JP3300060B2 - 加速度センサー及びその製造方法 - Google Patents

加速度センサー及びその製造方法

Info

Publication number
JP3300060B2
JP3300060B2 JP28434192A JP28434192A JP3300060B2 JP 3300060 B2 JP3300060 B2 JP 3300060B2 JP 28434192 A JP28434192 A JP 28434192A JP 28434192 A JP28434192 A JP 28434192A JP 3300060 B2 JP3300060 B2 JP 3300060B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
glass substrate
weight
center
slit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP28434192A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH06132544A (ja
Inventor
正剛 赤池
隆行 八木
正弘 伏見
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP28434192A priority Critical patent/JP3300060B2/ja
Priority to DE69332164T priority patent/DE69332164T2/de
Priority to EP93117100A priority patent/EP0594182B1/en
Publication of JPH06132544A publication Critical patent/JPH06132544A/ja
Priority to US08/563,906 priority patent/US5673476A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3300060B2 publication Critical patent/JP3300060B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • G01P15/0802Details
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • G01P15/093Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values by photoelectric pick-up
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • G01P15/12Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values by alteration of electrical resistance
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/18Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration in two or more dimensions
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/20Deposition of semiconductor materials on a substrate, e.g. epitaxial growth solid phase epitaxy
    • H01L21/2003Deposition of semiconductor materials on a substrate, e.g. epitaxial growth solid phase epitaxy characterised by the substrate
    • H01L21/2007Bonding of semiconductor wafers to insulating substrates or to semiconducting substrates using an intermediate insulating layer
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • G01P2015/0805Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration
    • G01P2015/0808Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining in-plane movement of the mass, i.e. movement of the mass in the plane of the substrate
    • G01P2015/0811Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining in-plane movement of the mass, i.e. movement of the mass in the plane of the substrate for one single degree of freedom of movement of the mass
    • G01P2015/0814Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining in-plane movement of the mass, i.e. movement of the mass in the plane of the substrate for one single degree of freedom of movement of the mass for translational movement of the mass, e.g. shuttle type
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • G01P2015/0805Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration
    • G01P2015/0822Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining out-of-plane movement of the mass
    • G01P2015/084Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining out-of-plane movement of the mass the mass being suspended at more than one of its sides, e.g. membrane-type suspension, so as to permit multi-axis movement of the mass
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/49117Conductor or circuit manufacturing

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Pressure Sensors (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は光導電性薄膜から成る固
定センサーの電気抵抗変化から重りに加わる加速度を検
出する検出手段を有する加速度センサーに関する。ま
た、ガラス基板とシリコン基板との陽極接合に於いて、
接着するべき個所のガラスの厚さを、接着してはいけな
い個所に比較して薄くし、あるいは接着部分に対応する
部分のみに電極を作ることによって生ずる電界強度の
差、すなわち静電引力の差を利用して接着個所だけを接
着する方法を用いた加速度センサーの製造方法に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来、ガラス基板と、Si基板との接着
は、通常ジョージウォーリス等(George Wallis and
Daniel I.Pomerantz(Journal of Applied Physic
s,Vol 40,No.10,September,1969 :Received 2 J
anuary 1969)が開示しているように、ガラス基板をガラ
スの軟化点に近い約400℃に保持しながら、該ガラス基
板と該Si基板との間に約300Vの電圧を印加する構成に
よって行なわれていた。
【0003】しかしながら、上記従来例では同一のガラ
ス基板とSi基板との陽極接合に於いて、それぞれ接着
個所、及び非接着個所を意識的に選択しながら接着する
ことは困難であり、かつ次の様な欠点があった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】(1)接着しない様に予
め数μmの深さの凹状部を意識的に形成したSi基板あ
るいはガラス基板と、平面状のガラス基板あるいはSi
基板とのそれぞれの接着に於いて、これらの該ガラス基
板と該Si基板の接着面を互いに突き合せて陽極接合を
行った場合、該凹部の深さが単位長さに対して小さい
時、上記非接着個所となるべき該凹部で接着が余儀なく
生ずる。
【0005】(2)ガラス基板及びSi基板の表面は、微
視的に見た場合、うねりあるいは凹凸の存在のため、完
全に平滑でない。従って、接着してはいけない個所に予
め数μmの深さの凹状部を形成した場合に於いても、接
着は最初に、希望通りに該凹状部以外の個所で均一にか
つ同時に生ずるとは限らず、実際には該接着面同士の間
隙が最も狭くなる個所で生ずる。すなわち、接着しない
様に予め意識的に加工した該数μmの深さの凹状部で、
接着が余儀なく生ずる場合もある。
【0006】更に、非接着部として凹状部を意識的に形
成した場合に於いても、上記該うねりあるいは凹凸の存
在のために、まず、最初に該凹状部以外の個所で接着が
生ずるとは限らず、該凹状部に於いても該ガラス基板と
該Si基板との間の間隙が小さい個所では接着が始まる
場合もある。この様な場合、ガラス基板あるいはSi基
板のいずれか一方で、あるいは両方の基板で曲げモーメ
ントを生ずる。該曲げモーメントによって、該凹部の周
囲に位置している本来接着するべき表面での接着を妨
げ、結果として、接触してはならない個所で接着を生
じ、又接着するべき個所で接着を生じない現象が起き
る。
【0007】(3)平板状のガラス基板と平板状のSi基
板との間の接着の時、接着面間隔の小さい個所で接着が
生ずることから、もし接着が最初該接着基板面の外周部
で生じた場合、該基板面の中心部で生じないことが多
い。すなわち、接着ムラを生ずる。
【0008】一方、米国出願特許明細書第4,384,899号
には次のことが記載されている。容量型圧力センサーエ
リメントの製作に於いて、窪みを設けた領域、すなわち
メンブレンを形成した領域と該窪み領域の周囲を取り囲
んでいる平面とから成っている表面を有するSi基板の
該平面をガラス(Pyrexガラス;7740)基板に陽極接合す
る場合、まず接合に先だってSi基板上の該窪み領域に
相対向しているガラス基板表面上に予め導電膜を成膜
し、さらに該ガラス基板にスルーホールを形成し、その
後該ガラス基板表面上の該導電膜と電気的に連結する様
に該スルーホールの内面に導電膜を成膜する。そして、
上記の該Si基板に該ガラス基板を陽極接合する時、該
スルーホールの入口に設けた電極を用いて、ガラス基板
上の該導電膜と該Si基板とを同電位にすることによっ
て、Si基板上の該メンブレンを湾曲することなく接合
可能としている。
【0009】しかしながら、米国出願特許明細書第4,38
4,899号に記載のものでは次のような不都合が生ずる。
【0010】ガラス基板にスルーホールを形成し、かつ
スルーホール内に導電膜を形成しなければならないの
で、微小なエリメントを製作することは困難である。
【0011】又、米国出願特許明細書第4,875,134号に
は、次のことが記載されている。
【0012】容量型圧力センサーの製作に於いて、凹状
のメンブレンを形成している領域と該凹状メンブレンの
周囲を取り囲んでいる平面とから成っている表面を有す
るSi基板の該平面をガラス基板に陽極接合する場合、
まず接合に先だって、接合面に対して反対側のガラス基
板表面上に該メンブレンに相対向している領域と該平面
に相対向している領域の2つに接合面に直角なガラス壁
で分割し、さらに該ガラス壁で分割したガラス基板上の
2つの凹部内に該ガラス壁の高さまでSiを埋め込む。
【0013】そして、Si基板の該平面にガラス基板を
陽極接合する時、Si基板とSi基板該平面に相対向して
いる領域のガラス基板上の上記該ガラス壁で分割した埋
め込みSi層との間に電圧を印加することによって接合
している。
【0014】しかしながら、米国出願特許明細書第4,87
5,134号に記載したのものでは次のような不都合が生ず
る。
【0015】ガラス基板上に、ガラス壁から成る凹状部
を形成し、さらに該凹状部内に該ガラス壁の高さまでS
i層を形成することは幾つかのプロセスを必要とし、か
つ該メンブレンの面積を微小化して行った場合、製作上
困難となる。
【0016】本発明はこれらの課題点を解決した選択陽
極接合法を用いた加速度センサーの製造方法、並びにそ
の方法により製造可能な加速度センサーを提案すること
を目的とする。
【0017】
【課題を解決するための手段】本発明の加速度センサー
の製造における基板接合に用いられる陽極接合法には、
次のようなものが挙げられる。
【0018】まず、第1および第2の接合法は、ガラス
基板とシリコン基板との陽極接合に於いて、予め接着す
るべき個所のガラスの厚さを、接着しない個所に比較し
て薄く加工することによって、該接着物間に電圧を印加
した時、すなわち陽極接合の時、接着するべき個所に電
界強度を大きく作用させるものである。該接着物間の静
電引力は、上記電界強度の増加に従って大きくなること
から、接着面間の電界強度の違いは、同時に接着面間に
作用する静電引力の大きさの違いとなる。そこで、ガラ
ス基板とシリコン基板との陽極接合の場合、接着するべ
き個所のガラス面を出来るだけ薄くなる様に、該ガラス
面の背面を凹状に加工することによって、結果として該
凹状個所での静電引力を他の平面個所に比較して増加さ
せることが出来、これにより被接着基板面に於いて、該
凹状個所のみを選択的に接着させるものである。
【0019】更に、第3の接合法は、Si基板とガラス
基板との陽極接合に於いて、新たなアース電極を非接着
個所にするべきガラス基板上に設けることにより、局所
的な非接着個所を意識的に選択しながら接着する事を可
能にするものである。すなわち、Si基板とガラス基板
との陽極接合に於いて、非接着部にするべき個所のガラ
ス側基板の面上に新たに設けた電極とSi基板との間を
同電位にし、あるいは接着するべき個所のガラス側基板
とSi基板との間に、該Si基板を陽極とした電圧を印加
する事によって、それぞれ非接着個所あるいは接着個所
を同一基板上に同時に形成する事が可能となる。
【0020】即ち、第1の接合法は、接合するべき領域
と非接合にするべき領域とを有するガラス基板とシリコ
基板とを接合する選択陽極接合法において、まず前記
ガラス基板の接合面の反対面に接合領域に対応する凹部
を形成することにより接合領域の前記ガラス基板の厚さ
を非接合領域よりも薄く形成すると共に反対面全面に電
極を形成し、次いで前記両基板を重ねて所定温度に加熱
すると共に前記形成した電極とシリコン基板との間に同
一電圧を印加することにより、両基板間の接合するべき
領域を選択的に接合させるもので、凹部の深さが漸次変
化することを含む。
【0021】また第2の接合法は、ガラス基板とシリコ
ン基板とを接合する陽極接合法において、まず前記ガラ
ス基板の接合面と反対面に反対面上の少なくとも一方向
に沿って中心方向に漸深の凹部を形成すると共に凹部を
形成した反対面に電極を形成し、次いで前記両基板を重
ねて所定温度に加熱すると共に前記形成した電極とシリ
コン基板との間に同一電圧を印加し、その後印加してい
る電圧を増加するものである。
【0022】更に、第3の接合法は、接合するべき領域
と非接合にするべき領域とを有するガラス基板とシリコ
基板とを接合する選択陽極接合法において、まず前記
ガラス基板の非接合とするべき領域又は非接合とするべ
き領域に対応する反対面に電極を形成し、次いで両基板
を重ねて所定温度に加熱すると共に前記電極とシリコン
基板とを同電位に保持しながらガラス基板とシリコン
板との間に電圧を印加することにより、両基板間の接合
すべき領域を選択的に接合させるもので、電極が蒸着
膜、箔膜、又は平板で形成された導電体であること、電
極の材料がAl,Au,Mo,W,Cr,Si,又はITOである
こと、電極が非接合領域のガラス基板の全面に電気的に
連結された、又は非接合領域のガラス基板の外周で電気
的に連結されたものであることを含む。
【0023】すなわち、本発明は、上面に照射光量の変
化を検出して出力する変位検出固定センサーを配設した
第1ガラス基板と、前記第1ガラス基板上に積重したシ
リコン基板であって前記基板には貫通孔を形成すると共
に、前記貫通孔内に揺動自在に第1スリットを有する重
り部を板バネ部を介して一体に形成してなるシリコン基
板と、シリコン基板上に積重してなり第2スリットを有
する第2ガラス基板とからなり、かつ固定センサーと第
1スリットと第2スリットとを直線状に配設してなる加
速度センサーである。
【0024】更に、本発明は、重りと、該重りの重心あ
るいは該重心の近傍を通る該重り面の法線上に、該法線
に対して直角にそれぞれ短軸及び長軸を有するスリット
を、該重りの重心あるいは該重心の近傍点を点対称とし
た該重りの外周端の2ケ所にそれぞれ該重りを支える板
バネの一端を、そして該重りの重心あるいは該重心の近
傍点を中心に該板バネの一端から角度 225度の位置のS
i基板上に該板バネの他端を有する、すなわち前記2枚
の板状バネで該重りを支える可動要素をそれぞれSi基
板上に一体で形成し、さらに一方のガラス基板の片面あ
るいは両面に遮光薄膜を成膜後上記該スリットを通過す
る光軸線上の該遮光薄膜面内にスリットを、他方のガラ
ス基板の片面に遮光薄膜を、他の片面に上記該重りに形
成した該スリットからの入射光に対して光導電性を示す
薄膜すなわち加速度によって生ずる上記Si基板上に形
成した該スリットの変位に対応して電気抵抗変化を生ず
る形状に該光導電性薄膜からなる固定センサーをそれぞ
れ形成し、これら該Si基板を挟む様に上記2枚の該ガ
ラス基板を互いに相対向した状態に、前記第1〜第3の
陽極接合法を用いて接着することによって、該光導電性
薄膜から成る固定センサーの電気抵抗変化から前記重り
に加わる加速度を検出する検出手段とを有することを特
徴とする加速度センサーである。
【0025】また、本発明は、前記記載の加速度センサ
ーの製造方法であって、上面に照射光量の変化を検出し
て出力する変位検出固定センサーを配設した第1ガラス
基板と、貫通孔内に摺動自在に第1スリットを有する重
り部を板バネ部を介して一体に成形してなるシリコン基
板と、第2スリットを有する第2ガラス基板とを、この
順に積層接合して、前記変位検出固定センサー、前記第
1スリット及び前記第2スリットとが直線状に配設さ
れ、かつ前記重り部が前記貫通孔内で面方向に摺動自在
である構造を得る工程を有し、前記第1ガラス基板と前
記シリコン基板との接合及び前記第2ガラス基板と前記
シリコン基板との接合の少なくとも一方の接合に前記記
載の第1〜第3の接合方法から選択された少なくとも1
つの方法を用いることを特徴とする加速度センサーの製
造方法に関する。
【0026】また、本発明は、前記重りに設けられたス
リットが、該重りの重心あるいは該重心の近傍点を通る
該重りの前記第2ガラス面側の面の法線に対して直角な
方向に伸びる長軸及び短軸を有し、かつ、該重りが第1
及び第2の板バネによって前記貫通孔の内壁と一体にな
るように成形されており、該第1の板バネは、前記重り
の重心または重心近傍点を通り、前記スリットの長軸と
垂直な方向に伸びる線と該重りの側面とが接する2つの
位置の一方から該重りの側面に沿って該重心または該重
心の近傍点を中心とて225度の位置まで伸びて前記貫通
孔の内壁に接合しており、該第2の板バネは、前記重り
の重心または重心近傍点を通り、前記スリットの長軸と
垂直な方向に伸びる線と該重りの側面とが接する2つの
位置の他方から前記第1の板バネと逆方向に該重りの側
面に沿って該重心または該重心の近傍点を中心とて225
度の位置まで伸びて前記貫通孔の内壁に接合しており、
これら第1及び第2の板バネの前記第2ガラス面側の面
における平面形状が、前記重心または前記重心近傍点を
中心とする点対称形状をなす、 前記記載の加速度センサ
ーの製造方法に関する。
【0027】
【発明の実施の形態】
【0028】
【実施例】以下、本発明の実施例につき、図面を参照し
て説明する。
【0029】(実施例1) 図1〜5は第1の本発明の実施例を示す。
【0030】これらの図に於いて、1はSi基板、2は
Si基板1に加工した振り子、3はSi基板1に加工して
形成した振り子2の円弧運動中心となる軸梁(縦 10μ
m,横 15μmの直方体状梁)、4はSi基板1に加工した
空隙、5はガラス基板、6はガラス基板5の非接着にす
るべき個所に加工した深さ3μmの凹状の溝、7は6と
同様に非接着にするべき個所のガラス基板5に加工した
深さ3μmの凹状の溝、8は接着するべき個所のガラス
基板5に加工した溝(接着面までの厚さは 0.2mm)、10
は陽極接合時に電界を印加するため接着面に対して反
対側のガラス5の表面に成膜した導電膜から成る電極、
11 は針電極、12 は直流電源、13 はヒーター付プラテ
ンである。
【0031】つぎに、上記構成に於いてSi基板1とガ
ラス基板5との接着をする前に、接着するべき個所と接
着してはいけない個所との整合を、Si基板1とガラス
基板5との間で行なう。すなわちSi基板1に加工した
可動要素となる振り子2がガラス基板5に加工した溝6
に相対向する様に、それぞれSi基板1及びガラス基板
5を突き合せる。次いで、プラテン 13 によって被接着
物を 400℃に加熱保持した状態で、針電極 11 を薄膜電
極 10 に電気的に連結し、直流電源 12 によってSi基
板1及びガラス基板5がそれぞれ陽極及び陰極になる様
に電圧を印加する。
【0032】この操作によって、接着するべき個所、す
なわち溝8のガラス表面と接着するべきSi基板表面間
の電界強度は、非接着とするべき個所と比較して大きく
なる。従って、ガラス基板とSi基板1との間で陽極接
合を行なう場合、直流電源 12によって電圧を次第に増
加して行くと、接着は最も大きな電界強度を生ずる溝8
の個所で生ずる。そして、上記の様な操作によって接着
するべき個所で接着が生じた時点で、ガラス基板5とS
i基板1との間に印加している電圧を一定に保持した場
合、溝6及び溝7での接着(Si基板1とガラス基板5と
の間の接着)を防止できる。すなわち、上記の電界差を
利用することによって、選択した個所のみを陽極接合す
る事が可能となる。
【0033】なお、上記実施例においては被接着物を 4
00℃に加熱したがこれに限られない。
【0034】(実施例2) 図6,7は第2の本発明の実施例を示すものである。こ
れらの図に於いて1はSi基板、5はガラス基板、9は
ガラス基板5の中心近傍で最も薄く、外周で厚くなる凹
状溝、10 はガラス基板5上の溝9の表面に成膜したAl
薄膜電極、11はAl薄膜電極 10 に電気的に連結してい
る針電極、12 はガラス基板5とSi基板1との間に電圧
を印加するための直流電源、13 はヒーター付プラテン
である。
【0035】つぎに上記構成に於いて、Si基板1とガ
ラス基板5とを接着をするに際しては、まずSi基板1
と溝9に対して反対側のガラス基板5との表面同士を互
いに突き合せる。次いで、ヒーター付プラテン 13 によ
って該被接着物を 400℃に加熱及び保持しながら、直流
電源 12 によってSi基板1及びガラス基板5がそれぞ
れ陽極及び陰極になる様に電圧を印加し、そして直流電
源 12 を操作して、該電圧を次第に増加して行く。従っ
て、ガラス基板5とSi基板1の接着面との間に生ずる
電界強度は、該溝9の中心近傍で最も大きくなる。
【0036】電界強度の増加に従って静電引力は増加す
るため、該静電引力によって、接着は最初に、該溝9の
中心近傍で生ずる。そして、該印加電圧を次第に増加し
て行くに従って、該接着は該接着基板の中心部から外周
部へと進行して行く。この上記接着方法によって、すな
わち接着は該接着物の中心部でまず生じ、次第に外周方
向に向かって生ずることから、該中心部分での接着漏れ
を防止することが可能となり、結果として、全面に渡っ
て一様な接着を容易な操作で行なうことが出来る。
【0037】(実施例3) 図8〜10 は本発明の第3の発明の実施例を示すもので
ある。
【0038】図8は本発明の特徴を最も良く表わす図面
であり、図9及び図10 は図8に於けるそれぞれA矢視
図及びB矢視図である。上記のこれらの図に於いて、21
は接着用Si基板、22 はSi基板 21 に加工した円弧運
動する振り子、23 は振り子22 の軸梁、24 は空隙、25
はガラス(パイレックス#7740)基板、26 はガラス基板 2
5 に加工した深さ3μmの凹状の溝、27 はSi基板 21
とガラス基板 25 を陽極接合する場合の非接着個所であ
るところの溝 26 の直上のガラス基板 25 の表面に電気
的に連結しており、溝 26 の大きさと同等な、かつ同様
な形状を有するアース電極である。28 はヒーター付プ
ラテン、29 は陽極接合用直流電源、30はガラス基板 25
の表面に接触し、電気的に連結している針電極、31 は
アース電極 27 に接触し、電気的に連結している針電極
である。
【0039】つぎに上記構成に於いて、両基板 22,25
の接合を説明する。まず、プラテン28 によりSi基板 2
1 及びガラス基板 25 を 400℃に加熱後、針状電極 30
を介して電源 29 によってSi基板 21 とガラス基板 25
との間に電圧を印加する。一方、同時に針状電極 31
を介してアース電極 27 をSi基板 21 と同電位になる
様にする。すなわち本実施例の場合、アースに接続す
る。この状態で直流電源 29 を 200Vで 10分間保持し
たところ、接着してはならない個所、すなわち溝 26 の
個所以外の全ての個所で希望通りに接着した。
【0040】本陽極接合過程に於いて、振り子 22 とガ
ラスの溝 26 との間での接着は生じなく、かつ可動要素
とするべき軸梁 23 の破損もなく、期待通りの接着が可
能であった。すなわち、アース電極 27 によって、ガラ
ス溝 26 と振り子 22 との間に静電引力が作用しない効
果が認められた。本方法によって、軸梁 23 の径が極め
て微小(縦 10μm、横 15μm)な振り子 22 を有するS
i基板 21 とガラス基板 25 との間の接着を、各要素を
破壊することなくできた。尚、アース電極 27は、薄板
ガラス板にアルミホイールを巻いたものを使用したが、
必ずしもアルミホールである必要はなく、上記のアース
電極としての作用をする導電膜(例えば、Al,Au,Mo,
W,Cr,Si薄膜、ITO透明膜)であっても良い。更
に、形成方法として蒸着法等も用いられる。
【0041】(実施例4) 図11,12 は第3の本発明の他の実施例を示すものであ
る。図11 は本発明の特徴を最も良く表わす図面であ
り、図12 は図11 のC矢視図である。上記のこれらの図
に於いて、21 はSi基板、25 は深さ3μmの溝 26 を
有するガラス基板、27 はアース電極で、Si基板 21 と
ガラス基板 25 を陽極接合する場合の非接着個所である
ところの溝 26 の直上のガラス基板 25 の表面に電気的
に連結し、溝26 の大きさと同等な、かつ同様な形状を
有する。28 はヒーター付プラテン、29 は陽極接合用直
流電源、30 はガラス基板 25 の表面に接触し、電気的
に連結している針電極、31,32,33 はそれぞれアース
電極 27 に接触し、電気的に連結している針電極であ
る。
【0042】つぎに、上記構成に於いて、プラテン 28
によりSi基板 21 及びガラス基板25 を 400℃に加熱
し、保持しながら電源 29 によってSi基板 21 とガラ
ス基板25 の表面との間に針状電極 30 を介して電圧を
印加する。一方、同時に針状電極 31 を介してアース電
極 27 をSi基板 21 と同電位にする。すなわち、本実
施例の場合、アースに接続する。この状態で直流電源 2
9 を 200Vに 10分間保持したところ、接着してはなら
ない個所、すなわち溝 26 の個所以外の全ての平面で基
板 21,25 は接着した。
【0043】これに対し、アース電極 27 及び針電極 3
1,32,33 を取り外した以外は上記と同様に操作した場
合、該Si基板と該ガラス基板との陽極接合に於いて、
接着してはならない溝6で接着が余儀なく生じた。すな
わち、非接着にするべき個所で接着を生じた事になる。
このため、ガラス基板 25 は波状に反り返り、結果とし
て接着するべき個所で接着出来ない現象も同時に生じ
た。
【0044】従って該アース電極の使用により、接着し
てはならない個所と接着するべき個所とを事前に選択す
る、すなわち選択的な接着が可能であった。
【0045】(実施例5) 図13〜17 は第4の本発明の実施例を示すもので、図13
は本発明の特徴を最も良く表わす図面であり、図14 は
図13 のD矢視図であり、図15 は図13 のF矢視図であ
り、図16 は図13 のE矢視図であり図17 は信号のピッ
ク・アップを表わす図である。上記のこれらの図に於い
て 101 はSi基板、102 はSi基板 101 に形成した重り
部、103 は重り部 102 の梁を形成する板バネ部、104
は重り部 102 及び板バネ部 103 を形成した時に生ずる
空隙である。105 及び 106 は第1及び第2ガラス基板
(パイレックス#7740)である。
【0046】107 はアース電極で、Si基板 101 とガラ
ス基板 106 とをそれぞれ陽極接合する(Si基板 101 と
第1ガラス基板 105 を接合、その後第2ガラス基板 10
6とSi基板 101 を接合する)時、非接着個所であるとこ
ろの溝 115 の直上の第2ガラス基板 106 の表面に電気
的に連結しており、溝 115 の大きさと同等な、かつ同
様な形状を有する。110 は第2ガラス基板 106 の表面
に接触し、電気的に連結している針電極、111 はアース
電極 107 に接触し、電気的に連結している針電極、114
は第2ガラス基板 106 の下面に成膜した遮光用金属薄
膜(蒸着Al膜)、115 は溝で、Si基板 101 とガラス基
板 105,106 とを接着する場合、接着してはいけない部
分であるところの可動部、すなわち重り部 102 と梁で
あるバネ板 103 がガラス基板に接着しない様に、Si基
板 101 に設けたものである。溝 116 は重り部 102 の
中央部に設けた深溝である。
【0047】117 は第2ガラス板 106 の上面にある細
長い光導入用の第2スリットで、遮光用金属薄膜 114
に対して反対側の表面上のアース電極 107 の中央部に
形成してある。118 は遮光用金属薄膜 114 の中央部に
形成した小さな細長い形状の光導入用スリットである。
119 は重り部 102 の中央部に形成した小さな細長い形
状の光導入用第1スリットであり、尚重り部 102 が静
止状態の時、上記の 117,118,119 の各スリットは入
射光の光軸が一致する位置にある。
【0048】図15 において、120,121,122,123 はい
ずれも光導電薄膜(CdS)である。124,125,126,12
7,128,129,130,131 は導電体から成る電極である。
また、図17 中 132 は交流電源であり、133 は各光電変
換薄膜 120,121,122,123 によってブリッジ回路を組
んだ場合の出力を検出する電圧計である。なお、図15,
16 中a〜hは各光電変換膜 120〜123 の端子である。
【0049】次に、上記構成に於いて、図13 に見る様
な紙面に平行な加速度αxが生じた時、重り部 102 は次
の様な力Fを受ける。すなわち、 F=mα ────(1) ここで、F:重り部 102 が受ける力、m:重り部 102 の
質量、α:重り部 102が受ける加速度、重り部が受ける
力Fは、重り部が受ける加速度αの方向に対して反対方
向に作用する。そこで、今図14 に見る様に加速度αx
よって重り部 102 に生じた力Fxにより、重り部 102
の変位ξxは力Fxの方向に生じ次の様になる。すなわ
ち、 Fx=kxξx────(2)
【0050】ここで、kx :図14 に於いてX軸方向の変
位によって生ずるバネ板 103 のバネ定数。従って、図1
6 に見る様に重り部 102 に形成したスリット 119 がX
軸方向にξxだけ変位することによって、それぞれ光導
電薄膜 120,122 の電気抵抗は大きく、光導電薄膜 12
1,123 の電気抵抗は小さくなるため、図17 に於ける光
導電薄膜 121,122,123,124 によって構成したブリッ
ジ回路の出力電圧は、加速度αxの増加と共に大きくな
る。すなわち、 Vx ∝ αx─────(3) ここで、Vx:加速度αxによって生じた出力電圧。
【0051】今、上記の加速度センサーを2個用いる事
によって、すなわちX方向の加速度αx及びY方向の加
速度αyを同時に検出することによって、X-Y平面内の
加速度αxyを求める事ができる。すなわち、 αxy=(αx 2+αy 2)1/2─────(4) 本実施例に於いて、厚さ 0.53mmのSi基板に6mm×
6mm×0.5mm寸法の重り部及び断面形状が 0.1mm
×0.5mmのバネ板を形成した場合、X軸方向の加速度
αx=10Gの時、約200mVの出力電圧の変化を得た。
【0052】なお、上記実施例において光量変化の検出
に上記構成のセンサーを用いたがこれに限られず各種の
光センサーを使用することができ、更に、電圧の検出も
上記回路に限られるものではない。
【0053】
【発明の効果】以上説明した様に、本発明で用いられる
第1の接合法には、ガラス基板と導電体との陽極接合に
於いて、ガラス基板の厚さを接着個所で薄く、あるいは
接着してはいけない個所で厚く加工することにより、同
一電圧を印加した時被接着物間に働く静電引力をそれぞ
れ大きく、あるいは小さく作用させることができ、この
ため選択した個所のみを接着できる効果がある。
【0054】さらに、第2の接合法においては、ガラス
基板と導電体との間で陽極接合する場合、ガラス基板の
厚さを接着面の中心近傍で薄くなる様に、あるいは外周
部で厚くなる様に加工することにより、(すなわち、ガ
ラス基板を凹状に加工することによって)印加電圧を次
第に増加して行った場合、被接着物間に働く静電引力が
該接着基板の中心近傍で最も大きく、そして半径方向で
ある外周部に進むに従って次第に小さくなる様に作用さ
せることが可能となり、該接着が中心から外周部に向か
って次第に連続的に生ずるので接着ムラを防止する効果
がある。
【0055】また、第3の接合法は、(1)ガラス基板と
Si基板との陽極接合に於いて、非接着とするべき個所
のガラス基板表面上に電極を形成し、該電極とSi基板
との間の電位を零に保持しながら陽極接合することによ
って、非接着個所及び接着個所を意識的に選択すること
を可能にする効果がある。
【0056】(2)意識的に凹形状の溝を有したガラス基
板とSi基板との陽極接合に於いて、凹形状溝部を非接
着個所、及び他の平面個所を接着個所とする場合、非接
着個所のガラス基板表面上に、ガラス基板とSi基板間
を同電位にするような電極あるいは電極膜を構成するこ
とによって、陽極接合後、被接着部材の曲げモーメント
による歪、あるいは引張りによる要素の破壊等を防止で
きる効果がある。
【0057】更に、本発明の加速センサーにおいては、
微細に構成したので、微小な加速度を検出できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明で用いられる第1の接合法を実施して基
板を接合している状態を示す説明図である。
【図2】図1中の矢印A方向断面平面図である。
【図3】図1中の矢印B方向断面平面図である。
【図4】図1中の矢印C方向断面平面図である。
【図5】図1の第2基板を除去した状態を示す斜視図で
ある。
【図6】本発明で用いられる第2の接合法を実施してい
る状態を示す説明図である。
【図7】図6中の矢印E方向断面平面図である。
【図8】本発明で用いられる第3の接合法を実施して基
板を接合している状態を示す説明図である。
【図9】図8中の矢印A方向断面平面図である。
【図10】図8中の矢印B方向断面平面図である。
【図11】本発明で用いられる第3の接合法の他の実施
状態を示す説明図である。
【図12】図11 中の矢印C方向断面平面図である。
【図13】本発明の一実施例を示す断面側面図である。
【図14】図13 中の矢印D方向断面平面図である。
【図15】図13 中の矢印F方向部分断面平面図であ
る。
【図16】図13 中の矢印E方向部分断面平面図であ
る。
【図17】図13 中のセンサ部の出力回路の一例を示す
配線図である。
【符号の説明】
1 Si基板 2 振り子 3 軸梁 4 空隙 5 ガラス基板 6 溝 7 溝 8 溝 9 溝 10 電極 11 針電極 12 直流電源 13 ヒーター付プラテン 21 Si基板 22 振り子 23 軸梁 24 空隙 25 ガラス基板 26 溝 27 アース電極 28 ヒーター付プラテン 29 直流電源 30,31,32,33 針電極 101 Si基板 102 重り部 103 バネ板部 104 空隙 105 第1ガラス基板 106 第2ガラス基板 107 アース電極 108 ヒーター付プラテン 110 針電極 111 針電極 117 第2スリット 119 第1スリット
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平5−201752(JP,A) 欧州特許出願公開500234(EP,A 2) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 29/84 G01P 15/08

Claims (9)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 上面に照射光量の変化を検出して出力す
    る変位検出固定センサーを配設した第1ガラス基板と、
    前記第1ガラス基板上に積重したシリコン基板であって
    前記基板には貫通孔を形成すると共に、前記貫通孔内に
    揺動自在に第1スリットを有する重り部を板バネ部を介
    して一体に形成してなるシリコン基板と、シリコン基板
    上に積重してなり第2スリットを有する第2ガラス基板
    とからなり、かつ固定センサーと第1スリットと第2ス
    リットとを直線状に配設してなる加速度センサー。
  2. 【請求項2】 前記重りに設けられたスリットが、該重
    りの重心あるいは該重心の近傍点を通る該重りの前記第
    2ガラス面側の面の法線に対して直角な方向に伸びる長
    軸及び短軸を有し、 かつ、該重りが第1及び第2の板バネによって前記貫通
    孔の内壁と一体に成形されており、 該第1の板バネは、前記重りの重心または重心近傍点を
    通り、前記スリットの長軸と垂直な方向に伸びる線と該
    重りの側面とが接する2つの位置の一方から該重りの側
    面に沿って該重心または該重心の近傍点を中心として2
    25度の位置まで伸びて前記貫通孔の内壁に接合してお
    り、該第2の板バネは、前記重りの重心または重心近傍
    点を通り、前記スリットの長軸と垂直な方向に伸びる線
    と該重りの側面とが接する2つの位置の他方から前記第
    1の板バネと逆方向に該重りの側面に沿って該重心また
    は該重心の近傍点を中心とて225度の位置まで伸びて
    前記貫通孔の内壁に接合しており、これら第1及び第2
    の板バネの前記第2ガラス面側の面における平面形状
    が、前記重心または前記重心近傍点を中心とする点対称
    形状をなす請求項1に記載の加速度センサー。
  3. 【請求項3】 請求項1に記載の加速度センサーの製造
    方法であって、 上面に照射光量の変化を検出して出力する変位検出固定
    センサーを配設した第1ガラス基板と、貫通孔内に摺動
    自在に第1スリットを有する重り部を板バネ部 を介して
    一体に成形してなるシリコン基板と、第2スリットを有
    する第2ガラス基板とを、この順に積層接合して、前記
    変位検出固定センサー、前記第1スリット及び前記第2
    スリットとが直線状に配設され、かつ前記重り部が前記
    貫通孔内で面方向に摺動自在である構造を得る工程を有
    し、 前記第1ガラス基板と前記シリコン基板との接合及び前
    記第2ガラス基板と前記シリコン基板との接合の少なく
    とも一方の接合に以下の接合方法(a)、(b)及び(c): (a)接合するべき領域と非接合にするべき領域とを有す
    るガラス基板とシリコン基板とを接合する選択陽極接合
    法において、まず前記ガラス基板の接合面の反対面に接
    合領域に対応する凹部を形成することにより接合領域の
    前記ガラス基板の厚さを非接合領域よりも薄く形成する
    と共に反対面全面に電極を形成し、次いで前記両基板を
    重ねて所定温度に加熱すると共に前記形成した電極と導
    電体基板又は半導体基板との間に同一電圧を印加するこ
    とにより、両基板間の接合するべき領域を選択的に接合
    させることを特徴とする選択陽極接合法 (b)ガラス基板とシリコン基板とを接合する陽極接合法
    において、まず前記ガラス基板の接合する面と反対面に
    反対面上の少なくとも一方向に沿って中心方向に漸深の
    凹部を形成すると共に凹部を形成した反対面に電極を形
    成し、次いで前記両基板を重ねて所定温度に加熱すると
    共に前記形成した電極とシリコン基板との間に同一電圧
    を印加し、その後印加している電圧を増加させることを
    特徴とする陽極接合法 (c)接合するべき領域と非接合にするべき領域とを有す
    るガラス基板とシリコン基板とを接合する選択陽極接合
    法において、まず前記ガラス基板の非接合とするべき領
    域又は非接合とするべき領域に対応する反対面に電極を
    形成し、次いで両基板を重ねて所定温度に加熱すると共
    に前記電極と導電体基板又は半導体基板とを同電位に保
    持しながらガラス基板とシリコン基板との間に電圧を印
    加することにより、両基板間の接合すべき領域を選択的
    に接合させることを特徴とする選択陽極接合法から選択
    された少なくとも1つの方法を用いることを特徴とする
    加速度センサーの製造方法。
  4. 【請求項4】 前記接合方法が(a)であり、かつ、前記
    凹部の深さが漸次変化する請求項3に記載の加速度セン
    サーの製造方法。
  5. 【請求項5】 前記電極が蒸着膜、箔膜、又は平板で形
    成された導電体である請求項3または4に記載に記載の
    加速度センサーの製造方法。
  6. 【請求項6】 前記電極の材料がAl,Au,Mo,W,Cr,
    Si、又はITOである請求項5に記載の加速度センサ
    ーの製造方法。
  7. 【請求項7】 電極が非接合領域のガラス基板の全面に
    電気的に連結された、又は非接合領域のガラス基板の外
    周で電気的に連結された請求項5または6に記載の加速
    度センサーの製造方法。
  8. 【請求項8】 前記接合方法が(c)であり、 前記第1ガラス基板と前記シリコン基板と前記第2ガラ
    ス基板とを、それぞれ前記変位検出固定センサーと前記
    第1スリットと前記第2スリットとが直線状に配設され
    るように積重させ、電圧を印加して前記第1ガラス基板
    と前記シリコン基板と前記第2ガラス基板の、前記変位
    検出固定センサーと前記第1スリットと前記第2スリッ
    トとが存在する以外の部分を選択的に接着する工程と、 を有することを特徴とする請求項5〜7のいずれかに記
    載の加速度センサーの製造方法。
  9. 【請求項9】 前記重りに設けられたスリットが、該重
    りの重心あるいは該重心の近傍点を通る該重りの前記第
    2ガラス面側の面の法線に対して直角な方向に伸びる長
    軸及び短軸を有し、 かつ、該重りが第1及び第2の板バネによって前記貫通
    孔の内壁と一体になるように成形されており、 該第1の板バネは、前記重りの重心または重心近傍点を
    通り、前記スリットの長軸と垂直な方向に伸びる線と該
    重りの側面とが接する2つの位置の一方から該重りの側
    面に沿って該重心または該重心の近傍点を中心とて22
    5度の位置まで伸びて前記貫通孔の内壁に接合してお
    り、該第2の板バネは、前記重りの重心または重心近傍
    点を通り、前記スリットの長軸と垂直な方向に伸びる線
    と該重りの側面とが接する2つの位置の他方から前記第
    1の板バネと逆方向に該重りの側面に沿って該重心また
    は該重心の近傍点を中心とて225度の位置まで伸びて
    前記 貫通孔の内壁に接合しており、これら第1及び第2
    の板バネの前記第2ガラス面側の面における平面形状
    が、前記重心または前記重心近傍点を中心とする点対称
    形状をなす、 請求項3〜8に記載の加速度センサーの製造方法。
JP28434192A 1992-10-22 1992-10-22 加速度センサー及びその製造方法 Expired - Fee Related JP3300060B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28434192A JP3300060B2 (ja) 1992-10-22 1992-10-22 加速度センサー及びその製造方法
DE69332164T DE69332164T2 (de) 1992-10-22 1993-10-21 Anodische Verbindungsverfahren
EP93117100A EP0594182B1 (en) 1992-10-22 1993-10-21 Anode bonding methods
US08/563,906 US5673476A (en) 1992-10-22 1995-11-22 Anode bonding method for selected regions

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28434192A JP3300060B2 (ja) 1992-10-22 1992-10-22 加速度センサー及びその製造方法

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002040310A Division JP3782739B2 (ja) 2002-02-18 2002-02-18 選択陽極接合法および全面陽極接合法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH06132544A JPH06132544A (ja) 1994-05-13
JP3300060B2 true JP3300060B2 (ja) 2002-07-08

Family

ID=17677325

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP28434192A Expired - Fee Related JP3300060B2 (ja) 1992-10-22 1992-10-22 加速度センサー及びその製造方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5673476A (ja)
EP (1) EP0594182B1 (ja)
JP (1) JP3300060B2 (ja)
DE (1) DE69332164T2 (ja)

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4426288C2 (de) * 1994-07-26 2003-05-28 Suss Microtec Test Sys Gmbh Elektrode zum anodischen Bonden
DE19616970B4 (de) * 1996-04-27 2012-04-12 Robert Bosch Gmbh Verfahren zur Herstellung von mikromechanische Strukturen aufweisenden Halbleiterbauelementen
US5936294A (en) * 1996-05-28 1999-08-10 Motorola, Inc. Optical semiconductor component and method of fabrication
IL122947A (en) * 1998-01-15 2001-03-19 Armament Dev Authority State O Micro-electro-opto-mechanical inertial sensor with integrative optical sensing
DE19810756A1 (de) * 1998-03-12 1999-09-23 Fraunhofer Ges Forschung Sensoranordnung zur Messung von Druck, Kraft oder Meßgrößen, die sich auf Druck oder Kraft zurückführen lassen, Verfahren zur Herstellung der Sensoranordnung, Sensorelement und Verfahren zur Herstellung des Sensorelements
US6506087B1 (en) 1998-05-01 2003-01-14 Canon Kabushiki Kaisha Method and manufacturing an image forming apparatus having improved spacers
JP2000035396A (ja) 1998-07-16 2000-02-02 Canon Inc 微小突起を有するプローブ、及びその製造方法
JP3489551B2 (ja) * 2000-09-08 2004-01-19 株式会社村田製作所 真空容器の製造方法
FR2822817B1 (fr) * 2001-03-28 2003-05-30 Commissariat Energie Atomique Procede de fabrication d'une structure a membrane micro-usinee
JP2004301554A (ja) * 2003-03-28 2004-10-28 Canon Inc 電位測定装置及び画像形成装置
KR100490756B1 (ko) * 2003-06-10 2005-05-24 전자부품연구원 캡을 이용한 양극 접합 방법
FR2857502B1 (fr) 2003-07-10 2006-02-24 Soitec Silicon On Insulator Substrats pour systemes contraints
DE10354132A1 (de) * 2003-11-19 2005-06-23 Daimlerchrysler Ag Verfahren zur Herstellung und zum Betreiben eines Sensors
JP2007057349A (ja) 2005-08-24 2007-03-08 Seiko Epson Corp 圧力センサ
JP4817287B2 (ja) * 2005-09-12 2011-11-16 セイコーインスツル株式会社 力学量センサの製造方法
JP4813246B2 (ja) * 2006-04-28 2011-11-09 ユニヴァーシティ オブ サウサンプトン ガラス物品への部材の接合方法
US8062956B2 (en) 2009-08-26 2011-11-22 Corning Incorporated Semiconductor on insulator and methods of forming same using temperature gradient in an anodic bonding process

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1138401A (en) * 1965-05-06 1969-01-01 Mallory & Co Inc P R Bonding
JPS54131892A (en) * 1978-04-05 1979-10-13 Hitachi Ltd Semiconductor pressure converter
US4400869A (en) * 1981-02-12 1983-08-30 Becton Dickinson And Company Process for producing high temperature pressure transducers and semiconductors
US4384899A (en) * 1981-11-09 1983-05-24 Motorola Inc. Bonding method adaptable for manufacturing capacitive pressure sensing elements
US4452624A (en) * 1982-12-21 1984-06-05 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Method for bonding insulator to insulator
GB2146566B (en) * 1983-09-16 1986-11-26 Standard Telephones Cables Ltd Electrostatic bonding
US4643532A (en) * 1985-06-24 1987-02-17 At&T Bell Laboratories Field-assisted bonding method and articles produced thereby
JPS62248264A (ja) * 1986-04-21 1987-10-29 Nippon Denso Co Ltd 半導体式加速度センサの製造方法
DE3702412A1 (de) * 1987-01-28 1988-08-18 Philips Patentverwaltung Druckaufnehmer mit einem siliziumkoerper
FI78784C (fi) * 1988-01-18 1989-09-11 Vaisala Oy Tryckgivarkonstruktion och foerfarande foer framstaellning daerav.
DE4009090A1 (de) * 1990-03-21 1991-09-26 Bosch Gmbh Robert Verfahren zur herstellung von mehrschichtigen siliziumstrukturen
JP2527834B2 (ja) * 1990-07-20 1996-08-28 三菱電機株式会社 陽極接合法
US5295395A (en) * 1991-02-07 1994-03-22 Hocker G Benjamin Diaphragm-based-sensors
DE69232896T2 (de) * 1991-09-30 2003-09-04 Canon Kk Verfahren für anodische Bindung mit Lichtstrahlung

Also Published As

Publication number Publication date
EP0594182B1 (en) 2002-07-31
EP0594182A2 (en) 1994-04-27
DE69332164D1 (de) 2002-09-05
JPH06132544A (ja) 1994-05-13
EP0594182A3 (en) 1997-09-24
DE69332164T2 (de) 2002-12-12
US5673476A (en) 1997-10-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3300060B2 (ja) 加速度センサー及びその製造方法
JPH02134570A (ja) 静電容量式加速度センサ及び半導体圧力センサ
JPS61176832A (ja) トランスジユーサ・インサート、その製造方法、および機械的変動測定センサ
US5734156A (en) Optical device assembly and its preparation using metallic bump bonding and a stand-off for bonding together two planar optical components
JP2728237B2 (ja) 静電容量式加速度センサ
JP3782739B2 (ja) 選択陽極接合法および全面陽極接合法
US5528070A (en) Semiconductor sensor manufactured through anodic-bonding process
JPH10259039A (ja) 陽極接合方法及び装置
JP4356217B2 (ja) 電子部品の製造方法及び電子部品
JP4345907B2 (ja) 半導体センサの製造方法
JPS62259475A (ja) 半導体圧力変換器及びその製造方法
JPH09210824A (ja) 静電容量形圧力センサ
JPH10160482A (ja) 外力検出装置の製造方法
JP2713241B2 (ja) 加速度センサおよびその製造方法
JPH10170374A (ja) 静電容量型トランスデューサの製造方法および静電容量型トランスデューサ
JPS63266338A (ja) 圧電振動子
JPH03155176A (ja) 積層型圧電素子の製造方法
JPH05231974A (ja) 容量型圧力センサ
JPH11281668A (ja) 半導体センサのダイアフラムと電極基板の陽極接合方法
JP2007047101A (ja) 静電容量型圧力センサ及びその製造方法
JP3303940B2 (ja) 静電接合方法
JPH0643054A (ja) センサ
JP2001264201A (ja) 静電容量型圧力センサ
JP2004198519A (ja) 光スイッチ及びその製造方法
JPH06340452A (ja) 静電容量型センサの製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees