JP3214486B2 - 電子部品の実装構造 - Google Patents

電子部品の実装構造

Info

Publication number
JP3214486B2
JP3214486B2 JP08262099A JP8262099A JP3214486B2 JP 3214486 B2 JP3214486 B2 JP 3214486B2 JP 08262099 A JP08262099 A JP 08262099A JP 8262099 A JP8262099 A JP 8262099A JP 3214486 B2 JP3214486 B2 JP 3214486B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electronic component
reinforcing
mounting structure
wiring board
solder
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP08262099A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2000277884A (ja
Inventor
泰嗣 白川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP08262099A priority Critical patent/JP3214486B2/ja
Publication of JP2000277884A publication Critical patent/JP2000277884A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3214486B2 publication Critical patent/JP3214486B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L24/10, H01L24/18, H01L24/26, H01L24/34, H01L24/42, H01L24/50, H01L24/63, H01L24/71
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16151Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16225Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子部品の実装構
造に関し、特に、BGA(ボールグリッドアレイ)の物
理的接続強度を補強し、BGAの搭載位置を容易に位置
合わせすることができるとともに、外形寸法の異なるB
GAに柔軟に対応することができる電子部品の実装構造
に関する。
【0002】
【従来の技術】BGAは、半田ボールを外部電極とする
実装構造としてあるので、ばね性を有するQFPリード
フレームのような衝撃吸収効果がない。このため、BG
Aまたは配線基板が物理的な衝撃を受けたときなどに、
半田ボールの接続部、具体的には、半田ボールとBGA
電極との接続部、または、半田ボールと配線基板の基板
電極との接続部において半田クラックが発生し易く、物
理的接続信頼性に乏しいという問題があった。
【0003】この問題を解決する技術として、特開平1
0−209212号公報において開示された接合構造に
関する技術がある。この技術によると、半導体パッケー
ジに設けられた装着接合ピンにより、半導体パッケージ
の物理的接続信頼性を向上させることができる。また、
装着接合ピンをガイドピンとして使用すると、BGAの
搭載位置を容易に位置合わせすることができる。しか
し、BGAの購入に際しては、購入コストの削減と生産
数量確保のために複数の半導体装置メーカから購入して
いる。ところが、BGAは各社各様の形態で生産されて
おり、異なる特定仕様のピンの付いたBGAを使用し
て、基板設計及び生産活動をすることは実際上不可能で
あるという問題があった。
【0004】このため、特定仕様のピン等の付いていな
いBGAを複数の半導体装置メーカから購入し、一般的
には、アンダーフィル技術を用いて、BGAの物理的接
続信頼性を向上させていた。この技術は、アンダーフィ
ルという加熱硬化型接着剤をBGAの下面と配線基板の
間に充填するように流し込み、BGAの下面と配線基板
を接着することにより、半田ボールの接続部のクラック
発生を防止する技術である。しかし、アンダーフィル技
術では、BGAの交換が必要となった場合に、配線基板
に損傷を与えることなく、BGAだけを取り外すことが
できないので、かかる場合には、配線基板がスクラップ
となってしまうといった問題があった。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記の問題
を解決すべくなされたものであり、BGA等の電子部品
を取り外す際に配線基板等に損傷を与えることなく、電
子部品の物理的接続強度を補強し、かつ、電子部品の交
換作業を容易に行うことができる電子部品の実装構造の
提供を目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明における請求項1記載の電子部品の実装構造
は、半田ボール等を外部接続子とする電子部品の実装構
造において、前記電子部品が実装される被搭載物上の電
極の周辺に配設された、それぞれ位置決め孔を有する複
数の補強パッドと、中央部をフォーミング加工して水平
方向にヘアピン状に突き出した補強部材とを有し、前記
補強パッドの位置決め孔に前記補強部材の一端を挿入し
て半田付けするとともに、前記電子部品の側面を前記補
強部材の他端の側面に当接させて接着接合する構成とし
て有る。
【0007】請求項2記載の発明は、上記請求項1に記
載の電子部品の実装構造において、前記補強部材の水平
方向に突き出した部分が、前記電子部品と前記被搭載物
の間に位置し、前記電子部品と前記被搭載物の距離を一
定に保つ構成としてある。
【0008】請求項3記載の発明は、上記請求項1又は
2に記載の電子部品の実装構造において、前記補強部材
を、ピンで形成した構成としてある。
【0009】請求項4記載の発明は、上記請求項1又は
2に記載の電子部品の実装構造において、前記補強部材
を、板部材で形成した構成としてある。
【0010】
【0011】
【0012】
【0013】
【発明の実施の形態】以下、本発明の第一実施形態に係
る電子部品の実装構造について、図面を参照して説明す
る。図1は、第一実施形態における電子部品の実装構造
の概略模式拡大図であり、(a)は平面図を、(b)は
側面図を示している。同図において、1は実装構造であ
り、電子部品20は被搭載物30に実装され、四個の補
強部材10により物理的接続強度を補強した構造として
ある。
【0014】電子部品20は、半導体部品21と半田ボ
ール22から構成してあり、半田ボール22が半導体部
品21の下面にマトリックス状に配設されたボールグリ
ッドアレイ(Ball Glid Array、以下、
BGAと総称する。)としてあり、被搭載物30に実装
してある。
【0015】被搭載物30は、半田ボール22が接続さ
れる基板電極33を有する配線基板31であり、マトリ
ックス状に配設された基板電極33の対角線上に補強パ
ッド32を四個設けてある。ここで、補強パッド32
は、その中央部に位置決め孔34が設けてあり、補強部
材10が挿入され半田付けしてある。また、好ましく
は、補強パッド32を配線基板31の下面にも同様に設
け、補強部材10を突出させて半田付けすると良い。こ
のようにすると、補強部材10の半田付け強度を向上さ
せることができる。
【0016】補強部材10は、ほぼ中央部から直角に折
り曲げるフォーミング加工が施された補強ピン11から
なり、一方の先端は位置決め孔34に挿入され補強パッ
ド32に半田付けされ、他方の先端は半導体部品21の
上面に係止するように載置され、接着剤12により半導
体部品21の上面に接着接合してある。このようにする
と、配線基板31を凸状に反らせるような外力が作用す
ると、電子部品20の四隅の半田ボール22が最も応力
を受けることになり、補強ピン11がこの外力を受けて
半田ボール22の接続部にはこの外力が作用しないの
で、半田ボール22の接続部にクラックが発生すること
を効果的に防止することができる。
【0017】また、接着剤12は、半導体部品21と補
強ピン11の一方の先端にのみ塗布され、補強ピン11
の他方の先端は、基板電極33に半田付けされているの
で、電子部品20は、半田ボール22及び補強パッド3
2の半田13を溶融させて取り外すことができる。な
お、この取り外し時には、配線基板31は通常の熱スト
レスを受けるが、基板電極33が剥がれてしまうといっ
た不具合が発生することはない。
【0018】また、位置決め孔34は、半導体部品21
の外形の外側に設けてあるので、この範囲内であれば、
半導体部品21の外形が大きくなる変更に対して対応可
能である。また、補強ピン11の先端が半導体部品21
の表面に係止する範囲内であれば、半導体部品21の外
形が小さくなる変更に対しても対応可能である。
【0019】次に、上述した電子部品20及び補強ピン
11の配線基板31への実装手順について説明する。初
めに、電子部品20は、部品が実装されていない配線基
板31に、他の部品と一緒にチップマウンター等で実装
される。ここで、配線基板31が両面実装基板であると
きは、配線基板31の両面実装を完了させる。次に、補
強ピン11の一方の先端が半導体部品21の上面に係止
するように、他方の先端を位置決め孔34に挿入し補強
パッド32に半田付けする。そして、半導体部品21に
係止された補強ピン11の先端部分を半導体部品21の
上面に、加熱硬化型の接着剤12で接着接合する。ここ
で、この接合は加熱硬化型の接着剤12による接合に限
定されるものではなく、半導体部品21の上面にダミー
電極を設けて、補強ピン11と半田接合させることもで
きる。
【0020】また、電子部品20を取り外すときは、図
2に示すように、局所的に加熱する局所加熱治具100
にて電子部品20を加熱し、半田ボール22及び半田1
3を溶融させて、電子部品20及び補強ピン11を一緒
に配線基板31から取り外すことができる。ここで、こ
の取り外しによって、配線基板31は熱ストレスを受け
るが、接着剤12は補強ピン11を半導体部品21のみ
に接着接合しているので、アンダーフィル技術のよう
に、基板電極33に接着剤が付着して基板電極33が剥
がれてしまうといったことがない。したがって、配線基
板31から電子部品20を取り外して、再度、電子部品
20を実装することができる。
【0021】上述したように、第一実施形態の電子部品
の実装構造1においては、電子部品20の配線基板31
への物理的接続強度を、補強ピン11を用いて向上させ
ることができるので、半田ボール22の半田接合部に半
田クラックが発生する危険性を低減できる。また、アン
ダーフィル技術のように、電子部品20を取り外す際
に、基板電極33が剥がれてしまうといったことがない
ので、配線基板31から電子部品20を取り外して、再
度、電子部品20を実装することができる。また、実装
構造1では、半導体部品21の外形寸法の変更に対して
も、上述した範囲内の寸法変更であれば、特に変更準備
をすることなく対応可能である。
【0022】なお、補強部材10は、上述した形状の補
強ピンに限定するものではなく、様々な形状にフォーミ
ング加工することができる。また、補強部材10は、補
強ピンに限定するものではなく、様々な形状にフォーミ
ング加工された板部材とすることもできる。
【0023】以下に、様々な形状にフォーミング加工さ
れた補強部材の実施形態について、図面を参照して説明
する。図3は、第二実施形態における電子部品の実装構
造の概略模式拡大図であり、(a)は平面図を、(b)
は断面図を示している。同図において、1aは実装構造
であり、電子部品20は配線基板31に実装され、四個
の補強ピン11aにより物理的接続強度を補強した構造
としてある。ここで、一個の補強ピン11aについて拡
大して図示してあるが、他の三個についても同様の構造
としてある。
【0024】補強ピン11aは、ヘアピン状に折り曲げ
られた両端を同じ位置からそれぞれ上下方向に折り曲げ
るフォーミング加工をしてあり、下方の一端は位置決め
孔34に挿入され補強パッド32に半田接合してある。
また、上方の一端は、半導体部品21の側面に接着剤1
2により接着接合してある。また、ヘアピン状の折り曲
げ部は、水平方向に突出しており、配線基板31の補強
パッド32と半導体部品21の下面に挟まれた構造とし
てある。
【0025】ここで、このヘアピン状の折り曲げ部の高
さ方向の寸法Hは、半田ボール22が基板電極33に当
接する寸法より小さく、かつ、半田ボール22が押しつ
ぶされて隣接する半田ボール22とブリッジ不良となる
寸法より大きい範囲内に設定する。このようにすると、
電子部品20と配線基板31の距離を一定とすることが
できるので、半田ボールの浮き不良やブリッジ不良を低
減することができる。また、好ましくは、電子部品20
を取り外して再度実装するときは、通常、取り外す際の
熱ストレスにより、配線基板31の反り等が大きくなっ
ているので、寸法Hを上記範囲内の低めに設定すると良
い。このようにすると、配線基板31の反り等を定量的
に吸収することができる。また、その他の構造について
は、第一実施形態と同様としてある。
【0026】次に、上述した電子部品20及び補強ピン
11aの配線基板31への実装手順について説明する。
予め、補強ピン11aを配線基板31の位置決め孔34
に挿入してから、電子部品20をチップマウンター等で
配線基板31に実装する。ここで、電子部品20が配線
基板31に搭載されるときは、寸法Hは半田ボール22
の直径より小さいので、半導体部品21の下面は補強ピ
ン11aに当接しない。そして、リフロー炉等により電
子部品20が加熱され半田ボール22が溶融すると、半
導体部品21が沈んで半導体部品21の下面が補強ピン
11aに当接する。
【0027】次に、補強ピン11aの下部の一端を補強
パッド32に半田付けする。ここで、補強ピン11aを
搭載する前に補強パッド32上に半田ペーストを塗布
し、半田ボール22の半田接合と同様にリフロー炉等に
より半田付けすることができる。そして、半導体部品2
1の側面に近接した補強ピン11aの上部の一端を、半
導体部品21の側面に加熱硬化型の接着剤12で接着接
合する。その他の実装手順については、第一実施形態と
同様である。
【0028】上述したように、第二実施形態の電子部品
の実装構造1aにおいては、電子部品20の配線基板3
1への物理的接続強度を、補強ピン11aを用いること
により向上させることができる。さらに、半導体部品2
1の下面と基板電極33との距離を一定に管理すること
ができるので、半田ボール22の半田付け品質を向上さ
せることができる。ここで、半導体部品21を取り外し
てから再度半導体部品21を実装するときは、通常、配
線基板31の反り等が大きくなっているので、非常に効
果的である。
【0029】次に、第三実施形態について図面を参照し
て説明する。図4は、第三実施形態における電子部品の
実装構造の概略模式拡大図であり、(a)は平面図を、
(b)は断面図を示している。同図において、1bは実
装構造であり、電子部品20は配線基板31に実装さ
れ、四個の補強ピン11bにより物理的接続強度を補強
した構造としてある。ここで、一個の補強ピン11bに
ついて拡大して図示してあるが、他の三個についても同
様の構造としてある。
【0030】補強ピン11bは、ヘアピン状に折り曲げ
られた一端を下方に折り曲げ、他端を下方への折り曲げ
位置より外側から上方に折り曲げるフォーミング加工を
してある。このようにすると、半導体部品21の外形寸
法が大きい寸法に変更になっても、補強ピン11bの上
方の一端は下方の一端より外側から折り曲げてあるの
で、半導体部品21をヘアピン状の折り曲げ部に載置す
ることができる。また、半導体部品21の外形寸法が小
さい寸法に変更になったときは、同様に、もう一端を下
方への折り曲げ位置より内側から上方に折り曲げるフォ
ーミング加工をすることにより、容易に対応することが
できる。その他の構造及び実装手順については、第二実
施形態と同様としてある。
【0031】上述したように、第三実施形態の電子部品
の実装構造1bにおいては、電子部品20の半導体部品
21の外形寸法が変更になっても、補強ピン11bを変
更することにより、容易に対応することができる。
【0032】次に、第四実施形態について図面を参照し
て説明する。図5は、第四実施形態における電子部品の
実装構造の概略模式拡大図であり、(a)は平面図を、
(b)は断面図を示している。同図において、1cは実
装構造であり、電子部品20は配線基板31に実装さ
れ、四個の補強ピン11cにより物理的接続強度を補強
した構造としてある。ここで、一個の補強ピン11cに
ついて拡大して図示してあるが、他の三個についても同
様の構造としてある。
【0033】補強ピン11cは、一方の端を直角に折り
曲げ、他方の端を反対方向に直角に折り曲げた形状とし
てあり、下方の一端は位置決め孔34に挿入され補強パ
ッド32に半田接合してある。また、この一端と反対方
向の上方の一端は、半導体部品21の側面に接着剤12
により接着接合してある。また、補強ピン11cの中間
部は、配線基板31の補強パッド32と半導体部品21
の下面に挟まれた構造としてある。
【0034】ここで、この挟まれた中間部の高さ方向の
寸法H1は補強ピン11cの直径であり、半田ボール2
2の直径が小さい電子部品20に対しては、この直径を
小さくすることにより容易に対応することができる。し
たがって、半田ボール22を使用しないで、基板電極3
3と半導体部品21の電極を直接クリームハンダで接続
するLand Grid Arrayに対しても対応す
ることができる。また、その他の構造及び実装手順につ
いては、第二実施形態と同様としてある。
【0035】上述したように、第四実施形態の電子部品
の実装構造1cにおいては、電子部品20の半田ボール
22の直径寸法が小さい寸法に変更になっても、補強ピ
ン11cを変更することで容易に対応することができ
る。
【0036】次に、第五実施形態について図面を参照し
て説明する。図6は、第五実施形態における電子部品の
実装構造の概略模式拡大図であり、(a)は平面図を、
(b)は断面図を示している。同図において、1dは実
装構造であり、電子部品20は配線基板31に実装さ
れ、四個の補強ピン11dにより物理的接続強度を補強
した構造としてある。ここで、一個の補強ピン11dに
ついて拡大して図示してあるが、他の三個についても同
様の構造としてある。
【0037】補強ピン11dは、コの字状に折り曲げら
れた一端を下方に折り曲げ、もう一端を下方への折り曲
げ位置より外側から上方に折り曲げるフォーミング加工
をしてある。ここで、コの字状に折り曲げることによ
り、高さ方向の寸法H2を大きい寸法とすることができ
る。このように、補強ピン11dは、フォーミング加工
によりH2寸法を調整することができるので、半田ボー
ル22の直径が大きい寸法に変更になっても容易に対応
することができる。また、その他の構造及び実装手順に
ついては、第三実施形態と同様としてある。
【0038】上述したように、第五実施形態の電子部品
の実装構造1dにおいては、電子部品20の半田ボール
22の直径寸法が大きい寸法に変更になっても、補強ピ
ン11dを変更することで容易に対応することができ
る。
【0039】以下、本発明の第六実施形態に係る電子部
品の実装構造について、図面を参照して説明する。図7
は、第六実施形態における電子部品の実装構造の概略模
式拡大図であり、(a)は平面図を、(b)は側面図を
示している。同図において、1eは実装構造であり、電
子部品20は配線基板31に実装され、四個の補強板1
1eにより物理的接続強度を補強した構造としてある。
ここで、一個の補強板11eについて拡大して図示して
あるが、他の三個についても同様の構造としてある。
【0040】配線基板31の補強パッド32eは、その
中央部の二箇所に位置決め孔34eが設けてあり、補強
板11eの突起部110eが挿入され半田付けしてあ
る。ここで、配線基板31は、半導体部品21の四隅の
位置に設ける構造としてあるが、例えば、半導体部品2
1が大きな部品であるときや、配線基板31の強度が弱
いときは、補強パッド32eを半導体部品21の各辺の
中央部にも追加して設ける構造とすると、電子部品20
の物理的接続強度をより向上させることができる。
【0041】補強板11eは、板部材をフォーミング加
工してあり、同図(b)に示すように、断面形状は上記
第五実施形態の断面形状と同様としてある。このように
すると、補強部材としての物理的強度をより向上させる
ことができるとともに、補強パッド32eとの半田接合
強度および半導体部品21との接着接合強度をより向上
させることができる。また、補強板11eの下部端の両
側には、突起部110eが突設してあり、突起部110
eは補強パッド32eの位置決め孔34eに挿入され、
補強板11eの取り付け位置が自動的に決まる構造とし
てある。
【0042】ここで、好ましくは、同図(b)に示すよ
うに、補強板11eの上方板部材の内側側面と半導体部
品21の側面の隙間寸法hを、半田ボール22と基板電
極33の位置ずれ許容寸法以内にすると良い。このよう
にすると、電子部品20を配線基板31に搭載するとき
に、半導体部品21の側面が補強板11eの内側側面に
当接し、電子部品20の搭載位置を自動的に決めること
ができる。したがって、電子部品20をリフロー炉等で
半田接合する際に、搬送コンベアの振動等で電子部品2
0が位置ずれ不良となることを防止することができる。
また、半田ボール22のピッチが0.5mmのBGAに
対して、手載せ作業で正確な位置に搭載することができ
た。また、その他の構造および実装手順については、第
五実施形態と同様としてある。
【0043】上述したように、第六実施形態の電子部品
の実装構造1eにおいては、電子部品20の配線基板3
1への物理的接続強度を、補強板11eを用いることに
より向上させることができ、半田ボール22の半田接合
部における半田クラックの危険性を削減できる。また、
補強板11eの上部板側面を利用することにより、電子
部品20の搭載位置を自動的に決めることができる。な
お、補強板のフォーミング加工については、補強板11
eの形状に限定するものではなく、上述した各実施形態
の形状とすることができることは勿論である。
【0044】以下、本発明の第七実施形態に係る電子部
品の実装構造について、図面を参照して説明する。図8
は、第七実施形態における電子部品の実装構造の概略模
式拡大図であり、(a)は平面図を、(b)は側面図を
示している。同図において、1fは実装構造であり、電
子部品20は配線基板31に実装され、一体構造とした
補強板11fにより物理的接続強度を補強した構造とし
てある。
【0045】補強板11fは、板材をフォーミング加工
してあり、第一実施形態の補強部材を板部材とし十字状
に一体構造としてある。このようにすると、電子部品2
0をチップマウンター等で搭載する際に、電子部品20
を搭載したのちに補強板11fを同様に搭載することが
できる。ここで、電子部品20の上面と補強板11fの
下面に隙間を設けることにより、補強板11fを搭載す
るときに電子部品20と当接して、電子部品20の位置
ずれ不良を発生させることを防止することができる。ま
た、補強板11fの十字状に伸びた各先端部には、突起
部110fが突設してあり、補強パッド32の位置決め
孔34に挿入され、補強板11fの位置決めおよび位置
ずれ防止の効果がある。
【0046】また、配線基板31が薄形化され物理的強
度が低下しても、補強板11fは一体構造としてあるの
で、より効果的に半田ボール22の接合部に半田クラッ
クが発生する危険性を低減することができる。また、好
ましくは、電子部品20及び補強板11fをリフロー炉
で半田付けし、これらが常温まで冷える前に加熱硬化型
の接着剤12を塗布すると良い。ここで、冷え切る前と
は、通常、半田は183℃で凝固するので、半田温度が
約180℃から50℃の範囲内にある状態であり、この
ようにすると、接着剤12を加熱硬化する工程を削減す
ることができる。なお、その他の構造及び実装手順は、
第一実施形態と同様としてある。
【0047】上述したように、第七実施形態の電子部品
の実装構造1fにおいては、電子部品20の配線基板3
1への物理的接続強度を、一体構造とした補強板11f
を用いることにより向上させることができるとともに、
補強板11fを搭載する作業効率を向上させることがで
きる。
【0048】以下、本発明の第八実施形態に係る電子部
品の実装構造について、図面を参照して説明する。図9
は、第八実施形態における電子部品の実装構造の概略模
式拡大図であり、(a)は平面図を、(b)は側面図を
示している。同図において、1gは実装構造であり、電
子部品20は配線基板31に実装され、正方形環状の一
体構造とした補強板11gにより物理的接続強度を補強
した構造としてある。
【0049】配線基板31には、電子部品20の四隅、
及び、各辺中央部の位置に、補強パッド32gを合計八
個設けてあり、この八個の内、対角線上の二個には、位
置決め孔34を設けてある。ここで、補強パッド32g
を八個設けることにより、補強板11gと配線基板31
の半田接合の物理的強度をより向上させることができ
る。また、図示してないが、電子部品20の半田ボール
22は、配線基板31、補強板11g及び半導体部品2
1により囲まれた密閉状態となるので、フラックスガス
を逃がすガス抜き孔を配線基板31または補強板11g
に設けると良い。このようにすると、半田ボール22を
半田付けする際のフラックスガスによる悪影響を防止す
ることができる。
【0050】補強板11gは、板部材をフォーミング加
工してあり、正方形環状の底面部の各外辺部で板部材が
上方に直角に折り曲げてあり、さらに、底面部の対角線
上の二隅から下方に突起部110gが突設してある。ま
た、補強板11gは、突起部110gが位置決め孔34
に挿入されて搭載される。ここで、補強板11gは、電
子部品20が配線基板31に搭載される際に、半導体部
品21の側面が各外辺部の折り曲げられた板部材の内側
側面に当接して、電子部品20の搭載位置が自動的に合
う構造としてある。また、補強板11gの底面部に、半
導体部品21の周縁部が載置されるので、底面部の板厚
を調整することにより、電子部品20と配線基板31の
距離を調整することができる。
【0051】また、補強板11gは、断面視L字状の枠
構造としてあるので、補強板11g自体の物理的強度が
強いので、半田ボール22の接合部に半田クラックが発
生する危険性をより低減することができる。また、例え
ば、被搭載物30がフレキシブル配線基板であっても、
半田クラックの発生を効果的に防止することができる。
また、補強板11gを配線基板31のグランド配線と接
続すると、電子部品20がノイズによる悪影響を受ける
ことを防止することができる。なお、その他の構造及び
実装手順は、第六実施形態と同様としてある。
【0052】次に、上述した電子部品20及び補強板1
1gの配線基板31への実装手順について説明する。初
めに、電子部品20は、部品が実装されていない配線基
板31に、他の部品と一緒にチップマウンター等で実装
される。ここで、配線基板31に補強板11gを載置し
てから電子部品20を搭載し、リフロー炉等により半田
ボール22は基板電極33に、補強板11gは補強パッ
ド32gに半田接合される。次に、半導体部品21の側
面と補強板11gの各外辺部の折り曲げられた板部材を
接着接合する。
【0053】また、電子部品20を取り外すときは、電
子部品20、補強板11g及び配線基板31の下面を局
所的に加熱することにより、電子部品20と補強板11
gを取り外すことができる。次に、再度電子部品20を
配線基板31に実装するときは、補強板11gを配線基
板31に載置し、電子部品20の側面が補強板11gの
折り曲げられた板部材の側面に当接するように搭載する
と、電子部品20の位置を自動的に合わせることができ
る。そして、電子部品20、補強板11g及び配線基板
31の下面を局所的に加熱することにより、電子部品2
0と補強板11gを配線基板31に半田接合することが
できる。なお、その他の実装手順は、第六実施形態と同
様としてある。
【0054】上述したように、第七実施形態の電子部品
の実装構造1gにおいては、電子部品20の配線基板3
1への物理的接続強度を、補強板11gを枠状の形状と
することにより向上させることができる。また、補強板
11gは、電子部品20の側面と下面周縁部に当接し、
電子部品20の位置を自動的に合わせることができる。
【0055】上述した実装構造は、実体のある電子部品
の実装構造として説明しているが、本発明は、必ずしも
実体のある実装構造に限らず、その実装手順としても有
効である。以下に、電子部品の実装手順について、図面
を参照して説明する。図10は、電子部品の実装手順の
概略模式図を示している。同図において、100hは局
所加熱治具であり、電子部品20、補強ピン11b及び
配線基板31を局所的に加熱することができる。
【0056】また、局所加熱治具100hは、ヒータプ
レート101を有しており、ヒータプレート101の下
方先端に、耐熱性の弾性体からなるクッション部102
が設けてあり、電子部品20の上面を加熱しながら押圧
することができる。また、電子部品の実装構造について
は、第三実施形態における補強ピン11bを用いてあ
る。ここで、補強部材としては、補強ピン11bに限定
するものでないことは勿論である。
【0057】初めに、配線基板31の基板電極33と補
強パッド32にペースト上の半田13を塗布する。ここ
で、基板電極33と補強パッド32に予め半田コートさ
れているときは、基板電極33と補強パッド32にフラ
ックスを塗布するだけとすることができる。次に、補強
パッド32に補強ピン11bを載置する。ここで、補強
パッド32に位置決め孔34を設けてあるので、補強ピ
ン11bの位置決めを容易に行うことができる。
【0058】そして、電子部品20を半田ボール22が
基板電極33の位置に合うように配線基板31に搭載す
る。ここで、好ましくは、補強ピン11bの上部一端の
側面と半導体部品21の側面が当接して、電子部品20
の位置が自動的に合うようにすると、電子部品20の位
置ずれ不良を低減することができる。
【0059】次に、局所加熱治具100hは、電子部品
20、補強ピン11bおよび配線基板31を局所的に加
熱するとともに、ヒータプレート101は、クッション
部102を介して、半導体部品21の上面を加熱すると
ともに押圧する。このように、半導体部品21を押圧す
ることにより、半導体部品21の下面と基板電極33と
の距離を補強ピン11bにより定まる一定の距離とする
ことができる。したがって、例えば、被搭載物が熱変形
により反った場合であっても、電子部品と被搭載物の距
離を補強部材により調節することができるので、被搭載
物の反りを吸収してブリッジ不良を発生させずに電子部
品を実装することができる。また、複数の半導体を一つ
の半導体部品21に集積したモジュール(MultiC
hip Module)において、重量配分が不均一と
なるような場合であっても、半田ボール22を確実に基
板電極33に半田付けすることができる。
【0060】次に、半導体部品21の側面と補強ピン1
1bを接着接合する。このように半導体部品21は、補
強ピン11bを用いて、配線基板31に物理的に接続さ
れることにより、半田ボール22の接続部における半田
クラックの発生を防止することができる。
【0061】上述した実装手順によれば、例えば、被搭
載物が熱変形により反った場合や、重心が中央にない電
子部品20に対しても、電子部品20がブリッジ不良や
未半田不良を発生させることなくより確実に実装するこ
とができる。
【0062】上述したように、本発明の電子部品の実装
構造によれば、電子部品を被搭載物に物理的強度を向上
させて実装することができる。また、補強部材としての
補強ピンは、丸ピンに限定するものではなく、角ピンで
あっても同様に使用することができる。また、補強パッ
ドの位置決め孔は貫通孔に限定するものではなく、ビル
ドアップ基板の段差による凹部やザグリ穴などの位置決
め穴とすることができる。
【0063】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
電子部品を被搭載物に物理的接続強度を補強して実装す
ることができるので、半田ボールの接合部において発生
する半田クラックを効果的に防止することができる。ま
た、電子部品の外形寸法の変更等に対しても、容易に対
応することができる。また、電子部品を取り外し際に、
被搭載物を損傷することなく取り外すことができるの
で、電子部品を被搭載物に再実装することができる。ま
た、電子部品の実装作業の作業工数を低減することがで
きるとともに、実装品質、特に、位置ずれ不良、ブリッ
ジ不良および未半田不良を低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、第一実施形態における電子部品の実装
構造の概略模式拡大図であり、(a)は平面図を、
(b)は側面図を示している。
【図2】図2は、第一実施形態における電子部品の取り
外し状態の概略模式図を示している。
【図3】図3は、第二実施形態における電子部品の実装
構造の概略模式拡大図であり、(a)は平面図を、
(b)は断面図を示している。
【図4】図4は、第三実施形態における電子部品の実装
構造の概略模式拡大図であり、(a)は平面図を、
(b)は断面図を示している。
【図5】図5は、第四実施形態における電子部品の実装
構造の概略模式拡大図であり、(a)は平面図を、
(b)は断面図を示している。
【図6】図6は、第五実施形態における電子部品の実装
構造の概略模式拡大図であり、(a)は平面図を、
(b)は断面図を示している。
【図7】図7は、第六実施形態における電子部品の実装
構造の概略模式拡大図であり、(a)は平面図を、
(b)は側面図を示している。
【図8】図8は、第七実施形態における電子部品の実装
構造の概略模式拡大図であり、(a)は平面図を、
(b)は側面図を示している。
【図9】図9は、第八実施形態における電子部品の実装
構造の概略模式拡大図であり、(a)は平面図を、
(b)は側面図を示している。
【図10】図10は、電子部品の実装手順の概略模式図
を示している。
【符号の説明】
1 実装構造 1a 実装構造 1b 実装構造 1c 実装構造 1d 実装構造 1e 実装構造 1f 実装構造 1g 実装構造 10 補強部材 11 補強ピン 11a 補強ピン 11b 補強ピン 11c 補強ピン 11d 補強ピン 11e 補強板 11f 補強ピン 11g 補強ピン 12 接着剤 13 半田 20 電子部品 21 半導体部品 22 半田ボール 30 被搭載物 31 配線基板 32 補強パッド 32e 補強パッド 32g 補強パッド 33 基板電極 34 位置決め孔 34e 位置決め孔 100 局所加熱治具 100h 局所加熱治具 101 ヒータプレート 102 クッション部 110e 突起部 110f 突起部 110g 突起部

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半田ボール等を外部接続子とする電子部
    品の実装構造において、 前記電子部品が実装される被搭載物上の電極の周辺に配
    設された、それぞれ位置決め孔を有する複数の補強パッ
    ドと、 中央部をフォーミング加工して水平方向にヘアピン状に
    突き出した補強部材とを有し、 前記補強パッドの位置決め孔に前記補強部材の一端を挿
    入して半田付けするとともに、 前記電子部品の側面を前記補強部材の他端の側面に当接
    させて接着接合することを特徴とする電子部品の実装構
    造。
  2. 【請求項2】 上記請求項1に記載の電子部品の実装構
    造において、 前記補強部材の水平方向に突き出した部分が、前記電子
    部品と前記被搭載物の間に位置し、前記電子部品と前記
    被搭載物の距離を一定に保つことを特徴とする電子部品
    の実装構造。
  3. 【請求項3】 上記請求項1又は2に記載の電子部品の
    実装構造において、 前記補強部材を、ピンで形成したことを特徴とする電子
    部品の実装構造。
  4. 【請求項4】 上記請求項1又は2に記載の電子部品の
    実装構造において、前記補強部材を、板部材で形成した ことを特徴とする電
    子部品の実装構造。
JP08262099A 1999-03-25 1999-03-25 電子部品の実装構造 Expired - Fee Related JP3214486B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP08262099A JP3214486B2 (ja) 1999-03-25 1999-03-25 電子部品の実装構造

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP08262099A JP3214486B2 (ja) 1999-03-25 1999-03-25 電子部品の実装構造

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000277884A JP2000277884A (ja) 2000-10-06
JP3214486B2 true JP3214486B2 (ja) 2001-10-02

Family

ID=13779513

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP08262099A Expired - Fee Related JP3214486B2 (ja) 1999-03-25 1999-03-25 電子部品の実装構造

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3214486B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4876523B2 (ja) * 2005-10-14 2012-02-15 日本電気株式会社 半導体チップの実装構造

Also Published As

Publication number Publication date
JP2000277884A (ja) 2000-10-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5930889A (en) Method for mounting packaged integrated circuit devices to printed circuit boards
JP4585416B2 (ja) 基板の反り低減構造および基板の反り低減方法
US6046910A (en) Microelectronic assembly having slidable contacts and method for manufacturing the assembly
JP2795788B2 (ja) 半導体チップの実装方法
US7446398B2 (en) Bump pattern design for flip chip semiconductor package
JP2001313314A (ja) バンプを用いた半導体装置、その製造方法、および、バンプの形成方法
JP4720438B2 (ja) フリップチップ接続方法
US8759158B2 (en) Assembly jig for a semiconductor device and assembly method for a semiconductor device
US5251100A (en) Semiconductor integrated circuit device with cooling system and manufacturing method therefor
JP2000286380A (ja) 半導体の実装構造および製造方法
JPH11265967A (ja) Lsi実装基板の構造及びその製造方法
JP3214486B2 (ja) 電子部品の実装構造
JP2001094002A (ja) Bga実装方法およびその実装構造
US20030202332A1 (en) Second level packaging interconnection method with improved thermal and reliability performance
JP2007220954A (ja) 半導体装置とその実装方法
JP2006339491A (ja) 半導体パッケージと回路基板のリフローハンダ付け方法および半導体装置
JP2002329812A (ja) 半導体パッケージ装置および半導体パッケージ装置実装用基板
JP3183278B2 (ja) ボールグリッドアレイ型半導体パッケージおよびその実装構造
JPH1032283A (ja) 半田バンプを有する配線基板およびその製造方法
WO2023246418A1 (zh) 电路板组件、电子设备及电路板组件的制作方法
JPH0983128A (ja) 半導体モジュールの接合構造
US20240284603A1 (en) Removable lid for flip chip-ball grid array (fc-bga) packages
JPH11186454A (ja) Bga型集積回路部品、その製造方法およびその実装方法
JP2009239074A (ja) 電子部品実装用治具、電子部品の実装方法及び取外し方法
JP2000244110A (ja) Bgaパッケージの実装方法

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070727

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080727

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090727

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100727

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110727

Year of fee payment: 10

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees