JPH10214408A - 磁気ヘッドアセンブリ及び同磁気ヘッドアセンブリを備えた磁気ディスク装置 - Google Patents

磁気ヘッドアセンブリ及び同磁気ヘッドアセンブリを備えた磁気ディスク装置

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JPH10214408A
JPH10214408A JP9018642A JP1864297A JPH10214408A JP H10214408 A JPH10214408 A JP H10214408A JP 9018642 A JP9018642 A JP 9018642A JP 1864297 A JP1864297 A JP 1864297A JP H10214408 A JPH10214408 A JP H10214408A
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magnetic head
magnetic
recording
wear
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Masaaki Habata
政明 幅田
Kotaro Yamamoto
耕太郎 山本
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Toshiba Corp
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    • G11B5/3967—Composite structural arrangements of transducers, e.g. inductive write and magnetoresistive read

Abstract

(57)【要約】 【課題】記録ヘッドの一部を摩耗検知手段とすること
で、再生ヘッドが磨耗により再生不能となる前に磁気ヘ
ッドの摩耗を検知でき、しかもコスト高を招かないよう
にする。 【解決手段】磁気ディスク媒体と接触するスライダ面２
４を有し、記録用のコイル２１１を含む記録ヘッド２１
と再生ヘッド２２とが分離した電磁変換部２０を備えた
複合型の接触記録用磁気ヘッドにおいて、コイル２１１
の一部をスライダ面２４の近傍に延出させて磨耗検知パ
ターン２５とし、スライダ面２４側が摩耗した場合に、
当該磨耗検知パターン２５の先端がスライダ面２４に露
出する構成とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、記録ヘッドと再生
ヘッドとが分離した複合型の接触記録用磁気ヘッドを有
し、当該磁気ヘッドの摩耗を検知するのに好適な磁気ヘ
ッドアセンブリ及び同磁気ヘッドアセンブリを備えた磁
気ディスク装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】磁気ディスク装置の記録密度はＭＲ（Ma
gnetoregistive）ヘッドの実用化に伴い、１０年で１０
０倍といった早さで上昇を続けており、更なる記録密度
の向上を目指して研究開発が盛んに行われている。
【０００３】磁気ディスク装置の線記録密度を増加させ
るためには、磁気ヘッドと磁気ディスク媒体との間隔
（磁気ヘッドの浮上量）をより小さくすることが有効で
あることが知られている。ところが従来は、磁気ヘッド
と磁気ディスク媒体との間隔は機械的信頼性の観点から
非接触となるように設計されていた。
【０００４】そこで最近では、ＡＢＳ面（Air Bearing
Surface ）と称される磁気ヘッドのスライダ面の保護膜
や磁気ディスク媒体表面の保護膜・潤滑剤の組み合わせ
等により、浮上量が３０ｎｍ程度の磁気ディスク装置が
実用化されている。低浮上化には、機械的な信頼性確保
という面で技術的な困難さを伴うものの、磁気ヘッドの
電磁変換部を接触させてデータの記録・再生を行う接触
記録方式が研究されている。そのため、近い将来、線記
録密度の一層の増加のために接触記録方式を採用した磁
気ディスク装置が登場することが予測される。
【０００５】一般に接触記録方式を適用する磁気ディス
ク装置では、磁気ヘッドと磁気ディスク媒体との接触に
より、磁気ヘッドのスライダ面（ＡΒＳ面）或いは磁気
ディスク媒体の表面が磨耗を起こす。通常、この種の磨
耗に関しては装置の保証期間に対して余裕のある設計に
なっている。しかし、ユーザが保証期間を超えて装置を
使用した場合、或いは使用環境が磨耗を促進するような
場合（例えば外部からの衝撃を受けるような環境での使
用）などには、この摩耗により磁気ディスク装置の故障
を引き起こす可能性がある。
【０００６】この磁気ヘッドの摩耗による磁気ディスク
装置の故障につき、磁気ヘッドがＭＲヘッドの場合を例
に述べる。まず、ＭＲヘッドが有するデータの記録・再
生を行う電磁変換部は、書き込みを行うための（記録
用）薄膜ヘッド（記録ヘッド）と読み込みを行うための
（再生用）ΜＲ素子（再生ヘッド）とで構成される。つ
まりＭＲヘッドは、記録ヘッドと再生ヘッドとが分離し
た記録・再生分離型ヘッド（複合型ヘッド）となってい
る。
【０００７】ＭＲヘッドでは、電磁変換部側のスライダ
面（接触面）が摩耗して、記録ヘッドの書き込みギャッ
プのギャップ長が広がると、書き込みが正常に行えなく
なる。一方、ＭＲヘッドの再生ヘッド側では、当該再生
ヘッドをなすΜＲ素子が摩耗すると、その断面積が小さ
くなることから、当初はΜＲ素子の抵抗値が大きくなっ
て見掛け上感度は高くなる。しかし、ΜＲ素子の抵抗値
が大きくなると、ΜＲ素子の発熱温度も高くなる。この
ΜＲ素子の発熱温度は抵抗値の２乗に比例することと、
ΜＲ素子の寿命は実験的にＭＲ素子温度の逆数に対して
指数関数的に比例することが分かっている。したがっ
て、ΜＲ素子の寿命は摩耗と共に指数関数的に短くな
り、寿命が尽きるとΜＲ素子の再生機能は失われる。す
ると、それまで磁気ディスク媒体に蓄えられていたデー
タを失ってしまうことになる。
【０００８】そこで、接触記録を行う磁気ヘッドアセン
ブリに、磁気ディスク媒体と接触する磁気ヘッドの電磁
変換部の接触面の摩耗を検知するための摩耗状態検知手
段を備えることが提案され始めている。例えば特開平６
−８９５２２号公報には、接触面に露出している磁極に
対して前後の部位に当該接触面に露出して新たに設けた
摩耗センサとしての２つの光導波路と、磁気ディスク媒
体の表面で反射して上記光導波路を通って戻ったレーザ
光の位相差を検知する専用の光学的検知手段とにより構
成される摩耗状態検知手段が記載されている。また、上
記公報には、接触面に露出している磁極に対して前後の
部位に当該接触面に露出して新たに設けた摩耗センサと
しての２つの抵抗ブロックと、この２つの抵抗ブロック
の抵抗値の差を検知する専用の電気的な検知手段とによ
り構成される摩耗状態検知手段も記載されている。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】上記したように、接触
記録方式を適用する磁気ディスク装置に用いられる磁気
ヘッドでは、ユーザが保証期間を超えて装置を使用した
場合や使用環境によっては、電磁変換部のスライダ面
（接触面）が摩耗する恐れがあった。
【００１０】そこで、磁気ヘッドの電磁変換部のスライ
ダ面の摩耗を検知するために、新たに設けられた摩耗セ
ンサとしての２つの光導波路と専用の光学的検知手段と
により構成される摩耗状態検知手段、或いは新たに設け
られた摩耗センサとしての２つの抵抗ブロックと両抵抗
ブロックの抵抗値の差を検知する専用の電気的な検知手
段とにより構成される摩耗状態検知手段が提案されてい
る。
【００１１】しかし、この方式は、２つの光導波路と光
学的検知手段、或いは２つの抵抗ブロックと電気的検知
手段を新たに必要とするため、コスト高となる問題があ
る。本発明は上記事情を考慮してなされたものでその目
的は、接触記録を行う記録・再生分離型の磁気ヘッドに
おける記録ヘッドの構成要素の一部に磁気ディスク媒体
との接触面の磨耗を検知する摩耗センサとしての機能を
持たせることで、再生ヘッドが磨耗により再生不能とな
る前に磁気ヘッドの摩耗を検知でき、しかもコスト高を
招かないで済む磁気ヘッドアセンブリ及び同磁気ヘッド
アセンブリを備えた磁気ディスク装置を提供することに
ある。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本発明は、接触記録を行
う複合型の磁気ヘッドを備えた磁気ヘッドアセンブリに
おいて、記録ヘッドの一部をなし、上記磁気ヘッドのス
ライダ面側の摩耗を検知するための摩耗検知手段を備え
たことを特徴とする。
【００１３】このような構成の磁気ヘッドアセンブリに
おいては、記録ヘッドの一部が磨耗検出手段を兼ねた構
成とすることにより、磁気ヘッドのスライダ面側の摩耗
が記録ヘッド異常の形で現れる。したがって、上記磨耗
検出手段を、再生ヘッドが摩耗により使用不能となる以
前に、記録ヘッド異常が現れる位置に配置しておくこと
で、再生ヘッドの再生機能が失われる前に磁気ヘッドが
磨耗していることを検知することが可能となる。ここ
で、複合型の磁気ヘッドとして、ＭＲ（Magnetoresisti
ve）ヘッド、或いはスピンバルブ型ＭＲヘッド等のＧＭ
Ｒ（Giant Magnetoresistive）効果を持つＧＭＲヘッド
が適用可能である。
【００１４】また本発明は、接触記録を行う複合型の磁
気ヘッドを備えた磁気ヘッドアセンブリにおいて、記録
ヘッドのコイルの一部または当該コイルのリード部の一
部をなし、上記磁気ヘッドのスライダ面側の摩耗を検知
するための、上記スライダ面の近傍に配置された導体パ
ターンからなる摩耗検知手段を備えたことを特徴とす
る。
【００１５】このような構成の磁気ヘッドアセンブリに
おいては、記録ヘッドのコイルまたは当該コイルのリー
ド部の一部をなす導体パターンが、磁気ヘッドの磨耗検
知用の摩耗検知パターン（摩耗検知プローブ）としてス
ライダ面の近傍に配置されていることから、スライダ面
側の摩耗が進むと磨耗検知パターンがスライダ面に露出
するようになる。この状態で記録ヘッドを用いたデータ
の書き込みを行った場合、書き込み電流が媒体表面にリ
ークし、コイルの端子間の電位が低下すること、或いは
書き込み電流波形にノイズが乗る等の原因により、書き
込みを正常に行えない。したがって、この書き込み異常
から、磁気ヘッドが磨耗していることを認識することが
可能となる。ここで、磨耗検知パターンとスライダ面と
の間隔を、スライダ面側が摩耗して再生ヘッドの再生機
能が失われる可能性のある摩耗高さより小さい値に設定
することで、再生ヘッドが摩耗により使用不能となる前
に、磨耗検知パターンをスライダ面に露出させることが
可能となる。
【００１６】また本発明は、記録ヘッドのコイルまたは
当該コイルのリード部の一部をなす導体パターンを磁気
ヘッドのスライダ面側の摩耗を検知するための摩耗検知
手段として、少なくともその一部が上記スライダ面に露
出するように配置すると共に、上記スライダ面を絶縁性
の保護膜で覆う構成としたことを特徴とする。
【００１７】このような構成においては、摩耗検知手段
としての導体パターン（摩耗検知パターン）をスライダ
面の近傍にある一定間隔を保って配置する場合に比べて
加工が容易となる。
【００１８】また本発明は、上記記録ヘッド、即ち一部
が摩耗検知手段をなす記録ヘッドを、再生ヘッドより磁
気ヘッドの後端側に設けたことを特徴とする。一般に、
磁気ディスク媒体が磁気ヘッドに対してある相対速度を
もって回転すると、当該媒体上に空気流が生じ、これに
より磁気ヘッドの先端側（流入端側）が浮き上がる。こ
の状態では、磁気ヘッドのスライダ面の摩耗量は、磁気
ヘッドの先端側（流入端側）の方が後端側（流出端側）
よりも少なくなる。
【００１９】したがって、本発明のように記録ヘッドを
再生ヘッドより磁気ヘッドの後端側（流出端側）に設け
た構成では、記録ヘッド側の摩耗に比べて再生ヘッド側
の摩耗を少なくすることができる。これにより、再生ヘ
ッドの機能が摩耗により失われる前に、記録ヘッドの一
部をなす磨耗検知パターンをスライダ面に確実に露出さ
せることが可能となる。
【００２０】また本発明は、以上に述べた磁気ヘッドア
センブリのいずれかを磁気ディスク装置に適用し、当該
磁気ディスク装置内に、書き込み時の記録ヘッドの電気
的特性から当該記録ヘッドによる書き込みの異常を検出
する書き込み異常検出手段と、この書き込み異常検出手
段による書き込み異常検出に応じて上記磁気ヘッドの摩
耗による装置異常を判断する異常判断手段とを設けたこ
とを特徴とする。ここで、上記異常判断手段に、上記装
置異常判断結果をホスト装置に通知する機能を持たせる
とよい。
【００２１】このような構成の磁気ディスク装置におい
ては、摩耗検知手段（磨耗検知パターン）がスライダ面
に露出した段階で書き込みが行われると書き込み異常が
検出されるため、再生ヘッドが摩耗により使用不能とな
る前に装置異常を認識できる。また、認識した装置異常
をホスト装置に通知することで、再生ヘッドが摩耗によ
り使用不能となる前に、磁気ディスク媒体に記録されて
いるデータのバックアップをユーザに促すことができ
る。
【００２２】また本発明の磁気ディスク装置は、表面に
導電性のある磁気ディスク媒体を適用することを特徴と
する。このような構成においては、摩耗検知手段がスラ
イダ面に露出した状態で書き込みが行われる場合、記録
ヘッド（中のコイル）への書き込み電流が磁気ディスク
媒体側にリークしやすくなる。この場合、記録ヘッドの
電気的特性が大幅に変化するため、書き込み異常が容易
に検出できる。
【００２３】一般に、磁気ディスク装置のヘッドＩＣに
は、記録ヘッドの電圧を測定し、その測定電圧が記録ヘ
ッドのリード線の接続不良、断線、短絡等の要因で規定
値より低下した場合に、書き込み異常を判断してライト
アンセーフ信号（ライトフォールト信号）を出力するラ
イトフォールト検出回路が設けられている。
【００２４】一方、磁気ヘッドの摩耗が進んで摩耗検知
手段がスライダ面に露出した結果、書き込み時において
書き込み電流が磁気ディスク媒体側に流れるようになる
と、記録ヘッドの電圧が低下する。この場合、磁気ディ
スク装置のヘッドＩＣが標準的に有するライトアンセー
フ回路により、磁気ヘッドの摩耗に起因する書き込み異
常が確実に検出される。
【００２５】また本発明は、上記記録ヘッドの一部によ
り摩耗検知手段を構成した磁気ヘッドアセンブリを備え
た磁気ディスク装置に、上記記録ヘッドの抵抗値を測定
する抵抗測定回路と、この抵抗測定回路の測定結果をも
とに磁気ヘッドの摩耗の限界を判断する異常判断手段と
を設けたことを特徴とする。ここで、上記異常判断手段
に、上記装置異常判断結果をホスト装置に通知する機能
を持たせるとよい。
【００２６】このような構成において、磁気ヘッドの摩
耗により記録ヘッドの一部をなす摩耗検知手段がスライ
ダ面に露出し、更に当該摩耗検知手段自体が摩耗するよ
うになると、記録ヘッドの抵抗が大きくなる。したがっ
て、記録ヘッドの抵抗値を抵抗測定回路で測定し、その
抵抗測定結果を異常判断手段にて基準抵抗値と比較する
ことで、磁気ヘッドの摩耗の限界を判断することが可能
となる。この基準抵抗値の決定は次のようにするとよ
い。まず、磁気ディスク装置の製造時において記録ヘッ
ドの抵抗値を計測する。そして、この計測値に予め定め
られたマージン値を加えた値を基準抵抗値として決定
し、磁気ディスク装置が有する不揮発性メモリに保存す
る。なお、複数の磁気ヘッドアセンブリを備えた磁気デ
ィスク装置では、各磁気ヘッドアセンブリ毎に、対応す
る磁気ヘッドの基準抵抗値を設定するとよい。
【００２７】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につき
図面を参照して説明する。図１は本発明の一実施形態に
係る磁気ヘッドアセンブリを実装した磁気ディスク装置
の筐体内の概略構造を示す模式図である。
【００２８】図１において、１１はデータを記録してお
くための磁気ディスク媒体である。ここでは、磁気ディ
スク媒体１１は単一枚で用いられるものとするが、要求
される記録容量により複数枚積層して用いられることも
ある。磁気ディスク媒体１１は高速回転するモータ（ス
ピンドルモータ）１２に取り付けられている。
【００２９】磁気ディスク媒体１１の一方の面側には、
記録／再生用の磁気ヘッド１３が配置されている。磁気
ディスク媒体１１の両面を利用する場合には、他方の面
側に磁気ヘッド１３と同種の磁気ヘッドが配置される。
磁気ヘッド１３は支持バネであるサスペンション１４の
先端に接着され、サスペンション１４はアーム１５に溶
接等により連結されている。この磁気ヘッド１３、サス
ペンション１４及びアーム１５を含む組み立て体は磁気
ヘッドアセンブリ１６と呼ばれる。ここでは、磁気ヘッ
ドアセンブリ１６（を実装した磁気ディスク装置）は、
接触記録方式を適用するものとする。
【００３０】アーム１５はボイスコイルモータ１８によ
り駆動して回転軸１７を中心に回動する。これにより磁
気ヘッド１３は磁気ディスク媒体１１上を半径方向に移
動する。したがって、ボイスコイルモータ１８に流す電
流の量と方向を制御することで、磁気ヘッド１３を磁気
ディスク媒体１１上の目標位置に移動することができ
る。磁気ヘッド１３はＦＰＣ（Flexible Patterned Cir
cuit）１９の導体パターンを通じて後述するヘッドＩＣ
５１と接続されている。
【００３１】以上の構造の磁気ディスク装置は外部から
の塵埃を防ぐために密閉構造となっている。図１中の磁
気ヘッド１３は図２に示す構造の電磁変換部２０を有し
ているものとする。図２（ａ）は磁気ヘッド１３の流出
端側から見た電磁変換部の模式図であり、図２（ｂ）は
その側断面の模式図である。
【００３２】本実施形態における磁気ヘッド１３は記録
・再生分離型ヘッド（複合型ヘッド）、例えばＭＲヘッ
ドである。したがって、磁気ヘッド１３の電磁変換部２
０は、互いに分離した記録ヘッド２１と再生ヘッド２２
とから構成される。電磁変換部２０は、磁気ヘッド１３
の流出端２３側に配置されている。
【００３３】ここで、磁気ヘッド１３の流出端２３につ
いて述べる。まず、磁気ヘッド１３のアーム１５に近い
側の端部を磁気ヘッド１３の先端と呼び、アーム１５か
ら遠い側の端部を磁気ヘッド１３の後端と呼ぶ。
【００３４】磁気ディスク媒体１１が磁気ヘッド１３に
対してある相対速度をもって回転する際には、磁気ディ
スク媒体１１上に空気流が生じる。磁気ヘッド１３の先
端は、上記空気流が流入する流入端をなし、後端は上記
空気流が流出する流出端２３をなす。
【００３５】磁気ディスク媒体１１と相対向する磁気ヘ
ッド１３の面はスライダ面（ＡＢＳ面）２４をなしてい
る。記録ヘッド２１用のコイル２１１は渦巻状の導体パ
ターンにより構成されている。コイル２１１は複数の層
を形成しており（単層の場合もある）、当該コイル２１
１のパターン間はＳｉＯ2 などの絶縁体２１２で満たさ
れている。コイル２１１は、データの書き込み時に当該
コイル２１１に電流（書き込み電流）が流されることに
より、ギャップ（書き込みギャップ）２１３に磁界を発
生する。コイル２１１の形成するリングは、上側磁極２
１４と下側磁極２１５とで筒状に囲まれた空間を貫通し
ている。コイル２１１の両端はリードパターン２１６
ａ，２１６ｂを介して磁気ヘッド１３の流出端２３の壁
に設けられた電極（接続端子）２１７ａ，２１７ｂに接
続され、更に当該電極２１７ａ，２１７ｂから図１に示
すＦＰＣ１９の導体パターンを介してヘッドＩＣ５１
（図１参照）と接続されている。
【００３６】再生ヘッド２２は記録ヘッド２１に隣接し
て配置されている。再生ヘッド２２はΜＲ素子２２１に
より構成される。ΜＲ素子２２１は、隣接データからの
磁束の影響を防ぐための上部シールドを兼ねた（記録ヘ
ッド２１の）下側磁極２１５と下部シールド２２２とに
挟まれている。ΜＲ素子２２１は、コイル２１１と同様
に、ＦＰＣ１９の導体パターンを介して図１のヘッドＩ
Ｃ５１と接続されている。
【００３７】本実施形態における磁気ヘッド１３（を備
えた磁気ヘッドアセンブリ１６）の特徴は、当該磁気ヘ
ッド１３が有する電磁変換部２０の記録ヘッド２１用コ
イル２１１の導体パターンの一部がスライダ面２４の近
傍まで延出しており、摩耗センサ（磨耗検知プローブ）
としての磨耗検知パターン２５をなしていることであ
る。このように磨耗検知パターン２５は、特開平６−８
９５２２号公報に記載された発明とは異なって電磁変換
部２０から独立したものではなく、電磁変換部２０の記
録ヘッド２１用コイル２１１の一部をなすものであり、
しかもスライダ面２４（接触面）に露出していないこと
に注意されたい。ここで、磨耗検知パターン２５の先端
とスライダ面２４との間の間隔をｄ1 とする。
【００３８】周知のように、ΜＲヘッドでは、コイル２
１１に書き込み電流（直流電流）を流すことで磁極２１
４，２１５に挟まれたギャップ（書き込みギャップ）２
１３に生じる漏れ磁束により、磁気ディスク媒体１１上
へのデータの書き込みが行われる。また、読み込み時に
は、図３に示されるように、ΜＲ素子２２１にセンス線
３１を通じて直流のセンス電流Ｉｓが流され、磁気ディ
スク媒体１１（に矢印３２の方向に磁化された磁気記録
データ）からの漏れ磁界３３がΜＲ素子２２１を横切る
際に生じる当該ΜＲ素子２２１の抵抗変化を電圧の変化
ΔＶとしてとらえることにより、磁気ディスク媒体１１
に記録されたデータを読み出すことができる。
【００３９】さて接触記録を行う磁気ヘッド１３では、
当該磁気ヘッド１３の流出端２３側に配置された電磁変
換部２０は磁気ディスク媒体１１に接している。このた
め、磁気ヘッド１３の電磁変換部２０側のスライダ面２
４の部分は、装置の稼働に伴って徐々に摩耗していく。
やがて、図４に示すように、磁気ヘッド１３のスライダ
面２４側の距離（高さ）ｄ1 の部分４０が摩耗すると、
記録ヘッド２１用コイル２１１の一部をなす磨耗検知パ
ターン２５の先端がスライダ面２４に露出し、磁気ディ
スク媒体１１の表面に接触する。
【００４０】このように磨耗検知パターン２５がスライ
ダ面２４に露出している状態でデータの書き込み動作が
行われた場合、記録ヘッド２１のコイル２１１に流れる
電流（書き込み電流）Ｉは磨耗検知パターン２５を通し
て磁気ディスク媒体１１に流れ込む。但し、磁気ディス
ク媒体１１の表面は導電性があるものとする。
【００４１】コイル２１１に流れる電流Ｉが磨耗検知パ
ターン２５を通して磁気ディスク媒体１１に流れ込む
と、コイル２１１の両端間の電圧が下がる。したがっ
て、書き込み時に、コイル２１１の両端間の電圧、即ち
記録ヘッド２１の電圧を、図２中の電極２１７ａ，２１
７ｂを介して測定することにより、磁気ヘッド１３が摩
耗して磨耗検知パターン２５がスライダ面２４に露出し
たことを検出できる。
【００４２】ところで、磁気ヘッド１３（の電磁変換部
２０）は（図１中のＦＰＣ１９の導体パターンを介し
て）図５に示すようにヘッドＩＣ５１と接続されてい
る。このヘッドＩＣ５１は図１中のＦＰＣ１９上に実装
されている。
【００４３】図５は、ヘッドＩＣ５１を含む磁気ディス
ク装置の概略回路構成を示す。図５中のヘッドＩＣ５１
は、リード／ライトドライバ回路５１１、電流源５１
２、ライトアンセーフ（Write Unsafe）検出回路５１
３、及びプリアンプ５１４など、周知の回路を含んでい
る。
【００４４】リード／ライトドライバ回路５１１は、磁
気ディスク媒体１１へのデータ書き込みのために磁気ヘ
ッド１３の記録ヘッド２１（中のコイル２１１）に書き
込み電流を流すライトドライバ５１１ａと、磁気ディス
ク媒体１１からのデータ読み込みのために、再生ヘッド
２２をなすΜＲ素子２２１の電圧を読み込むリードドラ
イバ５１１ｂを有している。電流源５１２は、データ書
き込み時に磁気ヘッド１３の記録ヘッド２１（中のコイ
ル２１１）に流す書き込み電流を供給する。
【００４５】ライトアンセーフ検出回路５１３は、記録
ヘッド２１（中のコイル２１１の両端）の電圧を測定
し、その測定電圧が記録ヘッド２１のリード線の接続不
良、断線、短絡等の要因で予め定められた規定値より小
さい場合に、書き込み異常を判断してライトアンセーフ
信号（ライトフォールト信号）をコントロールドライバ
５３に出力する。プリアンプ５１４は、リードドライバ
５１１ｂにより読み込まれた再生ヘッド２２からの再生
出力信号を増幅する。このプリアンプ５１４の出力は、
リード／ライトチャネル（リード／ライトＩＣ）５２に
供給される。リード／ライトチャネル５２は、プリアン
プ５１４の出力の波形整形等、データ再生動作に必要な
信号処理を行う。
【００４６】上記したように、ヘッドＩＣ５１には、磁
気ディスク媒体１１への書き込み時に、磁気ヘッド１３
の記録ヘッド２１（中のコイル２１１の両端）に発生す
る電圧を測定する電圧測定機能を持つライトアンセーフ
検出回路５１３が設けられている。したがって、上記し
た磁気ヘッド１３の摩耗によるコイル２１１の両端間の
電圧の低下を検出するのに、特別の測定回路は不要であ
る。
【００４７】ライトアンセーフ検出回路５１３は、測定
した記録ヘッド２１（中のコイル２１１の両端間）の電
圧が規定値より小さい場合には、ライトアンセーフ（ラ
イトフォールト）と判断する。この場合、ライトアンセ
ーフ検出回路５１３からコントロールドライバ５３にラ
イトアンセーフ信号（ライトフォールト信号）が出力さ
れる。
【００４８】コントロールドライバ５３は、磁気ディス
ク装置全体の制御を司るもので、マイクロプロセッサ、
当該マイクロプロセッサの制御用プログラム等が格納さ
れたＲＯＭ、リード／ライト可能なＲＡＭ、書き換え可
能な不揮発性メモリとしての例えばＥＥＰＲＯＭ、及び
ディスクコントローラ（ＨＤＣ）など周知の構成を有し
ている。
【００４９】コントロールドライバ５３は、ヘッドＩＣ
５１中のライトアンセーフ検出回路５１３からライトア
ンセーフ信号が出力されると、ヘッドＩＣ５１を通して
の書き込み動作を停止させると共に、磁気ヘッド１３の
摩耗により記録ヘッド２１の記録機能が失われたものと
判断する。この場合コントロールドライバ５３は、再生
ヘッド２２の再生機能が失われる前に、磁気ディスク媒
体１１に記録されているデータを他の媒体にセーブする
ように、図５の磁気ディスク装置を利用するホスト装置
に磁気ヘッド１３の異常を通知する。このホスト装置へ
の異常通知により、ユーザに磁気ディスク媒体１１の記
録データのバックアップを促すことができる。
【００５０】ここで、磨耗検知パターン２５の先端と磁
気ヘッド１３のスライダ面２４との間の間隔ｄ1 につい
て述べる。この間隔ｄ1 は、磨耗検知パターン２５の先
端がスライダ面２４に露出するまでに磁気ヘッド１３に
許される摩耗高さ、即ち記録ヘッド２１の許容摩耗限界
値である。一方、再生ヘッド２２をなすΜＲ素子２２１
の再生機能が失われないで済む、当該ΜＲ素子２２１の
摩耗高さの上限（許容摩耗限界値）をｄ2 とする。
【００５１】本実施形態では、記録ヘッド２１の許容摩
耗限界値ｄ1 、即ち磨耗検知パターン２５の先端と磁気
ヘッド１３のスライダ面２４との間の間隔ｄ1 を、ΜＲ
素子２２１の許容摩耗限界値ｄ2 より小さな値に設定す
る。こうすることで、磁気ヘッド１３の摩耗によりΜＲ
素子２２１の再生機能が失われる前に、磨耗検知パター
ン２５の先端をスライダ面２４に露出させて、上記のよ
うにライトアンセーフ検出回路５１３にてライトアンセ
ーフ（ライトフォールト）として検出することが可能と
なる。即ち、磁気ヘッド１３の摩耗により記録ヘッド２
１による書き込みが不能となった時点でも、再生ヘッド
２２によるデータの再生は可能である。したがって、コ
ントロールドライバ５３からホスト装置に対する磁気ヘ
ッド異常の通知により、磁気ディスク媒体１１に記録さ
れているデータのセーブ等を要求することで、重要なデ
ータが失われるのを防ぐことができる。
【００５２】なお、本実施形態で適用した磁気ヘッド１
３は再生ヘッド２２にΜＲ素子２２１を用いたＭＲヘッ
ドであるが、スピンバルブ素子を用いたスピンバルブ型
ＭＲヘッド等、ＧＭＲ（Giant Magnetoresistive）効果
を持つＧＭＲヘッドであっても構わない。
【００５３】以上に述べた実施形態では、磁気ヘッド１
３のスライダ面２４が全て磁気ディスク媒体１１と接触
していることを前提として説明した。しかし実際には、
磁気ヘッド１３と磁気ディスク媒体１１との位置関係は
図６の模式図のようになる。
【００５４】まず、磁気ディスク媒体１１が磁気ヘッド
１３に対してある相対速度をもって例えば符号６１で示
す方向に回転する際には、磁気ディスク媒体１１上に回
転方向６１とほぼ同じ向きの空気流６２が生じる。磁気
ヘッド１３のスライダ面２４が空気流６２を受けると、
磁気ヘッド１３の流入端（先端）６３側が僅かに浮き上
がる。これにより磁気ヘッド１３は、スライダ面２４の
流出端（後端）２３側の部分が最下点となるように磁気
ディスク媒体１１の表面に対して傾斜する。このとき、
磁気ヘッド１３の流出端２３側に配置された電磁変換部
２０は磁気ディスク媒体１１に接している。
【００５５】上記した磁気ヘッド１３の傾斜により、磁
気ヘッド１３の摩耗は、図７に示されるように、流出端
２３側のスライダ面２４の部分７０から始まる。その
後、磁気ヘッド３の磨耗は、書き込みギャップ２１３の
近傍、ΜＲ素子２２１の順に進む。この場合、磨耗検知
パターン２５側のスライダ面２４の部分の方が、ΜＲ素
子２２１側より多く摩耗する。したがって、磨耗検知パ
ターン２５を用いた磁気ヘッド１３の摩耗限界の検知
が、磁気ヘッド１３の摩耗によりΜＲ素子２２１の再生
機能が失われる前に十分余裕をもって行える。
【００５６】以上に述べた実施形態では、磁気ヘッド１
３の電磁変換部２０が有する記録ヘッド２１の一部をな
す磨耗検知パターン（摩耗検知プローブ）２５の先端が
スライダ面２４に露出していないことを特徴とする。し
かし、磨耗検知パターン２５の先端とスライダ面２４と
の間隔を一定距離（ｄ1 ）に保つように、磁気ヘッド１
３（のスライダ部分）を加工することは容易ではない。
そこで、磨耗検知パターンの先端をスライダ面に露出さ
せた磁気ヘッド１３の電磁変換部につき説明する。
【００５７】図８は、図１中の磁気ヘッド１３が有する
電磁変換部の第１の変形例を示す。なお、図２（ａ）と
同一部分には同一符号を付してある。図８において２０
Ａは電磁変換部である。この電磁変換部２０Ａの特徴
は、記録ヘッド２１のコイル２１１の一部をなす（図２
中の磨耗検知パターン２５に相当する）磨耗検知パター
ン２５Ａの先端が、磁気ヘッド１３のスライダ部分の加
工の容易さのために、スライダ面２４に露出させられて
いることである。この状態では、書き込み時においてコ
イル２１１に流れる電流は、磁気ヘッド１３の摩耗の有
無に無関係に磁気ディスク媒体１１に流れてしまう。そ
こで本実施形態では、スライダ面２４を厚みがｄ1 の絶
縁性の保護膜８０で覆うことで、スライダ面２４に達し
ている磨耗検知パターン２５Ａの先端が磁気ディスク媒
体１１に直接接触しないようにしている。またスライダ
面２４を保護膜８０で覆うことで、スライダ面２４の保
護、ΜＲ素子２２１（を構成するＭＲ膜）、磁極２１
４，２１５の腐食防止も図れる。
【００５８】図８の構造の電磁変換部２０Ａを持つ磁気
ヘッド１３では、接触記録により保護膜８０が摩耗し、
磨耗検知パターン２５Ａが磁気ディスク媒体１１側に露
出するようになると、書き込みの場合には、コイル２１
１に流れる電流が磨耗検知パターン２５Ａを介して磁気
ディスク媒体１１に流れる。すると、前記実施形態と同
様に、図５中のヘッドＩＣ５１内のライトアンセーフ検
出回路５１３にてライトアンセーフが検出される。この
結果、図５中のコントロールドライバ５３からホスト装
置に磁気ヘッド異常が通知され、磁気ヘッド１３の摩耗
によりΜＲ素子２２１の再生機能が失われる前に、磁気
ディスク媒体１１に記録されているデータのセーブ等を
ユーザに要求することができる。
【００５９】以上は、図１中の磁気ヘッド１３が、コイ
ル２１１の一部を磨耗検知パターンとする電磁変換部を
有する場合について説明したが、コイル２１１と電極２
１７ａ，２１７ｂとの間のリードパターン２１６ａ，２
１６ｂのうち、スライダ面２４側のリードパターン２１
６ａの一部を磨耗検知パターン（磨耗検知プローブ）と
して用いることも可能である。そこで、リードパターン
２１６ａの一部を磨耗検知パターンとして用いた磁気ヘ
ッド１３の電磁変換部につき説明する。
【００６０】図９は、図１中の磁気ヘッド１３が有する
電磁変換部の第２の変形例を示す。なお、図２（ａ）と
同一部分には同一符号を付してある。図９において２０
Ｂは電磁変換部である。この電磁変換部２０Ｂの特徴
は、記録ヘッド２１のコイル２１１と電極２１７ｂとの
間のリードパターン２１６ｂの一部が、磨耗検知パター
ン２５Ｂとしてスライダ面２４の近傍まで延出して配置
されていることである。この磨耗検知パターン２５Ｂと
スライダ面２４との間隔は、図２の電磁変換部２０Ａに
おける磨耗検知パターン２５とスライダ面２４との間隔
と同じｄ1 に設定される。
【００６１】図９の構造の電磁変換部２０Ｂを持つ磁気
ヘッド１３では、接触記録によりスライダ面２４が摩耗
し、磨耗検知パターン２５Ｂが磁気ディスク媒体１１側
に露出するようになると、書き込みの場合には、コイル
２１１に流れる電流が磨耗検知パターン２５Ｂを介して
磁気ディスク媒体１１に流れる。すると、前記実施形態
と同様に、図５中のヘッドＩＣ５１内のライトアンセー
フ検出回路５１３にてライトアンセーフが検出される。
この結果、図５中のコントロールドライバ５３からホス
ト装置に磁気ヘッド異常が通知され、磁気ヘッド１３の
摩耗によりΜＲ素子の再生機能が失われる前に、磁気デ
ィスク媒体１１に記録されているデータのセーブ等をユ
ーザに要求することができる。
【００６２】以上に述べた実施形態における磁気ヘッド
１３の摩耗検知は、いずれも磁気ディスク媒体１１の表
面に導電性があることを前提としている。この場合、ス
ライダ面２４側の摩耗により磨耗検知パターン（２５，
２５Ａ，２５Ｂ）が磁気ディスク媒体１１側に露出する
と、コイル２１１に流れる電流が磨耗検知パターン（２
５，２５Ａ，２５Ｂ）を通して磁気ディスク媒体１１に
流れ込み、コイル２１１の両端の電圧が低下する。ヘッ
ドＩＣ５１は、記録ヘッド２１（中のコイル２１１の両
端）の電圧を測定し、その測定電圧が規定値以下の場合
にライトアンセーフを検出するライトアンセーフ検出回
路５１３を標準的に備えている。したがって、磨耗検知
パターン（２５，２５Ａ，２５Ｂ）が磁気ディスク媒体
１１側に露出する磁気ヘッドの異常は、ヘッドＩＣ５１
内のライトアンセーフ検出回路５１３により検出するこ
とができる。
【００６３】しかし、磁気ディスク媒体１１の表面に導
電性がない場合には、磨耗検知パターン（２５，２５
Ａ，２５Ｂ）が磁気ディスク媒体１１側に露出しても、
コイル２１１に流れる電流が磁気ディスク媒体１１に流
れないため、磁気ヘッドの異常摩耗、即ち磁気ヘッドの
摩耗が限界値に達したことを、ヘッドＩＣ５１内のライ
トアンセーフ検出回路５１３により検出することは困難
である。
【００６４】そこで、表面に導電性がない磁気ディスク
媒体１１を使用した磁気ディスク装置において、磁気ヘ
ッドの異常摩耗を検出可能とした実施形態について、図
１０のブロック図を参照して説明する。
【００６５】図１０は、新規なヘッドＩＣ１１０を含む
磁気ディスク装置の概略回路構成を示す。なお、図５と
同一部分には同一符号を付して詳細な説明を省略する。
図１０中のヘッドＩＣ１１０が図５中のヘッドＩＣ５１
と異なる点は、例えば図２の構造の記録ヘッド２１の抵
抗値（具体的には記録ヘッド２１のコイル２１１の抵抗
値）を電極２１７ａ，２１７ｂを介して測定する抵抗測
定回路１１１と、抵抗測定回路１１１の抵抗測定結果を
（図５中のコントロールドライバ５３に相当する）コン
トロールドライバ１３０に送信する送信手段としてのシ
リアルポート１１２とを新たに備えていることである。
【００６６】また、図１０中のコントロールドライバ１
３０が図５中のコントロールドライバ５３と異なる点
は、ヘッドＩＣ１１０内の抵抗測定回路１１１に対して
シリアルポート１１２を介して記録ヘッド２１の抵抗値
測定を指示することと、抵抗測定回路１１１の抵抗測定
結果を基準抵抗値と比較して磁気ヘッド１３の異常摩耗
を判断することである。この動作は、ファームウェア処
理により行われる。
【００６７】上記基準抵抗値は、例えば磁気ディスク装
置の製造時（出荷前）に、抵抗測定回路１１１により記
録ヘッド２１の抵抗値を測定させ、その抵抗値にあるマ
ージン値を加えることで決定される。この基準抵抗値
は、コントロールドライバ１３０内のＥＥＰＲＯＭに格
納される。なお、複数の磁気ヘッド１３を備えた磁気デ
ィスク装置の場合には、各磁気ヘッド１３毎に、記録ヘ
ッド２１の抵抗値を測定して基準抵抗値を決定すればよ
い。この他、設計値から決定される基準抵抗値を用いる
ことも可能である。
【００６８】さて、図２の構造の磁気ヘッド１３と磁気
ディスク媒体１１との接触により、磁気ヘッド１３の摩
耗が進むと、記録ヘッド２１のコイル２１１の一部であ
る磨耗検知パターン２５の先端が磁気ディスク媒体１１
側に露出するようになる。その後も、磁気ヘッド１３と
磁気ディスク媒体１１との接触により、磁気ヘッド１３
の摩耗が進む。すると、磨耗検知パターン２５も摩耗し
て細くなり、コイル２１１の抵抗値は大きくなる。この
状態が更に進むと、コイル２１１は磨耗検知パターン２
５の部分で断線する。
【００６９】ここで、抵抗測定回路１１１を利用したコ
ントロールドライバ１３０での磁気ヘッド１３の異常摩
耗の検出処理につき、図１１のフローチャートを参照し
て説明する。
【００７０】コントロールドライバ１３０は、ヘッドＩ
Ｃ１１０に対して磁気ディスク媒体１１への書き込み動
作を要求する際には、当該ヘッドＩＣ１１０のシリアル
ポート１１２を介して抵抗測定回路１１１に抵抗値測定
を指示する（ステップＳ１）。
【００７１】すると抵抗測定回路１１１は、記録ヘッド
２１のコイル２１１の抵抗値を図２中の電極２１７ａ，
２７１ｂを介して測定し、その測定結果をシリアルポー
ト１１２を介してコントロールドライバ１３０に送信す
る。
【００７２】コントロールドライバ１３０は、抵抗測定
回路１１１による抵抗測定結果を受け取ると（ステップ
Ｓ２）、その測定結果、即ちコイル２１１の測定抵抗値
と基準抵抗値とを比較する（ステップＳ３）。
【００７３】もし、測定抵抗値が基準抵抗値を超えてい
る場合には、コントロールドライバ１３０は磁気ヘッド
１３が摩耗限界に達したものと判断し、ホスト装置に磁
気ヘッド異常を通知する（ステップＳ４）。これによ
り、磁気ヘッド１３の摩耗によりΜＲ素子２２１の再生
機能が失われる前に、磁気ディスク媒体１１に記録され
ているデータのセーブ等をユーザに要求することができ
る。
【００７４】一方、測定抵抗値が基準抵抗値以下の場合
には、コントロールドライバ１３０は磁気ヘッド１３は
摩耗限界に達していないものと判断し、ヘッドＩＣ１１
０に対して書き込み要求を発する（ステップＳ５）。
【００７５】なお、コイル２１１の抵抗測定は、必ずし
も書き込み動作前に行う必要はなく、例えば書き込み動
作後に行うとか、定期的に行うようにしても構わない。
以上に述べた、記録ヘッド２１の抵抗値の測定に基づく
磁気ヘッド１３の異常摩耗の検出は、磁気ヘッド１３が
図８に示した電磁変換部２０Ａ或いは図９に示した電磁
変換部２０Ｂを備えている場合にも、同様に行える。
【００７６】
【発明の効果】以上詳述したように本発明によれば、接
触記録を行う記録・再生分離型の磁気ヘッドにおける記
録ヘッドの構成要素の一部、例えば記録用コイルの一部
或いは記録用コイルのリード部の一部に磁気ディスク媒
体との接触面の磨耗を検知する摩耗センサ（摩耗検知プ
ローブ）としての機能を持たせるようにしたので、再生
ヘッドが磨耗により再生不能となる前に磁気ヘッドの摩
耗を検知することができる。しかも記録ヘッドの構成要
素の一部を摩耗センサとして兼ねているため、コスト高
を招かないで済む。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施形態に係る磁気ヘッドアセンブ
リを実装した磁気ディスク装置の筐体内の概略構造を示
す模式図。
【図２】図１中の磁気ヘッド１３の電磁変換部の構造を
示す図。
【図３】図２中のΜＲ素子２２１の動作原理を説明する
ための図。
【図４】図２中の磁気ヘッド１３の電磁変換部の摩耗状
態を示す図。
【図５】磁気ヘッド１３の電磁変換部の摩耗が検知可能
なヘッドＩＣを含む磁気ディスク装置の概略回路構成を
示す図。
【図６】磁気ヘッド１３が空気流の影響を受けて傾斜し
ている状態での当該磁気ヘッド１３と磁気ディスク媒体
１１との位置関係を示す模式図。
【図７】磁気ヘッド１３が図６のように傾斜している状
態での電磁変換部の摩耗の様子を示す図。
【図８】磁気ヘッド１３の電磁変換部の第１の変形例を
示す構造図。
【図９】磁気ヘッド１３の電磁変換部の第２の変形例を
示す構造図。
【図１０】記録ヘッドの抵抗値測定が可能なヘッドＩＣ
を含む磁気ディスク装置の概略回路構成を示す図。
【図１１】図１０中の抵抗測定回路１１１を利用した磁
気ヘッドの異常摩耗検出処理を説明するためのフローチ
ャート。
【符号の説明】
１１…磁気ディスク媒体 １３…磁気ヘッド １４…サスペンション １６…磁気ヘッドアセンブリ ２０，２０Ａ，２０Ｂ…電磁変換部 ２１…記録ヘッド ２２…再生ヘッド ２３…流出端 ２４…スライダ面 ２５，２５Ａ，２５Ｂ…磨耗検知パターン（摩耗検知手
段） ５１，１１０…ヘッドＩＣ ５３，１３０…コントロールドライバ（異常判断手段） ６２…空気流 ６３…流入端 ８０…保護膜 １１１…抵抗測定回路 １１２…シリアルポート ２１３…書き込みギャップ ２１６ａ，２１６ｂ…リードパターン（リード部） ２２１…ΜＲ素子 ５１３…ライトアンセーフ検出回路（書き込み異常検出
手段）

Claims (15)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 磁気ディスク媒体と接触するスライダ面
    を有し、記録ヘッドと再生ヘッドとが分離した複合型の
    接触記録用磁気ヘッドを備えた磁気ヘッドアセンブリに
    おいて、 前記記録ヘッドの一部をなし、前記磁気ヘッドの前記ス
    ライダ面側の摩耗を検知するための摩耗検知手段を備え
    たことを特徴とする磁気ヘッドアセンブリ。
  2. 【請求項２】 磁気ディスク媒体と接触するスライダ面
    を有し、記録用のコイルを含む記録ヘッドと再生ヘッド
    とが分離した複合型の接触記録用磁気ヘッドを備えた磁
    気ヘッドアセンブリにおいて、 前記記録ヘッドの前記コイルの一部をなし、前記磁気ヘ
    ッドの前記スライダ面側の摩耗を検知するための、前記
    スライダ面の近傍に配置された導体パターンからなる摩
    耗検知手段を備えたことを特徴とする磁気ヘッドアセン
    ブリ。
  3. 【請求項３】 磁気ディスク媒体と接触するスライダ面
    を有し、記録用のコイルを含む記録ヘッドと再生ヘッド
    とが分離した複合型の接触記録用磁気ヘッドを備えた磁
    気ヘッドアセンブリにおいて、 前記記録ヘッドの前記コイルのリード部の一部をなし、
    前記磁気ヘッドの前記スライダ面側の摩耗を検知するた
    めの、前記スライダ面の近傍に配置された導体パターン
    からなる摩耗検知手段を備えたことを特徴とする磁気ヘ
    ッドアセンブリ。
  4. 【請求項４】 磁気ディスク媒体と接触するスライダ面
    を有し、記録用のコイルを含む記録ヘッドと再生ヘッド
    とが分離した複合型の接触記録用磁気ヘッドを備えた磁
    気ヘッドアセンブリにおいて、 前記記録ヘッドの前記コイルの一部をなし、前記磁気ヘ
    ッドの前記スライダ面側の摩耗を検知するための摩耗検
    知手段であって、少なくともその一部が前記スライダ面
    に露出した導体パターンからなる摩耗検知手段と、 前記スライダ面を覆う絶縁性の保護膜とを備えたことを
    特徴とする磁気ヘッドアセンブリ。
  5. 【請求項５】 磁気ディスク媒体と接触するスライダ面
    を有し、記録用のコイルを含む記録ヘッドと再生ヘッド
    とが分離した複合型の接触記録用磁気ヘッドを備えた磁
    気ヘッドアセンブリにおいて、 前記記録ヘッドの前記コイルのリード部の一部をなし、
    前記磁気ヘッドの前記スライダ面側の摩耗を検知するた
    めの摩耗検知手段であって、少なくともその一部が前記
    スライダ面に露出した導体パターンからなる摩耗検知手
    段と、 前記スライダ面を覆う絶縁性の保護膜とを備えたことを
    特徴とする磁気ヘッドアセンブリ。
  6. 【請求項６】 前記記録ヘッドが前記再生ヘッドより前
    記磁気ヘッドの後端側に設けられていることを特徴とす
    る請求項１乃至請求項５のいずれかに記載の磁気ヘッド
    アセンブリ。
  7. 【請求項７】 請求項１乃至請求項６のいずれかに記載
    の磁気ヘッドアセンブリを少なくとも１つ備えたことを
    特徴とする磁気ディスク装置。
  8. 【請求項８】 請求項１乃至請求項６のいずれかに記載
    の磁気ヘッドアセンブリを少なくとも１つ備えた磁気デ
    ィスク装置であって、 書き込み時の前記記録ヘッドの電気的特性から前記記録
    ヘッドによる書き込みの異常を検出する書き込み異常検
    出手段と、 前記書き込み異常検出手段による書き込み異常検出に応
    じて前記磁気ヘッドの摩耗による装置異常を判断する異
    常判断手段とを具備することを特徴とする磁気ディスク
    装置。
  9. 【請求項９】 請求項１乃至請求項６のいずれかに記載
    の磁気ヘッドアセンブリを少なくとも１つ備え、ホスト
    装置から利用可能な磁気ディスク装置であって、 書き込み時の前記記録ヘッドの電気的特性から前記記録
    ヘッドによる書き込みの異常を検出する書き込み異常検
    出手段と、 前記書き込み異常検出手段による書き込み異常検出に応
    じて前記磁気ヘッドの摩耗による装置異常を判断し、そ
    の装置異常判断結果を前記ホスト装置に通知する異常判
    断手段とを具備することを特徴とする磁気ディスク装
    置。
  10. 【請求項１０】 前記磁気ディスク媒体の表面が導電性
    を有していることを特徴とする請求項８または請求項９
    記載の磁気ディスク装置。
  11. 【請求項１１】 前記書き込み異常検出手段は、前記磁
    気ヘッドにデータの書き込み／読み込み動作を行わせる
    ためのヘッドＩＣ（Integrated Circuit）に設けられて
    おり、前記記録ヘッドの電圧を測定し、その電圧測定結
    果をもとに書き込み異常を判断してライトアンセーフ信
    号を出力するライトアンセーフ回路から構成されること
    を特徴とする請求項１０記載の磁気ディスク装置。
  12. 【請求項１２】 請求項１乃至請求項６のいずれかに記
    載の磁気ヘッドアセンブリを少なくとも１つ備えた磁気
    ディスク装置であって、 前記記録ヘッドの抵抗値を測定する抵抗測定回路と、 前記抵抗測定回路の測定結果をもとに前記磁気ヘッドの
    摩耗の限界を判断する異常判断手段とを具備することを
    特徴とする磁気ディスク装置。
  13. 【請求項１３】 請求項１乃至請求項６のいずれかに記
    載の磁気ヘッドアセンブリを少なくとも１つ備え、ホス
    ト装置から利用可能な磁気ディスク装置であって、 前記記録ヘッドの抵抗値を測定する抵抗測定回路と、 前記抵抗測定回路の測定結果をもとに前記磁気ヘッドの
    摩耗の限界を判断し、その装置異常判断結果を前記ホス
    ト装置に通知する異常判断手段とを具備することを特徴
    とする磁気ディスク装置。
  14. 【請求項１４】 前記抵抗測定回路が、前記磁気ヘッド
    にデータの書き込み／読み込み動作を行わせるためのヘ
    ッドＩＣ（Integrated Circuit）に設けられていること
    を特徴とする請求項１２または請求項１３記載の磁気デ
    ィスク装置。
  15. 【請求項１５】 記録ヘッドと再生ヘッドとが分離した
    複合型の接触記録用磁気ヘッドを備えた磁気ヘッドアセ
    ンブリを動作させるためのヘッドＩＣ（Integrated Cir
    cuit）において、 前記記録ヘッドの抵抗値を測定する抵抗測定回路を備え
    たことを特徴とするヘッドＩＣ。
JP9018642A 1997-01-31 1997-01-31 磁気ヘッドアセンブリ及び同磁気ヘッドアセンブリを備えた磁気ディスク装置 Pending JPH10214408A (ja)

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