JP2002092805A - 書き込みヘッドにおけるコイルの故障を検出する回路及び方法 - Google Patents

書き込みヘッドにおけるコイルの故障を検出する回路及び方法

Info

Publication number
JP2002092805A
JP2002092805A JP2001221984A JP2001221984A JP2002092805A JP 2002092805 A JP2002092805 A JP 2002092805A JP 2001221984 A JP2001221984 A JP 2001221984A JP 2001221984 A JP2001221984 A JP 2001221984A JP 2002092805 A JP2002092805 A JP 2002092805A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
coil
write head
voltage
failure
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001221984A
Other languages
English (en)
Inventor
Hong Jiang
ジアング ホング
Paul M Emerson
エム、エメルソン ポール
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Texas Instruments Inc
Original Assignee
Texas Instruments Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Texas Instruments Inc filed Critical Texas Instruments Inc
Publication of JP2002092805A publication Critical patent/JP2002092805A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B20/00Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
    • G11B20/02Analogue recording or reproducing
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/455Arrangements for functional testing of heads; Measuring arrangements for heads
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B2005/0002Special dispositions or recording techniques
    • G11B2005/0005Arrangements, methods or circuits
    • G11B2005/001Controlling recording characteristics of record carriers or transducing characteristics of transducers by means not being part of their structure
    • G11B2005/0013Controlling recording characteristics of record carriers or transducing characteristics of transducers by means not being part of their structure of transducers, e.g. linearisation, equalisation
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/012Recording on, or reproducing or erasing from, magnetic disks

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Digital Magnetic Recording (AREA)
  • Recording Or Reproducing By Magnetic Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ハードディスク・ドライブ・システムの書き
込みヘッドの故障を検出する回路及び方法を得る。 【解決手段】 書き込みヘッド(18)のコイル(L)
の両端間に直列に第1の抵抗(R1)及び第2の抵抗
(R2)を接続し、かつ前記抵抗(R1)及び(R2)の
共通接続点と接地との間にトランジスタ(Q1)を接続
する。故障の検出が周波数に影響されないように、ディ
スク・ドライブ・システム(70)のクワイエット動作
モード期間中に前記コイルLに前記電流I0を流し、書
き込み故障検出回路(30、40)により、前記抵抗
(R1)及び(R2)の電圧Vab及びVacを解析して、故
障発生時は、それが接地短絡故障か開放故障かを判別す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、概して情報記憶装
置に関し、特にハードディスク・ドライブの書き込みヘ
ッドにおけるコイルの故障を検出する回路及び方法に関
する。
【0002】
【従来の技術】ハードディスク・ドライブは、磁気記録
媒体、例えば回転ディスク即ちプラタ(platte
r)、スピンドル・モータ、読み出し/書き込みヘッ
ド、アクチュエータ、前置増幅器、読み出しチャネル、
書き込みチャネル、サーボ回路及び制御回路を備えてハ
ードディスク・ドライブの動作を制御すると共に、ホス
ト・システム即ちバスに対してハードディスク・ドライ
ブを正しくインターフェース接続をする。図1は、従来
技術のハード・ディスク・ドライブ・システム10の一
例を示す。ハード・ディスク・ドライブ・システム10
は、ベース上にマウントされた多数の回転プラタ12を
含む。回転プラタ12上の磁気的な遷移として表された
データを記憶するために回転プラタ12が使用され、か
つ各回転プラタ12は、アーム14に結合可能であり、
その先端に読み出しヘッド16及び書き込みヘッド18
を有する。読み出しヘッド16及び書き込みヘッド18
は、回転プラタ12から前置増幅器20へ、及び回転プ
ラタ12から回転プラタ12へデータを転送するように
されている。前置増幅器20は、回転プラタ12から読
み出されたデータ、及び回転プラタ12に書き込まれる
データを処理する回路22に接続されている。
【0003】データは、それぞれアーム14の先端にあ
る書き込みヘッド18、及び読み出しヘッド16により
磁気プラタの各面に記憶され、また読み出される。読み
出しヘッド16は、電流がこれらを流れたときに、回転
プラタ12からデータを読み出すようにした磁気抵抗ヘ
ッドを備えている。書き込みヘッド18は、回転プラタ
12に対してデータを伝送する誘導性の線(コイル)を
備えている。読み出しヘッド16、書き込みヘッド18
は、ハード・ディスク・ドライブ・システム10の読み
出しヘッド16及び書き込みヘッド18と回路22の間
のインターフェースとして使用される前置増幅器20に
接続されている。前置増幅器20は、例えば、読み出し
増幅器、書き込み回路、故障検出回路及び直列ポート・
インターフェースを含む単一チップを備えてもよい。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】書き込みヘッド18
は、電流が流れて磁界を発生することにより回転プラタ
12にデータを書き込む。ハード・ディスク・ドライブ
・システム10における問題は、書き込みヘッド18の
コイルが種々の時に種々の理由のために製造中に又は使
用現場で開放又は短絡するかも知れないことである。切
断した故障コイルのために開放及び短絡故障が発生して
開放回路を発生すること、又は互いに融着した故障コイ
ルのために短絡回路を発生することがある。ハード・デ
ィスク・ドライブを移動すると、例えば、振動により書
き込みヘッドをアースに一時的に短絡させることがあ
る。これらの状況のうちのいずれにおいても、書き込み
ヘッドの故障は、直ちに、例えば前置増幅器20から回
路22に報告される必要がある。書き込みヘッド18の
コイルが永久的な損傷を受けたのであれば、修理又は交
換する必要がある。更に、書き込みヘッド18のコイル
の電気抵抗が高くなり過ぎて正しく機能しない恐れがあ
る。
【0005】書き込みヘッド18のコイルに故障が発生
し得るので、ハード・ディスク・ドライブ・システム1
0は、書き込みヘッド18の故障を検出する機能が必要
である。従来技術の書き込みヘッド故障検出方法は、典
型的には、書き込みモード期間中実行されるが、このモ
ードはノイズが非常に大きいモードである。ハード・デ
ィスク・ドライブ・システム10は、典型的には、2活
性動作モード、即ち読み出しヘッド16を介して回転プ
ラタ12からデータを読み出す読み出しモード、及び書
き込みヘッド18が回転プラタ12にデータを書き込む
書き込みモードを有する。前置増幅器20は、読み出し
ヘッド16及び書き込みヘッド18の両者に対する制御
回路を含む。従って、2つの排他的(exclusiv
e)活性動作モード、即ち読み出し及び書き込みを有す
る。読み出しモードは、より受動的な、静粛かつ定常の
モード(quiet and steady mod
e)である。また、書き込みモードは、多量の電流(通
常、約30〜70mA)のために更に能動的なモードで
あると共に、回転プラタ12にデータを書き込むため
に、頻繁に、例えば1又は2ナノ秒毎に電流の極性を切
り換えた電流がコイルに流れる。
【0006】書き込みモードにおいて、前置増幅器20
は、書き込みヘッド18に大きな電流を供給して回転プ
ラタ12にデータを書き込む磁界を発生させる。ごく最
近の設計のハード・ディスク・ドライブ・システム10
は、1ギガビット/秒のような高いデータ速度を有す
る。従って、書き込み電流は、切り換え方向即ち極性を
高速に切り換える必要がある。これは、複雑な書き込み
信号波形に帰結し、書き込みヘッドの故障を正しく検出
するのを困難にする。例えば、書き込みヘッドが高いデ
ータ速度で正常に動作しているときに、従来技術の書き
込みヘッド故障方法は、誤検出を行い、書き込みヘッド
が開放故障又は接地短絡していることを表示することが
ある。又は、書き込みヘッド故障は、正しく動作できる
周波数範囲が限定されているので、従来技術の検出回路
及び方法によっては検出できないことがある。
【0007】
【発明を解決するための手段】本発明は、ディスク・ド
ライブ回路における書き込みヘッドの故障を検出する正
確な回路及び方法を提供する。故障検出は、読み出しモ
ード中に小さな直流電流を使用して実行することによ
り、ハード・ディスク・ドライブの書き込みモード期間
中に書き込みヘッド故障検出を実行するときに発生する
問題を避ける。信頼性のある正確な書き込み故障検出を
すると同時に、書き込みヘッドの故障検出機能を実行す
るために必要な回路のオーバーヘッドを最小化したこの
直流検出回路を構築するために、書き込み回路に予め存
在するであろういくつかの装置が、使用される。前記書
き込みヘッドのコイル間に直列接続された等しい値を有
する第1及び第2の抵抗が接続され、かつ前記2抵抗間
の共通ノード及び接地にトランジスタが接続されて接地
に対する直流電流パスを確保する。2抵抗端の電圧及び
共通ノードに関連する電圧は、書き込みヘッドのコイル
の故障ステータスを判断するために解析される。
【0008】ハード・ディスク・ドライブの書き込みヘ
ッド上の故障を検出する回路を開示する。この回路は、
ノードaにおける書き込みヘッドのコイルの第1端に接
続された第1の抵抗と、ノードbにおける前記コイルの
第2端に接続された第2の抵抗とを備えている。共通ノ
ードcにおける前記第1及び第2の抵抗にトランジスタ
を接続する。書き込みヘッドのコイルの故障は、ノード
a、b、cの電圧を解析することにより、検出可能であ
る。
【0009】更に、ハードディスク・ドライブの書き込
みヘッドの故障を検出する方法も開示する。この方法
は、ノードaにおける第1の抵抗に前記書き込みヘッド
のコイルを接続するステップと、ノードbにおける第2
の抵抗に前記コイルの第2端を接続するステップと、共
通ノードcにおける前記第1及び第2の抵抗にトランジ
スタを接続するステップとを含む。ノードa、b、cの
電圧を解析することにより前記コイルの故障を検出す
る。
【0010】本発明は、ハードディスク・ドライブの静
粛動作モード(quiet operating mo
de)期間中に書き込みヘッド故障検出を実行すること
により、ディスク・ドライブ・システムの書き込みヘッ
ドにおける故障を検出する信頼性のある正確な手段を提
供する。書き込みヘッド故障検出における誤りは、本発
明を使用することにより回避される。安価かつ電子回路
に容易に実施可能な標準的な部品を利用する。本発明
は、従来の故障検出回路によっては不可能とされる開放
故障と短絡故障とを判別するのに効果がある。書き込み
ヘッド故障検出は、非書き込みモード期間中に実行され
るので、周波数に依存しない。短期間(<150ナノ
秒)のトランジェント故障は、時間遅延により無視され
る。
【0011】図は、明細書に不可欠な部分を形成し、か
つこれに関連して読むべきものである。同一番号及びシ
ンボルは、異なる図面において使用され、特に指摘しな
い限り、各図面において同一の構成要素を指示する。
【0012】
【発明の実施の形態】図2は、本発明の最良態様の一実
施例を示す。書き込み故障検出回路30は、第1の抵抗
1を備え、ノードaにおいてハードディスク・ドライ
ブ・システムにおける書き込みヘッド18のコイルLに
接続されている。抵抗R1と等しい値の第2の抵抗R
2は、ノードbにおけるコイルLの他端に接続されてい
る。抵抗R1及びR2は、共通ノードcにおいて相互に接
続されている。ノードcは、更にMOSトランジスタQ
1のソースとして示されたスイッチに接続されており、
これは、更に、例えば低電力ショットキーBJTトラン
ジスタであってもよい。トランジスタQ1のゲートは制
御論理電圧V0に接続され、またトランジスタQ1のソー
ス/エミッタは接地に接続されている。ノードcは、ト
ランジスタQ1を介して接地に接続されている。接地と
抵抗R1及びR2の共通ノードcとの間に接続されたトラ
ンジスタQ1は、接地への直流電流パスを確保してい
る。本発明によるコイルLの故障を検出するために直流
電流が使用されるので、コイルLは、インダクタによる
よりも説明のために比較的に小さな抵抗rによって特徴
付けられる。
【0013】読み出しモードのようなハードディスク・
ドライブ・システムの静粛なモードにおいて、好ましく
は、0.5mより小さい初期直流電流I0は、ノードA
に入力される。コイルLの抵抗rは、抵抗R1及びR2
対してかなり小さいので(R 2=R1>>r)、コイルL
が正常の(故障がない)ときは、抵抗R1及びR2にそれ
ぞれ流れる電流は、約0.5I0である。
【0014】書き込み故障検出回路30の種々のノード
間の電圧を解析することにより、次式に帰結する。
【0015】
【0016】ただし、R=R1=R2。ノードa及びb間
で検出される電圧Vabは1/2I0rに等しく、コイル
Lの抵抗rが抵抗Rより十分に小さければ、コイルは正
常である(例えば、故障がない)ことを表している。検
出された電圧Vabは、I0Rに等しく、コイルLの抵抗
rが抵抗Rよりかなり大きければ、書き込みヘッド18
のコイルLの開放故障を表している。
【0017】図3は、図示のように、書き込み故障検出
回路30の部品と、付加的な部品Q 2、Q3、Q4、Q5
6、Q7、R3、R4、V1に接続されたQ1、R1、R2
及び書き込みヘッド18のコイルLとについて特定の値
を表示した概要図を示す。この実施例において、R1
2=1.48KΩ、r≒18Ω、I0はほぼ0.5mA
に等しいか、又はこれより小さい。また制御論理電圧V
0=5Vである。これらの抵抗値及び電流値により、ノ
ードa及びb間の電圧Vabと、ノードa及びc間で計算
されたVacとのシミュレーション結果を下記の表に示
す。
【0018】
【表1】
【0019】書き込みヘッド18のコイルLに故障がな
いときは、ノードa及びb間の電圧Vabは、4.5mV
に等しい。書き込みヘッド18のコイルLの片側のノー
ドaが接地短絡しているときは、計算されたノードa及
びb間の電圧Vabは、0mVに等しい。コイルLのノー
ドb側が接地短絡しているときは、計算された電圧V ab
は、750mVである。同様に、ノードa及びc間の電
圧Vacについて図を読みかつ解釈することができる。
【0020】表2及び3は、表1のシミュレーション計
算結果から導き出される。表2は、書き込みヘッドの開
放故障を検出するために本発明による電圧Vabの監視及
び解析を示す。
【0021】
【表2】
【0022】電圧Vabが第1のしきい値電圧、例えば7
50mVより高いときは、書き込み故障検出回路30に
より開放故障が検出される。電圧Vabが第2のしきい値
電圧、例えば10mVより低いときは、正常な書き込み
ヘッドのステータスを検出する。表1に示すように、故
障なし又は接地短絡故障に対して、電圧Vab値がそれぞ
れ同一範囲(4.5mV、及び0mV又は9mV)内に
あるので、電圧Vab上で2検出レベルのみを必要とする
ように、電圧Vabは、好ましくは、開放故障を検出する
ために使用される。第1及び第2のしきい値電圧に関す
る実際の値は、書き込み故障検出回路30の部品、電圧
値及び電流値に依存している。しかしながら、第2のし
きい値電圧は、好ましくは、正確な開放故障検出を保証
するために第1のしきい値電圧の大きさ程度の少なくと
も10倍である。
【0023】図3は、書き込みヘッドの接地短絡を検出
するために、本発明による電圧Vabの監視及び解析を示
す。
【0024】
【表3】
【0025】電圧Vacが第3のしきい値電圧、例えば1
0mVより低いときは、書き込み故障検出回路30によ
り、書き込みヘッドの接地短絡が検出される。しかしな
がら、電圧Vacが第3のしきい値電圧、例えば350m
Vより高いときは、書き込みヘッドのステータスは正常
である。表1に示すように、故障なし又は接地短絡状態
に対する電圧Vac値がそれぞれ同一程度(375mV及
び750mV)内にあるので、電圧Vac上で2検出レベ
ルのみを必要とするように、電圧Vacは、好ましくは、
開放故障を検出するために使用される。第3及び第4の
しきい値電圧に対する実際の値は、書き込み故障検出回
路30の部品、電圧値及び電流値に依存する。しかしな
がら、第2のしきい値電圧は、正確な接地短絡の書き込
みヘッド故障検出を保証するために第1のしきい値電圧
の大きさ程度の少なくとも10倍である。
【0026】電圧Vab及びVacの両者を解析することに
より、書き込み故障検出回路30は、書き込みヘッド故
障が短絡故障か又は開放故障であるかを検出する。好ま
しくは、開放故障検出のために電圧Vabを使用し、また
短絡故障検出のために電圧V acを使用するが、表1に示
すように、多数のしきい値を使用して電圧Vab及びV ac
の両者を解析することにより他の情報を得ることもでき
る。
【0027】図4は、書き込み開放検出比較器34と、
ノードa(信号HY)、b(信号HX)及びc(信号H
Z)に接続され、電圧Vab及びVacを検出して解析する
書き込み短絡検出比較器36とを備えた、本発明の電圧
検出論理回路32の概要図である。電圧検出論理回路3
2は、本発明の好ましい一実施例であるが、他の論理回
路設計又はソフトウェア・アルゴリズムも想定される。
書き込み開放/短絡エネーブル故障遅延WOPSH E
NZ F DLY信号は、チップが書き込みから読み出
しモードに切り換わるときの遅延を確定させる。これ
は、信頼性のある正確な検出を実行可能にし、かつ誤故
障のないことを報告するように、書き込み回路を安定さ
せるに十分な時間を与える。図5は、書き込み開放検出
比較器34に好ましい設計の概要図を示すが、他の比較
器も想定される。書き込み短絡検出比較器36は、例え
ば、出力でトランジスタM21、M22及びM23に異
なる値を有する同じようなアーキテクチャーを備えても
よい。図6は、前置増幅器72を有するハードディスク
・ドライブ・システム70を示し、この前置増幅器72
は、本発明の書き込みヘッド故障検出回路30又は40
を備えている。
【0028】シミュレーション結果は、本発明の回路設
計にオーバーシュート電流が存在しないことを示す。
【0029】書き込み開放検出比較器34、及び書き込
み短絡検出比較器36は、共に短期間(例えば、<15
0ナノ秒)のトランジェント故障をろ波するための組み
込みタイマ回路を有する。以下、タイミング手順を説明
する。図7は、本発明の書き込み故障検出回路30のタ
イミング図60を示し、書き込みヘッドのコイルLのト
ランジェント故障を示す。信号62は、時間t0からt2
まで続く故障期間T0を表す。時間t0からt1までの時
間T2は、検出時間、又は書き込み故障検出回路30が
書き込みヘッド18におけるコイルLの故障を検出する
ために掛かる時間長、例えば50ナノ秒を表す。信号6
4は、故障を検出する期間、即ち時間t 1からt4までの
期間を表す。時間t2からt4までの期間T1は、検出解
除時間である。信号66は、所定期間の故障検出遅延信
号を示す。検出遅延時間T3は、通常、ディスク・ドラ
イブ・システム70の必要条件に基づく時間t1からt3
までの期間、例えば150〜200ナノ秒により表され
る。信号68は、開放コイルL又は短絡コイルLを表す
有効故障検出出力を表す。故障検出信号62は、故障検
出出力から信号68を報告するのに十分な長さであるこ
とが必要がある。
【0030】これは、書き込み故障検出回路30、40
が故障出力を報告するためには、次式であることを意味
する。
【0031】
【数1】
【0032】例えば、書き込み開放検出(通常、70
℃、5/8ボルト)のときは、T1=89.3ns、T
2=47.8ns、T3=203ns、かつT0>16
2ns。書き込み短絡検出(通常、70℃、5/8ボル
ト)のときは、T1=71.7ns、T2=76.7n
s、T3=148ns、かつT0>153ns。
【0033】本発明は、ディスク・ドライブ・システム
70の書き込みヘッド18に故障を検出する信頼性のあ
る正確な手段を提供する。直流故障検出は、書き込みモ
ード期間中のダイナミック故障よりも、読み出しモード
のように、ディスク・ドライブ・システム70の静粛モ
ード期間中に実行される。本発明の使用により、書き込
みヘッドの故障検出の際に誤りをなくす。電子回路には
安価かつ容易に実施できる標準的な部品を使用する。書
き込み故障検出回路30用には、いくつかの既存の部品
を使用することができ、かつ付加的な少数の部品を必要
とする。本発明は、好ましくは、前置増幅器72に実施
される。本発明は、従来技術の故障検出回路により不可
能であった書き込みヘッドの開放故障と短絡故障との判
別に効果がある。書き込みヘッドの故障検出は、非書き
込みモード期間において実行されるので、周波数に依存
していない。例えば機械的な振動により短期間、書き込
みヘッドが記憶媒体の回転プラタ12をヒットしたとき
の故障検出を防止するように、時間遅延により短絡期間
のトランジェント的な故障を無視する。
【0034】複数の実施例を参照して本発明を説明した
が、この説明は、限定的な意味で解釈されることを意図
していない。本発明の他の実施例と共に、実施例の種々
の変形及び組み合わせは、当該技術分野に習熟する者が
この説明を参照することにより、明らかとなる。従っ
て、付記する請求の範囲はこのような全ての変形又は実
施例を包含することを意図している。
【0035】異常の説明に関して更に以下の項を開示す
る。
【0036】(1) ハードディスク・ドライブにおけ
る書き込みヘッドの故障を検出する回路において、ノー
ドaにおける前記コイルの第1端に接続された第1の抵
抗と、ノードbにおける前記コイルの第2端に接続され
た第2の抵抗と、共通ノードcにおける前記第1及び第
2の抵抗に接続されたスイッチとを備え、前記ノード
a、b、c間の電圧を解析することにより、前記書き込
みヘッドのコイルの故障を検出し得る回路。
【0037】(2) 前記ノードa、b間の電圧を解析
することにより、開放故障を検出し得る(1)項記載の
回路。
【0038】(3) 更に、前記ノードa、bに接続さ
れ、前記書き込みヘッド故障を検出する論理回路を備え
た(2)項記載の回路。
【0039】(4) 前記論理回路は、書き込みヘッド
開放検出比較器及び書き込みヘッド短絡検出比較器を備
えた(3)項記載の回路。
【0040】(5) ノードaに第1の所定の直流電流
を入力し、ノードa及びb間の電圧が第1のしきい値電
圧に到達したときは、前記論理回路により前記書き込み
ヘッドのコイルにおける開放故障を検出し、ノードa及
びb間の電圧が第2のしきい値電圧より低いときは、書
き込みヘッドの正常状態を検出し、前記第1のしきい値
電圧が前記第2のしきい値電圧の少なくとも10倍であ
る(3)項記載の回路。
【0041】(6) 前記ノードa及びc間の電圧が第
3のしきい値電圧より低いときは、前記論理回路により
前記書き込みヘッドのコイルの短絡故障を検出し、前記
ノードa及びc間の電圧が第4のしきい値電圧より高い
ときは、前記書き込みヘッドの正常状態を検出し、前記
第4のしきい値電圧が前記第3のしきい値電圧より少な
くとも10倍高い(3)項記載の回路。
【0042】(7) 前記第1及び第2の抵抗は等しい
値を有し、前記スイッチはトランジスタを備え、前記ト
ランジスタのゲートは電源に接続され、前記トランジス
タはノードcを接地に選択的に接続するようにされてい
る(3)項記載の書き込みヘッド故障検出回路。
【0043】(8) ハードディスク・ドライブの書き
込みヘッドの故障を検出する回路において、ノードaに
おける前記コイルの第1端に接続された第1の抵抗と、
ノードbにおける前記コイルの第2端に接続された第2
の抵抗と、共通ノードcにおける前記第1及び第2の抵
抗に接続されたスイッチとを備え、前記ノードa、b、
c間の電圧を解析することにより、前記書き込みヘッド
のコイルの故障を検出し得る回路。
【0044】(9) ノードa及びb間の電圧を解析す
ることにより開放故障を検出し得る共に、ノードa及び
c間の電圧を解析することにより接地に対する短絡を検
出し得る(8)項記載の回路。
【0045】(10) 前記第1及び第2の抵抗は等し
い値を有し、前記スイッチはトランジスタを備え、前記
トランジスタのゲートは、電圧源に接続され、前記トラ
ンジスタは、前記ノードを接地に選択的に接続するよう
にされた(9)項記載の回路。
【0046】(11) 更に、前記ノードa、b及びc
に接続され、前記書き込みヘッド故障を検出する論理回
路を備えた(9)項記載の前置増幅器。
【0047】(12) 前記論理回路は、書き込みヘッ
ド開放比較器及び書き込みヘッド短絡検出比較器を備え
た(11)項記載の前置増幅器。
【0048】(13) 第1の所定直流電流はノードa
に入力され、前記ノードa及びb間の電圧が第1のしき
い値電圧に到達したときは、前記論理回路により前記書
き込みヘッドのコイルにおける開放故障を検出し、ノー
ドa及びb間の電圧が第2のしきい値電圧より低いとき
は、書き込みヘッドの正常状態を検出し、前記第1のし
きい値電圧が前記第2のしきい値電圧の少なくとも10
倍である(9)項記載の前置増幅器。
【0049】(14) 前記ノードa及びc間の電圧が
第3のしきい値電圧より低いときは、前記論理回路によ
り前記書き込みヘッドのコイルの短絡故障を検出し、前
記ノードa及びc間の電圧が第4のしきい値電圧より高
いときは、前記書き込みヘッドの正常状態を検出し、前
記第4のしきい値電圧が前記第3のしきい値電圧より少
なくとも10倍高い(9)項記載の前置増幅器。
【0050】(15) 前記故障検出は、前記ハードデ
ィスク・ドライブのクワイエット・モード期間中に実行
される(8)項記載の前置増幅器。
【0051】(16) ハードディスク・ドライブの書
き込みヘッドの故障を検出する方法であって、前記書き
込みヘッドがコイルを含む方法において、ノードaにお
ける第1の抵抗に前記コイルの第1端を接続するステッ
プと、ノードbにおける第2の抵抗に前記コイルの第2
端を接続するステップと、共通ノードcにおける前記第
1及び第2の抵抗にスイッチを接続するステップと、前
記ノードa及びb間、又はノードa及びc間の電圧を解
析することにより、前記コイルの故障を検出するステッ
プとを備えた方法。
【0052】(17) 前記検出するステップは、前記
ハードディスク・ドライブのクワイエット・モード期間
中に実行される(16)項記載の方法。
【0053】(18) 更に、論理回路により前記故障
を検出するステップと、前記ノードaに所定の直流電流
を供給するステップと、前記スイッチを閉じるステップ
とを備え、前記第1及び第2の抵抗は、等しい値を有す
る(16)項記載の方法。
【0054】(19) 前記ノードa及びb間の電圧が
第1のしきい値電圧に到達したときは、前記書き込みヘ
ッドにおけるコイルの開放故障を検出し、ノードa及び
b間の電圧が第2のしきい値電圧より低いときは、書き
込みヘッドの正常状態を検出し、前記第1のしきい値電
圧は、前記第2のしきい値電圧の少なくとも10倍であ
る(18)項記載の方法。
【0055】(20) 前記ノードa及びc間の電圧が
第3のしきい値電圧より低いときは、前記論理回路によ
り前記書き込みヘッドコイルの短絡故障を検出し、ノー
ドa及びc間の電圧が第2のしきい値電圧より高いとき
は、書き込みヘッドの正常状態を検出し、前記第1のし
きい値電圧は、前記第3のしきい値電圧の少なくとも1
0倍である(18)項記載の方法。
【0056】(21) 更に、遷移故障の検出を回避す
るように所定期間だけ前記短検出ステップを遅延させる
ステップを備えている(16)項記載の方法。
【0057】(21) ハードディスク・ドライブ・シ
ステム(70)における書き込みヘッド(18)のコイ
ル(L)に第1の抵抗(R1)及び第2の抵抗(R2)を
接続する。前記抵抗(R1)及び(R2)の共通ノードに
トランジスタ(Q1)を接続する。前記コイル(L)の
故障を検出するために、前記コイル(L)に電流I 0
流し、前記抵抗(R1)及び(R2)の各端におけるノー
ド間の電圧Vab及びVacを解析する。故障の検出が周波
数から独立するように、ディスク・ドライブ・システム
(70)のクワイエット・モード期間中に前記検出を実
行する。書き込み故障検出回路(30、40)によって
開放故障を接地短絡故障から識別する。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来技術のハードディスク・ドライブ・システ
ムを示す概要図。
【図2】本発明の書き込みヘッド故障検出回路の最良態
様を示す一実施例の概要回路図。
【図3】例示的な電流、電圧及び抵抗値を示した本発明
の概要を示す図。
【図4】書き込み開放及び短絡検出用の2比較器を有す
る本発明の論理回路を示す概要図。
【図5】書き込み開放検出比較器の論理回路を示す概要
図。
【図6】本発明を実施したハードディスク・ドライブ・
システムの概要図。
【図7】本発明の書き込みヘッド故障検出回路の故障検
出機能を説明するタイミング図。
【符号の説明】
18 書き込みヘッド 30、40 書き込み故障検出回路 32 電圧検出論理回路 L コイル R1〜R4 抵抗 Q1〜Q7 トランジスタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5D031 AA04 CC08 FF10 HH15 5D091 AA10 FF04 HH20

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ハードディスク・ドライブにおける書き
    込みヘッドの故障を検出する回路において、 ノードaにおける前記コイルの第1端に接続された第1
    の抵抗と、 ノードbにおける前記コイルの第2端に接続された第2
    の抵抗と、 共通ノードcにおける前記第1及び第2の抵抗に接続さ
    れたスイッチとを備え、前記ノードa、b、c間の電圧
    を解析することにより、前記書き込みヘッドのコイルの
    故障を検出し得る回路。
  2. 【請求項2】 ハードディスク・ドライブの書き込みヘ
    ッドの故障を検出する方法であって、前記書き込みヘッ
    ドがコイルを含む方法において、 ノードaにおける第1の抵抗に前記コイルの第1端を接
    続するステップと、 ノードbにおける第2の抵抗に前記コイルの第2端を接
    続するステップと、 共通ノードcにおける前記第1及び第2の抵抗にスイッ
    チを接続するステップと、 前記ノードa及びb間、又はノードa及びc間の電圧を
    解析することにより、前記コイルの故障を検出するステ
    ップとを備えた方法。
JP2001221984A 2000-07-21 2001-07-23 書き込みヘッドにおけるコイルの故障を検出する回路及び方法 Pending JP2002092805A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US09/621,107 US6687064B1 (en) 2000-07-21 2000-07-21 Write head fault detection circuit and method
US621107 2000-07-21

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002092805A true JP2002092805A (ja) 2002-03-29

Family

ID=24488749

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001221984A Pending JP2002092805A (ja) 2000-07-21 2001-07-23 書き込みヘッドにおけるコイルの故障を検出する回路及び方法

Country Status (6)

Country Link
US (1) US6687064B1 (ja)
EP (1) EP1174859B1 (ja)
JP (1) JP2002092805A (ja)
KR (1) KR100742021B1 (ja)
DE (1) DE60141101D1 (ja)
TW (1) TW577054B (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020107385A (ja) * 2018-12-28 2020-07-09 日本電産サンキョー株式会社 磁気記録媒体処理装置

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6952316B2 (en) * 2002-11-08 2005-10-04 International Business Machines Corporation Open head detection circuit and method in a voltage or current mode driver
US7085089B2 (en) * 2003-04-01 2006-08-01 Agere Systems Inc. System and method for reducing circumferential transition incoherence in servowriting operations and magnetic disk drive incorporating the same
US6927933B2 (en) * 2003-04-02 2005-08-09 Texas Instruments Incorporated Apparatus configured for applying write signals for driving a write head and method for configuring
US7247986B2 (en) 2003-06-10 2007-07-24 Samsung Sdi. Co., Ltd. Organic electro luminescent display and method for fabricating the same
US7630159B2 (en) * 2005-05-27 2009-12-08 Agere Systems Inc. Resistance mode comparator for determining head resistance
US7692887B2 (en) * 2006-09-13 2010-04-06 Agere Systems Inc. Method and apparatus for measuring resistance of a resistive sensor
US8044816B2 (en) * 2007-02-01 2011-10-25 International Business Machines Corporation Apparatus, system, and method for detecting the formation of a short between a magnetoresistive head and a head substrate
US7729072B2 (en) * 2007-05-24 2010-06-01 International Business Machines Corporation Open write-head-cable test method and detector
US9087540B1 (en) 2014-07-18 2015-07-21 Seagate Technology Llc Asymmetrical write fault thresholds
US9495988B1 (en) 2014-10-21 2016-11-15 Seagate Technology Llc Dependent write fault threshold
US9236073B1 (en) 2014-10-21 2016-01-12 Seagate Technology Llc Write fault threshold for a set of tracks

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5357379A (en) * 1993-07-02 1994-10-18 Exar Corporation Read/write circuit with switchable head resistance for read and write modes

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4203137A (en) * 1978-08-17 1980-05-13 International Business Machines Corporation Dual mode read preamplifier with electrical short detector
JPS57189316A (en) * 1981-05-18 1982-11-20 Fujitsu Ltd Writing circuit of magnetic head
FR2631129B1 (fr) * 1988-05-04 1990-07-27 Bull Sa Dispositif pour detecter les coupures et les court-circuits dans au moins une portion de circuit electrique
US5087884A (en) * 1990-06-28 1992-02-11 Vtc Bipolar Corporation Open head detection circuit and method
US5457391A (en) * 1992-09-03 1995-10-10 Nec Corporation Load short-circuit detection using AWH-bridge driving circuit and an exclusive-OR gate
US5867305A (en) 1996-01-19 1999-02-02 Sdl, Inc. Optical amplifier with high energy levels systems providing high peak powers
JPH1031811A (ja) * 1996-07-16 1998-02-03 Toshiba Corp 磁気ヘッドの異常検出方法及びその回路並びに磁気ディスク装置
FR2755787B1 (fr) * 1996-11-08 1999-01-22 Sgs Thomson Microelectronics Tete de lecture et d'ecriture magnetique
JPH11134623A (ja) * 1997-10-30 1999-05-21 Sony Corp ヘッドショート検出回路

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5357379A (en) * 1993-07-02 1994-10-18 Exar Corporation Read/write circuit with switchable head resistance for read and write modes

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020107385A (ja) * 2018-12-28 2020-07-09 日本電産サンキョー株式会社 磁気記録媒体処理装置

Also Published As

Publication number Publication date
EP1174859A2 (en) 2002-01-23
US6687064B1 (en) 2004-02-03
EP1174859A3 (en) 2007-04-18
TW577054B (en) 2004-02-21
KR100742021B1 (ko) 2007-07-23
DE60141101D1 (de) 2010-03-11
KR20020008371A (ko) 2002-01-30
EP1174859B1 (en) 2010-01-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6191909B1 (en) Polling a preamplifier within a disk drive to remotely determine pre-established parametric values
US5087884A (en) Open head detection circuit and method
US8654469B1 (en) Preamp circuit including a loopback mode for data storage devices
JP2002092805A (ja) 書き込みヘッドにおけるコイルの故障を検出する回路及び方法
US7656600B2 (en) Monitoring transducer potential to detect an operating condition
US20030076613A1 (en) Method to increase head voltage swing and to reduce the rise time of write driver
EP1310955A2 (en) Write head driver circuit and method for writing to a memory disk
US6424475B1 (en) Magnetic head conductivity testing and form factor determination in a read/write device
US6487034B1 (en) Write head fault detection with small threshold
KR20030020713A (ko) 데이터 저장 시스템에서의 불안정성 헤드 판단에 의한회복 방법 및 장치
KR20020067793A (ko) 디스크 드라이브의 불안정성 헤드 회복 장치 및 방법
US6014281A (en) Using a read element and a read/write coupling path to detect write-safe conditions
US6683736B2 (en) Method detecting a fault of a magnetic recording head, and a magnetic recording device
US6775078B2 (en) Fast magneto-resistive head open and short detection for both voltage and current bias preamplifiers
US6952316B2 (en) Open head detection circuit and method in a voltage or current mode driver
JP3576983B2 (ja) 磁気記録装置
US6532126B1 (en) Head switching sequence in a disc drive employing head bias currents
US6954321B2 (en) Method and apparatus for improved read-to-write transition time for a magneto-resistive head
US6489779B1 (en) System and method for terminal short detection
US6614255B2 (en) Digital method of measuring driver slew rates for reduced test time
US6798233B2 (en) Digital method of measuring driver slew rates for reduced test time
JP2004241043A (ja) 磁気ディスクメモリ装置と書き込み方法
KR20010075111A (ko) 데이터 완전성을 위하여 전치증폭기 고장 검출기능을 가진디스크 드라이브
JP2000090404A (ja) 磁気ディスク装置及び磁気ヘッド組立体
US6728056B2 (en) Current stealing circuit to control the impedance of a TGMR head amplifier biasing circuit regardless of whether the head amplifier is turned on

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080715

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100921

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20110301