JP2001216616A - 磁気記録装置、および磁気記録用ヘッドの異常検出方法 - Google Patents
磁気記録装置、および磁気記録用ヘッドの異常検出方法Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 データ書込みの周波数が高くなっても、磁気
記録用ヘッドのオープン、ショートなどの異常を正しく
検出する。 【解決手段】 実際にデータを記録していない時点で低
周波のテストデータ書込み用、または直流の電流をヘッ
ドに流し、ヘッドの端子電圧があらかじめ定められた範
囲内にあるか／否かによって、磁気記録用ヘッドの正常
／異常を検出する。
記録用ヘッドのオープン、ショートなどの異常を正しく
検出する。 【解決手段】 実際にデータを記録していない時点で低
周波のテストデータ書込み用、または直流の電流をヘッ
ドに流し、ヘッドの端子電圧があらかじめ定められた範
囲内にあるか／否かによって、磁気記録用ヘッドの正常
／異常を検出する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は磁気記録装置に係
り、更に詳しくは例えばハードディスクなどの磁気記録
用ヘッドのオープンやショートなどの故障を検出するた
めの、磁気記録用ヘッドの異常検出方法に関する。
り、更に詳しくは例えばハードディスクなどの磁気記録
用ヘッドのオープンやショートなどの故障を検出するた
めの、磁気記録用ヘッドの異常検出方法に関する。
【０００２】
【従来の技術および発明が解決しようとする課題】従来
の磁気記録装置では、磁気記録用ヘッドのオープンやシ
ョートなどの異常検出を行うために、磁気記録用ヘッド
において実際にデータ書込みが行われる時にその端子電
圧をモニタすることによって異常検出が行われていた。
図９はその異常検出方法の説明図である。 同図(a) に
おいて矩形波は実際の書込みデータを表わす電圧であ
り、曲線で示される波形はヘッドの端子電圧である。一
般的にヘッドの端子電圧は、データの変化時点でオーバ
シュートなどの過渡的な電圧（フライバック電圧）を生
じ、その後に矩形波の値に落ち着く傾向がある。
の磁気記録装置では、磁気記録用ヘッドのオープンやシ
ョートなどの異常検出を行うために、磁気記録用ヘッド
において実際にデータ書込みが行われる時にその端子電
圧をモニタすることによって異常検出が行われていた。
図９はその異常検出方法の説明図である。 同図(a) に
おいて矩形波は実際の書込みデータを表わす電圧であ
り、曲線で示される波形はヘッドの端子電圧である。一
般的にヘッドの端子電圧は、データの変化時点でオーバ
シュートなどの過渡的な電圧（フライバック電圧）を生
じ、その後に矩形波の値に落ち着く傾向がある。
【０００３】図９において、レベル１とレベル２とはヘ
ッド故障検出のための２つのレベルであり、データに対
応する矩形波の電圧がレベル１以下である時にはヘッド
がショートしていることが検出され、またレベル２以上
である場合にはヘッドがオープンであることが検出され
る。図９(a) において、故障検出時点（１）での電圧は
この２つのレベルの間にあり、ヘッドが故障していない
ことが正しく検出されている。
ッド故障検出のための２つのレベルであり、データに対
応する矩形波の電圧がレベル１以下である時にはヘッド
がショートしていることが検出され、またレベル２以上
である場合にはヘッドがオープンであることが検出され
る。図９(a) において、故障検出時点（１）での電圧は
この２つのレベルの間にあり、ヘッドが故障していない
ことが正しく検出されている。
【０００４】図９(b) においては、書込みデータの周波
数が大きくなり、このためヘッドの端子電圧がオーバシ
ュートを生じた後に矩形波の電圧に留まる時間が非常に
短くなり、すぐにデータの反転が起こっている。このた
め、例えば時点（２）においてヘッドの端子電圧がモニ
タされると、実際にはヘッドが正常であるにもかかわら
ず、モニタされた電圧値はレベル２より大きいものと判
定され、ヘッドの故障、すなわちヘッドのオープンと判
定されてしまうことになる。これは(a) に比べて書込み
データの周波数が高くなっているためである。
数が大きくなり、このためヘッドの端子電圧がオーバシ
ュートを生じた後に矩形波の電圧に留まる時間が非常に
短くなり、すぐにデータの反転が起こっている。このた
め、例えば時点（２）においてヘッドの端子電圧がモニ
タされると、実際にはヘッドが正常であるにもかかわら
ず、モニタされた電圧値はレベル２より大きいものと判
定され、ヘッドの故障、すなわちヘッドのオープンと判
定されてしまうことになる。これは(a) に比べて書込み
データの周波数が高くなっているためである。
【０００５】ヘッドの端子電圧にオーバシュートなどの
過渡電圧が発生するフライバック期間はヘッドの書込み
用コイルのインダクタンスなどによって決定されるもの
で、書込みデータの周波数にはあまり関係なくほぼ一定
となるため、(b) では(a) に比べてフライバック期間の
後で電圧が矩形波の値で一定に留まる期間が非常に短く
なり、ヘッドの故障検出を正確に行うことができなくな
ってしまうという問題点があった。
過渡電圧が発生するフライバック期間はヘッドの書込み
用コイルのインダクタンスなどによって決定されるもの
で、書込みデータの周波数にはあまり関係なくほぼ一定
となるため、(b) では(a) に比べてフライバック期間の
後で電圧が矩形波の値で一定に留まる期間が非常に短く
なり、ヘッドの故障検出を正確に行うことができなくな
ってしまうという問題点があった。
【０００６】図１０はヘッドのショート検出が正確にで
きなくなる問題点の説明図である。同図(a) において、
フライバック期間の終了後ヘッドの端子電圧はショート
を示すほぼ０となっており、（３）の時点でこの電圧を
モニタすることによって、ヘッドのショートを正しく検
出することができる。
きなくなる問題点の説明図である。同図(a) において、
フライバック期間の終了後ヘッドの端子電圧はショート
を示すほぼ０となっており、（３）の時点でこの電圧を
モニタすることによって、ヘッドのショートを正しく検
出することができる。
【０００７】これに対して図１０(b) では、書込みデー
タの周波数が高くなっているため、ヘッドの端子電圧が
レベル１より小さくなる期間が非常に短くなり、例えば
（４）の時点で電圧をモニタするとヘッドのショートが
検出されず、正しい異常検出を行うことができないこと
になる。
タの周波数が高くなっているため、ヘッドの端子電圧が
レベル１より小さくなる期間が非常に短くなり、例えば
（４）の時点で電圧をモニタするとヘッドのショートが
検出されず、正しい異常検出を行うことができないこと
になる。
【０００８】このように磁気記録装置の高速化が進み、
書込みデータの周波数が高くなってフライバック期間と
データの反転周期との間の余裕が少なくなると、書込み
データに対応するヘッドの端子電圧をモニタして故障検
出を行う場合には磁気記録用ヘッドの故障、すなわちオ
ープンまたはショートの状態を正しく検出できず、デー
タの書込み動作が正常であると誤って判定して書込みを
行い、データの紛失が起こってしまうという問題点があ
った。
書込みデータの周波数が高くなってフライバック期間と
データの反転周期との間の余裕が少なくなると、書込み
データに対応するヘッドの端子電圧をモニタして故障検
出を行う場合には磁気記録用ヘッドの故障、すなわちオ
ープンまたはショートの状態を正しく検出できず、デー
タの書込み動作が正常であると誤って判定して書込みを
行い、データの紛失が起こってしまうという問題点があ
った。
【０００９】本発明の課題は、磁気記録装置の高速化が
進み、書込みデータの周波数が高くなっても、磁気記録
用ヘッドの故障検出を正しく行うことができる磁気記録
用ヘッドの異常検出方法を提供することでる。
進み、書込みデータの周波数が高くなっても、磁気記録
用ヘッドの故障検出を正しく行うことができる磁気記録
用ヘッドの異常検出方法を提供することでる。
【００１０】
【課題を解決するための手段】図１は本発明の機能ブロ
ック図である。同図は磁気記録装置の磁気記録用ヘッド
の異常検出方法の機能ブロック図である。
ック図である。同図は磁気記録装置の磁気記録用ヘッド
の異常検出方法の機能ブロック図である。
【００１１】本発明の磁気記録用ヘッドの異常検出方法
においては、１で実際にデータを記録していない時点で
磁気記録用ヘッドに低周波のテストデータの書込みを行
うための電流を流し、２で磁気記録用ヘッドの端子電圧
があらかじめ定められた範囲内、例えば図９で説明した
レベル１とレベル２の間にあるか否かによって、磁気記
録ヘッドの正常／異常を検出する。
においては、１で実際にデータを記録していない時点で
磁気記録用ヘッドに低周波のテストデータの書込みを行
うための電流を流し、２で磁気記録用ヘッドの端子電圧
があらかじめ定められた範囲内、例えば図９で説明した
レベル１とレベル２の間にあるか否かによって、磁気記
録ヘッドの正常／異常を検出する。
【００１２】本発明の実施の形態においては、磁気記録
用ヘッドにテストデータ書込み用電流を流す時点は、磁
気記録用ヘッドが磁気記録媒体、例えば磁気ディスクの
セクタ内のギャップ部に存在する時点とすることもでき
る。
用ヘッドにテストデータ書込み用電流を流す時点は、磁
気記録用ヘッドが磁気記録媒体、例えば磁気ディスクの
セクタ内のギャップ部に存在する時点とすることもでき
る。
【００１３】またこのテストデータ書込み用電流を流す
時点は、磁気記録用ヘッドが磁気記録媒体上でテストデ
ータ書込み用のダミー位置、例えば１つのセクタをダミ
ー位置とする場合には、そのセクタ上に存在する時点と
することもできる。
時点は、磁気記録用ヘッドが磁気記録媒体上でテストデ
ータ書込み用のダミー位置、例えば１つのセクタをダミ
ー位置とする場合には、そのセクタ上に存在する時点と
することもできる。
【００１４】あるいはこのテストデータ書込み用電流を
流す時点は、磁気記録装置の起動時において磁気記録用
ヘッドが磁気記録媒体上に移動する前の時点とすること
もできる。
流す時点は、磁気記録装置の起動時において磁気記録用
ヘッドが磁気記録媒体上に移動する前の時点とすること
もできる。
【００１５】更にこのテストデータ書込み用電流を流す
時点は、磁気記録装置に対して一定時間以上アクセスが
なく、磁気記録用ヘッドが待避位置に移動した以後の時
点とすることもできる。
時点は、磁気記録装置に対して一定時間以上アクセスが
なく、磁気記録用ヘッドが待避位置に移動した以後の時
点とすることもできる。
【００１６】本発明の磁気記録用ヘッドの異常検出方法
においては、実際にデータを記録していない時点で磁気
記録用ヘッドに直流電流を流し、磁気記録用ヘッドの端
子電圧があらかじめ定められた範囲内にあるか／否かに
よって、磁気記録用ヘッドの正常／異常を検出すること
もできる。
においては、実際にデータを記録していない時点で磁気
記録用ヘッドに直流電流を流し、磁気記録用ヘッドの端
子電圧があらかじめ定められた範囲内にあるか／否かに
よって、磁気記録用ヘッドの正常／異常を検出すること
もできる。
【００１７】この場合、磁気記録用ヘッドに直流電流を
流す時点は、磁気記録用ヘッドが磁気記録媒体のセクタ
内のギャップ部に存在する時点、磁気記録用ヘッドが磁
気記録媒体上でテストデータ書込み用のダミー位置に存
在する時点、磁気記録装置の起動時において磁気記録用
ヘッドが磁気記録媒体上に移動する前の時点、または磁
気記録装置に対して一定時間以上アクセスがなく、磁気
記録用ヘッドが待避位置に移動した以後の時点のいずれ
の時点とすることもできる。
流す時点は、磁気記録用ヘッドが磁気記録媒体のセクタ
内のギャップ部に存在する時点、磁気記録用ヘッドが磁
気記録媒体上でテストデータ書込み用のダミー位置に存
在する時点、磁気記録装置の起動時において磁気記録用
ヘッドが磁気記録媒体上に移動する前の時点、または磁
気記録装置に対して一定時間以上アクセスがなく、磁気
記録用ヘッドが待避位置に移動した以後の時点のいずれ
の時点とすることもできる。
【００１８】次に本発明の磁気記録装置においては、実
際にデータを記録していない時点で磁気記録用ヘッドに
低周波のテストデータの書込みを行うための電流を流す
テストデータ書込み用電流供給手段と、テストデータ書
込み用電流に対する磁気記録用ヘッドの端子電圧があら
かじめ定められた範囲内にあるか／否かによって、磁気
記録ヘッドの正常／異常を検出する磁気記録用ヘッド異
常検出手段とが備えられる。
際にデータを記録していない時点で磁気記録用ヘッドに
低周波のテストデータの書込みを行うための電流を流す
テストデータ書込み用電流供給手段と、テストデータ書
込み用電流に対する磁気記録用ヘッドの端子電圧があら
かじめ定められた範囲内にあるか／否かによって、磁気
記録ヘッドの正常／異常を検出する磁気記録用ヘッド異
常検出手段とが備えられる。
【００１９】あるいは本発明の磁気記録装置において
は、実際にデータを記録していない時点で磁気記録用ヘ
ッドに直流電流を流す直流電流供給手段と、その直流電
流に対する磁気記録用ヘッドの端子電圧があらかじめ定
められた範囲内にあるか／否かによって、磁気記録用ヘ
ッドの正常／異常を検出する磁気記録用ヘッド異常検出
手段とが備えられる。
は、実際にデータを記録していない時点で磁気記録用ヘ
ッドに直流電流を流す直流電流供給手段と、その直流電
流に対する磁気記録用ヘッドの端子電圧があらかじめ定
められた範囲内にあるか／否かによって、磁気記録用ヘ
ッドの正常／異常を検出する磁気記録用ヘッド異常検出
手段とが備えられる。
【００２０】以上のように本発明においては、実際にデ
ータを記録していない時点で磁気記録用ヘッドに電流が
流され、磁気記録用ヘッドの端子電圧の大きさによって
磁気記録用ヘッドの正常／異常が検出される。
ータを記録していない時点で磁気記録用ヘッドに電流が
流され、磁気記録用ヘッドの端子電圧の大きさによって
磁気記録用ヘッドの正常／異常が検出される。
【００２１】
【発明の実施の形態】図２は、本発明の磁気記録用ヘッ
ドの異常検出方法が用いられる磁気記録装置、例えばハ
ードディスクドライブ（ＨＤＤ）の概略構成図である。
同図において、磁気記録用ヘッド１０は磁気ディスク１
１上を移動するが、磁気ディスク１１はスピンドルモー
タ（ＳＰＭ）１２によって回転する。また磁気記録用ヘ
ッド１０は、ボイスコイルモータ（ＶＣＭ）１３の回転
によってその位置が制御される。
ドの異常検出方法が用いられる磁気記録装置、例えばハ
ードディスクドライブ（ＨＤＤ）の概略構成図である。
同図において、磁気記録用ヘッド１０は磁気ディスク１
１上を移動するが、磁気ディスク１１はスピンドルモー
タ（ＳＰＭ）１２によって回転する。また磁気記録用ヘ
ッド１０は、ボイスコイルモータ（ＶＣＭ）１３の回転
によってその位置が制御される。
【００２２】磁気記録用ヘッド１０のリード／ライト信
号は、リード／ライトアンプ１４を介してリード／ライ
ト信号変換部１５との間でやり取りされ、またリード／
ライト信号交換部１５に対するリード／ライト信号はハ
ードディスクコントローラ（ＨＤＣ）１６を介して、例
えばパソコン（ＰＣ）ホスト側との間でやり取りされ
る。
号は、リード／ライトアンプ１４を介してリード／ライ
ト信号変換部１５との間でやり取りされ、またリード／
ライト信号交換部１５に対するリード／ライト信号はハ
ードディスクコントローラ（ＨＤＣ）１６を介して、例
えばパソコン（ＰＣ）ホスト側との間でやり取りされ
る。
【００２３】ＨＤＣ１６による信号制御はメモリ１７を
用いて行われ、またＨＤＣ１６、リード／ライト信号変
換部１５の動作はマイクロコントローラ（コンピュー
タ）ユニットＭＣＵ１９によって制御される。スピンド
ルモータ１２およびボイスコイルモータ１３の回転は、
ＳＰＭ／ＶＣＭドライバ１８を介してＭＣＵ１９によっ
て制御される。
用いて行われ、またＨＤＣ１６、リード／ライト信号変
換部１５の動作はマイクロコントローラ（コンピュー
タ）ユニットＭＣＵ１９によって制御される。スピンド
ルモータ１２およびボイスコイルモータ１３の回転は、
ＳＰＭ／ＶＣＭドライバ１８を介してＭＣＵ１９によっ
て制御される。
【００２４】図３は本発明における磁気記録用ヘッドの
異常検出方法の全体処理フローチャートである。同図に
おいて、例えばパソコンホスト側からのデータ入力がス
テップＳ０で図２のＨＤＣ１６に与えられるが、この入
力が一定時間以上ないかどうかがステップＳ１で判定さ
れる。この判定がＮｏの場合、すなわちデータが入力さ
れている場合には、ステップＳ２で書き込まれるべき通
常データの後に低周波のテストデータがつけられ、後述
するようにセクタ内のギャップ部に対して、ステップＳ
３で書き込みが実行された後に、ステップＳ６で故障検
出が実行される。
異常検出方法の全体処理フローチャートである。同図に
おいて、例えばパソコンホスト側からのデータ入力がス
テップＳ０で図２のＨＤＣ１６に与えられるが、この入
力が一定時間以上ないかどうかがステップＳ１で判定さ
れる。この判定がＮｏの場合、すなわちデータが入力さ
れている場合には、ステップＳ２で書き込まれるべき通
常データの後に低周波のテストデータがつけられ、後述
するようにセクタ内のギャップ部に対して、ステップＳ
３で書き込みが実行された後に、ステップＳ６で故障検
出が実行される。
【００２５】ステップＳ１で一定時間データの入力がな
い（Ｙｅｓ）と判定されると、ステップＳ４で後述する
待避位置、またはテストデータ書込み領域、すなわちダ
ミー領域（テスト領域）へのヘッドの移動が行われ、ス
テップＳ５で待避位置、またはダミー領域へのテストデ
ータの書込みが行われ、ステップＳ６で故障の検出が実
行される。
い（Ｙｅｓ）と判定されると、ステップＳ４で後述する
待避位置、またはテストデータ書込み領域、すなわちダ
ミー領域（テスト領域）へのヘッドの移動が行われ、ス
テップＳ５で待避位置、またはダミー領域へのテストデ
ータの書込みが行われ、ステップＳ６で故障の検出が実
行される。
【００２６】ステップＳ６では、後述する図７の検出回
路を用いて、図８のフローに従って磁気記録用ヘッドの
故障、すなわちオープンまたはショートの検出が行われ
るが、故障が検出されない場合にはステップＳ１以降の
処理が繰り返され、故障が検出された場合には故障検出
信号としてのＦａｕｌｔ信号がステップＳ７で出力され
て、処理を終了する。
路を用いて、図８のフローに従って磁気記録用ヘッドの
故障、すなわちオープンまたはショートの検出が行われ
るが、故障が検出されない場合にはステップＳ１以降の
処理が繰り返され、故障が検出された場合には故障検出
信号としてのＦａｕｌｔ信号がステップＳ７で出力され
て、処理を終了する。
【００２７】なおステップＳ１においてＰＣホスト側か
らデータ入力が一定時間以上ないか否かが判定される
が、この判定では図２においてＰＣホスト側からＨＤＣ
１６に入力されるデータが一定時間以上ないか否かがＭ
ＣＵ１９によって判定される。
らデータ入力が一定時間以上ないか否かが判定される
が、この判定では図２においてＰＣホスト側からＨＤＣ
１６に入力されるデータが一定時間以上ないか否かがＭ
ＣＵ１９によって判定される。
【００２８】図４は磁気ディスク上のデータ格納領域の
最小単位としてのセクタの構成の説明図である。同図に
おいて１つのセクタは、磁気記録用ヘッドがデータを書
き込むべき正しいセクタの位置に乗っているか否かを検
出するためのサーボエリア、実際にデータが書き込まれ
るデータエリア、およびセクタの境界にあたり、一般に
は意味のないデータなどが書き込まれるギャップの３つ
の部分から構成されている。
最小単位としてのセクタの構成の説明図である。同図に
おいて１つのセクタは、磁気記録用ヘッドがデータを書
き込むべき正しいセクタの位置に乗っているか否かを検
出するためのサーボエリア、実際にデータが書き込まれ
るデータエリア、およびセクタの境界にあたり、一般に
は意味のないデータなどが書き込まれるギャップの３つ
の部分から構成されている。
【００２９】本発明の実施の形態においては、セクタと
セクタの間の境界であり、従来は意味のないデータしか
書き込まれなかったギャップ部上にヘッドが存在する時
に、テストデータを書き込むための電流、または直流電
流を磁気記録用ヘッドに流し、ヘッドの端子電圧があら
かじめ定められた範囲内、例ば図９で説明したレベル１
とレベル２の間にあるか／否かによって、磁気記録用ヘ
ッドの正常／異常を検出する。この場合、低周波のテス
トデータであっても、例えば図９(a) に説明したような
波形のデータを数百、あるいは数千周期以上に渡ってギ
ャップ部に書き込むことは十分可能であり、フライバッ
ク期間の終了した時点、例えば（１）のような時点でヘ
ッドの異常検出を行うことによって、異常検出を正しく
実行することが可能となる。
セクタの間の境界であり、従来は意味のないデータしか
書き込まれなかったギャップ部上にヘッドが存在する時
に、テストデータを書き込むための電流、または直流電
流を磁気記録用ヘッドに流し、ヘッドの端子電圧があら
かじめ定められた範囲内、例ば図９で説明したレベル１
とレベル２の間にあるか／否かによって、磁気記録用ヘ
ッドの正常／異常を検出する。この場合、低周波のテス
トデータであっても、例えば図９(a) に説明したような
波形のデータを数百、あるいは数千周期以上に渡ってギ
ャップ部に書き込むことは十分可能であり、フライバッ
ク期間の終了した時点、例えば（１）のような時点でヘ
ッドの異常検出を行うことによって、異常検出を正しく
実行することが可能となる。
【００３０】本発明の実施の形態においては、テストデ
ータ書込み用電流、または直流電流を磁気記録用ヘッド
に流す時点は、図４で説明したようにヘッドがギャップ
部に存在する時点以外に、例ばテストデータ書込み用の
ダミーの位置に存在する時点とすることもできる。図５
はそのようなダミーの位置としての一部のセクタ（また
は更にその一部）の説明図である。同図において領域２
１は、例えば１つまたは複数のセクタ、または１つのセ
クタの更にその一部であり、この中のデータエリアに対
してテストデータを書き込むための電流、または直流電
流を磁気記録用ヘッドが領域２１に存在する時点で流す
こともできる。
ータ書込み用電流、または直流電流を磁気記録用ヘッド
に流す時点は、図４で説明したようにヘッドがギャップ
部に存在する時点以外に、例ばテストデータ書込み用の
ダミーの位置に存在する時点とすることもできる。図５
はそのようなダミーの位置としての一部のセクタ（また
は更にその一部）の説明図である。同図において領域２
１は、例えば１つまたは複数のセクタ、または１つのセ
クタの更にその一部であり、この中のデータエリアに対
してテストデータを書き込むための電流、または直流電
流を磁気記録用ヘッドが領域２１に存在する時点で流す
こともできる。
【００３１】図６は更に異なる実施形態としてのテスト
データ書込み用電流、または直流電流を流す時点におけ
るヘッドの位置の説明図である。同図において、一般に
正常なデータを書き込むべきセクタはラック２２上に存
在するが、例えば磁気ディスクの最も内側の部分に、正
常なデータの書込みには使用されず、ヘッド２３が移動
することができる待避位置２４が設けられている。前述
のように磁気記録装置に対して一定時間以上データ入力
などのアクセスがない場合に、磁気記録用ヘッド２３を
待避位置２４に移動させて、低周波のテストデータ書込
み用電流、または直流電流をヘッドに流し、ヘッドの端
子電圧を検出することによってヘッドの異常検出が行わ
れる。
データ書込み用電流、または直流電流を流す時点におけ
るヘッドの位置の説明図である。同図において、一般に
正常なデータを書き込むべきセクタはラック２２上に存
在するが、例えば磁気ディスクの最も内側の部分に、正
常なデータの書込みには使用されず、ヘッド２３が移動
することができる待避位置２４が設けられている。前述
のように磁気記録装置に対して一定時間以上データ入力
などのアクセスがない場合に、磁気記録用ヘッド２３を
待避位置２４に移動させて、低周波のテストデータ書込
み用電流、または直流電流をヘッドに流し、ヘッドの端
子電圧を検出することによってヘッドの異常検出が行わ
れる。
【００３２】図６においてヘッドロック機構２５は、例
えば磁気ディスクの最も外側に設けられ、この位置でヘ
ッドをロックさせることができるものである。磁気記録
装置の起動時には磁気記録用ヘッドは例えばこの位置、
または前述の待避位置でロックされており、磁気ディス
ク上に移動する前にヘッドにテストデータ書込み用電
流、または直流電流を流し、ヘッドの端子電圧を検出す
ることによってヘッドの異常検出を行うこともできる。
えば磁気ディスクの最も外側に設けられ、この位置でヘ
ッドをロックさせることができるものである。磁気記録
装置の起動時には磁気記録用ヘッドは例えばこの位置、
または前述の待避位置でロックされており、磁気ディス
ク上に移動する前にヘッドにテストデータ書込み用電
流、または直流電流を流し、ヘッドの端子電圧を検出す
ることによってヘッドの異常検出を行うこともできる。
【００３３】図７は磁気記録用ヘッドの故障検出回路の
構成例である。同図においてウィンドコンパレータ３０
とフリップフロップ（ＦＦ）３１は磁気記録用ヘッドの
ショート検出用の回路であり、またウィンドコンパレー
タ３２とＦＦ３３とはヘッドのオープン検出用の回路で
ある。２つのウィンドコンパレータ３０および３２は、
それぞれ入力電圧が図９で説明したレベル１とレベル２
との間にある時出力としてＬを、また間にない時にＨを
それぞれＦＦ３１，３３に与えるものである。
構成例である。同図においてウィンドコンパレータ３０
とフリップフロップ（ＦＦ）３１は磁気記録用ヘッドの
ショート検出用の回路であり、またウィンドコンパレー
タ３２とＦＦ３３とはヘッドのオープン検出用の回路で
ある。２つのウィンドコンパレータ３０および３２は、
それぞれ入力電圧が図９で説明したレベル１とレベル２
との間にある時出力としてＬを、また間にない時にＨを
それぞれＦＦ３１，３３に与えるものである。
【００３４】書込みヘッドのコイル３４の周辺の回路は
実際には図７より複雑であるが、ここでは故障検出時の
動作だけを直流電流を流す場合に限って説明する。故障
検出時にはスイッチ３５および３６がオンとされ、電源
側に挿入されている電流源３７、グランド側に挿入され
ている電流源３８によって、書込みヘッドのコイル３４
に電流が流される。
実際には図７より複雑であるが、ここでは故障検出時の
動作だけを直流電流を流す場合に限って説明する。故障
検出時にはスイッチ３５および３６がオンとされ、電源
側に挿入されている電流源３７、グランド側に挿入され
ている電流源３８によって、書込みヘッドのコイル３４
に電流が流される。
【００３５】書込みヘッド３４がショートしている場合
には、実際の説明は複雑となるが、簡単のため電流源３
８の内部インピーダンスが３７の内部インピーダンスよ
りかなり小さいとすると、コイル３４の右側の接続点Ｘ
の電位は０に近くなり、レベル１より低くなることによ
って、ＦＦ３１から異常検出を示す信号が出力される。
には、実際の説明は複雑となるが、簡単のため電流源３
８の内部インピーダンスが３７の内部インピーダンスよ
りかなり小さいとすると、コイル３４の右側の接続点Ｘ
の電位は０に近くなり、レベル１より低くなることによ
って、ＦＦ３１から異常検出を示す信号が出力される。
【００３６】これに対してコイル３４がオープンとなっ
ている場合には、コイル３４の左側の接続点Ｙの電位は
電源電圧に近くなり、レベル２より大きくなることによ
ってＦＦ３３から異常検出信号が出力される。ＦＦ３
１、またはＦＦ３３から異常検出信号が出力されること
によって、図３のステップＳ６の故障検出が行われるこ
とになる。
ている場合には、コイル３４の左側の接続点Ｙの電位は
電源電圧に近くなり、レベル２より大きくなることによ
ってＦＦ３３から異常検出信号が出力される。ＦＦ３
１、またはＦＦ３３から異常検出信号が出力されること
によって、図３のステップＳ６の故障検出が行われるこ
とになる。
【００３７】図８はこの故障検出処理のフローチャート
である。同図においてステップＳ１０で書込みヘッドの
端子電圧、すなわち図７で説明した書込み用コイルの端
子電圧が入力され、ステップＳ１１でその電圧が規定範
囲内にあるか否かが判定され、Ｎｏ、すなわち外にある
場合には図３のステップＳ７でＦａｕｌｔ信号が出力さ
れ、また規定範囲内にある時には図３のステップＳ１以
降の処理が繰り返される。
である。同図においてステップＳ１０で書込みヘッドの
端子電圧、すなわち図７で説明した書込み用コイルの端
子電圧が入力され、ステップＳ１１でその電圧が規定範
囲内にあるか否かが判定され、Ｎｏ、すなわち外にある
場合には図３のステップＳ７でＦａｕｌｔ信号が出力さ
れ、また規定範囲内にある時には図３のステップＳ１以
降の処理が繰り返される。
【００３８】なお、図３ではＳ３またはＳ５で低周波の
テストデータ書込みが行われるが、その代わりに図７で
説明したように直流電流を流すことも当然可能である。
以上の説明では磁気記録装置としてハードディスクドラ
イブを例として実施の形態を説明したが、本発明はハー
ドディスクに限らず、光磁気ディスク、ＭＤなど磁気を
利用した記録装置にはすべて適用することができること
は当然である。
テストデータ書込みが行われるが、その代わりに図７で
説明したように直流電流を流すことも当然可能である。
以上の説明では磁気記録装置としてハードディスクドラ
イブを例として実施の形態を説明したが、本発明はハー
ドディスクに限らず、光磁気ディスク、ＭＤなど磁気を
利用した記録装置にはすべて適用することができること
は当然である。
【００３９】以上の説明に対応して本発明は更に次の特
徴を有する。磁気記録用ヘッドにテストデータ書き込み
用の電流を流す時点は、該磁気記録用ヘッドが磁気記録
媒体のセクタ内のギャップ部に存在する時点であること
もできる。
徴を有する。磁気記録用ヘッドにテストデータ書き込み
用の電流を流す時点は、該磁気記録用ヘッドが磁気記録
媒体のセクタ内のギャップ部に存在する時点であること
もできる。
【００４０】磁気記録用ヘッドにテストデータ書き込み
用の電流を流す時点は、該磁気記録用ヘッドが磁気記録
媒体上でテストデータ書き込み用のダミー位置に存在す
る時点であることもできる。
用の電流を流す時点は、該磁気記録用ヘッドが磁気記録
媒体上でテストデータ書き込み用のダミー位置に存在す
る時点であることもできる。
【００４１】磁気記録用ヘッドにテストデータ書き込み
用の電流を流す時点は、磁気記録装置の起動時において
前記磁気記録用ヘッドが磁気記録媒体上に移動する前の
時点であることもできる。
用の電流を流す時点は、磁気記録装置の起動時において
前記磁気記録用ヘッドが磁気記録媒体上に移動する前の
時点であることもできる。
【００４２】磁気記録用ヘッドにテストデータ書き込み
用の電流を流す時点は、磁気記録装置に対して一定時間
以上アクセスがなく、該磁気記録用ヘッドが待避位置に
移動した以後の時点であることもできる。
用の電流を流す時点は、磁気記録装置に対して一定時間
以上アクセスがなく、該磁気記録用ヘッドが待避位置に
移動した以後の時点であることもできる。
【００４３】また磁気記録用ヘッドに直流電流を流す時
点は、該磁気記録用ヘッドが磁気記録媒体のセクタ内の
ギャップ部に存在する時点であることもできる。磁気記
録用ヘッドに直流電流を流す時点は、該磁気記録用ヘッ
ドが磁気記録媒体上でテストデータ書き込み用のダミー
位置に存在する時点であることもできる。
点は、該磁気記録用ヘッドが磁気記録媒体のセクタ内の
ギャップ部に存在する時点であることもできる。磁気記
録用ヘッドに直流電流を流す時点は、該磁気記録用ヘッ
ドが磁気記録媒体上でテストデータ書き込み用のダミー
位置に存在する時点であることもできる。
【００４４】磁気記録用ヘッドに直流電流を流す時点
は、磁気記録装置の起動時において該磁気記録用ヘッド
が磁気記録媒体上に移動する前の時点であることもでき
る。磁気記録用ヘッドに直流電流を流す時点は、磁気記
録装置に対して一定時間以上アクセスがなく、該磁気記
録用ヘッドが待避位置に移動した以後の時点であること
もできる。
は、磁気記録装置の起動時において該磁気記録用ヘッド
が磁気記録媒体上に移動する前の時点であることもでき
る。磁気記録用ヘッドに直流電流を流す時点は、磁気記
録装置に対して一定時間以上アクセスがなく、該磁気記
録用ヘッドが待避位置に移動した以後の時点であること
もできる。
【００４５】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
れば実際にデータを記録していない時点で磁気記録用ヘ
ッドの異常検出を行うことによって、磁気記録装置のデ
ータ転送速度に無関係に正しく異常検出を行うことが可
能になる。これによって、磁気記録装置におけるデータ
書込み速度が高速となって、磁気記録用ヘッドの端子電
圧におけるフライバック期間がデータの反転周期と同じ
くらい、あるいはそれより長くなっても、磁気記録用ヘ
ッドの故障、すなわちオープンまたはショートの検出を
正しく実行することができ、磁気記録装置の信頼性向上
に寄与するところが大きい。
れば実際にデータを記録していない時点で磁気記録用ヘ
ッドの異常検出を行うことによって、磁気記録装置のデ
ータ転送速度に無関係に正しく異常検出を行うことが可
能になる。これによって、磁気記録装置におけるデータ
書込み速度が高速となって、磁気記録用ヘッドの端子電
圧におけるフライバック期間がデータの反転周期と同じ
くらい、あるいはそれより長くなっても、磁気記録用ヘ
ッドの故障、すなわちオープンまたはショートの検出を
正しく実行することができ、磁気記録装置の信頼性向上
に寄与するところが大きい。
【図１】本発明の機能ブロック図である。
【図２】本発明の異常検出方法が用いられるハードディ
スクドライブの概略構成を示す図である。
スクドライブの概略構成を示す図である。
【図３】本発明の異常検出方法の全体処理フローチャー
トである。
トである。
【図４】磁気ディスクの１つのセクタの構成を説明する
図である。
図である。
【図５】磁気ディスク上でテストデータを書き込むダミ
ー位置を説明する図である。
ー位置を説明する図である。
【図６】磁気ディスク上でテストデータを書き込むため
の磁気記録用ヘッドの待避位置を説明する図である。
の磁気記録用ヘッドの待避位置を説明する図である。
【図７】磁気記録用ヘッドの異常検出回路の構成例を示
す図である。
す図である。
【図８】磁気記録用ヘッドの異常検出処理のフローチャ
ートである。
ートである。
【図９】磁気記録用ヘッドの異常検出の従来方法を説明
する図である。
する図である。
【図１０】磁気記録用ヘッドの異常としてのショート状
態の検出方法の従来例を説明する図である。
態の検出方法の従来例を説明する図である。
１０ 磁気記録用ヘッド １１ 磁気ディスク １４ リード／ライトアンプ １５ リード／ライト信号変換部 １６ ハードディスクコントローラ（ＨＤＣ） ３０，３２ ウィンドコンパレータ ３４ 書込みヘッドコイル ３７，３８ 電流源
Claims (4)
- 【請求項１】 磁気記録装置の磁気記録用ヘッドの異常
検出方法において、 実際にデータを記録していない時点で前記磁気記録用ヘ
ッドに低周波のテストデータの書込みを行うための電流
を流し、 該磁気記録用ヘッドの端子電圧があらかじめ定められた
範囲内にあるか／否かによって該磁気記録用ヘッドの正
常／異常を検出することを特徴とする磁気記録用ヘッド
の異常検出方法。 - 【請求項２】 磁気記録装置の磁気記録用ヘッドの異常
検出方法において、 実際にデータを記録していない時点で該磁気記録用ヘッ
ドに直流電流を流し、 該磁気記録用ヘッドの端子電圧があらかじめ定められた
範囲内にあるか／否かによって該磁気記録用ヘッドの正
常／異常を検出することを特徴とする磁気記録用ヘッド
の異常検出方法。 - 【請求項３】 磁気記録用ヘッドを備える磁気記録装置
において、 実際にデータを記録していない時点で該磁気記録用ヘッ
ドに低周波のテストデータの書込みを行うための電流を
流すテストデータ書込み用電流供給手段と、 該テストデータ書込み用電流に対する該磁気記録用ヘッ
ドの端子電圧があらかじめ定められた範囲内にあるか／
否かによって該磁気記録用ヘッドの正常／異常を検出す
る磁気記録用ヘッド異常検出手段とを備えることを特徴
とする磁気記録装置。 - 【請求項４】 磁気記録用ヘッドを備える磁気記録装置
において、 実際にデータを記録していない時点で該磁気記録用ヘッ
ドに直流電流を流す直流電流供給手段と、 該直流電流に対する該磁気記録用ヘッドの端子電圧があ
らかじめ定められた範囲内にあるか否かによって該磁気
記録用ヘッドの正常／異常を検出する磁気記録用ヘッド
異常検出手段とを備えることを特徴とする磁気記録装
置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000025060A JP2001216616A (ja) | 2000-02-02 | 2000-02-02 | 磁気記録装置、および磁気記録用ヘッドの異常検出方法 |
| US09/738,161 US6683736B2 (en) | 2000-02-02 | 2000-12-15 | Method detecting a fault of a magnetic recording head, and a magnetic recording device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000025060A JP2001216616A (ja) | 2000-02-02 | 2000-02-02 | 磁気記録装置、および磁気記録用ヘッドの異常検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001216616A true JP2001216616A (ja) | 2001-08-10 |
Family
ID=18550968
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000025060A Pending JP2001216616A (ja) | 2000-02-02 | 2000-02-02 | 磁気記録装置、および磁気記録用ヘッドの異常検出方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6683736B2 (ja) |
| JP (1) | JP2001216616A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006244590A (ja) * | 2005-03-02 | 2006-09-14 | Nec Corp | 磁気テープ、磁気テープ装置の自己診断装置、磁気テープ装置の診断方法、および、磁気テープ装置の診断プログラム |
| US7265930B2 (en) | 2003-11-28 | 2007-09-04 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Medium and apparatus for magnetic recording and method for measuring the offset amount |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100468716B1 (ko) * | 2001-09-07 | 2005-01-29 | 삼성전자주식회사 | 데이터 저장 시스템에서의 성능 개선을 위한 더미 라이트방법 및 장치 |
| US6952316B2 (en) * | 2002-11-08 | 2005-10-04 | International Business Machines Corporation | Open head detection circuit and method in a voltage or current mode driver |
| US7588723B2 (en) * | 2004-05-24 | 2009-09-15 | Terumo Cardiovascular Systems Corporation | Air removal device with float valve for blood perfusion system |
| FR2874440B1 (fr) * | 2004-08-17 | 2008-04-25 | Oberthur Card Syst Sa | Procede et dispositif de traitement de donnees |
| US7729072B2 (en) * | 2007-05-24 | 2010-06-01 | International Business Machines Corporation | Open write-head-cable test method and detector |
| US7957083B2 (en) * | 2007-07-23 | 2011-06-07 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. | Method for early detection of magnetic head degradation due to carbon overcoat wear |
| US8080992B2 (en) * | 2007-11-15 | 2011-12-20 | Infinitum Solutions, Inc. | Write head tester using inductance |
| JP2019046515A (ja) * | 2017-08-30 | 2019-03-22 | 株式会社東芝 | ディスク装置およびヘッド装置 |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0855304A (ja) | 1994-08-12 | 1996-02-27 | Hitachi Ltd | 誘導性ヘッド異常検出回路 |
| JP3322768B2 (ja) * | 1994-12-21 | 2002-09-09 | 富士通株式会社 | 記録再生装置及び記録媒体の交代処理方法 |
| KR100214333B1 (ko) * | 1996-09-25 | 1999-08-02 | 윤종용 | 디스크 구동 기록장치의 위글 노이즈 제거방법 |
| JPH10214408A (ja) * | 1997-01-31 | 1998-08-11 | Toshiba Corp | 磁気ヘッドアセンブリ及び同磁気ヘッドアセンブリを備えた磁気ディスク装置 |
| JPH10241128A (ja) * | 1997-02-27 | 1998-09-11 | Toshiba Corp | 磁気ディスク装置及びヘッド故障検出方法 |
| JP3063683B2 (ja) * | 1997-06-20 | 2000-07-12 | 日本電気株式会社 | 磁気ヘッド異常検出方法および磁気ディスク装置並びに磁気ディスク装置制御用プログラムを記憶した記憶媒体 |
| JPH11242836A (ja) | 1998-02-26 | 1999-09-07 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ディスク装置 |
-
2000
- 2000-02-02 JP JP2000025060A patent/JP2001216616A/ja active Pending
- 2000-12-15 US US09/738,161 patent/US6683736B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7265930B2 (en) | 2003-11-28 | 2007-09-04 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Medium and apparatus for magnetic recording and method for measuring the offset amount |
| JP2006244590A (ja) * | 2005-03-02 | 2006-09-14 | Nec Corp | 磁気テープ、磁気テープ装置の自己診断装置、磁気テープ装置の診断方法、および、磁気テープ装置の診断プログラム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US6683736B2 (en) | 2004-01-27 |
| US20010010602A1 (en) | 2001-08-02 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20050126 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20050201 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20050531 |