交代処理途中での中断、継続が行われてタイム
アウト障害を防止することが可能となって小型の装置に
も信頼性高く適用することがてきる。請求項１７及び１
８の発明によれば、上位からの命令以外に定期的に自己
ベリファイを行わせて、欠陥セクタのアドレスを記録さ
せ、記録された欠陥セクタのアドレスを読み出して前記
交代処理を行わせることにより、アクセスしない領域に
も媒体試験が可能となって、初めて使用したセクタでの
エラーを低減させることができると共に、交代処理の効
率化を図ることができる。
【図１】本発明の一実施例の構成図である。
【図２】磁気ディスク装置の内部平面図である。
【図３】図１の制御監視部及び自動交代制御部のブロッ
ク図である。
ク図である。
【図４】図３の自動交代処理の各手段の処理ブロック図
である。
である。
【図５】ＳＡ領域の構成図である。
【図６】本発明の試験の全体フローチャートである。
【図７】電源投入時及びリセット時のフローチャートで
ある。
ある。
【図８】本発明の交代処理の細部フローチャート（１）
である。
である。
【図９】本発明の交代処理の細部フローチャート（２）
である。
である。
【図１０】本発明の交代処理の細部フローチャート
（３）である。
（３）である。
【図１１】本発明の交代処理の細部フローチャート
（４）である。
（４）である。
【図１２】自己ベリファイ機能を付加した場合のブロッ
ク図である。
ク図である。
【図１３】図１２の自己ベリファイ動作のフローチャー
トである。
トである。
【図１４】交代処理中の特別処理のフローチャートであ
る。
る。
【図１５】従来の交代セクタの説明図である。
【図１６】従来の試験方法の説明図である。
２１ 磁気ディスク装置 ２２ ホストコンピュータ ２４ インタフェース回路 ２５ ＨＤＣ ２６ 制御監視部 ２７ 自動交代処理制御部 ２８ ＭＰＵ ２９ ＲＯＭ ３０ ＲＡＭ ３１ バッファ ３３ Ｒ／Ｗヘッド ３５ ＶＣＭ ３７ ＳＰＭ ３８ 磁気ディスク ３８ａ ＳＡ領域 ５１ 制御監視手段 ５２ インタフェース制御手段 ５３ ドライブ制御手段 ５４ 自動交代処理制御手段 ５５ 欠陥セクタ記録手段 ５６ 進行状況ライト手段 ５７ 進行状況リード手段 ５８ データ保持手段 ５９ Ｗ／Ｒテスト手段 ６０ 欠陥セクタテスト手段 ６１ 交代ブロック手段 ６２ 隣接セクタ記録手段 ６３ 自己ベリファイ手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 松田 俊彦 山形県東根市大字東根元東根字大森5400 番２（番地なし） 株式会社山形富士通 内 (72)発明者 石井 幸治 山形県東根市大字東根元東根字大森5400 番２（番地なし） 株式会社山形富士通 内 (72)発明者 小林 裕之 山形県東根市大字東根元東根字大森5400 番２（番地なし） 株式会社山形富士通 内 (72)発明者 阿部 幸雄 山形県東根市大字東根元東根字大森5400 番２（番地なし） 株式会社山形富士通 内 (56)参考文献 特開 平６−314470（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−205411（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−231773（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G11B 20/18,20/10
Claims (18)
- 【請求項１】 記録媒体に対してヘッドにより記録再生
を行うに際し、記録媒体上の欠陥セクタを交代領域へ交
代処理させる記録再生装置において、 前記記録媒体の所定のセクタからデータを読み出し、前
記データのエラー検出を行うエラー検出手段と、 前記エラー検出手段によりエラーが検出されたときに、
エラーが検出された前記セクタのデータを仮交代領域に
一時記録する仮交代処理を行う仮交代処理手段と、前記仮交代処理手段により前記仮交代処理が行われた後
に、前記セクタに 前記データエラーが生じたエラー原因
を究明する試験手段と、 を備えてなることを特徴とする記録再生装置。 - 【請求項２】 前記セクタが欠陥セクタであることを検
出した際に、前記欠陥セクタのアドレスを記憶するアド
レス記憶手段を備えてなることを特徴とする請求項１記
載の記録再生装置。 - 【請求項３】 前記アドレス記憶手段は、前記セクタの
隣接セクタ又は隣接トラックのセクタのアドレスを記憶
することを特徴とする請求項２記載の記録再生装置。 - 【請求項４】 前記試験手段は、前記データエラーが検
出されたセクタを再度読出して、再度エラーが生じるか
を検査するリード再現性試験手段を備えてなることを特
徴とする請求項１〜３の何れか一項に記載の記録再生装
置。 - 【請求項５】 前記試験手段は、前記データエラーが検
出されたセクタに対して、データの書込み／読み出し試
験を行い、前記セクタが欠陥であるかを検査するセクタ
試験手段を備えてなることを特徴とする請求項１〜４の
何れか一項に記載の記録再生装置。 - 【請求項６】 前記セクタ試験手段により前記セクタが
欠陥であることを検出した場合は、前記セクタに記録さ
れたデータを仮交代領域から読み出して交代領域に記録
し、 前記セクタ試験手段により前記セクタが正常セクタであ
ることを検出した場合は、前記領域に記録されていたデ
ータを仮交代領域から読み出して前記領域に書き戻す交
代処理手段を備えてなることを特徴とする請求項５記載
の記録再生装置。 - 【請求項７】 前記試験手段は、前記データ検出手段が
データエラーを検出した際に、データの読み出しに使用
した前記ヘッドを検査するヘッド試験手段を備えてなる
ことを特徴とする請求項１〜６の何れか一項に記載の記
録再生装置。 - 【請求項８】 前記ヘッド試験手段は、前記ヘッドにリ
ード試験用データを読ませ、リードエラーが生じるかを
検査することを特徴とする請求項７記載の記録再生装
置。 - 【請求項９】 前記ヘッド試験手段は、前記ヘッドにダ
ミーライト処理を行わせることを特徴とする請求項７又
は８記載の記録再生装置。 - 【請求項１０】 前記ヘッド試験手段は、前記ダミーラ
イト処理を記録媒体上の記録されたデータに影響しない
領域において行わせることを特徴とする請求項９記載の
記録再生装置。 - 【請求項１１】 前記交代処理の進行状況を記憶する進
行状況記憶手段を備えてなることを特徴とする請求項１
〜１０の何れか一項に記載の記録再生装置。 - 【請求項１２】 前記交代処理の処理順序を制御する処
理順序制御手段を備えてなることを特徴とする請求項１
〜１１の何れか一項に記載の記録再生装置。 - 【請求項１３】 前記交代処理の各種処理を、上位から
の各種命令の実行と独立して並列処理させる監視手段を
備えてなることを特徴とする請求項１〜１２の何れか一
項に記載の記録再生装置。 - 【請求項１４】 記録媒体に対してヘッドにより記録再
生を行うに際し、該記録媒体における欠陥を有するセク
タの交代セクタへの交代処理を行う記録再生装置の記録
媒体の交代処理方法において、 前記記録媒体の前記欠陥を有するセクタを割り出すステ
ップと、 前記欠陥を有するセクタの当該データを仮交代領域に一
時記録するステップと、当該データを仮交代領域に一時記録した後に、 前記欠陥
を有するセクタのデータを書き換え、再度読み出して試
験を行うステップと、 前記セクタが欠陥のときに前記セクタに交代処理を行
い、前記仮交代領域のデータを当該交代セクタに記録さ
せるステップと、 前記セクタのアドレスをアドレス記憶手段に記録させ、
交代処理の進行状況を記録させるステップと、 を含むことを特徴とする記録媒体の交代処理方法。 - 【請求項１５】 前記欠陥を有するセクタが割り出され
たときに、使用された前記ヘッドの試験を行わせること
を特徴とする請求項１４記載の記録媒体の交代処理方
法。 - 【請求項１６】 前記仮交代領域へのデータ記録後にリ
ードエラーの再現性の試験を行わせることを特徴とする
請求項１４又は１５記載の記録媒体の交代処理方法。 - 【請求項１７】 上位からの交代処理命令以外に、定期
的に前記欠陥セクタの有無を試験して該欠陥セクタのア
ドレスを前記アドレス記憶手段に記録することを特徴と
する請求項１４〜１６の何れか一項に記載の記録媒体の
交代処理方法。 - 【請求項１８】 前記アドレス記憶手段の記録内容を読
み出して当該欠陥セクタに対する交代処理が行われるこ
とを特徴とする請求項１４〜１６の何れか一項記載の記
録媒体の交代処理方法。
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