JPH1032283A - 半田バンプを有する配線基板およびその製造方法 - Google Patents

半田バンプを有する配線基板およびその製造方法

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JPH1032283A
JPH1032283A JP8187607A JP18760796A JPH1032283A JP H1032283 A JPH1032283 A JP H1032283A JP 8187607 A JP8187607 A JP 8187607A JP 18760796 A JP18760796 A JP 18760796A JP H1032283 A JPH1032283 A JP H1032283A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 加熱回数を低減できると共に、その製造が容
易な半田バンプを有する配線基板の製造方法を提供する
こと。 【解決手段】 配線基板1の表側では、共晶半田ペース
トを塗布し、共晶半田ペースト層21を形成する。裏側
では、凹版25の凹部23に高温半田ボール27を入
れ、更にスキージ印刷で表側と同様な共晶半田ペースト
を充填する。次に、表側に表側バンプ高さ規制部材29
を配置するとともに、裏側に凹版25を凹部23とパッ
ド17とが一致するように密着させて配置する。この状
態で、リフロー炉に通し、表側及び裏側にある共晶半田
のみを溶融させて、その後冷却する。これによって、配
線基板1の表側に頂部が平坦になったフリップチップ接
合用の半田バンプ3aを形成するとともに、裏側に頂部
が平坦となったプリント基板接合用の大径の半田バンプ
3bを形成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、フリップチップ実
装用基板やボールグリッドアレイ基板等の半田バンプを
有する配線基板及びその製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来より、集積回路チップ(以下フリッ
プチップと記す)を配線基板に実装する場合には、配線
基板上に設けられたフリップチップ接合用の半田バンプ
が用いられている。このフリップチップ接合用の半田バ
ンプの形成から、フリップチップを実装した配線基板の
プリント基板への接合までは、図8に示すように、下記
〜の工程で行われている。
【0003】配線基板P1の表側に半田材料を載置
し、加熱して(1回目の加熱)半田材料を溶融させるこ
とにより、フリップチップ接合用の半田バンプP2を形
成する。 フリップチップP3を表側の半田バンプP2上に載置
した状態で、半田バンプP2を加熱して(2回目の加
熱)溶融させ、フリップチップP3と配線基板P1とを
接合する。
【0004】フリップチップP3を樹脂P4によりモ
ールド(樹脂モールド)する。 配線基板P1の裏側に半田材料を配置し、加熱して
(3回目の加熱)半田材料を溶融させ、プリント基板接
合用の半田バンプP5を形成する。 プリント基板P6を裏側の半田バンプP5に密接させ
た状態で、半田バンプP5を加熱して(4回目の加熱)
溶融させ、プリント基板P6とフリップチップP3を実
装した配線基板P1とを接合する。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記のよう
な方法で半田バンプP5を形成して、配線基板P1とフ
リップチップP3またはプリント基板P6とを接合する
場合には、下記のような問題があり、一層の改善が求め
られている。
【0006】例えば、フリップチップP3は、前記工程
の,,にて合計3回加熱されるので、熱および応
力によるフリップチップP3の劣化の恐れがある。ま
た、配線基板P1も、前記工程,,,にて合計
4回加熱されるので、同様に品質劣化の恐れがある。
【0007】この加熱回数が多いという問題の対策とし
て、例えば前記との工程を同時に行なって、配線基
板P1の両側に一度に半田バンプを形成する方法を採用
する場合には、(裏側に半田材料を配置した)配線基板
P1の表側に半田材料を例えば塗布するときに、裏側の
半田材料が(作業のために配線基板P1を一時的に載置
する)下台と接触して位置ずれを生じたり、または(下
台と接触しないように浮かした場合に)未溶融の半田材
料が落下したりして、好適に作業を行なうことができな
いという問題がある。
【0008】本発明は、前記課題を解決するためになさ
れたものであり、加熱回数を低減できると共に、その製
造が容易な半田バンプを有する配線基板の製造方法を提
供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
の請求項1の発明は、他の基板との接合に用いられ、か
つ該他の基板との接合前の状態である配線基板であっ
て、該配線基板の表側および裏側に半田バンプを備えた
ことを特徴とする半田バンプを有する配線基板を要旨と
する。
【0010】ここで、前記半田バンプに用いられる半田
としては、Pb−Sn系の軟ろうの他、通常バンプ材料
として使用されるAu−Sn系、Au−Si系等、45
0℃以下の融点を有する広義のろう材などを採用でき
る。請求項2の発明は、前記配線基板の表側および裏側
の半田バンプの少なくとも一方の頂部が平坦であること
を特徴とする前記請求項1に記載の半田バンプを有する
配線基板を要旨とする。
【0011】請求項3の発明は、集積回路チップおよび
プリント基板との接合に用いられ、かつこれらとの接合
前の状態である配線基板であって、前記配線基板の表側
にフリップチップ実装用の半田バンプを備えると共に、
該配線基板の裏側に前記プリント基板接合用の半田バン
プを備えたことを特徴とする半田バンプを有する配線基
板を要旨とする。
【0012】請求項4の発明は、表側および裏側に半田
バンプ用パッドが形成された配線基板に対し、前記表側
の半田バンプ用パッド上に半田バンプを形成するための
半田材料を載置すると共に、前記裏側の半田バンプ用パ
ッドに対応する位置に複数の凹部を有する凹版であって
該凹部に半田ペーストを充填した凹版を、該凹部を前記
裏側の半田バンプ用パッドの位置に合わせるように重
ね、その状態で加熱して、前記表側の半田バンプ用パッ
ド上に載置された半田材料および前記凹部に充填された
半田ペーストを溶融した後に冷却し、その後前記凹版を
除去することにより、前記配線基板の表側および裏側に
半田バンプを形成することを特徴とする半田バンプを有
する配線基板の製造方法を要旨とする。
【0013】ここで、前記半田材料を載置する方法とし
ては、周知の半田ボール搭載法や半田ペースト印刷法等
各種の方法を採用できる。また、前記凹部に半田ペース
トを充填する方法としては、例えば半田ペースト印刷法
やディスペンサーによる注入法等の各種の方法を採用で
きる。
【0014】また、前記溶融する温度としては、半田ペ
ーストの融点(即ち半田の融点)以上であればよいが、
例えば融点の10〜40℃高い温度を採用できる。請求
項5の発明は、前記凹版の凹部に前記半田ペーストを充
填するにあたり、それぞれの凹部に金属製ボールを配置
した後に、該金属製ボールよりも融点の低い半田ペース
トを充填し、その後、前記金属製ボールの融点より低く
かつ前記半田ペーストの融点より高い温度で前記加熱を
行なうことを特徴とする前記請求項4に記載の半田バン
プを有する配線基板の製造方法を要旨とする。
【0015】前記金属製ボールの材料としては、高温半
田ボール(例えばPb95重量%−Sn5重量%)を採
用できる。請求項6の発明は、前記配線基板の表側に載
置する半田材料の融点よりも、前記凹部に充填する半田
ペーストの融点を高くすることを特徴とする前記請求項
4に記載の半田バンプを有する配線基板の製造方法を要
旨とする。
【0016】請求項7の発明は、前記凹部の寸法が、形
成される半田バンプの頂部が平坦となる値に設定されて
いることを特徴とする前記請求項4〜6のいずれかに記
載の半田バンプを有する配線基板の製造方法を要旨とす
る。
【0017】請求項8の発明は、前記配線基板の表側に
載置した半田材料の上部に、該半田材料の溶融時にその
高さを規制する表側バンプ高さ規制部材を配置して、前
記表側の半田バンプの頂部を平坦にすることを特徴とす
る前記請求項4〜7のいずれかに記載の半田バンプを有
する配線基板の製造方法を要旨とする。
【0018】請求項9の発明は、表側および裏側に半田
バンプを有する配線基板に対し、前記表側の半田バンプ
上に集積回路チップを載置すると共に、前記裏側に該裏
側の半田バンプの高さを規制しその頂部を平坦にする裏
側バンプ高さ規制部材を配置し、その後、前記配線基板
を加熱して、前記表側の半田バンプに前記集積回路チッ
プを接合すると共に、前記裏側に半田バンプの高さが規
制され、頂部が平坦にされた半田バンプを形成すること
を特徴とする半田バンプを有する配線基板の製造方法を
要旨とする。
【0019】請求項10の発明は、表側に半田バンプを
有し裏側に半田バンプ用パッドを有する配線基板に対
し、前記表側の半田バンプ上に集積回路チップを載置
し、前記裏側の半田バンプ用パッド上に半田バンプを形
成する際の加熱により、前記集積回路チップの接合をも
行なうことを特徴とする半田バンプを有する配線基板の
製造方法を要旨とする。
【0020】請求項11の発明は、表側に半田バンプを
有し裏側に半田バンプ用パッドを有する配線基板に対
し、前記表側の半田バンプ上に集積回路チップを載置す
ると共に、前記裏側の半田バンプ用パッドに対応する位
置に複数の凹部を有する凹版であって該凹部に半田ペー
ストを充填した凹版を、該凹部を前記裏側の半田バンプ
用パッドの位置に合わせるように重ね、その状態で加熱
して、前記表側の半田バンプおよび前記凹部に充填され
た半田ペーストを溶融した後に冷却し、その後前記凹版
を除去することにより、前記表側の半田バンプと集積回
路チップとを接続すると共に、前記裏側に半田バンプを
形成することを特徴とする半田バンプを有する配線基板
の製造方法を要旨とする。
【0021】請求項12の発明は、前記凹版の凹部に前
記半田ペーストを充填するにあたり、それぞれの凹部に
金属製ボールを配置した後に、該金属製ボールよりも融
点の低い半田ペーストを充填し、その後、前記金属製ボ
ールの融点より低くかつ前記半田ペーストの融点より高
い温度で前記加熱を行なうことを特徴とする前記請求項
11に記載の半田バンプを有する配線基板の製造方法を
要旨とする。
【0022】
【発明の実施の形態】請求項1の発明では、他の基板と
の接合前の状態である配線基板の表側および裏側に半田
バンプを備えている。従って、この配線基板があれば、
他の作業工程や工場などにおいて、配線基板の表側や裏
側に他の各種の基板を適宜接続することができ、作業工
程の簡易化や柔軟な変更が可能となる。
【0023】請求項2の発明では、配線基板の表側およ
び裏側の半田バンプの少なくとも一方の頂部が平坦であ
る。この頂部を平坦にすることの利点は、特願平8−7
6960号にて詳述した。具体的には、配線基板のコー
ポラナリティの測定のために照射するレーザ光の照射点
を少なくすることができる。また、頂部を平坦にする加
工はコーポラナリティーを低減することができるが、こ
のコーポラナリティが小さくなると、導通検査や絶縁検
査を確実に行なうことができる。更に、半田バンプの溶
融の際に半田バンプが球状化して頂部が高くなるので、
他の基板との接合性が向上する。
【0024】請求項3の発明では、集積回路チップおよ
びプリント基板との接合前の状態である配線基板で、そ
の表側にフリップチップ実装用の半田バンプを備えると
共に、裏側にプリント基板接合用の半田バンプを備えて
いる。従って、この配線基板があれば、他の作業工程や
工場などにおいて、配線基板の表側や裏側に集積回路チ
ップやプリント基板を適宜接続することができ、作業工
程の簡易化や柔軟な変更が可能となる。
【0025】請求項4の発明では、配線基板の表側の半
田バンプ用パッド上に半田材料を載置すると共に、凹部
に半田ペーストを充填した凹版を凹部を裏側の半田バン
プ用パッドの位置に合わせるように重ね、その状態で加
熱する。これにより、表側の半田バンプ用パッド上に載
置された半田材料および凹部に充填された半田ペースト
を溶融させ、その後、冷却してから凹版を除去する。
【0026】従って、この方法よれば、一度の加熱によ
り、配線基板の表側および裏側に半田バンプを形成する
ことができるので、配線基板の熱による品質劣化を抑制
できる。請求項5の発明では、凹版の凹部に半田ペース
トを充填するにあたり、それぞれの凹部に金属製ボール
を配置し、その後、金属製ボールよりも融点の低い半田
ペーストを充填する。その後、金属製ボールの融点より
低くかつ半田ペーストの融点より高い温度で加熱する。
【0027】従って、この方法によれば、一度の加熱に
よって、配線基板の表側に半田バンプを形成できると共
に、裏側に融点の高いボールを含む半田バンプを形成す
ることができる。そのため、後の工程にて、この融点の
違いを利用して、他の基板との接続を容易に行なうこと
ができる。
【0028】請求項6の発明では、配線基板の表側に載
置する半田材料の融点よりも、裏側の凹部に充填する半
田ペーストの融点を高くする。従って、この方法によれ
ば、一度の加熱によって、配線基板の表側および裏側に
融点の異なる半田バンプを形成することができる。その
ため、前記請求項6と同様に、後の工程にて、この融点
の違いを利用して、他の基板との接続を容易に行なうこ
とができる。
【0029】請求項7の発明では、凹部の寸法が、形成
される半田バンプの頂部が平坦となる値に設定されてい
る。従って、この凹部を備えた凹版を用いて、頂部が平
坦な半田バンプを容易に形成することができる。
【0030】請求項8の発明では、配線基板の表側に載
置した半田材料の上部に、表側バンプ高さ規制部材を配
置しているので、半田材料の溶融時に表側の半田バンプ
の高さを規制すると共にその頂部を平坦にすることがで
きる。特に、表側バンプ高さ規制部材を複数の半田バン
プにわたり配置する場合には、複数の半田バンプの高さ
を揃えることもできる。
【0031】請求項9の発明では、表側の半田バンプ上
に集積回路チップを載置すると共に、裏側に裏側バンプ
高さ規制部材を配置し、その後加熱することにより、表
側の半田バンプに集積回路チップを接合すると共に、裏
側の半田バンプの高さを規制しつつ頂部を平坦にするこ
とができる。
【0032】そのため、従来と比べて、集積回路チップ
および配線基板の加熱回数を低減できるので、素子や基
板の劣化を抑制することができると共に、裏側の半田バ
ンプを平坦にすることができる。特に、裏側バンプ高さ
規制部材を複数の半田バンプにわたり配置する場合に
は、複数の半田バンプの高さを揃えることもできる。
【0033】請求項10の発明では、表側に半田バンプ
を有し裏側に半田バンプ用パッドを有する配線基板に対
し、表側の半田バンプ上に集積回路チップを載置し、裏
側の半田バンプの形成の際の加熱により、同時に集積回
路チップの接合を行なう。そのため、従来と比べて、集
積回路チップおよび配線基板の加熱回数を低減できるの
で、素子や基板の劣化を抑制することができる。
【0034】請求項11の発明では、配線基板の表側の
半田バンプ上に集積回路チップを載置すると共に、凹部
に半田ペーストを充填した凹版を凹部を裏側の半田バン
プ用パッドの位置に合わせるように重ねる。そして、そ
の状態で加熱して、表側の半田バンプおよび凹部に充填
された半田ペーストを溶融させ、その後、冷却して凹版
を除去する。
【0035】これにより、一度の加熱により、表側の半
田バンプと集積回路チップとを接続すると共に、裏側に
半田バンプを形成することができる。よって、従来と比
べて、集積回路チップおよび配線基板の加熱回数を低減
できるので、素子や基板の劣化を抑制することができ
る。
【0036】請求項12の発明では、凹版の凹部に半田
ペーストを充填するにあたり、それぞれの凹部に金属製
ボールを配置し、その後、金属製ボールよりも融点の低
い半田ペーストを充填する。その後、金属製ボールの融
点より低くかつ半田ペーストの融点より高い温度で加熱
する。
【0037】従って、この方法によれば、一度の加熱に
よって、配線基板の表側に集積回路チップを接続できる
と共に、裏側に融点の高いボールを含む半田バンプがで
きる。そのため、この配線基板をプリント基板に接続す
る際に、融点の高いボールがあるために、裏側の半田バ
ンプが潰れ難く、高さを保つことができる。
【0038】
【実施例】次に、本発明の半田バンプを有する配線基板
及びその製造方法の実施例について説明する。ここで
は、集積回路チップ(LSI素子、以下単にフリップチ
ップと称す)をフェースダウンで実装するための樹脂製
の回路基板(フリップチップ搭載用基板、以下単に配線
基板と称す)、即ち、フリップチップをフリップチップ
法によって接合するための配線基板及びその製造方法に
ついて述べる。 (実施例1)本実施例は、樹脂製の配線基板の両面に一
度に半田バンプを形成するものであり、特に高温半田ボ
ールを用いる点に特徴がある。
【0039】図1に示すように、本実施例の配線基板1
は、表側(図示上面)及び裏側(図示下面)にそれぞれ
大きさの異なる半田バンプ3a,3b(3と総称する)
が形成された、外径が約25mm角、板厚約1mmの樹
脂製の多層配線基板である。以下、本実施例の配線基板
1をその製造方法とともに説明する。
【0040】半田バンプ3を形成する対象となる配線
基板1を製造する場合には、図1(b)に拡大及び破断
して示すように、まず、BTコア基板5上にエポキシ樹
脂による絶縁層7を形成すると共に、BTコア基板5及
び絶縁層7にわたって、無電解Cuメッキ及び電解Cu
メッキを用いたセミアディティブ法によってCu内部配
線9を形成して積層する。尚、Cu内部配線9の形成法
としては、サブトラクティブ法やフルアディティブ法に
よってもよい。
【0041】次に、配線基板1の最表面では、前記C
u内部配線9と接合されるCu配線11の耐食のため及
び半田との密着性を向上させるために、無電解Ni−P
メッキによって約3μmのNi−P層13を形成し、更
にその上に、無電解Auメッキによって約0.1μmの
Au層15を形成して、Ni−P層13及びAu層15
からなる下地導電性パッド(以下単にパッドと称す)1
7を作成する。尚、その他の部位には、アクリルやエポ
キシ樹脂などにより、ソルダーレジスト層19を形成す
る。
【0042】尚、上述したメッキ方法は、周知の多層プ
リント配線板のメッキ方法と同様であるので詳述しない
(例えば、「多層プリント配線板ステップ365」;藤
平・藤森共著;工業調査会;1989年発行参照)。 次に、図2に示すように、配線基板1の表側のパッド
17(以下パッドは図示しない)上に、37Pb−63
Snの共晶半田ペースト(融点約183℃)を周知の印
刷法で塗布し、共晶半田ペースト層21を形成する。
【0043】尚、共晶半田ペースト層21を形成する方
法としては、この方法以外に、凹版印刷法、半田ボール
搭載法、半田プリフォーム搭載法などを採用できる。 一方、裏側の半田バンプ3bの大きさに応じた凹部2
3を有する凹版25を用いて、裏側の半田バンプ3bを
形成するための作業を行なう。
【0044】具体的には、直径2.2mm、深さ1.5
mmの凹部23が配線基板1の裏側のパッド17と同じ
配置で設けられたステンレス製の凹版25を用い、その
凹部23に直径1.5mm、組成Pb95%−Sn5%
の高温半田ボール(融点314℃)27を入れ、更に、
凹部23にスキージ印刷で表側と同様な共晶半田ペース
トを充填する。
【0045】次に、配線基板1の表側に、形成される
半田バンプ3aの高さを規制するために、左右に脚部2
9a(高さ50μm)を有する平坦な表側バンプ高さ規
制部材29を配置する。それとともに、配線基板1の裏
側に、前記凹版25を凹部23と裏側のパッド17とが
一致するように密着させて配置する。
【0046】この状態で、最高温度220℃のリフロ
ー炉に通し、表側及び裏側にある共晶半田のみを溶融さ
せて、その後冷却する。これによって、配線基板1の表
側に、頂部が平坦になったフリップチップ接合用の半田
バンプ3a(高さ50μm)を形成するとともに、裏側
に、頂部が平坦となったプリント基板接合用の大径の半
田バンプ3b(高さ1.5mm)を形成する。尚、プリ
ント基板接合用の半田バンプ3bは、高温半田ボール2
7の周囲を共晶半田が覆う構造をしている。
【0047】次に、両面に半田バンプ3を有する配線
基板1に、フリップチップ31を接合する。尚、フリッ
プチップ31は、外径約12.5×18mm、板厚約0.
4mmのSi製である具体的には、例えば平坦なアルミ
ナセラミックからなる基板33の上に、両面に半田バン
プ3を有する配線基板1を載置し、更に、表側の半田バ
ンプ3aの上に(接合部分の位置合わせをして)フリッ
プチップ31を載置する。そして、この状態で、最高温
度220℃のリフロー炉に通し、表側の半田バンプ1a
を溶融させて、フリップチップ31と配線基板1の接合
を行なう。
【0048】このとき、裏側の半田バンプ3bのうち、
溶融温度の低い共晶半田のみが溶融するが、基板33が
その下側に配置されているので、半田バンプ3bは落下
しない。また、高温半田ボール27は溶融しないので、
半田バンプ3bが潰れることもない。
【0049】その後、冷却して、基板33を除去すれ
ば、配線基板1の表側にフリップチップ31を実装する
とともに、裏側に半田バンプ1bを備えた配線基板1が
完成する。尚、この基板33は、半田が付着し難い材料
であるアルミナセラミックで形成されているので、冷却
後に基板33を除去する際に、半田バンプ1bが剥がれ
ることはない。また、この基板33の表面が平坦である
ので、半田バンプ1bの頂部は平坦であり、高さも揃え
られる。
【0050】このように、本実施例によれば、配線基板
1の表側に共晶半田ペースト層21を形成し、裏側には
(共晶半田ペーストに覆われた高温半田ボール27が充
填された)凹部23が配線基板1側に向くように凹版2
5を配置して、加熱することにより、1回の溶融で、配
線基板1の両側にそれぞれ高さの揃った半田バンプ1を
形成することができる。
【0051】つまり、本実施例では、表側のフリップチ
ップ接合用の融点が低く且つ寸法の小さな半田バンプ1
aと、裏側のプリント基板接合用の融点が高く且つ寸法
の大きな半田バンプ1bとを、一度の加熱で形成するこ
とができる。また、これによって、フリップチップ31
や配線基板1が加熱される回数が少なくなるので、フリ
ップチップ31や配線基板1の熱による悪影響が低減す
るという効果がある。具体的には、フリップチップ31
については、例えばフリップチップ搭載時及びプリント
基板接合時の2回に減少する(従来は3回)。また、配
線基板1についても、例えば半田バンプ形成時、フリッ
プチップ搭載時及びプリント基板接合時の3回に減少す
る(従来は4回)。
【0052】更に、本実施例では、平坦な基板33上
に、フリップチップ31を搭載した配線基板1を配置す
るので、フリップチップ31の接合の際の加熱によっ
て、裏側の半田バンプ1bの共晶半田が溶融するので、
半田バンプ1bの項部のコーポラナリティが小さくな
り、プリント基板(図示せず)との接合性が向上すると
いう利点がある。 (実施例2)次に、実施例2について説明する。
【0053】本実施例は、前記実施例1と同様に、配線
基板の両面に半田バンプを形成するが、使用する配線基
板がセラミックである点と、配線基板の裏側に高温半田
ペーストを用いる点が大きく異なる。つまり、本実施例
では、一度の加熱によって、アルミナセラミックからな
る配線基板の表側に低融点の半田バンプを形成するとと
もに、裏側に高融点の半田バンプを形成し、その後、表
側の半田バンプによってフリップチップを接合する。
【0054】以下、本実施例の配線基板をその製造方法
とともに説明する。尚、前記実施例1と同様な部分の説
明は、省略又は簡略化する。 アルミナセラミックのグリーンシートに、W,Mo等
のメタライズペーストを印刷し、また、所定部分に貫通
孔を穿孔して、メタライズペーストを充填し、これを複
数枚積層圧着し、焼成してセラミック製配線基板を形成
する。その後、露出するW等のメタライズ層に、無電解
Ni−Pメッキ(3μm)およびAuメッキ(0.1μ
m)を施して、セラミック製の配線基板の表側及び裏側
に、各々パッド(図示せず)を形成する。なお、焼成し
たセラミック製配線基板表面に、Ag−Pd,Ag−P
t等の金属ペーストを印刷し焼き付けてパッドを形成す
る手法をとってもよい。
【0055】次に、図3に示すように、配線基板41
の表側(図中上側)のパッド上に、前記実施例1と同様
な共晶半田ペーストを印刷法で塗布し、共晶半田ペース
ト層43を形成する。 一方、前記実施例1とほぼ同様に、大きな寸法の凹部
45を有する凹版47を用いて、裏側の半田バンプ49
bを形成するための作業を行なう。
【0056】具体的には、直径2.5mm、深さ1.5
mmの凹部45が、配線基板41の裏側のパッドと同じ
配置で設けられたステンレス製の凹版47を用い、この
凹部45にスキージ印刷によって、組成Pb95%−S
n5%の高温半田ペースト(融点314℃)を充填す
る。
【0057】次に、配線基板41の表側に、形成され
る表側の半田バンプ49aの高さを規制する前記実施例
1と同様な表側バンプ高さ規制部材51を配置する。そ
れとともに、配線基板41の裏側に、前記凹版47を凹
部45と裏側のパッドとが一致するように密着させて配
置する。
【0058】この状態で、最高温度330℃のリフロ
ー炉に通し、表側及び裏側にある共晶半田及び高温半田
を溶融させて、その後冷却する。これによって、配線基
板41の表側に、頂部が平坦になったフリップチップ接
合用の半田バンプ49a(高さ50μm)を形成すると
ともに、裏側に、頂部が平坦となったプリント基板接合
用の大径の半田バンプ49b(高さ1.5mm)を形成
する。
【0059】次に、両面に半田バンプ49a,49b
を有する配線基板41に、フリップチップ53を接合す
る。具体的には、前記実施例1と同様なアルミナ製の基
板55の上に、両面に半田バンプ49a,49bを有す
る配線基板41を載置し、更に、表側の半田バンプ49
aの上にフリップチップ53を載置する。そして、この
状態で、最高温度220℃のリフロー炉に通し、表側の
半田バンプ49aを溶融させて、フリップチップ53と
配線基板41の接合を行なう。
【0060】その後、冷却して、基板55を除去すれ
ば、配線基板41の表側にフリップチップ53を実装す
るとともに、裏側に半田バンプ49bを備えた配線基板
41が完成する。このように、本実施例によれば、前記
実施例1より高い温度の加熱による半田の1回の溶融に
よって、配線基板41の表側では共晶半田ペーストから
フリップチップ接合用の半田バンプ49aを形成すると
ともに、裏側では高温半田ペーストからプリント基板接
合用の半田バンプ49bを形成することができる。
【0061】従って、前記実施例1と同様に、フリップ
チップ53や配線基板41が加熱される回数が少なくな
るので、フリップチップ53や配線基板41の熱による
悪影響が低減するなどの効果を奏する。特に本実施例で
は、配線基板41は材料がセラミックであるので、高い
温度(約330℃)での加熱による処理が可能であり、
高価な高温半田ボールではなく安価な高温半田ペースト
を使用することができるという利点がある。
【0062】また、フリップチップ53の接合の加熱の
際には、裏側の高融点の半田バンプ49bは溶融しない
ので、単に(フリップチップ53を載せた)配線基板4
1を基板55に載置して、低温(約220℃)で加熱す
るだけでフリップチップ53を実装でき、作業が簡易化
するという効果がある。 (実施例3)次に、実施例3について説明する。
【0063】本実施例は、前記実施例2と同様に、配線
基板の両面に半田バンプを形成するが、配線基板の両側
とも共晶半田ペーストを用いる点に特徴がある。つま
り、本実施例では、一度の加熱によって、樹脂からなる
配線基板の表側に低融点の半田バンプを形成するととも
に、裏側にも低融点の半田バンプを形成し、その後、表
側の半田バンプによってフリップチップを接合する。
【0064】以下、本実施例の配線基板をその製造方法
とともに説明する。尚、前記実施例2と同様な部分の説
明は、省略又は簡略化する。 前記実施例1のと同様な工程にて、樹脂製の配線基
板の表側及び裏側に、各々パッド(図示せず)を形成す
る。
【0065】次に、図4に示すように、配線基板61
の表側(図中上側)のパッド上に、前記実施例1および
2と同様な共晶半田ペーストを印刷法で塗布し、共晶半
田ペースト層63を形成する。 一方、前記実施例1および2で用いたような大きな寸
法の凹部65を有する凹版67を用いて、裏側の半田バ
ンプ69bを形成するための作業を行なう。
【0066】具体的には、直径2.5mm、深さ1.5
mmの凹部65が、配線基板61の裏側のパッドと同じ
配置で設けられたステンレス製の凹版67を用い、この
凹部65にスキージ印刷によって、表側と同様な共晶半
田ペーストを充填する。 次に、配線基板61の表側に、形成される表側の半田
バンプ69aの高さを規制する前記実施例1および2と
同様な表側バンプ高さ規制部材71を配置する。それと
ともに、配線基板61の裏側に、前記凹版67を凹部6
5と裏側のパッドとが一致するように密着させて配置す
る。
【0067】この状態で、最高温度220℃のリフロ
ー炉に通し、表側及び裏側にある共晶半田を溶融させ
て、その後冷却する。これによって、配線基板61の表
側に、頂部が平坦になったフリップチップ接合用の半田
バンプ69aを形成するとともに、裏側に、頂部が平坦
となったプリント基板接合用の大径の半田バンプ69b
を形成する。
【0068】次に、両面に半田バンプ69a,69b
を有する配線基板61にフリップチップ75を接合す
る。具体的には、配線基板61の表側の半田バンプ69
a上にフリップチップ75を載置するとともに、配線基
板61の裏側に、半田バンプ69bを下方から支えるよ
うに、断面略コ字状で左右に支持部73aを有し、内部
底面が平坦な裏側バンプ高さ規制部材73を配置する。
これにより、支持部73aの上部内側は、配線基板61
の裏側の両端に位置する。また、支持部73aの上部外
側には、配線基板61がずれないように凸部73bがそ
れぞれ設けられている。
【0069】尚、内部底面から支持部73a上面までの
高さ(h=例えば1.4mm)は、裏側の半田バンプ6
9bの高さ(例えば1.5mm)よりも若干小さくなる
ように設定されている。これは、半田バンプ69bの溶
融時に、配線基板61を僅かに下降させて、半田バンプ
69bの頂部を裏側バンプ高さ規制部材73の平坦面7
3cで平坦化させるためである。
【0070】そして、この状態で、最高温度220℃の
リフロー炉に通し、表側及び裏側の半田バンプ69a,
69bを溶融させて、表側にてフリップチップ75の接
合を行なうとともに、裏側にて半田バンプ69bの頂部
を均一な高さで、かつ平坦にする。
【0071】その後、冷却して、裏側バンプ高さ規制
部材73を除去すれば、配線基板61の表側にフリップ
チップ75を実装するとともに、裏側に半田バンプ69
bを備えた配線基板61が完成する。 次に、フリップチップ75の周囲に樹脂(例えばエポ
キシ樹脂)を充填し、周知の樹脂モールド76を行な
う。次に、この樹脂モールド76によってフリップチッ
プ75を固定した配線基板61を、接合すべきプリント
基板79上に(プリント基板の図示しないパッドの位置
に合わせて)配置する。このとき、配線基板61とプリ
ント基板79との間には、プリント基板79の接合時の
加熱によって半田バンプ69bが溶融して潰れてしまわ
ないように、配線基板61の両側にステンレスからなる
スペーサ77(高さ1.4mm)を配置する。
【0072】その後、約220℃のリフロー炉に通
し、裏側の半田バンプ69bによって、配線基板61と
プリント基板79とを接合する。このように、本実施例
によれば、前記実施例2より低い温度の加熱による1回
の溶融によって、配線基板61の表側および裏側では、
それぞれ共晶半田ペーストからフリップチップ接合用の
半田バンプ69aおよびプリント基板接合用の半田バン
プ69bを形成することができる。また、実施例1と異
なり、高価な高温半田ボールを用いずに半田バンプ69
a,69bを形成できる。更に、前記実施例1および2
と同様に、フリップチップ75や配線基板61が加熱さ
れる回数が少なくなるので、熱によるフリップチップ7
5や配線基板61への悪影響が低減する等の効果があ
る。
【0073】特に本実施例では、フリップチップ75の
接合の際に、裏側バンプ高さ規制部材73を使用するの
で、加熱によって裏側の半田バンプ69bが溶融しても
落下することがない。また、裏側の半田バンプ69b
は、その溶融時に、裏側バンプ高さ規制部材73によっ
てその頂部の高さが揃うので、コーポラナリティが低減
するという利点がある。更に、溶融時には、頂部が平坦
になるので、接合性の向上、位置決め及び検査等が簡易
化するという効果がある。
【0074】また、プリント基板との接合時には、スペ
ーサ77を用いているので、半田バンプ69bが潰され
ることがない。その上、たとえばプリント基板が反って
いたとしても、溶融時に半田バンプ69bの頂部が球状
になろうとして高さが高くなるので、接合性がよいとい
う利点がある。
【0075】尚、本実施例では、スペーサ77とを別体
としたが、配線基板61自体に予め突起を設けてもよ
い。この場合、突起の材質は、温度変化によって半田バ
ンプ69bに引張応力がかからないようにするため、半
田バンプ69a(本例では共晶半田)の熱膨張係数に近
いものがよい。 (実施例4)次に、実施例4について説明する。
【0076】本実施例は、前記実施例1と同様に、樹脂
製の配線基板の両面に半田バンプを形成するが、プリン
ト基板接合用の金属製ボールを含む半田バンプの形成と
フリップチップの接合とを同時に行なう点に特徴があ
る。以下、本実施例の配線基板をその製造方法とともに
説明する。尚、前記実施例1と同様な部分の説明は、省
略又は簡略化する。
【0077】前記実施例1の及びと同様な工程に
て、樹脂製の配線基板の表側及び裏側に、各々パッド
(図示せず)を形成する。 次に、図5に示すように、配線基板81の表側(図中
上側)のパッド上に、前記実施例1と同様な共晶半田ペ
ーストを印刷法で塗布し、共晶半田ペースト層83を形
成する。
【0078】次に、共晶半田ペースト層83の上に、
前記実施例1と同様な表側バンプ高さ規制部材85を配
置し、最高温度220℃のリフロー炉に通して共晶半田
を溶融させ、その後冷却する。これにより、配線基板8
1の表側に、フリップチップ接合用の半田バンプ87a
を形成する。
【0079】一方、前記実施例1と同様な寸法の凹部
89を有する凹版91の凹部89内に、前記実施例1と
同様な金属製ボール93を配置する。 次に、金属製ボール93が入れられた凹部89にスキ
ージ印刷によって、表側と同様な共晶半田ペーストを充
填する。
【0080】次に、配線基板41の表側の半田バンプ
87aの上にフリップチップ95を載置するとともに、
裏側に、凹版91を凹部89と裏側のパッド(図示せ
ず)とが一致するように密着させて配置する。 この状態で、最高温度220℃のリフロー炉に通し、
表側及び裏側にある共晶半田を溶融させて、その後冷却
する。これによって、配線基板91の表側に、フリップ
チップ95を接合するとともに、裏側に、頂部が平坦と
なったプリント基板接合用の大径の半田バンプ87bを
形成する。
【0081】このように、本実施例では、予めフリップ
チップ接合用の半田バンプ97aを形成してから、一度
の加熱によって、フリップチップ95の接合とプリント
基板接合用の半田バンプ87bの形成とを行なっている
ので、前記実施例1と同様に、フリップチップ95や配
線基板81の加熱回数を低減できるなどの効果を奏す
る。 (実施例5)次に、実施例5について説明する。本実施
例は、前記実施例2と同様に、セラミック製の配線基板
の両面に融点の異なる半田バンプを形成するが、プリン
ト基板接合用の半田バンプの形成とフリップチップの接
合とを同時に行なう点に特徴がある。
【0082】以下、本実施例の配線基板をその製造方法
とともに説明する。尚、前記実施例2と同様な部分の説
明は、省略又は簡略化する。 前記実施例2のと同様な工程にて、セラミック製の
配線基板の表側及び裏側に、各々パッド(図示せず)を
形成する。
【0083】次に、図6に示すように、配線基板10
1の表側のパッド上に、前記実施例2と同様な共晶半田
ペーストを印刷法で塗布し、共晶半田ペースト層103
を形成する。 次に、共晶半田ペースト層103の上に、前記実施例
2と同様な表側バンプ高さ規制部材105を配置し、最
高温度220℃のリフロー炉に通して共晶半田を溶融さ
せ、その後冷却する。これにより、配線基板101の表
側に、フリップチップ接合用の半田バンプ107aを形
成する。
【0084】一方、前記実施例2と同様な寸法の凹部
109を有する凹版111の凹部109内に、前記実施
例2と同様な高温半田ペーストを、スキージ印刷によっ
て充填する。 次に、配線基板101の表側の半田バンプ107aの
上にフリップチップ115を載置するとともに、裏側
に、凹版111を凹部109と裏側のパッドとが一致す
るように密着させて配置する。
【0085】この状態で、最高温度330℃のリフロ
ー炉に通し、表側にある共晶半田および裏側にある高温
半田を溶融させて、その後冷却する。これによって、配
線基板101の表側に、フリップチップ115を接合す
るとともに、裏側に、頂部が平坦となったプリント基板
接合用の大径の半田バンプ107bを形成する。
【0086】このように、本実施例では、予めフリップ
チップ接合用の半田バンプ107aを形成してから、一
度の高温の加熱によって、フリップチップ115の接合
とプリント基板接合用の半田バンプ107bの形成とを
行なっているので、前記実施例2と同様に、フリップチ
ップ115や配線基板101の加熱回数を低減できるな
どの効果を奏する。 (実施例6)次に、実施例6について説明する。
【0087】本実施例は、前記実施例3と同様に、樹脂
製の配線基板の両面に低融点の半田バンプを形成する
が、プリント基板接合用の半田バンプの形成とフリップ
チップの接合とを同時に行なう点に特徴がある。以下、
本実施例の配線基板をその製造方法とともに説明する。
尚、前記実施例3と同様な部分の説明は、省略又は簡略
化する。
【0088】前記実施例3のと同様な工程にて、樹
脂製の配線基板の表側及び裏側に、各々パッド(図示せ
ず)を形成する。 次に、図7に示すように、配線基板121の表側のパ
ッド上に、前記実施例3と同様な共晶半田ペーストを印
刷法で塗布し、共晶半田ペースト層123を形成する。
【0089】次に、共晶半田ペースト層123の上
に、前記実施例3と同様な表側バンプ高さ規制部材12
5を配置し、最高温度220℃のリフロー炉に通して共
晶半田を溶融させ、その後冷却する。これにより、配線
基板121の表側に、フリップチップ接合用の半田バン
プ127aを形成する。
【0090】一方、前記実施例3と同様な寸法の凹部
129を有する凹版131の凹部129内に、前記実施
例3と同様な共晶半田ペーストを、スキージ印刷によっ
て充填する。 次に、配線基板121の表側の半田バンプ127aの
上にフリップチップ135を載置するとともに、裏側
に、凹版131を凹部129と裏側のパッドとが一致す
るように密着させて配置する。
【0091】この状態で、最高温度220℃のリフロ
ー炉に通し、表側および裏側にある共晶半田を溶融させ
て、その後冷却する。これによって、配線基板121の
表側に、フリップチップ135を接合するとともに、裏
側に、頂部が平坦となったプリント基板接合用の大径の
半田バンプ127bを形成する。
【0092】このように、本実施例では、予めフリップ
チップ接合用の半田バンプ127aを形成してから、一
度の低温の加熱によって、フリップチップ135の接合
とプリント基板接合用の半田バンプ127bの形成とを
行なっているので、前記実施例3と同様に、フリップチ
ップ135や配線基板121の加熱回数を低減できるな
どの効果を奏する。
【0093】尚、本発明は前記実施例になんら限定され
るものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲におい
て種々の態様で実施しうることはいうまでもない。 (1)前記各実施例で使用する半田の材質としては、用
途に応じて、Pb90%半田などの高融点半田や、Ag
やIn入り半田等どれでも使用可能である。また、半田
に含まれるフラックスの種類も、(還元性の小さなもの
から)Rタイプ、RMAタイプ、RAタイプのどれでも
使用できる。尚、ここでは、バンプ材料として、通常、
半田と称されるPb−Sn系のろう材以外に、Au−S
n系、Au−Si系等の合金も使用できる。
【0094】(2)前記パッド上の半田の付与方法とし
ては、上述した半田ペーストの印刷による方法以外に、
ディスペンサーを用いて半田ペーストを凹部に滴下(注
入)する方法を採用することができる。また、メタルマ
スク、スクリーンマスクを用いて、印刷することもでき
る。
【0095】(3)前記凹版の凹部に半田ペーストを充
填する場合には、半田ペーストを凹部の開口面と同一に
なるように充填すると、半田ペーストの量が安定化(ば
らつきが少なく)して好ましいが、配線基板の反りが大
きい場合などにおいては、確実に半田ペーストと基板の
パッドとを接合させるために、凹部から盛り上がるよう
に充填してもよい。
【0096】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明の半田バン
プを有する配線基板およびその製造方法によれば、下記
の効果を奏する。請求項1の発明では、他の作業工程や
他の工場などにおいて、配線基板の表側や裏側に他の各
種の基板を適宜接続することができ、作業工程の簡易化
や柔軟な変更が可能となる。
【0097】請求項2の発明では、コーポラナリティの
測定、半田バンプの導通検査や絶縁検査を確実に行なう
ことができる。また、他の基板との接合性が向上する。
請求項3の発明では、他の作業工程や他の工場などにお
いて、配線基板の表側や裏側に集積回路チップやプリン
ト基板を適宜接続することができ、作業工程の簡易化や
柔軟な変更が可能となる。
【0098】請求項4の発明では、一度の加熱によっ
て、配線基板の裏側と表側に半田バンプを形成できるの
で、加熱回数を低減することができ、よって、配線基板
の熱による品質劣化を抑制できる。また、工程が短くな
り、加熱等のコストを低減できる。
【0099】請求項5の発明では、一度の加熱によっ
て、配線基板の表側に半田バンプを形成できると共に、
裏側に融点の高いボールを含む半田バンプを形成するこ
とができ、後の工程にて、この融点の違いを利用して、
他の基板との接続を容易に行なうことができる。
【0100】請求項6の発明では、一度の加熱によっ
て、配線基板の表側および裏側に融点の異なる半田バン
プを形成することができ、そのため、前記請求項5と同
様に、後の工程にて、この融点の違いを利用して、他の
基板との接続を容易に行なうことができる。
【0101】請求項7の発明では、凹部を備えた凹版を
用いて、頂部が平坦な半田バンプを容易に形成すること
ができる。請求項8の発明では、半田材料の溶融時に、
表側の半田バンプの高さを規制すると共にその頂部を平
坦にすることができる。特に、表側バンプ高さ規制部材
を用いると、複数の半田バンプの高さを揃えることもで
きる。
【0102】請求項9の発明では、表側の半田バンプに
集積回路チップを接合すると共に、裏側の半田バンプの
高さを規制しつつ頂部を平坦にすることができる。これ
により、集積回路チップおよび配線基板の加熱回数を低
減できるので、素子や基板の劣化を抑制することができ
ると共に、裏側の半田バンプを平坦にすることができ
る。特に、裏側バンプ高さ規制部材を用いると、複数の
半田バンプの高さを揃えることもできる。
【0103】請求項10の発明では、裏側の半田バンプ
の形成の際の加熱により、同時に集積回路チップの接合
を行なうことができる。そのため、集積回路チップおよ
び配線基板の加熱回数を低減できるので、素子や基板の
劣化を抑制することができる。
【0104】請求項11の発明では、一度の加熱によ
り、表側の半田バンプと集積回路チップとを接続すると
共に、裏側に半田バンプを形成することができる。よっ
て、集積回路チップおよび配線基板の加熱回数を低減で
きるので、素子や基板の劣化を抑制することができる。
【0105】請求項12の発明では、一度の加熱によっ
て、配線基板の表側に集積回路チップを接続できると共
に、裏側に融点の高いボールを含む半田バンプができ
る。そのため、この配線基板をプリント基板に接続する
際に、融点の高いボールがあるために、裏側の半田バン
プが潰れ難く、高さを保つことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 実施例1の半田バンプを有する配線基板を示
し、(a)はその斜視図、(b)はその一部を拡大して
示す断面図である。
【図2】 実施例1の半田バンプを有する配線基板の製
造方法を示す説明図である。
【図3】 実施例2の半田バンプを有する配線基板の製
造方法を示す説明図である。
【図4】 実施例3の半田バンプを有する配線基板の製
造方法を示す説明図である。
【図5】 実施例4の半田バンプを有する配線基板の製
造方法を示す説明図である。
【図6】 実施例5の半田バンプを有する配線基板の製
造方法を示す説明図である。
【図7】 実施例6の半田バンプを有する配線基板の製
造方法を示す説明図である。
【図8】 従来技術を示す説明図である。
【符号の説明】
1,41,61,81,101,121…配線基板 3,3a,3b,49a,49b,69a,69b,8
7a,87b,107a,107b,127a,127
b…半田バンプ 21,43,63,83,103,123…共晶半田ペ
ースト層 23,45,65,89,109,129…凹部 25,47,67,91,111,131…凹版 27,93…金属製ボール 29,51,71,85,105,125…表側バンプ
高さ規制部材 31,53,75,95,115,135…フリップチ
ップ 73…裏側バンプ高さ規制部材 79…プリント基板

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 他の基板との接合に用いられ、かつ該他
    の基板との接合前の状態である配線基板であって、 該配線基板の表側および裏側に半田バンプを備えたこと
    を特徴とする半田バンプを有する配線基板。
  2. 【請求項2】 前記配線基板の表側および裏側の半田バ
    ンプの少なくとも一方の頂部が平坦であることを特徴と
    する前記請求項1に記載の半田バンプを有する配線基
    板。
  3. 【請求項3】 集積回路チップおよびプリント基板との
    接合に用いられ、かつこれらとの接合前の状態である配
    線基板であって、 前記配線基板の表側にフリップチップ実装用の半田バン
    プを備えると共に、該配線基板の裏側に前記プリント基
    板接合用の半田バンプを備えたことを特徴とする半田バ
    ンプを有する配線基板。
  4. 【請求項4】 表側および裏側に半田バンプ用パッドが
    形成された配線基板に対し、 前記表側の半田バンプ用パッド上に半田バンプを形成す
    るための半田材料を載置すると共に、 前記裏側の半田バンプ用パッドに対応する位置に複数の
    凹部を有する凹版であって該凹部に半田ペーストを充填
    した凹版を、該凹部を前記裏側の半田バンプ用パッドの
    位置に合わせるように重ね、 その状態で加熱して、前記表側の半田バンプ用パッド上
    に載置された半田材料および前記凹部に充填された半田
    ペーストを溶融した後に冷却し、 その後前記凹版を除去することにより、 前記配線基板の表側および裏側に半田バンプを形成する
    ことを特徴とする半田バンプを有する配線基板の製造方
    法。
  5. 【請求項5】 前記凹版の凹部に前記半田ペーストを充
    填するにあたり、 それぞれの凹部に金属製ボールを配置した後に、該金属
    製ボールよりも融点の低い半田ペーストを充填し、 その後、前記金属製ボールの融点より低くかつ前記半田
    ペーストの融点より高い温度で前記加熱を行なうことを
    特徴とする前記請求項4に記載の半田バンプを有する配
    線基板の製造方法。
  6. 【請求項6】 前記配線基板の表側に載置する半田材料
    の融点よりも、前記凹部に充填する半田ペーストの融点
    を高くすることを特徴とする前記請求項4に記載の半田
    バンプを有する配線基板の製造方法。
  7. 【請求項7】 前記凹部の寸法が、形成される半田バン
    プの頂部が平坦となる値に設定されていることを特徴と
    する前記請求項4〜6のいずれかに記載の半田バンプを
    有する配線基板の製造方法。
  8. 【請求項8】 前記配線基板の表側に載置した半田材料
    の上部に、該半田材料の溶融時にその高さを規制する表
    側バンプ高さ規制部材を配置して、前記表側の半田バン
    プの頂部を平坦にすることを特徴とする前記請求項4〜
    7のいずれかに記載の半田バンプを有する配線基板の製
    造方法。
  9. 【請求項9】 表側および裏側に半田バンプを有する配
    線基板に対し、 前記表側の半田バンプ上に集積回路チップを載置すると
    共に、 前記裏側に該裏側の半田バンプの高さを規制しその頂部
    を平坦にする裏側バンプ高さ規制部材を配置し、 その後、前記配線基板を加熱して、前記表側の半田バン
    プに前記集積回路チップを接合すると共に、前記裏側に
    半田バンプの高さが規制され、頂部が平坦にされた半田
    バンプを形成することを特徴とする半田バンプを有する
    配線基板の製造方法。
  10. 【請求項10】 表側に半田バンプを有し裏側に半田バ
    ンプ用パッドを有する配線基板に対し、 前記表側の半田バンプ上に集積回路チップを載置し、前
    記裏側の半田バンプ用パッド上に半田バンプを形成する
    際の加熱により、前記集積回路チップの接合をも行なう
    ことを特徴とする半田バンプを有する配線基板の製造方
    法。
  11. 【請求項11】 表側に半田バンプを有し裏側に半田バ
    ンプ用パッドを有する配線基板に対し、 前記表側の半田バンプ上に集積回路チップを載置すると
    共に、 前記裏側の半田バンプ用パッドに対応する位置に複数の
    凹部を有する凹版であって該凹部に半田ペーストを充填
    した凹版を、該凹部を前記裏側の半田バンプ用パッドの
    位置に合わせるように重ね、 その状態で加熱して、前記表側の半田バンプおよび前記
    凹部に充填された半田ペーストを溶融した後に冷却し、 その後前記凹版を除去することにより、 前記表側の半田バンプと集積回路チップとを接続すると
    共に、前記裏側に半田バンプを形成することを特徴とす
    る半田バンプを有する配線基板の製造方法。
  12. 【請求項12】 前記凹版の凹部に前記半田ペーストを
    充填するにあたり、 それぞれの凹部に金属製ボールを配置した後に、該金属
    製ボールよりも融点の低い半田ペーストを充填し、 その後、前記金属製ボールの融点より低くかつ前記半田
    ペーストの融点より高い温度で前記加熱を行なうことを
    特徴とする前記請求項11に記載の半田バンプを有する
    配線基板の製造方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH104127A (ja) * 1996-04-16 1998-01-06 Ngk Spark Plug Co Ltd 半田バンプを有する基板の製造方法
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