JP3226233B2 - 自動分析装置 - Google Patents
自動分析装置Info
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- JP3226233B2 JP3226233B2 JP87593A JP87593A JP3226233B2 JP 3226233 B2 JP3226233 B2 JP 3226233B2 JP 87593 A JP87593 A JP 87593A JP 87593 A JP87593 A JP 87593A JP 3226233 B2 JP3226233 B2 JP 3226233B2
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- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、多数の患者からの血
清、尿等の試料を自動で分析する自動分析装置に関す
る。
清、尿等の試料を自動で分析する自動分析装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】近年、健康診断等で採取される大量の血
清、尿等の試料を短時間で検査するため、自動分析装置
が多く用いられている。
清、尿等の試料を短時間で検査するため、自動分析装置
が多く用いられている。
【０００３】自動分析装置は、試料の濃度等を測定する
ために複数の試料を専用位置（これをサンプラという）
にまとめてセットし、測定のサイクルに従って順次試料
をサンプラからレーン上に送り出し所定の分析測定部へ
移送する。そして、移送された試料は分析測定部にてサ
ンプリングプローブ等により吸引され、反応ラインへ分
注さて測定が行なわれる。
ために複数の試料を専用位置（これをサンプラという）
にまとめてセットし、測定のサイクルに従って順次試料
をサンプラからレーン上に送り出し所定の分析測定部へ
移送する。そして、移送された試料は分析測定部にてサ
ンプリングプローブ等により吸引され、反応ラインへ分
注さて測定が行なわれる。
【０００４】このような自動分析装置においては、装置
の動作及び測定の精度を保証するため、何検体か毎（例
えば１０検体毎）に濃度既知の試料（これをコントロー
ル試料という）を測定し、その結果から装置の調子を確
認する。つまり、濃度が既知である試料の濃度を実際に
測定し、この測定値と実際の濃度との差から測定誤差を
求める。
の動作及び測定の精度を保証するため、何検体か毎（例
えば１０検体毎）に濃度既知の試料（これをコントロー
ル試料という）を測定し、その結果から装置の調子を確
認する。つまり、濃度が既知である試料の濃度を実際に
測定し、この測定値と実際の濃度との差から測定誤差を
求める。
【０００５】このため、所定の間隔あるいは所定のタイ
ミングで試料測定中にコントロール試料を割り込ませな
ければならない。そこで、従来においてはサンプラの多
数の試料容器に所定間隔毎にコントロール試料の容器を
割り込ませる方法（以下、第１の方法という）と、コン
トロール試料専用位置を設けて試料を所定数測定する毎
にその専用位置のコントロール試料を測定する方法（以
下、第２の方法という）とが採用されている。
ミングで試料測定中にコントロール試料を割り込ませな
ければならない。そこで、従来においてはサンプラの多
数の試料容器に所定間隔毎にコントロール試料の容器を
割り込ませる方法（以下、第１の方法という）と、コン
トロール試料専用位置を設けて試料を所定数測定する毎
にその専用位置のコントロール試料を測定する方法（以
下、第２の方法という）とが採用されている。
【０００６】ところが、前記第１の方法においては、同
一のコントロール試料を試料数に応じて多数用意しなけ
ればならず、また、所定間隔毎にコントロール試料を割
り込ませるのは多くの労力を必要とする。
一のコントロール試料を試料数に応じて多数用意しなけ
ればならず、また、所定間隔毎にコントロール試料を割
り込ませるのは多くの労力を必要とする。
【０００７】また、第２の方法においては、装置使用者
は測定の前の準備として各分析測定部のところへ行って
コントロール試料をセットし、また、残量を確認しなけ
ればならない。通常、サンプリング位置は構成上、安全
上、操作性上の理由により分析部背面にあることが多
く、装置使用者は装置周辺を歩き回わらなければならな
い。
は測定の前の準備として各分析測定部のところへ行って
コントロール試料をセットし、また、残量を確認しなけ
ればならない。通常、サンプリング位置は構成上、安全
上、操作性上の理由により分析部背面にあることが多
く、装置使用者は装置周辺を歩き回わらなければならな
い。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】このように、従来にお
ける自動分析装置においては、コントロール試料を割り
込ませるために多くの労力を必要とするという欠点があ
った。
ける自動分析装置においては、コントロール試料を割り
込ませるために多くの労力を必要とするという欠点があ
った。
【０００９】この発明はこのような従来の課題を解決す
るためになされたもので、その目的とするところは、コ
ントロール試料の割り込みを容易に行なうことのできる
自動分析装置を提供することにある。
るためになされたもので、その目的とするところは、コ
ントロール試料の割り込みを容易に行なうことのできる
自動分析装置を提供することにある。
【００１０】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は、複数の試料をレーン上で搬送し、該レー
ンの経路近傍にある分析部にて順次自動分析を行ない、
測定結果を得る自動分析装置において、分析精度を確認
するための精度管理試料が移送された際に、これを検知
する試料検知手段と、前記分析部の所定位置に設けられ
前記精度管理試料を保持する保持手段と、所定の制御指
令に従って前記移送された精度管理試料を分析部の保持
手段に保持させ、所定のタイミングで当該精度管理試料
のサンプリングを行なうべく制御する制御手段とを有す
ることが特徴である。
め、本発明は、複数の試料をレーン上で搬送し、該レー
ンの経路近傍にある分析部にて順次自動分析を行ない、
測定結果を得る自動分析装置において、分析精度を確認
するための精度管理試料が移送された際に、これを検知
する試料検知手段と、前記分析部の所定位置に設けられ
前記精度管理試料を保持する保持手段と、所定の制御指
令に従って前記移送された精度管理試料を分析部の保持
手段に保持させ、所定のタイミングで当該精度管理試料
のサンプリングを行なうべく制御する制御手段とを有す
ることが特徴である。
【００１１】
【作用】上述の如く構成された本発明によれば、コント
ロール試料（精度管理試料）はレーン上を移送され、試
料検出手段にて判別された後、自動的に保持される。そ
して、所定のタイミングでコントロール試料の測定が行
なわれる。このため、操作者の労力が著しく軽減され
る。
ロール試料（精度管理試料）はレーン上を移送され、試
料検出手段にて判別された後、自動的に保持される。そ
して、所定のタイミングでコントロール試料の測定が行
なわれる。このため、操作者の労力が著しく軽減され
る。
【００１２】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図１は本発明が適用された自動分析装置の一実施
例を示す構成図である。図示のように、この自動分析装
置はサンプラ１と、レーン２と、分析測定部３，４とに
大別して構成されている。
する。図１は本発明が適用された自動分析装置の一実施
例を示す構成図である。図示のように、この自動分析装
置はサンプラ１と、レーン２と、分析測定部３，４とに
大別して構成されている。
【００１３】サンプラ１は、測定しようとする多数の試
料１０を蓄えてレーン２へ送り出すとともに、レーン２
から送られた測定済の試料を保持するものであり、サン
プラ制御部１５によって制御される。
料１０を蓄えてレーン２へ送り出すとともに、レーン２
から送られた測定済の試料を保持するものであり、サン
プラ制御部１５によって制御される。
【００１４】レーン２は、サンプラ１から送り出された
試料１０を分析測定部３，４のサンプリング位置１２，
１３へと移送するものであり、レーン制御部１６によっ
て制御される。また、分析測定部３の上流側には各試料
１０に付されたバーコード等の識別記号を解読する試料
識別検出器１１が設けられている。
試料１０を分析測定部３，４のサンプリング位置１２，
１３へと移送するものであり、レーン制御部１６によっ
て制御される。また、分析測定部３の上流側には各試料
１０に付されたバーコード等の識別記号を解読する試料
識別検出器１１が設けられている。
【００１５】分析測定部３は、サンプリング位置１２に
移送された試料を分取して所望の測定を行なうものであ
り、試料容器から試料を採取するサンプリングプローブ
５と、採取された試料を蓄積する複数の反応管６と、測
定に必要な試薬が予め蓄えられる試薬設定部７と、各反
応管６内に分注された試料の濃度を測定する濃度測定部
８とを有している。そして、分析制御部９によって制御
される。また、サンプリング位置１２の分析測定部３と
はこの実施例では反対側に所定のコントロール試料を保
持する保持機構１７が設けられており、所定の測定回数
毎、又は所定時間毎にコントロール試料が採取されるよ
うになっている。また、符号１４は総合制御部であり、
当該分析装置を総括的に制御するものである。なお、分
析測定部４は分析測定部３と同一構成であるのでその構
成説明を省略する。
移送された試料を分取して所望の測定を行なうものであ
り、試料容器から試料を採取するサンプリングプローブ
５と、採取された試料を蓄積する複数の反応管６と、測
定に必要な試薬が予め蓄えられる試薬設定部７と、各反
応管６内に分注された試料の濃度を測定する濃度測定部
８とを有している。そして、分析制御部９によって制御
される。また、サンプリング位置１２の分析測定部３と
はこの実施例では反対側に所定のコントロール試料を保
持する保持機構１７が設けられており、所定の測定回数
毎、又は所定時間毎にコントロール試料が採取されるよ
うになっている。また、符号１４は総合制御部であり、
当該分析装置を総括的に制御するものである。なお、分
析測定部４は分析測定部３と同一構成であるのでその構
成説明を省略する。
【００１６】図２は保持機構１７，１８の詳細構成を示
す説明図である。図示のように、保持機構１７，１８は
円形状の保護壁２２内にテーブル２０が配設されてお
り、該テーブル２０にはコントロール試料３０の容器が
嵌合し得る形状で４つのツメ２３が穿設されている。ま
た、テーブル２０の中心部には該テーブル２０を回転さ
せるべく駆動源２１が設けられており、その周囲の各ツ
メ２３に対応する位置には、ツメ２３内にコントロール
試料３０が保持されているか否かを判定するための試料
検出器２８が具備されている。
す説明図である。図示のように、保持機構１７，１８は
円形状の保護壁２２内にテーブル２０が配設されてお
り、該テーブル２０にはコントロール試料３０の容器が
嵌合し得る形状で４つのツメ２３が穿設されている。ま
た、テーブル２０の中心部には該テーブル２０を回転さ
せるべく駆動源２１が設けられており、その周囲の各ツ
メ２３に対応する位置には、ツメ２３内にコントロール
試料３０が保持されているか否かを判定するための試料
検出器２８が具備されている。
【００１７】また、移送レーン２の移送ベルト１９によ
って移送されて来たコントロール試料３０をテーブル２
０内に保持させるため、コントロール試料３０を押えて
保持する２本の保持ピン２７と、これらの中間に設けら
れコントロール試料３０をテーブル２０のツメ２３側へ
押出す押出ピン２９とが移送レーン２の側部に設けられ
ている。
って移送されて来たコントロール試料３０をテーブル２
０内に保持させるため、コントロール試料３０を押えて
保持する２本の保持ピン２７と、これらの中間に設けら
れコントロール試料３０をテーブル２０のツメ２３側へ
押出す押出ピン２９とが移送レーン２の側部に設けられ
ている。
【００１８】試料アーム２４及び試料フック２５はコン
トロール試料３０をツメ２３から引き離すためのもので
あり、また、テーブル制御部２６はテーブル２０の動作
を制御するためのものである。
トロール試料３０をツメ２３から引き離すためのもので
あり、また、テーブル制御部２６はテーブル２０の動作
を制御するためのものである。
【００１９】図３は総合制御部１４の詳細な構成を示す
ブロック図である。図示のように、総合制御部１４はデ
ータや動作条件の確認を行なうための画面表示を行なう
表示部３７と、データや動作条件を入力するキーボード
３１と、データや動作条件を記憶する記憶部３２と、こ
れらの制御中枢としてのＣＰＵ３３と、時間を計測する
時刻計測部３４と、他の制御部との伝達を行なう伝送路
３６及びインターフェイス３５から構成されている。
ブロック図である。図示のように、総合制御部１４はデ
ータや動作条件の確認を行なうための画面表示を行なう
表示部３７と、データや動作条件を入力するキーボード
３１と、データや動作条件を記憶する記憶部３２と、こ
れらの制御中枢としてのＣＰＵ３３と、時間を計測する
時刻計測部３４と、他の制御部との伝達を行なう伝送路
３６及びインターフェイス３５から構成されている。
【００２０】次に、本実施例の動作について説明する。
まず、測定に先立って、当該分析装置が正常に測定動作
ができるように準備動作を行う必要がある。これはスタ
ートアップ動作と呼ばれ、図３に示すキーボード３１と
表示部３７とからスタートアップ動作の内容を入力し、
開始を指示すると、ＣＰＵ３３は必要な情報と動作の開
始命令を伝送路３６を介して図１，２に示す各制御部
９，１５，１６，２６に伝送する。
まず、測定に先立って、当該分析装置が正常に測定動作
ができるように準備動作を行う必要がある。これはスタ
ートアップ動作と呼ばれ、図３に示すキーボード３１と
表示部３７とからスタートアップ動作の内容を入力し、
開始を指示すると、ＣＰＵ３３は必要な情報と動作の開
始命令を伝送路３６を介して図１，２に示す各制御部
９，１５，１６，２６に伝送する。
【００２１】スタートアップでは、測定を行えるように
準備動作を行うことが目的であり、サンプリングプロー
ブ５や反応管６の洗浄動作などが行われる。加えて、試
料保持機構１７，１８に不要な試料が保持されていない
かをチェックし、あればテーブル２０を回転させ、試料
アーム２４、移送ベルト１９などを動作させて、その排
出動作が行われる。排出された事は表示部３０により操
作者に報告され、排出された試料は移送レーン２を移動
し、サンプラ１に戻ってくる。
準備動作を行うことが目的であり、サンプリングプロー
ブ５や反応管６の洗浄動作などが行われる。加えて、試
料保持機構１７，１８に不要な試料が保持されていない
かをチェックし、あればテーブル２０を回転させ、試料
アーム２４、移送ベルト１９などを動作させて、その排
出動作が行われる。排出された事は表示部３０により操
作者に報告され、排出された試料は移送レーン２を移動
し、サンプラ１に戻ってくる。
【００２２】その後、図１に示すサンプラ１に試料１０
がセットされ移送レーン２に送り出されると、試料１０
は移送レーン２の移送ベルトによって分析測定部３，４
側へ送り出される。そして、試料識別検出器１１によっ
て試料の種別が識別され、各分析測定部３，４のサンプ
リング位置１２，１３で停止し、サンプリングプローブ
５によって試料１０が反応管６に必要量分取される。
がセットされ移送レーン２に送り出されると、試料１０
は移送レーン２の移送ベルトによって分析測定部３，４
側へ送り出される。そして、試料識別検出器１１によっ
て試料の種別が識別され、各分析測定部３，４のサンプ
リング位置１２，１３で停止し、サンプリングプローブ
５によって試料１０が反応管６に必要量分取される。
【００２３】反応管６は順次移動し、測定項目に対応す
る反応試薬が試薬設定部７により試料の入っている反応
管６に分注され、その反応過程が濃度測定部８により測
定される。そして、その測定結果は分析制御部９を介し
て総合制御部１４に送られる。また、分析制御部９は、
総合制御部１４から、測定に必要な情報（サンプル量や
試薬の種類など）を前もって、あるいは、測定中に受取
り、分析測定部３，４の全体の動作を制御する。
る反応試薬が試薬設定部７により試料の入っている反応
管６に分注され、その反応過程が濃度測定部８により測
定される。そして、その測定結果は分析制御部９を介し
て総合制御部１４に送られる。また、分析制御部９は、
総合制御部１４から、測定に必要な情報（サンプル量や
試薬の種類など）を前もって、あるいは、測定中に受取
り、分析測定部３，４の全体の動作を制御する。
【００２４】通常、試料１０はレーン２を移動し、最初
に分析測定部３でサンプリングされ、次に移送レーン２
を移動し、分析測定部４でサンプリングされる。サンブ
リングされる試料は、各分析測定部３，４の受け持つ別
々の項目の測定のために使用される。そして、分析測定
部４でサンプリングされた試料１０は、移送レーン２を
移動しサンプラ１に戻される。
に分析測定部３でサンプリングされ、次に移送レーン２
を移動し、分析測定部４でサンプリングされる。サンブ
リングされる試料は、各分析測定部３，４の受け持つ別
々の項目の測定のために使用される。そして、分析測定
部４でサンプリングされた試料１０は、移送レーン２を
移動しサンプラ１に戻される。
【００２５】サンプラ１中では、まだ測定されていない
新規の試料群とサンプリンク済の試料群に分割されて保
持されている。また、サンプリング済みのものでも、再
検査の指示があったものは、サンプラ制御部１５の制御
下で新規の試料群に自動的に挿入される。そして、その
制御の元になる情報などは総合制御部１４とのデータ伝
送で送受信されている。
新規の試料群とサンプリンク済の試料群に分割されて保
持されている。また、サンプリング済みのものでも、再
検査の指示があったものは、サンプラ制御部１５の制御
下で新規の試料群に自動的に挿入される。そして、その
制御の元になる情報などは総合制御部１４とのデータ伝
送で送受信されている。
【００２６】移送レーン２の制御は、レーン制御部１６
により行われ、この制御の元になる情報もやはり総合制
御部１４とのデータ送受信で得られる。そして、総合制
御部１４では例えば、サンプラ１に新規の試料が残って
いることを、サンプラ制御部１５からの情報で判断し、
それが送り出し可能な状態になったことがサンプラ制御
部１５から得られれば、総合制御部１４は、移送レーン
制御部１６に指示し、移送レーン制御部１６が試料受取
可能であれば、試料１０を移送レーンに送出するよう
に、サンプラ制御部１５とレーン制御部１６に命令を送
る。これにより、試料１０は移送レーン２に送り出され
る。また、総合制御１４が記憶している情報は例えば以
下に示す如くである。 （１）分析測定部ごとの保持機構部１７，１８にどのよ
うな試料を保持させるかの情報（保持試料種別情報） （２）保持試料がコントロール試料の場合に、どのよう
な周期でサンプリングするかを決める情報（例えば、患
者検体を何検体測定する都度、経過時間などのサンプリ
ング・インターバル情報） （３）保持機構部１７，１８に試料が保持された時刻
を、時刻計測部３２の時刻に基づいて、それぞれに記憶
する部分（保持時刻情報） （４）保持機構部１７，１８に保持されている試料の有
無と種別の情報（実保持試料種別情報） （５）保持機構部１７，１８に保持されている試料毎の
残量の情報（実保持試料残量情報） これらの情報は、記憶部３２に記憶され、ＣＲＴ表示部
３７で確認でき、キーボード３１内で内容を随時書き換
えることができる。
により行われ、この制御の元になる情報もやはり総合制
御部１４とのデータ送受信で得られる。そして、総合制
御部１４では例えば、サンプラ１に新規の試料が残って
いることを、サンプラ制御部１５からの情報で判断し、
それが送り出し可能な状態になったことがサンプラ制御
部１５から得られれば、総合制御部１４は、移送レーン
制御部１６に指示し、移送レーン制御部１６が試料受取
可能であれば、試料１０を移送レーンに送出するよう
に、サンプラ制御部１５とレーン制御部１６に命令を送
る。これにより、試料１０は移送レーン２に送り出され
る。また、総合制御１４が記憶している情報は例えば以
下に示す如くである。 （１）分析測定部ごとの保持機構部１７，１８にどのよ
うな試料を保持させるかの情報（保持試料種別情報） （２）保持試料がコントロール試料の場合に、どのよう
な周期でサンプリングするかを決める情報（例えば、患
者検体を何検体測定する都度、経過時間などのサンプリ
ング・インターバル情報） （３）保持機構部１７，１８に試料が保持された時刻
を、時刻計測部３２の時刻に基づいて、それぞれに記憶
する部分（保持時刻情報） （４）保持機構部１７，１８に保持されている試料の有
無と種別の情報（実保持試料種別情報） （５）保持機構部１７，１８に保持されている試料毎の
残量の情報（実保持試料残量情報） これらの情報は、記憶部３２に記憶され、ＣＲＴ表示部
３７で確認でき、キーボード３１内で内容を随時書き換
えることができる。
【００２７】そして、コントロール試料による測定を行
なう際には、操作者は図１に示すサンプラ１の先頭部分
に、所定のコントロール試料をまとめて配置する。従っ
て、装置のスタートアップが終了すると、測定に先立っ
てコントロール試料が移送レーン２によって移送され、
各サンプリング位置１２，１３で停止する。そして、所
定の制御指令により、保持機構１７，１８に保持され
る。また、この操作をスタートアップ動作時に行なえば
時間効率が良くなる。
なう際には、操作者は図１に示すサンプラ１の先頭部分
に、所定のコントロール試料をまとめて配置する。従っ
て、装置のスタートアップが終了すると、測定に先立っ
てコントロール試料が移送レーン２によって移送され、
各サンプリング位置１２，１３で停止する。そして、所
定の制御指令により、保持機構１７，１８に保持され
る。また、この操作をスタートアップ動作時に行なえば
時間効率が良くなる。
【００２８】送り出されたコントロール試料は、移送レ
ーン２を移動し試料識別検出器１１で種別を弁別され、
その情報が移送レーン制御部１６から統合制御部１４に
伝えられる。そして、ＣＰＵ３３は、記憶部３２中の保
持試料種別情報を参照し、一致すれば移送レーン制御部
１６とテーブル制御部２６にこの結果を通知する。これ
によって、当該コントロール試料はサンプリング位置１
２に到達したところで、押出しピン２９によって押出さ
れ所定の位置に回転移動したテーブル２０のツメ２３の
部分に保持される。
ーン２を移動し試料識別検出器１１で種別を弁別され、
その情報が移送レーン制御部１６から統合制御部１４に
伝えられる。そして、ＣＰＵ３３は、記憶部３２中の保
持試料種別情報を参照し、一致すれば移送レーン制御部
１６とテーブル制御部２６にこの結果を通知する。これ
によって、当該コントロール試料はサンプリング位置１
２に到達したところで、押出しピン２９によって押出さ
れ所定の位置に回転移動したテーブル２０のツメ２３の
部分に保持される。
【００２９】その後、一般の試料１０が順次移送されサ
ンプリングが行なわれると、サンプリングの回数が計測
され、ＣＰＵ３３はこの計測回数と記憶部３２に記憶さ
れているサンプリングインターバル情報の回数値とを比
較し、一致したところでこの一致情報を分析制御部９、
テーブル制御部２６、及びレーン制御部１６に伝える。
なお、計測回数でなく経過時間でコントロール試料の測
定を行なう際には、測定開始時刻及び前回のコントロー
ル試料測定時刻を記憶し、所定の時間が経過した時点で
これを各制御部９，２６，１６に伝える。
ンプリングが行なわれると、サンプリングの回数が計測
され、ＣＰＵ３３はこの計測回数と記憶部３２に記憶さ
れているサンプリングインターバル情報の回数値とを比
較し、一致したところでこの一致情報を分析制御部９、
テーブル制御部２６、及びレーン制御部１６に伝える。
なお、計測回数でなく経過時間でコントロール試料の測
定を行なう際には、測定開始時刻及び前回のコントロー
ル試料測定時刻を記憶し、所定の時間が経過した時点で
これを各制御部９，２６，１６に伝える。
【００３０】そして、一致情報が与えられると、サンプ
リング位置１２，１３に新たな一般検体が到達しないよ
うに保持ピン２７が動作する。その後、テーブル２９の
回転により対応する試料がサンプリング位置１２に対向
され、試料アーム２４と試料フック２５によりサンプリ
ング位置に押出される。その後、図１に示すサンプリン
グプローブ５によって、コントロール試料のサンプリン
グが行なわれる。このとき、サンプリングされたコント
ロール試料の保持時刻の情報を測定結果に付加する。
リング位置１２，１３に新たな一般検体が到達しないよ
うに保持ピン２７が動作する。その後、テーブル２９の
回転により対応する試料がサンプリング位置１２に対向
され、試料アーム２４と試料フック２５によりサンプリ
ング位置に押出される。その後、図１に示すサンプリン
グプローブ５によって、コントロール試料のサンプリン
グが行なわれる。このとき、サンプリングされたコント
ロール試料の保持時刻の情報を測定結果に付加する。
【００３１】その後、必要回数分サンプリングされる
と、試料アーム２４はテーブル２０側へ戻り、押出しピ
ン２５により試料がテーブル２０の元のツメ２３の位置
に戻る。そして、テーブル２０は、次に必要なコントロ
ール試料があればその位置に移動し、以下上記動作を繰
り返す。全てのテーブル２０上の試料のサンプリングが
終了すると保持ピン２７は戻り、移送レーン２上の試料
のサンプリングが再開されるのである。
と、試料アーム２４はテーブル２０側へ戻り、押出しピ
ン２５により試料がテーブル２０の元のツメ２３の位置
に戻る。そして、テーブル２０は、次に必要なコントロ
ール試料があればその位置に移動し、以下上記動作を繰
り返す。全てのテーブル２０上の試料のサンプリングが
終了すると保持ピン２７は戻り、移送レーン２上の試料
のサンプリングが再開されるのである。
【００３２】また、テーブル２０に保持すべくコントロ
ール試料はサンプラ１に任意のタイミングで置くことが
できる。つまり、操作者はコントロール試料を置く位置
を考慮することはなく、２０に保持されたコントロール
試料の残量が少なくなった頃合いを見て新たなコントロ
ール試料を用意すれば良い。新たに置かれたコントロー
ル試料は移送レーン２に移り、テーブル２０の所に移動
され、このコントロール試料がその位置に対応する試料
であれば、テーブル２０が回転し、交換する試料は試料
アーム２４と試料フック２５により移送レーン２に排出
される。この時、先の交換される試料は、保持ピン２７
により手前の位置で待機している。そして、保持ピン２
７の右側が開き、テーブル２０より排出された試料は移
送レーン２を移動していく。その後、保持ピン２７右が
閉じ保持ピン２７左が今度は開き、待機していた新しい
コントロール試料がサンプリング位置１２に移動し、押
し出しピン２５によりテーブル２０に保持される。そし
てその保持時刻が更新される。これが、コントロール試
料の交換手順となる。また、テーブル上のコントロール
試料はその保持時刻から、保持されている経過時間を総
合制御部１４により常時計算されている。
ール試料はサンプラ１に任意のタイミングで置くことが
できる。つまり、操作者はコントロール試料を置く位置
を考慮することはなく、２０に保持されたコントロール
試料の残量が少なくなった頃合いを見て新たなコントロ
ール試料を用意すれば良い。新たに置かれたコントロー
ル試料は移送レーン２に移り、テーブル２０の所に移動
され、このコントロール試料がその位置に対応する試料
であれば、テーブル２０が回転し、交換する試料は試料
アーム２４と試料フック２５により移送レーン２に排出
される。この時、先の交換される試料は、保持ピン２７
により手前の位置で待機している。そして、保持ピン２
７の右側が開き、テーブル２０より排出された試料は移
送レーン２を移動していく。その後、保持ピン２７右が
閉じ保持ピン２７左が今度は開き、待機していた新しい
コントロール試料がサンプリング位置１２に移動し、押
し出しピン２５によりテーブル２０に保持される。そし
てその保持時刻が更新される。これが、コントロール試
料の交換手順となる。また、テーブル上のコントロール
試料はその保持時刻から、保持されている経過時間を総
合制御部１４により常時計算されている。
【００３３】経過時間が超過した場合、総合制御部１４
は表示部３７にアラームメッセージを表示する。（ブザ
ーなども鳴動させる。）オペレータは、このメッセージ
によりそのコントロール試料を特定し、サンプラ１に新
しいコントロール試料をセットする。後は前記のコント
ロール試料の交換手順のような動作を行い、古いコント
ロール試料が交換される。
は表示部３７にアラームメッセージを表示する。（ブザ
ーなども鳴動させる。）オペレータは、このメッセージ
によりそのコントロール試料を特定し、サンプラ１に新
しいコントロール試料をセットする。後は前記のコント
ロール試料の交換手順のような動作を行い、古いコント
ロール試料が交換される。
【００３４】また、テーブル２０には、コントロール試
料の他にも保持されている場合もある。このような場
合、指定によりコントロール試料と同じように、患者検
体を指定回数サンプリングする毎に洗剤を吸引し、プロ
ーブを洗浄する。また、測定動作が終了しＷＡＳＨ動作
を行う場合、テーブル２０に保持されている洗剤を用い
ることもできる。これら洗剤は、サンプラ１にセットす
ることで、移送レーン２を経て、テーブル２０に保持さ
れる。洗剤をサンプラ１にセットするのは、ＷＡＳＨ動
作時に限らず、先の説明のように測定中でも構わない。
これにより、ＷＡＳＨ動作の実行時間が短縮される。ま
た、複数保持できるので、洗浄の目的に合った洗剤を使
うことができる。
料の他にも保持されている場合もある。このような場
合、指定によりコントロール試料と同じように、患者検
体を指定回数サンプリングする毎に洗剤を吸引し、プロ
ーブを洗浄する。また、測定動作が終了しＷＡＳＨ動作
を行う場合、テーブル２０に保持されている洗剤を用い
ることもできる。これら洗剤は、サンプラ１にセットす
ることで、移送レーン２を経て、テーブル２０に保持さ
れる。洗剤をサンプラ１にセットするのは、ＷＡＳＨ動
作時に限らず、先の説明のように測定中でも構わない。
これにより、ＷＡＳＨ動作の実行時間が短縮される。ま
た、複数保持できるので、洗浄の目的に合った洗剤を使
うことができる。
【００３５】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
分析精度を確認するための精度管理試料（コントロール
試料）が自動で保持され、所定のタイミングでサンプリ
ングが行なわれる。従って、操作者の労力が大幅に軽減
され、また、コントロール試料の使用量を節約すること
ができるという効果が得られる。
分析精度を確認するための精度管理試料（コントロール
試料）が自動で保持され、所定のタイミングでサンプリ
ングが行なわれる。従って、操作者の労力が大幅に軽減
され、また、コントロール試料の使用量を節約すること
ができるという効果が得られる。
【図１】本発明が適用された自動分析装置の実施例を示
す構成図である。
す構成図である。
【図２】コントロール試料の保持機構を示す構成図であ
る。
る。
【図３】総合制御部の詳細な構成を示すブロック図であ
る。
る。
１ サンプラ ２ 移送レーン ３，４ 分析測定
部 １０ 試料 １１ 試料識別検出器 １２，１３ サンプリング位
置 １４ 総合制御部 １７，１８ 保持機構 ２０
テーブル
部 １０ 試料 １１ 試料識別検出器 １２，１３ サンプリング位
置 １４ 総合制御部 １７，１８ 保持機構 ２０
テーブル
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 1/00 G01N 35/10 ＪＩＣＳＴファイル（ＪＯＩＳ)
Claims (5)
- 【請求項１】 複数の試料をレーン上で搬送し、該レー
ンの経路近傍にある分析部にて順次自動分析を行ない、
測定結果を得る自動分析装置において、 分析精度を確認するための精度管理試料が移送された際
に、これを検知する試料検知手段と、 前記分析部の所定位置に設けられ前記精度管理試料を保
持する保持手段と、 所定の制御指令に従って前記移送された精度管理試料を
分析部の保持手段に保持させ、所定のタイミングで当該
精度管理試料のサンプリングを行なうべく制御する制御
手段と、 を有することを特徴とする自動分析装置。 - 【請求項２】 前記保持手段は洗浄液を保持可能である
請求項１記載の自動分析装置。 - 【請求項３】 前記制御手段は、前記精度管理試料が保
持手段に保持された時刻を記録し、これを測定結果に付
加する請求項１記載の自動分析装置。 - 【請求項４】 前記制御手段は、前記精度管理試料が保
持手段に保持されてからの時間が予め設定された所定の
時間を越えた際に警報を出力する請求項１記載の自動分
析装置。 - 【請求項５】 前記制御手段は、保持手段にて保持され
ている精度管理試料の残量が所定量以下となった際に警
報を出力する請求項１記載の自動分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP87593A JP3226233B2 (ja) | 1993-01-07 | 1993-01-07 | 自動分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP87593A JP3226233B2 (ja) | 1993-01-07 | 1993-01-07 | 自動分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06201536A JPH06201536A (ja) | 1994-07-19 |
| JP3226233B2 true JP3226233B2 (ja) | 2001-11-05 |
Family
ID=11485851
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP87593A Expired - Fee Related JP3226233B2 (ja) | 1993-01-07 | 1993-01-07 | 自動分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3226233B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003302408A (ja) * | 2002-04-11 | 2003-10-24 | Aloka Co Ltd | 検体処理システム |
| CN102645545A (zh) * | 2008-03-07 | 2012-08-22 | 希森美康株式会社 | 分析仪及其运送装置 |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000028620A (ja) * | 1999-07-07 | 2000-01-28 | Hitachi Ltd | 多検体分析システム |
| JP2001153875A (ja) * | 1999-11-29 | 2001-06-08 | Olympus Optical Co Ltd | 自動分析装置 |
| JP2004271265A (ja) * | 2003-03-06 | 2004-09-30 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
| JP4525624B2 (ja) * | 2006-03-23 | 2010-08-18 | 日立化成工業株式会社 | 自動分析装置 |
| US7681466B2 (en) * | 2007-05-01 | 2010-03-23 | Siemens Healthcare Diagnostics Inc. | Programmable random access sample handler for use within and automated laboratory system |
| JP5198095B2 (ja) * | 2008-03-07 | 2013-05-15 | シスメックス株式会社 | 分析装置および分析方法 |
| WO2009110583A1 (ja) | 2008-03-07 | 2009-09-11 | シスメックス株式会社 | 分析装置および測定ユニット |
| JP5198096B2 (ja) * | 2008-03-07 | 2013-05-15 | シスメックス株式会社 | 分析装置 |
| JP5315044B2 (ja) * | 2008-12-26 | 2013-10-16 | シスメックス株式会社 | 検体検査装置 |
| JP2011149747A (ja) * | 2010-01-20 | 2011-08-04 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
| JP5668128B2 (ja) * | 2013-12-16 | 2015-02-12 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 洗浄用容器および臨床検査用分析装置 |
-
1993
- 1993-01-07 JP JP87593A patent/JP3226233B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003302408A (ja) * | 2002-04-11 | 2003-10-24 | Aloka Co Ltd | 検体処理システム |
| CN102645545A (zh) * | 2008-03-07 | 2012-08-22 | 希森美康株式会社 | 分析仪及其运送装置 |
| CN102645545B (zh) * | 2008-03-07 | 2014-01-29 | 希森美康株式会社 | 分析仪及其运送装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06201536A (ja) | 1994-07-19 |
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Legal Events
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