JP2011149747A - 自動分析装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】分析部に設置された試薬に対して分析項目単位で精度管理試料を自動的に測定する時間間隔をタイムアウト時間として設定し、前記タイムアウト時間を経過した分析項目を分析する分析部に自動で前記バッファに保管された精度管理試料を搬送するよう制御する制御部と、を備えた自動分析装置であって、前記制御部は、前記タイムアウト時間を経過した分析項目に関する精度管理試料測定の依頼と共に、前記タイムアウト時間が経過する前の分析項目に関する精度管理試料の測定依頼をする。
【選択図】図7
Description
つまり、図1に示したタイムアウト時間に従う場合、1:00に項目A及び項目Cに対して、2:00に項目Bに対してタイムアウトが発生する。各タイムアウト発生時刻には、自動的に精度管理測定の依頼を作成し、精度管理試料が架設されたラックを分析ユニットに搬送して測定を実施する。
ある分析項目に関してタイムアウトが発生した時刻において、上記式を満たす他の分析項目が存在する場合には、当該他の分析項目に対してもタイムアウト扱いとして、測定依頼を立てる。なお、精度管理試料不足が発生した場合や装置のメカトラブルが発生した場合など何らかの問題で精度管理試料が測定できなかった項目に関しても纏めて依頼することとなる。
2 ID読取部
3 搬送ライン
4 再検査用搬送ライン
5,6,7,8 分析ユニット
9 検体ラック待機部
10 検体ラック回収部
11 全体管理用コンピュータ
12,13,14,15,16 制御用コンピュータ
18 操作部
19 表示部
20,21,22,23 引込線
30 サンプル分注機構
31 反応容器
32 試薬分注機構
33 試薬保管部
40 バッファ
801 タイムアウト項目一括分析設定チェックボックス
802 タイムアウト項目一括分析範囲時間設定エディットボックス
803 OKボタン
804 Cancelボタン
1001 項目リスト
1002 タイムアウト一括分析設定チェックボックス
1003 タイムアウト一括分析範囲時間設定エディットボックス
1004 更新ボタン
Claims (8)
- 生体試料及び精度管理試料の測定を行う少なくとも一つ以上の分析部と、
前記精度管理試料を保管するバッファと、
分析項目単位で、精度管理試料を測定する間隔をタイムアウト時間として記憶する記憶部と、
前記タイムアウト時間が経過した分析項目に対して精度管理試料の測定を依頼する制御部と、
前記依頼に従って前記バッファに保管された前記精度管理試料を、前記搬送レーンを通って前記分析項目を分析する前記分析部に搬送する搬送レーンと、を備えた自動分析装置であって、
前記制御部は、前記タイムアウト時間が経過した分析項目に対する精度管理試料測定の依頼をすると共に、当該分析項目以外であって前記タイムアウト時間を経過する前の他の分析項目に対する精度管理測定を依頼することを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1記載の自動分析装置において、
前記制御部は、いずれかの前記分析項目において前記タイムアウト時間の経過を検知した場合、当該分析項目以外であって、予め設定した一括分析範囲時間内にタイムアウトする予定にある他の分析項目に対する精度管理測定をまとめて依頼することを特徴とする自動分析装置。 - 請求項2記載の自動分析装置において、
前記一括分析範囲時間内にタイムアウトする予定にある他の分析項目に関する精度管理測定をまとめて依頼するか否かを選択する選択手段を備えたことを特徴とする自動分析装置。 - 請求項2記載の自動分析装置において、
前記タイムアウト時間または前記一括分析範囲時間の少なくともいずれかを設定する設定手段を備えたことを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1記載の自動分析装置において、
精度管理測定依頼の作成を纏めて作成するか否かを分析項目単位で選択する選択手段を備えたことを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1記載の自動分析装置において、
前記一括分析範囲時間を分析項目単位で設定する設定手段を備えることを特徴とする自動分析装置。 - 請求項4または6記載の自動分析装置において、
前記入力手段により前記一括分析範囲時間が、前記タイムアウト時間よりも長く設定された場合には、その旨をユーザーに通知する通知手段を備えたことを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1〜7いずれか1項記載の自動分析装置において、
前記制御手段は、いずれかの分析項目において前記タイムアウト時間が経過した場合、
当該分析項目と共に当該分析項目以外であって、異常発生により前回の精度管理測定を実施できなかった分析項目についての精度管理測定を依頼することを特徴とする自動分析装置。
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