JP3277388B2 - プリント配線基板の製造方法及びプリント配線基板 - Google Patents
プリント配線基板の製造方法及びプリント配線基板Info
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- JP3277388B2 JP3277388B2 JP19978292A JP19978292A JP3277388B2 JP 3277388 B2 JP3277388 B2 JP 3277388B2 JP 19978292 A JP19978292 A JP 19978292A JP 19978292 A JP19978292 A JP 19978292A JP 3277388 B2 JP3277388 B2 JP 3277388B2
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、微細な配線パターンの
形成を可能とするプリント配線基板の製造方法及びこの
製造方法を用いて製造されるプリント配線基板に関す
る。
形成を可能とするプリント配線基板の製造方法及びこの
製造方法を用いて製造されるプリント配線基板に関す
る。
【0002】
【従来の技術】電子機器の配線回路の高密度化、高精度
化に伴い、プリント配線基板においては、より精細な銅
箔回路パターンの形成が要求されている。
化に伴い、プリント配線基板においては、より精細な銅
箔回路パターンの形成が要求されている。
【0003】このプリント配線基板の配線パターンを形
成する方法としては、従来よりスクリーン印刷法が広く
用いられている。このスクリーン印刷法においては、基
板51上に銅箔52をラミネートした後(図13参
照)、マスキング部分にゾルを保有せしめたメッシュ状
のスクリーンを用いてスクリーン印刷機により所定の溶
剤に可溶なレジストインクを上記銅箔52上に印刷し、
これを硬化することによって所定のパターンを有するパ
ターンレジスト層53を形成している(図14参照)。
そして、このパターンレジスト層53をマスクとして上
記銅箔52のエッチングを行った後、所定の溶剤により
上記パターンレジスト層53を除去することによって所
定のパターンを有する配線パターン54を形成している
(図15参照)。このスクリーン印刷法は、生産性が高
いという利点を有している。
成する方法としては、従来よりスクリーン印刷法が広く
用いられている。このスクリーン印刷法においては、基
板51上に銅箔52をラミネートした後(図13参
照)、マスキング部分にゾルを保有せしめたメッシュ状
のスクリーンを用いてスクリーン印刷機により所定の溶
剤に可溶なレジストインクを上記銅箔52上に印刷し、
これを硬化することによって所定のパターンを有するパ
ターンレジスト層53を形成している(図14参照)。
そして、このパターンレジスト層53をマスクとして上
記銅箔52のエッチングを行った後、所定の溶剤により
上記パターンレジスト層53を除去することによって所
定のパターンを有する配線パターン54を形成している
(図15参照)。このスクリーン印刷法は、生産性が高
いという利点を有している。
【0004】しかしながら、上記スクリーン印刷法は、
次のような問題点を有しており、本質的に解像度が低い
という欠点がある。即ち、通常、上記銅箔52上にレジ
ストインクを印刷する前処理として、上記銅箔52の表
面を清浄化するために、酸等による化学研磨及び回転ブ
ラシ等を用いた物理研磨等が行われている。
次のような問題点を有しており、本質的に解像度が低い
という欠点がある。即ち、通常、上記銅箔52上にレジ
ストインクを印刷する前処理として、上記銅箔52の表
面を清浄化するために、酸等による化学研磨及び回転ブ
ラシ等を用いた物理研磨等が行われている。
【0005】ところが、このような回転ブラシによる研
磨を行うことによって上記銅箔52の表面には、深さ1
μm程度のキズ付きが生じてしまう。このため、上記銅
箔52上に上記レジストインクを印刷する際に、インク
内のモノマーや溶剤等の低分子成分が滲み出し(ブリー
ドアウト)、この滲み出したインクが上記回転ブラシに
よって発生したキズに沿って広がり、更にその滲みが隣
接するパターンまで達したりすることにより、この滲ん
だ部分が上記印刷後のエッチング時にあたかもマスクの
ように機能し、この部分の銅箔52がエッチングざれず
に残存してしまう。従って、上記銅箔52を所望のパタ
ーンに形成することができず、ショート等による不良が
発生する虞れが生じてしまう。
磨を行うことによって上記銅箔52の表面には、深さ1
μm程度のキズ付きが生じてしまう。このため、上記銅
箔52上に上記レジストインクを印刷する際に、インク
内のモノマーや溶剤等の低分子成分が滲み出し(ブリー
ドアウト)、この滲み出したインクが上記回転ブラシに
よって発生したキズに沿って広がり、更にその滲みが隣
接するパターンまで達したりすることにより、この滲ん
だ部分が上記印刷後のエッチング時にあたかもマスクの
ように機能し、この部分の銅箔52がエッチングざれず
に残存してしまう。従って、上記銅箔52を所望のパタ
ーンに形成することができず、ショート等による不良が
発生する虞れが生じてしまう。
【0006】また、このように銅箔52の表面が荒れて
いると、上記レジストインクの印刷時にインクが版の裏
側に廻り込み、インクの滲みやダレといった不都合が生
じてしまう。このように、従来のスクリーン印刷法によ
り配線パターンを形成する方法では、最近のプリント配
線基板における回路パターンの高密度化に十分に対応す
ることが困難となりつつあり、実際に用いられている配
線密度はラインとスペースの比で0.2mm/0.2m
m(=ライン間隔/スペース間隔)が限界とされてい
る。
いると、上記レジストインクの印刷時にインクが版の裏
側に廻り込み、インクの滲みやダレといった不都合が生
じてしまう。このように、従来のスクリーン印刷法によ
り配線パターンを形成する方法では、最近のプリント配
線基板における回路パターンの高密度化に十分に対応す
ることが困難となりつつあり、実際に用いられている配
線密度はラインとスペースの比で0.2mm/0.2m
m(=ライン間隔/スペース間隔)が限界とされてい
る。
【0007】これに対して、写真法により配線パターン
を形成する方法が知られている。この写真法は、ドライ
フィルムを熱圧着により銅箔に貼り合わせた後、所定の
パターン形状を描画したフィルムを介して露光,現像す
ることによって上述のようなパターンレジスト層を形成
する方法である。
を形成する方法が知られている。この写真法は、ドライ
フィルムを熱圧着により銅箔に貼り合わせた後、所定の
パターン形状を描画したフィルムを介して露光,現像す
ることによって上述のようなパターンレジスト層を形成
する方法である。
【0008】この写真法では、スクリーンやローラー等
を使用しないので、インクにパターンのズレや滲みが生
じる虞れがなく、上記スクリーン印刷法に比べて遙かに
高い解像度を得ることができる。
を使用しないので、インクにパターンのズレや滲みが生
じる虞れがなく、上記スクリーン印刷法に比べて遙かに
高い解像度を得ることができる。
【0009】ところが、この写真法は、生産性に乏し
く、上記スクリーン印刷法の僅か1/5程度(スクリー
ン印刷法の場合で10枚/分程度であるのに対して、写
真法の場合では2枚/分程度)に過ぎない。従って、こ
の写真法では、生産コストが高く、大量生産を行う場合
には不適当となる。
く、上記スクリーン印刷法の僅か1/5程度(スクリー
ン印刷法の場合で10枚/分程度であるのに対して、写
真法の場合では2枚/分程度)に過ぎない。従って、こ
の写真法では、生産コストが高く、大量生産を行う場合
には不適当となる。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】このように、従来の配
線パターンの形成方法においては、パターンの精密性を
確保しつつ、優れた生産性を得ることは困難であり、配
線回路の高密度化、高精度化には限界がある。そこで、
本発明はかかる従来の実情に鑑みて提案されたものであ
って、レジストパターンの高精細化を図りつつ、従来の
スクリーン印刷法に匹敵する大量生産性を得ることが可
能なプリント配線基板の製造方法を提供することを目的
とする。
線パターンの形成方法においては、パターンの精密性を
確保しつつ、優れた生産性を得ることは困難であり、配
線回路の高密度化、高精度化には限界がある。そこで、
本発明はかかる従来の実情に鑑みて提案されたものであ
って、レジストパターンの高精細化を図りつつ、従来の
スクリーン印刷法に匹敵する大量生産性を得ることが可
能なプリント配線基板の製造方法を提供することを目的
とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明は、上述の目的を
達成するために提案されたものであり、絶縁性を有する
基板上に銅箔をラミネートし、この銅箔の全面にpHが
9以上、13未満の弱アルカリ溶液に可溶なレジスト層
を形成し、次いで、上記レジスト層上に所定のパターン
でpHが13以上の強アルカリ溶液に可溶な第1のパタ
ーンレジスト層を形成した後、上記レジスト層及び上記
第1のパターンレジスト層が形成された上記基板を弱ア
ルカリ溶液に接触せしめ、上記第1のパターンレジスト
層をマスクとして上記レジスト層を現像して第2のパタ
ーンレジスト層を形成し、続いて、上記第1のパターン
レジスト層及び上記第2のパターンレジスト層をマスク
として上記銅箔をエッチングした後、強アルカリ溶液に
より上記第1のパターンレジスト層及び第2のパターン
レジスト層を除去し、所定のパターンを有する配線パタ
ーンを形成するようにしたものである。
達成するために提案されたものであり、絶縁性を有する
基板上に銅箔をラミネートし、この銅箔の全面にpHが
9以上、13未満の弱アルカリ溶液に可溶なレジスト層
を形成し、次いで、上記レジスト層上に所定のパターン
でpHが13以上の強アルカリ溶液に可溶な第1のパタ
ーンレジスト層を形成した後、上記レジスト層及び上記
第1のパターンレジスト層が形成された上記基板を弱ア
ルカリ溶液に接触せしめ、上記第1のパターンレジスト
層をマスクとして上記レジスト層を現像して第2のパタ
ーンレジスト層を形成し、続いて、上記第1のパターン
レジスト層及び上記第2のパターンレジスト層をマスク
として上記銅箔をエッチングした後、強アルカリ溶液に
より上記第1のパターンレジスト層及び第2のパターン
レジスト層を除去し、所定のパターンを有する配線パタ
ーンを形成するようにしたものである。
【0012】
【作用】基板上にラミネートされた銅箔の表面を覆って
弱アルカリ可溶のレジスト層を形成することにより、清
浄化のために研磨加工された上記銅箔の表面に存在する
キズ等が上記レジスト層によって吸収され、平滑な表面
が得られる。このため、このレジスト層により平坦化さ
れた表面上に、配線パターンに応じた所定のパターンで
強アルカリ可溶の第1のパターンレジスト層を印刷する
際に、インク内の主に低分子成分の滲み出しや滲みが生
じるおそれがない。従って、上記第1のパターンレジス
ト層を高精細なパターンで印刷することができる。
弱アルカリ可溶のレジスト層を形成することにより、清
浄化のために研磨加工された上記銅箔の表面に存在する
キズ等が上記レジスト層によって吸収され、平滑な表面
が得られる。このため、このレジスト層により平坦化さ
れた表面上に、配線パターンに応じた所定のパターンで
強アルカリ可溶の第1のパターンレジスト層を印刷する
際に、インク内の主に低分子成分の滲み出しや滲みが生
じるおそれがない。従って、上記第1のパターンレジス
ト層を高精細なパターンで印刷することができる。
【0013】また、上記レジスト層は、銅箔に比べて表
面張力が極めて低いために、上記第1のパターンレジス
ト層の印刷時においてインクがスクリーンのマスキング
用ゾルの下部に廻り込むといった不都合が生じにくく、
連続印刷性に優れている。
面張力が極めて低いために、上記第1のパターンレジス
ト層の印刷時においてインクがスクリーンのマスキング
用ゾルの下部に廻り込むといった不都合が生じにくく、
連続印刷性に優れている。
【0014】これら第1のパターンレジスト層及び上記
レジスト層が形成された上記基板を弱アルカリ溶液に接
触せしめることにより、上記第1のパターンレジスト層
から露出する上記レジスト層が選択的に現像され、上記
第1のパターンレジスト層と略同一パターンを有する第
2のパターンレジスト層が形成される。
レジスト層が形成された上記基板を弱アルカリ溶液に接
触せしめることにより、上記第1のパターンレジスト層
から露出する上記レジスト層が選択的に現像され、上記
第1のパターンレジスト層と略同一パターンを有する第
2のパターンレジスト層が形成される。
【0015】そして、これら第1のパターンレジスト層
及び第2のパターンレジスト層をマスクとして上記銅箔
をエッチングすることにより、上記第1及び第2のパタ
ーンレジスト層の下部の銅箔のみが残存され、それ以外
の銅箔がエッチング除去される。
及び第2のパターンレジスト層をマスクとして上記銅箔
をエッチングすることにより、上記第1及び第2のパタ
ーンレジスト層の下部の銅箔のみが残存され、それ以外
の銅箔がエッチング除去される。
【0016】なお、これら第1のパターンレジスト層及
び第2のパターンレジスト層は、何れも強アルカリ溶液
に可溶であることから、上述のエッチング後に強アルカ
リ溶液を用いて上記第1及び第2のパターンレジスト層
を現像することにより、残存した各パターンレジスト層
が除去され、所望のパターンを有する配線パターンを得
ることができる。
び第2のパターンレジスト層は、何れも強アルカリ溶液
に可溶であることから、上述のエッチング後に強アルカ
リ溶液を用いて上記第1及び第2のパターンレジスト層
を現像することにより、残存した各パターンレジスト層
が除去され、所望のパターンを有する配線パターンを得
ることができる。
【0017】このように、上記第1のパターンレジスト
層を印刷法により形成することにより、十分な生産性が
確保される。
層を印刷法により形成することにより、十分な生産性が
確保される。
【0018】
【実施例】以下、本発明を具体的な実験結果に基づいて
説明するが、本発明がこの実施例に限定されるものでは
ないことは言うまでもない。
説明するが、本発明がこの実施例に限定されるものでは
ないことは言うまでもない。
【0019】先ず、図1及び図2に示すように、絶縁性
を有する基板1上に銅箔2をラミネートする。上記基板
1としては、表面上に銅箔2が複数層設けられた多層型
基板(商品名:FR−4)、両面に銅箔2がラミネート
されるコンポジット型基板(商品名:CE−M)、片面
のみが使用される基板(商品名:FR−1)等が何れも
使用可能であるが、ここではコンポジット型基板を使用
し、両面に銅箔2がラミネートされた銅張積層板の膜厚
方向に貫通する貫通孔をドリル加工等により形成した
後、該貫通孔を覆って全面にメッキ層を被着形成したも
のを使用した。
を有する基板1上に銅箔2をラミネートする。上記基板
1としては、表面上に銅箔2が複数層設けられた多層型
基板(商品名:FR−4)、両面に銅箔2がラミネート
されるコンポジット型基板(商品名:CE−M)、片面
のみが使用される基板(商品名:FR−1)等が何れも
使用可能であるが、ここではコンポジット型基板を使用
し、両面に銅箔2がラミネートされた銅張積層板の膜厚
方向に貫通する貫通孔をドリル加工等により形成した
後、該貫通孔を覆って全面にメッキ層を被着形成したも
のを使用した。
【0020】なお、図1にあっては、この基板1の一方
の面側のみを示した。以下、図3乃至図9に関しても同
様である。また、ここでは便宜上、上記銅箔2の配線パ
ターンをABC文字パターンで表す。
の面側のみを示した。以下、図3乃至図9に関しても同
様である。また、ここでは便宜上、上記銅箔2の配線パ
ターンをABC文字パターンで表す。
【0021】その後、上記銅箔2の表面の清浄化を行
う。この銅箔2の表面の清浄化を行う方法としては、こ
の種のプリント配線基板の製造工程において通常行われ
ている方法が何れも使用可能であり、一般的には化学研
磨と物理研磨が組み合わせて使用される。
う。この銅箔2の表面の清浄化を行う方法としては、こ
の種のプリント配線基板の製造工程において通常行われ
ている方法が何れも使用可能であり、一般的には化学研
磨と物理研磨が組み合わせて使用される。
【0022】上記化学研磨としては、有機酸又は無機酸
等による表面処理が一般的である。上記有機酸として
は、例えばリンゴ酸、マレイン酸、クエン酸、マロン酸
等が挙げられ、上記無機酸としては、例えばリン酸、塩
酸、硫酸等が挙げられる。また、これら有機酸と無機酸
の混合物や加硫酸アンモニウム、過酸化水素と硫酸等か
らなるソフトエッチング液等も使用可能である。
等による表面処理が一般的である。上記有機酸として
は、例えばリンゴ酸、マレイン酸、クエン酸、マロン酸
等が挙げられ、上記無機酸としては、例えばリン酸、塩
酸、硫酸等が挙げられる。また、これら有機酸と無機酸
の混合物や加硫酸アンモニウム、過酸化水素と硫酸等か
らなるソフトエッチング液等も使用可能である。
【0023】一方、上記物理研磨としては、例えば回転
ブラシ等を用いたブラシ研磨〔例えば米国デュポン社製
のタイネックスブラシ、320番(商品名)使用。〕、
スクラブ研磨〔例えば米国デュポン社製のペリーブラ
シ、1000番(商品名)使用。〕、バフ研磨〔例えば
米国デュポン社製のフラップバフ、1000番(商品
名)使用。〕等が一般的である。
ブラシ等を用いたブラシ研磨〔例えば米国デュポン社製
のタイネックスブラシ、320番(商品名)使用。〕、
スクラブ研磨〔例えば米国デュポン社製のペリーブラ
シ、1000番(商品名)使用。〕、バフ研磨〔例えば
米国デュポン社製のフラップバフ、1000番(商品
名)使用。〕等が一般的である。
【0024】次に、図3及び図4に示すように、この銅
箔2の略全面にレジスト層3aを形成する。このレジス
ト層3aは、レジストインクAの塗膜を指触乾燥(又は
硬化)させたものからなる。これにより、上述の清浄化
の際に上記銅箔2の表面に生じたキズ等の存在による凹
凸が上記レジストインクAによって吸収され、上記銅箔
2の表面が平坦とされる。
箔2の略全面にレジスト層3aを形成する。このレジス
ト層3aは、レジストインクAの塗膜を指触乾燥(又は
硬化)させたものからなる。これにより、上述の清浄化
の際に上記銅箔2の表面に生じたキズ等の存在による凹
凸が上記レジストインクAによって吸収され、上記銅箔
2の表面が平坦とされる。
【0025】ここで使用されるレジストインクAとして
は、熱又は紫外線により指触乾燥又は硬化し、且つpH
が9以上、13未満の弱アルカリ溶液に可溶な材料が使
用される。また、上記銅箔2の表面に対する被覆性を考
慮すると、比較的低粘性のものであることが望ましい。
は、熱又は紫外線により指触乾燥又は硬化し、且つpH
が9以上、13未満の弱アルカリ溶液に可溶な材料が使
用される。また、上記銅箔2の表面に対する被覆性を考
慮すると、比較的低粘性のものであることが望ましい。
【0026】このレジストインクAとしては、市販品が
何れも使用可能であり、特に限定されない。このうち、
熱により指触乾燥(又は硬化)するものとしては、通常
ノボラック型樹脂やビスフェノール型樹脂に酸無水物を
付加した樹脂がベースポリマーとして使用される。
何れも使用可能であり、特に限定されない。このうち、
熱により指触乾燥(又は硬化)するものとしては、通常
ノボラック型樹脂やビスフェノール型樹脂に酸無水物を
付加した樹脂がベースポリマーとして使用される。
【0027】上記酸無水物としては、例えば無水マレイ
ン酸,無水コハク酸,無水フタル酸,無水テトラヒドロ
フタル酸等の二塩基性酸無水物、無水トリメット酸,無
水ピロメット酸等の芳香族多価カルボン酸無水物及びそ
の誘導体〔例えば5−(2,5−ジオキソテトラヒドロ
フリル)−3−メチル−3−シクロヘキセン−1,2−
ジカルボン酸無水物等〕等が挙げられる。
ン酸,無水コハク酸,無水フタル酸,無水テトラヒドロ
フタル酸等の二塩基性酸無水物、無水トリメット酸,無
水ピロメット酸等の芳香族多価カルボン酸無水物及びそ
の誘導体〔例えば5−(2,5−ジオキソテトラヒドロ
フリル)−3−メチル−3−シクロヘキセン−1,2−
ジカルボン酸無水物等〕等が挙げられる。
【0028】また、この熱硬化型のレジストインクAに
は、必要に応じて各種充填材や有機溶剤等が添加されて
もよい。上記充填材としては、従来より公知の材料が何
れも使用可能であり、具体的に例示するならば、エポキ
シ樹脂,フェノール樹脂,メラミン樹脂,ポリエステル
樹脂,EVA,塩化ビニル樹脂等のアルカリ溶液に不溶
な樹脂、或いは硫酸バリウム、タルク、シリカ等が挙げ
られる。
は、必要に応じて各種充填材や有機溶剤等が添加されて
もよい。上記充填材としては、従来より公知の材料が何
れも使用可能であり、具体的に例示するならば、エポキ
シ樹脂,フェノール樹脂,メラミン樹脂,ポリエステル
樹脂,EVA,塩化ビニル樹脂等のアルカリ溶液に不溶
な樹脂、或いは硫酸バリウム、タルク、シリカ等が挙げ
られる。
【0029】また、上記有機溶剤としても同様に従来公
知の材料が何れも使用可能であり、例えばセロソルブ,
ブチルセロソル等のセロソルブ類、カルビトール,ブチ
ルカルビトール等のカルビトール類及びそのアセテート
類、トルエン,キシレン等の芳香族炭化水素類等が使用
可能である。この他、この種のレジストインクAにおい
て使用されている着色顔料、消泡剤、密着付与剤、或い
はレベリング剤等が適宜添加されてもよい。
知の材料が何れも使用可能であり、例えばセロソルブ,
ブチルセロソル等のセロソルブ類、カルビトール,ブチ
ルカルビトール等のカルビトール類及びそのアセテート
類、トルエン,キシレン等の芳香族炭化水素類等が使用
可能である。この他、この種のレジストインクAにおい
て使用されている着色顔料、消泡剤、密着付与剤、或い
はレベリング剤等が適宜添加されてもよい。
【0030】このような熱硬化型のレジストインクAに
おいては、膜形成後にベースポリマー中のカルボン酸が
下記の(1)式で表される反応によってアルカリ溶液に
溶解する。
おいては、膜形成後にベースポリマー中のカルボン酸が
下記の(1)式で表される反応によってアルカリ溶液に
溶解する。
【0031】
【化1】
【0032】この熱硬化型のレジストインクAとして
は、例えば太陽インキ製造社製のPSR−4000シリ
ーズ,PER−20(ともに商品名)、タムラ化研社製
のDSR−2200シリーズ,DSR−2200Zシリ
ーズ(ともに商品名)、東洋インキ製造社製のK−10
00(商品名)等が挙げられる。
は、例えば太陽インキ製造社製のPSR−4000シリ
ーズ,PER−20(ともに商品名)、タムラ化研社製
のDSR−2200シリーズ,DSR−2200Zシリ
ーズ(ともに商品名)、東洋インキ製造社製のK−10
00(商品名)等が挙げられる。
【0033】一方、紫外線により指触乾燥(又は硬化)
するものとしては、アクリル酸又はメタクリル酸を分子
内に有するノボラック型樹脂やビスフェノール型樹脂に
酸無水物を付加した樹脂がベースポリマーとして使用さ
れる。なお、上記酸無水物としては、上記熱硬化型のレ
ジストインクAの場合と同様の化合物が何れも使用可能
である。
するものとしては、アクリル酸又はメタクリル酸を分子
内に有するノボラック型樹脂やビスフェノール型樹脂に
酸無水物を付加した樹脂がベースポリマーとして使用さ
れる。なお、上記酸無水物としては、上記熱硬化型のレ
ジストインクAの場合と同様の化合物が何れも使用可能
である。
【0034】また、この紫外線硬化型のレジストインク
Aには、必要に応じて反応性希釈剤等が添加されてもよ
い。
Aには、必要に応じて反応性希釈剤等が添加されてもよ
い。
【0035】上記反応性希釈剤としては、従来より公知
の材料が何れも使用可能であり、具体的に例示するなら
ば、2−ヒドロキシエチルアクリレート,2−ヒドロキ
シプロピルアクリレート,N−ビニルピロリドン,メラ
ミンアクリレート又は前記アクリレートに対応する各メ
タクリレート類等の水溶性モノマー、ジエチレングリコ
ールジアクリレート,トリエチレングリコールジアクリ
レート,プロピレングリコールジアクリレート,モノ−
或いはジアクリレート又はメタクリレート類、多塩基酸
とヒドロキシアルキル(メタ)アクリレートとのモノ
−,ジ−,トリ−又はそれ以上のポリエステル等の非水
溶性モノマー等が挙げられる。
の材料が何れも使用可能であり、具体的に例示するなら
ば、2−ヒドロキシエチルアクリレート,2−ヒドロキ
シプロピルアクリレート,N−ビニルピロリドン,メラ
ミンアクリレート又は前記アクリレートに対応する各メ
タクリレート類等の水溶性モノマー、ジエチレングリコ
ールジアクリレート,トリエチレングリコールジアクリ
レート,プロピレングリコールジアクリレート,モノ−
或いはジアクリレート又はメタクリレート類、多塩基酸
とヒドロキシアルキル(メタ)アクリレートとのモノ
−,ジ−,トリ−又はそれ以上のポリエステル等の非水
溶性モノマー等が挙げられる。
【0036】この他、上記熱硬化型のレジストインクA
の場合と同様に、必要に応じて着色顔料、消泡剤、密着
付与剤、或いはレベリング剤等が適宜添加されても良
い。この紫外線硬化型のレジストインクAとしては、例
えば太陽インキ製造社製のTGR−100シリーズ(商
品名)等が挙げられる。
の場合と同様に、必要に応じて着色顔料、消泡剤、密着
付与剤、或いはレベリング剤等が適宜添加されても良
い。この紫外線硬化型のレジストインクAとしては、例
えば太陽インキ製造社製のTGR−100シリーズ(商
品名)等が挙げられる。
【0037】このようなレジストインクAの塗布方法と
しては、特に限定されず、スクリーン印刷法、ロールコ
ータ法、スプレーコータ法、カーテンコータ法、浸漬法
等から適宜選択されればよい。
しては、特に限定されず、スクリーン印刷法、ロールコ
ータ法、スプレーコータ法、カーテンコータ法、浸漬法
等から適宜選択されればよい。
【0038】レジストインクAの塗布後、該レジストイ
ンクAとして熱硬化型のものを使用した場合には、箱型
炉,ウィケット炉,トンネル炉等にて加熱を行い、得ら
れた塗膜を指触乾燥(又は硬化)させる。なお、この加
熱に際しては、加熱温度は50〜120℃とすることが
好ましい。加熱温度が50℃よりも低いと、タックが残
存するとともに、得られた塗膜を十分に指触乾燥(又は
硬化)させることができない。逆に、120℃よりも高
いと、後述の現像工程において良好な現像が行えなくな
る。
ンクAとして熱硬化型のものを使用した場合には、箱型
炉,ウィケット炉,トンネル炉等にて加熱を行い、得ら
れた塗膜を指触乾燥(又は硬化)させる。なお、この加
熱に際しては、加熱温度は50〜120℃とすることが
好ましい。加熱温度が50℃よりも低いと、タックが残
存するとともに、得られた塗膜を十分に指触乾燥(又は
硬化)させることができない。逆に、120℃よりも高
いと、後述の現像工程において良好な現像が行えなくな
る。
【0039】一方、上記レジストインクAとして紫外線
硬化型のものを使用した場合では、UVキュア炉等によ
り紫外線照射を行い、得られた塗膜を指触乾燥(又は硬
化)させる。
硬化型のものを使用した場合では、UVキュア炉等によ
り紫外線照射を行い、得られた塗膜を指触乾燥(又は硬
化)させる。
【0040】得られたレジスト層3aは、上述のように
上記貫通孔内を含め全面に形成されても良いが、少なく
とも後述するエッチングにより第2のパターンレジスト
層3が形成される領域、即ちレジスト層形成パターン部
分(上記貫通孔内を含め配線パターンに応じた部分)よ
り若干広く形成されれば良い。
上記貫通孔内を含め全面に形成されても良いが、少なく
とも後述するエッチングにより第2のパターンレジスト
層3が形成される領域、即ちレジスト層形成パターン部
分(上記貫通孔内を含め配線パターンに応じた部分)よ
り若干広く形成されれば良い。
【0041】また、レジスト層3aの膜厚は、レジスト
膜として一般に要求される5〜50μmの範囲が適当で
あり、10〜20μmであることがより好ましい。この
レジスト層3aの膜厚が5μm未満である場合には、上
述の清浄化を行う際に生じた上記銅箔2表面のキズの存
在による凹凸の影響を受けてしまい、該第1のレジスト
層3aの表面を平坦化することができない。逆に、50
μmより厚くなると、後述の現像時に見られるアンダー
カットが顕著となり、所望の線巾を安定して得ることが
できない。
膜として一般に要求される5〜50μmの範囲が適当で
あり、10〜20μmであることがより好ましい。この
レジスト層3aの膜厚が5μm未満である場合には、上
述の清浄化を行う際に生じた上記銅箔2表面のキズの存
在による凹凸の影響を受けてしまい、該第1のレジスト
層3aの表面を平坦化することができない。逆に、50
μmより厚くなると、後述の現像時に見られるアンダー
カットが顕著となり、所望の線巾を安定して得ることが
できない。
【0042】続いて、図5及び図6に示すように、上記
レジスト層3a上にスクリーン印刷法により配線パター
ンに応じた所定のパターンでポジ型の第2のパターンレ
ジスト層4を形成する。この時、上述のように銅箔2の
表面が上記レジスト層3aによって平坦化されているの
で、インクのカスレやピンホール、或いは銅箔2の表面
にキズによる凹凸が存在する場合に見られるような滲み
等は、極めて発生しにくい。また、このように均一なレ
ジスト層3aの表面に対してインクが転写されるので、
版の裏廻りを起こし難く、連続印刷性に適している。従
って、上記第1のパターンレジスト層4を高精細なパタ
ーンで印刷することができる。
レジスト層3a上にスクリーン印刷法により配線パター
ンに応じた所定のパターンでポジ型の第2のパターンレ
ジスト層4を形成する。この時、上述のように銅箔2の
表面が上記レジスト層3aによって平坦化されているの
で、インクのカスレやピンホール、或いは銅箔2の表面
にキズによる凹凸が存在する場合に見られるような滲み
等は、極めて発生しにくい。また、このように均一なレ
ジスト層3aの表面に対してインクが転写されるので、
版の裏廻りを起こし難く、連続印刷性に適している。従
って、上記第1のパターンレジスト層4を高精細なパタ
ーンで印刷することができる。
【0043】このようなスクリーン印刷を行うに際し、
使用されるスクリーンとしては通常使用されるものが何
れも使用可能である。例えば、紗の材質としては、テト
ロン,ステンレス,ナイロン等が使用可能であり、目の
粗さは100〜325メッシュ程度であることが好適で
あり、200〜300メッシュ程度であることが最適で
ある。目の粗さが100メッシュよりも粗いと、印刷解
像性が悪く、逆に325メッシュよりも細かいと、イン
クが紗を通過しにくく、カスレが生じて不良となる。
使用されるスクリーンとしては通常使用されるものが何
れも使用可能である。例えば、紗の材質としては、テト
ロン,ステンレス,ナイロン等が使用可能であり、目の
粗さは100〜325メッシュ程度であることが好適で
あり、200〜300メッシュ程度であることが最適で
ある。目の粗さが100メッシュよりも粗いと、印刷解
像性が悪く、逆に325メッシュよりも細かいと、イン
クが紗を通過しにくく、カスレが生じて不良となる。
【0044】また、上記第1のパターンレジスト層4を
構成するレジストインクBとしては、熱又は紫外線によ
り指触乾燥又は硬化し、且つpHが13以上の強アルカ
リ溶液に可溶な材料が使用される。
構成するレジストインクBとしては、熱又は紫外線によ
り指触乾燥又は硬化し、且つpHが13以上の強アルカ
リ溶液に可溶な材料が使用される。
【0045】このレジストインクBとしては、市販品が
何れも使用可能であり、特に限定されない。このうち、
熱により指触乾燥(又は硬化)するものとしては、例え
ば山栄化学社製のSER−400シリーズ,SER−4
10シリーズ,SER−420シリーズ,SER−42
3シリーズ(何れも商品名)、サンワ化学工業社製のD
A−110B,DA−180C,DA−200B,DA
−250C,DA−380B,DA−262C(何れも
商品名)、アサヒ化学研究所社製のWR−520,WR
−70(ともに商品名)等が挙げられる。
何れも使用可能であり、特に限定されない。このうち、
熱により指触乾燥(又は硬化)するものとしては、例え
ば山栄化学社製のSER−400シリーズ,SER−4
10シリーズ,SER−420シリーズ,SER−42
3シリーズ(何れも商品名)、サンワ化学工業社製のD
A−110B,DA−180C,DA−200B,DA
−250C,DA−380B,DA−262C(何れも
商品名)、アサヒ化学研究所社製のWR−520,WR
−70(ともに商品名)等が挙げられる。
【0046】一方、紫外線により指触乾燥(又は硬化)
するものとしては、例えば山栄化学社製のSER−14
00,SER−1405,SER−1406(何れも商
品名)、太陽インキ製造社製のX−66,X−77,X
−87(何れも商品名)、サンワ化学工業社製のUE−
7000(商品名)等が挙げられる。
するものとしては、例えば山栄化学社製のSER−14
00,SER−1405,SER−1406(何れも商
品名)、太陽インキ製造社製のX−66,X−77,X
−87(何れも商品名)、サンワ化学工業社製のUE−
7000(商品名)等が挙げられる。
【0047】そして、上記印刷後、上記レジストインク
Bを所定の方法により指触乾燥(又は硬化)させる。な
お、指触乾燥(又は硬化)させる手段としては、レジス
トインクBとして熱硬化型のものを使用した場合、紫外
線硬化型のものを使用した場合とも、上記レジストイン
クAの場合と同様の装置が何れも使用可能である。
Bを所定の方法により指触乾燥(又は硬化)させる。な
お、指触乾燥(又は硬化)させる手段としては、レジス
トインクBとして熱硬化型のものを使用した場合、紫外
線硬化型のものを使用した場合とも、上記レジストイン
クAの場合と同様の装置が何れも使用可能である。
【0048】この第1のパターンレジスト層4の膜厚
は、3〜40μmの範囲が適している。この第1のパタ
ーンレジスト層4の膜厚が3μmより薄いと、ピンホー
ル等が発生しやすくなり、良好な塗膜を得ることができ
ない。逆に、40μmを越えると、印刷の解像性が悪化
するおそれがある。
は、3〜40μmの範囲が適している。この第1のパタ
ーンレジスト層4の膜厚が3μmより薄いと、ピンホー
ル等が発生しやすくなり、良好な塗膜を得ることができ
ない。逆に、40μmを越えると、印刷の解像性が悪化
するおそれがある。
【0049】その後、図7及び図8に示すように、上記
第1のパターンレジスト層4をマスクとして弱アルカリ
溶液により上記レジスト層3aを現像する。ここで、上
記第1のパターンレジスト層4は、強アルカリ溶液に可
溶であるので、該第1のパターンレジスト層4は除去さ
れず、該第1のパターンレジスト層4から露出する上記
レジスト層3aのみが選択的に現像され除去される。こ
の結果、上記第1のパターンレジスト層4と略同一のパ
ターンを有する第2のパターンレジスト層3が形成され
る。
第1のパターンレジスト層4をマスクとして弱アルカリ
溶液により上記レジスト層3aを現像する。ここで、上
記第1のパターンレジスト層4は、強アルカリ溶液に可
溶であるので、該第1のパターンレジスト層4は除去さ
れず、該第1のパターンレジスト層4から露出する上記
レジスト層3aのみが選択的に現像され除去される。こ
の結果、上記第1のパターンレジスト層4と略同一のパ
ターンを有する第2のパターンレジスト層3が形成され
る。
【0050】この第2のパターンレジスト層3の現像に
際し、高精細に形成された上記第1のパターンレジスト
層4をマスクとして用いているので、該第1のパターン
レジスト層4から露出する上記レジスト層3aのみが忠
実に現像され、所望のパターンに精度良く上記第2のパ
ターンレジスト層3を形成することができる。
際し、高精細に形成された上記第1のパターンレジスト
層4をマスクとして用いているので、該第1のパターン
レジスト層4から露出する上記レジスト層3aのみが忠
実に現像され、所望のパターンに精度良く上記第2のパ
ターンレジスト層3を形成することができる。
【0051】この時、上記第1のパターンレジスト層4
から露出する上記レジスト層3aのみを現像するため
に、該レジスト層3aのみが可溶とされるべく、使用す
る現像液のpHは9以上、13未満とする必要がある。
現像液のpHが9未満の場合には、上記レジスト層3a
を十分に現像することができず、逆にpHが13を越え
る場合では、上記レジスト層3aのみならず、上記第1
のパターンレジスト層4までも現像され除去されてしま
うので、後述する銅箔2のパターニングを行うためのパ
ターンレジスト層を形成することができなくなる。
から露出する上記レジスト層3aのみを現像するため
に、該レジスト層3aのみが可溶とされるべく、使用す
る現像液のpHは9以上、13未満とする必要がある。
現像液のpHが9未満の場合には、上記レジスト層3a
を十分に現像することができず、逆にpHが13を越え
る場合では、上記レジスト層3aのみならず、上記第1
のパターンレジスト層4までも現像され除去されてしま
うので、後述する銅箔2のパターニングを行うためのパ
ターンレジスト層を形成することができなくなる。
【0052】このような弱アルカリ溶液としては、写真
現像型インクの現像に通常使用されるものが何れも使用
可能であり、例えば1〜3%Na2 CO3 溶液等が通常
の現像条件にて使用可能である。
現像型インクの現像に通常使用されるものが何れも使用
可能であり、例えば1〜3%Na2 CO3 溶液等が通常
の現像条件にて使用可能である。
【0053】続いて、これら第2のパターンレジスト層
3及び第1のパターンレジスト層4をマスクとして上記
銅箔2のエッチングを行う。この結果、上記第1のパタ
ーンレジスト層4(及び第2のパターンレジスト層3)
より露出する銅箔2のみが選択的に除去され、所定のパ
ターンでパターニングされる。ここで、高精細に形成さ
れた上記第1のパターンレジスト4層及び第2のパター
ンレジスト層3をパターンレジスト層として用いている
ので、該第1のパターンレジスト層4(或いは第2のパ
ターンレジスト層3)から露出する上記銅箔2のみが忠
実に現像され、所望のパターンに精度良くパターニング
することができる。
3及び第1のパターンレジスト層4をマスクとして上記
銅箔2のエッチングを行う。この結果、上記第1のパタ
ーンレジスト層4(及び第2のパターンレジスト層3)
より露出する銅箔2のみが選択的に除去され、所定のパ
ターンでパターニングされる。ここで、高精細に形成さ
れた上記第1のパターンレジスト4層及び第2のパター
ンレジスト層3をパターンレジスト層として用いている
ので、該第1のパターンレジスト層4(或いは第2のパ
ターンレジスト層3)から露出する上記銅箔2のみが忠
実に現像され、所望のパターンに精度良くパターニング
することができる。
【0054】なお、このエッチングに際しては、通常こ
の種のプリント配線基板の製造時に使用されている方法
が何れも使用可能であり、湿式エッチング、ドライエッ
チング等が使用可能であり、任意に選択すれば良い。但
し、湿式エッチングを行う場合には、エッチング液とし
て、例えば塩化第二銅、塩化第二鉄等の酸性エッチャン
トを選定する必要がある。エッチング液としてアルカリ
性エッチャントを使用すると、上記銅箔2のエッチング
と同時に上記第2のパターンレジスト層3及び第1のパ
ターンレジスト層4が溶解してしまい、パターンレジス
ト層としての機能を発揮できなくなる。
の種のプリント配線基板の製造時に使用されている方法
が何れも使用可能であり、湿式エッチング、ドライエッ
チング等が使用可能であり、任意に選択すれば良い。但
し、湿式エッチングを行う場合には、エッチング液とし
て、例えば塩化第二銅、塩化第二鉄等の酸性エッチャン
トを選定する必要がある。エッチング液としてアルカリ
性エッチャントを使用すると、上記銅箔2のエッチング
と同時に上記第2のパターンレジスト層3及び第1のパ
ターンレジスト層4が溶解してしまい、パターンレジス
ト層としての機能を発揮できなくなる。
【0055】その後、強アルカリ溶液を用いて、上記第
2のパターンレジスト層3及び第1のパターンレジスト
層4を除去する。この結果、図9及び図10に示すよう
に、上述のようにパターニングされた銅箔2のみが残存
し、上記基板1上に所望のパターンを有する配線パター
ン5が形成される。
2のパターンレジスト層3及び第1のパターンレジスト
層4を除去する。この結果、図9及び図10に示すよう
に、上述のようにパターニングされた銅箔2のみが残存
し、上記基板1上に所望のパターンを有する配線パター
ン5が形成される。
【0056】この時、上記パターニングされた銅箔2の
みを残存させつつ、上記第1のパターンレジスト層4及
び第2のパターンレジスト層3を完全に除去するため
に、使用する溶液のpHは13以上とする必要がある。
溶液のpHが13未満の場合には、上記第1のパターン
レジスト層4及び第2のパターンレジスト層3を十分に
除去することができない。
みを残存させつつ、上記第1のパターンレジスト層4及
び第2のパターンレジスト層3を完全に除去するため
に、使用する溶液のpHは13以上とする必要がある。
溶液のpHが13未満の場合には、上記第1のパターン
レジスト層4及び第2のパターンレジスト層3を十分に
除去することができない。
【0057】このような強アルカリ溶液としては、通常
のパターンレジストの除去において使用されるものが何
れも使用可能であり、例えばNaOH溶液等が通常の現
像条件にて使用可能である。
のパターンレジストの除去において使用されるものが何
れも使用可能であり、例えばNaOH溶液等が通常の現
像条件にて使用可能である。
【0058】なお、このようなプリント配線基板の製造
においては、上記第2のパターンレジスト層3や第1の
パターンレジスト層4の形成がスクリーン印刷法により
行われているので、従来の印刷法による場合に匹敵する
優れた生産性を確保することができる。
においては、上記第2のパターンレジスト層3や第1の
パターンレジスト層4の形成がスクリーン印刷法により
行われているので、従来の印刷法による場合に匹敵する
優れた生産性を確保することができる。
【0059】以上のようなプリント配線基板の製造方法
に基づき、実際に各種プリント配線基板を作製した。
に基づき、実際に各種プリント配線基板を作製した。
【0060】実施例1 本実施例は、コンポジットの銅張積層板上に熱硬化型の
レジストインクAを用いてスクリーン印刷法によりレジ
スト層を形成し、このレジスト層上に熱硬化型のレジス
トインクBを所定のパターンでスクリーン印刷した後、
銅箔のエッチングを行ってプリント配線基板を作製した
例である。
レジストインクAを用いてスクリーン印刷法によりレジ
スト層を形成し、このレジスト層上に熱硬化型のレジス
トインクBを所定のパターンでスクリーン印刷した後、
銅箔のエッチングを行ってプリント配線基板を作製した
例である。
【0061】即ち、先ず市販の紙フェノール銅張積層板
〔日立化成社製のMCL−437F(商品名),板厚
1.6mm、銅箔厚35μm〕を335mm×251m
mに裁断した後、石井表記社製のスクラブ整面機により
銅箔の表面を清浄化した。なお、この清浄化に際して、
5%硫酸により洗浄した後、フラップバフ(1000
番)にてバフ研磨を行い、続いてペリーブラシ(100
0番)にてスクラブ研磨、超音波洗浄を経た後、乾燥し
た。
〔日立化成社製のMCL−437F(商品名),板厚
1.6mm、銅箔厚35μm〕を335mm×251m
mに裁断した後、石井表記社製のスクラブ整面機により
銅箔の表面を清浄化した。なお、この清浄化に際して、
5%硫酸により洗浄した後、フラップバフ(1000
番)にてバフ研磨を行い、続いてペリーブラシ(100
0番)にてスクラブ研磨、超音波洗浄を経た後、乾燥し
た。
【0062】次に、この銅箔の表面を覆ってレジストイ
ンクAを印刷機(商品名:ニューロングLS−50)に
よりスクリーン印刷した。
ンクAを印刷機(商品名:ニューロングLS−50)に
よりスクリーン印刷した。
【0063】なお、上記レジストインクAとしては、タ
ムラ化研社製のDSR−2200(商品名)を使用し
た。また、上記印刷機は、版の仕様がテトロン180メ
ッシュで、乳剤が20μm厚で形成されてなるものを使
用した。また、塗布されたレジストインクAの塗布面積
は、330mm×240mmであった。
ムラ化研社製のDSR−2200(商品名)を使用し
た。また、上記印刷機は、版の仕様がテトロン180メ
ッシュで、乳剤が20μm厚で形成されてなるものを使
用した。また、塗布されたレジストインクAの塗布面積
は、330mm×240mmであった。
【0064】その後、箱型炉(商品名:タバイエスペッ
クPHH−200)にて温度80℃で15分間加熱し、
上記レジストインクAを指触乾燥させた。得られた第1
のレジスト層の膜厚を東京精密社製の表面粗度測定機
(商品名:サーフコム)により測定したところ、10μ
mであった。
クPHH−200)にて温度80℃で15分間加熱し、
上記レジストインクAを指触乾燥させた。得られた第1
のレジスト層の膜厚を東京精密社製の表面粗度測定機
(商品名:サーフコム)により測定したところ、10μ
mであった。
【0065】次いで、このレジスト層上に印刷機(商品
名:ニューロングLS−50)により所定のパターンで
レジストインクBをスクリーン印刷した。上記レジスト
インクBとしては、山栄化学社製のSER−420(商
品名)を使用した。また、上記レジストインクBのパタ
ーンは、銅箔回路パターンの設計基準がライン/スペー
ス=150μm/150μmのカムコーダ用の製品パタ
ーンを使用した。上記印刷機は、版の仕様がテトロン2
50メッシュで、乳剤が12μm厚で形成されてなるも
のを使用し、200枚連続印刷を行った。また、上記レ
ジストインクBの塗布面積は、330mm×240mm
とした。
名:ニューロングLS−50)により所定のパターンで
レジストインクBをスクリーン印刷した。上記レジスト
インクBとしては、山栄化学社製のSER−420(商
品名)を使用した。また、上記レジストインクBのパタ
ーンは、銅箔回路パターンの設計基準がライン/スペー
ス=150μm/150μmのカムコーダ用の製品パタ
ーンを使用した。上記印刷機は、版の仕様がテトロン2
50メッシュで、乳剤が12μm厚で形成されてなるも
のを使用し、200枚連続印刷を行った。また、上記レ
ジストインクBの塗布面積は、330mm×240mm
とした。
【0066】そして、箱型炉(商品名:タバイエスペッ
クPHH−200)にて温度80℃で10分間加熱し、
上記レジストインクBを指触乾燥させた。得られた第1
のパターンレジスト層の膜厚は8μmであった。続い
て、弱アルカリ溶液にて上記レジスト層を現像し、上記
第1のパターンレジスト層と略同一パターンにパターニ
ングして第2のパターンレジスト層を形成した。
クPHH−200)にて温度80℃で10分間加熱し、
上記レジストインクBを指触乾燥させた。得られた第1
のパターンレジスト層の膜厚は8μmであった。続い
て、弱アルカリ溶液にて上記レジスト層を現像し、上記
第1のパターンレジスト層と略同一パターンにパターニ
ングして第2のパターンレジスト層を形成した。
【0067】この現像に際し、上記弱アルカリ溶液とし
て3%Na2CO3溶液を用い、温度30℃、現像時間
80秒間、スプレー圧2.0kg/cm2なる条件にて
行った。
て3%Na2CO3溶液を用い、温度30℃、現像時間
80秒間、スプレー圧2.0kg/cm2なる条件にて
行った。
【0068】この現像後、スプレーエッチング装置によ
り上記第1及び第2のパターンレジスト層をレジスト層
として銅箔を選択的にエッチングし、上記第1及び第2
のパターンレジスト層から露出する銅箔をエッチング除
去した。なお、このエッチングにおいては、塩化第二鉄
溶液をエッチントとして使用した。
り上記第1及び第2のパターンレジスト層をレジスト層
として銅箔を選択的にエッチングし、上記第1及び第2
のパターンレジスト層から露出する銅箔をエッチング除
去した。なお、このエッチングにおいては、塩化第二鉄
溶液をエッチントとして使用した。
【0069】続いて、剥離装置を用いて上記第1及び第
2のパターンレジスト層を除去し、上述のエッチングに
よりパターニングされた銅箔のみを残存させて、所望の
配線パターン有するプリント配線基板を得た。なお、上
記剥離装置においては、2%NaOH溶液が使用され、
処理時間は2分間とされる。
2のパターンレジスト層を除去し、上述のエッチングに
よりパターニングされた銅箔のみを残存させて、所望の
配線パターン有するプリント配線基板を得た。なお、上
記剥離装置においては、2%NaOH溶液が使用され、
処理時間は2分間とされる。
【0070】実施例2 上記実施例1で使用したレジストインクAを太陽インキ
製造社製のPSR−4000(商品名)に変えるととも
に、レジストインクBをサンワ化学工業社製のDA−1
80Cに変え、その他は上記実施例1と同様にしてプリ
ント配線基板を作製した。
製造社製のPSR−4000(商品名)に変えるととも
に、レジストインクBをサンワ化学工業社製のDA−1
80Cに変え、その他は上記実施例1と同様にしてプリ
ント配線基板を作製した。
【0071】実施例3 本実施例は、レジストインクAとして紫外線硬化型のも
のを使用し、レジストインクBとして熱硬化型のものを
使用してプリント配線基板を作製した例である。
のを使用し、レジストインクBとして熱硬化型のものを
使用してプリント配線基板を作製した例である。
【0072】先ず、上記実施例1で使用した銅張積層板
と同一のものを用い、この銅張積層板を上述のようにし
て清浄化した後、銅箔の表面を覆ってレジストインクA
を印刷機(商品名:ニューロングLS−50)によりス
クリーン印刷した。このレジストインクAとしては、太
陽インキ製造社製のTGR−100シリーズ(商品名)
を使用した。
と同一のものを用い、この銅張積層板を上述のようにし
て清浄化した後、銅箔の表面を覆ってレジストインクA
を印刷機(商品名:ニューロングLS−50)によりス
クリーン印刷した。このレジストインクAとしては、太
陽インキ製造社製のTGR−100シリーズ(商品名)
を使用した。
【0073】その後、オーク社製の高圧水銀灯使用のコ
ンベアUV炉(商品名:HMW−713)にて紫外線照
射を行い、上記レジストインクAを指触乾燥させて、レ
ジスト層を形成した。なお、この紫外線照射時の積算光
量は、1000mJ/cm2とした。
ンベアUV炉(商品名:HMW−713)にて紫外線照
射を行い、上記レジストインクAを指触乾燥させて、レ
ジスト層を形成した。なお、この紫外線照射時の積算光
量は、1000mJ/cm2とした。
【0074】次いで、このレジスト層上に印刷機(商品
名:ニューロングLS−50)により所定のパターンで
レジストインクBをスクリーン印刷した。上記レジスト
インクBとしては、山栄化学社製のSER−420(商
品名)を使用した。
名:ニューロングLS−50)により所定のパターンで
レジストインクBをスクリーン印刷した。上記レジスト
インクBとしては、山栄化学社製のSER−420(商
品名)を使用した。
【0075】そして、箱型炉(商品名:タバイエスペッ
クPHH−200)にて温度70℃で10分間加熱し、
上記レジストインクBを指触乾燥させた。
クPHH−200)にて温度70℃で10分間加熱し、
上記レジストインクBを指触乾燥させた。
【0076】続いて、上記実施例1と同様にして弱アル
カリ溶液にて上記レジスト層を現像し、第2のパターン
レジスト層を形成した後、スプレーエッチング装置によ
り上記銅箔のエッチングを行い、更に剥離装置を用いて
上記第1のパターンレジスト層及び第2のパターンレジ
スト層を除去して、所望の配線パターン有するプリント
配線基板を得た。
カリ溶液にて上記レジスト層を現像し、第2のパターン
レジスト層を形成した後、スプレーエッチング装置によ
り上記銅箔のエッチングを行い、更に剥離装置を用いて
上記第1のパターンレジスト層及び第2のパターンレジ
スト層を除去して、所望の配線パターン有するプリント
配線基板を得た。
【0077】実施例4 本実施例は、レジストインクA及びレジストインクBと
して、ともに紫外線硬化型のものを使用した他は、基本
的には上記実施例3と同様にしてプリント配線基板を作
製した例である。
して、ともに紫外線硬化型のものを使用した他は、基本
的には上記実施例3と同様にしてプリント配線基板を作
製した例である。
【0078】上記実施例3で使用したレジストインクB
を山栄化学社製のSER−1405(商品名)に変え、
且つこのレジストインクBの指触乾燥させる際の紫外線
照射時の条件を上記実施例3におけるレジストインクA
に対する紫外線照射時と同様にして、その他は上記実施
例3と同様にしてプリント配線基板を作製した。
を山栄化学社製のSER−1405(商品名)に変え、
且つこのレジストインクBの指触乾燥させる際の紫外線
照射時の条件を上記実施例3におけるレジストインクA
に対する紫外線照射時と同様にして、その他は上記実施
例3と同様にしてプリント配線基板を作製した。
【0079】実施例5 本実施例は、レジストインクA及びレジストインクBと
して、ともに紫外線硬化型のものを使用した他は、基本
的には上記実施例3と同様にしてプリント配線基板を作
製した例である。
して、ともに紫外線硬化型のものを使用した他は、基本
的には上記実施例3と同様にしてプリント配線基板を作
製した例である。
【0080】上記実施例3で使用したレジストインクA
を下記のようにして調製されたインクに変えるととも
に、レジストインクBを太陽インキ製造社製のX−87
(商品名)に変え、且つこれらレジストインクA及びレ
ジストインクBを指触乾燥させる際に使用したオーク社
製の高圧水銀灯使用のコンベアUV炉(商品名:HMW
−713)の積算光量を1200mJ/cm2として、
その他は上記実施例3と同様にしてプリント配線基板を
作製した。
を下記のようにして調製されたインクに変えるととも
に、レジストインクBを太陽インキ製造社製のX−87
(商品名)に変え、且つこれらレジストインクA及びレ
ジストインクBを指触乾燥させる際に使用したオーク社
製の高圧水銀灯使用のコンベアUV炉(商品名:HMW
−713)の積算光量を1200mJ/cm2として、
その他は上記実施例3と同様にしてプリント配線基板を
作製した。
【0081】<レジストインクAの調製> スチレン−マレイン酸系樹脂(ここでは、アーコケミカ
ル社製の商品名SMA−1440を使用した。)100
gを2−ヒドロキシエチルアクリレート68g、ジメチ
ルアミノエチルメタアクリレート12gとともに、エチ
レングリコールジアクリレート40gに溶解してなる溶
液Aと、大日本インキ化学工業社製のクレゾールノボラ
ックエポキシ樹脂(商品名:N−695)100gをイ
ソボニルアクリレート100gに溶解してなる溶液Bを
下記の材料とともに混合分散してレジストインクAとし
た。
ル社製の商品名SMA−1440を使用した。)100
gを2−ヒドロキシエチルアクリレート68g、ジメチ
ルアミノエチルメタアクリレート12gとともに、エチ
レングリコールジアクリレート40gに溶解してなる溶
液Aと、大日本インキ化学工業社製のクレゾールノボラ
ックエポキシ樹脂(商品名:N−695)100gをイ
ソボニルアクリレート100gに溶解してなる溶液Bを
下記の材料とともに混合分散してレジストインクAとし
た。
【0082】レジストインクの組成 溶液A 33.3重量部 溶液B 33.3重量部 2MZA(四国化成工業社製) 2.9重量部 クレー 20.0重量部 2エチルアントラキン 2.9重量部 CTBN(宇部興産社製) 7.6重量部
【0083】比較例 先ず、上記実施例1で使用した銅張積層板と同一のもの
を用い、この銅張積層板上にレジストインクとして山栄
化学社製のSER−1405(商品名)を用いて従来の
スクリーン印刷法により200枚連続印刷した後、上記
実施例3におけるレジストインクAに対する紫外線照射
と同様にして紫外線照射を行い、得られた塗膜を指触乾
燥した。なお、上記レジストインクAの印刷時に使用し
た印刷機は、上記実施例1におけるレジストインクBの
印刷時に仕様したものと同一のものを使用した。
を用い、この銅張積層板上にレジストインクとして山栄
化学社製のSER−1405(商品名)を用いて従来の
スクリーン印刷法により200枚連続印刷した後、上記
実施例3におけるレジストインクAに対する紫外線照射
と同様にして紫外線照射を行い、得られた塗膜を指触乾
燥した。なお、上記レジストインクAの印刷時に使用し
た印刷機は、上記実施例1におけるレジストインクBの
印刷時に仕様したものと同一のものを使用した。
【0084】続いて、得られたパターンレジストを用い
て銅箔のエッチングを行い、更にレジスト除去を行って
プリント配線基板を作製した。
て銅箔のエッチングを行い、更にレジスト除去を行って
プリント配線基板を作製した。
【0085】以上のようにして作製された各プリント配
線基板において、得られた配線パターンの精度性を評価
するために、該配線パターンに所定の電圧を印加した際
のショート及び断線の発生状況を調べた。この結果を下
記の表1に示す。
線基板において、得られた配線パターンの精度性を評価
するために、該配線パターンに所定の電圧を印加した際
のショート及び断線の発生状況を調べた。この結果を下
記の表1に示す。
【0086】
【表1】
【0087】表1に示すように、本実施例1〜4では、
レジストインクBを200枚連続印刷したところ、何れ
も初期(10枚目)から200枚目までインクにカスレ
や滲みが生じることなく、良好な印刷性が維持され、こ
の結果得られた銅箔回路パターンは、高精細なパターン
で形成されていることが判った。
レジストインクBを200枚連続印刷したところ、何れ
も初期(10枚目)から200枚目までインクにカスレ
や滲みが生じることなく、良好な印刷性が維持され、こ
の結果得られた銅箔回路パターンは、高精細なパターン
で形成されていることが判った。
【0088】これに対して、比較例では、レジストイン
クの印刷時に滲みやブリードが生じてしまい、印刷初期
から線巾が太くなる傾向が見られた。また、印刷開始よ
り150枚目前後のものには、ショートが起こり、良好
な銅箔回路パターンの形成が行えないことが判った。こ
のことから、本実施例を適用した場合では、銅箔回路パ
ターンの設計基準をライン/スペース=150μm/1
50μmとした場合にも、精度良く配線パターンを形成
できることが明らかとなった。
クの印刷時に滲みやブリードが生じてしまい、印刷初期
から線巾が太くなる傾向が見られた。また、印刷開始よ
り150枚目前後のものには、ショートが起こり、良好
な銅箔回路パターンの形成が行えないことが判った。こ
のことから、本実施例を適用した場合では、銅箔回路パ
ターンの設計基準をライン/スペース=150μm/1
50μmとした場合にも、精度良く配線パターンを形成
できることが明らかとなった。
【0089】
【発明の効果】以上の説明からも明らかなように、本発
明においては、清浄化された銅箔の表面を覆って塗布形
成されたレジスト層上に印刷法により所定のパターンで
第1のパターンレジスト層を形成しているので、インク
のカスレやピンホール、或いは銅箔表面に凹凸が存在す
る場合に見られるようなインクの滲み等が極めて発生し
難い。従って、上記第1のパターンレジストを高精細な
パターンで印刷することができる。
明においては、清浄化された銅箔の表面を覆って塗布形
成されたレジスト層上に印刷法により所定のパターンで
第1のパターンレジスト層を形成しているので、インク
のカスレやピンホール、或いは銅箔表面に凹凸が存在す
る場合に見られるようなインクの滲み等が極めて発生し
難い。従って、上記第1のパターンレジストを高精細な
パターンで印刷することができる。
【0090】このように精度良く形成された第1のパタ
ーンレジスト層、或いは、この第1のパターンレジスト
層ををマスクとして現像された第2のパターンレジスト
層をマスクとして上記銅箔を選択的にエッチングしてい
るので、該銅箔を所望のパターンに忠実にパターニング
することができる。従って、本発明によれば、配線パタ
ーンの高精細化が図られ、信頼性に優れたプリント配線
基板を提供することができる。
ーンレジスト層、或いは、この第1のパターンレジスト
層ををマスクとして現像された第2のパターンレジスト
層をマスクとして上記銅箔を選択的にエッチングしてい
るので、該銅箔を所望のパターンに忠実にパターニング
することができる。従って、本発明によれば、配線パタ
ーンの高精細化が図られ、信頼性に優れたプリント配線
基板を提供することができる。
【0091】また、本発明では、上記第1のパターンレ
ジスト層や第2のパターンレジスト層の形成方法として
基本的には印刷法を利用しているので、上述のように配
線パターンの高精細化を図りつつ、処理速度を向上させ
ることができ、従来の印刷法に匹敵する大量生産性を実
現することが可能である。
ジスト層や第2のパターンレジスト層の形成方法として
基本的には印刷法を利用しているので、上述のように配
線パターンの高精細化を図りつつ、処理速度を向上させ
ることができ、従来の印刷法に匹敵する大量生産性を実
現することが可能である。
【図1】本発明のプリント配線基板の製造方法を適用し
た一実施例を工程順に説明するための図であり、銅箔ラ
ミネート工程を示す工程断面図である。
た一実施例を工程順に説明するための図であり、銅箔ラ
ミネート工程を示す工程断面図である。
【図2】銅箔ラミネート工程を示す平面図である。
【図3】レジスト層の形成工程を示す工程断面図であ
る。
る。
【図4】レジスト層の形成工程を示す平面図である。
【図5】第1のパターンレジスト層の形成工程を示す工
程断面図である。
程断面図である。
【図6】第1のパターンレジスト層の形成工程を示す平
面図である。
面図である。
【図7】第2のパターンレジスト層の形成工程を示す工
程断面図である。
程断面図である。
【図8】第2のパターンレジスト層の形成工程を示す平
面図である。
面図である。
【図9】銅箔のエッチング工程を示す工程断面図であ
る。
る。
【図10】銅箔のエッチング工程を示す平面図である。
【図11】配線パターンの形成工程を示す工程断面図で
ある。
ある。
【図12】配線パターンの形成工程を示す平面図であ
る。
る。
【図13】従来のスクリーン印刷法における銅箔ラミネ
ート工程を示す工程断面図である。
ート工程を示す工程断面図である。
【図14】従来のスクリーン印刷法によるパターンレジ
スト印刷工程を示す工程断面図である。
スト印刷工程を示す工程断面図である。
【図15】従来のスクリーン印刷法による配線パターン
形成工程を示す工程断面図である。
形成工程を示す工程断面図である。
Claims (6)
- 【請求項1】 絶縁性を有する基板上に銅箔をラミネー
トし、 この銅箔の全面にpHが9以上、13未満の弱アルカリ
溶液に可溶なレジスト層を形成し、 次いで、上記レジスト層上に所定のパターンでpHが1
3以上の強アルカリ溶液に可溶な第1のパターンレジス
ト層を形成した後、 上記レジスト層及び上記第1のパターンレジスト層が形
成された上記基板を弱アルカリ溶液に接触せしめ、上記
第1のパターンレジスト層をマスクとして上記レジスト
層を現像して第2のパターンレジスト層を形成し、 続いて、上記第1のパターンレジスト層及び上記第2の
パターンレジスト層をマスクとして上記銅箔をエッチン
グした後、強アルカリ溶液により上記第1のパターンレ
ジスト層及び第2のパターンレジスト層を除去し、所定
のパターンを有する配線パターンを形成することを特徴
とするプリント配線基板の製造方法。 - 【請求項2】 上記レジスト層は、ノボラック型樹脂又
はビスフェノール型樹脂に酸無水物を付加した樹脂をベ
ースポリマーに含むことを特徴とする請求項1記載のプ
リント配線基板の製造方法。 - 【請求項3】 上記レジスト層は、アクリル酸又はメタ
クリル酸を分子内に有するノボラック型樹脂に酸無水物
を付加した樹脂をベースポリマーに含むことを特徴とす
る請求項1記載のプリント配線基板の製造方法。 - 【請求項4】 上記酸無水物は、芳香族多価カルボン酸
又はその誘導体であることを特徴とする請求項2又は3
記載のプリント配線基板の製造方法。 - 【請求項5】 上記レジスト層及び第1のレジストパタ
ーン層は、スクリーン印刷により形成されることを特徴
とする請求項1記載のプリント配線基板の製造方法。 - 【請求項6】 請求項1の製造方法により製造されたこ
とを特徴とするプリント配線基板。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19978292A JP3277388B2 (ja) | 1992-07-27 | 1992-07-27 | プリント配線基板の製造方法及びプリント配線基板 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19978292A JP3277388B2 (ja) | 1992-07-27 | 1992-07-27 | プリント配線基板の製造方法及びプリント配線基板 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0653631A JPH0653631A (ja) | 1994-02-25 |
JP3277388B2 true JP3277388B2 (ja) | 2002-04-22 |
Family
ID=16413523
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19978292A Expired - Fee Related JP3277388B2 (ja) | 1992-07-27 | 1992-07-27 | プリント配線基板の製造方法及びプリント配線基板 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3277388B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001319205A (ja) * | 2000-05-10 | 2001-11-16 | Kobayashi Kirokushi Co Ltd | Icカード |
US6651324B1 (en) * | 2000-11-06 | 2003-11-25 | Viasystems Group, Inc. | Process for manufacture of printed circuit boards with thick copper power circuitry and thin copper signal circuitry on the same layer |
JP3533665B1 (ja) * | 2002-12-17 | 2004-05-31 | オムロン株式会社 | 電子部品モジュールの製造方法、並びに電磁波読み取り可能なデータキャリアの製造方法。 |
US8946320B2 (en) | 2004-03-22 | 2015-02-03 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Ink system containing polymer binders |
JP5138447B2 (ja) * | 2008-04-01 | 2013-02-06 | Dowaメタルテック株式会社 | 回路パターンの形成方法 |
EP4386208A1 (en) | 2021-08-11 | 2024-06-19 | NTN Corporation | Piston ring |
-
1992
- 1992-07-27 JP JP19978292A patent/JP3277388B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0653631A (ja) | 1994-02-25 |
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Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20020108 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |